CN102083669A - 铁路耦合器主体上的中心基准特征及对应量规 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种用于轨道车厢耦合器的耦合器主体，所述耦合器主体包括至少一个不会在耦合器使用期间磨损的中心基准特征。

Description

铁路耦合器主体上的中心基准特征及对应量规

相关申请案

本申请案主张2008年5月22日申请的第61/055,390号美国临时申请案的优先权，该案的揭示内容全文以引用的方式并入本文中。

技术领域

本发明大体上涉及铁路耦合器领域，且更确切地说涉及铁路耦合器的测定，及/或耦合器主体上的辅助于定位量规的特征，以及可用于重新调节轨道车厢耦合器的量规及装置。

背景技术

广泛已知，货运车厢耦合器组合件及组成所述组合件的组件由于使用载荷、自然腐蚀及在铁轨上行驶数千英里之后的自然磨损与破损而随时间在使用中磨损。这些磨损的特征的部件之间有较大的空隙，这导致开车及停车时有较大的冲击载荷，并且增加了故障风险。因此，铁路行业对耦合器组合件中可发生的磨损量进行限制。这些限制通常通过使用量规来确定。未通过可接受的测定标准的耦合器组合件必须从货运车厢上移除并予以更换。如果磨损严重，有些部件可能必须报废。然而，耦合器组合件或至少其一些部件可能符合条件通过行业认可的耦合器重新调节器来重新调节。

理论上可通过焊接、研磨、测定及热处理的过程来不确定地重新调节单个耦合件主体。重新调节可比更换整个耦合器更经济地部分恢复耦合器主体的整体完整性。然而，出于三种原因，不确定地重新调节耦合器主体目前并不现实：a)尚未确立重新调节某些耦合器主体特征的方法；b)某些特征非常难以用经济高效的方式用通常或一般可用的工厂设备来触及及恢复；及c)无法重新确立磨损特征在原始制造时相对于耦合器主体的其余部分及其其它磨损特征的空间标称位置。

目前通过参照耦合器主体的可能或可能不彼此相关联的各种特征来对耦合器主体进行修整、重新调节或二手分类。当重新调节已工作磨损的铸件时，原先用于测定且接着修整新铸件的表面对于用作测定表面来说变得不可靠，因为其现在是磨损的。通过磨损表面进行测定以修整表面通常会引起不一致的修整结果。需要一种新的修整、重新调节或二手分类系统，其使用不会因自然磨损而随时间发生变化或者可用于确立中心基准特征的特征。

发明内容

在第一实施例中，提供一种用于轨道车厢耦合器的耦合器主体，其包括至少一个不会在耦合器使用期间磨损的中心基准特征。

在第二实施例中，提供一种轨道车厢耦合器主体修整、重新调节或二手分类系统，其包括至少一个不会在耦合器使用期间磨损的中心基准特征。

在第三实施例中，提供一种用于重新调节轨道车厢耦合器主体的量规，其对应于所述耦合器主体的不会在耦合器使用期间磨损的排水孔。

在第四实施例中，提供一种用于重新调节轨道车厢耦合器的量规，其包括以可移除方式附接到所述耦合器的柄的部分，和位于所述耦合器的角的后部的区段。

在第五实施例中，提供一种用于在制造之后在轨道车厢耦合器上添加至少一个中心基准特征的方法，其包括以下步骤：在所述耦合器主体的表面上定位一点；以及使用所述点作为主要参考点在所述耦合器主体中产生至少一个开口以用作中心基准特征。

在第六实施例中，提供一种用于在制造之后在轨道车厢耦合器上添加至少一个中心基准特征的方法，其包括以下步骤：在所述耦合器主体的表面上定位一点；以及使用所述点作为主要参考点将至少一个组件附接到所述耦合器主体以用作中心基准特征。

在第七实施例中，提供一种用于在制造之后在轨道车厢耦合器上添加至少一个中心基准特征的方法的量规，其包括：销，其可在所述耦合器的C10销槽中位于中心，且上面具有至少一个定心特征；经设计以抵靠所述轨道车厢耦合器的内壁而定位的部分；以及用作样规以在所述轨道车厢耦合器上定位所述至少一个中心基准特征的区段。

在第八实施例中，提供一种轨道车厢耦合器主体修整、重新调节或二手分类系统，其包括：把手，其经设计以附接到焊接系统，且经成形而插入穿过所述耦合器主体的锁定室开口，从而到达所述轨道车厢耦合器主体的至少一个牵拉凸耳的载荷面，并允许所述载荷面上建置焊料；重新调节装置，其经设计以夹在所述轨道车厢耦合器主体的至少一个中心基准特征上；以及研磨机，其经设计以附接到所述重新调节装置以磨光所述建置表面。

在第九实施例中，提供一种轨道车厢耦合器主体修整、重新调节或二手分类系统，其包括：把手，其经设计以附接到焊接系统，且经成形而插入穿过所述耦合器主体的锁定孔，从而到达所述轨道车厢耦合器主体的至少一个牵拉凸耳的载荷面，并允许所述载荷面上建置焊料；重新调节装置，其经设计以夹在所述轨道车厢耦合器主体的至少一个中心基准特征上；以及研磨机，其经设计以附接到所述重新调节装置以磨光所述建置表面。

在第十实施例中，提供一种重新修整轨道车厢耦合器主体上的磨损特征的方法，其包括以下步骤：焊接所述耦合器主体的至少一个磨损区域；将所述耦合器主体夹到机器上；利用至少一个中心基准特征在所述机器中定位所述耦合器主体；以及磨光所述至少一个焊接区域。

附图说明

参照以下图式及描述可更好地理解所述系统。图中的组件未必是按比例绘制，而是重点在于说明本发明的原理。此外，在图中，相同的元件符号在不同的图中始终指代对应部件。

图1是耦合器的透视图，其中转向节及锁被移除，且某些部件画有阴影。

图2是耦合器的透视图，其中转向节及锁被移除，且某些部件画有阴影。

图3是耦合器的透视图，其中转向节及锁被移除，且某些部件画有阴影。

图4是图1的耦合器的后部透视图。

图5a是图1的耦合器的透视图。

图5b是图1的耦合器的俯视平面图。

图6是耦合器的透视图，其中壁破裂，且附接有量规。

图7是图5b的沿线7-7的横截面图。

图8是图6的耦合器的横截面图。

图9是图5的沿线7-7的横截面图，且展示图6的量规。

图10是图8的耦合器的横截面图，其中附接有图6的量规。

图11展示附接到图6的量规的修整附接件。

图12展示附接到耦合器的柄的替代量规。

图13展示图12的量规，以及图6的量规的内部构造。

图14a是耦合器的俯视平面图。

图14b是图14a的耦合器的侧视平面图。

图15a是耦合器的俯视平面图。

图15b是图15a的耦合器的侧视平面图。

图16a是展示附接到图14a的耦合器的量规的侧视平面图。

图16b是展示附接到图14a的耦合器的图16a的量规的俯视平面图。

图17是图16a的耦合器及量规的后视图。

图18是图16a的耦合器及量规的透视图。

图19是图16a的耦合器上的替代量规的透视图。

图20是图16a的耦合器及量规以及多个修整附接件的透视图。

图21是放置于图16a的量规上的合适位置中的图20的修整附接件中的一者的侧视图。

图22是图21的侧视图。

图23是放置于图16a的量规上的合适位置中的图21的修整附接件的透视图。

图24是图22的修整附接件在颠倒位置中的透视图。

图25展示用于在耦合器中钻出CDF的探测工具及钻孔机。

图26是具有铸造的CDF的耦合器的透视图。

图27是图26的CDF的近视图。

图28是配合钻孔机使用的销量规的透视图。

图29是图28的横截面侧视图。

图30是图28的销量规的近视俯视平面图。

图31是耦合器及附接的替代量规的俯视平面图。

图32是具有CDF的耦合器的透视图。

图33是附接有量规的图32的耦合器的透视图。

图34是图33的透视图，其中修整附接件位于量规上的合适位置中。

图35是耦合器上的替代量规的透视图。

图36是图35的俯视平面剖视图。

图37是耦合器及MIG焊接机的横截面图，其中专用把手进入穿过锁定室。

图38是耦合器及MIG焊接机的横截面图，其中专用把手进入穿过锁定孔。

图39是附接到CDF且用于修整牵拉凸耳的装置的透视图。

图40是图39的横截面图。

图41是使用CDF夹在夹具中的耦合器及具有直角铣磨附接件的经修改的铣磨机的侧视平面图。

具体实施方式

以下定义将有助于理解本发明的实施例：“标称”-根据制造图纸理论上完美的目标尺寸。“像新的一样”-根据制造图纸在可接受的制造容差范围内的任何点上的尺寸。“磨损”-在可接受的容差范围外的需要重新调节为符合行业标准的尺寸。“报废”-远远偏离可接受的容差范围以至于根据现有行业标准耦合器主体必须报废的尺寸。此状况并非总是因正常磨损引起，而是往往因裂缝及破裂的几何结构引起。如果所述特征已磨损，则磨损部件可能变得报废，这未必是因为所述部件的磨损超过了报废限度，而是因为其无法被重新调节。

目前在耦合器主体10上有四个新的主要关注区域将要求其被重新调节，否则当前的AAR规范M212阻止其被重新调节。C10销槽12(图1)是使得耦合器主体10不适合于重新调节的最常见的特征之一。目前，如果没有裂缝或其它变形，C10销槽12可仅经焊接而与内部及外部磨损表面混和。规范中不允许重新整修磨损表面。不可能相对于其它功能性特征重新确立磨损销槽12的正确位置。M212允许重新修整人员调整销保护器14(图2)的顶部或水平表面，并重新确立外部垂直壁而与磨损表面的其余部分混和。然而，M212特别指出，“禁止在销保护器凸起的垂直表面上进行焊接以恢复磨损”。抛光肩16及牵拉凸耳28(图3)承受穿过耦合器主体10传输的大部分载荷。然而，目前不允许重新调节这些特征，特别是因为难以确定其标称位置、其相对于其它特征的标称位置以及在较小程度上操纵研磨机、焊接机或围绕耦合器的带芯内部的类似工具。

在耦合器10(图4)的柄末端20上有两个区域显示出较严重的磨损：键槽22及对接端24。当前重新调节方法通过相对于对接端24重新调节键槽22来重新构造耦合器的对接端24，并相对于角26的后面重新调节对接端24。所提议的系统使用新颖的量规与耦合器主体10上的通常不会随时间磨损的现有特征的组合，或配合添加到耦合器主体且不会随时间磨损的附加特征。

“中心基准特征”(CDF)的创建解决了确立磨损特征在其原始制造时相对于耦合器主体的其余部分的标称位置的问题。通过在耦合器主体的设计中并入CDF，可相对于CDF且相对于彼此定位主体的功能性特征。这在以前是不可能的。在重新调节时，还可使功能性特征的磨损尺寸与CDF相关。通过具有这些能力，可恢复耦合器主体的先前阻止了主体的再利用的功能性特征。本发明的一个方面通过创建“不磨损中心基准特征”(“中心基准特征”或“CDF”)解决了重新调节耦合器主体的当前限制。也就是说，提供一种用于重新确立某些磨损特征的相对大小及位置的方法，其将允许当前作为废料被报废的用过的耦合器根据AAR M212规范以“与新的一样”的状况再度恢复使用。此外，CDF可用作参考点来重新构造当前在行业规范下不允许重新调节(因为没有办法来确定如何重新调节特征)的磨损表面。

本发明是一种系统，其包含添加CDF、使用将不会随时间而磨损的现有特征或表面来定位可无论耦合器主体的使用时间(或磨损)如何均可一致定位的测定单元或装置的量规、使用附加CDF来允许这些特征被一致地重新定位的量规以及用于修整所述表面的装置。

在本发明的一个实施例中，用此项技术中的已知的另一方法(例如焊接或钻孔)来铸造或附接CDF作为特定的“不磨损”特征。或者，可使用现有特征作为测量点来重新调节磨损特征。与重新确立特定标称尺寸及容差可能已知或可能未知的关键特征的相对位置的尝试相比，此在生产时应用特定基准特征的方法在重新调节时提供优越的准确度。铸造用于稍后参考的特征允许将这些特征放置在很少受到磨损或不会受到磨损的位置。其还将“基准特征”保持在相对于将来将需要检查的磨损特征的位置中。

为了使这些特征“不磨损”，必须将其放置在主体上的将不会随时间而变形或因与组合件内部或外部的其它组件接触而受到磨损的位置中。将与本发明的CDF相互作用的量规将仅对其中铸造(或以其它某种方式添加)有这些特定CDF的耦合器主体起作用。其对现有耦合器主体将不起作用。以下说明(图6到图11)表示CDF可如何起作用的一个实例。

参看图5、图7和图8，说明耦合器10上的附加CDF的实施例。此实施例中的CDF包括排水孔28，其位于耦合器10的下半部分中，且可具有被夸示的草图。排水孔的尺寸通常与凸耳18及抛光肩16同时设定，这提供了良好的尺寸准确度。此实施例中的第二CDF包括在耦合器10的柄上定义的一个或一个以上芯支撑孔30。这些芯支撑孔30可具有被夸示的草图，且同样可由设定牵拉凸耳18及抛光肩16的同一芯设定，因而也提供良好的尺寸准确度。这些CDF均不定位在耦合器10上的随时间磨损的位置中。因此，其可配合如图6、图9及图10中说明的对应量规32使用。

在使用时，量规32将3个方向轴锁定在相对于耦合器主体10的镶铸主体特征的合适位置中。圆锥形可伸缩夹钳34经由位于量规32末端处的手动操作的曲柄36从内部被迫进入芯支撑孔30中。另一圆锥形特征38位于排水支撑孔30的开口中，这防止量规32围绕Y轴旋转。可伸缩止挡件40也帮助在耦合器头的内表面上抵靠非磨损表面42而稳定量规32。

如图11所示，一旦量规32经适当定位，修整附接件44随即嵌进量规的前端中。此修整附接件44用作C10销槽12内表面的形状及相对位置的焊接及研磨样规。修整附接件44的两个杆滑动配合到量规32上的精密钻孔46中，且允许修整附接件44安全地沿着指定运动轴上下滑动。修整附接件44还可垂直翻转以检查上部C10销槽12。重新修整人员针对间隙检查C10销槽12，焊接及研磨，然后替换修整量规附接件44以重新检查。可配合样规插塞使用此项技术中已知的测隙规，作为准确度的最后检查。此附接方法还可用于额外的修整附接件，例如用于检查销保护器轮廓的附接件80。

如图12及图13所示，修整附接件48的另一实施例锁定到量规32上的圆锥形可伸缩夹钳34中的带键开口50中。附接件48包含突起52，其与可伸缩夹钳34中的带键开口50匹配。此附接件48沿耦合器柄56的侧部54回转到合适位置中，以用作检查键槽22及柄接头24的大小、形状及相对位置的样规。重新修整人员对照量规检查键槽22及柄接头24，焊接及研磨，然后更换修整附接件48以重新检查。可配合修整附接件48使用测隙规或直尺作为准确度的最后检查。

除了重新调节制造有附加CDF的耦合器主体以外，还需要重新调节目前制造的正在使用且没有预先确立的参考点的耦合器主体。这代表一系列不同的难题，因为不同的制造商会使用专有的尺寸、容差及/或制造方法，其是针对非AAR指定的特征彼此独立地开发的。目标是基于接触点或CDF“特征”来确立用以测量或测定的中心基准参考点。这需要CDF量规利用AAR已确定的所有制造商必须遵守的尺寸来提供标准化，以确保本领域中的所有制造商的组件的可互换性。

图14及图15说明标准耦合器10的通常会磨损的特征，例如对接端24、柄的底部、C10槽12、销保护器14、牵拉凸耳28、前面60及前护臂62。为了在来自任何制造商的耦合器上重新确立关键磨损特征，CDF测定系统必须锁定到耦合器的X、Y及Z运动轴上。一些耦合器主体10特征是标准的，且在制造商间是通用的，但其它特征并非如此。

图16到图19说明本发明的量规68的实施例将如何优选附接到标准耦合器10。量规68对称地挤压到耦合器柄56的侧部70上，以沿纵向平面确立耦合器的中心线。量规68的另一部分位于耦合器柄56的顶表面上。这并不会沿垂直轴锁定量规68，而是确实平行于柄56的顶部72确立量规68，从而确保销孔12将不会相对于此平面倾斜。可使用带螺纹的杆74将量规68夹到柄56的顶表面72上。量规68的另一区段放置在角26的后部上，以沿Z轴将其锁定到合适位置中。此放置可通过夹到前面60上来确保。

量规68还可包含次级夹持机构76，其在对接端24附近夹到柄56的侧部70及顶平面72。此次级夹钳76进一步稳定量规68，且以与前述夹钳相同的方式操作。

如图20到图24所说明，一旦量规68夹到柄56的侧部70、夹到柄56的顶平面72，且抵靠角26的后部而密封，便可在修整人员焊接、研磨及检查他/她的工作时使用在量规68上的突起82上滑动及滑落的附接件78、80来重新修整耦合器10。这些附接件78、80是对称的，因此其可简单地倒置翻转以检查顶部或底部C10销槽12或销保护器凸起14的轮廓。修整人员将放置附接件78、80以查看需要在何处及在何种程度上焊接特征，移除附接件78、80以进行焊接，然后磨光成所要的轮廓。然后可用附接件78、80重新检查所述特征，直到其符合规定的容差为止。可配合修整附接件78、80使用测隙规作为准确度的最后检查。

用于在生产期间镶铸CDF的替代概念是在铸造之后加工特征。图25说明利用探测工具84(例如在坐标测量机(CMM)上可见的)来定位C10销槽12的内表面及/或耦合器主体10上的其它关键特征，以从物理表面确立基准点。使用此基准作为共用或主要的参考点或中心线，在主体10的不磨损位置处钻一个或一个以上埋头钻点86。钻到主体中的特征于是将用作次级参考点以定位用于在主体的整个寿命周期中重新调节主体的测定系统。与根据镶铸特征进行测量相比，在铸造之后添加这些特征添加了额外的精确度，因为其并不具有与铸造过程相关联的典型容差累积。其还设立了相对于物理铸造特征的基准，而不是可能在容差范围内浮动的理论标称尺寸。此概念适用于来自任何制造商的新耦合器主体。此外，其可用于此领域中已经存在的耦合器上。

参看图26及图27，在生产期间镶铸CDF的替代实施例在铸造之后借助于例如焊接而将单独的精确度机器组件88永久地附接到主体10的不磨损表面。探测工具(例如在坐标测量机(CMM)上可见的)将定位C10销槽12的内表面及/或耦合器主体10上的其它关键特征，以从实际制造的表面确立基准点。使用此基准作为本位，将一个或一个以上定位特征组件88焊接到主体的可由计算机数字控制(CNC)规定的位置上。焊接基准特征88的接触点将以使其将不受铸造主体(例如圆顶或点)的不平坦铸造表面的影响的方式成形。于是，基准特征88将在其被稳固地固持在其正确位置处时被焊接。随后，使用焊接到主体10上的特征88作为参考点来定位例如前述测定系统的测定系统以用于在主体10的整个寿命周期中重新调节主体10。与使用镶铸特征相比，在铸造之后添加这些特征88添加了额外的精确度，因为其并不具有与铸造过程相关联的典型容差累积。特征88还将设立相对于物理铸造特征的基准，而不是可能在容差范围内浮动的理论标称尺寸。此概念适用于来自任何制造商的新耦合器主体。

参看图28到图31，展示了用坐标测量机或其它CNC机器来定位铸造后CDF的替代实施例。此方法以机械方式执行。此实施例利用具有销90的量规96，销90使用位于所述销90内的定心特征92而位于上部及下部C10销槽12的中心。当使用把手94将量规96放置在C10销槽12中时，附接的同步臂98抵靠内部锁定壁100或其它功能性表面定位，以防止量规96旋转，同时添加定位销102以定位装置离开下部销保护器凸起14的顶表面的高度。随后释放次级把手104以在C10销槽12的中心定位销90。弹簧加载定心特征98在四个方向上施加相等的力，使装置的标称中心与上部及下部C10销槽12的物理中心协调。钻导子106用于在耦合器主体10上的特定不磨损位置处钻出基准特征108。这些特征108随后用于在耦合器主体10已使用且符合重新调节条件之后定位CDF测定系统。

如图32到图24所说明，另一用于将CDF添加到耦合器主体10的方法是添加在二次应用中精密磨光的铸造特征110。特征110过大，且位于主体10上的所定义的位置处。随后将特征110研磨成规定形状，其相对位置由关键的铸造特征确定，且可以机械方式或用CMM定位。二次加工操作将允许CDF保持在比标准成本计算容差更严格的加工容差，而CDF的材料将已从制造过程存在。随后，将测定装置112夹到CDF 110上，且指示需要在何处恢复关键磨损特征。配合测定装置112使用不同的修整附接件114以重新确立耦合器主体10的所有关键磨损特征。

重新构造牵拉凸耳18(其是耦合器主体10的最难以到达的主要磨损特征)的替代方案是相对于牵拉凸耳18的磨损表面重新调节主要磨损特征的其余部分，只要其仍在行业标准所确定的可接受的容差范围内即可。

如图35及图36所示，在确定了牵拉凸耳18符合重新调节条件之后，将重新调节量规116放置在耦合器主体10的嘴中。量规116定位成远离顶部(或底部)牵拉凸耳18的受压面。量规116于是充当检查C10槽12、销保护器凸起轮廓14及抛光肩16轮廓的重新修整人员的样规。接着可焊接及研磨耦合器主体10，且可使用量规116重新检查正确的尺寸。量规116的臂118帮助相对于耦合器10的几何结构的头部的其余部分固持这些关键磨损特征。可配合重新调节量规116使用测隙规或直尺作为准确度的最后检查。随后针对底部(或顶部)的主要磨损特征组重复此过程。

图37及图38说明用于重新调节耦合器主体10上的磨损的牵拉凸耳18的系统的替代实施例。因为无法知道是否及在何种程度上建置牵拉凸耳28，或对于顶部及底部牵拉凸耳18的受压面的受限的可到达性，所以行业标准目前不允许重新调节这些特征。使用MIG焊接机122的定制形状的把手120或某种其它配置，可到达牵拉凸耳18的受压面128以通过耦合器头的锁定室开口124或通过锁定孔进行重新调节。牵拉凸耳18的受压面128随后用焊接来建置，使得表面比其原来大。随后使用特殊的研磨机将焊料磨光成原始的“像新的一样”的特征几何结构。

一旦已用焊接的钢充分地建置了牵拉凸耳18的受压面128，便将另一重新调节装置130夹到耦合器主体10上，从而如图39及图40所示使用CDF定位装置在主体中的相对放置。此装置130随后旋转到耦合器主体10中，使用铣磨钻头132将焊料磨光成平滑的“像新的一样”的几何结构，铣磨钻头132被成形为牵拉凸耳18的受压面128的正确的几何结构。此概念假设已在牵拉凸耳受压面128上建置了足够的焊料，使得一旦研磨机装置130已碾过牵拉凸耳受压面128表面，就只剩下将与耦合器10的“像新的一样”的几何结构匹配的新鲜的经研磨材料。

用手动工具重新修整磨损特征的替代概念是使用(铸造的或加工的)CDF 108将耦合器主体10夹到夹具134中。图41中说明此方法的实施例。重新修整人员焊接磨损区域，随后将耦合器主体10安装到经修改的铣磨机136中。使用CDF 108将耦合器主体10夹到机器136中以将其定位(01)。随后，直角铣磨附接件138将C10销槽12切割成“像新的一样”的状况。铣磨附接件138将旋转180度以适应顶部及底部C10销槽12。

应注意，在不偏离本发明的范围的情况下，可对当前的实施例进行各种各样的变化。可将量规或装置配合到耦合器主体的任何一般不会遭受磨损的部分，且可将附加特征添加到耦合器主体的其将不干扰耦合器的操作的区域。可添加或移除附加金属区域以形成CDF。可单独使用这些附加零件或开口或配合耦合器主体上预先存在的不磨损特征使用，且量规具有对应区域。本发明还可用于重新调节先前未重新调节的特征。此外，其还可用于修整新铸件及/或将二手铸件分类。

因此，希望将先前具体详细描述视为说明性而非限制性的，且应了解，希望所附权利要求书(包含其所有等效物)定义本发明的精神及范围。

Claims (22)

1.一种用于轨道车厢耦合器的耦合器主体，所述耦合器主体包括至少一个不会在耦合器使用期间磨损的中心基准特征。

2.根据权利要求1所述的耦合器主体，其中所述至少一个中心基准特征是附加材料的升高区域。

3.根据权利要求1所述的耦合器主体，其中所述至少一个中心基准特征是所述耦合器主体中的附加开口。

4.一种轨道车厢耦合器主体修整、重新调节或二手分类系统，所述系统包括至少一个不会在耦合器使用期间磨损的中心基准特征。

5.根据权利要求4所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其进一步包括经配置以与所述至少一个中心基准特征相互作用的量规。

6.根据权利要求4所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其中所述至少一个中心基准特征是附加材料的升高区域。

7.根据权利要求4所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其中所述至少一个中心基准特征是所述耦合器主体中的附加开口。

8.根据权利要求4所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其进一步包括至少一个可以可移除方式附接到所述量规的修整量规。

9.根据权利要求4所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其进一步包括至少一个附接到所述至少一个中心基准特征的重新调节装置。

10.根据权利要求5所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其进一步包括至少一个附接到所述量规的重新调节装置。

11.根据权利要求5所述的轨道车厢耦合器主体重新调节系统，其进一步包括以可移除方式附接到所述量规的次级量规。

12.一种用于重新调节轨道车厢耦合器主体的量规，所述量规对应于所述耦合器主体的不会在耦合器使用期间磨损的排水孔。

13.根据权利要求12所述的量规，其进一步包括对应于所述耦合器主体的次级区域的次级卡具。

14.根据权利要求12所述的量规，其中所述量规包含用于至少一个修整附接件的至少一个支座。

15.根据权利要求12所述的量规，其中所述量规包含用于至少一个重新调节装置的至少一个支座。

16.一种用于重新调节轨道车厢耦合器的量规，所述量规包括：

以可移除方式附接到所述耦合器的柄的部分；以及

位于所述耦合器的角的后部上的区段。

17.根据权利要求16所述的量规，其进一步包括夹持机构，所述夹持机构在对接端附近夹到所述柄的侧部及顶部平面。

18.根据权利要求16所述的量规，其进一步包括至少一个可接受至少一个修整附接件或重新调节装置的突起。

19.一种用于在制造之后在轨道车厢耦合器上添加至少一个中心基准特征的方法，所述方法包括以下步骤：

在所述耦合器主体的表面上定位一点，且

使用所述点作为主要参考点在所述耦合器主体中产生至少一个开口以用作中心基准特征。

20.根据权利要求19所述的方法，其中在所述表面已磨损之前执行所述在所述耦合器主体的所述表面上定位一点的步骤。

21.一种用于在制造之后在轨道车厢耦合器上添加至少一个中心基准特征的方法，所述方法包括以下步骤：

在所述耦合器主体的表面上定位一点，且

使用所述点作为主要参考点将至少一个组件附接到所述耦合器主体以用作中心基准特征。

22.根据权利要求21所述的方法，其中在所述表面已磨损之前执行所述在所述耦合器主体的所述表面上定位一点的步骤。

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