CN102016611B

CN102016611B - 存储设备测试

Info

Publication number: CN102016611B
Application number: CN200980104008.XA
Authority: CN
Inventors: 爱德华·加西亚; 布莱恩·S·梅洛; 伊夫根尼·波利亚科夫; 沃尔特·瓦伊; 埃里克·L·特吕本巴赫
Original assignee: Teradyne Inc
Current assignee: Teradyne Inc
Priority date: 2009-04-17
Filing date: 2009-04-17
Publication date: 2015-02-04
Anticipated expiration: 2029-04-17
Also published as: KR20120013180A; WO2010120307A1; CN102016611A; US20120102374A1; JP2012524361A

Abstract

一种存储设备测试系统(100)，包括至少一个机器人臂(200)，该至少一个机器人臂(200)限定大体上垂直于地板表面(10)的第一轴线(205)。所述机器人臂能够操作以绕第一轴线旋转过预定弧度并且从该第一轴线沿径向延伸。多个机架(300)布置在机器人臂周围以便由机器人臂服务。每个机架容纳多个测试槽(310)，该多个测试槽各被构造成接纳存储设备运送器(550)，该存储设备运送器(550)被构造成携载用于测试的存储设备(500)。

Description

存储设备测试

技术领域

本公开涉及存储设备测试。

背景技术

磁盘驱动器制造商通常测试已制造的磁盘驱动器以便符合一系列的要求。存在用来串联地或并联地测试大量磁盘驱动器的测试设备和技术。制造商倾向于成批地同时测试大量磁盘驱动器。磁盘驱动器测试系统通常包括一个或多个机架，该一个或多个机架具有接收用于测试的磁盘驱动器的多个测试槽。

磁盘驱动器的紧邻周围的测试环境被精密地调节。测试环境中的最小温度波动对于精确测试条件和磁盘驱动器的安全来说是关键的。具有更大容量、更快旋转速度和更小磁头间隙的最新一代磁盘驱动器对振动更加敏感。过度的振动可影响测试结果的可靠性和电连接的完整性。在测试条件下，驱动器它们自己可通过支撑结构或固定件将振动传播到相邻单元。这种振动“串扰”与外部振动源一起促成冲击错误(bump error)、磁头拍打和不可重复偏离(NRRO)，这些可导致较低的测试合格率和增加的制造成本。

目前的磁盘驱动器测试系统采用促使系统中的过度振动和/或需要大的占地面积的自动化和结构支撑系统。目前的磁盘驱动器测试系统也使用操作人员或传送带来将磁盘驱动器单独地供给到测试系统以便测试。

发明内容

在一个方面中，存储设备测试系统包括至少一个机器人臂，该至少一个机器人臂限定大体上垂直于地板表面的第一轴线。机器人臂能够操作以绕第一轴线旋转过预定弧度(例如，360°)并且从第一轴线沿径向延伸。多个机架布置在机器人臂周围以便由机器人臂提供服务。每个机架容纳多个测试槽，该多个测试槽各被构造成接纳存储设备运送器，该存储设备运送器被构造成携载用于测试的存储设备。

本公开的实施例可包括以下特征中的一个或多个。在一些实施例中，机器人臂包括机械手，该机械手被构造成与测试槽中的一个的存储设备运送器接合。机器人臂能够操作以将存储设备运送器中的存储设备携载到测试槽以便测试。机器人臂限定大体上圆柱形的工作包络体，并且机架和传送站被布置在工作包络体内以便由机器人臂提供服务。在一些示例中，机架和传送站以至少部分封闭的多边形围绕机器人臂的第一轴线布置。机架可离开机器人臂的第一轴线沿径向等距地布置或布置在不同距离处。

通过从测试槽中的一个测试槽取回存储设备运送器以在传送站和测试槽之间传送存储设备，机器人臂可独立地服务于每个测试槽。在一些实施例中，存储设备测试系统包括竖直致动支架，该竖直致动支架支撑机器人臂并且能够操作以相对于地板表面竖直地移动机器人臂。存储设备测试系统也可包括线性致动器，该线性致动器支撑机器人臂且能够操作以沿地板表面水平地移动机器人臂。在一些实施例中，存储设备测试系统包括可旋转的台，该可旋转的台支撑机器人臂并且能够操作以绕大体上垂直于地板表面的第二轴线旋转机器人臂。

存储设备测试系统可包括被布置用来由机器人臂服务的传送站。传送站被构造成供应和/或存储用于测试的存储设备。在一些实施例中，传送站能够操作以绕大体上垂直于地板表面的由传送站限定的纵向轴线旋转。传送站包括限定第一和第二相反面向的储箱容座的传送站外壳。在一些示例中，传送站包括站基座、从站基座大体上垂直地向上延伸的心轴、和以可旋转的方式安装在心轴上的多个储箱接收器。每个储箱接收器可以与其它储箱接收器独立地旋转并且限定第一和第二相反面向的储箱容座。

通过在传送站的接收的存储设备储箱和测试槽之间传送存储设备，机器人臂可独立地服务于每个测试槽。在一些实施例中，存储设备储箱包括限定多个存储设备容座的储箱本体，该多个存储设备容座被构造成各容纳存储设备。每个存储设备容座限定有存储设备支架，该存储设备支架被构造成支撑被接收的存储设备的中心部分以允许沿非中心部分操纵存储设备。在一些示例中，存储设备储箱包括：限定多个柱形腔的储箱本体；和多个悬臂式存储设备支架，该多个悬臂式存储设备支架布置在每个柱形腔中(例如，离开柱形腔的后壁)、将柱形腔分成多个存储设备容座，该多个存储设备容座各被构造成接收存储设备。每个存储设备支架被构造成支撑被接收的存储设备的中心部分以允许沿非中心部分操纵存储设备。

存储设备测试系统有时包括视觉系统，该视觉系统布置在机器人臂上以在运输存储设备时辅助引导机器人臂。特别地，视觉系统可用于引导机器人臂上的机械手，该机械手保持存储设备运送器以将存储设备运送器安全地插入到测试槽中的一个或存储设备储箱中。通过将机器人臂对齐到机架、测试槽、传送站和/或存储设备储箱上的准标，视觉系统可校准机器人臂。

在一些实施例中，存储设备测试系统包括与测试槽通信的至少一台计算机。电源系统向存储设备测试系统供电并且可以被配置成监视和/或调节到测试槽中的接收的存储设备的电源。温度控制系统控制每个测试槽的温度。温度控制系统可以包括可操作以使空气在测试槽上和/或通过测试槽循环的鼓风机(例如，风扇)。振动控制系统控制机架振动(例如，通过无源阻尼)。数据接口与每个测试槽通信并且被配置成与由测试槽接收的存储设备运送器中的存储设备通信。

每个机架可包括与至少一个测试槽通信的至少一个自测试系统。自测试系统包括群集控制器、与被接收在测试槽中的存储设备电通信的连接接口电路、和与连接接口电路电通信的块接口电路。块接口电路被配置成控制测试槽的电源和温度。连接接口电路和块接口电路被配置成测试存储设备测试系统的至少一个部件的功能性(例如，在测试槽是空的或容纳由存储设备运送器保持的存储设备时测试测试槽的功能性)。

在一些实施例中，每个机架包括与至少一个测试槽通信的至少一个功能测试系统。功能测试系统包括群集控制器、与群集控制器电通信的至少一个功能接口电路、和与容纳在测试槽中的存储设备和功能接口电路电通信的连接接口电路。功能接口电路被配置成向存储设备通信功能测试例程。在一些示例中，功能测试系统包括用于在群集控制器和至少一个功能接口电路之间提供电通信的以太网交换机。

在另一方面中，一种执行存储设备测试的方法包括：提供用于测试的存储设备、致动单个机器人臂以取回所提供的存储设备并将存储设备携载到容纳在存储设备测试系统的机架中的测试槽。机器人臂能够操作以绕由机器人臂限定的大体上垂直于地板表面的第一轴线旋转过预定弧度并且从该第一轴线沿径向延伸。该方法包括：致动机器人臂以将存储设备插入到测试槽中；对容纳在测试槽中的存储设备执行功能性测试；和致动机器人臂以从测试槽取回已测试的存储设备并将已测试的存储设备递送到测试完成位置，诸如传送站。在一些实施例中，该方法还包括：将存储设备装载到传送站中，使得存储设备被提供用于测试；致动机器人臂以从测试槽取回存储设备运送器；致动机器人臂以从传送站取回所提供的存储设备并在存储设备运送器中携载存储设备。该方法包括：致动机器人臂以将携载存储设备的存储设备运送器递送到测试槽；和例如在测试之后致动机器人臂以从测试槽取回携载已测试的存储设备的存储设备运送器并将已测试的存储设备递送回到传送站。

在又一方面，执行存储设备测试的方法包括：将多个存储设备装载到传送站中(例如，如通过将存储设备装载到由存储设备储箱限定的存储设备容座中，并且将存储设备储箱装载到由传送站限定的储箱容座中)。该方法包括：致动机器人臂以从容纳在机架中的测试槽取回存储设备运送器，和致动机器人臂以从传送站取回存储设备中的一个并在存储设备运送器中携载存储设备。机器人臂能够操作以绕由机器人臂限定的大体上垂直于地板表面的第一轴线旋转过预定弧度并且从该第一轴线沿径向延伸。该方法包括：致动机器人臂以将携载存储设备的存储设备运送器递送到测试槽，和对由接收的存储设备运送器和测试槽容纳的存储设备执行功能性测试。然后，该方法包括致动机器人臂以从测试槽取回携载已测试的存储设备的存储设备运送器并且将已测试的存储设备递送回到传送站。

在一些实施例中，该方法包括致动机器人臂以将存储设备运送器存放在测试槽中(例如，在将已测试的存储设备存放在存储设备储箱的存储设备容座中之后)。在一些示例中，将存储设备运送器递送到测试槽包括将携载存储设备的存储设备运送器插入到机架中的测试槽中，从而在存储设备和机架之间建立电连接。

在一些实施例中，对已接收的存储设备执行功能性测试包括在操作该存储设备的同时调节测试槽的温度。而且，操作已接收的存储设备可包括执行到存储设备的数据读写。在一些示例中，该方法包括以下步骤的一个或多个：使空气在测试槽上和/或通过测试槽循环以控制测试槽的温度；监视和/或调节被递送到已接收的存储设备的电源；和借助由机架容纳的自测试系统对测试槽执行自测试以校验测试槽的功能性。

该方法可包括与布置在机器人臂上的视觉系统通信以在运输存储设备时辅助引导机器人臂。该方法也可包括通过将机器人臂对齐到由视觉系统识别的机架、测试槽、传送站和/或存储设备储箱上的准标而校准机器人臂。

在下面的附图和描述中阐述本公开的一个或多个实施例的细节。通过说明书和附图，并且通过权利要求，其它特征、目的和优点将是明显的。

附图说明

图1是存储设备测试系统的透视图。

图2是存储设备测试系统的顶视图。

图3是存储设备测试系统的透视图。

图4-5是具有不同尺寸的机架和占地面积的存储设备测试系统的顶视图。

图6是存储设备测试系统的透视图。

图7是被支撑在竖直和水平致动支架上的机器人臂的侧视图。

图8是具有两个机器人臂的存储设备测试系统的透视图。

图9是包括被支撑在旋转支架上的机器人臂的存储设备测试系统的顶视图。

图10是传送站的透视图。

图11是限定有多个存储设备容座的储箱的透视图。

图12是具有悬臂式存储设备支架的储箱的透视图。

图13是存储设备运送器的透视图。

图14是携载存储设备的存储设备运送器的透视图。

图15是携载存储设备的存储设备运送器的底视透视图。

图16是被对齐以便插入测试槽的、携载存储设备的存储设备运送器的透视图。

图17是存储设备测试系统的示意图。

图18是具有自测试和功能测试能力的存储设备测试系统的示意图。

各个附图中的类似附图标记表示相似元件。

具体实施方式

参考图1-3，在一些实施例中，存储设备测试系统100包括限定大体上垂直于地板表面10的第一轴线205的至少一个机器人臂200。机器人臂200可操作以绕第一轴线205旋转过预定弧度并从第一轴线205沿径向延伸。在一些示例中，机器人臂200可操作以绕第一轴线205旋转360°并包括机械手212，该机械手212布置在机器人臂200的远端以搬运存储设备500和/或携载存储设备500的存储设备运送器550(例如，见图13-14)。多个机架300布置在机器人臂200周围以便由机器人臂200提供服务。每个机架300容纳多个测试槽310，该测试槽310被构造成接收用于测试的存储设备500。机器人臂200限定大体上圆柱形的工作包络体210，机架300被布置在该工作包络体210内(例如，见图4和图5)使得每个测试槽310可接近，以便由机器人臂200提供服务。大体上圆柱形的工作包络体210提供紧凑的占地面积并且通常在容量上仅由高度约束来限制。

在这里使用的存储设备包括磁盘驱动器、固态驱动器、内存设备和需要用于确认的异步测试的任何设备。磁盘驱动器通常是将数字编码数据存储在具有磁表面的快速旋转的磁盘上的非易失存储设备。固态驱动器(SSD)是使用固态存储器来存储持久性数据的数据存储设备。使用SRAM或DRAM(代替闪速存储器)的SSD经常称为RAM驱动器。术语固态主要将固态电子设备与机电装置区别。

机器人臂200可以被构造成独立地服务于每个测试槽310以提供通过测试系统100的存储设备500的连续流。通过测试系统100的单个存储设备500的连续流对每个存储设备500而言允许任意的开始和停止时间，而要求成批存储设备500一同运行的系统必须全部具有相同的开始和结束时间。因此，借助连续流，不同容量的存储设备500可以同时运行并且在需要时被服务(加载/卸载)。

自立式机器人臂200与机架300的隔离有助于机架300的振动控制，机器人臂和机架仅共用作为共同支撑结构的地板表面10(例如，见图10)。换句话说，机器人臂200与机架300分离并且仅共用作为该两个结构之间的仅有的连接装置的地板表面10。在一些情况中，每个机架300容纳大约480个测试槽310。在其它情况中，机架300在尺寸和测试槽容量方面变化。

在图1-3中示出的示例中，机架300被布置成沿径向等距地离开机器人臂200的第一轴线205。然而，机架300可以以任何图案且以任何距离被布置在工作包络体210内机器人臂200周围。机架300以至少部分封闭的多边形绕机器人臂200的第一轴线205布置，该至少部分封闭的多边形诸如打开的或封闭的八边形、正方形、三角形、梯形或其它多边形，其示例在图4-5中被示出。机架300可以以不同尺寸和形状构造以适合具体的占地面积。机架300围绕机器人臂200的布置可以是对称的或不对称的。

在图3和图6中示出的示例中，机器人臂200由地板表面10上的底座或升降器250升高且支撑在该底座或升降器250上。底座或升降器250通过允许机器人臂200不仅向上而且向下伸展以服务于测试槽310而增加工作包络体210的高度。如图7中所示，通过将竖直致动器添加到底座或升降器250，将它构造为支撑机器人臂200的竖直致动支架252，可以进一步增加工作包络体210的高度。竖直致动支架252可操作以相对于地板表面10竖直地移动机器人臂200。在一些示例中，竖直致动支架252构造为支撑机器人臂200的竖直轨道并且包括致动器(例如，从动滚珠螺杆或带)以沿轨道竖直地移动机器人臂200。也在图7中示出的水平致动支架254(例如，线性致动器)可用于支撑机器人臂200并且可操作以沿地板表面10水平地移动机器人臂200。在示出的示例中，支撑机器人臂210的竖直致动支架252和水平致动支架254的组合提供从顶视图看具有细长的大体上椭圆形轮廓的增大的工作包络体210。

在图8中示出的示例中，存储设备测试系统100包括均绕第一轴线205旋转的两个机器人臂200A和200B。一个机器人臂200A被支撑在地板表面10上，而另一个机器人臂200B从顶板结构12悬挂。类似地，在图7中示出的示例中，另外的机器人臂200可以在竖直致动支架252上操作。

在图9中示出的示例中，存储设备测试系统100包括支撑机器人臂200的可旋转的台260。可旋转的台260可操作以绕大体上垂直于地板表面10的第二轴线262来旋转机器人臂200，从而提供比仅绕第一轴线205旋转的机器人臂200大的工作包络体210。

返回去参考图7-8，在一些实施例中，存储设备测试系统100包括布置在机器人臂200上的视觉系统270。视觉系统270被构造成在运输存储设备500时辅助引导机器人臂200。特别地，视觉系统270辅助由机械手212保持的存储设备运送器550的对齐，以便插在测试槽310和/或储箱450中。视觉系统270通过将机器人臂200对齐到机架300(优选地，测试槽310)上的准标314而校准机器人臂200。在一些示例中，准标314是位于机架300上的测试槽310的开口312的角部附近的“L”形标记。机器人臂200在存取测试槽310之前自身与准标314对齐(例如，以便拾取或放置可能正在携载存储设备500的存储设备运送器550)。连续的机器人臂对齐提高了机器人臂200的精确度和规范性，同时最小化携载存储设备500的存储设备运送器550的错位(该错位可导致对存储设备500和/或存储设备测试系统100的损坏)。

在一些实施例中，存储设备测试系统100包括传送站400，如图1-3和10中所示。而在其它实施例中，存储设备测试系统100可包括将存储设备500供给到机器人臂200的输送带(未示出)或操作器。在包括传送站400的示例中，机器人臂200通过在传送站400和测试槽310之间传送存储设备500而独立地服务于每个测试槽310。传送站400包括被构造成各接收储箱450的多个储箱容座430。储箱450限定存储设备容座454，该存储设备容座454容纳用于测试和/或存储的存储设备500。在每个存储设备容座454中，被容纳的存储设备500由存储设备支架456支撑。机器人臂200被构造成借助机械手212从测试槽310中的一个测试槽移除存储设备运送器550，然后借助存储设备运送器550从传送站400处的存储设备容座454中的一个存储设备容座拾取存储设备500，并且随后将在其内具有存储设备500的存储设备运送器550返回到用于测试存储设备500的测试槽310。在测试后，通过从测试槽310移除携载已测试的存储设备500的存储设备运送器550(即，借助机械手212)，将存储设备运送器550中的已测试的存储设备500运送到传送站400，并且操纵存储设备运送器550以将已测试的存储设备500返回到传送站400处的存储设备容座454中的一个，机器人臂200从测试槽310取回已测试的存储设备500。在机器人臂200上包括视觉系统270的实施例中，准标314可以定位成邻近一个或更多个存储设备容座454以在于传送站400处取回或存放存储设备500中辅助引导机器人臂。

在一些示例中，传送站400包括限定纵向轴线415的站外壳410。一个或多个储箱接收器420以可旋转的方式安装在站外壳410中，例如在沿纵向轴线415延伸的心轴412上。每个储箱接收器420可以在单独的相应心轴412上或在公共心轴412上旋转。每个储箱接收器420限定第一和第二相反面向的储箱容座430A和430B。在示出的示例中，传送站400包括堆叠在心轴412上的三个储箱接收器420。每个储箱接收器420可以相对于其它储箱接收器独立地旋转并且可以在服务位置(例如，操作人员可存取)和机器人臂200可存取的测试位置之间旋转已接收的存储设备储箱450。在示出的示例中，每个储箱接收器420可在第一位置(例如，服务位置)和第二位置(测试位置)之间旋转。当在第一位置中时，使操作人员可存取第一储箱容座430A，且机器人臂200设置成在相反侧上可存取第二储箱容座430B。当在第二位置中时，机器人臂200设置成可存取第一储箱容座430A，且使操作人员在相反侧上可存取第二储箱容座430B。结果，操作人员可以通过在传送站400的一侧上将储箱450装载到储箱容座430中或从储箱容座430卸载储箱450而服务于传送站400，而机器人臂200在传送站400的相反侧上可以存取容纳在储箱容座430中的储箱450以便装载/卸载存储设备500。

传送站400提供用于将存储设备500递送到存储设备测试系统100和从存储设备测试系统100取回存储设备500的服务点。储箱450允许操作人员将一批存储设备500递送到传送站400和从传送站400取回一批存储设备500。在图10中示出的示例中，从第二位置中的各个储箱接收器420可存取的每个储箱450可以被指定为用来供应用于测试的存储设备500的源储箱450或指定为用来接收已测试的存储设备500的目标储箱450。目标储箱450可分类为分别用来接收已经通过功能性测试或功能性测试失败的相应存储设备500的“通过的返回储箱”或“失败的返回储箱”。

外壳门416以可枢转的方式或以可滑动的方式附接到传送站外壳410并且被构造成为提供到一个或多个储箱容座430的操作人员入口。操作人员打开与特定储箱接收器420相关联的外壳门416以将储箱450装载/卸载到相应的储箱容座430中。传送站400可被构造成在相关联的外壳门416打开时保持相应的储箱接收器420静止。

在一些示例中，传送站400包括站指示器418，该站指示器418提供传送站400的一个或多个状态的可见、可听或其它可识别的指示。在一个示例中，站指示器418包括灯(例如LED灯)，其在一个或更多个储箱接收器420需要服务(例如，从特定储箱接收器420装载/卸载储箱450)时给出指示。在另一示例中，站指示器418包括一个或多个音频装置，以提供一个或多个音频信号(例如，啁啾声、噼啪响等)以用信号通知操作人员对传送站400进行服务。站指示器418可以如示出地沿纵向轴线415布置，或者布置在站外壳410的一些其它部分上。

在图11中示出的示例中，储箱450A包括限定多个存储设备容座454A的储箱本体452A。每个存储设备容座454A被构造成容纳存储设备500。在这个示例中，每个存储设备容座454A包括存储设备支架456A，该存储设备支架456A被构造成支撑所接收的存储设备500的中心部分502以允许存储设备500沿非中心部分的操纵。为了从存储设备容座454A移除容纳的存储设备500，存储设备运送器550(例如，通过机器人臂200)定位在存储设备容座454A中的存储设备500下方，并且被抬高以从存储设备支架456A升高存储设备500。然后，存储设备运送器550在携载存储设备500的同时被从存储设备容座454A移走，以便将存储设备500递送到诸如测试槽310的目标对象。

在图12中示出的示例中，储箱450B包括储箱本体452B，该储箱本体452B限定柱形腔453B，该柱形腔453B被多个存储设备支架456B分成存储设备容座454B。存储设备支架456B以悬臂的方式离开柱形腔453B的后壁457B延伸。存储设备支架456B被构造成支撑所接收的存储设备500的中心部分502以允许存储设备500沿非中心部分的操纵。悬臂状存储设备支架456B允许通过恰好在下方将存储设备运送器550(例如，如图13中示出的)插入空的存储设备容座454B中并且从存储设备支架456B升高存储设备500以便将存储设备500从存储设备容座454B移除而从储箱450B取回存储设备500。反过来重复相同步骤以便将存储设备500存放在储箱450B中。如示出的，每个柱形腔453B中的底部存储设备容座454B保持空的以方便在其上方的容纳在存储设备容座454B中的存储设备500的移除。因此，存储设备500必须顺序地装载在特定柱中或从特定柱卸载；然而，比图11中示出的储箱方案获得更大的存储密度。

参考图13-16，在一些示例中，测试槽310被构造成接收存储设备运送器550。存储设备运送器550被构造成容纳存储设备500并且由机器人臂200搬运。在使用中，借助机器人200(例如，通过用机器人200的机械手212抓取或以其它方式接合运送器550的凹陷552)从测试槽310中的一个测试槽移除存储设备运送器550中的一个。如图13中示出的，存储设备运送器550包括框架560，该框架560限定有由侧壁562、564和底板566形成的大体上U形的开口561，侧壁562、564和底板566共同地允许框架560配合在储箱450中的存储设备支架456周围，使得存储设备运送器550可以移动(例如，通过机器人臂200)到容纳在储箱450的存储设备容座454的一个中的存储设备500中的一个的下面的位置中。然后，存储设备运送器550可被升高(例如，通过机器人臂310)到与存储设备500接合的位置中，以便将存储设备500从储箱450中的存储设备支架456移除。

如图16中所示，在存储设备500在存储设备运送器550的框架560内处于适当位置的情况下，存储设备运送器550和存储设备500可由机器人臂200一起移动以便放置在测试槽310中的一个内。机械手212也被构造成开始致动布置在存储设备运送器550中的夹紧机构570。这允许在运送器550从储箱450移动到测试槽310之前致动夹紧机构570，以阻止在移动期间存储设备500相对于存储设备运送器550的运动。在插在测试槽310中之前，机械手212可以再次致动夹紧机构570以释放框架560内的存储设备500。这允许存储设备运送器550插入到测试槽310中的一个测试槽中，直到存储设备500处于存储设备连接器510与测试槽连接器(未示出)接合的测试位置。夹紧机构570也可被构造成一旦容纳在测试槽310中就与测试槽310接合以阻止存储设备运送器550相对于测试槽310的运动。在这种实施例中，一旦存储设备500处于测试位置，就(例如，通过机械手212)再次接合夹紧机构570以阻止存储设备运送器550相对于测试槽310的运动。存储设备运送器550的以这种方式的夹紧可以有助于在测试期间减小振动。在一些示例中，在插入之后，存储设备运送器550和其中携载的存储设备500二者被以组合方式或单独地夹紧或固定在测试槽310内。夹紧机构570的详细描述和可以与在这里描述的那些细节和特征组合的其它细节和特征可以在2007年12月18日提交的题名为“DISKDRIVE TRANSPORT，CLAMPING AND TESTING(磁盘驱动器的运输、夹紧和测试)”的美国专利申请No.11/959,133中找到，该美国专利申请的内容在此通过引用全部并入。

存储设备500可以是对振动敏感的。将多个存储设备500配合在单个测试机架310中并且使存储设备500运行(例如，在测试期间)，以及各可选地携载存储设备500的存储设备运送器550的从测试机架300中的各个测试槽310的插入和移除可能是不希望振动的源。在一些情况中，例如，可以在测试槽310中的一个内在测试下操作存储设备500中的一个，同时其它存储设备被从相同测试机架300中的相邻测试槽310移除和插入该相邻测试槽310中。如上所述，在存储设备运送器550完全插入到测试槽310中之后将存储设备运送器550夹紧到测试槽310能够有助于通过在存储设备运送器550的插入和移除期间限制存储设备运送器550和测试槽310之间的接触和刮擦而减小和限制振动。

参考图17，在一些实施例中，存储设备测试系统100包括与测试槽310通信的至少一台计算机320。计算机320可以被构造成提供存储设备500的库存控制和/或自动接口以控制存储设备测试系统100。电源系统330向存储设备测试系统100供电。电源系统330可监视和/或调节到测试槽310中所接收的存储设备500的电源。温度控制系统340控制每个测试槽310的温度。温度控制系统340可以是可操作以使空气在测试槽310上和/或通过测试槽310循环的鼓风机342(例如，风扇)。在一些实施例中，鼓风机342位于测试槽310的外部。诸如有源或无源阻尼系统的振动控制系统350控制每个测试槽310的振动。在一些示例中，振动控制系统350包括无源阻尼系统，其中测试槽310的部件通过垫环隔离器(例如，热塑性乙烯基)和/或弹性体安装架(例如，聚氨酯弹性体)被连接。在一些示例中，振动控制系统350包括具有弹簧、阻尼器和控制回路的有源控制系统，其控制机架300和/或测试槽310中的振动。数据接口360与每个测试槽310通信。数据接口360被配置成与被测试槽310接收的存储设备500通信。

在图18中示出的示例中，每个机架300包括与至少一个测试槽310通信的至少一个自测试系统600。自测试系统600包括群集控制器610、与被接收在测试槽310中的存储设备500电通信的连接接口电路620、和与连接接口电路620电通信的块接口电路630。群集控制器610可以被配置成运行一个或多个测试程序，诸如测试槽310上的多个自测试和/或存储设备500上的功能性测试。连接接口电路620和块接口电路630可以被配置成用于自测试。然而，在一些示例中，自测试系统600包括自测试电路660，该自测试电路660被配置成在存储设备测试系统100的一个或多个部件上执行和控制自测试例程。例如，自测试电路660可以被配置成在存储设备测试系统100的一个或多个部件上执行“存储设备”类型和/或“仅仅测试槽”类型的自测试。群集控制器610可以通过以太网(例如，千兆位以太网)与自测试电路640通信，该自测试电路640可以与块接口电路630通信并通过通用异步接收/发送器(UART)串行链路而向连接接口电路620和存储设备500通信。UART通常是用于计算机或外围设备串行端口上的串行通信的单个集成电路(或集成电路的一部分)。块接口电路630被配置成控制测试槽310的电源和温度，并且可控制多个测试槽310和/或存储设备500。

在一些示例中，每个机架300包括与至少一个测试槽310通信的至少一个功能测试系统650。功能测试系统650测试由存储设备运送器550保持和/或支撑在测试槽310中的接收的存储设备500是否适当地起作用。功能性测试可包括测试由存储设备500接收的功率值、操作温度、读写数据的能力、和在不同温度下读写数据(例如，在热的时候读取且在冷的时候写入，或者反过来)的能力。功能性测试可测试存储设备500的每个存储扇区或仅仅测试随机样本。功能性测试可测试存储设备500的操作温度并且也可测试与存储设备500通信的数据的完整性。功能测试系统650包括群集控制器610和与群集控制器610电通信的至少一个功能接口电路660。连接接口电路620与容纳在测试槽310中的存储设备500和功能接口电路660电通信。功能接口电路660被配置成向存储设备500通信功能测试例程。功能测试系统650可包括通信交换机670(例如，千兆位以太网)以在群集控制器610和一个或多个功能接口电路660之间提供电通信。优选地，计算机320、通信交换机670、群集控制器610和功能接口电路660在以太网网络上通信。然而，可以使用其它形式的通信。功能接口电路660可经由并行AT连接(也称为IDE、ATA、ATAPI、UDMA和PATA的硬盘接口)、SATA或SAS(串行连接的SCSI)与连接接口电路620通信。

执行存储设备测试的方法包括将多个存储设备500装载到传送站400中(例如，如通过将存储设备500装载到由存储设备储箱450限定的存储设备容座454中，并且将存储设备储箱450装载到由传送站400限定的储箱容座430中)。该方法包括致动机器人臂200以从容纳在机架300中的测试槽310取回存储设备运送器550，和致动机器人臂200以从传送站400取回存储设备500中的一个并在存储设备运送器550中携载存储设备500。机器人臂200可操作以绕由机器人臂200限定的大体上垂直于地板表面10的第一轴线205旋转过预定弧度并且从该第一轴线205沿径向延伸。该方法包括致动机器人臂200以将携载存储设备500的存储设备运送器550递送到测试槽310，和对由所接收的存储设备运送器550和测试槽310容纳的存储设备500执行功能性测试。然后，该方法包括致动机器人臂200以从测试槽310取回携载已测试的存储设备500的存储设备运送器550并且将已测试的存储设备500递送回到传送站400。在一些实施例中，在测试槽310被提供用于不同种类的测试的情况下，机架300和两个或多个关联的测试槽310被构造成将存储设备500从一个测试槽310内部移动到另一个测试槽310内。

在一些示例中，该方法包括致动机器人臂200以在将已测试的存储设备500存放在存储设备储箱450的存储设备容座454中之后将存储设备运送器550存放在测试槽310中，或通过从存储设备储箱450的另一存储设备容座454取回用于测试的另一存储设备500来重复该方法。在一些示例中，将存储设备运送器550递送到测试槽310包括将携载存储设备500的存储设备运送器550插入到机架300中的测试槽310中，从而在存储设备500和机架300之间建立电连接。

在一些实施例中，该方法包括对所接收的存储设备500执行功能性测试，执行功能性测试包括在操作存储设备500的同时调节测试槽310的温度。对所接收的存储设备500的操作包括执行到存储设备500的数据读写。该方法也可包括使空气在测试槽310上和/或通过测试槽310循环以控制测试槽310的温度，和监视和/或调节递送到存储设备500的电源。

在一些示例中，该方法包括借助被机架300容纳的自测试系统600对测试槽320执行“存储设备”类型和/或“仅仅测试槽”类型的自测试以校验测试槽310的功能性。“存储设备”类型的自测试测试具有接收的存储设备500的存储设备测试系统的功能性，该存储设备由存储设备运送器550保持和/或支撑在测试槽310中。“仅仅测试槽”类型的自测试测试在测试槽空的时候测试测试槽310的功能性。

在一些示例中，该方法包括与布置在机器人臂200上的视觉系统270通信以在运输存储设备500时辅助引导机器人臂200，该存储设备可由存储设备运送器550携载。该方法包括通过将机器人臂200对齐到在机架300、测试槽310、传送站400和/或储箱450上的由视觉系统270识别的准标314而校准机器人臂200。

可以与在这里描述的那些细节和特征组合的其它细节和特征可以在2007年12月18日提交的题名为“DISK DRIVE TESTING(磁盘驱动器测试)”的美国专利申请11/958,817中找到，该美国专利申请的内容通过引用全部并入于此。

已经描述了若干个实施例。然而，应该理解，在不偏离本公开的精神和范围的情况下可以作出各种修改。因此，其它实施例在以下权利要求的范围内。

Claims

1.一种存储设备测试系统(100)，包括：

至少一个机器人臂(200)，所述至少一个机器人臂(200)限定大体上垂直于地板表面(10)的第一轴线(205)，所述机器人臂(200)能够操作以绕所述第一轴线(205)旋转过预定弧度并从所述第一轴线(205)沿径向延伸；

多个机架(300)，所述多个机架(300)布置在所述机器人臂(200)周围以便由所述机器人臂(200)提供服务，其中所述机架(300)被布置成沿径向等距地离开所述机器人臂(200)的所述第一轴线(205)和/或绕所述机器人臂(200)的所述第一轴线(205)被布置成至少部分封闭的多边形；和

多个测试槽(310)，所述多个测试槽(310)由每个机架(300)容纳，所述多个测试槽水平地且竖直地排列，每个测试槽(310)被构造成接纳存储设备运送器(550)，所述存储设备运送器(550)被构造成携载用于测试的存储设备(500)，

其中所述机器人臂(200)包括机械手(212)，所述机械手(212)被构造成从所述测试槽的前面与所述测试槽(310)中的一个的所述存储设备运送器(550)接合，所述机器人臂(200)能够操作以将所述存储设备运送器(550)中的存储设备(500)携载到所述测试槽(310)以用于测试。

2.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，还包括：

与所述测试槽(300)通信的至少一台计算机(320)；

用于向所述存储设备测试系统(100)供电的电源系统(330)；

用于控制每个测试槽(310)的温度的温度控制系统(340)；

用于控制机架振动的振动控制系统(350)；和

与每个测试槽(310)通信的数据接口(360)，所述数据接口(360)被配置成与由所述测试槽(310)接纳的所述存储设备运送器(550)中的存储设备(500)通信。

3.根据权利要求2所述的存储设备测试系统(100)，其中所述电源系统(330)被配置成监视和/或调节到所述测试槽(310)中的已接收的存储设备(500)的电源。

4.根据权利要求2所述的存储设备测试系统(100)，其中所述温度控制系统(340)包括鼓风机(342)，所述鼓风机(342)能够操作以使空气通过所述测试槽(310)循环。

5.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，其中每个机架(300)包括与至少一个测试槽(310)通信的至少一个自测试系统(600)，所述自测试系统(600)包括：

群集控制器(610)；

与所述测试槽(310)中接纳的存储设备(500)电通信的连接接口电路(620)；和

与所述连接接口电路(620)电通信的块接口电路(630)，所述块接口电路(630)被配置成控制所述测试槽(310)的电源和温度；

其中所述连接接口电路(620)和所述块接口电路(630)被配置成测试所述存储设备测试系统(100)中的至少一个部件的功能性。

6.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，其中每个机架(300)包括与至少一个测试槽(310)通信的至少一个功能测试系统(650)，所述至少一个功能测试系统(650)包括：

群集控制器(610)；

与所述群集控制器(610)电通信的至少一个功能接口电路(660)；和

与所述测试槽(310)中接纳的存储设备(500)和所述至少一个功能接口电路(660)电通信的连接接口电路(620)，其中所述至少一个功能接口电路(660)被配置成向所述存储设备(500)传递功能测试例程以测试所述存储设备(500)是否适当地起作用。

7.根据权利要求6所述的存储设备测试系统(100)，其中所述至少一个功能测试系统(650)还包括通信交换机(670)，所述通信交换机(670)用于在所述群集控制器(610)和所述至少一个功能接口电路(660)之间提供电通信。

8.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，其中所述机器人臂(200)限定大体上圆柱形的工作包络体(210)，所述机架(300)布置在所述工作包络体(210)内以便能够存取用于由所述机器人臂(200)提供服务的每个测试槽(310)。

9.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，其中，通过从所述测试槽(310)中的一个取回所述存储设备运送器(550)以在传送站(400)和所述测试槽(310)之间传送存储设备(500)，所述机器人臂(200)独立地服务于每个测试槽(310)。

10.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，其中所述机器人臂(200)能够操作以绕所述第一轴线(205)旋转360°。

11.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，还包括竖直致动支架(252)，所述竖直致动支架(252)支撑所述机器人臂(200)并且能够操作以相对于所述地板表面(10)竖直地移动所述机器人臂(200)。

12.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，还包括线性致动器(254)，所述线性致动器(254)用于支撑所述机器人臂(200)并且能够操作以沿所述地板表面(10)水平地移动所述机器人臂(200)。

13.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，还包括可旋转的台(260)，所述可旋转的台(260)支撑所述机器人臂(200)并且能够操作以绕大体上垂直于所述地板表面(10)的第二轴线(262)旋转所述机器人臂(200)。

14.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，还包括布置在所述机器人臂(200)上的视觉系统(270)，所述视觉系统(270)在所述机器人臂运输存储设备(500)时辅助引导所述机器人臂(200)，并通过将所述机器人臂(200)对齐到准标(314)而辅助校准所述机器人臂(200)。

15.根据权利要求1所述的存储设备测试系统(100)，还包括被布置用于由所述机器人臂(200)提供服务的传送站(400)，所述传送站(400)供应用于测试的存储设备(500)。

16.一种执行存储设备测试的方法，包括：

提供用于测试的存储设备(500)；

致动单个机器人臂(200)以取回所提供的存储设备(500)并且将所述存储设备(500)携载到容纳在存储设备测试系统(100)的机架(300)中的测试槽(310)，所述机器人臂(200)能够操作以绕大体上垂直于地板表面(10)的由所述机器人臂(200)限定的第一轴线(205)旋转过预定弧度并且从所述第一轴线(205)沿径向延伸；

致动所述机器人臂(200)以将所述存储设备(500)插入到所述测试槽(500)中；

对容纳在所述测试槽(310)中的所述存储设备(500)执行功能性测试；和

致动所述机器人臂(200)以从所述测试槽(310)取回已测试的存储设备(500)并且将所述已测试的存储设备(500)递送到测试完成位置；

将所述存储设备(500)装载到传送站(400)中，所述存储设备(500)被提供用于测试；

致动所述机器人臂(200)以从所述测试槽(310)取回存储设备运送器(550)；

致动所述机器人臂(200)以从所述传送站(400)取回所提供的存储设备(500)并在所述存储设备运送器(550)中携载所述存储设备(500)；

致动所述机器人臂(200)以将携载存储设备(500)的所述存储设备运送器(550)递送到所述测试槽(310)；和

致动所述机器人臂(200)以从所述测试槽(310)取回携载所述已测试的存储设备(500)的所述存储设备运送器(550)并将所述已测试的存储设备(500)递送回到所述传送站(400)。

17.根据权利要求16所述的方法，还包括致动所述机器人臂(200)以将空的存储设备运送器(550)存放在所述测试槽(310)中。

18.根据权利要求16所述的方法，其中对容纳在所述测试槽(310)中的所述存储设备(500)执行功能性测试包括在操作所述存储设备(500)的同时调节所述测试槽(310)的温度。

19.根据权利要求18所述的方法，其中操作所述存储设备(500)包括执行到所述存储设备(500)的数据读写。

20.根据权利要求16所述的方法，还包括使空气通过所述测试槽(310)循环以控制所述测试槽(310)的温度。

21.根据权利要求16所述的方法，还包括监视被递送到在所述测试槽(310)中接纳的所述存储设备(500)的电源。

22.根据权利要求16所述的方法，还包括调节被递送到在所述测试槽(310)中接收的所述存储设备(500)的电源。

23.根据权利要求16所述的方法，还包括借助由所述机架(300)容纳的自测试系统(600)对所述测试槽(310)执行自测试，以校验所述测试槽(310)的功能性。

24.根据权利要求16所述的方法，其中致动所述机器人臂(200)包括致动支撑所述机器人臂(200)的支架(252)以相对于地板表面(10)竖直地移动所述机器人臂(200)。

25.根据权利要求16所述的方法，其中致动所述机器人臂(200)包括致动支撑所述机器人臂(200)的线性致动器(254)以相对于地板表面(10)水平地移动所述机器人臂(200)。

26.根据权利要求16所述的方法，还包括与布置在所述机器人臂(200)上的视觉系统(270)通信，以在所述机器人臂运输所述存储设备(500)时辅助引导所述机器人臂(200)和/或通过将所述机器人臂(200)对齐到所述机架(300)上的准标(314)来校准所述机器人臂(200)。