JP2012524361A - 格納装置テスト - Google Patents

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Abstract

格納装置テストシステム(100)は、床面(10)に実質的に垂直な第一の軸(205)を規定する少なくとも一つのロボットアーム(200)を含む。ロボットアームは、第一の軸の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。ロボットアームによってサービスされるように多数のラック(300)がロボットアームの周りに配置される。各ラックは、各々がテストのために格納装置(500)を搬送するように構成された格納装置搬送器(550)を受け取るように構成されている多数のテストスロット(310)を収容する。

Description

この開示は、格納装置テストに関する。
ディスクドライブ製造者は典型的に、一集りの要求を満たしていることについて製造されたディスクドライブをテストする。多数のディスクドライブを直列的にまたは並列的にテストするテスト設備および技術が存在する。製造者は多数のディスクドライブをバッチで同時にテストする傾向がある。ディスクドライブテストシステムは典型的には、テストのためにディスクドライブを受け取る多数のテストスロットを有した一つ以上のラックを含む。
ディスクドライブの直ぐ周辺のテスト環境は、緊密に規制される。テスト環境における最小の温度変動は、正確なテスト条件とディスクドライブの安全のために決定的である。より高い容量と、より速い回転速度と、より小さいヘッドクリアランスを有するディスクドライブの最新世代は、振動により敏感である。過大な振動はテスト結果の信頼性と電気的接続の完全性に影響を与えることができる。テスト条件下では、ドライブ自体がサポート構造または隣接するユニットへの固定を通して振動を伝播することができる。この振動の「クロストーク」は、振動の外部ソースと共に、バンプエラー、ヘッドスラップ、および非反復性ランアウト(NRRO)に貢献し、それらはより低いテスト歩留まりと増加した製造コストに結果としてなり得る。
現行のディスクドライブテストシステムは、システム中の過大な振動に貢献しおよび/または大きな設置面積を要求する自動化および構造的サポートシステムを採用する。現行のディスクドライブテストシステムはまた、ディスクドライブをテストのためにテストシステムに個別に供給するのにオペレーターまたはベルトコンベアを使う。
一側面では、格納装置テストシステムは、床面に実質的に垂直な第一の軸を規定する少なくとも一つのロボットアームを含む。ロボットアームは、第一の軸の周りの所定の弧(例えば、360°)を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。
多数のラックが、ロボットアームによってサービスされるためにロボットアームの周りに配置される。各ラックは多数のテストスロットを収容し、それらは各々テストのために格納装置を搬送するように構成された格納装置搬送器を受け取るように構成されている。
開示の実装は、以下の特徴の一つ以上を含んでいても良い。いくつかの実施形態では、ロボットアームは、テストスロットの一つの格納装置搬送器と係合するように構成されたマニピュレータを含んでいても良い。ロボットアームは、テストのために格納装置搬送器中の格納装置をテストスロットに搬送するように動作し得る。ロボットアームは実質的に円筒形の作業エンベロープ容積を規定し、ラックと転送ステーションが、ロボットアームによるサービスのために作業エンベロープ容積内に配置される。いくつかの例では、ラックと転送ステーションは、ロボットアームの第一の軸の周りの少なくとも部分的に閉じた多角形に配置されている。ラックは、ロボットアームの第一の軸から等距離に放射状に離れて、または異なる距離で、配置されても良い。
ロボットアームは、転送ステーションとテストスロットの間で格納装置を転送するようにテストスロットの一つから格納装置搬送器を取り出すことによって各テストスロットを個別にサービスしても良い。いくつかの実施形態では、格納装置テストシステムは、ロボットアームを支持し、床面に対して垂直にロボットアームを動かすように動作し得る垂直駆動サポートを含む。格納装置テストシステムはまた、ロボットアームを支持し、床面に沿って水平にロボットアームを動かすように動作し得るリニアアクチュエータを含んでいても良い。いくつかの実施形態では、格納装置テストシステムは、ロボットアームを支持し、床面と実質的に垂直な第二の軸の周りにロボットアームを回転するように動作し得る回転テーブルを含む。
格納装置テストシステムは、ロボットアームによってサービスされるように配置された転送ステーションを含んでいても良い。転送ステーションは、テストのために格納装置を供給および/または格納するように構成されている。いくつかの実施形態では、転送ステーションは、床面に実質的に垂直に転送ステーションによって規定された縦軸の周りを回転するように動作し得る。転送ステーションは、第一および第二の反対向きのトートレセプタクルを規定する転送ステーションハウジングを含む。いくつかの実施形態では、転送ステーションは、スピンドルがステーションベースから実質的に垂直に上向きに伸びているところのステーションベースと、スピンドル上に回転可能に載置された多数のトート受け取り器を含む。各トート受け取り器は、他とは独立に回転可能であり、第一および第二の反対向きのトートレセプタクルを規定する。
ロボットアームは、転送ステーションの受け取られた格納装置トートとテストロットの間で格納装置を転送することによって各テストスロットを個別にサービスしても良い。いくつかの実施形態では、格納装置トートは、各々が格納装置を収容するように構成された多数の格納装置レセプタクルを規定するトート本体を含む。各格納装置レセプタクルは、格納装置の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られた格納装置の中央部分をサポートするように構成された格納装置サポートを規定する。いくつかの例では、格納装置トートは、多数のコラム空孔と各コラム空孔中に配置された(例えば、空孔コラムの後壁から離された)多数の片持ち梁型格納装置サポートを規定し、各々が格納装置を受け取るように構成された多数の格納装置レセプタクルにコラム空孔を分割するトート本体を含む。各格納装置サポートは、格納装置の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られた格納装置の中央部分をサポートするように構成されている。
格納装置テストシステムは時々、格納装置を搬送している間にロボットアームの案内を補助するようにロボットアーム上に配置された視覚システムを含む。特に、視覚システムは、格納装置搬送器を安全にテストスロットの一つまたは格納装置トート中に挿入するように格納装置搬送器を保持するロボットアーム上のマニピュレータを案内するのに使われても良い。視覚システムは、ラック、テストスロット、転送ステーション、および/または格納装置トート上の基準マークにロボットアームを揃えることによってロボットアームをカリブレートしても良い。
いくつかの実装では、格納装置テストシステムは、テストスロットと通信している少なくとも一つのコンピュータを含む。パワーシステムが格納装置テストシステムにパワーを供給し、テストスロット中の受け取られた格納装置へのパワーを監視および/または規制するように構成されていても良い。温度制御システムは、テストスロットの上におよび/またはそれを通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器(例えば、ファン)を含んでいても良い。振動制御システムはラック振動(例えば、受動的振動制限を介した)を制御する。データインターフェースは各テストスロットと通信しており、テストスロットによって受け取られた格納装置搬送器中の格納装置と通信するように構成されている。
各ラックは、少なくとも一つのテストスロットと通信している少なくとも一つの自己テストシステムを含む。自己テストシステムは、クラスターコントローラと、テストスロットに受け取られた格納装置と電気通信している接続インターフェース回路と、接続インターフェース回路と電気通信しているブロックインターフェース回路を含む。ブロックインターフェース回路はテストスロットのパワーと温度を制御するように構成されている。接続インターフェース回路とブロックインターフェース回路は、格納装置テストシステムの少なくとも一つの部品の機能性をテストする(例えば、空である間かまたは格納装置搬送器によって保持された格納装置を収容している間にテストスロットの機能性をテストする)ように構成されている。
いくつかの実装では、各ラックは、少なくとも一つのテストスロットと通信している少なくとも一つの機能テストシステムを含む。機能テストシステムは、クラスターコントローラと、クラスターコントローラと電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路と、テストスロットに受け取られた格納装置と機能インターフェース回路と電気通信している接続インターフェース回路を含む。機能インターフェース回路は格納装置に機能テストルーティンを通信するように構成されている。いくつかの例では、機能テストシステムは、クラスターコントローラと少なくとも一つの機能インターフェース回路の間に電気通信を提供するイーサネット(登録商標)スイッチを含む。
別の側面では、格納装置テストを行う方法は、テストのために格納装置を提示することと、提示された格納装置を取り出し、格納装置テストシステムのラック中に収容されたテストスロットに格納装置を搬送するように単一のロボットアームを駆動することを含む。ロボットアームは、床面に実質的に垂直にロボットアームによって規定された第一の軸の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。方法は、格納装置をテストスロット中に挿入するようにロボットアームを駆動することと、テストスロット中に収容された格納装置上で機能テストを行うことと、テストスロットからテストされた格納装置を取り出し、転送ステーションのようなテスト完了位置にテストされた格納装置を配送するようにロボットアームを駆動することを含む。いくつかの実装では、方法は更に、格納装置がテストのために提示されているように格納装置を転送ステーション中に装填することと、テストスロットから格納装置搬送器を取り出すようにロボットアームを駆動することと、転送ステーションから提示された格納装置を取り出し、格納装置搬送器中に格納装置を搬送するようにロボットアームを駆動することを含む。方法は、格納装置を搬送している格納装置搬送器をテストスロットに配送するようにロボットアームを駆動することと、例えばテストの後で、テストされた格納装置を搬送している格納装置搬送器をテストスロットから取り出し、テストされた格納装置を転送ステーションに配送し戻すようにロボットアームを駆動することを含む。
更に別の側面では、格納装置テストを行う方法は、多数の格納装置を転送ステーション中に装填すること(例えば、格納装置トートによって規定された格納装置レセプタクル中に格納装置を装填し、転送ステーションによって規定されたトートレセプタクル中に格納装置トートを装填することによってのように)を含む。方法は、ラックに収容されたテストスロットから格納装置搬送器を取り出すようにロボットアームを駆動することと、転送ステーションから格納装置の一つを取り出し、格納装置を格納装置搬送器中で搬送するようにロボットアームを駆動することを含む。ロボットアームは、床面に実質的に垂直にロボットアームによって規定された第一の軸の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。方法は、格納装置を搬送している格納装置搬送器をテストスロットに配送するようにロボットアームを駆動することと、受け取られた格納装置搬送器とテストスロットに収容された格納装置上で機能テストを行うことを含む。方法はそれから、テストされた格納装置を搬送している格納装置搬送器をテストスロットから取り出し、テストされた格納装置を転送ステーションに配送し戻すようにロボットアームを駆動することを含む。
いくつかの例では、方法は、格納装置搬送器をテストスロットに預けるようにロボットアームを駆動すること(例えば、格納装置トートの格納装置レセプタクル中にテストされた格納装置を預けた後で)を含む。いくつかの例では、格納装置搬送器をテストスロットに配送することは、格納装置を搬送している格納装置搬送器をラック中のテストスロット中に挿入することと、格納装置とラックの間に電気接続を確立することを含む。
いくつかの実装では、受け取られた格納装置上で機能テストを行うことは、格納装置を作動している間に、テストスロットの温度を規制することを含む。また、受け取られた格納装置を作動することは、格納装置にデータの読み出しおよび書き込みを行うことを含んでも良い。いくつかの例では、方法は、テストスロットの温度を制御するようにテストスロットの上におよび/またはそれを通して空気を循環させること、受け取られた格納装置に配送されたパワーを監視および/または規制すること、テストスロットの機能性を検証するようにラックによって収容された自己テストシステムでテストスロット上の自己テストを行うこと、の一つ以上を含む。
方法は、格納装置を搬送している間にロボットアームの案内を補助するようにロボットアーム上に配置された視覚システムと通信することを含んでも良い。方法はまた、視覚システムによって認識されたラック、テストスロット、転送ステーション、および/または格納装置トート上の基準マークにロボットアームを揃えることによってロボットアームをカリブレートすることを含んでも良い。
開示の一つ以上の実装の詳細が、添付の図面と以下の記載に示されている。他の特徴、目的および利点は、記載と図面から、および請求項から、明らかとなるであろう。
図1は、格納装置テストシステムの斜視図である。 図2は、格納装置テストシステムの上面図である。 図3は、格納装置テストシステムの斜視図である。 図4は、異なるサイズのラックと設置面積を持った格納装置テストシステムの上面図である。 図5は、異なるサイズのラックと設置面積を持った格納装置テストシステムの上面図である。 図6は、格納装置テストシステムの斜視図である。 図7は、垂直および水平駆動サポート上に支持されたロボットアームの側面図である。 図8は、2つのロボットアームを持った格納装置テストシステムの斜視図である。 図9は、回転サポート上に支持されたロボットアームを含んだ格納装置テストシステムの上面図である。 図10は、転送ステーションの斜視図である。 図11は、複数の格納装置レセプタクルを規定するトートの斜視図である。 図12は、片持ち梁型格納装置サポートを有するトートの斜視図である。 図13は、格納装置搬送器の斜視図である。 図14は、格納装置を搬送している格納装置搬送器の斜視図である。 図15は、格納装置を搬送している格納装置搬送器の下方斜視図である。 図16は、テストスロットへの挿入のために揃えられた格納装置を搬送している格納装置搬送器の斜視図である。 図17は、格納装置テストシステムの概略図である。 図18は、自己テストおよび機能テスト能力を持った格納装置テストシステムの概略図である。
様々な図面における同様の参照符号は同様の要素を示す。
図1−3を参照すると、いくつかの実装では、格納装置テストシステム100は、床面10に実質的に垂直な第一の軸205を規定する少なくとも一つのロボットアーム200を含む。ロボットアーム200は、第一の軸205の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸205から放射状に伸びるように動作し得る。いくつかの例では、ロボットアーム200は、第一の軸205の周りを360°回転し得て、格納装置500および/または格納装置500を搬送している格納装置搬送器550を扱うようにロボットアーム200の末梢端に配置されたマニピュレータ212を含む(例えば、図13−14参照)。多数のラック300が、ロボットアーム200によってサービスされるためにロボットアーム200の周りに配置される。各ラック300は、テストのために格納装置500を受け取るように構成された多数のテストスロット310を収容している。ロボットアーム200は実質的に円筒形の作業エンベロープ容積210を規定し、ラック300はロボットアーム200によってサービスされるための各テストスロット310のアクセス可能性のために作業エンベロープ容積210内に配置されている(例えば、図4と5参照)。実質的に円筒形の作業エンベロープ容積210は、コンパクトな設置面積を提供し、一般に高さ制約によってのみ容量が制限される。
ここで使われているような格納装置は、ディスクドライブ、ソリッドステートドライブ、メモリ装置、および有効化のために非同期テストを要求するあらゆる装置を含む。ディスクドライブは一般に、磁気表面を持った高速に回転する円盤上にデジタルにコード化されたデータを格納する不揮発性格納装置である。ソリッドステートドライブ(SSD)は、持続するデータを格納するためのソリッドステートメモリを使ったデータ格納装置である。(フラッシュメモリの代わりに)SRAMまたはDRAMを使ったSSDはしばしばRAMドライブと呼ばれる。ソリッドステートという用語は一般にソリッドステートエレクトロニクスを電子機械的デバイスから区別する。
ロボットアーム200は、テストシステム100を通じた格納装置500の連続した流れを提供するように各テストスロット310を個別にサービスするように構成されていても良い。テストシステム100を通じた個別の格納装置500の連続した流れは、各格納装置500についてランダムなスタートおよびストップ時間を許容するのに対し、一度に実行されるべき格納装置500のバッチを要求するシステムは同じスタートおよびエンド時間を持たなければならない。従って、連続した流れがあると、異なる容量の格納装置500を同時に実行して必要に応じてサービスされる(装填される/抜き取りされる)ことができる。
土台だけで建っているロボットアーム200のラック300からの隔離は、共通のサポート構造として床面10(例えば、図10参照)のみを共有するラック300の振動制御を補助する。つまり、ロボットアーム200はラック300から脱結合し、床面10のみを二つの構造の間の接続の唯一の手段として共有する。いくつかの場合には、各ラック300は約480個のテストスロット310を収容する。他の場合には、ラック300は、サイズとテストスロット容量において様々である。
図1−3に描かれた例では、ラック300は、ロボットアーム200の第一の軸205から等距離に放射状に離れて配置される。しかしながら、ラック300は、作業エンベロープ容積210内でロボットアーム200の周りにいかなるパターンでいかなる距離に配置されても良い。ラック300は、その例が図4−5に示されている、開いたまたは閉じた八角形、正方形、三角形、台形、またはその他の多角形のような、ロボットアーム200の第一の軸205の周りの少なくとも部分的に閉じた多角形に配置されている。ラック300は、特定の設置面積に適合するように異なるサイズと形状に構成されていても良い。ロボットアーム200の周りのラック300の配置は、対称的であっても非対称的であっても良い。
図3と6に示された例では、ロボットアーム200は、床面10上の台座またはリフト250によって持ち上げられ、その上にサポートされている。台座またはリフト250は、ロボットアーム200がテストスロット310をサービスするのに上向きだけでなく下向きにも届くことを許容することによって、作業エンベロープ容積210の高さを増加する。作業エンベロープ容積210の高さは、図7に示されるように、台座またはリフト250に垂直アクチュエータを追加し、ロボットアーム200をサポートする垂直駆動サポート252としてそれを構成することによって更に増加できる。いくつかの例では、垂直駆動サポート252は、ロボットアーム200をサポートしている垂直トラックとして構成され、ロボットアーム200をトラックに沿って垂直に動かすためのアクチュエータ(例えば、駆動されたボールスクリューまたはベルト)を含む。図7にまた示されている水平駆動サポート254(例えば、リニアアクチュエータ)がロボットアーム200をサポートするのに使われても良く、ロボットアーム200を床面10に沿って水平に動かすように動作し得る。示された例では、ロボットアーム200をサポートしている垂直および水平駆動サポート252と254の組み合わせが、上から見て引き伸ばされた実質的に楕円形のプロファイルを有する拡大された作業エンベロープ容積210を提供する。
図8に描かれた例では、格納装置テストシステム100は、両方共第一の軸205の周りを回転している2つのロボットアーム200Aと200Bを含む。一つのロボットアーム200Aは床面10上にサポートされている一方、他のロボットアーム200Bは天井構造12から吊り下げられている。同様に、図7に示された例では、追加のロボットアーム200が垂直駆動サポート252上で動作可能であっても良い。
図9に描かれた例では、格納装置テストシステム100は、ロボットアーム200をサポートする回転可能テーブル260を含む。回転可能テーブル260は、床面10に実質的に垂直な第二の軸262の周りでロボットアーム200を回転するように動作し得て、これにより第一の軸205の周りだけを回転しているロボットアーム200よりも大きな作業エンベロープ容積210を提供する。
図7−8に戻ると、いくつかの実装では、格納装置テストシステム100は、ロボットアーム200上に配置された視覚システム270を含む。視覚システム270は、格納装置500を搬送している間にロボットアーム200の案内を補助するように構成されている。特に、視覚システム270は、テストスロット310および/またはトート450中への挿入のための、マニピュレータ212によって保持された格納装置搬送器550の揃えを補助する。視覚システム270は、ラック300、好ましくはテストスロット310、上の基準マーク314にロボットアーム200を揃えることによってロボットアーム200をカリブレートする。いくつかの例では、基準マーク314は、ラック300上のテストスロット310の開口部312の隅付近に位置する「L」字型のマークである。ロボットアーム200は、テストスロット310にアクセス(例えば、格納装置500を搬送していても良い格納装置搬送器550をピックアップするかまたは置くように)する前に、それ自身を基準マーク314に揃える。継続したロボットアームの揃えは、ロボットアーム200の正確さと評判のよさを拡張する一方で、格納装置500を搬送している格納装置搬送器550の置き間違い(それは格納装置500および/または格納装置テストシステム100への損傷に結果としてなり得る)を最小化する。
いくつかの実装では、格納装置テストシステム100は、図1−3と10に示されるような転送ステーション400を含む。一方他の実装では、格納装置テストシステム100は格納装置500をロボットアーム200に供給するベルトコンベア(図示せず)またはオペレーターを含んでいても良い。転送ステーション400を含んだ例では、ロボットアーム200は、格納装置500を転送ステーション400とテストスロット310の間で転送することによって各テストスロット310を個別にサービスする。転送ステーション400は、各々がトート450を受け取るように構成された多数のトートレセプタクル430を含む。トート450は、テストおよび/または格納のために格納装置500を収容する格納装置レセプタクル454を規定する。各格納装置レセプタクル454では、収容された格納装置500が格納装置サポート456によってサポートされる。ロボットアーム200は、マニピュレータ212で格納装置搬送器550をテストスロット310の一つから取り除き、それから格納装置搬送器550で転送ステーション400における格納装置レセプタクル454の一つから格納装置500をピックアップし、それからその中に格納装置500を持った格納装置搬送器550を格納装置500のテストのためにテストスロット310に戻すように構成されている。テストの後、ロボットアーム200は、テストされた格納装置500を搬送している格納装置搬送器550をテストスロット310から取り除き(例えば、マニピュレータ212で)、格納装置搬送器550中のテストされた格納装置500を転送ステーション400に搬送し、テストされた格納装置500を転送ステーション400における格納装置レセプタクル454の一つに戻すように格納装置搬送器550をマニピュレートすることによって、テストされた格納装置500をテストスロット3110から取り出す。ロボットアーム200上に視覚システム270を含む実装では、転送ステーション400において格納装置500を取り出すかまたは預ける際にロボットアームの案内を補助するように、基準マーク314は一つ以上の格納装置レセプタクル454に隣接して位置していても良い。
いくつかの例では、転送ステーション400は、縦軸415を規定するステーションハウジング410を含む。一つ以上のトート受け取り器420が、ステーションハウジング410中に、例えば縦軸415に沿って伸びているスピンドル412上に、回転可能に載置される。各トート受け取り器420は、個別のそれぞれのスピンドル412上または共通のスピンドル412上で回転しても良い。各トート受け取り器420は、第一および第二の反対向きのトートレセプタクル430Aと430Bを規定する。示された例では、転送ステーション400は、スピンドル412上に積み上げられた3つのトート受け取り器420を含む、各トート受け取り器420は、他とは独立に回転可能であり、サービス位置(例えば、オペレーターによってアクセス可能な)とロボットアーム200によってアクセス可能なテスト位置の間で受け取られた格納装置トート450を回転しても良い。示された例では、各トート受け取り器420は、第一の位置(例えば、サービス位置)と第二の位置(テスト位置)の間で回転可能である。第一の位置にいる間、オペレーターは第一のトートレセプタクル430Aへのアクセスを提供され、ロボットアーム200は反対側で第二のトートレセプタクル430Bへのアクセスを提供される。第二の位置にいる間、ロボットアーム200は第一のトートレセプタクル430Aへのアクセスを提供され、オペレーターは反対側で第二のトートレセプタクル430Bへのアクセスを提供される。結果として、オペレーターは、転送ステーション400の一つの側でトートレセプタクル430中にトート450を装填/抜き取りすることによって転送ステーション400をサービスしても良い一方、ロボットアーム200は、格納装置500の装填/抜き取りのために転送ステーション400の反対側でトートレセプタクル430に収容されたトート450へのアクセスを持つ。
転送ステーション400は、格納装置テストシステム100へ/から格納装置500を配送し、取り出すためのサービスポイントを提供する。トート450は、転送ステーション400へ/から格納装置500のバッチを配送し、取り出すことをオペレーターに許容する。図10に示された例では、第二の位置でそれぞれのトート受け取り器420からアクセス可能な各トート450は、テストのために格納装置500を供給するためのソーストート450として、またはテストされた格納装置500を受け取るための宛先トート450として、指名されても良い。宛先トート450は、それぞれ機能テストに合格かまたは失格したそれぞれの格納装置500を受け取るための、「合格した戻りトート」または「失格した戻りトート」として分類されても良い。
ハウジングドア416は、転送ステーションハウジング410に旋回可能またはスライド可能に取り付けられ、一つ以上のトートレセプタクル430へのアクセスをオペレーターに提供するように構成されている。オペレーターは、特定のトート受け取り器420に関連付けられたハウジングドア416を開いて、それぞれのトートレセプタクル430中にトート450を装填/抜き取りする。転送ステーション400は、関連付けられたハウジングドア416が開いている間、それぞれのトート受け取り器420を静止したまま保持するように構成されていても良い。
いくつかの例では、転送ステーション400は、転送ステーション400の一つ以上の状態の視覚的、聴覚的またはその他の認識可能な表示を提供するステーションインジケーター418を含む。一つの例では、ステーションインジケーター418は、一つ以上のトート受け取り器420がサービスされること(例えば、特定のトート受け取り器420からトート450を装填/抜き取りするのに)を必要としている時を示すライト(例えば、LED)を含む。他の例では、ステーションインジケーター418は、オペレーターに転送ステーション400をサービスするように合図する一つ以上の聴取可能な信号(例えば、ちいちい、かちかち等)を提供する一つ以上のオーディオ装置を含む。ステーションインジケーター418は、示されているように、縦軸415に沿って、またはステーションハウジング410のどこか別の部分上に、配置されても良い。
図11に描かれた例では、トート450Aは、多数の格納装置レセプタクル454Aを規定するトート本体452Aを含む。各格納装置レセプタクル454Aは、格納装置500を収容するように構成されている。この例では、各格納装置レセプタクル454Aは、格納装置500の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られた格納装置500の中央部分502をサポートするように構成された格納装置サポート456Aを含む。格納装置レセプタクル454Aから収容された格納装置500を取り除くには、格納装置搬送器550が格納装置レセプタクル454A中の格納装置500の下に(例えば、ロボットアーム200によって)置かれ、格納装置サポート456Aから格納装置500を持ち上げるように上げられる。格納装置搬送器550はそれから、テストスロット310のような宛先ターゲットへの配送のために格納装置500を搬送しながら、格納装置レセプタクル454Aから取り除かれる。
図12に描かれた例では、トート450Bは、多数の格納装置サポート456Bによって格納装置レセプタクル454Bに分割されたコラム空孔453Bを規定するトート本体452Bを含む。格納装置サポート456Bは、コラム空孔453Bの後壁457Bから片持ち梁で離される。格納装置サポート456Bは、格納装置500の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られた格納装置500の中央部分502をサポートするように構成されている。片持ち梁型格納装置サポート456Bは、格納装置搬送器550を(例えば、図13に示されるように)直ぐ下の空の格納装置レセプタクル454B中に挿入し、格納装置レセプタクル454Bからの取り除きのために格納装置サポート456Bから格納装置500を持ち上げることによって、トート450Bからの格納装置500の取り出しを許容する。トート450B中に格納装置500を預けるためには同じステップを逆に繰り返す。示されるように、各コラム空孔453B中の一番下の格納装置レセプタクル454Bは、その上の格納装置レセプタクル454B中に収容された格納装置500の取り除きを容易とするために空のまま残される。従って、格納装置500は、特定のコラム中で順次続いた順番で装填/抜き取りされなければならない;ただし、図11に示されたトート解決策よりも大きな格納密度が達成される。
図13−16を参照すると、いくつかの例では、テストスロット310は、格納装置搬送機550を受け取るように構成されている。格納装置搬送器550は、格納装置500を受け取り、ロボットアーム200によって扱われるように構成されている。使用においては、格納装置搬送器550の一つがロボットアーム200でテストスロット310の一つから取り除かれる(例えば、搬送器550のへこみ552をロボットアーム200のマニピュレータ212で掴むか、さもなければ係合することによって)。図13に描かれているように、格納装置搬送器550は、側壁562と564と底板566によって形成された実質的にU字型の開口部561を規定するフレーム560を含み、側壁562と564と底板566は、格納装置搬送器550がトート450の格納装置レセプタクル454の一つに収容された格納装置500の一つの下の位置に動かされることができる(例えば、ロボットアーム200を介して)ように、フレーム560がトート450中の格納装置サポート456の周りに適合することを集合的に許容する。格納装置搬送器550はそれから、トート450中の格納装置サポート456からの取り除きのために格納装置500と係合する位置に上げられる(例えば、ロボットアーム200によって)ことができる。
格納装置搬送器550のフレーム560内に格納装置500が置かれると、図16に示されているように、格納装置搬送器550と格納装置500は一緒に、テストスロット310の一つ内への設置のためにロボットアーム200によって動かされることができる。マニピュレータ212はまた、格納装置搬送器550中に配置されたクランプ機構570の駆動を開始するように構成されている。これは、移動中に格納装置搬送器550に対する格納装置500の動きを禁じるように、搬送器550がトート450からテストスロット310に動かされる前にクランプ機構570の駆動を許容する。テストスロット310への挿入に先立って、マニピュレータ212は、フレーム560内で格納装置500を開放するように再度クランプ機構570を駆動することができる。これは、格納装置コネクター510がテストスロットコネクター(図示せず)と係合されて格納装置500がテスト位置にくるまで、テストスロット310の一つの中への格納装置搬送器550の挿入を許容する。クランプ機構570はまた、テストスロット310に対する格納装置搬送器550の動きを禁じるように、一旦その中に受け取られたテストスロット310と係合するように構成されていても良い。そのような実装では、一旦格納装置500がテスト位置にくると、テストスロット310に対する格納装置搬送器550の動きを禁じるように、クランプ機構570が再度係合される(例えば、マニピュレータ212によって)。このやり方での格納装置搬送器550のクランピングは、テスト中の振動を低減するのを助けることができる。いくつかの例では、挿入後に、格納装置搬送器550とその中に搬送された格納装置500は両方、テストスロット310内に組み合わせでかあるいは個別にクランプされるかまたはしっかり留められる。クランプ機構570の詳細な記載と、ここに記載されたものと組み合わせ可能なその他の詳細および特徴は、“DISK DRIVE TRANSPORT, CLAMPING AND TESTING”と題され、2007年12月18日に出願された米国特許出願番号第11/959,133号に見つけることができ、その内容はその全体がここに引用によって組み込まれる。
格納装置500は振動に敏感であリ得る。単一のテストラック300の中に多数の格納装置500をフィットさせて格納装置500を実行すること(例えば、テスト中に)と、各々がオプションで格納装置500を搬送している格納装置搬送器550のテストラック300中の様々なテストスロット310からの挿入と取り除きは、望ましくない振動のソースとなることができる。いくつかの場合には、例えば、格納装置500の一つがテストスロット310の一つ内でのテストの下に動作している一方で、他のものが同じテストラック300中の隣接するテストスロット310中で取り除かれて挿入されている。上述したように、格納装置搬送器550がテストスロット310中に完全に挿入された後に格納装置搬送器550をテストスロット310にクランプすることは、格納装置搬送器550の挿入と取り除きの間に格納装置搬送器550とテストスロット310の間の接触と擦りを制限することによって振動を低減または制限するのを助けることができる。
図17を参照すると、いくつかの実装では、格納装置テストシステム100は、テストスロット310と通信している少なくとも一つのコンピュータ320を含む。コンピュータ320は、格納装置500の在庫コントロールおよび/または格納装置テストシステム100を制御する自動化インターフェースを提供するように構成されていても良い。パワーシステム330は、格納装置テストシステム100にパワーを供給する。パワーシステム330は、テストスロット310中の受け取られた格納装置500へのパワーを監視および/または規制しても良い。温度制御システム340は、各テストスロット310の温度を制御する。温度制御システム340は、テストスロット310の上におよび/またはそれを通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器342(例えば、ファン)であっても良い。いくつかの例では、空気移動器342は、テストスロット310の外部に位置している。能動的または受動的振動制限のような振動制御システム350は、各テストスロット310の振動を制御する。いくつかの例では、振動制御システム350は、テストスロット310の部品がグロメットアイソレータ(例えば、熱可塑性ビニール)および/またはエラストマーマウント(例えば、ウレタンエラストマー)を介して接続される受動的振動制限システムを含む。いくつかの例では、振動制御システム350は、ラック300および/またはテストスロット310中の振動を制御する、ばね、ダンパー、制御ループを持った能動的制御システムを含む。データインターフェース360は、各テストスロット310と通信している。データインターフェース360は、テストスロット310によって受け取られた格納装置500と通信するように構成されている。
図18に描かれた例では、各ラック300は、少なくとも一つのテストスロット310と通信している少なくとも一つの自己テストシステム600を含む。自己テストシステム600は、クラスターコントローラ610と、テストスロット310中に受け取られた格納装置500と電気通信している接続インターフェース回路620と、接続インターフェース回路620と電気通信しているブロックインターフェース回路630を含む。クラスターコントローラ610は、テストスロット310上の多数の自己テストおよび/または格納装置500上の機能テストのような一つ以上のテストプログラムを実行するように構成されていても良い。接続インターフェース回路620とブロックインターフェース回路630は、自己テストをするように構成されていても良い。ただし、いくつかの例では、自己テストシステム600は、格納装置テストシステム100の一つ以上の部品上で自己テストルーティンを実行し制御するように構成された自己テスト回路640を含む。例えば、自己テスト回路640は、格納装置テストシステム100の一つ以上の部品上で「格納装置」タイプおよび/または「テストスロットのみ」タイプの自己テストを行うように構成されていても良い。クラスターコントローラ610は、イーサネット(登録商標)(例えば、ギガビットイーサネット(登録商標))を介して自己テスト回路640と通信していても良く、それはユニバーサル非同期受信機/送信機(UART)シリアルリンクを介してブロックインターフェース回路630と、そして接続インターフェース回路620と格納装置500まで通信しても良い。UARTは通常、コンピュータまたは周辺機器シリアルポートの上でシリアル通信のために使われる個別の集積回路(またはその一部)である。ブロックインターフェース回路630は、テストスロット310のパワーと温度を制御するように構成され、多数のテストスロット310および/または格納装置500を制御しても良い。
各ラック300は、いくつかの例では、少なくとも一つのテストスロット310と通信している少なくとも一つの機能テストシステム650を含む、機能テストシステム650は、格納装置搬送器550によってテストスロット310中に保持されたおよび/またはサポートされた、受け取られた格納装置500が適切に機能しているかどうかをテストする。機能性テストは、格納装置500によって受け取られたパワーの量、動作温度、データを読み出しおよび書き込みする能力、および異なる温度でデータを読み出しおよび書き込みする能力(例えば、熱い間に読み出し、冷たい間に書き込む、またはその逆)をテストすることを含む。機能性テストは、格納装置500の全てのメモリセクターかまたはランダムなサンプリングだけをテストしても良い。機能性テストは、格納装置500の動作温度と、また格納装置500との通信のデータの完全性をテストしても良い。機能テストシステム650は、クラスターコントローラ610と、クラスターコントローラ610と電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路660を含む。接続インターフェース回路620は、テストスロット310中に受け取られた格納装置500と機能インターフェース回路660と電気通信している。機能インターフェース回路660は、格納装置500に機能テストルーティンを通信するように構成されている。機能テストシステム650は、クラスターコントローラ610と一つ以上の機能インターフェース回路660の間に電気通信を提供する通信スイッチ670(例えば、ギガビットイーサネット(登録商標))を含んでいても良い。好ましくは、コンピュータ320と、通信スイッチ670と、クラスターコントローラ610と、機能インターフェース回路660はイーサネット(登録商標)ネットワーク上で通信する。しかしながら、他の形態の通信が使われても良い。機能インターフェース回路660は、パラレルATアタッチメント(IDE,ATA,ATAPI,UDMAおよびPATAとしても知られるハードディスクインターフェース)、SATA、またはSAS(Serial Attached SCSI)を介して接続インターフェース回路620に通信しても良い。
格納装置テストを行う方法は、転送ステーション400中に多数の格納装置500を装填すること(例えば、格納装置トート450によって規定された格納装置レセプタクル454中に格納装置500を装填し、転送ステーション400によって規定されたトートレセプタクル430中に格納装置トート450を装填することによってのように)を含む。方法は、ラック300中に収容されたテストスロット310から格納装置搬送器550を取り出すようにロボットアーム200を駆動することと、転送ステーション400から格納装置500の一つを取り出し、格納装置搬送器500中で格納装置500を搬送するようにロボットアーム200を駆動することを含む。ロボットアーム200は、床面10に実質的に垂直にロボットアーム200によって規定された第一の軸205の周りの所定の弧を通して回転し、第一の軸205から放射状に伸びるように動作し得る。方法は、格納装置500を搬送している格納装置搬送器550をテストスロット310に配送するようにロボットアーム200を駆動することと、受け取られた格納装置搬送器550とテストスロット310によって収容された格納装置500上で機能性テストを行うことを含む。方法はそれから、テストされた格納装置500を搬送している格納装置搬送器550をテストスロット310から取り出し、テストされた格納装置500を転送ステーション400に配送して戻すようにロボットアーム200を駆動することを含む。いくつかの実装では、ラック300と2つ以上の関連するテストスロット310は、テストスロット310が異なる種類のテストのために供される場合には、一つのテストスロット310から別のテストスロット310に内部的に格納装置500を移動するように構成されている。
いくつかの例では、方法は、格納装置トート450の格納装置レセプタクル454中にテストされた格納装置500を預けた後にテストスロット310中の格納装置搬送器550を預けるようにロボットアーム200を駆動すること、または格納装置トート450の別の格納装置レセプタクル454からテストのための別の格納装置500を取り出すことによって方法を繰り返すことを含む。いくつかの例では、テストスロット310に格納装置搬送器550を配送することは、格納装置500を搬送している格納装置搬送器550をラック300中のテストスロット310中に挿入することと、格納装置500とラック300の間に電気接続を確立することを含む。
いくつかの実装では、方法は、格納装置500を作動している間にテストスロット310の温度を規制することを含んだ、受け取られた格納装置500上で機能性テストを行うことを含む。受け取られた格納装置500の動作は、格納装置500へのデータの読み出しおよび書き込みを行うことを含む。方法はまた、テストスロット310の温度を制御するようにテストスロット310の上におよび/またはそれを通して空気を循環させることと、格納装置500に配送されたパワーを監視および/または規制することを含んでいても良い。
いくつかの例では、方法は、テストスロット310の機能性を検証するようにラック300によって収容された自己テストシステム600でテストスロット310上の「格納装置」タイプおよび/または「テストスロットのみ」タイプの自己テストを行うことを含む。「格納装置」タイプの自己テストは、格納装置搬送器550によってテストスロット310中に保持されたおよび/またはサポートされた、受け取られた格納装置500で格納装置テストシステムの機能性をテストする。「テストスロットのみ」タイプの自己テストは、空である間のテストスロット310の機能性をテストする。
いくつかの例では、方法は、格納装置搬送器550によって搬送されていても良い格納装置500を搬送している間にロボットアーム200の案内を補助するようにロボットアーム200上に配置された視覚システム270と通信することを含む。方法は、視覚システム270によって認識されたラック300、テストスロット310、転送ステーション400および/またはトート450上の基準マーク314にロボットアーム200を揃えることによってロボットアーム200をカリブレートすることを含む。
ここに記載されたものと組み合わせ可能なその他の詳細および特徴は、“DISK DRIVE TESTING”と題され、2007年12月18日に出願された米国特許出願番号第11/958,817号に見つけることができ、その内容はその全体がここに引用によって組み込まれる。
数々の実装が記載された。それにも拘らず、開示の精神と範囲から逸脱することなく様々な変形がなされても良いということが理解されるであろう。従って、その他の実装は以下の請求項の範囲内である。

Claims (28)

  1. 床面(10)に実質的に垂直な第一の軸(205)を規定する少なくとも一つのロボットアーム(200)であって、ロボットアーム(200)は、第一の軸(205)の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸(205)から放射状に伸びるように動作し得るものと、
    ロボットアーム(200)の周りに配置され、ロボットアーム(200)によってサービスされる多数のラック(300)と、
    各ラック(300)によって収容された多数のテストスロット(310)であって、各テストスロット(310)はテストのために格納装置(500)を搬送するように構成された格納装置搬送器(550)を受け取るように構成されているものと、
    を含む格納装置テストシステム(100)。
  2. ロボットアーム(200)が、テストスロット(310)の一つの格納装置搬送器(550)と係合するように構成されたマニピュレータ(212)を含み、ロボットアーム(200)は、テストのために格納装置搬送器(550)中の格納装置(500)をテストスロット(310)に搬送するように動作し得るものである、請求項1の格納装置テストシステム(100)。
  3. ラック(300)は、ロボットアーム(200)の第一の軸(205)の周りの少なくとも部分的に閉じた多角形から等距離に放射状に離れておよび/またはその中に配置されている、請求項1または2の格納装置テストシステム(100)。
  4. テストスロット(310)と通信している少なくとも一つのコンピュータ(320)と、
    格納装置テストシステム(100)にパワーを供給するパワーシステム(330)と、
    各テストスロット(310)の温度を制御する温度制御システム(340)と。
    ラック振動を制御する振動制御システム(350)と、
    各テストスロット(310)と通信しているデータインターフェース(360)であって、データインターフェース(360)は、テストスロット(310)によって受け取られた格納装置搬送器(550)中の格納装置(500)と通信するように構成されているものと、
    を更に含む請求項1〜3のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  5. パワーシステム(330)は、テストスロット(310)中の受け取られた格納装置(500)へのパワーを監視および/または規制するように構成されている、請求項4の格納装置テストシステム(100)。
  6. 温度制御システム(340)は、テストスロット(310)を通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器(342)を含む、請求項4または請求項5の格納装置テストシステム(100)。
  7. 各ラック(300)が少なくとも一つのテストスロット(310)と通信している少なくとも一つの自己テストシステム(600)を含み、自己テストシステム(600)は、
    クラスターコントローラ(610)と、
    テストスロット(310)に受け取られた格納装置(500)と電気通信している接続インターフェース回路(620)と、
    接続インターフェース回路(620)と電気通信しているブロックインターフェース回路(630)であって、ブロックインターフェース回路(630)はテストスロット(310)のパワーと温度を制御するように構成されているものとを含み、
    接続インターフェース回路(620)とブロックインターフェース回路(630)は、格納装置テストシステム(100)の少なくとも一つの部品の機能性をテストするように構成されている、
    請求項1〜6のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  8. 各ラック(300)が少なくとも一つのテストスロット(310)と通信している少なくとも一つの機能テストシステム(650)を含み、機能テストシステム(650)は、
    クラスターコントローラ(610)と、
    クラスターコントローラ(610)と電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路(660)と、
    テストスロット(310)に受け取られた格納装置(500)と少なくとも一つの機能インターフェース回路(660)と電気通信している接続インターフェース回路(620)であって、少なくとも一つの機能インターフェース回路(660)は格納装置(500)に機能テストルーティンを通信するように構成されている
    請求項1〜7のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  9. 機能テストシステム(650)は、クラスターコントローラ(610)と少なくとも一つの機能インターフェース回路(660)の間に電気通信を提供する通信スイッチ(670)、好ましくはイーサネット(登録商標)スイッチを更に含む、請求項8の格納装置テストシステム(100)。
  10. ロボットアーム(200)は実質的に円筒形の作業エンベロープ容積(210)を規定し、ラック(300)はロボットアーム(200)によってサービスされるための各テストスロット(310)のアクセス可能性のために作業エンベロープ容積(210)内に配置されている、請求項1〜9のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  11. ロボットアーム(200)は、転送ステーション(400)とテストスロット(310)の間で格納装置(500)を転送するようにテストスロット(310)の一つから格納装置搬送器(550)を取り出すことによって各テストスロット(310)を個別にサービスする、請求項1〜10のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  12. ロボットアーム(200)は、第一の軸(205)の周りに360°回転するように動作し得る、請求項1〜11のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  13. ロボットアーム(200)を支持し、ロボットアーム(200)を床面(10)に対して垂直に動かすように動作し得る垂直駆動サポート(252)、を更に含む請求項1〜12のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  14. ロボットアーム(200)を支持し、ロボットアーム(200)を床面(10)に沿って水平に移動するように動作し得るリニアアクチュエータ(254)、を更に含む請求項1〜13のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  15. ロボットアーム(200)を支持し、ロボットアーム(200)を床面(10)と実質的に垂直な第二の軸(262)の周りに回転するように動作し得る回転可能テーブル(260)、を更に含む請求項1〜14のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  16. ロボットアーム(200)上に置かれた視覚システム(270)であって、視覚システム(270)は、格納装置(500)を搬送している間にロボットアーム(200)の案内を補助し、ロボットアーム(200)を基準マーク(314)に揃えることによってロボットアーム(200)のカリブレーションを補助するもの、を更に含む請求項1〜15のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  17. ロボットアーム(200)によってサービスされるように配置された転送ステーション(400)であって、転送ステーション(400)はテストのために格納装置(500)を供給するもの、を更に含む請求項1〜16のいずれかの格納装置テストシステム(100)。
  18. テストのために格納装置(500)を提示することと、
    提示された格納装置(500)を取り出し、格納装置テストシステム(100)のラック(300)中に収容されたテストスロット(310)に格納装置(500)を搬送するように単一のロボットアーム(200)を駆動し、ロボットアーム(200)は、床面(10)に実質的に垂直にロボットアーム(200)によって規定された第一の軸(205)の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸(205)から放射状に伸びるように動作し得ることと、
    格納装置(500)をテストスロット(310)中に挿入するようにロボットアーム(200)を駆動することと、
    テストスロット(310)中に収容された格納装置(500)上で機能テストを行うことと、
    テストスロット(310)からテストされた格納装置(500)を取り出し、テスト完了位置にテストされた格納装置(500)を配送するようにロボットアーム(200)を駆動することと、
    を含む格納措置テストを行う方法。
  19. 格納装置(500)を転送ステーション(400)中に装填し、格納装置(500)はテストのために提示されていることと、
    テストスロット(310)から格納装置搬送器(550)を取り出すようにロボットアーム(200)を駆動することと、
    転送ステーション(400)から提示された格納装置(500)を取り出し、格納装置搬送器(550)中に格納装置(500)を搬送するようにロボットアーム(200)を駆動することと、
    格納装置(500)を搬送する格納装置搬送器(550)をテストスロット(310)に配送するようにロボットアーム(200)を駆動することと、
    テストされた格納装置(500)を搬送する格納装置搬送器(550)をテストスロット(310)から取り出し、テストされた格納装置(500)を転送ステーション(400)に配送し戻すようにロボットアーム(200)を駆動することと、
    を更に含む請求項18の方法。
  20. 空の格納装置搬送器(550)をテストスロット(310)に預けるようにロボットアーム(200)を駆動すること、を更に含む請求項18または請求項19の方法。
  21. 受け取られた格納装置(500)上で機能テストを行うことは、格納装置(500)を作動している、特に格納装置(500)にデータの読み出しおよび書き込みを行っている間に、テストスロット(310)の温度を規制することを含む、請求項18〜20のいずれかの方法。
  22. テストスロット(310)の温度を制御するようにテストスロット(310)を通して空気を循環させること、を更に含む請求項18〜21のいずれかの方法。
  23. テストスロット(310)に受け取られた格納装置(500)に配送されたパワーを監視すること、を更に含む請求項18〜22のいずれかの方法。
  24. テストスロット(310)に受け取られた格納装置(500)に配送されたパワーを規制すること、を更に含む請求項18〜23のいずれかの方法。
  25. テストスロット(310)の機能性を検証するようにラック(300)によって収容された自己テストシステム(600)でテストスロット(310)上の自己テストを行うこと、を更に含む請求項18〜24のいずれかの方法。
  26. ロボットアーム(200)を駆動することは、床面(10)に対して垂直にロボットアーム(200)を動かすようにロボットアーム(200)を支持するサポート(252)を駆動することを含む、請求項18〜25のいずれかの方法。
  27. ロボットアーム(200)を駆動することは、床面(10)に対して水平にロボットアーム(200)を動かすようにロボットアーム(200)を支持するリニアアクチュエータ(254)を駆動することを含む、請求項18〜26のいずれかの方法。
  28. 格納装置(500)を搬送している間にロボットアーム(200)の案内を補助するように、および/またはロボットアーム(200)をラック(300)上の基準マーク(314)に揃えることによってロボットアーム(200)をカリブレーションするために、ロボットアーム(200)上に配置された視覚システム(270)と通信すること、を更に含む請求項18〜27のいずれかの方法。
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Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8687349B2 (en) * 2010-07-21 2014-04-01 Teradyne, Inc. Bulk transfer of storage devices using manual loading
CN102873679B (zh) * 2011-07-13 2016-04-20 富泰华工业(深圳)有限公司 定位机构
US10178819B2 (en) * 2012-03-12 2019-01-08 Micronic Mydata AB Method and device for automatic storage of electronic components
US20140185225A1 (en) * 2012-12-28 2014-07-03 Joel Wineland Advanced Datacenter Designs
JP5835254B2 (ja) * 2013-03-15 2015-12-24 株式会社安川電機 ロボットシステム、及び、ロボットシステムの制御方法
US9459312B2 (en) * 2013-04-10 2016-10-04 Teradyne, Inc. Electronic assembly test system
CN106395225A (zh) * 2016-12-05 2017-02-15 广州达意隆包装机械股份有限公司 一种机器人智能仓库
US11099228B2 (en) * 2017-03-09 2021-08-24 Advantest Corporation Test system and method
CA3056415C (en) 2017-03-15 2024-01-02 Berkshire Grey, Inc. Systems and methods for storing, retrieving and processing objects including stackable semicircular towers
KR101828346B1 (ko) * 2017-04-05 2018-02-12 김광일 통기성이 향상된 인솔
US10368467B2 (en) * 2017-10-10 2019-07-30 Facebook, Inc. System and method for data center heat containment
KR102577602B1 (ko) * 2018-03-13 2023-09-12 삼성전자주식회사 메모리 장치용 테스트 챔버, 이를 갖는 메모리 장치용 테스트 시스템 및 이를 이용한 메모리 장치의 테스트 방법
CN108535500B (zh) * 2018-06-08 2024-01-12 浙江大学 一种穿刺取卵术间卵泡液传递装置
CN110877800B (zh) * 2018-09-06 2023-02-21 爱德万测试株式会社 测试间中的具有不同外观尺寸的被测装置的自动化搬运
CN117310232B (zh) * 2023-11-29 2024-02-13 苏州维森格电子有限公司 一种线路板生产线用碳膜测试装置及方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4644269A (en) * 1983-05-31 1987-02-17 Pylon Company Test fixture having full surface contact hinged lid
US5206814A (en) * 1990-10-09 1993-04-27 Robot Aided Manufacturing Center, Inc. Robotic music store
KR100257625B1 (ko) * 1997-01-27 2000-06-01 강정근 Pcb 검사장치
US6008636A (en) * 1997-09-30 1999-12-28 Motorola, Inc. Test system with robot arm for delivering a device under test
AU2727401A (en) * 1999-12-15 2001-06-25 Introbotics Corporation Automated domain reflectometry testing system
US6563301B2 (en) * 2001-04-30 2003-05-13 Nokia Mobile Phones Ltd. Advanced production test method and apparatus for testing electronic devices
US6897666B2 (en) * 2002-12-31 2005-05-24 Intel Corporation Embedded voltage regulator and active transient control device in probe head for improved power delivery and method
CN1273839C (zh) * 2003-01-21 2006-09-06 台达电子工业股份有限公司 自动测试系统
US7435046B2 (en) * 2005-05-24 2008-10-14 Aries Innovations Dynamic carousel robotic workcell
KR100723503B1 (ko) * 2005-09-13 2007-05-30 삼성전자주식회사 회전형 모듈 탑재부를 구비하는 메모리 모듈의 테스트시스템
US7355386B2 (en) * 2005-11-18 2008-04-08 Delta Design, Inc. Method of automatically carrying IC-chips, on a planar array of vacuum nozzles, to a variable target in a chip tester
JP2007188615A (ja) * 2006-01-16 2007-07-26 Fujitsu Ltd ライブラリ装置、ライブラリ装置のカートリッジ型センサおよびライブラリ装置のカートリッジ型センサ位置付け方法
US20070247179A1 (en) * 2006-04-25 2007-10-25 M/A Com, Inc. Surface mount component RF test fixture
CN100433171C (zh) * 2006-05-30 2008-11-12 杭州华三通信技术有限公司 存储设备的测试方法及测试装置
CN101082648B (zh) * 2006-05-31 2010-10-13 空中客车德国有限公司 用于测试飞行器电系统的方法和设备

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