CN101965518A - 清洗装置和分析装置 - Google Patents

Abstract

一种分析装置(1)，包括：检测部(254)，用于连续地检测吸嘴(251b)和设置在嘴清洗槽(252)中的电极(253)之间的电容；判定部(45)，用于根据检测部(254)检测的电容随时间的变化关系来判定吸嘴(251b)是否被堵塞，即，电极(253)和在BF清洗液(Lw)被吸取之后上升到嘴清洗槽(252)之外的吸嘴(251b)之间的电容随时间的变化关系；以及控制部(41)，当判定部(45)判定吸嘴(251b)被堵塞时，控制部(41)使BF清洗液从排出嘴(251a)向反应管(10)的排出停止。

Description

清洗装置和分析装置

技术领域

本发明涉及清洗装置以及包括该清洗装置的分析装置，该清洗装置包括用于排出清洗液的排出嘴，以及与该排出嘴一起被插入清洗槽或反应容器内的、用于吸取清洗槽或反应容器内的清洗液或反应液的吸嘴。

背景技术

分析装置不但能够同时对大量样本执行分析处理，而且还能够以高精度迅速地分析很多成分，因此分析装置能够被用于各种领域的测试，诸如免疫测试、生物化学测试以及输血测试。在这些分析装置中，用于肿瘤标记物和传染病的免疫测试的分析装置通常用非均匀分析方法来实施，非均匀分析方法通过注入和吸取BF清洗液来执行BF(束缚—自由)分离，以分离反应的产物和未反应的产物(例如，参见参考文献1)。

参考文献1：第2003-83988号日本已公开专利公报

发明内容

在这种情况下，分析装置通过用于吸取BF清洗液的吸嘴从反应管吸取BF清洗液。然而，在被注入BF清洗液的反应管中的反应液中可能存在杂质。如果吸嘴由于杂质而被堵塞的话，BF清洗液可能会残留在反应管中，导致当更多的BF清洗液被排出到反应管内时BF清洗液从反应管溢出的问题。

本发明意欲解决上述传统方法的缺陷。本发明的目的是提供一种清洗装置和分析装置，该清洗装置能够准确地检测嘴堵塞的发生，并且将有液体溢出的反应管的数目减少至最低值。

为了解决上述问题并达到目的，根据本发明的清洗装置包括：用于排出清洗液的排出嘴；吸嘴，与排出嘴一起被插入嘴清洗槽或反应容器内，用于吸取嘴清洗槽或反应容器内的清洗液或反应液；以及升降部，用于使排出嘴和吸嘴上升和下降，以将排出嘴和吸嘴插入嘴清洗槽或反应容器内，清洗装置进一步地包括：检测部，用于连续地检测吸嘴和设置在嘴清洗槽的内部或外围的电极之间的电容；判定部，用于根据通过检测部检测的电容随时间的变化关系来判定吸嘴是否被堵塞，电容随时间的变化关系是电极和在清洗液的吸取之后上升到嘴清洗槽之外的吸嘴之间的电容随时间的变化关系；以及控制部，当判定部判定吸嘴被堵塞时，控制部使清洗液通过排出嘴向反应容器的排出停止。

进一步地，在根据本发明的清洗装置中，如果从在清洗液的吸取之后升降部开始使吸嘴上升的时刻到当吸嘴和电极之间的电容减小到预定的电容值的时刻所经过的时间超过预定的时间段，则判定部判定吸嘴被堵塞；以及如果所经过的时间没有超过预定的时间段，则判定吸嘴没有被堵塞。

更进一步地，在根据本发明的清洗装置中，在嘴清洗槽的侧壁和底壁内设置电极，或者沿着嘴清洗槽的侧壁的表面和/或底壁的表面设置电极。

更进一步地，根据本发明的分析装置用于搅拌样本和试剂并使样本和试剂起反应，并且测量反应液的光学特性以分析反应液，分析装置使用根据本发明的清洗装置来清洗已经吸取清洗液或反应液的吸嘴。

根据本发明的清洗装置以及包括清洗装置的分析装置包括：用于排出清洗液的排出嘴；吸嘴，与排出嘴一起被插入嘴清洗槽或反应容器内，用于吸取嘴清洗槽或反应容器内的清洗液或反应液；以及升降部，用于使排出嘴和吸嘴上升和下降，以将排出嘴和吸嘴插入嘴清洗槽或反应容器内，清洗装置进一步地包括：检测部，用于连续地检测吸嘴和设置在嘴清洗槽的内部或外围的电极之间的电容；判定部，用于根据通过检测部检测的电容随时间的变化关系来判定吸嘴是否被堵塞，电容随时间的变化关系是电极和在清洗液的吸取之后上升到嘴清洗槽之外的吸嘴之间的电容随时间的变化关系；以及控制部，当判定部判定吸嘴被堵塞时，控制部使清洗液通过排出嘴向反应容器的排出停止，从而实现确实地检测嘴堵塞的发生以及将有液体溢出的反应管的数目减少至最低值的效果。

附图说明

图1是图解根据本实施例的分析装置的结构的示意图。

图2是说明图1中图解的嘴清洗槽的结构的图。

图3是说明当图2中图解的吸嘴没有被堵塞时吸嘴的上升处理的图。

图4是图解图2中图解的吸嘴和电极之间的电容变化的图。

图5是说明当图2中图解的吸嘴被堵塞时吸嘴的上升处理的图。

图6是图解图1中图解的分析装置中的吸嘴的堵塞发生检测处理的处理步骤的流程图。

图7是说明图1中图解的嘴清洗槽的结构的图。

图8是说明当图7中图解的吸嘴没有被堵塞时吸嘴的上升处理的图。

图9是说明图1中图解的嘴清洗槽的另一个结构的图。

图10是说明图1中图解的嘴清洗槽的又一个结构的图。

图11是说明图1中图解的嘴清洗槽的又一个结构的图。

参考标号的说明

1    分析装置

2    测量机构

4    控制机构

10   反应管

21   样本传送部

21a  样本容器

21b  样本架

22   顶帽(tip)存储部

23   样本分装部

24   免疫反应工作台

24a  外圆周线

24b  中间圆周线

24c  内圆周线

25   BF工作台

251  BF清洗部

252  嘴清洗槽

253  电极

254  检测部

255  交流电压产生部

251a 排出嘴

251b 吸嘴

26   第一试剂储存库

26a  第一试剂容器

27   第二试剂储存库

27a  第二试剂容器

27b  基质液容器

28    第一试剂分装部

29    第二试剂分装部

30    酶反应工作台

31    测光部

32    第一反应管传送部

33    第二反应管传送部

41    控制部

43    输入部

44    分析部

45    判定部

46    存储部

47    输出部

48    显示部

49    发送和接收部

具体实施方式

在下文中，将参考附图详细说明根据本发明的分析装置的实施例。注意，本发明并不限于这个实施例。

图1是图解根据本实施例的分析装置的结构的示意图。如图1所示，根据本实施例的分析装置1包括：测量机构2，用于测量由样本和试剂之间的反应物的作用所引起的发光物质的发光量；以及控制机构4，用于控制包括测量机构2的整个分析装置1，并且分析测量机构2中的测量结果。通过这两个机构的配合，分析装置1自动执行多个样本的免疫学的分析。

首先将说明测量机构2。测量机构2通常包括：样本传送部21；顶帽存储部22；样本分装部23；免疫反应工作台24；BF工作台25；第一试剂储存库26；第二试剂储存库27；第一试剂分装部28；第二试剂分装部29；酶反应工作台30；测光部31；第一反应管传送部32以及第二反应管传送部33。测量机构2的每个组成部分都包括一个或多个用于执行预定操作处理的单元。

样本传送部21保持多个样本容器21a，每个样本容器21a都容纳样本；并且样本传送部21包括多个样本架21b，每个样本架21b沿着图1中箭头的方向被连续地传送。容纳在样本容器21a中的每个样本可以是从样本提供者处收集来的血、尿等等。

顶帽存储部22配备有顶帽盒，顶帽盒中放置有多个顶帽，从顶帽盒提供顶帽。每个顶帽都是可抛弃的样本顶帽，其附接在样本分装部23的嘴的顶端上，以防止在传染病项目的测量期间的遗留物，并且对每个分装的样本调换一个顶帽。

样本分装部23包括臂，臂在其顶端与用于吸取和排出样本的顶帽连接，并且自由地沿垂直方向上升和下降，并以穿过自身的基端部的垂直线作为中心轴旋转。样本分装部23通过顶帽来吸取通过被样本传送部21移送到预定位置的样本容器21a中的样本。随后，样本分装部23使臂转动，将样本分装到通过BF工作台25被传送到预定位置的反应管中，样本在预定时刻被传送到BF工作台25上的反应管中。

免疫反应工作台24在配置在其上的每个反应管中都包括反应线，用于使样本与对应分析项目的预定试剂起反应。对于每个反应线，免疫反应工作台24自身都能够以穿过免疫反应工作台24的中心的垂直线作为旋转轴自由地旋转。并且免疫反应工作台24在预定时刻将配置在免疫反应工作台24上的反应管传送到预定位置。如图1所示，免疫反应工作台24可以由三重反应线结构形成，该三重反应线结构包括用于预处理和预稀释的外圆周线24a，用于样本和固相载体试剂之间的免疫反应的中间圆周线24b，和用于样本和标记试剂之间的免疫反应的内圆周线24c。

BF工作台25执行BF清洗处理，以执行用于通过吸取和排出预定的清洗液来分离样本或试剂中的未反应的物质的BF(束缚—自由)分离。对于每个反应线，BF工作台25自身都能够以穿过BF工作台25的中心的垂直线作为旋转轴自由地旋转。并且BF工作台25在预定时刻将配置在BF工作台25上的反应管传送到预定位置。BF工作台25包括：磁性收集机构，用于磁性地收集BF分离所必需的磁性粒子；具有BF清洗嘴的BF清洗部251，BF清洗嘴通过将BF清洗液排出到反应管中和从反应管中吸取BF清洗液来执行BF分离；以及搅拌机构，用于使磁性地收集的磁性粒子分散。

如图2所示，BF清洗部251包括多个成对的排出嘴251a和与排出嘴251a对应的吸嘴251b，作为BF清洗嘴。排出嘴251a将BF清洗液排出到反应管10中，BF清洗液是从清洗液槽(未显示)提供的。吸嘴251b吸取反应管10中的BF清洗液，并将所吸取的BF清洗液排放到排水槽(未显示)。

另外，BF清洗部251还对排放嘴251a和吸嘴251b一起执行垂直方向上的上升和下降操作以及水平方向上的移动操作。每当在每个反应管10中BF清洗处理结束时，如图中的箭头所示，排出嘴251a和吸嘴251b被传送到嘴清洗槽252，用从排出嘴251a排出的BF清洗液Lw来清洗吸嘴251b。在这种情况下，控制部41使排出嘴251a将BF清洗液Lw排出到嘴清洗槽252中，以将吸嘴251b浸泡在BF清洗液Lw中，从而清洗吸嘴251b的侧壁。接下来，吸嘴251b吸取并排放嘴清洗槽252中的BF清洗液Lw，以清洗吸嘴251b的内壁。吸嘴251b用具有极好的导电性的金属制成，诸如不锈钢，并且吸嘴251b的下端被配置在排出嘴251a的下端的下面。另外，嘴清洗槽252用绝缘材料制成，诸如具有比大气高的电容率的树脂。此外，每个嘴清洗槽252是为每对排出嘴251a和吸嘴251b设置的。

第一试剂储存库26能够收纳多个第一试剂容器26a，每个第一试剂容器26a容纳被分装到配置在BF工作台25上的反应管中的第一试剂。第二储存库27能够收纳多个第二试剂容器27a，每个第二试剂容器27a容纳被分装到配置在BF工作台25上的反应管中的第二试剂。第一和第二储存库26和27能够通过驱动机构(未显示)的驱动顺时针方向或逆时针方向自由地旋转，以便第一和第二储存库26和27能够将所期望的试剂容器传送到取决于第一试剂分装部28或者第二试剂分装部29的试剂吸取位置。第一试剂包含磁性粒子，磁性粒子是通过将与作为分析对象的样本内的抗原或抗体特定地结合的反应物固化形成的不能溶解的载体。第二试剂包含与磁性粒子结合的抗原或抗体特定地结合的标记物质(例如酶)。第二储存库27收纳基质液容器27b，基质液容器27b容纳基质液。基质液包含通过与标记物质的酶反应而发光的基质。此外，第二储存库27顺时针方向或逆时针方向旋转，以将预定的基质液容器27b传送到取决于第一试剂分装部28的基质吸取位置。

第一试剂分装部28包括臂，臂在其顶端与用于吸取和排出第一试剂的探头连接，并且自由地沿垂直方向上升和下降，并以穿过自身的基端部的垂直线作为中心轴旋转。第一试剂分装部28使用探头吸取通过第一试剂储存库26被移送到预定位置的第一试剂容器26a中的试剂，然后使臂转动以将试剂分装到通过BF工作台25被传送到第一试剂排出位置的反应管10中。另外，第一试剂分装部28使用探头吸取通过第二储存库27被移送到预定位置的基质液容器27b中的基质液，然后第一试剂分装部28使臂转动以将基质液分装到通过BF工作台25被传送到基质液排出位置的反应管10中。

第二试剂分装部具有与第一试剂分装部28相似的结构，第二试剂分装部29使用探头吸取通过第二储存库27被移送到预定位置的第二试剂容器27a中的试剂。然后，第二试剂分装部29使臂转动以将试剂分装到被BF工作台25传送到预定位置的反应管10中。

酶反应工作台30是用于执行酶反应处理的反应线，酶反应处理允许被注入到反应管中的基质液中的基质发光。测光部31测量反应管中的反应液中包含的基质发出的光。测光部31包括例如用于检测在化学发光中产生的弱的发光的光电倍增管，并且，举例来说，使用计数法测量发光量。另外，测光部31还包括滤光器，并且按照发光强度使用通过滤光器减少的发光的测量值来计算真正的发光强度。

第一反应管传送部32包括臂，臂自由地沿垂直方向上升和下降，并以穿过自身的基端部的垂直线作为中心轴旋转，臂在预定时刻将容纳液体的反应管10传送到免疫反应工作台24、BF工作台25、酶反应工作台30、反应管供给部(未显示)、以及反应管丢弃部(未显示)的预定位置。此外，第二反应管传送部33包括臂，臂自由地沿垂直方向上升和下降，并以穿过自身的基端部的垂直线作为中心轴旋转，并且臂在预定时刻将容纳液体的反应管10传送到酶反应工作台30、测光部31以及反应管废弃部(未显示)的预定位置。

接下来，将说明控制机构4。控制机构4包括：控制部41；输入部43；分析部44；判定部45；存储部46，输出部47以及发送和接收部49。测量机构2和控制机构4中包括的这些部件被电连接至控制部41。控制机构4使用一个或多个计算机系统来实现，并且被连接至测量机构2。控制机构4使用与分析装置1的各个处理相关的各种程序来控制测量机构2的操作处理并且分析测量机构2中的测量结果。

控制部41由具有控制功能的CPU等构成，以控制分析装置1的各个组成部分的处理和操作。控制部41对输进这些组成部分的信息和从这些组成部分输出的信息执行预定的输入和输出控制，并且还对这些信息执行预定的信息处理。控制部41通过从存储部46的存储器中读出存储在存储部46中的程序来执行对分析装置1的控制。

输入部43由用于输入各种信息的键盘、用于指定构成输出部47的显示器的屏幕上的位置的鼠标等构成。输入部43从外部获得样本的分析所必需的各种信息和用于分析操作的指示信息等。分析部44根据从测量机构2获得的测量结果，对样本执行分析处理等。

判定部45根据通过后面将要说明的用于连续地检测吸嘴251b和设置在嘴清洗槽252中的电极之间的电容的检测部所测量的电容随时间的变化关系(time dependence of capacitance)，以及在吸取BF清洗液之后从清洗槽中上升的吸嘴251b和该电极之间的电容随时间的变化关系，来判定吸嘴251b是否被堵塞。当判定部45判定吸嘴251b被堵塞时，控制部41停止将BF清洗液从排出嘴251a排出到反应管10中。

存储部46由用于磁性地存储信息的硬盘、用于从硬盘加载和电存储各种程序的存储器构成，这些程序与分析装置1在执行处理时的这些处理有关。存储部46存储各种信息，包括样本的分析结果。存储部46可以包括能够读出存储在诸如CD-ROM、DVD-ROM、PC卡等等的存储介质中的信息的辅助存储器。

输出部47由打印机、扬声器等构成，并且在控制部41的控制下输出与分析相关的各种信息。输出部47包括由显示器等构成的显示部48。如果判定部45判定吸嘴251b被堵塞，则输出部47在控制部41的控制下输出警告，通知吸嘴251b的堵塞。发送和接收部49具有用于经由通信网络(未显示)按照预定格式发送和接收信息的接口的功能。

在用于执行免疫学的测试的分析装置中，执行第一试剂分装处理。在该处理中，反应管10通过第一反应管传送部32从图1中未显示的反应管供给部被传送到BF工作台25的预定位置，并且包含磁性粒子的第一试剂从第一试剂分装部28被分装到反应管10中。随后，执行样本分装处理，其中通过与从顶帽存储部22提供的顶帽连接的样本分装部23，样本从通过样本传送部21被传送到预定位置的样本容器21a被分装到位于BF工作台25上的反应管10。

接下来，反应管10中的样本被BF工作台25的搅拌机构搅拌，随后反应管10通过第一反应管传送部32被传送到免疫反应工作台24的中间圆周线24b。在这种情况下，经过预定的反应时间之后，产生了反应物，在该反应物中磁性粒子和样本中的抗原相互结合。随后，反应管10通过第一反应管传送部32被传送到BF工作台25，以执行用于去除反应管10内的未反应的物质的第一BF清洗处理。接下来，在BF分离之后，包含标记抗体的标记试剂作为第二试剂从第二试剂分装部29被分装到反应管10中，以执行用于通过搅拌机构搅拌的第二试剂分装处理。结果，产生了抗原抗体复合物，在该抗原抗体复合物中反应物和抗体相互结合。

接下来，反应管10通过第一反应管传送部32被传送到免疫反应工作台24中的内圆周线24c，并且在经过预定的反应时间之后被传送到BF工作台25。随后，在第二次清洗时，对反应管10执行第二BF清洗处理，以去除未反应的标记抗体。随后，执行基质液分装处理，其中包含基质的基质液被分装到反应管10中再一次被搅拌。接下来，反应管10通过第一反应管传送部32被传送到酶反应工作台30，在经过酶反应所必需的预定的反应时间之后，反应管10通过第二反应管传送部33被传送到测光部31。已经经过酶反应的基质通过抗原抗体复合物的酶作用发光。在这种状态下执行测量处理，其中由测光部31测量从基质发出的光L。随后分析部44执行分析处理，用于根据测量的光量来判定检测对象的抗原数。

接下来，将参考图2说明图1中图解的嘴清洗槽252。如图2所示，电极253被设置在嘴清洗槽252的侧壁和底壁中，电极253用导电材料制成。电极253被连接至检测部254。该检测部254使用导电的吸嘴251b作为另一个电极，检测流过电极253的AC电流的变化，以检测吸嘴251b和电极253之间的电容，并且将与所检测的电容相对应的电信号通过控制部41输出到判定部45。检测部254连续地检测吸嘴251b和电极253之间的电容。作为用于检测电容变化的一种配置，交流电压产生部255的一端可以接地，它的另一端可以经由检测部254连接到电极253。

这里，在根据本发明的分析装置1中，根据吸嘴251b和电极253之间的电容随时间的变化关系来判定吸嘴251b是否被堵塞。下面将参考图3-5详细说明。

首先，将说明吸嘴251b没有被堵塞的情况。由于吸嘴251b没有被堵塞，因此如图3(1)所示，已经完成吸嘴251b的清洗的BF清洗液Lw被吸嘴251b吸取，并被排放到嘴清洗槽252之外。吸嘴251b包括嘴按压弹簧(未显示)以接触嘴清洗槽252的底壁，以便在清洗吸嘴251b完成之后，确实地将BF清洗液Lw排出。在此阶段，即使BF清洗液Lw实质上被吸嘴251b吸取，嘴清洗槽252的底壁也处于具有BF清洗液Lw的湿的状态。因此，如图3(1)所示，吸嘴251b处于通过介于吸嘴251b和电极253之间的BF清洗液Lw与电极253接触的状态。吸嘴251b和电极253通过介于二者之间的BF清洗液Lw这样接触，在吸嘴251b的上升时刻T0之前，吸嘴251b和电极253之间的电容表示为高电容C1，如图4所示。

接下来，如图3(2)中的箭头Y1所指示的，当吸嘴251b和排出嘴251a开始通过BF清洗部251上升时，在压缩的嘴按压弹簧(未显示)恢复到常态之后，吸嘴251b与将底壁弄湿的BF清洗液Lw分离。即，通过吸嘴251b和排出嘴251a的上升，在一段时间之后，吸嘴251b解除通过介于二者之间的BF清洗液Lw与电极253的接触。从而，如图4中的曲线L1所示，当吸嘴251b没有被堵塞时，在吸嘴251b的上升时刻之后的一段时间之后，吸嘴251b和电极253之间的接触被解除。结果，吸嘴251b和电极253之间的电容在时间T1处变为电容C2，T1是在吸嘴251b的上升时刻T0之后，经过了压缩的嘴按压弹簧恢复到常态所必需的时间之后的时间，如图4所示，与电容C1相比，电容C2显著地下降。

接下来，将说明吸嘴251b被堵塞的情况。如图5(1)所示，当吸嘴251b被堵塞时，即使在吸嘴251b的清洗完成之后，BF清洗液Lw也不从嘴清洗槽252中排放出来。结果，BF清洗液Lw残留在嘴清洗槽252中。这表明，如图5(2)中的箭头Y1所指示的，通过BF清洗部251的上升的开始，即使在吸嘴251b已经上升到如果没有被堵塞时与BF清洗液Lw的接触被解除的高度，吸嘴251b仍然浸泡在BF清洗液Lw中。如图5(3)中的箭头Y2所指示的，当吸嘴251b的下端已经上升到嘴清洗槽252的上方时，吸嘴251b终于与BF清洗液Lw分离。

因此，如果吸嘴251b被堵塞，则BF清洗液Lw残留在嘴清洗槽252中，并且如果吸嘴251b的下端没有上升到嘴清洗槽252的上方，则吸嘴251b和电极253之间的接触不被解除。在这种情况下，如图4中的曲线L2所示，即使在时间T1之后，吸嘴251b和电极253之间的电容保持指示高电容C1，T1是在吸嘴251b的上升时刻T0之后，经过了压缩的嘴按压弹簧恢复到它的常态所必需的时间之后的时间。吸嘴251b和电极253之间的电容最终在时间T2处变为电容C2，在此期间，吸嘴251b的下端上升到嘴清洗槽252的上方，吸嘴251b与BF清洗液Lw分离。

如上所述，与没有发生堵塞的情况相比，在吸嘴251b被堵塞的情况中，在吸嘴251b的上升之后，由于堵塞而没有被吸取的BF清洗液Lw和吸嘴251b之间接触的时间被延长，导致吸嘴251b和电极253之间不同的电容随时间的变化关系。更为具体的是，如图4所示，吸嘴251b的上升时刻与当吸嘴251b和电极253之间的电容减小至确定的电容C2时的时间之间的时间取决于吸嘴251b被堵塞与否而变化。

由于这个事实，在分析装置1中，在从吸嘴251b的上升时刻到吸嘴251b和电极253之间的电容减小至确定的电容C2时的时间内，设定阈值时间Tk，该阈值时间Tk根据吸嘴251b被堵塞的情况和吸嘴251b没有被堵塞的情况是可变换的。判定部45根据从吸嘴251b的上升时刻到吸嘴251b和电极253之间的电容减小至确定的电容C2时的时间是否超过阈值时间Tk来判定在吸嘴251b中发生堵塞。注意，阈值时间Tk被设置如下：在吸嘴251b被堵塞和没有被堵塞这两种情况中，预先检测在吸嘴251b上升时吸嘴251b和电极253之间的电容随时间的变化关系，并基于检测结果和检测处理时间差来设定阈值时间Tk。

接下来，将参考图6说明检测分析装置1中的吸嘴251b中的堵塞的处理。如图6所示，控制部41开始嘴清洗处理，其中，在BF清洗处理完成之后，BF清洗部251将已经执行了BF清洗处理的吸嘴251b和排出嘴251a一起移动到嘴清洗槽252中，吸嘴251b被清洗(步骤S2)。随后，控制部41判定嘴清洗槽252中的BF清洗液Lw是否完全被吸嘴251b吸取，并且判定嘴清洗处理是否完成(步骤S4)。控制部41重复步骤S4中的判定处理，直到判定嘴清洗处理已经完成。

进一步地，当控制部41判定嘴清洗处理已经完成时(步骤S4：是)，控制部41使检测部254开始检测吸嘴251b和电极253之间的电容(步骤S5)。随后，判定部45使BF清洗部251开始使排出嘴251a和吸嘴251b上升的嘴上升处理，以便排出嘴251a和吸嘴251b被传送到嘴清洗槽252之外(步骤S6)。控制部41进一步地使内嵌在判定部45中的计时器在BF清洗部251的上升时刻的同时开始计时(步骤S8)。通过检测部254检测的吸嘴251b和电极253之间的电容通过控制部41被连续地输出到判定部45。

另外，判定部45判定从检测部254连续地输出的吸嘴251b和电极253之间的电容是否减小到诸如C2的预定的电容值(步骤S10)。判定部45重复步骤S10的判定处理，直到吸嘴251b和电极253之间的电容减小到预定的电容；当吸嘴251b和电极253之间的电容减小到预定的电容时(步骤S10：是)，判定部45停止内嵌的计时器(步骤S12)。判定部45进一步地获得该计时器的计时值Tm(步骤S14)，并且暂时地存储该值；随后控制部41使检测部254结束吸嘴251b和电极253之间的电容的检测(步骤S15)，并且将判定部45中的计时器的计时值重置恢复为0(步骤S16)。

通过判定部45获得的计时值Tm在这里相当于从在吸取BF清洗液之后BF清洗部251开始使吸嘴251b上升的时刻到当吸嘴251b和电极253之间的电容减小到预定的电容值的时刻所经过的时间。判定部45比较计时值Tm和预定的阈值时间Tk，以判定Tm＞Tk是否成立(步骤S18)。

当Tm＞Tk成立时，相当于吸嘴251b与BF清洗液分离已经花费了很长时间，相当于由于嘴堵塞，BF清洗液Lw仍然残留在嘴清洗槽252中。由此，当判定部45判定Tm＞Tk成立时(步骤S18：是)，则判定吸嘴251b被堵塞(步骤S20)，并且将判定结果输出到控制部41。一接收到判定结果，控制部41就使BF清洗液通过排出嘴251a向反应管10的排出操作停止(步骤S22)。更加具体的是，控制部41使BF清洗液通过排出嘴251a向反应管10的排出停止，在该反应管10上，被判定为堵塞的吸嘴251b刚在之前的BF清洗处理中执行BF清洗处理。进一步地，控制部41使输出部47输出警告，用于通知吸嘴251b已经被堵塞(步骤S24)。

相反，当Tm＞Tk不成立时(步骤S18：否)，即，当计时值Tm等于或小于阈值时间Tk时，相当于吸嘴251b刚好已经与BF清洗液分离的情况，并且相当于BF清洗液Lw没有残留在嘴清洗槽252中的情况；换句话说，BF清洗液Lw通过吸嘴251b被适当地从嘴清洗槽252中排放。这样，当判定部45判定Tm＞Tk不成立时(步骤S18：否)，判定吸嘴251b没有被堵塞(步骤S26)，并且将判定结果输出到控制部41。因为吸嘴251b没有被堵塞，因此吸嘴251b能够正常地工作，使BF清洗处理能够继续，判定是否执行下一个BF清洗处理和/或下一个嘴清洗处理(步骤S28)。当判定执行下一个BF清洗处理和/或下一个嘴清洗处理时(步骤S28：是)，使吸嘴251b和排出嘴251a执行BF清洗处理，随后，步骤返回到步骤S2，开始嘴清洗处理。另外，当控制部41判定不执行下一个BF清洗处理和/或下一个嘴清洗处理时(步骤S28：否)，结束该处理。

在如上所述的本实施例中，通过利用下面的事实，即，在吸嘴251b中发生堵塞的情况中，在吸嘴251b上升时，由于堵塞，没有被吸取的BF清洗液Lw和吸嘴251b之间的接触时间被延长，并且与吸嘴251b没有被堵塞的情况相比，吸嘴251b和电极253之间的电容随时间的变化关系发生变化，并且基于在吸取BF清洗液之后已经上升到嘴清洗槽252之外的吸嘴251b和电极253之间的电容随时间的变化关系，能够准确地检测出吸嘴251b是否被堵塞。进一步地，在本实施例中，当判定吸嘴251b被堵塞时，停止通过排出嘴251a排出BF清洗液，以便可以防止BF清洗液被进一步地排出到仍然残留有BF清洗液的反应管10中，并且可以将有液体溢出的反应管10的数目减少至最低值。

进一步地，在本实施例中，对于嘴清洗槽252中的每个吸嘴清洗处理，都能够检测吸嘴251b的堵塞。因此，即使在BF清洗处理期间吸嘴251b被堵塞，也能够在BF清洗处理之后的嘴清洗处理期间检测出该堵塞，并且在下一个BF清洗处理中能够停止BF清洗液的排出。结果，可以将当吸嘴251b正在被堵塞时继续分析处理的可能性减小至最小。

更进一步地，在本实施例中，在BF清洗液Lw被包含在嘴清洗槽252中的状态下检测出在吸嘴251b中发生堵塞。即，在本实施例中，由于是在总是涉及相同种类的液体的状态下检测出在吸嘴251b中发生堵塞，因此与在每次都涉及不同液体的状态下检测堵塞的发生的方法相比，可以稳定地保持检测处理的准确性。

以传统的方式提出的检测方法是，电极被设置在与吸嘴和排水槽连接的管子的外围，在BF清洗处理中吸取反应管中的反应液期间，检测电极和吸嘴之间的电容变化，即阻抗变化，以检测出在吸嘴中发生堵塞。然而，在该检测方法中，存在这样的情况，即，吸嘴吸取反应管中包含诸如蛋白质的物质的反应液，蛋白质等等粘附和聚集在管子的内壁上，管子被连续地连接到吸嘴并且用绝缘材料制成。此外，如果BF清洗液具有导电特性，则BF清洗液渗透进该聚集物，因此吸嘴和在管子外围的电极之间的电阻分量的阻抗总是被减小。结果，变得难以检测由弱的电容分量的变化所引起的阻抗变化。此外，即使吸嘴被真的堵塞，也不能检测出由堵塞引起的阻抗的变化，存在没有检测出吸嘴堵塞的情况。

在本实施例中，另一方面，即便是在诸如蛋白质的外来物质聚集在用绝缘材料制成的并且连续地与吸嘴251b相连接的管子的内壁上的情况中，也能在包含诸如BF清洗液Lw的液体的状态下，检测出电极253和吸嘴251b之间的电容，其中电极253不是被设置在管子的外围，而是被设置在嘴清洗槽252中，吸嘴251b位于远离电极253的空间中。从而，检测根本不受聚集物的影响。因此，在本实施例中，能够正确地检测出由于吸嘴251b与BF清洗液Lw分离造成的电容的减小，从而以高精度检测出在吸嘴251b中发生堵塞。

还可以根据每个吸嘴251b的安装高度为每个吸嘴251b设定阈值时间Tk。在多个吸嘴和排出嘴被连接在升降机构的情况中，由于嘴的连接高度的误差，发生各个吸嘴251b的安装高度的误差。

例如，如图7所示，将在吸嘴2511b和吸嘴2512b之间进行比较，其中吸嘴2511b的下端实质上接触嘴清洗槽2521的底壁，吸嘴2512b的下端位于距离嘴清洗槽2522的底壁高度H处。在这种情况下，因为吸嘴2512b的下端的位置比吸嘴2511b的下端的位置高，因此吸嘴2512b比吸嘴2511b更早地与BF嘴清洗液Lw分离。从而，如图8中的曲线L12所示，吸嘴2512b和电极2532之间的电容在箭头Y11所示的时间T12减小到预定的电容值C2，时间T12比曲线L1所示的吸嘴2511b和电极2531之间电容减小时的时间T1早。因此，用于检测吸嘴2512b的堵塞吸取的阈值时间被设定为时间Tk1，时间Tk1比图8中的箭头Y12所示的与吸嘴2511b相对应的阈值时间Tk短。在图7中，排出嘴2511a是与吸嘴2511b配套的排出嘴，排出嘴2512a是与吸嘴2512b配套的排出嘴。

在吸嘴2512b被堵塞和吸嘴2512b不被堵塞这两种情况中，预先检测在吸嘴2512b上升时吸嘴2512b和电极2532之间的电容随时间的变化关系，并且根据该检测结果和压缩的嘴按压弹簧(未显示)恢复到它的常态所必需的时间来设定阈值时间Tk1。另外，预先获得吸嘴的下端的各个高度和基于减小到预定的电容值C2的各个减小时间所设定的各个阈值时间之间的关系，并且将该关系预先存储在分析装置1中。在这种情况下，通过根据从输入部43等等输入的信息，获得作为堵塞检测对象的吸嘴2512b的下端的高度，并且通过从所存储的关系中，将与所获得的吸嘴2512b的下端的高度对应的阈值时间作为吸嘴2512b的阈值时间，判定部45可以作出在吸嘴中发生堵塞的判定。

在如上所述的本实施例中，根据从对于各个吸嘴不同的与BF清洗液Lw分离的时刻来设定各个阈值时间Tk，以便可以更加准确地检测出各个吸嘴是否被堵塞。

进一步地，在本实施例中，已经说明了电极253被设置在嘴清洗槽252的侧壁和底壁内呈杯状以扩大电极面积的例子的情况。然而，只需检测出吸嘴251b和电极之间的电容变化就足够了。因此，如图9所示，电极253a可以仅仅被设置在嘴清洗槽252a的侧壁中；或如图10所示，电极253b可以仅仅被设置在嘴清洗槽252a的底壁中。

更进一步地，在本实施例中，已经说明了电极253被设置在嘴清洗槽252的内部的例子的情况。然而，只需检测出吸嘴251b和电极253之间的电容变化就足够了。因此，如图11所示，可以沿着嘴清洗槽252c的侧壁和底壁的表面设置电极253。在这种情况下，必须将嘴清洗槽252c和电极253之间的电容率设定为比大气的电容率高，以便确实地检测出吸嘴251b和电极253之间的电容。因此，如图11所示，在嘴清洗槽252c和电极253之间填满具有高电容率的硅树酯254，以便不形成气隙。在这种情况下，可以通过使用将来会固化的流动性树脂确实地并且容易地将嘴清洗槽252c和电极253之间填满。

更进一步地，在本实施例中，已经说明了使用是发光物质的基质作为标记物质的分析装置的例子的情况。然而，本发明并不限于此，各种情况都适用于执行BF清洗处理的分析装置，诸如将荧光物质作为标记物质的情况，将放射性同位素作为标记物质的情况，以及将自旋试剂作为标记物质的情况。另外，对于包括吸取和排出反应容器中清洗液的吸嘴的分析装置同样适用。

另外，可以通过在计算机系统中执行定制的程序来实现在上述实施例中说明的分析装置1。计算机系统读出和执行存储在预定的记录介质中的程序，以实现分析装置的处理操作。在这里，预定的记录介质不仅包括便携式的物理介质，诸如软磁盘(FD)、CD-ROM、MO盘、DVD盘、磁光盘和IC卡，还包括用于在发送程序时短时间存储程序的通信介质，诸如可以被设置在计算机系统的内部或外部的硬盘驱动器(HDD)。另外，计算机系统获得和执行来自经由网络线路连接的管理服务器及其他计算机系统的程序，以实现分析装置的处理操作。

工业实用性

如上所述，根据本发明的清洗装置和分析装置有助于准确地检测嘴堵塞的发生，并且将有液体溢出的反应管的数目减少至最低值，特别是，它们适于被用于包括血和体液的免疫学的分析的自动分析装置。

Claims (4)

1.一种清洗装置，其特征在于，包括：用于排出清洗液的排出嘴；吸嘴，与所述排出嘴一起被插入嘴清洗槽或反应容器内，用于吸取所述嘴清洗槽或所述反应容器内的清洗液或反应液；以及升降部，用于使所述排出嘴和所述吸嘴上升和下降，以将所述排出嘴和所述吸嘴插入所述嘴清洗槽或所述反应容器内，

所述清洗装置进一步地包括：

检测部，用于连续地检测所述吸嘴和设置在所述嘴清洗槽的内部或外围的电极之间的电容；

判定部，用于根据通过所述检测部检测的电容随时间的变化关系来判定所述吸嘴是否被堵塞，所述电容随时间的变化关系是所述电极和在所述清洗液的吸取之后上升到所述嘴清洗槽之外的所述吸嘴之间的电容随时间的变化关系；和

控制部，当所述判定部判定所述吸嘴被堵塞时，所述控制部使所述清洗液通过所述排出嘴向所述反应容器的排出停止。

2.如权利要求1所述的清洗装置，其特征在于，如果从在所述清洗液的所述吸取之后所述升降部开始使所述吸嘴上升的时刻到当所述吸嘴和所述电极之间的电容减小到预定的电容值的时刻所经过的时间超过预定的时间段，则所述判定部判定所述吸嘴被堵塞；以及如果所述经过的时间没有超过所述预定的时间段，则判定所述吸嘴没有被堵塞。

3.如权利要求1或2所述的清洗装置，其特征在于，在所述嘴清洗槽的侧壁和底壁内设置所述电极，或者沿着所述嘴清洗槽的所述侧壁的表面和/或所述底壁的表面设置所述电极。

4.一种分析装置，用于搅拌样本和试剂并使所述样本和所述试剂起反应，并且测量反应液的光学特性以分析所述反应液，其特征在于，所述分析装置使用如权利要求1-3中任意一项所述的清洗装置来清洗已经吸取清洗液或所述反应液的吸嘴。

Images