CN101939776A - 有源矩阵型显示设备 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种允许减小由像素电路中的发光元件的驱动晶体管中随时间的初始变化和起伏引起的显示亮度不均的有源矩阵型显示设备。该显示设备包括每一个都配有允许正比于流过发光元件的电流的输入电流流过的输入电路的像素电路、测量电路和灰度电压供给电路。测量电路借助能将一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入的恒电流供给电路时分地将一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路；对相应电流供给电路的输出电压进行A/D变换；然后对经A/D变换的数据执行预定操作以计算与驱动晶体管的阈值和电子迁移率关联的数据；并存储每个像素电路的数据。以输入到显示设备的灰度-表示数据以及从测量电路接收的电子迁移率关联的数据输入灰度电压供给电路，并对数据执行乘法；并将从测量电路接收的阈值加上该乘法结果以产生显示用电压，并将该显示用电压提供给每个像素电路的输入。

Description

有源矩阵型显示设备
技术领域
本发明涉及使用，例如，有机电致发光(EL)元件的有源矩阵型自发光显示设备。更具体地，本发明涉及允许根据显示数据向发光元件提供合适亮度显示等级(辉度色调)的电流的有源矩阵型显示设备。
背景技术
在使用有机电致发光材料或无机EL材料作为电-光材料的图像显示设备中，由电光材料发出的光的辉度根据写入像素的电流而变化。EL显示面板是在每个像素处具有发光元件的自发光型面板。EL显示面板相比液晶显示面板具有多种优点，即前者能够获得，例如，更快的响应速度、响应速度的更小温度依存性、可再现色的更宽色域以及由于自发光而通过宽视角的更高可见性和高发光效率、以及更高的对比度。
有机EL显示器是以与液晶显示器相同的方式根据点阵方式驱动的。然而在有机EL显示器中，每个发光元件的亮度受从中流过的电流值的控制，即有机EL元件是受电流控制的，并因此明显不同于其中每个单元受电压控制的液晶显示器。点阵驱动可基本分成：有源矩阵驱动，其中在选择周期写入显示数据而之后基于写入的值发生驱动；以及无源矩阵驱动，其中仅在选择周期执行基于显示数据的驱动。有源矩阵型有机EL显示面板的基本电路是公知的。
图7是示出一个这种像素的等效电路例子的图。图中的虚线围住像素电路10。像素电路10包括作为发光元件的EL元件11、第一晶体管(驱动晶体管)12、第二晶体管(开关晶体管)13和电容(电容器)14。发光元件11是有机电致发光(EL)元件。
未示出驱动像素电路10的驱动电路，然而驱动电路的配置类似于液晶显示面板的驱动电路，其中通过代表对应于视频信号的电压强度改变的信号输出驱动矩阵。然而，有机EL显示面板的驱动不同于液晶显示器的地方在于，如上面指出的，有机EL元件是受电流控制的，而液晶显示器是受电压控制的。
在图7中，驱动电路将与视频信号对应的电压信号施加至源极信号线15。当栅极信号线16(扫描线)处于选择状态时，向晶体管13供电，于是将施加于源极信号线15的电压信号写至电容器14并保持于此。即使当栅极信号线16(扫描线)处于未选择状态时，也能通过电容器14稳定地维持晶体管12的栅极电位。有机EL11继续以对应于由写入栅极电位确定的电流的亮度发光，直到下次写入为止。
此后，将向图7所示EL元件11供电的晶体管12称作驱动晶体管，而将例如图7所示晶体管13的充当选择矩阵中元件的开关的晶体管称作开关晶体管。
有源矩阵型EL显示面板中的面板是使用由低温多晶硅或非晶硅制成的晶体管构造的。然而由于多种原因，这些晶体管难以形成使晶体管具有均一特征，并且时常发生不可忽略的特征变化。该晶体管的特征变化——尤其是驱动晶体管的特征变化——排除了在有机EL元件中获得均匀亮度的可能，即使当以同样方式驱动同一驱动晶体管时。同一面板中的驱动晶体管的特征变化导致显示器中的显示非均匀性。
图7是示出驱动各像素的电压编程的像素电路的基本配置的图。在电压编程中，例如，将由电压幅度或电压强度变化表示的视频信号的电压信号，例如，施加于数据信号线、源极信号线或像素，于是电压信号通过，例如，像素电路的驱动晶体管变换成电流信号，并基于电流信号驱动EL元件。
电流编程指一种配置、电路或驱动方法，其中，例如，将由电流大小或电流强度变化表示的，例如，视频信号的电流信号，例如，施加于数据信号线、源极信号线或像素，并且将大致正比于所施加电流信号的电流信号或源自使所施加电流经受预定变换处理的电流信号直接或间接地施加于EL元件。
在图7所示像素配置中，晶体管13执行开关操作，正如开关晶体管的名称所暗示的那样。因此，该晶体管中的变化比较不受总体特征的影响。然而，被称为驱动晶体管的晶体管12通过接收由电压强度变化表示的视频信号的输入，并将视频信号变换成电流信号而驱动EL元件。因此，驱动晶体管12执行模拟操作，并因此驱动晶体管12中的任何特征变化导致经变换的电流信号的变化。驱动晶体管12的特征一般表现出50％或更高的变化。
在电压编程中，尽管在低灰度区和高灰度区中源极信号线等的充放电能力高，然而实质上没有因写入不足引起的显示不均发生。
可使用基于电流编程的配置减轻由上述晶体管特征变化造成的显示不均匀。然而，电流编程存在的问题是驱动电流在低灰度区很小，由于源极信号线15的寄生电容就不能获得令人满意的驱动。
为了解决这个问题，特开2007-179037号公报披露了一种合并上述电流编程和电压编程优势的方法。另外，特开2006-301250号公报披露了测量驱动每个EL元件的晶体管的门限电压(在下文中，不对灰度显示作出贡献的输入电压被称为门限电压)，并存储每个EL元件的测得门限电压的特征。所存储的门限值用来产生根据显示数据的灰度执行电压，以使所产生的灰度执行电压施加于驱动各EL元件的晶体管。
门限电压也被称为偏移电压，其中在驱动晶体管的栅极电压和发光辉度之间相关的情况下，使电压正比于灰度数据而偏移，以设定发光辉度相对于灰度数据之间的线性关系。
然而，上述方法无法完全补偿晶体管特征的电子迁移率和门限电压(下文中称其为Vth)的最初变化，也无法补偿前述特征随时间的波动。图8示意地示出一例由非晶硅制成的晶体管的上面两个特征随时间的波动。在该晶体管中，因为随着驱动时间流逝的内部劣化，Vth在图中从Vthi升高至Vthn，而电子迁移率在图中从αi下降至αn。因此，当作为灰度信号的Vdata恒定时，驱动电流从Idi下降至Idn，并且亮度正比于驱动电流降相应地下降。该驱动晶体管中的特征变化依赖于矩阵中各个晶体管而变化。因此，即使当采取对策以抵消初始显示亮度不均时，也会随时间流逝而在显示表面内发生显示亮度不均匀。可通过用每个晶体管的最初特征替换图8中随时间表现出波动的特征将最初变化关联于显示亮度的最初不均。
在CMOS中，上述电子迁移率(μ)和其它特征之间存在关系μ＝2LIds/WCi(Vg-Vth)2。在上面的表达式中，L是沟道长度，Ids是饱和区中的漏电流值，W是沟道宽度，Ci是栅绝缘层每单位面积的电容，Vg是栅极电压而Vth是门限电压。因此显然电子迁移率的变化对晶体管特征起到明显的影响，尤其是节点电流变化相对于栅极电压变化之比。
发明内容
因此鉴于上述课题，本发明的一个目的是提供一种相比传统显示设备能减小由显示设备像素电路中的驱动晶体管随时间的最初变化和波动造成的显示亮度不均匀的显示设备。
专利文献1：特开2007-179036号公报
专利文献2：特开2006-301250号公报
本发明的有源矩阵型显示设备是一种有源矩阵型显示设备，其中多个电流控制型发光元件以及对其输入包含灰度信号的电压并向发光元件提供电流的多个像素电路形成为矩阵，该显示设备包括各自含具有正比于流过发光元件的电流的输入电流流过的特征的输入电路的像素电路以及测量每个像素电路的特征的测量电路。该测量电路包括能产生一个或多个恒电流并将该恒电流提供给多个像素电路的每个输入的恒电流供给电路以及输入恒电流供给电路的输出电压并对该电压进行A/D变换的A/D变换器。测量电路通过恒电流电路以时分方式将一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路，并根据该供给执行A/D变换。测量电路对输入的A/D变换数据执行预定操作；计算关联于向发光元件供给电流的像素电路中的驱动晶体管的电子迁移率和阈值的数据；并存储每个像素电路经计算得到的数据。有源矩阵型显示设备还包括灰度电压供给电路。灰度电压供给电路能执行包括代表输入到显示设备的灰度的数据和关联于从测量电路接收的电子迁移率的数据的其中输入数据的乘法运算；将从测量电路输入的阈值与前述乘法结果相加以产生提供给像素电路的显示用电压；并将该显示用电压提供给像素电路的输入。
根据本发明的测量电路在从恒电流供给电路供给第一值的恒电流后停止电流供给；在停止后通过恒电流供给电路的输出电压的A/D变换形成第一数据，并存储所形成的第一数据；并在提供等于或不同于第一值的第二值恒电流的期间通过恒电流供给电路的输出电压的A/D变换形成第二数据；并存储所形成的第二数据。测量电路基于所存储的第一数据计算像素电路的驱动晶体管的下一阈值；并基于所存储的第一和第二数据计算关联于驱动晶体管的电子迁移率的数据。
在本发明中，第二值的恒电流是与之前针对驱动晶体管设定的最大亮度对应的电流值。在本发明中，像素电路的输入电路包括驱动晶体管的电流镜像晶体管。
在本发明中，产生第一数据的电压表示在通过电流镜像晶体管将驱动晶体管栅极中的电容中充有的电压放电后的电流镜像晶体管的阈值。
在本发明中，电流镜像晶体管的阈值对应于像素电路的驱动晶体管的阈值。
在本发明中，像素电路的输入电路包括驱动发光元件的晶体管的电流镜像晶体管，并且产生第一数据的电压表示在通过电流镜像晶体管将像素电路的驱动晶体管的栅极中的电容中充有的电压放电后的电流镜像晶体管的阈值。第二值的恒电流是与驱动晶体管事先设定的最大亮度对应的值的电流，而由(Vn-Vth)/Vi表达关联于电子迁移率的数据，其中Vth是第一数据，Vn是第二数据，而Vi是表示输入到显示设备中并表示灰度的数据中的最大亮度的数据。
本发明的有源矩阵型显示设备也是一种有源矩阵型显示设备，其中将多个电流控制型发光元件以及对其输入包含灰度信号的电压并向发光元件提供电流的多个像素电路形成为矩阵，该显示设备包括每一个含具有允许正比于流过发光元件的电流的输入电流流过的特征的输入电路的像素电路以及测量电路、存储电路和灰度电压供给电路。该测量电路包括能产生一个或多个恒电流并将恒电流提供给多个像素电路的每个输入的恒电流供给电路。测量电路可通过恒电流电路时分地将一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路，并能将对应于一个或多个恒电流的恒电流供给电路输入的输出电压进行A/D变换。存储电路对每个像素电路存储基于来自测量电路的数据计算出并关联于向发光元件供给电流的像素电路中的晶体管的电子迁移率和阈值的数据。灰度电压供给电路执行包括代表输入到显示设备的灰度的数据和关联于从测量电路接收的电子迁移率的数据的其中输入数据的乘法运算；将从测量电路输入的阈值与前述乘法结果相加以产生提供给像素电路的显示用电压；并将该显示用电压提供给像素电路的输入。
本发明的有源矩阵型显示设备也是一种有源矩阵型显示设备，其中多个电流控制型发光元件以及对其输入包含灰度信号的电压并向发光元件提供电流的多个像素电路形成为矩阵，该显示设备包括各自含具有允许正比于流过发光元件的电流的输入电流流过的特征的输入电路的像素电路以及测量电路和灰度电压供给电路。该测量电路包括能产生一个或多个恒电流并将恒电流提供给多个像素电路的每个输入的恒电流供给电路。测量电路可通过恒电流电路时分地将一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路，并能将对应于一个或多个恒电流的恒电流供给电路输入的输出电压进行A/D变换。灰度电压供给电路输入有代表输入至显示设备的灰度的数据并能产生提供给像素电路的显示用电压，并能将该显示用电压提供给像素电路的输入。表示灰度并输入到显示设备的数据是在基于来自测量电路的数据计算出的并关联于向发光元件供给电流的像素电路中的晶体管的电子迁移率和阈值的数据基础上经校正的数据。
附图简述
图1是示出本发明的一个实施例的配置的图，用于阐述校正阶段的操作；
图2是示出图1的校正阶段的操作时序的图；
图3是示出本发明实施例的配置的图，用于阐述与显示设备的输入数字对应的灰度显示阶段的操作；
图4是示出在图3的显示阶段的操作时序的图；
图5是示出晶体管特征随时间变化的图；
图6是解释本发明的显示设备的效果的图；
图7是示出常见有源矩阵型显示设备中的一个像素电路的配置例的图；以及
图8是示出晶体管特征随时间变化的例子的图。
实现本发明的最佳方式
图1是阐述根据本发明的有源矩阵型显示设备的驱动电路的图，尤其是解释根据本发明的校正阶段的图。源极驱动电路20(包围在上方虚线内)包括输出额定电流的电流源21、A/D变换器22、Vth存储电路24、第一计算和存储装置25、第二计算和存储装置26、乘法器27、加法器28和灰度电压源29。本文中，电流源21的输出、A/D变换器22的输入以及灰度电压源的输出共享同一线路30，并连接于有机EL显示设备的每个像素电路中的源极信号线15。以时分方式处理到和从前述部件的输入和输出。尽管未示出栅极驱动电路，然而它具有沿列方向相继操作多个像素电路19的多个栅极信号16。栅极信号16连接于各个相应像素电路19。
每个像素电路19(包围在下方虚线内)包括作为发光元件的EL元件11、驱动晶体管12、开关晶体管13、电流镜像晶体管17和18以及电容(电容器)14。晶体管18、12呈电流镜像关系。因此对于同一栅极电压，晶体管18的Id和晶体管12的Id之比是恒定的，该比值取决于两晶体管的尺寸。如果尺寸相同，则流过晶体管18、12的电流是相同的。换句话说，当尺寸相同时，经由源极信号线15流过像素电路的输入电路的输入电流与流过有机EL 11的电流相同。像素电路19形成在狭窄区域内。因此，一个像素电路19中的晶体管的最初特征表现出不可辨的变化，而可认为随时间的波动是大致相同的。因此，假设事先已知晶体管的尺寸，就可从晶体管18的特征读出驱动晶体管12的特征。
尽管图1未示出，然而将输入到显示设备中的显示数据输入到乘法器27中。
如下所述，对每个像素执行对Vth存储电路24和第二计算和存储装置26的存储和读出。可针对每个像素进行读出。这里，响应矩阵的驱动而进行像素的地址选择操作。
已基于图1所示结构对根据本发明的有机EL显示设备的上述配置例、尤其是关联于校正阶段的校正例进行了说明。然而，实际有机EL显示设备包括沿行方向和列方向的多个像素电路19，并在其中形成有包含多条源极信号线和多条栅极信号线的矩阵。
接着对图1所示的EL显示设备的驱动电路的操作进行说明。
本实施例涉及两个操作，通过使用电流源读出晶体管特征而获得校正值的校正操作，并使用获得的校正值借助电压源进行灰度显示。首先阐述校正操作。下面的阐述针对单像素电路。在实际显示设备操作中，在每个像素电路中执行下述操作。为了简化说明，下述晶体管18和12具有同一尺寸。
(校正操作)图1示出牵涉到校正操作的配置。图2示出校正操作的定时。校正操作是针对每个像素进行的。每个像素中的校正操作可分成三个操作周期。
第一周期的操作包括读出并存储晶体管18的阈值电压Vth，以读出驱动晶体管12的阈值电压。第一周期的操作按时间序列显示为预充电周期(1)、Vth存储周期(2)和Vth读出周期(3)。
在预充电周期(1)中，单独从电流源21将大于寻常的电流Iref1施加于像素电路19(其灰度电压源是断开的)。因此在这周期期间，晶体管18的栅极等于或高于阈值电压。Vth存储周期(2)是存储Vth并且输入以晶体管18的栅极电压转变至阈值电压的方式中断的周期。晶体管18已上升至或高于阈值电压的栅极电压在该周期期间经由晶体管17和18放电。一旦晶体管18的栅极电压下降至阈值电压，从晶体管17和18的放电就停止，并维持恒压。将该电压自动存储在电容器14中。该电压是晶体管17、18的放电中断时的电压。即，该电压是晶体管18的阈值电压。
将晶体管17的饱和电压加上前述阈值电压所得到的电压构成对A/D变换器22的输入。在本文中晶体管17的导通电压是足够小的以致于可忽略，并因此不予以考虑。在Vth读出周期(3)中，前述阈值电压通过A/D变换器22转换成数字值。在经过给定时间后，将经A/D变换的阈值的数字值存储在存储电路24中。在同一像素内形成晶体管18和驱动晶体管12，并因此具有匹配的特征。可通过模拟获得驱动晶体管12的特征。因此可在第一循环中读出驱动晶体管12的阈值Vth。
在第二周期的操作中检查关于电子迁移率的特征。在该操作中，读出和存储基准电流流过时的电压Vref，其构成在流过预定电流时A/D变换器22的输入。通过图2的时间序列给出第二周期的操作，并包括Vref写入周期(4)→以及Vref读出周期(5)。
在(4)的Vref周期中，电流源21产生基准电流Iref2，例如，与100％灰度期间流至有机EL元件的电流对应的电流。在Vref读出周期(5)中，维持周期(4)的电流，并在此时通过A/D变换器22读出晶体管18的栅极电压Vg。在额定电流下产生该电压，并因此该电压包括晶体管18的阈值电压，晶体管18与晶体管12具有相同特征或表现出与晶体管12特征具有预定相应性以及晶体管的电子迁移特征。因此，可在第二周期内读出对应于100％灰度的电流流过的栅极电压Vref。
如本领域内技术人员所熟知的，当晶体管18的尺寸为驱动晶体管尺寸的1/a时，电流Iref2是100％灰度期间流过有机EL元件的电流的1/a。
在图1中以粗线表示来自电流源21的电流路径。虚线表示A/D变换器22检测出与晶体管18栅极电压基本相似的电压。
在第三周期内计算出校正系数K。基于在第一周期获得的Vth和在第二周期获得的Vref计算等式(1)并将结果暂存在第一计算单元25中，同时计算等式(2)并将结果暂存在第二计算单元26中。
ΔVn＝Vref-Vth....等式(1)
K＝(ΔVn/ΔVi)....等式(2)
值ΔVn此时对应于产生测得的像素电路从0％-100％的灰度级别的电压。值ΔVi是事先确定的最初电压或基准电压，例如在100％灰度显示期间所需的数据电压。
接下来对通过第二计算单元26获得的系数K进行说明。ΔVi是初始或基准电压，例如表示灰度显示中100％亮度级别的数据电压。然而在感兴趣的实际晶体管中，对应于ΔVi的电压基于最初变化和随时间的变化而变成ΔVn。因此，算出该变化或波动的系数K并用于校正灰度电压，一旦接下来设定后者。图5示出ΔVi和ΔVn之间的关系的一个例子。
在上面的说明中，检测出的值基本类似于驱动晶体管的特征。显然即使这些值实质上不是相同的，然而两者之间也存在对应关系。也可处理检测出的阈值作为对应于驱动晶体管的特征。如果对应关系是事先已知的，则可基于该对应关系设定上述基准电流Iref2，并且作为结果获得的K可视为驱动晶体管的值的指标。
例如在图5中，晶体管最初具有由下侧斜线表示的特征，但在N小时后表现出由上侧斜线表示的特征。作为选择，图5示出尽管假设表示灰度的信号表现出由下侧斜线表示的特征，实际输入到像素电路的信号特征必需具有与上侧倾斜线指示的特征相应的特征。对每个像素电路执行上述操作。
下面对在电压源校正的梯度下的显示操作进行阐述。
(灰度显示操作)
图3是基于经校正信号解释梯度数据Vdata 31的输入和像素电路的驱动的图。在该操作中，由灰度电压源单独驱动每个像素电路。图4示出在该操作中驱动一个像素的定时。在这种情形下，由图3中的粗线表示信号流等。灰度数据Vdata与乘法器27中的系数K相乘，并通过加法器28加上Vth。通过数字化方式执行该过程，如等式(2)所表示。通过灰度电压源29(具体地说是通过D/A变换器)将所得到的数字值转换成模拟值并施加于像素电路19。结果，将该模拟值写至并存储在电容器14中从而更新显示数据。
Vg＝K·Vdata+Vth.....等式(2)
这里，Vdata是设定EL显示设备的发光辉度(灰度)的数据。在100％灰度下，Vdata具有与前述ΔVi相同的值。当Vth和电子迁移率随时间经过最初变化和波动时，通过灰度电压Vdata与1以外的系数K相乘而校正数字数据，从而反射出Vth进一步的变化。
由此，致使栅极电压Vg以驱动晶体管12的Id相对于100％灰度输入取恒定电流值的方式变化，由于这样，发射光的辉度相对于灰度电压Vdata的关系变得普通。图6示出这样一个例子。图6示意地示出对于三个像素的驱动晶体管中从Vg1-Vg3的任意变化来说，即使在Vth和像素的电子迁移率随时间的最初变化或波动的情形下，在100％灰度下的驱动电流Id也不会改变。结果，基本没有发生源自传统50％或更高的特征变化的亮度不均。因此，亮度不均下降至等于或低于计算误差的可忽略水平。
上面已基于示例对一个实施例进行了阐述，在所述示例中，基本过程开始于像素电路中晶体管的Vth的读出，之后是关联于电子迁移率的系数K的各种手段，之后基于前面的数据校正输入的灰度，直到使用经校正的数据驱动每个像素电路为止。
然而，可通过上述实施例以外的其它实施例实现本发明的要旨。在表示为源驱动器20的部分中，例如，可由输出显示在显示设备上的数据的计算机执行关联于本申请发明的一些特征，并且该执行结果可存储在显示设备的存储设备中。即，可配置实施例以使在外部设备中执行计算单元25和计算单元26的计算单元部分，并将结果存储在计算单元26中。在这种情形下，可根据软件程序在计算机中执行由外部设备执行的计算。
可在上面提到的计算机中控制上述校准操作，具体地通过控制源极驱动器、栅极驱动器以及A/D变换器的驱动和电流源的控制单元来控制。因此实质上可通过计算机中的程序控制校准操作。由于在该实施例中，可通过软件程序控制校准操作，用户可在耗时的精确校准或可快速实现的粗校准之间进行选择。
当使用具有上述特征的软件程序执行校准操作时，可通过引入对所获得测量数据的细调来获得驱动晶体管特征的最终计算结果。例如，如果获得的阈值可表示为实际阈值的函数，则可通过执行该函数的处理来获得所要求的阈值，以使用处理结果用作为阈值。也可在上述K的同时确定中使用该阈值。
同样在上述其它实施例中，必须在显示设备中提供A/D变换器22、电流源21和灰度电压源30。在灰度显示阶段中还使用Vth存储器24、计算和存储器26、乘法器27和加法器，然而可实现本发明的要旨而不管这些要素在显示设备内部还是外部。即，经校正的灰度数据可输入到显示设备外的灰度电压源30。
另外，显然在图示实施例中，可在配置在显示设备中的专用计算机中执行校准级中各种操作的控制，或通过一个专用硬件项执行，或通过上述内容的组合来执行。
晶体管的上述Vth和K随短时间周期较小地改变。因此，一旦执行上述校准操作，就不需要每当使用显示设备时重复校准操作。尽管，上述校准操作优选地在规则时间间隔执行。然而选择地，可当亮度不均变得注目时执行上述校准操作。
工业应用
上述本发明允许根据像素电路中的晶体管的电子迁移率和阈值随时间的最初变化和波动而校正显示设备中的灰度电压，籍此将校正电压施加于每个像素电路。结果，本发明得到减小显示设备中的显示亮度不均至可忽略水平的效果。

Claims (9)

1.一种有源矩阵型显示设备，其中多个电流控制型发光元件以及多个像素电路形成为矩阵，所述多个像素电路被输入包含灰度信号的电压、并向所述发光元件提供电流，所述显示设备包括：
所述像素电路，所述像素电路各自包括具有能使与流过所述发光元件的电流成比例的输入电流流过的特征的输入电路；
测量电路，所述测量电路包括能产生一个或多个恒电流并将所述恒电流提供给所述多个像素电路的每个输入的恒电流供给电路；所述测量电路通过所述恒电流电路以时分方式将所述一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路；所述测量电路对所输入的与所述一个或多个恒电流相对应的来自所述恒电流供给电路的输出电压进行A/D转换；所述测量电路对被输入的经A/D转换的数据执行预定操作；所述测量电路计算与向所述发光元件提供电流的所述像素电路中的驱动晶体管的电子迁移率和阈值有关的数据；并且，所述测量电路存储为每个像素电路计算得到的数据；以及
灰度电压供给电路，所述灰度电压供给电路能对输入的数据执行乘法运算，所述输入的数据包括输入到所述显示设备的代表灰度的数据以及从所述测量电路接收的所述与电子迁移率有关的数据；所述灰度电压供给电路将从所述测量电路输入的所述阈值与所述乘法的结果相加以产生提供给所述像素电路的显示用电压；并且，所述灰度电压供给电路将所述显示用电压提供至所述像素电路的输入。
2.如权利要求1所述的有源矩阵型显示设备，其特征在于，所述测量电路在从所述恒电流供给电路提供第一值的恒电流后停止电流供给；所述测量电路将所述恒电流供给电路在电流供给停止后的输出电压A/D转换成第一数据；所述测量电路将所述恒电流供给电路在与所述第一值相同或不同的第二值的恒电流的供给期间输出的电压A/D转换成第二数据所述测量电路基于所述第一数据计算所述像素电路的所述驱动晶体管的阈值；并且，所述测量电路基于所述第一和第二数据计算与所述驱动晶体管的电子迁移率有关的数据。
3.如权利要求1所述的有源矩阵型显示设备，其特征在于，所述第二值的恒电流是与事先对所述驱动晶体管设定的最大亮度对应的其值的电流。
4.如权利要求1所述的有源矩阵型显示设备，其特征在于，所述像素电路的所述输入电路包括所述驱动晶体管的电流镜像晶体管。
5.如权利要求4所述的有源矩阵型显示设备，其特征在于，产生所述第一数据的电压表示在通过所述电流镜像晶体管将所述驱动晶体管的栅极中的电容中充有的电压放电后的所述电流镜像晶体管的阈值。
6.如权利要求5所述的有源矩阵型显示设备，其特征在于，所述电流镜像晶体管的阈值对应于所述像素电路的所述驱动晶体管的阈值。
7.如权利要求1所述的有源矩阵型显示设备，其特征在于，所述像素电路的所述输入电路包括驱动所述发光元件的晶体管的电流镜像晶体管；
产生所述第一数据的电压表示在通过所述电流镜像晶体管将所述像素电路的所述驱动晶体管的栅极中的电容中充有的电压放电后的所述电流镜像晶体管的阈值；
所述第二值的恒电流是与事先对所述驱动晶体管设定的最大亮度对应的其值的电流；以及
所述与电子迁移率有关的数据由(Vn-Vth)/Vi表达，其中Vth是所述第一数据，Vn是所述第二数据，而Vi是被输入到所述显示设备的、表示灰度的数据中表示最大亮度的数据。
8.一种有源矩阵型显示设备，其中多个电流控制型发光元件以及多个像素电路形成为矩阵，所述多个像素电路被输入包含灰度信号的电压、并向所述发光元件提供电流，所述显示设备包括：
所述像素电路，所述像素电路各自包括具有能使与流过所述发光元件的电流成比例的输入电流流过的特征的输入电路；
测量电路，所述测量电路包括能产生一个或多个恒电流并将所述恒电流提供给所述多个像素电路的每个输入的恒电流供给电路；所述测量电路能通过所述恒电流电路以时分方式将所述一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路；并且，所述测量电路对所输入的与所述一个或多个恒电流相对应的来自所述恒电流供给电路的输出电压进行A/D转换；
存储电路，所述存储电路为每个像素电路存储基于来自所述测量电路的数据计算出的、并与向所述发光元件提供电流的所述像素电路中的晶体管的电子迁移率和阈值有关的数据；
灰度电压供给电路，所述灰度电压供给电路能对输入的数据执行乘法运算，所述输入的数据包括输入到所述显示设备的代表灰度的数据以及从所述测量电路接收的所述与电子迁移率有关的数据；所述灰度电压供给电路将从所述测量电路输入的所述阈值与所述乘法的结果相加以产生提供给所述像素电路的显示用电压；并且，所述灰度电压供给电路将所述显示用电压提供至所述像素电路的输入。
9.一种有源矩阵型显示设备，其中多个电流控制型发光元件以及多个像素电路形成为矩阵，所述多个像素电路被输入包含灰度信号的电压、并向所述发光元件提供电流，所述显示设备包括：
所述像素电路，所述像素电路各自包括具有能使与流过所述发光元件的电流成比例的输入电流流过的特征的输入电路；
测量电路，所述测量电路包括能产生一个或多个恒电流并将所述恒电流提供给所述多个像素电路的每个输入的恒电流供给电路；所述测量电路能通过所述恒电流电路以时分方式将所述一个或多个恒电流提供给每个像素电路的输入电路；并且，所述测量电路对与所输入的与所述一个或多个恒电流相对应的来自所述恒电流供给电路的输出电压进行A/D转换；以及
灰度电压供给电路，输入到所述显示设备的代表灰度的数据被输入到所述灰度电压供给电路；并且，所述灰度电压供给电路能产生提供给所述像素电路的显示用电压，并能将所述显示用电压提供至所述像素电路的输入，
其中，所述被输入至所述显示设备的表示灰度的数据是在以下数据基础上校正后的数据：所述以下数据是基于来自所述测量电路的数据计算出的、并与向所述发光元件提供电流的所述像素电路中的晶体管的电子迁移率和阈值有关的数据。
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