CN101871111B - 一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法 - Google Patents

一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101871111B
CN101871111B CN2010101887527A CN201010188752A CN101871111B CN 101871111 B CN101871111 B CN 101871111B CN 2010101887527 A CN2010101887527 A CN 2010101887527A CN 201010188752 A CN201010188752 A CN 201010188752A CN 101871111 B CN101871111 B CN 101871111B
Authority
CN
China
Prior art keywords
conductive glass
electrode
ito conductive
cuprous iodide
2mol
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2010101887527A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101871111A (zh
Inventor
刘润
徐铸德
陈科立
王辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Zhejiang University ZJU
Original Assignee
Zhejiang University ZJU
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zhejiang University ZJU filed Critical Zhejiang University ZJU
Priority to CN2010101887527A priority Critical patent/CN101871111B/zh
Publication of CN101871111A publication Critical patent/CN101871111A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101871111B publication Critical patent/CN101871111B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)

Abstract

本发明公开了一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法。包括如下步骤:1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2~3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;2)将0.002~2mol/L的Cu(NO3)2、0.002~2mol/L的KI、3.4×10-6~1.7×10-3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH至1~5,得到电解液;3)ITO导电玻璃或硅片作工作电极,铂片电极作对电极,饱和甘汞电极作参比电极电沉积得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对饱和甘汞电极的电沉积电压为0.1~-0.4V,电沉积时间为1~30分钟,电沉积温度为25~80℃。本发明优势在于设备简单、成本低廉,反应条件要求较低等。

Description

一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法
技术领域
本发明涉及半导体薄膜的制备,尤其涉及一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法。
背景技术
碘化亚铜是一种直接带隙达3.1eV的p型半导体。由于其诸多独特的性质(如大的能带间隙、负自旋轨道分裂、不寻常的强烈温敏特性和类似反磁性行为),碘化亚铜被广泛用于制造半导体器件当中。随着碘化亚铜的应用越来越广,对其的研究也越来越多。
迄今为止,人们已经研究出了很多种关于碘化亚铜的制备方法。激光脉冲沉积、磁控溅射和真空蒸发等方法都被用来制备碘化亚铜薄膜,但是这些物理方法普遍存在着反应温度高、设备操作复杂、反应时间长等缺点。当然也有许多人用化学的方法制备碘化亚铜,如水热法、微乳法和溶胶凝胶法等。这些方法虽然操作及设备要求上有所简化,但是不能得到很好的薄膜材料。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种致密碘化亚铜薄膜的电化学制备方法。
均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法包括如下步骤:
1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2~3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;
2)将0.002~2mol/L的Cu(NO3)2、0.002~2mol/L的KI、3.4×10-6~1.7×10-3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至1~5,得到电解液;
3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为0.1V~-0.4V,电沉积时间为1分钟~30分钟,电沉积温度为25~80℃。
本发明的突出优点有:(1)制得的碘化亚铜有薄膜具有很好的致密性。(2)设备简单、成本低廉,可在常温下操作。(3)制备条件温和,反应过程清洁无污染,反应效率高。
附图说明
图1是实施例1的碘化亚铜产品的扫描电镜图;
图2是实施例2的碘化亚铜产品的X射线衍射图;
图3是实施例3的碘化亚铜产品的室温荧光吸收光谱图;
图4是实施例4的碘化亚铜产品的紫外可见光谱图。
具体实施方式
实施例1
1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;
2)将0.002mol/L的Cu(NO3)2、0.002mol/L的KI、3.4×10-6mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至5,得到电解液;
3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为0.1V,电沉积时间为30分钟,电沉积温度为25℃。
经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在ITO导电玻璃上的CuI薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。
场发射扫描电镜图1表明CuI薄膜具有很好的致密性。
实施例2
1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;
2)将0.02mol/L的Cu(NO3)2、0.02mol/L的KI、3.4×10-5mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至4,得到电解液;
3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为-0.1V,电沉积时间为20分钟,电沉积温度为45℃。
经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在ITO导电玻璃上的CuI薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。
X射线衍射图2表明CuI薄膜具有一定的取向性。
实施例3
1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;
2)将0.2mol/L的Cu(NO3)2、0.2mol/L的KI、3.4×10-4mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至2,得到电解液;
3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为-0.3V,电沉积时间为15分钟,电沉积温度为65℃。
经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在ITO导电玻璃上的CuI薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。
荧光吸收光谱图3表明CuI的特征吸收。
实施例4
1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;
2)将2mol/L的Cu(NO3)2、2mol/L的KI、1.7×10-3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至1,得到电解液;
3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为-0.4V,电沉积时间为1分钟,电沉积温度为80℃。
经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在ITO导电玻璃上的CuI薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。
紫外可见吸收光谱图4表明CuI的特征吸收。

Claims (1)

1.一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法,其特征在于包括如下步骤:
1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2~3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;
2)将0.002~2mol/L的Cu(NO3)2、0.002~2mol/L的KI、3.4×10-6~1.7×10-3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至1~5,得到电解液;
3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为0.1V~-0.4V,电沉积时间为1分钟~30分钟,电沉积温度为25~80℃。
CN2010101887527A 2010-06-01 2010-06-01 一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法 Expired - Fee Related CN101871111B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010101887527A CN101871111B (zh) 2010-06-01 2010-06-01 一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010101887527A CN101871111B (zh) 2010-06-01 2010-06-01 一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101871111A CN101871111A (zh) 2010-10-27
CN101871111B true CN101871111B (zh) 2011-09-14

Family

ID=42996188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010101887527A Expired - Fee Related CN101871111B (zh) 2010-06-01 2010-06-01 一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101871111B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102296337A (zh) * 2011-06-09 2011-12-28 浙江东晶光电科技有限公司 一种CuI薄膜的制备方法
CN106567115A (zh) * 2017-01-24 2017-04-19 洛阳师范学院 一种碘化铅薄膜的制备方法
CN107299371B (zh) * 2017-05-03 2018-11-20 浙江大学 一种通过阴极还原电沉积和化学沉积制备Cu2O/CuI电极的方法
WO2021232577A1 (zh) * 2020-05-20 2021-11-25 中国科学院微电子研究所 一种碘化亚铜薄膜的制备方法
CN113699505B (zh) * 2020-05-20 2022-08-30 中国科学院微电子研究所 一种掺杂的碘化亚铜薄膜的制备方法
CN113699506B (zh) * 2020-05-20 2022-08-30 中国科学院微电子研究所 一种碘化亚铜薄膜的制备方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101333672A (zh) * 2008-08-05 2008-12-31 浙江大学 一种高取向溴化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101871111A (zh) 2010-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101871111B (zh) 一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法
Yang et al. Controllable morphology and conductivity of electrodeposited Cu2O thin film: effect of surfactants
CN101844804B (zh) 一种晶化TiO2纳米管阵列的制备方法
CN103464415B (zh) 太阳能单晶硅片清洗液及清洗方法
CN102534630B (zh) 一种多孔氮化钛纳米管阵列薄膜及其制备方法
CN102181877A (zh) 一种电化学还原氧化石墨烯以制备石墨烯的方法
CN101962805A (zh) 一种磷酸镧或稀土掺杂磷酸镧薄膜的电化学制备方法
CN104404566B (zh) 一种以修饰TiO2纳米管阵列为中间层的钛基二氧化铅阳极及其制备方法与应用
CN104831330A (zh) 一种一维自组装有序的纳米材料MoO3纳米孔的电化学制备方法
CN107093668A (zh) 原位制备基底、致密层、多孔层一体化式钙钛矿太阳能电池及其方法
CN102254992A (zh) 新型多晶硅制绒工艺
CN104393099B (zh) 一种四氟钇钠碘氧铋复合太阳能薄膜的制备方法
CN104233433B (zh) 一种制备氧化亚铜薄膜的方法
CN103887367B (zh) 一种银纳米颗粒辅助两次刻蚀硅微纳米洞减反射织构的制备方法
CN101333672A (zh) 一种高取向溴化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法
CN104152964A (zh) 一种四氟钇钠氧化亚铜复合太阳能薄膜的制备方法
CN105826410B (zh) 一种消除金刚线切割痕迹的多晶硅制绒方法
CN101871112B (zh) 一种合成高温相碘化亚铜的电化学制备方法
CN102691089A (zh) 采用水电解液在铜基体上制备超疏水表面的电化学方法
CN101871113B (zh) 一种电沉积碘化银半导体薄膜的电化学制备方法
CN104561979B (zh) 钨酸铋薄膜的制备方法
CN103794373A (zh) 一种染料敏化太阳能电池用Cu2ZnSnS4/MWCNT纳米复合对电极及其制备方法
CN104229868A (zh) 一种氧化锌纳米树结构的制备方法
CN103007916A (zh) 金属氧化物修饰的纳米TiO2薄膜的制备方法
CN103695983B (zh) 一种尺寸可控的铝表面周期性纳米坑织构的制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20110914

Termination date: 20140601