CN101868691A - 用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置 - Google Patents

用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101868691A
CN101868691A CN200880116832A CN200880116832A CN101868691A CN 101868691 A CN101868691 A CN 101868691A CN 200880116832 A CN200880116832 A CN 200880116832A CN 200880116832 A CN200880116832 A CN 200880116832A CN 101868691 A CN101868691 A CN 101868691A
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
measured value
calibration
flexibility
measuring machine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN200880116832A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101868691B (zh
Inventor
T·赫尔德
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH filed Critical Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
Publication of CN101868691A publication Critical patent/CN101868691A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101868691B publication Critical patent/CN101868691B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042Calibration or calibration artifacts

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

使用一种方法来校正坐标测量装置的测量值,该坐标测量装置具有探头(6)、校准体、以及用于基于所述坐标测量装置的元件的预定变形参数来记录和校正由所述探头(6)记录的测量值(xi,yi,zi)的设备(10,30)。所述方法包括以下步骤:a)确定在所述校准体的表面(26)上的预定点(28)处的机械顺从性;b)以数据记录(N)的形式在所述设备中存储所确定的顺从性;c)使用所述探头(6)逐点扫描所述校准体;以及d)通过使用所述数据记录(N)校正在步骤c)中确定的所述探头(6)的测量值,校准所述探头(6)。类似地,还可将该方法用于具有已知的顺从性的工件。还提出了适于执行这些方法的坐标测量装置。

Description

用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置
技术领域
本发明涉及用于校正坐标测量机的测量值的方法,该坐标测量机具有探头、校准体、以及用于基于所述坐标测量机的元件的预定变形参数来记录和校正由所述探头记录的测量值的设备。
本发明还涉及用于校正坐标测量机的测量值的方法,该坐标测量机具有探头以及用于基于预定变形参数来记录和校正由所述探头对工件记录的测量值的设备。
最后,本发明涉及坐标测量机,其具有探头以及用于基于预定变形参数来记录和校正由所述探头记录的测量值的设备。
背景技术
从DE 101 24 493 A1可知上述类型的方法。
在典型地用于分析工件表面的坐标测量机中,由于坐标测量机的元件在测量操作期间弯曲,因此会发生系统误差。这里主要提及探头(特别地,探针)的弯曲,但也要提及坐标测量机的构成部件的弯曲。在探头和探针的区域中的弯曲实质上是所施加的接触或测量力的结果。然而,当坐标测量机的移动元件被加速或减速时发生的力以及其质量也会起作用。
在测量中涉及的坐标测量机元件的弯曲自然会导致测量误差。因此,已经试图使用校正方法以各种各样的方式补偿这样的测量误差。
从DE 101 24 493 A1可知作为参数场(特别地,作为张量)来确定探测器的动态弯曲行为,以从该参数场计算校正值,同时考虑作用于探测器的加速,并且最终使用校正值来校正探测器的测量结果。
在坐标测量机中,还已知利用所谓的校准体来校准在空间中探头的探头针尖的自由端上设置的探针球的位置。通常,这些校准体被配置为球体,其被设置在坐标测量机的测量区域中且可以通过探针球以几乎任何希望角度接近。在本发明的范围内,校准体被视为坐标测量机的一个元件。
从DE 198 09 589 A1可知利用探头接近校准体(特别地,校准球)且沿着校准体的表面上的路径导引该探针球,其中校准体的表面不限于平面。从以该方式记录的测量值计算分配给探测器的校准数据。
在本发明的上下文中,现在已经发现,当通过常规探测力来校准探头时,校准体及其支撑物也以不再可忽略的程度变形。先前并未考虑这些变形。然而,它们还导致利用被推测为校准过的探头执行的所有进一步的测量的误差。
已知方法的另一缺点在于,由于将被分析的工件的柔性,也会发生误差。
发明内容
因此,本发明的一个目的是提供在开始提到的类型的方法和坐标测量机,以避免这些缺点。特别地,提供这样的方法和坐标测量机,其中在测量值中还考虑校准体及其支撑物的变形,以及作为替代物或附加地,工件的变形,并由此校正这些变形。
对于在介绍中提及的第一种方法,根据本发明通过以下步骤实现该目的:
a)确定在校准体的表面上的预定点处的机械柔性;
b)以数据记录的形式存储所确定的柔性;
c)通过探头逐点扫描所述校准体;以及
d)通过使用所述数据记录(N)校正在步骤c)中确定的所述探头的测量值,校准所述探头。
对于在介绍中提及的第二种方法,根据本发明通过以下步骤实现该目的:
a)确定在工件的表面上的预定点处的机械柔性;
b)以数据记录的形式存储所确定的柔性;
c)通过探头逐点扫描所述工件;以及
d)使用所述数据记录,校正在步骤c)中确定的所述探头的测量值。
对于在介绍中提及的坐标测量机,根据本发明通过适于执行根据上述类型的方法的设备而实现该目的。
由此完全实现本发明的目的。
利用关于所提到的第一种方法的发明,首次有可能补偿那些由于校准体的变形而导致发生的误差。利用所提到的第二种方法,使得对于工件的已知柔性有可能校正或校准,从而该柔性也不会导致测量误差。
在本发明的优选配置中,使用校准球作为所述校准体。
该配置具有这样的优点,即,可以采用已知的校准概念。
在步骤a)中,可替代地,可以通过对参考校准体的测量或者通过对校准体的模型的有限元法(FEM),有利地确定柔性。
此外,优选在步骤d)中,与所测量的测量力一起,计算在某点处的所确定的柔性,并且,特别地,在步骤d)之后,使用探头分析工件的表面,然后从在分析所述工件时确定的测量值减去计算出的柔性。
这些测量具有这样的优点,即,可以以简单的方式执行校正。
此外,当在步骤b)中以矩阵的形式存储所述数据记录时,获得特别简单的校正。
最后,当所述校准体被设置在预期的空间测量范围的中心处时,获得良好的效果。
取决于测量力的坐标测量机部件变形在该空间范围内达到其平均值。因此,本发明的所述细化具有这样的优点,即,在校准过程中已经考虑了这些变形。例如,当校准探针柔性时,部件变形被包含在探针的变形参数中,且可以由此在测量中被部分补偿。另一方面,在不校正校准体的柔性的条件下,过去,已试图尽可能短地夹持校准体,因此将校准体夹持在测量区域的边缘处。
附图说明
在说明书和附图中可以发现其他优点。
应理解,上面提到的以及下面尚未解释的所有特征不仅用于分别组合指示,而且用于其他组合或者单独使用,而不脱离本发明的范围。
本发明的示例性实施例体现在附图中,且将在下面的描述中更详细地进行解释。
图1示出根据现有技术的坐标测量机的高度示意性透视图;
图2放大示出了用于解释根据本发明的方法的校准的侧视图;以及
图3示出在根据本发明的方法的范围内使用的具有测量点的校准球的视图。
具体实施方式
在图1中,1表示公知的门架(portal)设计型的坐标测量机整体。坐标测量机1具有测量台2,在该测量台上设置门架3,以便其可以沿着所谓的y轴在水平方向上位移。在门架3的桥上,套管载体(sleeve carrier)沿着所谓的x方向在水平方向上移动。套管5又沿着所谓的z轴在垂直方向上在套管载体4中移动。x轴、y轴和z轴形成笛卡尔坐标系。
在套管5的下端处为探头6,该探头6终止于探针7,在探针7的自由端处存在探针球8。
探头6和探针7分别在图1中垂直向下延伸。探头6通常可以具有旋转式活接头,以便该探头6或者探针7还可以相对于垂直方向倾斜和/或关于垂直方向旋转。以该方式,通过使门架3、套管载体4和套管5位移,并且通过使探针7倾斜和旋转,可以从几乎任何希望的方向接近工件9上的任何希望的点,该工件9以预定测量间隔被夹持在测量台2上方。
通过探头6确定的测量值,也就是说,在工件9上的测量点的空间坐标,被传送到控制-测量-和评估单元10,该单元10又可以受到使用具有测量和评估计算机的控制装置11的用户的控制。
在测量台2上,优选在测量区域的中心,存在校准装置16,即使其被可拆性地连接到坐标测量机1,该校准装置16在本发明的范围内也被认为是坐标测量机1的元件。
校准装置16包括具有精确限定的形状的校准体,特别地,校准球18。由于已知其在测量区域内部的位置,可以校准探头6。通过使探针球8移动靠在校准球18的表面上的限定点处,并且比较由此测量的该点的空间坐标与该点的已知实际空间坐标,实现这一点。在对工件9的随后的测量中考虑所产生的差异。
图2放大示出了校准球18的探测过程。从(放大表示的)位置可以看出,探针已弯向左侧,并且校准球也已从其起始位置18弯曲(用虚线表示)到位移后的位置18’。同时,校准球的支撑物也已从22弯曲到22’。通过探针球8的接触,校准球18的表面26也会变形。总体上,在本发明的范围内,将这些弯曲过程称为“柔性”。
可以看出,探头6,特别地,探针7的与测量力相关的弯曲的过程不能离开校准球18的支撑物22的变形以及校准球本身的变形。由此,如果采用根据现有技术的工序且忽略该变形,那么已确定的张量将不仅包含探针7的变形,而且还包含校准球18的变形,从而通常为刚性的所有实际工件将被不正确地测量。
根据本发明,现在,最初在第一步骤中确定如上定义的柔性。这可通过借助于校准球18及其支撑物22的实际例子而通过实验室实验实现。或者,还可以通过有限元法(FEM)借助于对应的模型计算出该柔性。
在多个点28处在校准球18的表面26上确定柔性。这些点优选均匀地分布在表面26上,例如,如图2所示。根据校准球18的尺寸且根据希望的精度,可以在宽范围内设定点28的数目。
现在,在第二步骤中,将以该方式确定的柔性存储作为数据记录。这优选以矩阵的形式实现。
例如,如果在实验室实验中或者通过FEM计算已确定柔性在x和y方向上为0.001mm/N且在z方向上为0.0002mm/N,则获得以下矩阵表示的柔性:
N = 0.001 0.0 0.0 0.0 0.001 0.0 0.0 0.0 0.0002
为了确定在表面26上的每个点28的校正值k′(x′i,y′i,z′i,),将该矩阵N乘以力矢量F,并且从由探头6测量的测量值k(xi,yi,zi)减去该结果:
             k′=k-N·f
以该方式校正的测量值允许确定探头6的刚度。
这在图2中用校正站30表示。将矩阵N供给到校正站30的第一输入32。在第二输入34处施加探头6的测量值xi,yi和zi。可以从校正站30的输出36取得校正后的测量值xi′,yi′和zi′。
根据在探头系统中使用的传感器,可以从各种值确定力矢量:对于具有主动测量力发生器的探头,可以从这些发生器的参数,例如,在使用测量力线圈作为力发生器的情况下,从对测量力线圈施加的电压,确定力矢量。在校正站30的输入34处施加的测量值可以直接代表在该情况下的力值。
对于没有这样的致动器的探头,通常存在具有用于这些目的的充分已知的柔性的弹簧元件。于是,可以从传感器位移和该已知的柔性计算出测量力。对校正站30的输入34施加的测量值在该情况下可以代表传感器位移。在该情况下,校正站30包括从位移对力矢量的计算。
可替代地,还可以用用于力矢量的另外的输入来补充校正站30。
另外可替代地,为了确定柔性,还可以采用有限弹性元件(未示出),所述有限弹性元件被分别施加在校准球18的下端上和承载校准球18的轴(shaft)38上。于是,这些元件具有平移或旋转自由度。然后可以从测量力和从各自的点28的位置计算出有关这些有限弹性元件的力矩。然后可以通过用于有效力矩导致的倾斜和有效力导致的柔性值位移的柔性值描述每个节点。
利用同样是本发明的主题的对应的方法,如果已知工件9的柔性,则可以校正在实际测量期间工件9的变形。
这可通过最初确定在工件9的表面上的预定点处的机械柔性来实现。然后以数据记录的形式存储所确定的柔性。当分析工件9时,通过探头6逐点扫描工件9,并且使用数据记录N来校正已确定的探头6的测量值。

Claims (10)

1.一种用于校正坐标测量机(1)的测量值的方法,所述坐标测量机(1)具有探头(6)、校准体、以及用于基于所述坐标测量机的元件的预定变形参数来记录和校正由所述探头(6)记录的测量值(xi,yi,zi)的设备(10,11,30),其特征在于包括以下步骤:
a)确定在所述校准体的表面(26)上的预定点(28)处的机械柔性;
b)以数据记录(N)的形式在所述设备中存储所确定的柔性;
c)通过所述探头(6)逐点扫描所述校准体;以及
d)通过使用所述数据记录(N)校正在步骤c)中确定的所述探头(6)的测量值,校准所述探头(6)。
2.根据权利要求1的方法,其特征在于,使用校准球(18)作为所述校准体。
3.根据权利要求1或2的方法,其特征在于,在步骤a)中,通过对标准校准体的测量来确定所述柔性。
4.根据权利要求1或2的方法,其特征在于,在步骤a)中,通过对参考校准体模型的有限元法来确定所述柔性。
5.根据权利要求1至4中的一项或多项的方法,其特征在于,在步骤d)中,与所测量的测量力一起,计算在点(28)处的所确定的柔性。
6.根据权利要求4的方法,其特征在于,在步骤d)之后,使用所述探头(6)分析工件(9)的表面,然后从在分析所述工件(9)时确定的测量值减去计算出的柔性。
7.根据权利要求1至6中的一项或多项的方法,其特征在于,在步骤b)中,以矩阵的形式存储所述数据记录。
8.根据权利要求1至7中的一项或多项的方法,其特征在于,所述校准体被设置在限定的空间测量范围的中心处。
9.一种用于校正坐标测量机的测量值的方法,所述坐标测量机具有探头(6)、以及用于基于预定变形参数来记录和校正由所述探头(6)对工件(9)记录的测量值(xi,yi,zi)的设备(10,11,30),其特征在于包括以下步骤:
a)确定在所述工件(9)的表面上的预定点处的机械柔性;
b)以数据记录(N)的形式在所述设备中存储所确定的柔性;
c)通过所述探头(6)逐点扫描所述工件(9);以及
d)使用所述数据记录(N),校正在步骤c)中确定的所述探头(6)的测量值。
10.一种坐标测量机,其包括探头(6)以及用于基于预定变形参数来记录和校正由所述探头(6)记录的测量值(xi,yi,zi)的设备(10,11,30),其特征在于,所述设备(10,11,30)适于执行根据权利要求1至9中的一项或多项的方法。
CN2008801168322A 2007-10-19 2008-09-11 用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置 Expired - Fee Related CN101868691B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007051054A DE102007051054A1 (de) 2007-10-19 2007-10-19 Verfahren zum Korrigieren der Messwerte eines Koordinatenmessgeräts und Koordinatenmessgerät
DE102007051054.5 2007-10-19
PCT/EP2008/007474 WO2009052901A1 (de) 2007-10-19 2008-09-11 Verfahren zum korrigieren der messwerte eines koordinatenmessgeräts und koordinatenmessgerät

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101868691A true CN101868691A (zh) 2010-10-20
CN101868691B CN101868691B (zh) 2012-02-22

Family

ID=40130919

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008801168322A Expired - Fee Related CN101868691B (zh) 2007-10-19 2008-09-11 用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7918033B2 (zh)
EP (1) EP2201328B1 (zh)
JP (1) JP5449174B2 (zh)
CN (1) CN101868691B (zh)
AT (1) ATE519094T1 (zh)
DE (1) DE102007051054A1 (zh)
WO (1) WO2009052901A1 (zh)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102778388A (zh) * 2012-06-06 2012-11-14 美特斯工业系统(中国)有限公司 拉力试验机及其横截面测量台
CN104999325A (zh) * 2014-04-18 2015-10-28 苏州汉扬精密电子有限公司 分中球快速更换结构
CN105247319A (zh) * 2013-05-27 2016-01-13 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于校准坐标测量仪的装置和方法
CN105606046A (zh) * 2015-11-04 2016-05-25 苏州天准科技股份有限公司 一种复合式坐标测量机融合标定器
CN106500640A (zh) * 2016-10-11 2017-03-15 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 一种对发动机叶片测量装置进行校准的方法
CN107076552A (zh) * 2014-08-28 2017-08-18 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于工件的单点扫描的方法和坐标测量机
CN107782222A (zh) * 2016-08-26 2018-03-09 株式会社三丰 坐标校正方法和坐标测定装置
CN107883905A (zh) * 2016-09-30 2018-04-06 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于坐标测量机的旋转台
CN108351203A (zh) * 2015-11-13 2018-07-31 赫克斯冈技术中心 利用基准模块对坐标测量机进行的误差补偿
CN112197723A (zh) * 2020-09-29 2021-01-08 中国航发动力股份有限公司 一种坐标测量机的校核标准件及校核方法

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2013568B1 (en) * 2006-04-06 2009-07-29 Hexagon Metrology S.p.A. Horizontal-arm coordinate measuring machine
WO2009001385A1 (en) * 2007-06-28 2008-12-31 Hexagon Metrology S.P.A. Method for determining dynamic errors in a measuring machine
WO2010109975A1 (ja) * 2009-03-24 2010-09-30 コニカミノルタオプト株式会社 形状測定装置
GB201003363D0 (en) * 2010-03-01 2010-04-14 Renishaw Plc Measurement method and apparatus
JP5612386B2 (ja) * 2010-07-23 2014-10-22 株式会社ミツトヨ 形状測定装置
DE102011104228B4 (de) 2011-05-13 2014-12-31 Ludwig Nanopräzision GmbH Vorrichtung zur Längenmessung und Verwendung der Vorrichtung zur Bestimmung physikalischer Eigenschaften von Messobjekten
WO2013007285A1 (de) * 2011-07-08 2013-01-17 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Korrektur und/oder vermeidung von fehlern bei der messung von koordinaten eines werkstücks
GB201113715D0 (en) 2011-08-09 2011-09-21 Renishaw Plc Method and apparatus for inspecting workpieces
WO2013130991A1 (en) * 2012-03-02 2013-09-06 Hexagon Metrology, Inc. Coordinate measuring machine with support beam having springs
DE102012205599A1 (de) * 2012-04-04 2013-10-10 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Reduzieren von Fehlern einer Drehvorrichtung bei der Bestimmung von Koordinaten eines Werkstücks oder bei der Bearbeitung eines Werkstücks
CN102768016B (zh) * 2012-07-31 2015-07-15 爱佩仪中测(成都)精密仪器有限公司 坐标测量机精度补偿方法及装置
US8881611B2 (en) 2013-02-26 2014-11-11 The Boeing Company Automated inspection system
NL2010667C2 (en) * 2013-04-19 2014-10-21 Holding Prodim Systems B V A method of determining a target spatial coordinate using an apparatus comprising a movable hand-held probe and a portable base unit, and a related apparatus.
GB201308467D0 (en) 2013-05-10 2013-06-19 Renishaw Plc Method and Apparatus for Inspecting Workpieces
EP3192611A1 (en) * 2016-01-12 2017-07-19 Renishaw plc Calibration device and method
EP3470777B1 (en) * 2017-10-10 2021-09-29 Hexagon Technology Center GmbH System, method and computer program product for determining a state of a tool positioning machine
US11478939B2 (en) * 2018-09-17 2022-10-25 Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of Commerce Position verification sensor with discrete output
CN112729180A (zh) * 2019-10-14 2021-04-30 株式会社三丰 形状测量设备的控制方法和非易失性记录介质
JP2022075107A (ja) * 2020-11-06 2022-05-18 株式会社ミツトヨ 形状測定装置および異常検出方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4001433A1 (de) 1990-01-19 1991-07-25 Zeiss Carl Fa Korrekturverfahren fuer koordinatenmessgeraete
JPH04178509A (ja) * 1990-11-13 1992-06-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd 座標測定機の測定方法
DE4325602C1 (de) 1993-07-30 1994-09-29 Leitz Mestechnik Gmbh Verfahren zum taktilen Vermessen von Werkstücken
EP0684448B1 (de) * 1994-05-27 2004-03-24 Carl Zeiss Koordinatenmessung an Werkstücken mit Korrekturen von Beschleunigungen
EP0684447B1 (de) * 1994-05-27 2003-09-17 Carl Zeiss Koordinatenmessung an Werkstücken mit einer Korrektur des durch die Messkraft abhängigen Biegeverhaltens des Koordinatenmessgerätes
DE4436507A1 (de) * 1994-10-13 1996-04-18 Zeiss Carl Fa Verfahren zur Koordinatenmessung an Werkstücken
DE19805892A1 (de) 1997-06-12 1998-12-24 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objekts
DE19805832A1 (de) * 1998-02-13 1999-08-19 Dyneon Gmbh Mischungen aus thermoplastischen Fluorpolymeren
DE19809589B4 (de) 1998-03-06 2009-04-02 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zur Kalibrierung eines Tasters eines Koordinatenmeßgerätes
EP1158269B1 (de) * 2000-05-23 2005-07-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH Korrekturverfahren für Koordinatenmessgeräte
ATE323275T1 (de) * 2001-04-03 2006-04-15 Saphirwerk Ind Prod Verfahren zur bestimmung der grösse der deformation eines taststiftes
DE10153049B4 (de) 2001-10-26 2007-03-08 Wiest Ag 3D-Koordinationssystem
DE10157174A1 (de) 2001-11-22 2003-06-05 Wolfgang Madlener Verfahren und Vorrichtung zum räumlichen Vermessen von Werkstücken an einer Werkzeugmaschine
GB0329098D0 (en) * 2003-12-16 2004-01-21 Renishaw Plc Method of calibrating a scanning system
DE102004007968B4 (de) * 2004-02-18 2006-02-09 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum Antasten eines Werkstücks mit einem Koordinatenmessgerät
CN1250934C (zh) * 2004-04-30 2006-04-12 涂成生 一种机械产品尺寸误差的柔性检具检测方法
CN2779337Y (zh) * 2004-08-26 2006-05-10 北京新联铁科贸有限公司 轮对轴头自动检测装置
EP2224204B1 (de) * 2004-12-16 2021-05-26 Werth Messtechnik GmbH Verfahren zum Messen von Werkstückgeometrien mit einem Koordinatenmessgerät
DE202005013544U1 (de) 2005-04-15 2005-11-24 Madlener, Wolfgang Vorrichtung zum Vermessen von Werkstücken mit einem Messtaster an einer Werkzeugmaschine
JP5203028B2 (ja) * 2007-05-30 2013-06-05 株式会社ミツトヨ 形状測定機構の異常検出方法及び形状測定機構

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102778388A (zh) * 2012-06-06 2012-11-14 美特斯工业系统(中国)有限公司 拉力试验机及其横截面测量台
CN102778388B (zh) * 2012-06-06 2014-07-09 美特斯工业系统(中国)有限公司 拉力试验机及其横截面测量台
CN105247319A (zh) * 2013-05-27 2016-01-13 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于校准坐标测量仪的装置和方法
US10345101B2 (en) 2013-05-27 2019-07-09 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Device and method for calibrating a coordinate-measuring device
CN105247319B (zh) * 2013-05-27 2018-07-10 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于校准坐标测量仪的装置和方法
CN104999325A (zh) * 2014-04-18 2015-10-28 苏州汉扬精密电子有限公司 分中球快速更换结构
CN104999325B (zh) * 2014-04-18 2018-05-18 苏州汉扬精密电子有限公司 分中球快速更换结构
CN107076552A (zh) * 2014-08-28 2017-08-18 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于工件的单点扫描的方法和坐标测量机
CN105606046B (zh) * 2015-11-04 2018-03-16 苏州天准科技股份有限公司 一种复合式坐标测量机融合标定器
CN105606046A (zh) * 2015-11-04 2016-05-25 苏州天准科技股份有限公司 一种复合式坐标测量机融合标定器
CN108351203A (zh) * 2015-11-13 2018-07-31 赫克斯冈技术中心 利用基准模块对坐标测量机进行的误差补偿
CN108351203B (zh) * 2015-11-13 2020-10-30 赫克斯冈技术中心 提供精确坐标测量的方法、独立基准模块和坐标测量机
CN107782222A (zh) * 2016-08-26 2018-03-09 株式会社三丰 坐标校正方法和坐标测定装置
CN107883905A (zh) * 2016-09-30 2018-04-06 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 用于坐标测量机的旋转台
US11391566B2 (en) 2016-09-30 2022-07-19 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Rotary table for a coordinate measuring apparatus
CN106500640A (zh) * 2016-10-11 2017-03-15 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 一种对发动机叶片测量装置进行校准的方法
CN112197723A (zh) * 2020-09-29 2021-01-08 中国航发动力股份有限公司 一种坐标测量机的校核标准件及校核方法
CN112197723B (zh) * 2020-09-29 2022-03-08 中国航发动力股份有限公司 一种坐标测量机的校核标准件及校核方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5449174B2 (ja) 2014-03-19
DE102007051054A1 (de) 2009-04-30
WO2009052901A1 (de) 2009-04-30
EP2201328B1 (de) 2011-08-03
CN101868691B (zh) 2012-02-22
US20100319207A1 (en) 2010-12-23
JP2011501139A (ja) 2011-01-06
US7918033B2 (en) 2011-04-05
ATE519094T1 (de) 2011-08-15
EP2201328A1 (de) 2010-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101868691B (zh) 用于校正坐标测量装置的测量值的方法以及坐标测量装置
US7543393B2 (en) Method of calibrating a scanning system
CN101918792B (zh) 用于校准坐标测量装置的方法及其坐标测量机
EP2167912B1 (en) Compensation of measurement errors due to dynamic deformations in a coordinate measuring machine
JP5069287B2 (ja) 誤差補正の方法
US6591208B2 (en) Correction method for a coordinate measuring apparatus
US7246448B2 (en) Method for calibrating a probe
US7286949B2 (en) Method of error correction
CN109655023B (zh) 用于确定工具定位机器的状态的系统
US7254506B2 (en) Method of calibrating a scanning system
US7318284B2 (en) Method of calibrating a scanning system
KR102023560B1 (ko) 변형에 기인하는 동적 오차를 보상하기 위한 좌표 측정 기계의 수학 모델의 캘리브레이션 방법
JP5823306B2 (ja) 表面性状測定機の校正方法
CN105784266B (zh) 对接机构试验系统六分量力在线校准方法
US10429167B2 (en) Coordinate correction method and coordinate measuring machine
JP2008509386A (ja) 表面測定用プローブの使用法
EP0420416A2 (en) Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine
JP3531882B2 (ja) 三次元測定機の測定誤差補正装置
JP2010085360A (ja) 自動寸法測定装置
JP2000081329A (ja) 形状測定方法及び装置
US20230140328A1 (en) Speaker displacement detection calibration method and speaker displacement detection apparatus
JPH11281306A (ja) 座標測定機の校正値検出方法及びこの校正値を用いた形状データ校正方法
CN117415675A (zh) 一种基于四传感器R-test的机床转轴误差辨识方法
JP4299066B2 (ja) 接触式プローブ及びそれを用いた測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20120222

Termination date: 20200911

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee