CN101842839A - 光学拾取器以及使用所述光学拾取器的光信息存储介质系统 - Google Patents

光学拾取器以及使用所述光学拾取器的光信息存储介质系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种光学拾取器以及使用所述光学拾取器的光信息存储介质系统。一种光学拾取器以及具有所述光学拾取器记录和/或再现设备，所述光学拾取器包括：光源，其发射光束；物镜，其将所述发射的光束聚焦到多层光信息存储介质上；偏振依赖式光路改变器，其改变光束的传播路径；光电探测器，其检测从光信息存储介质反射的信号光；以及偏振元件，其设置在反射的信号光的光路上，并通过在信号光与噪声光交迭的至少部分中改变信号光的偏振态来在光接收平面上减少信号光和从相邻层反射的噪声光之间的干涉。

Description

光学拾取器以及使用所述光学拾取器的光信息存储介质系统
技术领域
本发明的方面涉及一种可应用于多层光信息存储介质的光学拾取器以及一种使用所述光学拾取器的光信息存储介质系统。
背景技术
通过使用光学记录和/或再现设备将数据记录到光信息存储介质(例如光盘)和/或从光信息存储介质再现数据，所述光学记录和/或再现设备根据将存储数据的量而使用具有不同波长的激光束和具有不同数值孔径(NA)的物镜。即，随着将存储在光盘中的数据的量的增加，使用具有更短波长的光源和具有更高NA的物镜。例如，压缩盘(CD)使用具有780nm波长的光束以及NA为0.45的物镜。数字多用途光盘(DVD)通常使用具有650nm波长的光束以及NA为0.6的物镜。蓝光光盘(BD)通常使用具有405nm波长的光束以及NA为0.85的物镜。
换句话说，使用通过用物镜聚焦激光束而获得的光斑将数据记录到光盘和/或从光盘再现数据的光学记录和/或再现设备中的记录容量与由聚焦引起的光斑的尺寸成反比。另外，被聚焦的斑的尺寸S由正使用的激光束的波长λ以及物镜的NA来确定，如式1所给出：
[式1]
S∝k*λ/NA，
其中，k是取决于光学系统的常数并且通常是1-2之间的值。
因此，为了增加光盘的密度，必须减小形成在光盘上的光斑尺寸S。为了减小光斑尺寸S，需要减小激光束的波长λ或者增加NA，如图1所示。
然而，需要昂贵的部件来减小激光束的波长λ。另外，当增加物镜的NA时，焦深(focal depth)以NA的平方来减小并且慧形像差以NA的立方增加。因此，在通过利用上述方法减小光斑的尺寸S来增加光盘密度方面存在限制。
与传统光盘相比，虽然DVD、高分辨率DVD(HD-DVD)以及BD是具有高记录容量的高密度记录介质，但是在增加光盘记录容量的方面仍存在持续不断地的需求。因此，为了显著增加光盘的记录容量，使用在盘的一侧或两侧具有两个或更多个记录层的多层光盘。
即，使用多层光盘以增加光学记录和/或再现设备的记录容量。然而，在这种情况下，从与记录和/或再现层相邻的层反射的光束与信号光干涉以致于产生了噪声。
差分推挽(differential push-pull，DPP)方法通常用作可记录光盘的循迹(tracking)方法，所述差分推挽方法能够校正在偏心光盘(eccentric opticaldisk)再现期间产生的推挽信号的偏移量(offset)。根据DPP方法，通过使用光栅，光束通常被分成三道光束：0级光束(主光束)和±1级光束(副光束)。取决于光使用效率的分开的光束的光量比率(即，-1级：0级：+1级)大致是1∶10∶1。
当使用DPP方法来从具有多个记录层的多层光盘(例如，具有两个记录层的双层光盘)检测循迹误差信号时，循迹误差信号在从相邻层反射的0级光束与从记录和/或再现层反射的±1级光束交迭时劣化。即，虽然在从记录和/或再现层反射的0级光束以及从相邻层反射的0级光束之间的光量差异很大，但是从记录和/或再现层反射的±1级光束以及从相邻层反射的0级光束之间的光量差异相对小。结果，在DPP方法中，相邻层的0级光束显著地影响用于检测循迹误差信号的差分信号(即，相对于副光束的副推挽(SPP)信号)。
为了防止SPP信号由于层间干涉光变得不稳定，与利用副光束相对的仅仅利用主光束的单光束循迹方法已经在公开号为2006-054006的日本专利中公开。然而，在单光束循迹方法中，具有大光量的信号光没有摆脱层间干涉。当实施多层光盘时，层间间隔进一步减小，因此，相对于主光束的推挽检测信号(即，主推挽(MPP)信号)进一步劣化。因此，需要一种改善多层光盘中的MPP信号劣化的方法。
发明内容
技术问题
本发明的各方面提供一种光学拾取器以及使用所述光学拾取器的光信息存储介质系统，所述光学拾取器通过减弱被层间间隔短的多层光信息存储介质的记录和/或再现层反射的信号光和从相邻层反射的噪声光之间产生的干涉来改善信噪比(SNR)，并因此仅仅利用一道光束同时执行循迹。
技术方案
根据本发明的各方面，提供了一种记录和/或再现设备的光学拾取器，所述记录和/或再现设备将数据记录到多层光信息存储介质和/或从多层光信息存储介质再现数据，所述光学拾取器包括：光源，其发射光束；物镜，其将所述发射的光束聚焦到光信息存储介质上；偏振依赖式光路改变器，其根据光束的偏振来改变光束的传播路径；光电探测器，其检测通过在光信息存储介质的信号层上聚焦的光束的反射产生的信号光；以及偏振元件，其设置在信号光的光路上以通过在信号光与噪声光交迭的至少部分中改变信号光的偏振态来在光接收平面上减少信号光和噪声光之间的干涉，所述信号光从光信息存储介质反射、经过物镜并向光电探测器传播，所述噪声光通过光束被与信号层相邻的层的反射产生。
偏振元件可包括偏振改变区域以改变信号光的中心部分的偏振，所述偏振改变区域可以是半波片或随机偏振器。
信号光可从光信息存储介质被衍射成0级衍射光、-1级衍射光和+1级衍射光，并可包括第一交迭区域、第二交迭区域和非交迭区域，0级衍射光与+1级衍射光在所述第一交迭区域交迭，0级衍射光和-1级衍射光在与所述第一交迭区域分离的所述第二交迭区域交迭，所述非交迭区域由0级衍射光形成，偏振元件改变经过与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域的光束的偏振。
偏振元件可包括位于与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域中的偏振改变区域，以改变经过偏振改变区域的0级衍射光的偏振，所述偏振改变区域可以是半波片或随机偏振器。
光电探测器包括：第一光接收部分，其检测信号光的非交迭区域的中心部分；第二光接收部分，其检测第一交迭区域；第三光接收部分，其检测第二交迭区域；第四和第五光接收部分，其检测在第一到第三光接收部分一侧的信号光的第一剩余部分，从而使信号光的第一剩余部分被第一分隔线分成两部分；以及第六和第七光接收部分，其检测在第一到第三光接收部分另一侧的信号光的第二剩余部分，从而使信号光的第二剩余部分被第二分隔线分成两部分，所述第二分隔线与第一分隔线对齐，其中，第二光接收部分、第四光接收部分以及第六光接收部分被设置在第一排中，第三、第五和第七光接收部分被设置在第二排中。
第二光接收部分和第三光接收部分可分别被第三和第四分隔线分成两部分，所述第三和第四分隔线与第一和第二分隔线交叉，从而使光电探测器具有分成九部分的结构。
第一光接收部分被连接第一和第二分隔线的分隔线以及连接第三和第四分隔线的分隔线分成四部分。
第一光接收部分的沿直线布置方向的宽度可小于第二和第三光接收部分的宽度。
第一光接收部分的沿直线布置方向的宽度可以等于或大于第二和第三光接收部分的宽度。
根据本发明的另一方面，提供了一种光信息存储介质系统，包括：主轴电机，其旋转光信息存储介质；上述光学拾取器，其在光信息存储介质的径向上被设置成是可移动的以将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据；驱动部分，其驱动主轴电机以及光学拾取器；以及控制部分，其控制光学拾取器的聚焦和循迹伺服。
根据本发明的另一方面，提供了一种光信息存储介质系统，包括：上述光学拾取器，其将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据；循迹误差信号检测部分，其从光学拾取器的光电探测器的检测信号检测循迹误差信号，所述循迹误差信号检测部分包括：第一操作单元，其检测第二和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；第二操作单元，其检测第四和第六光接收部分的检测信号的和信号以及第五和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；以及第三操作单元，其检测从第一和第二操作单元获得的第一和第二差分信号之间的差分信号，以产生循迹误差信号。
光信息存储介质系统还可包括再现信号检测部分，所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号。
根据本发明的另一方面，提供了一种光信息存储介质系统，包括：上述光学拾取器，其将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据；第一循迹误差信号检测部分，其从光学拾取器的光电探测器的检测信号中检测循迹误差信号，所述第一循迹误差信号检测部分包括：第一操作单元，其检测第二和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；第二操作单元，其检测第四和第六光接收部分的检测信号的和信号以及第五和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；以及第三操作单元，其检测从第一和第二操作单元获得的第一和第二差分信号之间的差分信号，以产生第一循迹误差信号。
所述光信息存储介质系统还可包括第二循迹误差信号检测部分，其从光学拾取器的光电探测器的检测信号中检测第二循迹误差信号，其中，所述第二循迹误差信号检测部分从下列和信号检测差分相位信号：第二光接收部分的一个分区的检测信号和与所述第二光接收部分的一个分区相邻的第四光接收部分的检测信号的和信号、第二光接收部分的另一分区的检测信号和与所述第二光接收部分的另一分区相邻的第六光接收部分的检测信号的和信号、第三光接收部分的一个分区的检测信号和与所述第三光接收部分的一个分区相邻的第五光接收部分的检测信号的和信号以及第三光接收部分的另一分区的检测信号和与所述第三光接收部分的另一分区相邻的第七光接收部分的检测信号的和信号。
所述光信息存储介质系统还可包括再现信号检测部分，所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号。
根据本发明的另一方面，提供了一种光信息存储介质系统，包括：光学拾取器，其将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据；第一循迹误差信号检测部分，其从光学拾取器的光电探测器的检测信号中检测循迹误差信号；再现信号检测部分，其检测信息再现信号，其中，所述第一循迹误差信号检测部分包括：第一操作单元，其检测第二和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；第二操作单元，其检测第四和第六光接收部分的检测信号的和信号以及第五和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；以及第三操作单元，其检测从第一和第二操作单元获得的第一和第二差分信号之间的差分信号，以产生第一循迹误差信号，所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号。
光信息存储介质系统还可包括聚焦误差信号检测部分，其从下列检测信号中检测聚焦误差信号：第二光接收部分的分区中的一个和与所述第二光接收部分的分区中的一个相邻的第四光接收部分的检测信号、第二光接收部分的分区中的另一个和与所述第二光接收部分的分区中的另一个相邻的第六光接收部分的检测信号、第三光接收部分的分区中的一个和与所述第三光接收部分的分区中的一个相邻的第五光接收部分的检测信号以及第三光接收部分的分区中的另一个和与所述第三光接收部分的分区中的另一个相邻的第七光接收部分的检测信号。
光信息存储介质系统还可包括第二循迹误差信号检测部分，其利用用于检测聚焦误差信号的第二到第七光接收部分的检测信号来检测差分相位信号。
光信息存储介质系统还可包括第一到第四加法器以获得下列和信号：第二光接收部分的分区中的一个的检测信号和与第二光接收部分的分区中的所述一个相邻的第四光接收部分的检测信号的第一和信号、第二光接收部分的分区中的另一个的检测信号和与第二光接收部分的分区中的所述另一个相邻的第六光接收部分的检测信号的第二和信号、第三光接收部分的分区中的一个的检测信号和与第三光接收部分的分区中的所述一个相邻的第五光接收部分的检测信号的第三和信号，以及第三光接收部分的分区中的另一个的检测信号和与第三光接收部分的分区中的所述另一个相邻的第七光接收部分的检测信号的第四和信号，利用第一到第四和信号检测信息再现信号、聚焦误差信号以及差分相位信号中的至少一个(例如，仅仅信息再现信号，或者信息再现信号与聚焦误差信号)。
根据本发明的另一方面，提供了一种光信息存储介质系统，包括：如上所述的光学拾取器，其将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据；第一循迹误差信号检测部分，其从光学拾取器的光电探测器的检测信号中检测第一循迹误差信号；再现信号检测部分，其检测信息再现信号，聚焦误差信号检测部分，其检测聚焦误差信号，其中，所述第一循迹误差信号检测部分包括：第一操作单元，其检测第二和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；第二操作单元，其检测第四和第六光接收部分的检测信号的和信号以及第五和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；以及第三操作单元，其检测从第一和第二操作单元获得的第一和第二差分信号之间的差分信号，以产生第一循迹误差信号，所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号。聚焦误差信号检测部分，其从下列检测信号中检测聚焦误差信号：第二光接收部分的分区中的一个、与所述第二光接收部分的分区中的一个相邻的第四光接收部分、以及与所述第二光接收部分的分区中的一个和第四光接收部分相邻的第一光接收部分的一个分区的检测信号；第二光接收部分的分区中的另一个、与所述第二光接收部分的分区中的另一个相邻的第六光接收部分、以及与所述第二光接收部分的分区中的另一个和第六光接收部分相邻的第一光接收部分的一个分区的检测信号；第三光接收部分的分区中的一个、与所述第三光接收部分的分区中的一个相邻的第五光接收部分、以及与所述第三光接收部分的分区中的一个和第五光接收部分相邻的第一光接收部分的一个分区的检测信号；第三光接收部分的分区中的另一个、与所述第三光接收部分的分区中的另一个相邻的第七光接收部分、以及与所述第三光接收部分的分区中的另一个和第七光接收部分相邻的第一光接收部分的一个分区的检测信号。
根据本发明的另一方面，提供了一种记录和/或再现设备的光学拾取器，其包括物镜和光电探测器以将数据记录到多层光信息存储介质和/或从多层光信息存储介质再现数据，所述光学拾取器包括：偏振元件，其设置在信号光的光路上以通过在信号光与噪声光交迭的至少部分中改变信号光的偏振态来在光接收平面上减少信号光和噪声光之间的干涉，所述信号光从光信息存储介质反射、经过物镜并向光电探测器传播，所述噪声光通过从与信号层相邻的层的反射产生。
根据本发明的另一方面，提供了一种在记录和/或再现设备中减少从多层光信息存储介质的信号层反射的信号光与被与信号层相邻的层反射的噪声光之间的干涉的方法，所述记录和/或再现设备包括物镜和光电探测器以将数据记录到多层光信息存储介质和/或从多层光信息存储介质再现数据，所述方法包括：在被信号层反射之后并在被光电探测器检测之前，在信号光与噪声光交迭的信号光的至少一部分中改变信号光的偏振态。
本发明的另外的方面和/或优点的一部分将在随后的描述中说明，一部分将从所述描述中明显得出，或者可通过实施本发明来获知。
有益效果
如上所述，根据本发明的光学拾取器和光信息存储介质系统，通过减少从具有短层间间隔的多层光信息存储介质的记录和/或再现层反射的信号光与从另一层反射的噪声光之间产生的干涉，改善了SNR，同时，仅利用一道光束执行循迹。
附图说明
从下面结合附图的对实施例的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将会变得清楚和更容易理解，在附图中：
图1示出了根据本发明实施例的光学拾取器的光学构造；
图2示出了图1的偏振元件的结构以及在经过偏振元件之后形成在光接收表面上的光束的形状；
图3示出了根据本发明实施例的信号检测电路和光电探测器的结构；
图4示出了根据本发明另一实施例的信号检测电路和光电探测器的结构；
图5示出了根据本发明又一实施例的信号检测电路和光电探测器的结构；
图6示出了根据本发明实施例的使用光学拾取器的光信息存储介质系统的整体结构。
具体实施方式
现在将详细说明本发明的当前实施例，其示例在附图中示出，其中，相同的标号始终指示相同的元件。下面通过参照附图来描述实施例以解释本发明。
从光信息存储介质(例如光盘)反射并且入射在光接收部分上的信号光的场可由式2来限定：
[式2]
Es＝As exp[-i(ω0t+φs)]，
其中，As是信号光的场的幅值，Es是信号光的场，φs是信号光的相位。
从另一层反射并入射在光接收部分上的噪声光可由式3来限定：
[式3]
En＝An exp[-i(ω0t+φn)]，
其中，An是噪声光的场的幅值，En是噪声光的场，φn是噪声光的相位。
当信号光和噪声光结合时的光的强度P可由数学式4限定：
[式4]
P＝|Es+En|2。
式5示出了在信号光和噪声光结合时根据时间的强度P(t)：
[式5]
P ( t ) = P s + P n + 2 P s P n cos ( φ s - φ n ) cos θ ,
其中，Ps是信号光强度的幅值，Pn是噪声光强度的幅值。根据式5，当信号光的偏振和噪声光的偏振匹配时，cos q的值最大化。式5的值根据在信号光和噪声光之间产生的相位差的改变而变化。
如式5中示出，当噪声光与信号光干涉时，即使当从其它层反射的噪声光的绝对大小小时，也会产生低频波的DC波动(DC fluctuation)。例如，假定信号光的量是100％且噪声光的量是1％，虽然噪声光的绝对量与信号光的绝对量相比小到可以忽略，但是干涉光的量是
[式6]
2 100 * 1 cos ( φ s - φ n ) ,
并且在干涉光的量的最大值(当cos q＝1时)的情况下大约增加20％。作为低频波的DC波动分量的干涉光导致具有比再现信号(即，RF信号)的频波分量低的频波分量的循迹信号劣化。信号光与从其他层反射的噪声光之间的干涉被称为层间干涉。由层间干涉产生的噪声分量被称为层间干涉噪声。
在作为岸/沟式(land/groove type)光信息存储介质的常规循迹方法的差分推挽(DPP)方法中，层间干涉噪声极大地影响具有小于主推挽(MPP)信号的量的信号光的量的副推挽(SPP)信号。这是因为当将SPP信号放大k倍以去除循迹误差信号的DC偏移分量时，层间干扰噪声也被放大k倍，从而使DC波动直接施加到整个DPP信号。
为了稳定与层间干涉有关的循迹信号，如在公开号为2006-054006的日本专利中公开的利用单光束的传统方法针对层间干涉排除了SPP信号的使用，从而可改善循迹信号的稳定性。然而，由于MPP信号也受层间干涉影响，所以所述方法没有摆脱层间干涉。当实施多层光信息存储介质时，层间间隔会进一步减小。随着层间间隔减小，MPP信号进一步劣化。
式6涉及在将信号层设置在相邻层之间时信号光与噪声光的根据时间的强度。
[式7]
P ( t ) = P s + P n 1 + P n 2 + 2 P s P n 1 cos ( φ s - φ n 1 ) cos θ
+ 2 P s P n 2 cos ( φ s - φ n 2 ) cos θ + 2 P n 1 P n 2 cos ( φ n 1 - φ n 2 ) cos θ + . . . ,
其中，Pn1是通过位于例如信号层(记录和/或再现层)的前面的第一相邻层产生的噪声光束的强度，Pn2是通过位于例如信号层(记录和/或再现层)的后面的第二相邻层产生的噪声光的强度，并且φn1和φn2是由第一相邻层和第二相邻层分别产生的噪声光的相位。随着形成在光信息存储介质一侧上的记录层的数量的增加，层间干涉噪声增加，并且层间干涉噪声的分量的数量增加。
在根据本发明的各方面的光信息存储介质系统中，通过不仅不包括SPP信号的使用而且去除影响MPP信号的层间干涉来提供一种更稳定的单光束循迹方法。
作为一个例子，双层光信息存储介质具有两层L1和L0以增加存储密度，其中，第二层L1更接近光信息存储介质的光入射表面，第一层L0离光入射表面更远。此外，第一层L0具有30％的反射量以及70％的透射量，而第二层L1具有95％的反射量和少于5％的透射量。由于这样的盘的特性，在第二层L1的记录和/或再现期间，通过第二层L1的光束在第一层L0处离焦(defocused)从而形成光反射的量。相反，在第一层L0的记录和/或再现期间，在第二层L1离焦的光反射量出现。通过尺寸增加的光斑中的离焦，在光电探测器上接收由相邻层反射的光。当光随着由从相邻层反射引起的光斑尺寸的增加而扩散(spread)时，信号光受到离焦光的反射的影响较小。当由从相邻层反射引起的光束的光斑尺寸减小但仍大于信号光的光斑尺寸时，信号光受到离焦光反射的影响相对较大。
对于当前的双光学数字多用途光盘(DVD)，由于层间间隔足够远，所以相邻层的光反射离焦并在光电探测器上形成相对大的尺寸。因此，信号光没有受到大的影响。然而，对于更高密度的光信息存储介质(诸如蓝光光盘(BD))，物镜的数值孔径(NA)增加。为此，调节光信息存储介质的厚度以防止由于光信息存储介质的倾斜而导致的性能劣化。具体地说，光信息存储介质的厚度可被减少到约0.1mm。
另外，当高密度光信息存储介质具有多个记录层时，层间间隔大致按与焦深成比例地确定。由于焦深与λ/NA2成比例，所以DVD双光盘的层间间隔大约是55mm。对于BD，其层间间隔比DVD的层间间隔小得多(即，大约小于DVD的层间间隔的一半)。另外，随着沉积在一侧上的记录层的数量的增加，层间间隔进一步减小。
因此，当具有比DVD的密度高的密度的光信息存储介质被构造为具有多个记录层(例如，二层或四层)时，由于层间间隔相对小，所以相邻层的光反射以比DVD的尺寸小的尺寸形成在光电探测器上，因此会大大影响再现信号光。
本发明的各方面基于这样的原理：随着在上面的式5或式6中干涉光的大小分量减小，来自相邻层的噪声光渐渐减小对信号光的影响。当信号光和噪声光的偏振改变时，在式5或式6中干涉光的大小分量中的cos q的值相应地改变。因此，如果所述光学系统被构造为减少cos q的值，则可以减小噪声光对信号光的影响。
图1示出了根据本发明实施例的光学拾取器10的光学构造。参照图1，光学拾取器10包括光源11、物镜30、偏振依赖式光路改变器、光电探测器19以及偏振元件40。光源11发射预定波长的光束。物镜30将入射光束聚焦在具有多个记录层的光信息存储介质1上。偏振依赖式光路改变器改变入射光的传播路径。光电探测器19接收从光信息存储介质1反射的光束。偏振元件40减少在光接收平面上信号光与从相邻层反射的光束(即，噪声光束)之间的干涉。
光学拾取器10还包括准直透镜13，所述准直透镜13设置在光源11和物镜30之间的光路上以将从光源11发射的发散光准直成平行光。在图1中，准直镜13布置在偏振依赖式光路改变器的偏振分光器15与物镜30之间。进一步将检测透镜18设置在偏振依赖式光路改变器与光电探测器19之间的光路上，以使从光信息存储介质反射的光束以合适的光斑尺寸被光电探测器19接收。检测透镜18可以是散光透镜，以用散光方法检测聚焦误差信号。此外，在图1中示出的光学拾取器10中，反射镜14改变光束的光路。
光源11设置为产生并发射具有适合光信息存储介质1的类型的波长的激光束。例如，发射满足BD或HD-DVD标准的蓝光波段的光束(例如大约405nm波长的光束)的半导体激光器可用作光源11。
物镜30设置为实现适合光信息存储介质1的类型的NA。例如，当光信息存储介质1是BD时，物镜30可提为实现0.85的NA。当光信息存储介质1是HD-DVD时，物镜30可设置为实现0.65的NA。另外，例如，当兼容式地采用BD或HD-DVD时，物镜30可设置为实现0.85和0.65的有效NA或0.85的有效NA。当物镜30设置为实现0.85的有效NA时，可进一步提供另外的部件(未示出)以调节NA。
偏振依赖式光路改变器布置在光源11和物镜30之间的光路上以改变入射光的传播路径。偏振依赖式光路改变器包括偏振分光器15和四分之一波片17。然而，应当理解，根据其他的方面，不同的或另外的组件可以用作偏振依赖式光路改变器以改变入射光的传播路径。偏振分光器15根据入射光的偏振来透射或者反射入射光。四分之一波片17改变入射光的偏振态。在图1中示出的光学拾取器10中，从光源11发射的一种偏振的光束经过偏振分光器15并向光信息存储介质1传播。相反，从光信息存储介质1反射的光束被偏振分光器15反射并被光电探测器19接收。四分之一波片17将从偏振分光器15输出的第一线偏振光束变成第一圆偏振光束，并且将从光信息存储介质1反射的与第一圆偏振不同的第二圆偏振光束变成与第一线偏振垂直的第二线偏振光束。在被光信息存储介质1反射时，第一圆偏振光束变成第二圆偏振光束。
当光路改变器被构造成偏振依赖式的类型，从光信息存储介质1反射、经过光路改变器，进而沿着光路向光电探测器19传播的光束变成特定偏振(例如，第二线偏振)的光束。
偏振元件40通过改变在信号光与被相邻层反射的光束交迭的部分中的至少一部分中的光的偏振态来减少在光接收表面(例如光电探测器19的表面)上的信号光与噪声光之间的干涉。偏振元件40布置在从光信息存储介质1的记录和/或再现层反射、经过物镜30并向光电探测器19传播的信号光的光路上。
图2示出了图1的偏振元件40的结构以及在光束经过偏振元件40后形成在光接收平面(例如光电探测器19的表面)上的光束形状。图2的光束的形状显示了在相邻层位于信号层(即记录和/或再现层)前面或远离信号层时入射到偏振元件40以及光接收表面上的光的分布。参照图2，当信号光SB被光信息存储介质1反射时，信号光SB被衍射成0级衍射光、-1级衍射光和+1级衍射光。被光信息存储介质1反射的信号光SB，包括第一交迭区域SB1、与所述第一交迭区域SB1分离的第二交迭区域SB2以及非交迭区域SBm，0级衍射光与+1级衍射光在所述第一交迭区域SB1交迭，0级衍射光和-1级衍射光在所述第二交迭区域SB2交迭，仅由0级衍射光形成非交迭区域SBm。
在偏振元件40中，大于信号光SB的噪声光NB0被位于信号层前的相邻层反射，小于信号光SB的噪声光NB1被位于信号层后方的相邻层反射。
偏振元件40包括在偏振元件40的中心区域的偏振改变区域41，以改变经过与信号光的非交迭区域SBm的中心区域对应的区域的光束的偏振。偏振元件40还包括位于偏振元件40中的偏振改变区域41外的偏振未改变区域43，所述偏振未改变区域43由普通的透明材料形成，以透射入射光而不改变入射光的偏振。根据其他的方面，偏振元件40可仅包括偏振改变区域41。
偏振改变区域41将经过它的光束的偏振改变成与经过未改变区域43的光束的偏振不同。偏振改变区域41可由半波片构成。在这种情况下，偏振改变区域41将从光路改变器的偏振分光器15传播的特定线偏振光束变成正交地不同的线偏振光束。因此，经过偏振改变区域41和经过非改变区域43的光束具有彼此正交的偏振从而不相互影响。
然而，应当理解，本发明的各方面不限于半波片。例如，偏振改变区域41可被替换地实施为随机偏振器(即，消偏器)。在这种情况下，经过实施为随机偏振器的偏振改变区域41的光束与经过未改变区域43的光束可不相互影响。
当偏振改变区域41如上所述地形成在偏振元件40的中心部分时，可使经过偏振改变区域41的光束的偏振和没有经过偏振改变区域41(即，经过未改变区域43)的光束的偏振彼此不同。
在图2右侧的图像通过追踪光线显示了经过偏振元件40并形成在光接收平面上的光束的形状。为了区别经过偏振改变区域41的光线与其他的光线，由经过偏振改变区域41的光线形成的区域被指示为在光接收平面中的空白区域。信号层反射的光束(信号光)经过检测透镜18(例如散光透镜)并在焦距内形成光束，同时从相邻层反射的光束散开(disperse)。如在图2中所见，在除了信号光的内部区域之外的大多数区域中的光束的偏振态可与相邻层反射的光束(即，噪声光)不同。因此，上面的式5或6中的cos q的值可以减小。当经过偏振改变区域41和未改变区域43的光束的偏振态彼此正交时，cos q的值可以变成0。此外，当经过偏振改变区域41的光处于随机偏振状态时，cos q的值可接近0。因此，可以去除或减小层间干涉噪声。
如上所述，通过提供偏振元件40，可以减小在光接收平面上的信号光和噪声光之间的干涉。同时，尽管可以通过偏振元件40减小或去除层间干涉噪声，但是由于信号光的内部区域的偏振态仍与相邻层反射的噪声光的偏振态匹配，所以可能没有完全去除层间干涉的影响。因此，为进一步去除或减小层间干涉的影响，信号检测电路100和光电探测器19的结构(如图3所示)可如下面的实施例中形成。
图3示出了根据本发明实施例的信号检测电路100和光电探测器19的结构。应当理解，根据本发明的各方面，光信息存储介质系统可包括参照图1示出和描述的光学拾取器10以及信号检测电路100。
参照图3，光电探测器19包括：第一光接收部分50，用来检测信号光的非交迭区域SBm的中心部分；第二光接收部分51，用来检测包括第一交迭区域SB1的部分；第三光接收部分53，用来检测包括第二交迭区域SB2的部分；第四光接收部分54和第五光接收部分55，用来检测信号光在第一到第三光接收部分50、51和53的一侧的其余部分，从而所述其余部分由第一分隔线l1分开；第六光接收部分56和第七光接收部分57，用来检测信号光在第一到第三光接收部分50、51和53的另一侧的其余部分，从而所述其余部分由与第一分隔线l1对齐的第二分隔线l2分开。第二、第四和第六光接收部分51、54和56可以布置在一行中，而第三、第五和第七光接收部分53、55和57可被布置在另一行中。
第二光接收部分51和第三光接收部分53可分别被第三分隔线l3和第四分隔线l4分成两个部分，所述第三分隔线l3和第四分隔线l4彼此对齐并沿与第一和第二分隔线l1和l2交叉的方向。因此，光电探测器19可具有如图3所示的被分成9个部分的结构。第一光接收部分50的沿直线布置方向的宽度可以小于第二光接收部分51和第三光接收部分53的宽度。
信号检测电路100可包括第一循迹误差信号检测部分110，以利用DPP方法从光电探测器19的第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的检测信号中检测循迹误差信号。信号检测电路100还可包括再现信号检测部分130，以通过对第一到第七光接收部分50、51、53、54、55、56和57的检测信号求和来检测信息再现信号。此外，信号检测电路100甚至还可包括聚焦误差信号检测部分170，以从第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的检测信号中检测聚焦误差信号(FES)。信号检测电路100还可进一步包括第二循迹误差信号检测部分150，以通过使用差分相位检测方法从第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的检测信号中检测循迹误差信号。
在本实施例中，第一循迹误差信号检测部分110包括第一操作单元111、第二操作单元113以及第三操作单元115。第一操作单元111检测与第二光接收部分51和第三光接收部分53的检测信号(A1，B1)和(C1，D1)的推挽信号对应的第一差分信号MPP′(即(A1+B1)-(C1+D1))。第二操作单元113检测第二差分信号SPP′(即(A2+B2)-(C2+D2))，所述第二差分信号SPP′与第四光接收部分54和第六光接收部分56的检测信号A2和B2的和信号(A2+B2)以及第五光接收部分55和第七光接收部分57的检测信号D2和C2的和信号(C2+D2)的推挽信号对应。在DPP方法中，第三操作单元115检测从第一操作单元111和第二操作单元113获得的第一差分信号MPP′和第二差分信号SPP′的差分信号并且产生循迹误差信号。另外，第一循迹误差信号检测单元110还可包括增益控制单元117，例如，所述增益控制单元117将预定的增益k施加到从第二操作单元113获得的第二差分信号SPP′。在这种情况下，从第三操作单元115输出的循迹误差信号TES可以是MPP′-k·SPP′。第二操作单元113可对应于DC偏移检测单元。
再现信号检测部分130通过对第一到第七光接收部分50、51、53、54、55、56和57的所有检测信号求和来检测信息再现信号RF Sum。
当信号光的偏振与从相邻层反射的光束偏振匹配时，图3中示出的位于分成九个部分的光电探测器19的中心的第一光接收部分50是产生层间干涉噪声的部分。因此，第一光接收部分50的检测信号RF没有用于检测所述循迹信号，而是用于检测信息再现信号RF Sum。
聚焦误差信号检测部分170利用从沿第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的一个对角线方向定位的光接收部分检测的信号的和信号与从沿第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的另一对角线方向定位的光接收部分检测的信号的和信号的差分信号来检测聚焦误差信号FES。
在差分相位检测方法中，第二循迹误差信号检测部分150被构造为检测循迹误差信号。差分相位信号由差分相位检测(DPD)块利用第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的检测信号来检测，所述第二到第七光接收部分51、53、54、55、56和57的检测信号还用于检测聚焦误差信号FES，如上面所描述。
为检测信息再现信号RF Sum、聚焦误差信号FES以及差分相位信号DPD，使用第二光接收部分51的分区中的一个区域和与它相邻的第四光接收部分54的检测信号A1和A2的第一和信号(A1+A2)、第二光接收部分51的分区中的另一个和与它相邻的第六光接收部分56的检测信号B1和B2的第二和信号(B1+B2)、第三光接收部分53的分区中的一个和与它相邻的第五光接收部分55的检测信号D1和D2的第三和信号(D1+D2)以及第三光接收部分53的分区中的另一个和与它相邻的第七光接收部分57的检测信号C1和C2的第四和信号(C1+C2)。
因此，信号检测电路100可包括在信息再现信号检测部分130、聚焦误差信号检测部分170和/或第二循迹误差信号检测部分150的前端的第一到第四加法器101、103、107和105，以检测第一到第四和信号(A1+A2)、(B1+B2)、(D1+D2)和(C1+C2)。在这种情况下，信息再现信号RF Sum、聚焦误差信号FES以及差分相位信号DPD可通过使用第一到第四和信号来检测。当提供第一到第四加法器101、103、107和105时，可将第一到第四和信号输入到循迹误差信号检测部分150的DPD块。
如上所述，根据本发明的各方面，首先可以通过将信号光的偏振态改变为与从相邻层反射的噪声光的偏振态不同来去除层间干涉噪声。此外，其次可以通过从通过图3所示的光电探测器19和信号检测电路100对循迹误差信号的检测中排除信号光的中心部分来去除层间干涉噪声，在所述中心部分中，信号光的偏振态与从相邻层反射的噪声光的偏振态相同。
尽管所描述的信号检测电路100包括第一和第二循迹误差信号检测部分110和150、信息再现信号检测部分130以及聚焦误差信号检测部分170，但是应当理解，本发明的各方面不限于此。例如，根据其他的方面，信号检测电路100可包括第一循迹误差信号检测部分110以及仅仅一部分其他检测部分。
图4示出了根据本发明另一实施例的信号检测电路100′和光电探测器19′的结构。与图3中示出的实施例相比，第一光接收部分50被分成四部分，而且信号检测电路100′也改变了。
参照图4，通过连接第一和第二分隔线l1和l2的分隔线以及连接第三和第四分隔线l3和l4的分隔线将光电探测器19的第一光接收部分50分成四部分。通过DPD方法和聚焦误差信号FES可用第一光接收部分50的检测信号A3、B3、C3和D3来检测循迹误差信号。
例如，聚焦误差信号FES可从下述检测信号检测：第二光接收部分51的分区中的一个、与第二光接收部分51的分区中的所述一个相邻的第四光接收部分54、以及第一光接收部分50的与第二光接收部分51的分区中的所述一个和第四光接收部分54相邻的一个分区的检测信号A1、A2和A3；第二光接收部分51的分区中的另一个、与第二光接收部分51的分区中的所述另一个相邻的第六光接收部分56、以及第一光接收部分50的与第二光接收部分51的分区中的所述另一个和第六光接收部分56相邻的一个分区的检测信号B1、B2和B3；第三光接收部分53的分区中的一个、与第三光接收部分53的分区中的所述一个相邻的第五光接收部分55、以及第一光接收部分50的与第三光接收部分51的分区中的所述一个和第五光接收部分55相邻的一个分区的检测信号D1、D2和D3；以及第三光接收部分53的分区中的另一个、与第三光接收部分53的分区中的所述另一个相邻的第七光接收部分57、以及第一光接收部分50的与第三光接收部分51的分区中的所述另一个和第七光接收部分57相邻的一个分区的检测信号C1、C2和C3。
另外，第二循迹误差信号检测部分150利用用于检测聚焦误差信号FES的第一到第七光接收部分50、51、53、54、55、56和57来执行差分相位信号检测。
如图4所示，当提供第一到第四加法器101、103、105和107时，第一加法器101获得检测信号A1、A2、A3的和信号(A1+A2+A3)，第二加法器103获得检测信号B1、B2和B3的和信号(B1+B2+B3)，第三加法器105获得检测信号C1、C2、C3的和信号(C1+C2+C3)，第四加法器107获得检测信号D1、D2、D3的和信号(D1+D2+D3)。因此，信息再现信号检测部分130、聚焦误差信号检测部分170以及第二循迹误差信号检测部分150的电路可被构造成与图3的信息再现信号检测部分130、聚焦误差信号检测部分170以及第二循迹误差信号检测部分150的电路基本相同。
图5示出了根据本发明又一实施例的信号检测电路100和光电探测器19″的结构。与图3相比，尽管电路构造基本相同，但图5中示出的第一光接收部分50的沿直线布置方向的宽度更长。参照图5，第一光接收部分50的宽度与第二光接收部分51和第三光接收部分53各自的宽度相同。然而，应当理解，本发明的各方面不限于此。例如，第一光接收部分50的宽度可以大于第二和第三光接收部分51和53各自的宽度。
在光信息存储介质反射的光束中，+1级衍射光和-1级衍射光与0级衍射光交迭，在光束的具有衍射光交迭区域的中心部分处产生进一步的更高级的衍射光，所述衍射光交迭区域具有弧形边界(像棒球形状，如图2中所示)。当第一光接收部分50的沿直线布置方向的宽度增加时，可以从利用DPP方法检测的循迹误差信号中去除更高级的衍射光。
如上所述，在利用多层光信息存储介质1的光信息存储介质系统中，可以有效地消除层间干涉噪声，从而可使循迹稳定，通过将可以改变信号光的非交迭区域的中心部分的偏振态的偏振元件40布置在光接收路径上并通过合适地设计光电探测器19和信号检测电路100来使单光束循迹变得可以实现。
图6示出了根据本发明的实施例的采用光学拾取器10的光信息存储介质系统的整体结构。参照图6，光信息存储介质系统包括主轴电机(spindle motor)312、光学拾取器10、驱动部分307以及控制部分309。主轴电机312旋转光信息存储介质1。根据上述各实施例的光学拾取器10可在光信息存储介质1的径向上移动，以将数据记录到光信息存储介质1和/或从光信息存储介质1再现数据。驱动部分307驱动主轴电机312以及光学拾取器10。控制部分309控制光学拾取器10的聚焦和循迹伺服(focus and track servo)。在图6中示出的实施例中，光信息存储介质系统还包括转台(turntable)352和用于夹持光信息存储介质1的夹具353。
被光信息存储介质1反射的光束由设置在光学拾取器10中的光电探测器19来检测，光电转换成电信号，并在信号检测电路100中进行操作。从信号检测电路100获得的信号经驱动部分307输入到控制部分309。驱动部分307控制主轴电机312的转速、放大输入信号并且驱动光学拾取器10。控制部分309将聚焦伺服和循迹伺服命令发送回驱动部分307以执行光学拾取器10的聚焦和循迹操作，所述聚焦伺服和循迹伺服命令基于从驱动部分307输出的信号进行调节。
尽管已经具体示出和描述了本发明的一些实施例，但是本领域技术人员会意识到：在不脱离本发明的原理和精神的情况下，可以在实施例中作出改变，本发明的范围由权利要求和它们的等同物来限定。

Claims (39)

1.一种记录和/或再现设备的光学拾取器，所述记录和/或再现设备将数据记录到多层光信息存储介质和/或从多层光信息存储介质再现数据，所述光学拾取器包括：
光源，所述光源发射光束；
物镜，所述物镜将所述发射的光束聚焦到光信息存储介质上；
偏振依赖式光路改变器，所述偏振依赖式光路改变器根据光束的偏振来透射或者改变光束的传播路径；
光电探测器，所述光电探测器检测通过在光信息存储介质的信号层上聚焦的光束的反射产生的信号光；
偏振元件，所述偏振元件设置在从光信息存储介质反射、经过物镜并向光电探测器传播的信号光的光路上，以通过在信号光与噪声光交迭的至少部分中改变信号光的偏振态来在光接收平面上减少信号光和噪声光之间的干涉，所述噪声光通过光束被与信号层相邻的层的反射而产生。
2.根据权利要求1所述的光学拾取器，其中，偏振元件包括偏振改变区域以改变信号光的中心部分的偏振。
3.根据权利要求2所述的光学拾取器，其中，所述偏振改变区域是半波片或随机偏振器。
4.根据权利要求1所述的光学拾取器，其中，
从光信息存储介质反射的信号光被衍射成0级衍射光、-1级衍射光和+1级衍射光；
所述信号光包括第一交迭区域、与所述第一交迭区域分离的第二交迭区域和非交迭区域，0级衍射光与+1级衍射光在所述第一交迭区域交迭，0级衍射光和-1级衍射光在所述第二交迭区域交迭，所述非交迭区域由0级衍射光形成；以及
偏振元件改变经过偏振元件的与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域的0级衍射光的偏振。
5.根据权利要求4所述的光学拾取器，其中，所述偏振元件包括位于与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域中的偏振改变区域，以改变经过偏振改变区域的0级衍射光的偏振。
6.根据权利要求5所述的光学拾取器，其中，所述偏振改变区域是半波片或随机偏振器。
7.根据权利要求4所述的光学拾取器，其中，光电探测器包括：
第一光接收部分，所述第一光接收部分检测信号光的非交迭区域的中心部分；
第二光接收部分，所述第二光接收部分检测第一交迭区域；
第三光接收部分，所述第三光接收部分检测第二交迭区域；
第四光接收部分和第五光接收部分，所述第四光接收部分和第五光接收部分检测信号光的在第一到第三光接收部分一侧的第一剩余部分，从而信号光的第一剩余部分被第一分隔线分成两部分；以及
第六光接收部分和第七光接收部分，所述第六光接收部分和第七光接收部分检测信号光的在第一到第三光接收部分另一侧的第二剩余部分，从而信号光的第二剩余部分被第二分隔线分成两部分，第二分隔线与第一分隔线对齐，
其中，第二光接收部分、第四光接收部分以及第六光接收部分被布置在第一排中，第三光接收部分、第五光接收部分和第七光接收部分被布置在第二排中。
8.根据权利要求7所述的光学拾取器，其中，第二光接收部分被第三分隔线分成两部分，第三光接收部分被第四分隔线分成两部分，第三分隔线和第四分隔线与第一分隔线和第二分隔线交叉，从而使光电探测器具有分成九个部分的结构。
9.根据权利要求8所述的光学拾取器，其中，第一光接收部分被连接第一和第二分隔线的分隔线以及连接第三和第四分隔线的分隔线分成四部分。
10.根据权利要求7所述的光学拾取器，其中，第一光接收部分的沿直线布置方向的宽度小于第二光接收部分和第三光接收部分的宽度。
11.根据权利要求7所述的光学拾取器，其中，第一光接收部分的沿直线布置方向的宽度等于或大于第二光接收部分和第三光接收部分的宽度。
12.根据权利要求1所述的光学拾取器，其中，光信息存储介质是蓝光光盘。
13.一种将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据的记录和/或再现设备，所述记录和/或再现设备包括光学拾取器以将数据记录到光信息存储介质和/或从光信息存储介质再现数据，所述光学拾取器包括：
光源，所述光源发射光束；
物镜，所述物镜将所述发射的光束聚焦到光信息存储介质上；
偏振依赖式光路改变器，所述偏振依赖式光路改变器根据光束的偏振来透射或者改变光束的传播路径；
光电探测器，所述光电探测器检测由在光信息存储介质的信号层上聚焦的光束的反射产生的信号光；
偏振元件，所述偏振元件设置在从光信息存储介质反射、经过物镜并向光电探测器传播的信号光的光路上，以通过在信号光与噪声光交迭的至少部分中改变信号光的偏振态来在光接收平面上减少信号光和噪声光之间的干涉，所述噪声光通过光束从与信号层相邻的层的反射产生。
14.根据权利要求13所述的设备，其中，所述光学拾取器能够沿光信息存储介质的径向移动。
15.根据权利要求13所述的设备，所述设备还包括：
主轴电机，所述主轴电机旋转光信息存储介质；
驱动部分，所述驱动部分驱动主轴电机以及光学拾取器；
控制部分，所述控制部分控制光学拾取器的聚焦和循迹伺服。
16.根据权利要求13所述的设备，其中，
从光信息存储介质反射的信号光被衍射成0级衍射光、-1级衍射光和+1级衍射光；
所述信号光包括第一交迭区域、与所述第一交迭区域分离的第二交迭区域和非交迭区域，0级衍射光与+1级衍射光在所述第一交迭区域交迭，0级衍射光和-1级衍射光在所述第二交迭区域交迭，所述非交迭区域由0级衍射光形成；以及
偏振元件，所述偏振元件改变经过与信号光的非交迭区域的中心部分对应的偏振元件的区域的0级衍射光的偏振。
17.根据权利要求16所述的设备，其中，所述偏振元件包括位于与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域中的偏振改变区域，以改变经过偏振改变区域的0级衍射光的偏振。
18.根据权利要求17所述的设备，其中，所述偏振改变区域是半波片或随机偏振器。
19.根据权利要求16所述的设备，其中，光电探测器包括：
第一光接收部分，其检测信号光的非交迭区域的中心部分；
第二光接收部分，其检测第一交迭区域；
第三光接收部分，其检测第二交迭区域；
第四光接收部分和第五光接收部分，所述第四光接收部分和第五光接收部分检测信号光的在第一到第三光接收部分一侧的第一剩余部分，从而信号光的第一剩余部分被第一分隔线分成两部分；以及
第六光接收部分和第七光接收部分，所述第六光接收部分和第七光接收部分检测信号光的在第一到第三光接收部分另一侧的第二剩余部分，从而使信号光的第二剩余部分被第二分隔线分成两部分，第二分隔线与第一分隔线对齐，
其中，第二光接收部分、第四光接收部分以及第六光接收部分被设置在第一排中，第三光接收部分、第五光接收部分和第七光接收部分被设置在第二排中。
20.根据权利要求19所述的设备，所述设备还包括循迹误差信号检测部分，以从光学拾取器的光电探测器的检测信号中检测循迹误差信号，所述循迹误差信号检测部分包括：
第一操作单元，其检测第二光接收部分的检测信号和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；
第二操作单元，其检测第四光接收部分的检测信号和第六光接收部分的检测信号的和信号与第五光接收部分的检测信号和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；
第三操作单元，其检测从第一操作单元和第二操作单元获得的第一差分信号和第二差分信号之间的差分信号，以产生循迹误差信号。
21.根据权利要求20所述的设备，所述设备还包括再现信号检测部分，所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号。
22.根据权利要求19所述的设备，其中，第二光接收部分被第三分隔线分成两部分，第三光接收部分被第四分隔线分成两部分，第三分隔线和第四分隔线与第一分隔线和第二分隔线交叉，从而使光电探测器具有分成九个部分的结构。
23.根据权利要求22所述的设备，所述设备还包括：第一循迹误差信号检测部分，所述第一循迹误差信号检测部分从光学拾取器的光电探测器的检测信号检测循迹误差信号，所述第一循迹误差信号检测部分包括：
第一操作单元，其检测第二光接收部分的检测信号和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；
第二操作单元，其检测第四光接收部分的检测信号和第六光接收部分的检测信号的和信号以及第五光接收部分的检测信号和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；以及
第三操作单元，其检测从第一操作单元和第二操作单元获得的第一差分信号和第二差分信号之间的差分信号，以产生第一循迹误差信号。
24.根据权利要求23所述的设备，所述设备还包括第二循迹误差信号检测部分，所述第二循迹误差信号检测部分从光学拾取器的光电探测器的检测信号检测第二循迹误差信号，
其中，所述第二循迹误差信号检测部分从下列和信号检测差分相位信号：第二光接收部分的第一分区的检测信号和与第二光接收部分的第一分区相邻的第四光接收部分的检测信号的和信号、第二光接收部分的第二分区的检测信号和与第二光接收部分的第二分区相邻的第六光接收部分的检测信号的和信号、第三光接收部分的第一分区的检测信号和与第三光接收部分的第一分区相邻的第五光接收部分的检测信号的和信号以及第三光接收部分的第二分区的检测信号和与第三光接收部分的第二分区相邻的第七光接收部分的检测信号的和信号。
25.根据权利要求23所述的设备，所述设备还包括再现信号检测部分，所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号。
26.根据权利要求25所述的设备，所述设备还包括聚焦误差信号检测部分，所述聚焦误差信号检测部分从下列检测信号中检测聚焦误差信号：第二光接收部分的第一分区和与第二光接收部分的第一分区相邻的第四光接收部分的检测信号、第二光接收部分的第二分区和与第二光接收部分的第二分区相邻的第六光接收部分的检测信号、第三光接收部分的第一分区和与第三光接收部分的第一分区相邻的第五光接收部分的检测信号以及第三光接收部分的第二分区和与所述第三光接收部分的第二分区相邻的第七光接收部分的检测信号。
27.根据权利要求26所述的设备，还包括第二循迹误差信号检测部分，其利用用于检测聚焦误差信号的第二到第七光接收部分的检测信号来检测差分相位信号。
28.根据权利要求27所述的设备，所述设备还包括第一到第四加法器以获得下列和信号：第二光接收部分的第一分区的检测信号和第四光接收部分的检测信号的第一和信号、第二光接收部分的第二分区的检测信号和第六光接收部分的检测信号的第二和信号、第三光接收部分的第一分区的检测信号和第五光接收部分的检测信号的第三和信号以及第三光接收部分的第二分区的检测信号和第七光接收部分的检测信号的第四和信号。
29.根据权利要求22所述的设备，其中，第一光接收部分被连接第一分隔线和第二分隔线的分隔线以及连接第三分隔线和第四分隔线的分隔线分成四部分。
30.根据权利要求29所述的设备，所述设备还包括：
第一循迹误差信号检测部分，所述第一循迹误差信号检测部分从光学拾取器的光电探测器的检测信号检测第一循迹误差信号；
再现信号检测部分，所述再现信号检测部分检测信息再现信号；以及
聚焦误差信号检测部分，所述聚焦误差信号检测部分检测聚焦误差信号，
其中，第一循迹误差信号检测部分包括：第一操作单元，其检测第二光接收部分的检测信号和第三光接收部分的检测信号之间的第一差分信号；第二操作单元，其检测第四光接收部分的检测信号和第六光接收部分的检测信号的和信号以及第五光接收部分的检测信号和第七光接收部分的检测信号的和信号之间的第二差分信号；第三操作单元，其检测从第一操作单元和第二操作单元获得的第一差分信号和第二差分信号之间的差分信号，以产生第一循迹误差信号，
所述再现信号检测部分通过对第一到第七光接收部分的检测信号求和来检测信息再现信号，
所述聚焦误差信号检测部分从下列检测信号中检测聚焦误差信号：第二光接收部分的第一分区、与第二光接收部分的第一分区相邻的第四光接收部分、以及与第二光接收部分的第一分区和第四光接收部分相邻的第一光接收部分的第一分区的检测信号；第二光接收部分的第二分区、与所述第二光接收部分的第二分区相邻的第六光接收部分、以及与所述第二光接收部分的第二分区和第六光接收部分相邻的第一光接收部分的第二分区的检测信号；第三光接收部分的第一分区、与所述第三光接收部分的第一分区相邻的第五光接收部分、以及与所述第三光接收部分的第一分区和第五光接收部分相邻的第一光接收部分的第三分区的检测信号；第三光接收部分的第二分区、与所述第三光接收部分的第二分区相邻的第七光接收部分、以及与所述第三光接收部分的第二分区和第七光接收部分相邻的第一光接收部分的第四分区的检测信号。
31.根据权利要求30所述的设备，所述设备还包括：第二循迹误差信号检测部分，其利用用于检测聚焦误差信号的第一到第七光接收部分的检测信号来检测差分相位信号。
32.根据权利要求31所述的设备，所述设备还包括第一到第四加法器以获得下列和信号：第二光接收部分的第一分区的检测信号、第四光接收部分的检测信号以及第一光接收部分的第一分区的检测信号的第一和信号；第二光接收部分的第二分区的检测信号、第六光接收部分的检测信号以及第一光接收部分的第二分区的的检测信号的第二和信号；第三光接收部分的第一分区的检测信号、第五光接收部分的检测信号以及第一光接收部分的第三分区的检测信号的第三和信号；第三光接收部分的第二分区的检测信号、第七光接收部分的检测信号以及第一光接收部分的第四分区的检测信号的第四和信号，
其中，利用第一到第四和信号检测信息再现信号、聚焦误差信号以及差分相位信号中的至少一个信号。
33.根据权利要求16所述的设备，其中，第一交迭区域和非交迭区域之间的边界限定为在信号光的第一侧上的弧形，第二交迭区域和非交迭区域之间的边界限定为在信号光的与第一侧相对的第二侧上的弧形。
34.一种记录和/或再现设备的光学拾取器，所述光学拾取器包括物镜和光电探测器，以将数据记录到多层光信息存储介质和/或从多层光信息存储介质再现数据，所述光学拾取器包括：
偏振元件，所述偏振元件设置在从光信息存储介质反射、经过物镜并向光电探测器传播的信号光的光路上，以通过在信号光与噪声光交迭的至少部分中改变信号光的偏振态来在光接收平面上减少信号光和噪声光之间的干涉，所述噪声光通过被与信号层相邻的层的反射而产生。
35.根据权利要求34所述的光学拾取器，其中，偏振元件包括偏振改变区域以改变信号光的中心部分的偏振。
36.根据权利要求35所述的光学拾取器，其中，偏振改变区域是半波片或随机偏振器。
37.根据权利要求34所述的光学拾取器，其中，
从光信息存储介质反射的信号光被衍射成0级衍射光、-1级衍射光和+1级衍射光；
所述信号光包括第一交迭区域、与所述第一交迭区域分离的第二交迭区域和非交迭区域，0级衍射光与+1级衍射光在所述第一交迭区域交迭，0级衍射光和-1级衍射光在所述第二交迭区域交迭，非交迭区域由0级衍射光形成；以及
偏振元件改变经过偏振元件的与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域的0级衍射光的偏振。
38.根据权利要求37所述的光学拾取器，其中，所述偏振元件包括位于与信号光的非交迭区域的中心部分对应的区域中的偏振改变区域，以改变经过偏振改变区域的0级衍射光的偏振。
39.一种在记录和/或再现设备中减小被多层光信息存储介质的信号层反射的信号光与噪声光之间的干涉的方法，所述噪声光是被与信号层相邻的层反射的，所述记录和/或再现设备包括物镜和光电探测器，以将数据记录到多层光信息存储介质和/或从多层光信息存储介质再现数据，所述方法包括：
在被信号层反射之后并在被光电探测器检测之前，在信号光中的信号光与噪声光交迭的至少一部分中改变信号光的偏振态。
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WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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