CN101813627A - 光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备。一种光学检测设备(135)，包括检测器(5)，被配置成在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据，第一照明器(3)，被配置成间歇性地发射激发光至包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域，第二照明器(4)，被配置成连续地发射激发光至在所述传输路径上的所述第一照明区域的上游、与第一照明区域连续并且不包括所述检测器的所述读取区域的第二照明区域，和控制单元(6)，被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器检测所述片材的图像数据。

Description

光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备

技术领域

本发明涉及一种光学检测设备，该设备例如检测来自传输片材的光，并且涉及一种具有该光学检测设备的片材处理设备。

背景技术

一种用来计数和识别各种片材的片材处理设备已经被实际应用。片材处理设备一张一张地取入输入到输入部分的片材，并将其传输到光学检测设备。该光学检测设备检测来自片材的光并基于检测到的光获得图像。基于该获得的图像，片材处理设备确定片材的种类、真实性、和再循环的可能性。基于该确定的结果，纸张处理设备分类并堆叠片材。

在要被片材处理设备处理的片材上，荧光打印信息(第一打印信息)和磷光打印信息(第二打印信息)被打印。荧光打印信息用包括荧光物质的墨水(荧光墨水)打印。荧光物质被从激发光源发射出的激发光(例如紫外光)激发，并且变成发射光(荧光)的状态。如果激发光的发射被中断，荧光物质变成不发射光的状态。磷光打印信息用包括磷光物质的墨水(磷光墨水)打印。磷光物质被从激发光源发射出的激发光(例如紫外光)激发，并且变成发射光的状态。如果激发光的发射被中断，磷光物质变成发射逐渐衰减的光(余辉(afterglow))的状态。

片材处理设备具有荧光检测器，其从激发光源发射激发光到片材，激发荧光物质，检测从荧光物质发射的荧光，并且读取荧光打印信息。片材处理设备具有余辉检测器，其从激发光源发射激发光到片材，激发磷光物质，检测在激发光的发射被中断后从磷光物质发射的余辉，并且读取磷光打印信息。

例如，日本专利申请公开No.3790931公开一种技术，其通过设置在传输路径上游和下游的、位于作为激发源的紫外线发光单元两侧的反射光接收系统检测荧光和余辉。在这种情况下，该紫外线发光单元被间歇性地点亮。换句话说，当该紫外线发光单元被点亮时，荧光被检测，并且当该紫外线发光单元被关断时，余辉被检测。

日本实用新型申请公开No.62-2691公开了一种技术，其中紫外线发光单元和荧光检测器被设置在传输路径的上游，并且余辉检测器被设置在传输路径的下游。

根据上述日本专利申请公开No.3790931公开的技术，片材处理设备具有两个检测器，用来检测荧光和余辉。因此，需要两个处理系统来处理获得的图像。这就增加了系统的配置和花费。

另外，当通过使用日本实用新型申请公开号No.62-2691中公开的光学检测设备获得磷光打印信息时，在激发光中断后检测余辉的时间取决于传输片材的速度。余辉衰减量随着时间增加。因此，当片材传输速度改变时，该光学检测设备不能正确地读取磷光打印信息。

激发光源的发光量因年久而改变。光学检测设备的检测元件的灵敏度可能因年久而改变。因此，通常使用具有靠近读取位置的参考荧光板的光学检测设备。这样的光学检测设备基于通过该参考荧光板检测到的参考光的水平校正检测到的信号的水平。这提高了该光学检测设备的精度。然而，在光学检测设备中没有设置激发光源来检测下游的余辉。因此，即使设置了参考荧光板，也不能检测参考光。结果，在下游的光学检测设备不能被校正。

另外，当通过使用在日本专利申请公开No.3790931中公开的光学检测设备获得荧光和余辉时，片材传输速度不能被增加。为了激发磷光和荧光物质需要在一定时间段内发射激发光。然而，无论何时片材通过，激发光源重复接通和关断。因此，如果传输速度增加，发射激发光到片材上的时间就减少。换句话说，荧光和余辉水平根据传输速度而改变。另外，当发射激发光到片材的时间较短时，荧光和磷光物质可能不能被充分地激发。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种具有简单结构的、被配置成检测具有不同特性的两种或多种光的光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备。

根据本发明的一个实施例，提供一种光学检测设备，用来从打印有荧光物质和磷光物质的片材检测荧光和余辉，包括：检测器，其被配置用来在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据；第一照明器，其被配置成间歇性地发射激发光到包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域；第二照明器，其被配置成连续地发射激发光到第二照明区域，所述第二照明区域在传输路径上位于所述第一照明区域的上游、与所述第一照明区域连续，并且不包括所述检测器的所述读取区域；和控制单元，被配置成根据第一照明器的发射操作，控制所述检测器以检测片材的图像数据。

根据本发明的一个实施例，提供一种片材处理设备，包括传输器，被配置成沿着传输路径传输片材；检测器，被配置成从传输路径上的预定读取区域接收光，并检测片材的图像数据；

第一照明器，其被配置成间歇性地发射激发光到包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域；

第二照明器，其被配置成连续地发射激发光到第二照明区域，所述第二照明区域在传输路径上位于所述第一照明区域的上游、与所述第一照明区域连续，并且其不包括所述检测器的所述读取区域；

控制单元，被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器，以检测所述片材的荧光图像和余辉图像；

确定单元，被配置成基于由所述检测器检测到的荧光图像和磷光图像，确定所述片材是否打印有荧光打印信息和磷光打印信息；

分类处理器，被配置成基于所述确定单元的确定结果来确定片材的种类，并且根据所述片材的种类对片材进行分类。

根据本发明的一个实施例，提供一种具有简单结构的、被配置成检测具有不同特性的两种或多种光的光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备。

本发明的其它目的和优点将要在接下来的描述中被阐明，并且部分地将显而易见地从接下来的描述中得到，或从本发明的实践中认识到。本发明的目的和优点可以通过在下文中具体指出的手段和组合来被实现和获得。

附图说明

图1是用于说明根据本发明的一个实施例的片材处理设备的配置的例子的示意图；

图2是用于说明图1中所示的所述片材处理设备的配置的例子的示意图；

图3是用于说明图1和2中所示的所述片材处理设备的配置的例子的结构图；

图4是显示图2和3中所示的光学检测设备的配置的例子的说明图；

图5是用于说明图4中所示的光学检测设备的每一部分的操作的定时的时序图；和

图6是用于说明图4中所示的光学检测设备的每一部分的操作的定时的时序图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图给出根据本发明的实施例的光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备的详细说明。

图1和2是用于说明根据本发明实施例的片材处理设备111的配置的例子的示意图。该片材处理设备111检查片材，并且捆扎可以再次使用的片材。

在要被根据这个实施例的该片材处理设备111处理的片材上，打印有利用包括荧光物质的荧光墨水打印的荧光打印信息(第一打印信息)，和利用包括磷光物质的磷光墨水打印的磷光打印信息(第二打印信息)。

荧光和磷光物质被例如外部光、热、紫外线、和X射线的激发光所激发，并且发射光。从荧光和磷光物质发射的光量随着发射激发光的时间而增加。当激发光被发射了对每种材料确定的发射饱和时间，从荧光和磷光物质发射的光量饱和(饱和发射)。发射饱和时间是直到发射量饱和的时间。

荧光物质的发射饱和时间短于磷光物质的时间。荧光物质的衰减时间短于磷光物质的时间。该衰减时间是从饱和发射状态转变到不发射光的状态的时间。简而言之，磷光物质比荧光物质花更长的时间达到饱和发射，并且需要比荧光物质花更长的时间来衰减。

也就是说，当激发光以荧光物质的饱和时间被发射，然后，激发光的发射被中断，荧光物质变成不发射光的状态。磷光物质变成发射余辉的状态达衰减时间。衰减时间也对每种材料确定。

如图1所示，该片材处理设备111具有位于设备外部的输入单元112，操作单元136，操作/显示面板137，门138，取出口139，和键盘140。

该输入单元112被配置成输入片材。输入单元112接受一叠片材。操作单元136接受操作者输入的操作。操作/显示面板137为操作者显示操作指导和处理结果。操作/显示面板137可以被配置为触摸板。在这种情况下，片材处理设备111检测基于显示在操作/显示面板137上的按钮的操作，和由操作者对操作/显示面板137的输入。

门138接通和关断输入单元112的输入口。取出口139被配置成从堆叠器取出片材，该堆叠器堆叠被确定为不适合由片材处理设备111重复使用的片材。键盘140接受操作者输入的操作。

进一步地，如图2所示，该片材处理设备111具有位于设备内部的输入单元112，取出单元113，吸取辊114，传输路径115，检查单元116，门120至125，退回传输路径126，退回堆叠器127，堆叠器-捆扎器128至132，切割器133，和堆叠器134。进一步地，该片材处理设备111具有控制组成单元的所有操作的主控制单元151。

取出单元113被设置在所述输入单元的上方。取出单元113配置了吸取辊114。吸取辊114被配置成接触设置在输入单元112中的一叠片材的堆叠方向的上端。换句话说，吸取辊114旋转并且从堆叠方向的上端一张一张地取入设置在输入单元112中的片材。例如，吸取辊114通过一次旋转取出一张片材。因此，吸取辊114以固定的间距取出片材。由吸取辊114取入的片材被引导到传输路径115中。

传输路径115是将片材传输到片材处理设备111的每个组成单元的手段。传输路径115被配置有未图示的传输带和驱动轮。该传输路径115通过未图示的驱动电机驱动传输带。传输路径115由传输带以恒定的速度传输由吸取辊114取入的片材。在下文中，传输路径115的靠近取出单元113的一侧被称作为上游，而靠近堆叠器134的一侧被称为下游。

检查单元116被设置在从取出单元113延伸的传输路径115上。检查单元116具有图像读取器117，图像读取器118，厚度检查器119，和光学检测设备135。该检查单元116检测关于片材的光学和磁特性的信息。因此，片材处理设备111检查片材的种类、正反面、真实性、和瑕疵/损坏。

图像读取器117和118被设置为跨传输路径115彼此相对。图像读取器117和118读取在传输路径115上传输的片材的两面的图像。图像读取器117和118被配置有CCD摄像机。基于由图像读取器117和118读取的图像，该片材处理设备111获得片材正面和反面图案的图像。

图像读取器117和118暂时将读取的图像存储在检查单元116中未图示的存储器中。取决于输入指示，该片材处理设备111在操作/显示面板137上显示存储在存储器中的图像。

厚度检查器119检查在传输路径115上传输的片材的厚度。例如，当检测的厚度超过预定值时，该片材处理设备111检查重叠的片材传输。

光学检测设备135从传输路径115上传输的片材检测荧光和余辉，并且获得荧光和磷光打印信息。该光学检测设备135将在下面被详细说明。

检查单元116被配置了未图示的磁传感器。该磁传感器检测片材的磁特性信息。

门120至125被顺序地设置在传输路径115上并位于检查单元116下游。门120至125由主控制单元151控制。基于检查单元116的检查结果，主控制单元151控制门120至125的操作。因此，主控制单元151控制在传输路径115上向预定的处理器传输的片材。

紧接在检查单元116后面设置的门120将传输路径115分支到退回传输路径126。换句话说，基于检查单元116的检查结果，门120将被确定为非法并且要被退回的片材、或不能被检查单元116检查的片材的传输路径切换到退回传输路径126。

退回堆叠器(退回单元)127被设置在退回传输路径126的末端。该退回堆叠器127将被确定退回和无法检查的上述片材以被取出单元113取出的姿态进行堆叠。堆叠在退回堆叠器127里的片材可以从取出口139取出。

在由门121至124分支的目的地，设置堆叠器-捆扎器128至131(统称为堆叠器-捆扎器132)。该堆叠器-捆扎器132按照种类和正/反面堆叠合格的片材。合格的片材是被确定可以重复使用的片材。该堆叠器-捆扎器132以预定的数量捆扎和存储堆叠的片材。

在由门125分支的目的地，设置切割器133。切割器133切割和存储片材。传输到门125的片材是合法片材和被确定无法重复利用的片材(不合格片材)。在由门125分支的传输路径的另一个目的地，设置堆叠器134。当选择不合格片材切割模式时，主控制单元151控制门125，将片材传输到切割器133。当没有选择不合格片材切割模式时，主控制单元151控制门125，将片材传输到堆叠器134。

主控制器151计数堆叠在堆叠器-捆扎器132中的片材和被切割器133切割的片材的数量。

图3是用于说明图1和2中所示的片材处理设备111的控制系统的配置的例子的框图。

如图3所示，检查单元116，传输控制单元152，堆叠/捆扎控制单元153，操作/显示面板137和键盘140被连接到控制整个设备的主控制单元151。

主控制单元151控制整个片材处理设备111。基于从操作/显示面板137输入的操作和来自检查单元116的检查结果，主控制单元151控制传输控制单元152和堆叠/捆扎控制单元153。

检查单元116具有图像读取器117和118，厚度检查器119，光学检测设备135，其它传感器154，和CPU155。

图像读取器117和118读取在传输路径115上传输的片材的两面的图像.厚度检查器119检查在传输路径115上传输的片材的厚度。

光学检测设备135从传输路径115上传输的片材检测荧光和余辉，并且获得荧光和磷光打印信息。

其它传感器154例如包括磁传感器。磁传感器从传输路径115上传输的片材检测磁特性信息。

基于来自图像读取器117和118、厚度检查器119、光学检测设备135和其它传感器154的检查结果，CPU 155确定在传输路径115上传输的片材的种类、瑕疵和损坏、正反面和真实性。

在主控制单元151的控制下，传输控制单元152控制取出单元113、传输路径115、退回传输路径126、和门120至125。因此，传输控制单元152控制片材的取入和传输。另外，传输控制单元152按照种类对片材进行分类。换句话说，传输控制单元152起到分类处理器的作用。

在主控制单元151的控制下，堆叠/捆扎控制单元153控制退回堆叠器127和堆叠/捆扎控制单元128至131。因此，堆叠/捆扎控制单元153控制片材的堆叠和捆扎。

图4是显示图2和3中所示的光学检测设备的配置的说明图。

如图4所示，光学检测设备135被设置在包括传输带1和驱动轮的传输路径115的附近。传输路径115按箭头a的方向传输片材。

光学检测设备135具有第一照明器3、第二照明器4、检测器5、控制单元6、信号处理器7、确定单元8、和参考板9。

控制单元6控制整个光学检测设备135。控制单元6具有CPU、缓冲存储器、程序存储器、和非易失性存储器。CPU进行运算处理。缓冲存储器暂时存储来自CPU的运算处理结果。程序存储器和非易失性存储器存储由CPU执行的各种程序和控制数据。控制单元6可以通过由CPU执行存储在程序存储器中的程序，来执行各种处理。

检测器5是使用例如CMOS或者CCD的行图像传感器。检测器5接收来自如图4所示的读取位置M的光，并且在由控制单元6控制的定时将光转变为电信号。即，检测器5在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据。该读取区域包括读取位置M。

检测器5使用阵列传感器，例如彩色行图像传感器，用于分离检测到的光的颜色。当不需要颜色分离时，检测器5由单色图像传感器或者光电二极管阵列组成。当不需要取扫描方向的宽度时，检测器5可以由单个光接收元件实现。

另外，所述检测器5可以由后入射图像传感器组成。所述检测器5也可以由时间延迟积分(TDI)图像传感器组成。当单个光接收元件被用作检测器5时，所述检测器5可以由雪崩光电二极管或者光倍增管组成。

第一照明器3发射紫外线作为激发光。第一照明器3在垂直于片材传输方向a的方向发射带状激发光。在这种情况下，第一照明器3至少向由检测器5读取的区域(第一照明区域)发射激发光。

第一照明器3被间歇地点亮。换句话说，在控制单元6的控制下，第一照明器3被连续地接通和关断。

控制单元6将所述第一照明器3的接通和关断的定时确定为由所述检测器5获得的一个分辨率的大小。例如，当所述检测器5在10m/s的片材传输速度下在一个分辨率的0.5mm中检测光时，所述控制单元6控制所述检测器5以50μs的周期也就是20kHz检测光。

第二照明器4，像第一照明器3一样，发射紫外线作为激发光。第二照明器4连续地发射激发光。第二照明器4在沿着片材传输方向a的距离为L的区域(第二照明区域)中发射激发光。该第二照明区域至少不包括检测器5的读取位置M。该第二照明区域在传输路径上位于第一照明区域上游、与第一照明区域连续。

第二照明器4是用于照射和使荧光和磷光物质饱和的照明器。换句话说，在传输路径115上传输的片材被第二照明器4照射一段时间，即，片材在靠近第二照明器4的区域中传输的时间(距离L/传输速度)。

距离L基于涂覆于片材上的荧光和磷光物质的发射饱和时间和片材的传输速度来确定。换句话说，片材在靠近第二照明器4的区域中传输的时间(距离L/传输速度)需要比发射饱和时间长。例如，当传输速度是10m/s并且发光饱和时间是3ms时，距离L需要至少比30mm长。当片材处理设备111可以改变传输速度时，距离L基于最快传输速度而定。

如图4所示，所述第一和第二照明器3和4沿着所述传输路径115，在所述检测器5的下面和两侧被读取。换句话说，所述第二照明器4位于所述检测器5的所述读取位置M的上游，所述第一照明器3位于下游。

如上所述，第一照明器3发射光到包括检测器5的靠近读取位置M的读取区域的第一照明区域。第二照明器4发射光到不包括检测器5的读取位置M的第二照明区域。如图4所示，所述第二照明器4被定位成在所述第二照明区域和所述检测器5的所述读取位置M之间具有距离d。

第一照明器3以高速被间歇地点亮，并且由例如LED组成。第二照明器4由发射紫外线的荧光灯或者冷阴极管组成。第二照明器4以高频被点亮，并且可以连续地发射紫外线。

近来，LED的亮度已经增加，并且沿着传输路径115排列成阵列状的LED可以被用作第二照明器4。也可以使用一种照明器，通过例如汞灯的可以发射包括紫外线的光的光源，其发射如直线的光，以与检测位置对准。

另外，上面的实施例已经基于荧光和磷光物质发射作为激发光的紫外线的假设作了说明。然而，实施例并不局限于此。根据片材的种类，应用于被检查的片材的荧光和磷光物质发射具有不同波长的激发光。因此，需要改变第一和第二照明器3和4的特性。例如，第一和第二照明器3和4可以由可见单色照明器和红外照明器组成。

控制单元6控制检测器5以使检测光的定时与第一照明器3的接通和关断同步。换句话说，控制单元6控制检测器5在第一照明器3接通后经过给定时间段之后检测片材的荧光图像。并且控制单元6控制检测器5在第一照明器3关断后经过给定时间段之后检测片材的余辉图像。

信号处理器7以预定增益放大检测器5检测的信号。换句话说，信号处理器7例如通过放大器放大由检测器从光转换成的电信号。

余辉和荧光在由检测器5检测到的信号的电平上有很大不同。余辉的强度低于荧光。因此，当按照用于检测荧光的设置检测余辉时，检测器5可能检测到具有非常低的电平的信号。这就使得无法获得有效的数据。

为解决所述问题，控制单元6随着时间改变信号处理器7的增益。换句话说，当检测余辉时，控制单元6控制检测器5以增加信号处理器7的增益。当检测荧光时，控制单元6控制检测器5以减少信号处理器7的增益。因此，光学检测设备135可以获得来自荧光和余辉的具有相同电平的信号。

信号处理器7对检测到的信号执行模数转换。换句话说，信号处理器7通过采样检测的信号来获得检测的数据。另外，信号处理器7划分数据。换句话说，在上面提到的配置中，从荧光和余辉检测到的数据被交替地排列。信号处理器7将数据划分成从荧光检测的数据和从余辉检测的数据。

信号处理器7对从一整张片材获得的数据执行上述处理。因此，信号处理器7获得片材的荧光图像和余辉图像。

基于从信号处理器7获得的荧光图像和磷光图像，确定单元8确定获得的片材数据是否包括荧光打印信息和磷光打印信息。该确定单元8预先存储用于荧光图像的参考数据(参考荧光图像)用于余辉图像的参考数据(参考余辉图像)。确定单元8将参考荧光图像与从信号处理器7获得的荧光图像相比较，并且确定获得的数据是否包括荧光打印信息。进一步地，确定单元8将参考余辉图像与从信号处理器7获得的余辉图像相比较，并且确定获得的数据是否包括荧光打印信息。

参考板9向检测器5提供参考光，以校正信号处理器7的增益。如图4所示，参考板9被设置在跨过传输路径115与检测器5相对的位置。光发射平面形成在参考板9的与检测器5相对的表面，位于与检测器5的读取位置M重叠的位置。光发射平面由包括荧光物质材料、或者由荧光墨水涂覆的荧光层制成。包括在光发射平面中的荧光材料具有与应用到被检查的片材的荧光物质相同的特性。

当激发光被发射到参考板9时，参考板9发射荧光至检测器5。控制单元6基于从参考板9发射的荧光检测的信号的电平调整增益。换句话说，控制单元6控制信号处理器7，使得从参考板9发射的荧光的信号的电平总是变成预定值。在这种情况下，控制单元6起到校正器的作用。

图5是用于说明图4中所示的光学检测设备135的每一部分的操作的定时的时序图。

如图5所示，第二照明器4总是发射激发光。第一照明器3以预定的定时重复接通和关断。换句话说，第一照明器以等于一个分辨率(一行)的周期间歇性地接通和关断。

在第一照明器3被接通后的预定时间Ts之后，检测器5检测光。在这种情况下，检测器5检测荧光。预定时间Ts基于从检测器5的读取位置M到第二照明器4的第二照明区域之间的距离和片材传输速度v来确定。也就是，等式Ts＝d/v成立。

可能没有将足够的激发光应用到在第一照明器3接通后被立刻传输到读取位置M的片材上。因为，存在于靠近检测器5的第二照明区域的端部和读取位置M之间的一部分片材，在第一照明器3接通后立即被传输到读取位置M。

另一方面，存在于第二照明区域里的一部分片材，在第一照明器接通后，立即退出第二照明区域，并且被传输到第一照明区域。因此，片材以被充分地激发的状态被传输到读取位置M。

也就是说，在第一照明器3接通后，如果片材被传输了距离d，则片材被确定为已经被充分地激发。因此，检测器5在以传输速度v将片材传输距离d所需的时间Ts后检测荧光。

另外，检测器5在第一照明器3关断后检测光。在这种情况下，检测器5的目的在于检测从磷光物质发射的余辉。因此，优选的是在不从荧光物质发射余辉的状态下检测余辉，并且从磷光物质发射的余辉的强度尽可能的强。因此，检测器5在荧光物质的衰减时间经过后检测余辉。

信号处理器7根据接通和关断第一照明器3的定时调整增益。换句话说，当第一照明器3接通时，信号处理器7降低增益，并且当第一照明器3关断时，增加增益。

图6是用于说明图4中所示的光学检测设备135的每一部分的操作的定时的时序图。图6显示了一个例子，其中传输速度v不同于图5中所示的例子。

如图6所示，传输速度低于图5中所示的例子。因此，一行的处理时间更长。接通和关断第一照明器3之间的时间间隔更长。

从上面可以看出，即使传输速度改变，检测器5也能够通过在将片材传输距离d所需的时间Ts之后检测荧光，来检测处于饱和发射状态的荧光。另外，通过在荧光物质的衰减时间后进行检测，检测器5可以检测到高电平的余辉。

如上文所述，根据本发明的实施例的光学检测器135具有间歇性点亮的第一照明器和一直点亮的第二照明器4。检测器5在第一照明器3接通后一定时间和在第一照明器3关断后荧光物质的衰减时间之后检测光。通过这种配置，一个检测器可以检测从荧光物质发射的荧光和从磷光物质发射的余辉。结果，可以提供一种可以通过简单的结构检测具有不同特性的两种或多种光的光学检测设备和具有该光学检测设备的片材处理设备。

在这里描述的实施例中，第二照明器4被说明为沿着传输方向a在距离L上发射激发光的部件。然而，本发明并不局限于这种配置。例如，当第二照明器是LED阵列时，第二照明器可以被配置为根据片材的传输速度控制距离L来发射激发光。换句话说，根据所述传输速度和发射饱和时间来确定限制激发光的距离，并且排列成阵列状的LED被点亮的次数对应于被确定的距离。在这种配置中，对应于荧光和磷光物质的发射饱和时间的第二照明区域可以被实现。

另外，第二照明器4可以由排列成阵列状的LED组成以便发射具有不同波长的光。要被片材处理设备111处理的一些种类的片材可以涂覆不同的荧光物质和磷光物质。这些种类的片材可以通过提供发射具有不同波长的光的LED来检测，以满足各种类型的片材。

第二照明器4可以被配置成控制光发射量。换句话说，第二照明器4控制从排列成二维的LED元件发射的光量。在这种情况下，光学检测设备135预先存储下述光发射量作为参考数据，在该光发射量下，荧光或磷光打印信息的发光量在各个速度下变得恒定。光学检测设备135的控制单元6参考参考数据，并且根据传输速度控制光发射量。因此，不管片材的传输速度，光学检测设备135可以总是以相同的电平获得检测信号。

本领域技术人员将容易地想到其它的优点和变形。因此，本发明在更宽泛的方面不局限于这里所示出和描述的具体细节和代表性的实施例。因此，在不脱离总的发明构思的精神或范围内，各种变形通过附加的权利要求和它们的等同物来限定。

Claims (6)

1.一种用于从打印有荧光物质和磷光物质的片材检测荧光和余辉的光学检测设备，其特征在于包括：

检测器(5)，被配置成在传输片材的传输路径上的预定读取区域中检测图像数据；

第一照明器(3)，被配置成间歇性地将激发光发射到包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域；

第二照明器(4)，被配置成连续地将激发光发射到第二照明区域，所述第二照明区域在所述传输路径上在所述第一照明区域的上游与第一照明区域连续，并且不包括所述检测器的所述读取区域；和

控制单元(6)，被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器检测所述片材的图像数据。

2.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述控制单元被配置成控制所述检测器在所述第一照明器接通后经过给定时间段之后检测所述片材的荧光图像，和在所述第一照明器关断后经过给定时间段之后检测所述片材的余辉图像。

3.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述第二照明器根据所述荧光物质和磷光物质的发射饱和时间和所述片材的传输速度控制所述第二照明区域。

4.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述第二照明器根据所述荧光物质和磷光物质的激发特性控制发射光的波长。

5.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于进一步包括：

参考板(9)，被设置在所述检测器的所述读取区域，跨过所述传输路径与所述检测器相对；和

校正单元(6)，被配置成基于从所述参考板发射的光，校正由所述检测器检测到的信号的电平。

6.一种片材处理设备，其特征在于包括：

传输器，被配置成沿着传输路径传输片材；

检测器(5)，被配置成从所述传输路径上的预定读取区域接收光，和检测所述片材的图像数据；

第一照明器(3)，被配置成间歇性地将激发光发射到包括所述检测器的所述读取区域的第一照明区域；

第二照明器(4)，被配置成连续地将激发光发射到第二照明区域，所述第二照明区域在所述传输路径上在所述第一照明区域的上游与第一照明区域连续，并且不包括所述检测器的所述读取区域；

控制单元(6)，被配置成根据所述第一照明器的发射操作，控制所述检测器检测所述片材的荧光图像和余辉图像；

确定单元(8)，被配置成基于所述检测器检测到的荧光图像和磷光图像，确定所述片材是否打印有荧光打印信息和磷光打印信息；和

分类处理器(152)，被配置成基于所述确定单元的确定结果确定所述片材的种类，并且根据所述片材的种类对所述片材进行分类。

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