CN101655350B - 光学式测距传感器和电子仪器 - Google Patents
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Abstract
一种光学式测距传感器,具备:与发光元件设置在同一平面上的受光元件(2)。受光元件(2)包括:受光部(21),其具有多个单元(21A)且把从发光元件(1)发出而由被测定物反射的光进行聚光;闪存部(25),其记忆受光部(21)中的规定位置;信号处理电路部(22),其根据由多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测受光部(21)中所述光的聚光位置,而且根据闪存部(25)记忆的规定位置与受光部(21)中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。
Description
技术领域
本发明涉及光学式测距传感器和电子仪器,特别是涉及用于测定距位于规定范围的被测定物的距离的光学式测距传感器和包含该传感器的电子仪器。
背景技术
现有知道利用三角测量方式用于测定到位于规定范围的被测定物的距离的光学式测距传感器。图13是表示现有光学式测距传感器的剖视图。
参照图13,现有的光学式测距传感器包括:发光元件100、受光元件200、进行发光元件100的驱动和受光元件200的输出信号处理的集成电路部200A、把发光元件100和受光元件200分别封固的透光性树脂部300(300A、300B)、发光侧和受光侧的透镜400(400A、400B)、保持发光元件100、受光元件200和透光性树脂部300的遮光性树脂部500、引线框600和透镜壳体700。
图13所示的测距传感器在受光元件200中仅设置了一个受光部(PSD:Position Sensitive Detector)。该受光部的电阻值在受光部内是均匀且一定的。当把从受光元件200的两个端子得到的信号(电流值)分别设定为是I1、I2时,通过I1/(I1+I2)得到与距离对应的输出值,进行距离计测。
上述的光学式测距传感器例如在特开平09-318315号公报和特开2003-287420号公报中有记载。
在特开2002-195807号公报中记载有作为位置检测元件而利用CMOS图像传感器的内容。
图13所示的现有光学式测距传感器中,作为受光侧元件而使用的位置检测受光元件(PSD)的受光部仅是一个,由于该受光部的电阻值在受光部内是均匀且一定的,所以距物体的距离短时能够高精度地计测距离,但有距物体的距离长时计测距离的精度就变差的问题。使用图14、图15来说明其原因。
参照图14,在利用三角测量方式来检测距物体的距离(d)的光学式测距传感器中,距物体的距离(d)与受光部的输出(X)如图15所示那样是反比例关系,在距物体的距离短时,由距离变动而引起的输出变化增大,在距物体的距离长时,由距离变动而引起的输出变化减小。因此,在距物体的距离(d)长时,即使该距离(d)规定量有变化,受光部的输出(X)也不太变动。
相对地,通过加大发光侧的透镜中心与受光侧的透镜中心的中心之间距离(A)和受光侧透镜与受光元件之间的距离,即,受光侧透镜的焦距(f),就能够提高精度。但是通过加大上述的A、f,光学式测距传感器的尺寸就变大。
现有的测距传感器由于距物体的距离(d)长时,计测距离的精度就变差,所以实用上的计测距离范围是能够计测的最大距离与最小距离的比仅有8左右。
在特开2002-195807中表示了作为位置检测元件而适用CMOS图像传感器的内容,该文献的发光元件和受光元件不是同一平面状,而封装也按每个元件分别形成,且从CMOS图像传感器取出信号的处理部和发光元件的驱动电路部位于CMOS图像传感器芯片的外部。其结果是在特开2002-195807中有测距传感器的尺寸大的问题,且生产工序也多,各工序的作业也追求精度而变复杂,有制造成本高的问题。
发明内容
本发明的目的在于低成本地提供一种小型化且计测精度高的光学式测距传感器和包含该传感器的电子仪器。
本发明的光学式测距传感器是通过三角测量方式来检测距被测定物距离的光学式测距传感器。该传感器具备:发光元件、与发光元件设置在同一平面上的受光元件、把发光元件和受光元件分别封固的第一和第二透光性树脂部、分别设置在发光元件和受光元件前方的第一和第二透镜、为了在发光元件与受光元件之间形成规定的间隔而保持发光元件和受光元件的遮光性树脂部。受光元件包括:受光部,其具有多个单元且把从发光元件发出而由被测定物反射的光进行聚光;存储部,其记忆受光部中的规定位置;运算部,其根据由多个单元得到的所述光的检测结果来检测受光部中所述光的聚光位置,而且根据存储部记忆的规定位置与受光部中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。
根据上述结构,由于把由被测定物反射的光进行聚光的受光部具有多个单元,所以不过度加大透镜之间的距离(A)和受光部与受光侧透镜的焦距(f),而能够进行高精度的计测。因此,能够低成本地得到小型化且计测精度高的光学式测距传感器。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,多个单元把发光元件和受光元件在并列方向上设置成并列成一列。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,沿发光元件和受光元件并列方向的多个单元的宽度是5μm以下。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,第一和第二透镜的中心之间距离是10mm以下,沿发光元件和受光元件并列方向的受光部的宽度是5mm以下。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,第一和第二透镜的中心之间距离是2mm以下,沿发光元件和受光元件并列方向的受光部的宽度是1.5mm以下。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,运算部根据受光部的光量分布,把与光量峰值对应的位置作为受光部中所述光的聚光位置来检测。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,运算部根据受光部的光量分布,把与光量重心对应的位置作为受光部中所述光的聚光位置来检测。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,运算部根据受光部的光量分布,把与分布区域的几何学重心对应的位置作为受光部中所述光的聚光位置来检测。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,运算部根据受光部的光量分布而检测与光量峰值对应的位置、与光量重心对应的位置和与分布区域的几何学重心对应的位置中至少两个位置,并根据其检测结果的组合来计算受光部中所述光的聚光位置。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,存储部所记忆的受光部中的规定位置是:根据由发光元件发出光,被仅离开光学式测距传感器规定距离的物体反射后,向受光部聚光的光的光量分布所求得的的下列的位置:与光量峰值对应的位置、与光量重心对应的位置、与分布区域的几何学重心对应的位置或基于它们的组合所计算出的位置。
本申请的说明书中,“光量重心”是指:利用在受光部聚光的光的光量进行加权而求出的聚光区域的中心。
本申请的说明书中,“分布区域的几何学重心”是指:向受光部聚光的光分布的区域的几何学重心。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,设置在受光元件前方的第二透镜是费涅尔透镜。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,发光元件是谐振器型发光二极管。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,发光元件是面发光激光器。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,还具备衍射光栅,其被设置在从发光元件到达被测定物的光路径上,在与发光元件和受光元件并列的方向垂直交叉的方向上把来自发光元件的光进行分割。
一个实施形态是在所述光学式测距传感器中,发光元件和受光元件被安装在同一引线框上。
本发明的电子仪器具备上述的光学式测距传感器。一个实施形态是上述电子仪器是电脑或便携式电话。
根据本发明,如上所述能够低成本地得到小型化且计测精度高的光学式测距传感器和包含该传感器的电子仪器。
本发明的上述和其他目的、特点、状态和优点,从与附图相关的理解和关于本发明的下面详细的说明就可明白。
附图说明
图1是本发明一实施例光学式测距传感器的俯视图;
图2是图1的II-II剖视图;
图3是图1、图2所示光学式测距传感器的受光元件的俯视图;
图4~图6是说明受光部上聚光状态的图;
图7A~图7C是说明发光元件结构变化的图;
图8是本发明一实施例光学式测距传感器变形例的剖视图;
图9A、图9B是表示费涅尔透镜的图,图9A是俯视图、图9B是侧视图;
图10是本发明一实施例光学式测距传感器其他变形例的剖视图;
图11是图10所示光学式测距传感器所包含的衍射光栅的俯视图;
图12是用于说明图10所示光学式测距传感器的使用状态的立体图;
图13是表示现有光学式测距传感器的剖视图;
图14、图15是用于说明三角测量方式原理的图。
具体实施方式
以下说明本发明的实施例。有时对于同一或相当的部分则付与同一的参照符号而不反复其说明。
在以下说明的实施例中,在提到个数、量等时,除了有特别记载的情况之外,本发明的范围并不一定限定于该个数、量等。在以下的实施例中的各个结构元件,除了有特别记载的情况之外,对于本发明来说也不一定是必须的。以下在有多个实施例存在的情况下,除了有特别记载的情况之外,把各个实施例的结构适当组合是从当初就预定的。
图1是本发明一实施例光学式测距传感器的俯视图,图2是图1的II-II剖视图。
参照图1、图2,本实施例的光学式测距传感器包括:发光元件1、受光元件2、透光性树脂部3(3A、3B)、透镜4(4A、4B)、遮光性树脂部5、引线框6和透镜壳体7。
发光元件1例如由一个红外LED等构成。发光元件1和受光元件2被安装在引线框6上。发光元件1和受光元件2被按规定的间隔(A)并列配置。且发光元件1和受光元件2通过连续自动送进成型而各自被环氧类的透光性树脂3(3A、3B)所封固。且发光元件1和受光元件2除了接受光的窗部1A、1B之外,利用注射成型而被遮光性树脂部5所包围。
透镜壳体7保持发光侧透镜4A和受光侧透镜4B。透镜4A、4B被由可见光截止材料构成的丙烯酸树脂或聚碳酸酯树脂所形成。透镜壳体7由ABS树脂或聚碳酸酯树脂所形成。透镜4和透镜壳体7通过双色成型而被一体成型。
图3是受光元件2的俯视图。参照图3,受光元件2包括:受光部21、信号处理电路部22、软件存储部23、数据存储部24、闪存部25和驱动电路部26。
受光部21是m行×n列的CMOS面传感器。受光部21包含多个受光单元21A。图3的例中,是m=14(行)、n=4(列)。即,在图3的例中,合计设置有56个受光单元21A。但典型的其他例也可以是n=1(列)。这时,多个受光单元21A被设置成沿发光元件1和受光元件2并列的方向(图3中的左右方向)并列成一列。
信号处理电路部22具有利用后述的方法来运算距测定物的距离的“运算部”的功能。软件存储部23是容纳用于进行信号处理电路部22的运算的软件的部分。数据存储部24是在信号处理电路部22进行运算时用于临时记忆数据的必要部分。闪存部25记忆受光部21中规定的位置。信号处理电路部22如后述那样根据闪存部25记忆的“规定位置”与受光部21受光的光的聚光位置的相对位置关系来运算距测定物的距离。
受光单元21A的宽度可适当变更,但在本实施例典型的一个例中,沿发光元件1和受光元件2并列方向(图3中的左右方向)的受光单元21A的宽度是5μm以下程度。且本实施例典型的一个例中,透镜4A、4B的中心间距离是10mm以下程度,沿发光元件1和受光元件2并列方向(图3中的左右方向)的受光部21的宽度是5mm以下程度。
而且本实施例典型的一个例中,透镜4A、4B的中心间距离是2mm以下程度,沿发光元件1和受光元件2并列方向(图3中的左右方向)的受光部21的宽度是1.5mm以下程度。
在利用三角测量方式来检测距物体的距离(d)的光学式测距传感器中,距物体的距离(d)与输出是反比例关系,在距物体的距离短时,由距离变动而引起的输出变化大,在距物体的距离长时,由距离变动而引起的输出变化小,而且具有上述的变化的倾向。因此,在距物体的距离(d)长时,相对距离变化,受光部21上的光点移动量小。这也可利用发光侧的透镜4A中心与受光侧的透镜4B中心之间的距离(A)和受光侧透镜4B与受光部之间的距离,即,受光侧透镜4B的焦距(f)而进行变化。即,通过加大透镜中心间距离(A)和受光侧的焦距(f),就能够使根据距测定物的距离变化的光点移动量变大。但如果是这样,光学式测距传感器的尺寸就变大。
例如,把光学式测距传感器作为电脑的人体检测(检测人是否在电脑前,若不在则进行消除监视等的控制,实现节能)和作为手机的照相机自动对焦用途而用于安装的尺寸时,发光侧的透镜4A中心与受光侧的透镜4B中心之间的距离(A)优选大致是10mm以下程度,透镜焦距f优选大致是5mm以下。这时,当把测距范围设定为1cm~200cm左右时,受光部21上的光点移动量是10×5×(1/10-1/2000)=4.975mm。本实施例中,受光部21的宽度(由多个受光单元21A构成的受光部21的宽度)在连结发光元件1的中心与受光部21的中心的直线方向上是大致5mm,但由于测距范围变窄则光点的移动量也就变小,所以也可以比5mm小。这时,例如在远距离侧的200cm附近要检测10cm左右的差(检测该以下的差的必要性在实际应用上是低的)时,受光部21上的光点的移动量是10×5×(1/1900-1/2000)=1.3μm左右。CMOS面传感器能够以一定程度的精度(20%左右)检测在一个单元内光向哪种程度的区域照射。即受光单元21A的宽度只要是5μm以下程度,就能够检测1.3μm程度的光点的移动量。因此,受光部21的受光单元21A的宽度在连结发光元件1的中心与受光部21的中心的直线方向上优选大致是5μm以下程度。这样能够一边确保作为测距范围是1~200cm的宽广范围(最大值/最小值=200),一边实现比现有是小型且精度好的测距传感器。
在测距范围与现有技术同样(例如10~80cm,即最大值/最小值=8)的情况下,即使确保与上述例同样的精度,也能够使发光侧的透镜4A中心与受光侧的透镜4B中心的中心间距离(A)大致是5mm、透镜焦距(f)大致是2.5mm而大幅度小型化。这时,受光部21上的光点移动量是5×2.5×(1/100-1/800)=0.11mm,受光部21的宽度(由多个受光单元21A构成的受光部21的宽度)也能够大幅度变小。
而且在测距范围1~30mm程度的接近区域,在远距离侧即30mm附近能够检测1mm左右距离变动的最小尺寸,即,在30mm附近能够得到受光部21上的光点移动量是大致1μm左右的最小尺寸,发光侧的透镜4A中心与受光侧的透镜4B中心的中心间距离(A)大致是2mm、透镜焦距(f)大致是0.5mm。这时,受光部21上的光点移动量是2×0.5×(1/1-1/30)=0.97mm,受光部21的宽度(由多个受光单元21A构成的受光部21的宽度)在连结发光元件1的中心与受光部21的中心的直线方向上是大致1.5mm便可。因此,能够实现相当小型的接近传感器。
如上所述,由于通过缩小受光部21的宽度而能够使包含CMOS图像传感器和其他电路部的受光元件2的尺寸变小,且还能够把封装变小,所以能够实现低成本的接近传感器。这种接近传感器代替机械开关例如检测手机是否在通话中(手机是否位于在耳朵近旁),根据该检测结果来把监视关闭以谋求省能,在控制其他功能中能够使用。
且在测距范围500~5000mm程度的区域,在5000mm附近能够检测100mm左右距离变动的最小尺寸,即在5000mm附近能够得到受光部21上的光点移动量是大致1μm左右的最小尺寸,发光侧的透镜4A中心与受光侧的透镜4B中心的中心间距离(A)大致是25mm、透镜焦距(f)大致是10mm。这时,受光部21上的光点移动量是25×10×(1/500-1/5000)=0.45mm,受光部21的宽度(由多个受光单元21A构成的受光部21的宽度)在连结发光元件1的中心与受光部21的中心的直线方向上是大致1mm便可。因此,能够实现相当小型的远距离传感器。这种远距离传感器能够适用于检测在道路、走廊和大门等的人的防止犯罪用途(与防止犯罪照相机连动使用。这是由于照相机能够对人体摄影,但不能计测距人体的距离的缘故)和适用于例如计测放映机到银幕的距离并自动对焦的功能(特别是便携式放映机由于每次使用时到银幕的距离在变化,所以该功能是有效的)等。
从受光部21输出的信号的处理方法是对于各个测距传感器对应下面的两个光点位置的相对位置关系进行输出,一个光点位置是:构成受光元件2的芯片内的闪存部25预先记忆的与规定距离对应的受光部21上的光点位置,另一个光点位置是:把被测定物放置在要计测的距离位置并使该物体反射从发光侧发出的光,根据通过受光侧透镜4B而向受光部21聚光的结果所得到的各受光单元21A的光量分布所求得的光点位置。通过这样利用闪存部25记忆的与规定距离对应的受光部21上的光点位置来进行测定,能够进行精度好的测距。
下面使用图4~图6来说明求光点位置的方法。如图4所示,在典型的一个例中,把与光量峰值对应的位置作为受光部中光点位置(聚光位置)来检测。但也有如图5所示那样把进行利用光量进行的加权所求得的与光量分布的重心(光量重心)对应的位置作为光点位置的情况,也有如图6所示那样把与光的分布区域的几何学重心对应的位置作为光点位置的情况。
把与光量峰值对应的位置作为点位置的方法,在图4所示那样光量分布以峰值为中心且平稳减少的分布的情况是有效的。但如图5、图6所示那样,光量有大部分分散存在于数个部位的分布情况下,若单纯地利用峰值位置来检测点位置,就成为比检测的峰值稍微小的部分的位置被忽略,不能求出正确的点位置。在这种情况下,优选采用求出成为光量分布重心的位置的方法和求出成为该分布区域重心的位置(面积重心)的方法。
在上述三个方法中,通过根据至少两种处理结果来再计算点位置并且求出,就能够把光点位置再现性良好地正确求出。
下面使用图7A~图7C来说明发光元件1结构的变化。如图7A所示,在一个实施例中作为发光元件1而使用发光二极管11。这时,由于向所有方向射出光,所以为了尽可能地有效利用该光而必须一定程度地加大透镜4A。对此,如图7B和图7C所示那样,通过采用谐振器型发光二极管(RCLED:resonant cavity LED)12和面发光激光器(VCSEL:VerticalCavity Surface Emitting Laser)13来把光的放射角变小,由于能够限定其射出方向,所以能够缩小透镜4A的口径和焦距。这对于测距传感器的小型化是有效的。
若比较谐振器型发光二极管12和面发光激光器13,则面发光激光器13的光的放射角小,小型化的效果大,但谐振器型发光二极管12有成本低的优点。面发光激光器13由于是从芯片上面射出光,所以如本实施例那样,把发光元件1安装在引线框6上的结构中,安装性优良(由于普通的半导体激光器是从芯片侧面发光,所以不能安装在引线框上)。且在采用谐振器型发光二极管12或面发光激光器13的情况下,与发光二极管11相比能够有效利用的光格外地多,用于使发光的必要的电流小,具有也能够减少消耗电流的优点(关于这点是面发光激光器13比谐振器型发光二极管12的效果大)。由于谐振器型发光二极管12和面发光激光器13的发光点的大小比发光二极管11的小,所以在发光侧透镜4A容易制作平行光(发光二极管11的情况并不是平行光,而是产生一定程度的光束扩展),提高计测距离的精度(关于这点也是面发光激光器13比谐振器型发光二极管12的效果大)。
图8是本实施例光学式测距传感器变形例的剖视图。如图8所示,本变形例中受光侧透镜4B使用费涅尔透镜。
由于对受光侧透镜4B来说需要把被测定物反射的光尽可能多地向受光部21取入,所以有要增大透镜径的要求,但通常的透镜若增大透镜径,则透镜焦距就变大,测距传感器容易被大型化。对此,在使用了费涅尔透镜时,能够不变地保持透镜口径大并且减小透镜焦距。且如图9A、图9B所示,能够把透镜4B的厚度变薄。其结果是能够谋求测距传感器的小型化。特别是能够把测距传感器的高度变小。
图10是本实施例光学式测距传感器其他变形例的剖视图。参照图10,本变形例测距传感器的特点是在从发光元件1到达被测定物的光路径上设置了衍射光栅8(参照图11)。衍射光栅8在与发光元件1和受光元件2并列方向垂直交叉的方向(图10中纸面的前后方向)上把来自发光元件1的光进行分割。即,本变形例的测距传感器是发光光束被分割的多光束光学式测距传感器。被分割的各光束的光强度相互相同。
图12是用于说明图10所示光学式测距传感器的使用状态的立体图。参照图12,在检测范围内有被测定物A、B的情况下,被各个被测定物A、B反射的光的一部分通过受光侧透镜4B而向CMOS面传感器的受光部21聚光。该聚光位置(点位置)由于从传感器到非测定物的距离而在图中X轴方向上有变动(距离越远则点位置越靠近X轴的负方向),由于从传感器朝向非测定物的方向而在图中Y轴方向上有变动。因此,通过点位置处于受光部21上的哪个位置就能够检测被测定物的位置。如图12那样有多个被测定物存在的情况下,能够检测出各自的位置。
作为本光学式测距传感器所利用的光的波长,由于通过适用红外线而能够减少干扰光的影响。例如,作为发光元件1的发光波长而适用红外区域,则CMOS面传感器的受光波长也在红外具有峰值灵敏度,通过作为受光侧透镜4B和发光侧透镜4A而具有截止可见光的光学特性的,则只要有屋内荧光灯程度的光,就能够不受影响地进行测定。但在如白热灯和太阳光那样包含红外光的光的环境下使用时,则还需要想办法。作为该办法例如考虑:利用按规定的时间驱动发光元件1的驱动电路部26,来使发光元件1在规定的期间内仅脉冲发光规定的次数,与该发光时间同步地把受光元件2侧的信号作为有效信号提取,具有作为脉冲发光次数的平均值来输出的功能。
根据本实施例的光学式测距传感器,通过把被测定物反射的光进行聚光的受光部21具有多个单元,使透镜间距离(A)和受光部21与受光侧透镜4B的焦距不过度大,能够进行精度高的计测。因此,能够得到小型化且计测精度高的光学式测距传感器。
若把上述内容归纳一下则如下所述。即本实施例的光学式测距传感器是通过三角测量方式来检测距被测定物距离的光学式测距传感器。具备:发光元件1、与发光元件1设置在同一平面上的受光元件2、把发光元件1和受光元件2分别封固的作为“第一和第二透光性树脂部”的透光性树脂部3(3A、3B)、分别设置在发光元件1和受光元件2前方的作为“第一和第二透镜”的透镜4(4A、4B)、为了在发光元件1与受光元件2之间形成规定的间隔(A)而保持发光元件1和受光元件2的遮光性树脂部5。受光元件2包括:受光部21,其具有多个单元21A且把从发光元件1发出而由被测定物反射的光进行聚光;闪存部25,其作为“存储部”而记忆受光部21中的规定位置;信号处理电路部22,其作为“运算部”而根据由多个单元21A得到的所述光的检测结果来检测受光部21中所述光的聚光位置,而且根据闪存部25记忆的规定位置与受光部21中所述光的聚光位置的相对关系来计测距测定物的距离。
详细说明并表示了本发明,但这仅是为了例示而不被限定,发明的范围应该清楚地理解为由权利要求范围来解释。
Claims (15)
1.一种光学式测距传感器,是通过三角测量方式来检测距被测定物距离的光学式测距传感器,其中,具备:发光元件(1)、
与所述发光元件(1)设置在同一平面上的受光元件(2)、
把所述发光元件(1)和所述受光元件(2)分别封固的第一和第二透光性树脂部(3)、
分别设置在所述发光元件(1)和所述受光元件(2)前方的第一和第二透镜(4)、
为了在所述发光元件(1)与所述受光元件(2)之间形成规定的间隔而保持所述发光元件(1)和所述受光元件(2)的遮光性树脂部(5),
所述受光元件(2)包括:
受光部(21),其具有多个单元(21A)且把从所述发光元件(1)发出而由所述被测定物反射的光进行聚光;
存储部(25),其记忆所述受光部(21)中的规定位置;
运算部(22),其根据由所述多个单元(21A)得到的所述光的检测结果来检测所述受光部(21)中所述光的聚光位置,而且根据所述存储部(25)记忆的规定位置与所述受光部(21)中所述光的聚光位置的相对位置关系来计测距所述被测定物的距离;
沿所述发光元件(1)和所述受光元件(2)并列方向的所述多个单元(21A)的宽度是5μm以下,
沿所述发光元件(1)和所述受光元件(2)并列方向的所述受光部(21)的宽度是5mm以下。
2.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述多个单元(21A)在所述发光元件(1)和所述受光元件(2)并列的方向上设置排成一列。
3.如权利要求1或2所述的光学式测距传感器,其中,所述第一和第二透镜(4)的中心之间距离是10mm以下。
4.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述第一和第二透镜(4)的中心之间距离是2mm以下,
沿所述发光元件(1)和所述受光元件(2)并列方向的所述受光部(21)的宽度是1.5mm以下。
5.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述运算部(22)根据所述受光部(21)的光量分布,把与光量峰值对应的位置作为所述受光部(21)中所述光的聚光位置来检测。
6.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述运算部(22)根据所述受光部(21)的光量分布,把与光量重心对应的位置作为所述受光部(21)中所述光的聚光位置来检测。
7.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述运算部(22)根据所述受光部(21)的光量分布,把与分布区域的几何学重心对应的位置作为所述受光部(21)中所述光的聚光位置来检测。
8.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述运算部(22)根据所述受光部(21)的光量分布而检测与光量峰值对应的位置、与光量重心对应的位置和与分布区域的几何学重心对应的位置中的至少两个位置,并根据其检测结果的组合来计算所述受光部(21)中所述光的聚光位置。
9.如权利要求5到权利要求8中任一项所述的光学式测距传感器,其中,所述存储部(25)所记忆的所述受光部(21)的规定位置是:根据由所述发光元件(1)发出光,被仅离开所述光学式测距传感器规定距离的物体反射后,向所述受光部(21)聚光的光的光量分布所求得的下列的位置:与光量峰值对应的位置、与光量重心对应的位置、与分布区域的几何学重心对应的位置或基于它们的组合所计算出的位置。
10.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,设置在所述受光元件(2)前方的第二透镜是费涅尔透镜。
11.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述发光元件(1)是谐振器型发光二极管。
12.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述发光元件(1)是面发光激光器。
13.如权利要求12所述的光学式测距传感器,其中,还具备衍射光栅,其被设置在从所述发光元件(1)到达所述被测定物的光路径上,在与所述发光元件(1)和所述受光元件(2)并列的方向垂直交叉的方向上把来自所述发光元件(1)的光进行分割。
14.如权利要求1所述的光学式测距传感器,其中,所述发光元件(1)和所述受光元件(2)被安装在同一引线框(6)上。
15.一种电子仪器,具备权利要求1~14中任一项所述的光学式测距传感器。
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- 2009-08-20 CN CN2009101629344A patent/CN101655350B/zh active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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