CN101592703B

CN101592703B - 电路群组及其测试方法与测试机台

Info

Publication number: CN101592703B
Application number: CN2008101084155A
Authority: CN
Inventors: 杨正光
Original assignee: Winbond Electronics Corp
Current assignee: Winbond Electronics Corp
Priority date: 2008-05-27
Filing date: 2008-05-27
Publication date: 2011-10-26
Anticipated expiration: 2028-05-27
Also published as: CN101592703A

Abstract

本发明提供一种电路群组及其测试方法与测试机台。此测试方法包括依据第一调整信号将第一电路的第一电压调整为第二电压，其中第二电压较第一电压接近标准电压。此外，依据第二调整信号将第二电路的第三电压调整为第四电压，其中第四电压较第三电压接近标准电压。另外，依据边限调整信号一并调整第二电压与第四电压的边限范围。如此一来可缩短第一电路与第二电路的测试时间，用以节省成本。

Description

电路群组及其测试方法与测试机台

技术领域

本发明是有关于一种电路群组的测试技术，且特别是有关于多个电路的边限电压的测试技术。

背景技术

对于大多数的集成电路(Integrated Circuit，简称IC)来说，通常会在其内部配置直流电压产生器。若直流电压产生器提供不适当的电压给IC使用，可能会导致IC无法正常工作。因此，当IC制造完成后，通常会对各IC进行测试，用以确保IC的良品率。以下配合图式对已知的电路测试技术作详细的说明。

图1是已知的一种内含利用熔丝技术调整直流电压产生器的电压的电路示意图。请参照图1，电路11包括了直流电压产生器101与测试模式调整单元(Test Mode Trim Unit)102。直流电压产生器101用以提供直流电压V1。测试模式调整单元102可将直流电压V1调整为多种不同的测试电压Vout，用以测试电路11是否可正常运作。

首先，假设电路11的最佳工作电压为2.5V，且其边限电压(MarginVoltage)为2.3V～2.7V。此外，假设测试模式调整单元102具有8种测试模式，如下列表一。

表一测试模式调整单元102的各种测试模式

0	0	0	0V
				1	0	0	+0.05V
1	0	1	+0.1V
				1	1	0	+0.15V
1	1	1	+0.2V

一般来说，测试电路可分为两阶段，第一阶段会提供最接近最佳工作电压的测试电压给电路11使用，用以测试电路11是否可正常工作。第二阶段则会提供边限电压给电路11使用，并测试电路11是否可正常工作，用以确保电路11的品质。

假设直流电压产生器101所产生的直流电压V1为2.65V。在测试电路的第一阶段中，为了模拟电路11在最佳工作电压的情况下是否可正常工作。首先可将测试模式调整单元102的测试模式设定为“0、1、0”，用以使直流电压V1产生-0.1V的电压偏移，进而输出2.55V的测试电压给电路11使用。接着，可检测电路11在边限电压的情况下是否可正常工作。若电路11可正常工作，代表电路11是可以通过熔丝(Fuse)技术进行电路修复。若电路11无法正常工作，代表电路11具有瑕疵而无法出货，用以避免客户端买到无法正常工作的电路。

承上述，在测试电路的第二阶段，为了模拟电路11在边限电压的情况下是否可正常工作。首先，可将测试模式调整单元102的测试模式更改为“1、0、0”，用以使直流电压V1产生+0.05V的电压偏移，进而输出2.7V的测试电压Vout给电路11使用。如此一来，可利用2.7V的测试电压Vout，模拟电路11在边限电压2.7V的情况下是否可正常工作。

承上述，接着可再将测试模式调整单元102的测试模式更改为“0、1、1”，用以使直流电压V1产生-0.2V的电压偏移，进而输出2.45V的测试电压给电路11使用。如此一来，可利用2.45V的测试电压Vout，模拟电路11在边限电压2.3V的情况下是否可正常工作。值得注意的是，由于测试模式调整单元102的限制，因此测试模式调整单元102并无法提供2.3V的测试电压，用以模拟电路11在边限电压2.3V的情况下是否可正常工作。换言之，上述做法并无法确保电路11在2.3V～2.45V的情况下仍可正常工作。

不仅如此，假设有一百个电路11要进行电路测试。基于各个电路11的直流电压产生器101所产生的直流电压V1皆略有不同，因此当进行电路测试时，必须逐一对上述一百个电路11的测试模式调整单元102进行设定，用以产生适当的测试电压。更详细地说，依据上述已知的做法，假设各个电路11在电路测试的第一阶段与第二阶段所花费的测试时间分别为T1与T2。如此一来，一百个电路11进行电路测试所花费的总时间则为100×(T1+T2)。故已知做法相当耗费时间，而且浪费成本。

请再参照图1，继续假设有一百个电路11要进行电路测试。为了缩短电路测试所花费的总时间。现有技术提出了另一种测试方式。说明如下，在电路测试的第一阶段时，首先利用测试机台(未绘示)同时提供2.5V的测试电压V1给一百个电路11，用以平行检测一百个电路11是否可正常工作。

承上述，在电路测试的第二阶段时，首先利用测试机台同时提供2.3V的测试电压V1给一百个电路11，用以平行检测一百个电路11是否可正常工作。接着，再利用测试机台同时提供2.7V的测试电压V1给一百个电路11，用以平行检测一百个电路11是否可正常工作。此做法虽可缩短电路测试所花费的总时间。然而，此做法并无法确保一百个电路11的直流电压产生器101皆可正常工作。换言之，若电路11的直流电压产生器101具有瑕疵，仍会导致电路11无法正常工作。但已知做法却无法检测出直流电压产生器101的瑕疵。

不仅如此，由于测试机台所提供的测试电压V1相当稳定而且具有强大的驱动能力，因此若电路11发生漏电流等情形，亦不会导致测试电压V1发生偏移。换言之，若电路11具有漏电流等瑕疵，即便电路11的直流电压产生器101可提供2.5V的工作电压给电路11使用。但因为电路11有漏电流等瑕疵，因此会造成直流电压产生器101所提供的工作电压产生偏移，例如偏移成2.0V，如此一来电路11则可能无法正常工作。已知做法亦无法检测出此类瑕疵。

发明内容

本发明提供一种电路群组，可提升电路的测试良品率。

所述电路群组包括：一第一电路以及一第二电路，所述第一电路包括：一第一电压调整模块，依据一第一调整信号，将所述第一电路的一第一电压调整为一第二电压，其中所述第二电压较所述第一电压接近一标准电压；以及一第二电压调整模块，耦接所述第一电压调整模块，依据一边限调整信号调整所述第二电压的边限范围；所述第二电路包括：一第三电压调整模块，依据一第二调整信号，将所述第二电路的一第三电压调整为一第四电压，其中所述第四电压较所述第三电压接近所述标准电压；以及一第四电压调整模块，耦接所述第三电压调整模块，依据所述边限调整信号调整所述第四电压的边限范围。

本发明提供一种电路群组的测试方法，可平行测试多个电路，用以节省测试成本。

本发明提供一种测试机台，可平行测试电路群组的多个电路，用以缩短测试时间，降低成本。所述测试机台包括：一第一控制单元，耦接所述第一电路与所述第二电路，依据所述第一电路的一第一电压产生一第一调整信号，其中所述第一电路依据所述第一调整信号将所述第一电压调整为一第二电压，所述第二电压较所述第一电压接近一标准电压，此外，所述第一控制单元并依据所述第二电路的一第三电压产生一第二调整信号，其中所述第二电路依据所述第二调整信号将所述第三电压调整为一第四电压，所述第四电压较所述第三电压接近所述标准电压；以及一第二控制单元，耦接所述第一电路与所述第二电路，产生一边限调整信号一并调整所述第二电压与所述第四电压的边限范围。

从另一观点来看，本发明提供一种电路群组的测试方法。此电路群组至少包括第一电路与第二电路。此测试方法包括依据第一调整信号将第一电路的第一电压调整为第二电压，其中第二电压较第一电压接近标准电压。此外，依据第二调整信号将第二电路的第三电压调整为第四电压，其中第四电压较第三电压接近标准电压。另外，依据边限调整信号一并调整第二电压与第四电压的边限范围。

在电路测试的第二阶段(边限电压测试)，利用平行测试技术可大幅节省电路的测试时间，用以节省成本。利用电路中的直流电压产生器进行测试，可确实检测出直流电压产生器的瑕疵，并可忠实模拟电路实际的工作情形，用以提升电路的良品率与测试品质。在电压调整模块中配置熔丝单元。如此一来即可利用熔丝技术修复直流电压产生器所产生的电压误差，用以提高电路的良品率。

附图说明

图1是已知的一种利用熔丝技术调整直流电压产生器的电压的电路示意图。

图2是依照本发明的实施例的一种电路群组及其测试机台的示意图。

图3是依照本发明的实施例的一种电路群组的测试方法的流程图。

图4为图2的电压调整模块的一种电路图。

图5为图2的电压调整模块的另一种电路图。

附图标号：

11、21～24：电路

25：测试机台

41：放大器

42：晶体管

43：可调式分压模块

101、201：直流电压产生器

102：测试模式调整单元

202、203：电压调整模块

211、212：控制单元

401～406：开关单元与熔丝单元

411～414：电阻

421～426：开关单元

V1、Vout、Vw、Vin1～Vin4、Vref1～Vref4、Vref1±ΔV～Vref4±ΔV、VCC、GND：电压

S1～S4、Sma：调整信号

S301～S303：电路群组的测试方法的各步骤

具体实施方式

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举几个实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

图2是依照本发明的实施例的一种电路群组及其测试机台的示意图。请参照图2，在本实施例中，电路群组包括了电路21～24。另一方面，测试机台25包括了控制单元211、212。在本实施例中，电路21～24分别包括了直流电压产生器201与电压调整模块202、203。

在电路21中，直流电压产生器201可接收工作电压Vw，用以产生电压Vin1。电路21的电压调整模块202可依据控制单元211所提供的调整信号S1将电压Vin1调整为接近标准电压的电压Vref1。另外，电路21的电压调整模块203可依据控制单元212所提供的边限调整信号Sma调整电压Vref1的边限范围。更具体地说，电路21的电压调整模块203可依据边限调整信号Sma将电压Vref1调整成电压Vref1±ΔV。

同理，在电路22中，直流电压产生器201可接收工作电压Vw，用以产生电压Vin2。电路22的电压调整模块202可依据控制单元211所提供的调整信号S2将电压Vin2调整为接近标准电压的电压Vref2。另外，电路22的电压调整模块203可依据控制单元212所提供的边限调整信号Sma调整电压Vref2的边限范围。更具体地说，电路22的电压调整模块203可依据边限调整信号Sma将电压Vref2调整成电压Vref2±ΔV。以此类推电路23、24，在此不再赘述。

值得注意的是，由于在目前的技术中，直流电压产生器201并无法产生精准的电压，因此电路21～24的直流电压产生器201所产生的电压Vin1～Vin4会略有不同，进而导致电压Vref1～Vref4与电压Vref1±ΔV～Vref4±ΔV也会略有差异。

再从另一角度来看，测试机台25中的控制单元211分别耦接电路21～24的电压调整模块202。控制单元211可分别依据电路21～24的电压Vin1～Vin4分别产生调整信号S1～S4，用以分别控制电路21～24的电压调节模块202。另外测试单元25中的控制单元212分别耦接电路21～24的电压调节模块203。控制单元212产生边限调整信号Sma一并控制电路21～24的电压调节模块203。

图3是依照本发明的实施例的一种电路群组的测试方法的流程图。请合并参照图2与图3，在本实施例中，假设电路21～24的最佳工作电压为2.5V，且其边限电压为2.3V～2.7V。此外，假设电压调整模块202具有8种调整模式，如下列表二。另外，假设电压调整模块203亦具有8种调整模式，如下列表三。

表二电压调整模块202的各调整模式及其电压调整量

1

+0.2V

表三电压调整模块203的各调整模式及其电压调整量

在本实施例中，测试电路群组的电路21～24可分为两阶段。第一阶段会模拟电路21～24在最佳工作电压的情况下是否可正常工作。第二阶段则会模拟电路21～24在边限电压的情况下是否可正常工作。以下先针对第一阶段进行说明。

第一阶段

首先可由测试机台25提供工作电压Vw给电路21～24的直流电压产生器201，用以使电路21～24的直流电压产生器201分别产生电压Vin1～Vin4。在本实施例中，电压Vin1～Vin4分别以2.65V、2.53V、2.33V与2.15V为例进行说明，但本发明并不限于此。接着，测试机台25的控制单元211会依据电压Vin1～Vin4分别产生调整信号S1～S4，用以分别控制电路21～24的电压调节模块202。

承接上述，接着再从电路群组的角度来看，电路21的电压调整模块202可依据调整信号S1将电压Vin1调整为接近标准电压的电压Vref1(步骤S301)。在本实施例中标准电压以最佳工作电压2.5V为例进行说明，但本发明并不以此为限。在其他实施例中，标准电压亦可以是其他电压值。更具体地说，在步骤S301中，电路21的电压调整模块202可依据调整信号S1将其调整模式设定为“0、1、0”，进而将2.65V的电压Vin1调整为2.55V的电压Vref1。

同理，电路22～24的电压调整模块202可分别依据调整信号S2～S4将电压Vin2～Vin4调整为接近标准电压的电压Vref2～Vref4(步骤S302)。更具体地说，在步骤S302中，电路22的电压调整模块202可依据调整信号S2将其调整模式设定为“0、0、0”，进而将2.53V的电压Vin2维持成2.53V的电压Vref2。此外，电路23的电压调整模块202可依据调整信号S3将其调整模式设定为“1、1、0”，进而将2.33V的电压Vin3调整为2.48V的电压Vref3。另外，电路24的电压调整模块202可依据调整信号S4将其调整模式设定为“1、1、1”，进而将2.15V的电压Vin4调整为2.35V的电压Vref4。

承接上述，电路21～24的电压调整模块203可采用预设的调整模式“0、0、0”，用以分别输出电压2.55V、2.53V、2.48V与2.35V。如此一来，电路21则可利用电压2.55V，用以模拟电路21在最佳工作电压的情况下是否可正常工作。如果电路21可正常工作，代表电路21是可以通过熔丝技术进行电路修复。若电路21无法正常工作，代表电路11具有瑕疵而无法出货，用以避免客户端买到无法正常工作的电路。以此类推电路22～电路24，在此不再赘述。

上述做法的好处在于可真实模拟电路21～24在封装后所使用的电压，因此可忠实呈现电路21～24在实际使用下是否可正常工作，用以提升测试品质。

为了更清楚呈现电路21～24的电压调整模块202的输出入电压，在此将其整理于下列表四中。另外，在此并将电路21～24的电压调整模块203的输出入电压整理于下列表五中。

表四电路21～24的电压调整模块202的输出入电压

	电压调整模块202的输入电压	电压调整模块202的调整模式	电压的调整量	电压调整模块202的输出电压
					电路21	2.65V	“0、1、0”	-0.1V	2.55V
电路22	2.53V	“0、0、0”	0V	2.53V

电路23	2.33V	“1、1、0”	+0.15V	2.48V
					电路24	2.15V	“1、1、1”	+0.2V	2.35V

表五电路21～24的电压调整模块203的输出入电压

	电压调整模块203的输入电压	电压调整模块203的调整模式	电压的调整量	电压调整模块203的输出电压
					电路21	2.55V	“0、0、0”	0V	2.55V
电路22	2.53V	“0、0、0”	0V	2.53V
					电路23	2.48V	“0、0、0”	0V	2.48V
电路24	2.35V	“0、0、0”	0V	2.35V

第二阶段

接着，在第二阶段，则模拟电路21～24在边限电压的情况下是否可正常工作。在第二阶段，电路21～24的电压调整模块202的调整模式可维持与第一阶段相同。在本实施例中，要模拟电路21～24在边限电压的情况下是否可正常工作，仅需通过控制单元212产生边限调整信号Sma，用以一并控制电路21～24的电压调节模块203的调整模式。再从另一角度来看，电路21～24可依据边限调整信号Sma一并调整电压Vref1～Vref4的边限范围(步骤S303)。

举例来说，若要模拟电路21～24在边限电压为2.3V是否可正常工作。首先，可由控制单元212产生边限调整信号Sma一并将电路21～24的电压调节模块203的调整模式设定为“1、0、1”，用以使电路21～24的电压调节模块203分别输出2.35V、2.33V、2.28V与2.15V。如此一来，电路21～24则可分别利用2.35V、2.33V、2.28V与2.15V，用以模拟电路21～24在边限电压为2.3V是否可正常工作。

再举例来说，若要模拟电路21～24在边限电压为2.7V是否可正常工作。首先，可由控制单元212产生边限调整信号Sma一并将电路21～24的电压调节模块203的调整模式设定为“0、1、0”，用以使电路21～24的电压调节模块203分别输出2.75V、2.73V、2.68V与2.55V。如此一来，电路21～24则可分别利用2.75V、2.73V、2.68V与2.55V，用以模拟电路21～24在边限电压为2.7V是否可正常工作。

上述做法的好处在于可大幅节省电路群组的测试时间。更具体地说，在本实施例的第二阶段中，电路21～24可一并平行测试，因此可大幅节省电路群组的测试时间。

不仅如此，还可真实模拟电路21～24在封装后可能使用到的边限电压，因此可忠实呈现电路21～24在实际使用下是否可正常工作，用以提升测试品质。为了凸显本实施例所能节省的测试时间，以下将本实施例的技术与现有技术作一比较。

请再参照图1，从现有技术中可知道，对利用现有技术对一百个电路11进行电路测试所花费的总时间为100×(T1+T2)。但是，若将本实施例所提出的技术应用在上述例子中，对一百个电路11进行电路测试所花费的总时间为(100×T1)+T2。由此可明显看出本实施例确实能够大幅缩短电路测试所花费的总时间，而且还可维持测试品质，例如可检测出直流电压产生器101的瑕疵。由此可明显看出本实施例所提供的技术确实可解决现有技术长期存在的问题。

请再参照图2，上述实施例中，电路群组虽仅以电路21～24进行说明，但本发明并不以此为限。在其他实施例中电路群组亦可以由其他数量的电路所组成。

值得一提的是，虽然上述实施例中已经对电路群组及其测试方法与测试机台描绘出了一个可能的型态，但所属技术领域技术人员应当知道，各厂商对于电路群组及其测试方法与测试机台设计都不一样，因此本发明的应用当不限制于此种可能的型态。换言之，只要是依据第一调整信号将第一电路的第一电压调整为第二电压，并依据第二调整信号将第二电路的第三电压调整为第四电压，另外还依据边限调整信号一并调整第二电压与第四电压的边限范围，就已经是符合了本发明的精神所在。以下再提供电压调整模块的几个实施方式，以供本领域技术人员参详。

以下提供图2的电压调整模块202的一种实施方式，以供本领域技术人员参详。图4为图2的电压调整模块的一种电路图。请合并参照图2与图4，在本实施例中，由于电路21～24的电压调整模块202相类似，因此在此仅针对电路21的电压调整模块202进行说明，本领域技术人员应可据以推知电路22～24的电压调整模块202的实施方式。

为了便于说明，在此仅列举电压调整模块202的3种调整模式的实施方式。本领域技术技术人员可据以推知电压调整模块数202不同数量的调整模式的实施方式。电路21的电压调整模块202可包括放大器41、晶体管42与可调式分压模块43。可调式分压模块43包括开关单元与熔丝单元401～406以及电阻411～414。可调式分压模块43可依据调整信号S1分别决定开关单元与熔丝单元401～406导通与否，用以改变可调式分压模块43内部线路的耦接关系。此做法的用意在于，调整可调式分压模块43各端点之间的阻值比例，用以使可调式分压模块43的第三端输出电压Vref1。

举例来说，当开关单元与熔丝单元401、405、406导通且开关单元与熔丝单元402～404截止时，可调式分压模块43则设定为第一调整模式。当开关单元与熔丝单元401、404、406导通且开关单元与熔丝单元402、403、405截止时，可调式分压模块43则设定为第二调整模式。当开关单元与熔丝单元402、403导通且开关单元与熔丝单元401、404～406截止时，可调式分压模块43则设定为第三调整模式。如此一来可使电压Vref1具有三种电压变化。另外本领域技术人员亦可依其需求改变电阻411～414的阻值，用以产生各种电压值的电压Vref1。

另一方面，由于开关单元与熔丝单元401～406分别包括了开关(未绘示)与熔丝(未绘示)。因此开关单元与熔丝单元401～406不但可依据调整信号S1决定是否导通，以作为测试之用。另外，当电路21测试完毕之后，利用激光技术亦可烧断开关单元与熔丝单元401～406的熔丝，用以固定电压Vref1，用以减少直流电压产生器201产生的电压误差。

本领域技术人员亦可依其需求改变电压调整模块202的实施方式。例如可将图4中的可调式分压模块43的开关单元与熔丝单元401～406以开关单元取代。图5为图2的电压调整模块的另一种电路图。请合并参照图2、图4与图5，图5的可调整分压模块44与图4的可调整分压模块43相类似。不同之处在于，图5的可调整分压模块44包括了开关单元421～426与电阻411～414。

另外，图2中的电压调整模块203与电压调整模块202相类似，因此电路21～24的电压调整模块203亦可参照图4或图5的实施方式，在此则不再赘述。

综上所述，本发明依据第一调整信号将第一电路的第一电压调整为第二电压，其中第二电压较第一电压接近标准电压。此外，依据第二调整信号将第二电路的第三电压调整为第四电压，其中第四电压较第三电压接近标准电压。另外，依据边限调整信号一并调整第二电压与第四电压的边限范围。因此可缩短第一电路与第二电路的测试时间，用以节省成本。另外本发明的实施例至少包括下列优点：

在电路测试的第二阶段(边限电压测试)，利用平行测试技术可大幅节省电路的测试时间，用以节省成本。

利用电路中的直流电压产生器进行测试，可确实检测出直流电压产生器的瑕疵，并可忠实模拟电路实际的工作情形，用以提升电路的良品率与测试品质。

在电压调整模块中配置熔丝单元。如此一来即可利用熔丝技术修复直流电压产生器所产生的电压误差，用以提高电路的良品率。

虽然本发明已以几个实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求的界定为准。

Claims

1.一种电路群组，其特征在于，所述电路群组包括：

一第一电路，包括：

一第一电压调整模块，依据一第一调整信号，将所述第一电路的一第一电压调整为一第二电压，其中所述第二电压较所述第一电压接近一标准电压；以及

一第二电压调整模块，耦接所述第一电压调整模块，依据一边限调整信号调整所述第二电压的边限范围；以及

一第二电路，包括：

一第三电压调整模块，依据一第二调整信号，将所述第二电路的一第三电压调整为一第四电压，其中所述第四电压较所述第三电压接近所述标准电压；以及

一第四电压调整模块，耦接所述第三电压调整模块，依据所述边限调整信号调整所述第四电压的边限范围。

2.如权利要求1所述的电路群组，其特征在于，所述电路群组还包括：

一第三电路，包括：

一第五电压调整模块，依据一第三调整信号，将所述第三电路的一第五电压调整为一第六电压，其中所述第六电压较所述第五电压接近所述标准电压；以及

一第六电压调整模块，耦接所述第五电压调整模块，依据所述边限调整信号调整所述第六电压的边限范围。

3.如权利要求1所述的电路群组，其特征在于，所述第一电压调整模块包括：

一放大器，其第一输入端接收所述第一电压；

一可调式分压模块，其第一端与第二端分别耦接所述放大器的第二输入端与一参考电压，所述可调式分压模块依据所述第一调整信号调整所述可调式分压模块的第一端至第三端与第二端至第三端的阻值比例，用以使所述可调式分压模块的第三端输出所述第二电压；以及

一晶体管，其栅极端、第一端分别耦接所述放大器的输出端与一外电压，而所述晶体管的第二端耦接所述可调式分压模块的第四端。

4.如权利要求1所述的电路群组，其特征在于，所述第二电压调整模块包括：

一放大器，其第一输入端接收所述第二电压；

一可调式分压模块，其第一端与第二端分别耦接所述放大器的第二输入端与一参考电压，所述可调式分压模块依据所述边限调整信号调整所述可调式分压模块的第一端至第三端与第二端至第三端的阻值比例，用以调整所述第二电压的边限范围；以及

一晶体管，其栅极端与第一端分别耦接所述放大器的输出端与一外电压，而所述晶体管的第二端耦接所述可调式分压模块的第四端。

5.如权利要求1所述的电路群组，其特征在于，所述第一电路还包括：

一第一直流电压产生器，耦接所述第一电压调整模块，接收一工作电压用以产生所述第一电压。

6.如权利要求5所述的电路群组，其特征在于，所述第二电路还包括：

一第二直流电压产生器，耦接所述第三电压调整模块，接收所述工作电压用以产生所述第三电压。

7.如权利要求1所述的电路群组，其特征在于，所述第一电压调整模块还包括：

一熔丝单元，用以将所述第一电压调整为所述第二电压。

8.如权利要求1所述的电路群组，其特征在于，所述第一电路与所述第二电路具有相同构件。

9.一种电路群组的测试方法，其特征在于，所述电路群组至少包括一第一电路与一第二电路，所述测试方法包括：

依据一第一调整信号将所述第一电路的一第一电压调整为一第二电压，其中所述第二电压较所述第一电压接近一标准电压；

依据一第二调整信号将所述第二电路的一第三电压调整为一第四电压，其中所述第四电压较所述第三电压接近所述标准电压；以及

依据一边限调整信号一并调整所述第二电压与所述第四电压的边限范围。

10.一种测试机台，用以测试一电路群组，其特征在于，所述电路群组至少包括一第一电路与一第二电路，所述测试机台包括：

一第一控制单元，耦接所述第一电路与所述第二电路，依据所述第一电路的一第一电压产生一第一调整信号，其中所述第一电路依据所述第一调整信号将所述第一电压调整为一第二电压，所述第二电压较所述第一电压接近一标准电压，此外，所述第一控制单元依据所述第二电路的一第三电压产生一第二调整信号，其中所述第二电路依据所述第二调整信号将所述第三电压调整为一第四电压，所述第四电压较所述第三电压接近所述标准电压；以及

一第二控制单元，耦接所述第一电路与所述第二电路，产生一边限调整信号一并调整所述第二电压与所述第四电压的边限范围。