CN101562024B - 光盘设备及光盘再现方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种光盘设备及光盘再现方法。当光盘设备从光盘再现信息时，其将从LED发射的读取光束汇聚为大致准直光，并将大致准直光投射至光盘以使其被光盘的反射表面反射，由此使其变为读取反射光束。然后，上述设备通过标记层选择透镜来汇聚读取反射光束，通过布置在目标位置的共焦点处的检测区域对经过目标位置的读取反射光束进行检测，并生成检测信号。随后，上述设备基于检测信号来识别是否存在记录标记以再现信息。因此，上述设备能够对在读取反射光束经过目标位置时观察到的读取反射光束的状态进行检测，并能够识别是否存在记录标记。

Description

光盘设备及光盘再现方法
技术领域
本发明涉及光盘设备以及用于光盘设备的光盘再现方法，其例如可适用于从记录信息的光盘再现信息。
背景技术
用于将光束发射到诸如紧致盘(CD)、数字多用途盘(DVD)或蓝光盘(注册商标，以下称为BD)的光盘上并通过读取反射光来从盘再现信息的光盘设备已经变得非常普及。
就光盘而言，公知的是将形成在光盘上的光斑定义为约λ/NA(λ：光束波长，NA：数值孔径)，并且分辨率与该值成比例。例如利用BD系统，可在具有120mm直径的光盘上记录约25GB的数据。
目前利用光盘来记录诸如音频内容、视频内容及各类计算机数据之类的各种信息。因为要获得高解析度影像以及高品质音像，所以要在光盘上记录的信息量已经增大，因此对能够记录大量内容的大容量光盘存在需求。
已经提出了被设计用于在记录操作中在光盘的均质记录层中形成多层记录标记以实现大容量的光盘的光盘设备(例如，参考日本专利申请早期公开号2007-220206(图1、4及5))。
这种光盘设备汇聚光束以将光束聚焦到可形成在光盘上的记录标记上，并接收在由可能处于上述位置的记录标记反射光束时形成的反射光。然后，光盘设备通过接收到的光来识别在该位置是否存在记录标记，并执行预定解调处理以及预定解码处理以最终再现信息。
发明内容
例如当上述光盘设备从光盘再现信息时，其需要极其精确地将光束聚 焦在记录标记上。
具体而言，当在光盘中形成有多个记录标记层时，需要对光束的聚焦位置进行二维调整。
更具体而言，光盘设备需要通过伺服机构等来极其精确地控制物镜的位置。因此，存在以下问题，即不可避免地需要复杂的物镜控制机构，由此导致其自身极为复杂及庞大。
着眼于上述问题完成了本发明，其提供了一种光学拾取器以及光盘设备，能够用简单构造从光盘精确地再现信息。
为了解决上述问题，本发明提供了一种设置，包括如下步骤：将在汇聚时不会汇聚至单一点的再现光束从预定再现光源发射到具有记录层和反射表面的光盘上，所述记录层具有一个或更多标记层，所述标记层承载表示各种信息的多个记录标记，所述记录标记布置在虚拟平面上，所述反射表面用于反射对信息进行再现所使用的光束；由预定的物镜从照射表面侧改变所述再现光束的发散角以使其成为大致准直光，并利用所述准直光进行照射以包含目标标记层中的目标位置，其中，在所述光盘内，所述照射表面与所述反射表面相对且所述记录层被置于所述反射表面与所述照射表面之间；通过布置在与目标位置的共焦点处的检测区域，对经过所述记录层、被所述反射层反射、并再次经过所述记录层和所述物镜的所述再现光束的光量进行检测，来检测所述检测区域中的光量；以及基于在所述检测区域中的检测结果来识别在所述目标位置是否存在所述记录标记，由此对信息进行再现。
因此，根据本发明的一个方面，当发射大致准直光的再现光束以包含目标位置时，能够基于位于目标位置的共焦点处的检测区域中的检测结果来对再现光束被记录标记阻挡的情况进行检测，并识别在目标位置是否存在记录标记。
根据本发明，当发射大致准直光的再现光束以包含目标位置时，能够根据位于目标位置的共焦点处的检测区域中的检测结果来对再现光束被记录标记阻挡的情况进行检测，并识别在目标位置是否存在记录标记，由此现在能够实现具有能够从光盘精确再现信息的简单构造的光学拾取器及光 盘设备。
结合附图(其中通过相似的附图标记或标号来表示相似的部件)，通过以下详细说明，本发明的属性、原理及实用性将变得更加清楚。
附图说明
在附图中：
图1是示出光束照射到光盘上的示意图；
图2是记录标记周围的电场的示意图；
图3是光盘设备的示意框图；
图4是根据本发明的第一实施例的光学拾取器的示意框图；
图5A及图5B是第一实施例的光电检测器的示意图；
图6是通过针孔来选择光束的示意图；
图7是根据本发明的第二实施例的光学拾取器的示意框图；
图8是第二实施例的光电检测器的示意图；
图9是根据本发明的第三实施例的光学拾取器的示意框图；
图10是根据第三实施例被读取的反射光束的光路的示意图；
图11是全息元件的示意图，示出了其构造；
图12是光束照射在光电检测器上的示意图；并且
图13是第三实施例的光电检测器的示意图。
具体实施方式
现在将通过参考附图来更详细描述本发明的优选实施例。
(1)第一实施例
(1-1)光盘的构造
图1示意性地示出了光盘的剖面。参考图1，光盘100适于在记录层101中形成表示信息的记录标记RM的情况下记录信息。光盘还适于根据是否存在记录标记RM来再现信息。
通常通过将树脂材料与预定光聚作用引发剂混合并硬化来形成记录层101。在记录光束LC汇聚至记录层101时，记录层在焦点FC及其周围的 位置处的温度急剧上升，由此使光聚作用引发剂气化并在焦点及其周围的位置处形成气泡。
所产生的腔体起记录标记RM的作用。记录标记RM所具有的折射率在树脂材料相对于腔体的边界表面处发生显著变化，由此照射光束在该位置并未透射，而是被反射或被吸收。
例如，当被二进制化并编码的信息的编码值等于“0”时不形成任何记录标记RM，而当编码值等于“1”时则形成记录标记RM。以此方式在该位置记录信息。
通过将提供一定程度的强度的衬底103与记录层101接合来形成光盘100，并且沿记录层101和衬底103的边界表面形成反射表面102。
反射表面102以较高的反射率来反射光，并设置有用于伺服的导引槽。如常规BD-R(可记录)的情况，其具有通过槽脊(land)及槽形成的螺旋状轨道T。
可通过轨道T的槽脊及槽来识别各个记录标记RM的记录位置，并且为各个预定记录单元分配一系列地址，由此可通过所分配的地址来识别需要记录或再现的信息的位置。
在操作中，在与反射表面102平行延伸的平面上螺旋状布置多个记录标记RM，以相对于光盘100的厚度方向与反射表面102的轨道T对应。因此，在记录层101中形成记录标记RM的轨道(以下称为标记轨道MT)，并且还在光盘100中形成记录标记RM的层(以下称为标记层Y)。
在记录层101中形成多个标记层Y，以表现为相对于反射表面102的不同距离。
另一方面，当需要从光盘100再现信息时，读取光束LD从光盘100的照射表面100A一侧发出，并被反射表面102反射以变为读取反射光束LDR。
与记录光束LC不同，读取光束LD及读取反射光束LDR并未被汇聚至单一焦点，而是显示出一定程度的扩散。
读取反射光束LDR从反射表面102一侧行进通过记录层101到达照射 表面100A一侧，如果途中存在记录标记RM，则其会被记录标记RM部分反射。
然后，计算确定光盘100中记录标记RM处及其附近的电场以获得如图2所示的计算结果。根据计算结果，将看到读取反射光束LDR在其通过记录标记RM处其及附近时显示出电场的变化。
可通过光电检测器等检测读取反射光束LDR的光量，来检测因记录标记RM的存在而产生的电场变化。此外，能够根据检测结果来识别是否存在记录标记RM。
由此，作为许多信息的记录标记RM形成遍及光盘100的多个标记层Y。然后，可通过利用由光盘100的反射表面102对读取光束LD进行反射而形成的读取反射光束LDR，来识别各个记录标记RM是否存在。
(1-2)光盘设备的构造
图3所示的光盘设备10适于通过用光束照射光盘100来记录信息，并通过对发射到光盘100上的光束中的从光盘100反射回来的一部分光束进行接收来再现信息。
光盘设备10形成有作为设备的核心的控制部分11。通过使用中央处理单元(CPU)、存储各种不同程序的只读存储器(ROM)以及被CPU用作工作存储器的随机存取存储器(RAM)来形成控制部分11。
当在光盘100上记录信息时，控制部分11借助于驱动控制部分12来驱动主轴电动机15旋转，以使安装在转台(未示出)上的光盘100以希望的速率旋转。
此外，控制部分11借助于驱动控制部分12来驱动螺杆电动机16旋转，由此沿使光学拾取器17沿着用于移动光学拾取器17的轴G1及G2在寻轨方向上大幅度移动，即使光学拾取器17朝向光盘100的内周侧或外周侧移动。
诸如物镜18之类的多个光学部件装配至光学拾取器17，并且光学拾取器17在控制部分11的控制下向光盘100照射光束。此外，光学拾取器17接收由光盘100反射而从光盘100返回的光束，并根据对光束的接收结果而产生检测信号，该检测信号然后被供应至信号处理部分13。
信号处理部分13利用供应到其的检测信号来执行预定运算处理，以产生聚焦误差信号SFE及寻轨误差信号STE，上述信号然后被供应至驱动控制部分12。
驱动控制部分12基于供应到其的聚焦误差信号及寻轨误差信号来产生用于驱动物镜18的驱动信号，然后将其供应至光学拾取器17的双轴致动器19。
双轴致动器19用于根据驱动信号来进行聚焦控制及寻轨控制，以使由物镜18汇聚的光束的焦点与期望位置一致。
由此，光盘设备10在光盘100中的期望位置处形成记录标记RM，或检测在期望位置处是否存在记录标记RM(以下将详细讨论)。
由此，光盘设备10通过光学拾取器17将光束照射在光盘100上，并通过光学拾取器17来检测从光盘100返回的光束。
(1-3)光束拾取器的构造
现在，将在以下详细描述光学拾取器17的构造。如图4所示，光学拾取器17通过组合大量的光学部件而形成，并包括主要用于物镜18的位置控制的伺服光学系统30以及主要用于记录核再现信息的信息光学系统50。
(1-3-1)伺服光学系统的构造
伺服光学系统30将伺服光束LS照射在光盘100的照射表面100A上，并对由光盘100反射伺服光束LS时形成的伺服反射光束LSR进行接收。
伺服光学系统30的激光二极管31适于发出具有约660nm波长的红色激光束。在操作中，激光二极管31发出作为线偏振光(例如，S偏振光)且是发散光的伺服光束LS，并使其进入偏振分束器33。
偏振分束器33具有表现为反射率及透射率作为照射偏振分束器33的光束的偏振方向的函数而变化的特性。例如，其可约100％地透射P偏振光束，但将S偏振光束反射约90％并透射剩余的约10％。
在工作时，偏振分束器33将作为S偏振光束的伺服光束LS反射约90％使得其进入准直透镜35，并将伺服光束LS透射约10％使其入射光电 检测器34。用于入射光电检测器34的伺服光束LS以下将被称为监控伺服光束LSM。
光电检测器34接收监控伺服光束LSM，并产生与其光量对应的检测信号SSM，检测信号SSM然后被供应至驱动控制部分12。驱动控制部分12通过根据检测信号SSM来反馈控制从激光二极管31发射的伺服光束LS的光量来将伺服光束LS的光量保持在期望的水平。
另一方面，准直透镜将伺服光束LS从发散光转换为准直光，并使其进入二向色棱镜36。
二向色棱镜36具有反射/透射表面36S，其表现为波长选择性，即表现出作为入射光束的波长的函数而改变的可变透射率及可变反射率。其适于将约660nm波长的光束约100％地透射，并将约405nm波长的光束约100％地反射。
由此，二向色棱镜36在其反射/透射表面36S处将具有约660nm波长的伺服光束LS透射，并允许其进入像差(aberration)校正部分37。像差校正部分37校正伺服光束LS的像差，并使其入射1/4波片38。
1/4波片38将光束从线偏振光转换为圆偏振光，或相反。例如，其可将作为S偏振光的伺服光束LS转换为左旋圆偏振光，并使其进入物镜18。
物镜18汇聚伺服光束LS，并将其照射至光盘100的照射表面100A。
伺服光束LS透射通过记录层101(图1)，并被反射表面102反射以变为沿与伺服光束LS相反的方向(换言之，沿朝向物镜18的方向)导向的伺服反射光束LSR。
当伺服反射光束LSR被光盘100的反射表面102反射时，其圆偏振方向被倒转从而变为右旋圆偏振光。
随后，伺服反射光束LSR被物镜18转换为准直光，并在其通过像差校正部分37进入二向色棱镜36之前进而被1/4波片38从右侧圆偏振光转换为P偏振光(即线偏振光)。
二向色棱镜36在其反射/透射表面36S处透射伺服反射光束LSR，并使其进入准直透镜35。准直透镜35汇聚伺服反射光束LSR，并使得其入 射偏振分束器33。
偏振分束器33将作为P偏振光的伺服反射光束LSR透射约100％，由此使得伺服反射光束LSR照射光电检测器39。
注意，对伺服光学系统30的各个光学部件的光学位置进行调节，以使得当伺服光束LS被物镜18汇聚并照射在光盘100的反射表面102上时伺服光束LS的聚焦状态将被反映成当伺服反射光束LSR被准直透镜35汇聚并照射在光电检测器39上时伺服反射光束LSR的聚焦状态。
光电检测器39具有的利用伺服反射光束LSR照射的表面区域被划分为四个检测区域39A、39B、39C及39D，由此表现为图5A所示的网格状。注意，图5A中的双向箭头a1表示的方向与当伺服光束LS照射在反射表面102上时轨道T的进行方向对应(图1)。
光电检测器39通过检测区域39A、39B、39C及39D中的每一个来检测一部分伺服反射光束LSR，并产生表示检测光量的检测信号U1A、U1B、U1C及U1D(以下也被总称为伺服检测信号U1)，检测信号U1A、U1B、U1C及U1D然后被发送至信号处理部分13(图3)。
光盘设备10被设计用于通过所谓像散方法(astigmatism method)来工作以进行物镜18的聚焦控制。
利用伺服检测信号U1(即检测信号U1A至U1D)，信号处理部分13通过以下等式(1)来计算确定聚焦误差信号SFE1。
SFE1＝(U1A+U1C)-(U1B+U1D)...(1)
聚焦误差信号SFE1表示伺服光束LS的焦点FS(图1)与光盘100的反射表面102在聚焦方向上的相对偏移量。
驱动控制部分12根据聚焦误差信号SFE1产生聚焦驱动信号SFD，并将其供应至双轴致动器19。双轴致动器19根据聚焦驱动信号SFD在聚焦方向上驱动物镜18。
以此方式，光盘设备10反馈控制(即聚焦控制)物镜18，由此将伺服光束LS聚焦在光盘100的反射表面102。
此外，光盘设备10通过所谓推挽法来寻轨控制物镜18。
利用伺服检测信号U1(即检测信号U1A至U1D)，信号处理部分13 通过以下等式(2)来运算确定寻轨误差信号STE1，
STE1＝(U1A+U1B)-(U1C+U1D)...(2)
寻轨误差信号STE1表示伺服光束LS的焦点FS与光盘100的反射表面102上的目标轨道TG的相对偏移量。
驱动控制部分12根据寻轨误差信号STE1产生寻轨驱动信号STD，并将其供应至双轴致动器19。双轴致动器19根据寻轨驱动信号STD在寻轨方向上驱动物镜18。
由此，光盘设备10反馈控制(即寻轨控制)物镜18，由此将伺服光束LS聚焦在光盘100的反射表面102上的目标轨道TG处。
以此方式，光学拾取器17的伺服光学系统30利用伺服光束LS来照射光盘100的反射表面102，接收当伺服光束LS被反射表面102反射时产生的伺服反射光束LSR，并根据接收伺服反射光束LSR的结果来产生伺服检测信号U1。此外，在信号处理部分13及驱动控制部分12的控制下，光盘设备10控制物镜18以进行聚焦控制及寻轨偏移控制，由此将伺服光束LS聚焦至反射表面102上的目标轨道TG。
(1-3-2)信息光学系统的构造
信息光学系统50利用记录光束LC照射光盘100的照射表面100A以在光盘100上记录信息。此外，信息光学系统50利用读取光束LD照射光盘100的照射表面100A，并检测作为读取光束LD一部分的、从光盘100返回的读取反射光束LDR，以从光盘100再现信息。
信息光学系统50的激光二极管51适于发射具有约405nm波长的线偏振蓝色激光束。在工作时，激光二极管51在控制部分11的控制下发射作为发散光的记录光束LC(图3)，而分束器52透射一部分记录光束LC，使其进入偏振分束器53，由此在光盘100上记录信息。
偏振分束器53适于在其反射/透射表面53S处以作为光束的偏振方向的函数而改变的比率来反射或透射光束。例如，反射/透射表面53S可以适于将P偏振光束透射，但将S偏振光束反射约90％并将约10％的剩余部分透射。
在工作中，偏振分束器53在反射/透射表面53S处反射约90％的作为 S偏振光的记录光束LC以使其进入标记层选择透镜55，并透射约10％的剩余部分以使其入射光电检测器54。入射光电检测器54的记录光束LC以下将被称为监控记录光束LCM。
光电检测器54接收监控记录光束LCM，并产生与其光量对应的检测信号SCM，然后检测信号SCM被供应至驱动控制部分12。与在伺服光束LS的情况下类似，驱动控制部分12根据检测信号SCM来反馈控制从激光二极管51发射的记录光束LC的光量，由此将记录光束LC的光量保持在期望水平。
另一方面，标记层选择透镜55改变记录光束LC的发散角，并使其进入二向色棱镜36。
标记层选择透镜55适于通过致动器(未示出)被驱动，以在记录光束LC的光轴方向上移动。在工作中，标记层选择透镜55被驱动以在控制部分11(图3)的控制下运动，由此能够改变记录光束LC的以各种不同方式发射时的汇聚状态。
二向色棱镜36在其反射/透射表面36S处以作为记录光束LC的波长的函数的方式对记录光束LC进行反射，并使其进入像差校正部分37。像差校正部分37校正记录光束LC的像差，并使其入射1/4波片38。
1/4波片38将作为S偏振光的记录光束LC转换为左旋圆偏振光，并使其进入物镜18。物镜18汇聚记录光束LC，并使其投射在光盘100的照射表面100A上。
在光学拾取器17中，根据记录光束LC在其从标记层选择透镜55发射时的发散角来确定记录光束LC的焦点FC与伺服光束LS的焦点FS之间在聚焦方向上的距离。
在工作时，调节标记层选择透镜55的位置以使焦点FC与焦点FS之间在聚焦方向方向上的距离与反射表面102与作为目标的标记层Y(以下称为目标标记层YG)之间的距离d(图1)相符。
为聚焦控制来控制物镜18，由此将伺服光束LS聚焦至反射表面102上的目标轨道TG。因此，物镜18将记录光束LC聚焦至图1所示的记录层101中的目标标记层YG处。
因此，记录标记RM形成在光盘100的记录层101中的目标标记层YG处。
另一方面，信息光学系统50的发光二极管(LED)61适于发射具有约405nm波长的光束。在工作时，LED 61发射作为具有预定光量的发散光的读取光束LD，并使其进入透镜62以在控制部分11(图3)的控制下从光盘100再现信息。
透镜62改变读取光束LD的发散角，并使其入射分束器52。分束器52仅反射包含各种S偏振光分量的读取光束LD中的S偏振光分量，并使其入射偏振分束器53。
偏振分束器53在其反射/透射表面53S处反射约90％的当前为S偏振光的读取光束LD并使其进入标记层选择透镜55，但透射约10％的剩余部分并使其入射光电检测器54。以下，将入射光电检测器54的读取光束LD称为监控读取光束LDM。
光电检测器54接收监控读取光束LDM，并产生与其光量对应的检测信号SDM，然后将检测信号SDM供应至驱动控制部分12。与记录光束LC的情况下类似，驱动控制部分12根据检测信号SDM来反馈控制从LED 61发出的读取光束LD的光量，由此将读取光束LD的光量保持在期望水平。
另一方面，标记层选择透镜55改变读取光束LD的发散角，并使其进入二向色棱镜36。
二向色棱镜36在其反射/透射表面36S处反射读取光束LD，并取决于读取光束LD的波长使其进入像差校正部分37。像差校正部分37校正读取光束LD的像差并使其入射1/4波片38。
1/4波片38将作为S偏振光的读取光束LD转换为左旋圆偏振光，并使其进入物镜18。物镜18汇聚读取光束LD，并利用其照射光盘100的照射表面100A。
此时，读取光束LD被物镜18在一定程度上汇聚，但因为诸如LED61并非点光源等原因而未被汇聚至单一光点。换言之，读取光束LD在记录层101中作为“模糊光束”(其是具有某个直径的准直光)行进，并然 后被光盘100的反射表面102反射。
以下，将被反射表面102反射的光束称为读取反射光束LDR。因为圆偏振光在其被光盘100的反射表面102反射时其旋转被反向，故读取反射光束LDR变为右旋圆偏振光。
读取反射光束LDR在记录层101中沿与读取光束LD的行进方向相反的方向，即从反射表面102一侧向照射表面100A一侧行进。
此时，读取反射光束LDR扩散到一定程度(例如，达到其可包含数个至数十个记录标记RM的程度)，其包括与目标标记层YG中反射表面102的目标轨道TG对应的位置(以下称为目标位置PG)。
如果记录标记RM形成在其光路上，则一部分读取反射光束LDR被记录标记RM阻挡，仅其剩余部分继续行进。此外，读取反射光束LDR变为如图2所示散射到一定程度的光。
随后，读取反射光束LDR在相反方向上遵循读取光束LD的光路，由此依次通过物镜18、1/4波片38以及像差校正部分37进入二向色棱镜36。读取反射光束LDR被1/4波片38从右旋圆偏振光转换为P偏振光(即线偏振光)。
二向色棱镜36反射读取反射光束LDR，而标记层选择透镜55改变读取反射光束LDR的发散角。然后，读取反射光束LDR进入偏振分束器53。偏振分束器53透射作为P偏振光的读取反射光束LDR，并使其通过光缝65入射光电检测器66。
如图6所示，光缝65在与光盘100的记录层101中的目标位置PG光学共轭的位置处(即与目标位置PG的共焦点)具有孔部65H。注意，在控制部分11的控制下，调节标记层选择透镜55的位置，使得目标标记层YG位于孔部65H的共焦点。
因此，光缝65仅允许读取反射光束LDR中经过目标标记层YG的目标位置PG的一部分通过并使其照射光电检测器66。另一方面，光缝65阻挡读取反射光束LDR中未经过目标位置PG的那部分的几乎全部。
光电检测器66具有如图5B所示的单一检测区域X，并产生检测信号U2，其表明与读取反射光束LDR的方向的结果对应的信号电平。注意， 因为光电检测器66布置在光缝65附近，故与光缝65的孔部65H类似，检测区域X大致是与目标位置PG的共焦点。
因此，基于与共焦显微镜观察目标的情况相同的原理，在目标位置PG通过的读取反射光束LDR的状态被反映至检测区域X。
在工作时，如果记录标记RM形成在光盘100的目标位置PG处，则读取反射光束LDR被记录标记RM阻挡。因此，读取反射光束LDR实质上不能到达作为与目标位置PG的共焦点的检测区域X。然后，光电检测器66产生相对低电平的检测信号U2。
另一方面，如果在目标位置PG处并未形成记录标记RM，则读取反射光束LDR并在目标位置PG处未被阻挡。因此，读取反射光束LDR到达检测区域X。然后，光电检测器66产生相对高电平的检测信号U2。
光电检测器66的检测区域X产生表示读取反射光束LDR的检测结果的检测信号U2，并将其供应至信号处理部分13。
光盘设备10的信号处理部分13基于检测信号U2执行调制处理以使得在信号电平较低时编码值等于“0”而当信号电平较高时编码值等于“1”，并执行预定解码处理以再现记录信息。
如上所述，当从光盘100再现信息时，光学拾取器17使得读取反射光束LDR从光盘100的反射表面102行进至物镜18一侧，并对当读取反射光束LDR经过目标位置PG时在布置于其共焦点的检测区域X处观察到的读取反射光束LDR的状态进行检测。
(1-4)动作及效果
通过上述设置，当从光盘100再现信息时，光盘设备10从LED 61发射读取光束LD，并利用其从光盘100的照射表面100A照射光盘100。
读取光束LD被物镜18汇聚至具有一定光束直径的状态，并作为大致准直光在光盘100的记录层101中行进。然后，其被反射表面102反射以变为读取反射光束LDR。读取反射光束LDR被物镜18及标记层选择透镜55汇聚。
此时，光盘设备10通过位于目标位置PG的共焦点处的检测区域X来检测在记录层101中经过目标位置PG的读取反射光束LDR，并产生检测 信号U2。
随后，光盘设备10基于检测信号U2，通过信号处理部分13来识别在目标位置PG处是否存在记录标记RM，并通过预定解调处理及预定解码处理来再现信息。
因此，光盘设备10可取决于当读取反射光束LDR经过目标位置PG时在布置于其共焦点的检测区域X处观察到的读取反射光束LDR的状态来检测读取反射光束LDR，并可根据检测结果来识别是否存在记录标记RM。
此时，当在光盘100的记录层101中具有一定光束直径的读取反射光束LDR至少经过目标位置PG时，对光盘设备10而言就已足够。
因此，如果读取光束LD呈现相对较低的照射位置精度并在一定程度上发生偏移，则只要读取反射光束LDR经过目标位置PG，光盘设备10仍可正确地识别记录标记RM是否存在。
换言之，如果相较于在再现信息时需要将光束汇聚至目标位置PG(或点)的常规光盘设备，则无需光盘设备10提高读取光束LD的汇聚精度及照射位置精度。因此，可以简化并在尺寸方面减小用于光盘设备10的位置控制处理的机构及电路。
此外，只要读取反射光束LDR被记录标记RM在一定程度上阻挡，光盘设备10就可检测记录标记RM。
换言之，光盘100中的记录标记RM可以呈现低精度水平的形式，并可能不能够完全阻挡读取反射光束LDR。但是，如果发生这种情况，只要读取反射光束LDR被记录标记RM在一定程度上散射，光盘设备10仍极可能通过光电检测器66的检测区域X获得与未形成记录标记RM的情况下不同的光接收结果。
因此，如果相较于基于被记录标记RM反射的光束来再现信息的光盘设备，无需高精度地形成光盘100的记录标记RM以呈现光盘设备10的高反射率。换言之，如果记录标记RM的信息的精度水平相对较低，则光盘设备10仍可正确地再现信息。
因此，通过上述设备，当从光盘100再现信息时，光盘设备10通过 物镜18来汇聚从LED 61发出的读取光束LD，使其大致成为准直光，并将其照射至光盘100，由此使其被反射表面102反射并变为读取反射光束LDR。然后，光盘设备10通过标记层选择透镜55汇聚读取反射光束LDR，并通过位于目标位置PG的共焦点处的检测区域X来检测经过目标位置PG之后的读取反射光束LDR。随后，光盘设备10产生检测信号U2，并基于检测信号U2来识别记录标记RM是否存在，以再现信息。因此，光盘设备10可检测当读取反射光束LDR经过目标位置PG时观察到的读取反射光束LDR的状态，并可基于检测的结果来识别是否存在记录标记RM。
(2)第二实施例
(2-1)光盘设备的构造以及光盘的构造
与第一实施例的光盘设备10相比较，第二实施例的光盘设备110(图3)的不同之外在于其与第一实施例的控制部分11、驱动控制部分12、信号处理部分13及光学拾取器17分别对应的控制部分111、驱动控制部分112、信号处理部分113及光学拾取器117。
与控制部分11类似，控制部分111综合地控制光盘设备110。信号处理部分113产生与第一实施例中对应部分类似的聚焦误差信号，但其通过与第一实施例不同的技术来产生寻轨误差信号。
与驱动控制部分12类似，驱动控制部分112根据聚焦误差信号及寻轨误差信号来控制物镜18以进行聚焦控制及寻轨控制。
但是，就其他部件而言，光盘设备110具有与第一实施例的光盘设备10类似的构造，因此在此省去对这些部件的进一步描述。
第二实施例的光盘100(图1)具有与第一实施例相同的构造。
(2-2)光学拾取器的构造
除了第一实施例的光缝65及光电检测器66被图7所示的光缝165及光电检测器166替代之外，光学拾取器117与第一实施例的光学拾取器17(图4)相同，与图4对应的部件分别被赋予相同的附图标记。
如与图5B对应的图8所示，光电检测器166具有五个检测区域XA、XB、XC、XD及XE(以下将被称为检测区域组XG)。
每个检测区域XB、XC、及XD沿轨道的行进方向被划分为两个分割检测区域，以产生分割检测区域XB1及XB2、XC1及XC2、以及XD1及XD2。在图8中，双向箭头a2对应于轨道的行进方向。
检测区域XA、XC、及XE被布置使得将其各自虚拟中心分开的间隙与在光盘100中将记录标记RM的中心分开的间隙对应，由此每一者对应于轨道的宽度。
注意，在图8中，光电检测器166上的与目标标记层YG中的标记轨道MT对应的相应虚拟轨道线V由点划线表示。
将检测区域XB和XD的中心与检测区域XC的中心分开的间隙对应于将光盘100的相邻标记轨道MT分开的间隙的一半，即标记轨道的宽度的1/2。
另一方面，光缝165(图7)在分别与检测区域XA、XB、XC、XD及XE对应的位置处设置有孔部。
换言之，光学拾取器117被设计为使得在外周侧与目标标记轨道MTG分开一个轨道的位置以及在内周侧与目标标记轨道MTG分开一个轨道的位置(以下被称为副目标位置PGS)分别起检测区域XA及XE的多个共焦点的作用，目标标记轨道MTG对应于反射表面102的目标轨道TG。
光学拾取器117还被设计为使得在外周侧与目标位置PG分开1/2轨道的位置以及在内周侧与目标位置PG分开1/2轨道的位置(以下也被称为副目标位置PGS)分别起检测区域XB及XD的共焦点的作用。
此外，通过物镜18以及其他相关部件来调节光学拾取器117的读取反射光束LDR的照射位置，以包括目标位置PG以及全部副目标位置PGS。因此，如果省去了光缝165，则利用读取反射光束LDR来照射光电检测器166的区域W。
因此，当读取反射光束LDR经过包括目标位置PG及次目标位置PGS的各个位置时观察到的读取反射光束LDR的状态被反映至检测区域XA、XB、XC、XD及XE(以下被称为检测区域组XG)。
此时，检测区域XA及XE检测读取反射光束LDR，并分别产生检测 信号U3A及U3E作为检测结果。
分割检测区域XB1及XB2、XC1及XC2、以及XD1及XD2检测读取反射光束LDR，并分别产生检测信号U3B1及U2B2、U3C1及U3C2、以及U3D1及U3D2作为检测结果。
此外，光电检测器166向信号处理部分113供应检测信号U3A、U3E、U3B1及U2B2、U3C1及U3C2、以及U3D1及U3D2(以下总称为检测信号U3)。
利用检测信号U3B1及U2B2、U3C1及U3C2、以及U3D1及U3D2，信号处理部分113通过以下等式(3)以及差分推挽(DPP)法来计算确定寻轨误差信号STE3，并将其供应至驱动控制部分112。
STE3＝(U3C1-U3C2)-k((U3B1-U3B2)+(U3D1-U3D2))...(3)
寻轨误差信号STE3表示记录层101中与检测区域XC的中心点PX对应的共焦点与目标位置PG之间在寻轨方向上的相对偏移量。注意，系数k是用于产生匹配信号电平的系数。
驱动控制部分112基于寻轨误差信号STE3产生寻轨驱动信号STD，并将其供应至双轴致动器19。双轴致动器19根据寻轨驱动信号STD在寻轨方向上驱动物镜18。
因此，光盘设备110反馈控制(即寻轨控制)物镜18，由此使目标位置PG位于与检测区域XC的中心点PX的共焦点处。
由此，当读取反射光束LDR经过目标位置PG时观察到的读取反射光束LDR的状态以及当读取反射光束LDR经过各个副目标位置PGS时观察到的读取反射光束LDR的状态被分别反映至检测区域XC以及检测区域XA及XE。
此外，与第一实施例的信号处理部分13类似，信号处理部分113对检测信号U3C1及U3C2相加的总和执行解调处理以及解码处理，以再现在目标标记轨道MTG上记录的信息。
同时，信号处理部分113对各个检测信号U3A及U3E执行解调处理及解码处理以再现在目标轨道TG的两个相邻轨道中的相应一个上记录的信息。
由此，光盘设备110通过基于读取反射光束LDR获得的检测信号U3来控制物镜18以进行寻轨控制，并可以同时对在三个标记轨道(包括目标标记层YG上的目标标记轨道MTG以及两个相邻轨道)中的每一个轨道处记录标记RM的是否存在进行识别，并且并行地从三个标记轨道对信息进行再现。
(2-3)动作及效果
通过以上设置，当从光盘100再现信息时，第二实施例的光盘设备110从LED 61发出读取光束LD，并从其照射表面100A将光束照射至光盘100。
读取光束LD被物镜18汇聚成具有一定光束直径的状态，并作为大致准直光在光盘100的记录层101中行进。然后，其被反射表面102反射而变为读取反射光束LDR。读取反射光束LDR被物镜18以及标记层选择透镜55汇聚。
此时，光盘设备110通过分别位于目标位置PG以及各个副目标位置PGS的共焦点处的检测区域XA、XB、XC、XD及XE来检测经过目标位置PG及各个副目标位置PGS的读取反射光束LDR，并基于检测结果产生检测信号U3。
随后，信号处理部分113基于检测信号U3来识别在目标位置PG以及各个副目标位置PGS处是否存在记录标记RM，并通过预定解调处理以及预定解码处理来并行地从包括目标标记轨道MTG以及两个相邻轨道的三个标记轨道再现信息。
因此，光盘设备110可取决于当读取反射光束LDR经过目标位置PG以及各个副目标位置PGS时、在位于其共焦点处的检测区域XA、XC及XE中相应一个处观察到的读取反射光束LDR的状态来检测读取反射光束LDR，并可根据检测结果来对记录标记RM的是否存在进行识别。
此时，在光盘100的记录层101中具有一定光束直径的读取反射光束LDR至少经过目标位置PG以及副目标位置PGS的情况下，对于光盘设备110而言就已足够。
因此，与第一实施例类似，相较于要求读取光束的焦点与记录标记 RM的位置相符的光盘设备，光盘设备110无需严格地控制读取光束LD的照射位置。
此外，在读取反射光束LDR在目标位置PG以及各个副目标位置PGS处作为大致准直光从反射表面102侧朝向照射表面100A侧行进、并且从单一光源发出单一读取光束LD的情况下，对于光盘设备110而言就已足够。
因此，相较于要求通过光栅等使光束的焦点与目标位置PG及各个副目标位置PGS相符的光盘设备，光盘设备110无需提高对光束的位置控制精度，由此可大大简化其构造。
此外，利用基于检测信号U3获得的寻轨误差信号STE3，光盘设备110用于寻轨控制。因此，相较于类似于第一实施例的利用反射表面102进行寻轨控制的设置，光盘设备110可极精确地使与检测区域XC的中心点PX对应的共焦点与光盘100的记录层101中的目标位置PG相符。
否则，光盘设备110可提供与第一实施例的光盘设备10类似的优点。
因此，通过上述设置，当从光盘100再现信息时，光盘设备110通过物镜18来汇聚从LED 61发出的读取光束LD，以使其成为大致准直光，并利用其照射光盘100，由此使其被反射表面102反射并变为读取反射光束LDR。然后，光盘设备110通过物镜18以及标记层选择透镜55汇聚读取反射光束LDR，并通过位于目标位置PG以及各个副目标位置PGS的各个共焦点处的检测区域组XG来检测在经过目标位置PG以及各个副目标位置PGS之后的读取反射光束LDR。随后，光盘设备110产生检测信号U3。因此，光盘设备110可检测当读取反射光束LDR经过目标位置PG以及各个副目标位置PGS时观察到的读取反射光束LDR的状态，由此其可并行地基于检测结果来识别在上述各个位置是否存在记录标记RM，由此再现信息。
(3)第三实施例
(3-1)光盘设备的构造以及光盘的构造
与第一实施例的光盘设备10相比较，第三实施例的光盘设备210(图 3)的不同之外在于其与第一实施例的控制部分11、驱动控制部分12、信号处理部分13及光学拾取器17分别对应的控制部分211、驱动控制部分212、信号处理部分213及光学拾取器217。
与控制部分11类似，控制部分211综合地控制光盘设备210。信号处理部分213产生与第一实施例中类似的聚焦误差信号，但其通过与第一实施例不同的技术来产生寻轨误差信号。
与驱动控制部分12类似，驱动控制部分212根据聚焦误差信号及寻轨误差信号来控制物镜18以进行聚焦控制及寻轨控制。
但是，就其他部件而言，光盘设备210具有与第一实施例的光盘设备10类似的构造，因此在此省去对这些部件的进一步描述。
第三实施例的光盘100(图1)具有与第一实施例相同的构造。
(3-2)光学拾取器的构造
除了第一实施例的光缝65及光电检测器66被图9所示的光缝265及光电检测器266替代之外，光学拾取器217与第一实施例的光学拾取器17(图4)相同，与图4对应的部件分别被赋予相同的附图标记。
光学拾取器217在读取反射光束LDR的光路上设置有全息元件264。除此之外，光学拾取器217具有与光学拾取器17相同的构造。
光盘100在其记录层101处设置有如上所述的多个标记层Y。如图10所示，紧接着位于目标标记层YG上方的标记层Y(因而位于照射表面100A一侧)被称为上标记层YU，而紧接着位于目标标记层YG下方的标记层Y(因而位于反射表面102一侧)被称为下标记层YL。
此外，上中间层MU以及下中间层ML作为虚拟层分别被布置在目标标记层YG与上标记层YU之间以及目标标记层YG与上标记层YU之间。
此外，在读取反射光束LDR中，分别聚焦在上标记层YU、上中间层MU、目标标记层YG、下中间层ML、以及下标记层YL处的光束被称为读取反射光束LDR1、LDR2、LDR3、LDR4及LDR5。
在遵循与第一实施例的光学拾取器17相同光路之后，从偏振分束器53发出读取反射光束LDR1、LDR2、LDR3、LDR4及LDR5以进入全息 元件264。
图11所示的全息图案形成在全息元件264处。全息元件264适于使读取反射光束LDR1、LDR2、LDR3、LDR4及LDR5衍射，并通过其光学特性将上述读取反射光束聚焦在图12所示的光缝265上。
在光学拾取器217中适当地选择全息元件264的安装位置及安装角度。此外，在全息元件264处适当地形成全息图案。因此，全息元件264将读取反射光束LDR光谱地分光为读取反射光束LDR1、LDR2、LDR3、LDR4及LDR5，并通过光缝265将其照射至光电检测器266。
如果省去光缝265，则读取反射光束LDR1、LDR2、LDR3、LDR4及LDR5被分别照射至各个区域W1、W2、W3、W4及W5。
如与图8对应的图13所示，光电检测器266设置有分别与区域W1、W2、W3、W4及W5对应的五个检测区域组ZG1、ZG2、ZG3、ZG4以及ZG5。
在图13中，光电检测器166上与目标标记层YG的轨道对应的相应虚拟轨道线V由点划线表示。具体而言，相应的虚拟轨道线VG3对应于目标标记层YG的目标标记轨道MTG，而点PZ对应于目标位置PG。
此外，相应的虚拟轨道线VG1、VG2、VG4及VG5与位于目标轨道TG正上方(因而位于照射表面100A一侧)及/或位于目标轨道TG正下方(因而位于反射表面102一侧)的各个轨道(或虚拟轨道)对应。
本实施例的检测区域组ZG3具有与第二实施例(图8)的检测区域组XG类似的构造，并包括五个检测区域ZA、ZB、ZC、ZD以及ZE，其与五个检测区域XA、XB、XC、XD及XE对应。
类似于检测区域XB、XC及XD，每个检测区域ZB、ZC及ZD均破划分为两个分割检测区域，由此产生分割检测区域ZB1及ZB2、ZC1及ZC2、以及ZD1及ZD2。
换言之，与第二实施例的光学拾取器117的情况类似，光学拾取器217的检测区域ZA至ZE的共焦点位于目标标记层YG上。
另一方面，在检测区域组ZG2及ZG4中分别在与检测区域组ZG3的检测区域ZC的位置对应的位置处形成单一检测区域ZF及ZH。
因此，利用光学拾取器217，因为插入了全息元件264，故检测区域ZF的共焦点位于上中间层MU(图10)上，并且检测区域ZH的共焦点位于下中间层ML上。
此外，在检测区域组ZG1中分别在与检测区域组ZG3的检测区域ZA、ZC及ZE的位置对应的位置处形成检测区域ZI、ZJ及ZK。
类似的，在检测区域组ZG5中分别在与检测区域组ZG3的检测区域ZA、ZC及ZE的位置对应的位置处形成检测区域ZL、ZM及ZN。
注意，检测区域ZJ及ZM并未被分割因此是单一检测区域。
因此，利用光学拾取器217，检测区域ZI至ZK的全部共焦点均位于上标记层YU(图10)上，而检测区域ZL至ZN的全部共焦点均位于下标记层YL上。
同时，与光缝165(图7)的情况类似，在光缝265(图12)中，分别在与光电检测器266的检测区域ZA至ZN的位置对应的位置处布置孔部。
因此，利用光学拾取器217，当读取反射光束LDZ经过目标标记层YG的目标位置PG等时观察到的读取反射光束LDZ的状态被反映至检测区域组ZG3的检测区域ZA、ZB、ZC、ZD、及ZE。
各个分割检测区域ZB1及ZB2、ZC1及ZC2、以及ZD1及ZD2分别检测读取反射光束LDR3的一部分。然后，它们分别产生检测信号U5B 1及U5B2、U5C1及U5C2、以及U5D1及U5D2作为检测结果，并将检测结果供应至信号处理部分213。
每个检测区域ZA及ZE分别检测读取反射光束LDR3的一部分。然后，其分别产生检测信号U5A及U5E作为检测结果，并将检测结果供应至信号处理部分213。
同时，在光学拾取器217中，当读取反射光束LDR经过上中间层MU及下中间层ML时观察到的读取反射光束LDR的状态被分别反映至检测区域组ZG2的检测区域ZF以及检测区域组ZG4的检测区域ZH。
每个检测区域ZF及ZH分别检测读取反射光束LDR2的一部分以及读取反射光束LDR4的一部分。然后，它们分别产生检测信号U5F及U5H 作为检测结果，并将检测结果供应至信号处理部分213。
同时，在光学拾取器217中，当读取反射光束LDR经过上标记层YU及下标记层YL时观察到的读取反射光束LDR的状态被反映至检测区域组ZG1的检测区域ZI、ZJ及ZK以及检测区域组ZG5的检测区域ZL、ZM及ZN。
每个检测区域ZI、ZJ及ZK分别检测读取反射光束LDR1的一部分。然后，它们分别产生检测信号U5I、U5J及U5K作为检测结果，并将检测结果供应至信号处理部分213。
类似的，各个检测区域ZL、ZM及ZN检测读取反射光束LDR5的一部分。然后，它们分别产生检测信号U5L、U5M及U5N作为检测结果，并将检测结果供应至信号处理部分213。
光盘设备210可操作以利用由光电检测器266产生的检测信号U5A至U5N(以下将总称为检测信号U5)进行聚焦控制及寻轨控制。
信号处理部分213首先通过对检测信号U5F及U5H执行预定滤波处理来计算确定RF信号的幅值RF5F及RF5H。随后，信号处理部分213通过以下等式(4)来计算确定幅值RF5F与RF5H的差作为聚焦误差信号SFE5，并将其供应至驱动控制部分212。
SFE5＝RF5F-RF5H   ...(4)
聚焦误差信号SFE5对应于来自上中间层MU的读取反射光束LDR2与来自下中间层ML的读取反射光束LDR4之间的强度差，因此表明了在记录层101中各个检测区域ZA至ZE的共焦点与目标标记层YG在聚焦方向上的相对偏移量。
驱动控制部分212基于聚焦误差信号SFE5产生聚焦驱动信号SFD，并将其供应至双轴致动器19。与第一实施例的情况类似，双轴致动器19根据聚焦驱动信号SFD在聚焦方向上驱动物镜18。
因此，光盘设备210反馈控制(即聚焦控制)物镜18，由此使记录层101中各个检测区域ZA至ZE的共焦点与目标标记层YG相符。
此外，与第二实施例的信号处理部分113的情况类似，信号处理部分213利用检测信号U5B1及U5B2、U5C1及U5C2、以及U5D1及U5D2， 通过与等式(3)对应的以下等式(5)来计算确定寻轨误差信号STE5，并将其供应至驱动控制部分212。
STE5＝(U5C1-U5C2)-k((U5B1-U5B2)+(U5D1-U5D2))...(5)
驱动控制部分212基于寻轨误差信号STE5产生寻轨驱动信号STD，并将其供应至双轴致动器19以在寻轨方向上驱动物镜18。
因此，光盘设备210可使检测区域ZC的中心点PZ的共焦点与记录层101中的目标位置PG相符。
此时，与第二实施例的情况类似，光盘设备210可在与目标标记层YG共轭的各个检测区域ZA、ZC及ZE处检测经过目标标记层YG的读取反射光束LDR3。
这意味着光盘设备210可在目标标记层YG上的三个标记轨道处识别是否存在记录标记RM，并且并行地从三个标记轨道读取信息。
同时，光盘设备210可在各个检测区域ZI、ZJ及ZK处检测经过上标记层YU的读取反射光束LDR1。此外，其可在各个检测区域ZL、ZM及ZN处检测经过下标记层YL的读取反射光束LDR5。
这意味着除了目标标记层YG上的三个相邻标记轨道之外，光盘设备210还可同时从上标记层YU上的三个相邻标记轨道并从下标记层YL上的三个相邻标记轨道读取信息。
由此，光盘设备210根据检测信号U5来控制物镜18以用于聚焦控制及寻轨控制，并可从目标标记层YG、上标记层YU及下标记层YL每一者的三个相邻标记轨道同时读取信息。
(3-3)动作及效果
通过以上设置，当从光盘100再现信息时，第三实施例的光盘设备210从LED 61发出读取光束LD，并从其照射表面100A将光束照射不光盘100。
读取光束LD被物镜18汇聚成具有一定光束直径的状态，并作为大致准直光在光盘100的记录层101中行进。然后，其被反射表面102反射而变为读取反射光束LDR。读取反射光束LDR被物镜18以及标记层选择透镜55汇聚。
此外，读取反射光束LDR被全息元件264光谱地分光为读取反射光束LDR1至LDR5，并被照射在光缝265上的各个区域W1至W5上。
此时，光盘设备210通过光电检测器266的分别位于目标位置PG及其他位置的共焦点处的检测区域ZA至ZN来检测经过记录层101中的目标位置PG及其他位置的读取反射光束LDR1至LDR5，并基于检测结果来产生检测信号U5。
随后，信号处理部分213识别在目标标记层YG、上标记层YU及下标记层YL每一者的三个相邻轨道中每一个轨道处是否存在记录标记RM，并通过预定解调处理以及预定解码处理来同时从各个标记层Y的三个标记轨道再现信息。
因此，光盘设备210可取决于在检测区域ZA、ZC、ZE、ZI、ZJ、ZK、ZL、ZM及ZN的共焦点处分别观察到的状态来检测读取反射光束LDR1、LDR3及LDR5，并可根据检测结果来识别在各个上述检测区域是否存在记录标RM。
此时，光盘设备210通过全息元件264来使读取反射光束LDR衍射以产生读取反射光束LDR1至LDR5，由此其可使在记录层101中具有不同深度的五个层的共焦点与提供单一平面的光缝265上彼此不同的各个点相符(图10及图12)。
因此，因为在光电检测器266的均匀表面上设置了多个检测区域组ZG1至ZG5，故光盘设备210可同时检测在读取反射光束LDR经过三个标记层Y以及两个中间层M时观察到的状态。
此外，在光盘100的记录层101中具有一定光束直径的读取反射光束LDR1至LDR5至少经过与检测区域ZA至ZN对应的各个共焦点的情况下，对于光盘设备210而言就已足够。
因此，与第一实施例类似，相较于要求读取光束的焦点与记录标记RM的位置相符的光盘设备，光盘设备210无需严格地控制读取光束LD的照射位置。
此外，在读取反射光束LDR在目标标记层YG、上标记层YU及下标记层YL全部中作为大致准直光从反射表面102一侧朝向照射表面100A 一侧行进的情况下，对于光盘设备210而言就已足够。
换言之，与第一及第二实施例类似，光学拾取器217仅简单地需要从LED 61的单一光源发出单一读取光束LD即可。
因此，相较于要求通过光栅等器件使光束的焦点与各个标记层Y、中间层M及光电检测器266相符的光盘设备，光盘设备210无需提高对光束的位置控制精度，由此可大大简化其构造。
此外，利用基于检测信号U5获得的聚焦误差信号SFE5及寻轨误差信号STE5，光盘设备210控制物镜18以进行聚焦控制及寻轨控制。
因此，相较于类似于第一实施例的利用反射表面102进行聚焦控制及寻轨控制的设置，光盘设备210可极精确地使与检测区域ZC的中心点PZ对应的共焦点与光盘100的记录层101中的目标位置PG相符。
否则，光盘设备210可提供与第一实施例的光盘设备10以及与第二实施例的光盘设备110类似的优点。
因此，通过上述设置，当从光盘100再现信息时，光盘设备210通过物镜18来汇聚从LED 61发出的读取光束LD，以使其成为大致准直光，并利用其照射光盘100，由此使其被反射表面102反射并变为读取反射光束LDR。然后，光盘设备210通过物镜18以及标记层选择透镜55汇聚读取反射光束LDR，并在利用其照射光电检测器266之前通过全息元件将读取反射光束LDR光谱地分光为读取反射光束LDR1至LDR5。此时，光盘设备210根据在光电检测器266的各个检测区域ZA至ZN(其是上标记层YU、上中间层MU、目标标记层YG、下中间层ML以及下标记层YL的共焦点)处的光量来产生检测信号U5。因此，光盘设备210可检测当读取反射光束LDR经过三个标记层Y(包括目标标记层YG及相邻的标记层)的每一者的三个相邻轨道时观察到的读取反射光束LDR的状态，由此其可基于检测结果来识别在上述各个位置处是否存在记录标记RM，由此并行地再现信息。
(4)其他实施例
虽然在上述各个实施例中从LED 61发出读取光束LD，但本发明并不限于此，其可替代地被设置成从一些其他光源来发出读取光束LD。如果 这样，就无需通过标记层选择透镜55及物镜18将读取光束LD汇聚至单一点，由此在读取光束LD至少在光盘100的记录层101中作为大致准直光行进的情况下就已足够。
虽然在第一及第二实施例每一者中通过使用反射表面102来控制物镜18进行聚焦控制，并在第三实施例中通过使用虚拟上中间层MU及虚拟下中间层ML来控制物镜18进行聚焦控制，但本发明并不限于此。
虽然在第一实施例中使用形成在反射表面102上的轨道之一来进行寻轨控制，并在第一及第三实施例中使用目标标记层YG上的目标轨道TG来进行寻轨控制，但本发明并不限于此。
换言之，根据本发明的第一实施例的光盘设备可以利用光盘100的任何合适的表面或层(例如，反射表面102、目标标记层YG或虚拟上中间层MU及下中间层ML)来进行聚焦控制及寻轨控制。如果这样，就可以使用在公知光盘设备中的任何公知方法(例如像散法或三点法)来产生聚焦误差信号及寻轨误差信号。此外，根据本发明的第一实施例的光盘设备可被控制以进行对物镜相对于光盘100的倾斜角度进行控制的倾斜控制。
上述第一实施例的光盘设备10适于不仅从光盘100再现信息，还可在光盘100上记录信息，本发明并不限于此。例如，光盘设备10也可以可选地仅能够从光盘100再现信息但不能在光盘100上记录信息。对于第二及第三实施例同样如此。
虽然在上述各个实施例中为记录光束LC及读取光束LD采用了405nm的相同波长，但本发明并不限于此，可替代地为两个光束采用不同的波长。如果这样，使记录光束LC在记录层101中形成记录标记RM并使读取光束LD在记录层101中透射但不透过记录标记RM就已足够。
虽然在上述第二实施例中目标位置PG及副目标位置PGS被布置在包括目标轨道TG及两个相邻轨道在内的三个轨道上，但本发明并不限于此，目标位置PG及副目标位置PGS可替代地布置在任意选择数量的轨道上，例如通过间隔选择轨道而获得的五个相邻轨道或三个轨道。
如果这样，那么使读取反射光束LDR在记录层101中经过目标位置PG及各个副目标位置PGS并且使光电检测器166及光缝165分别设置有 与目标位置PG及副目标位置PGS对应的检测区域及孔部就已足够。
虽然在上述第三实施例中从包括目标标记层YG、上标记层YU及下标记层YL在内的三个层并行地再现信息，但本发明并不限于此。例如，其可以被替代地设置为从任意选择数量的层(例如包括目标标记层YG以及两个上层和两个下层在内的五个层)并行地再现信息。
如果这样，那么使形成在全息元件264上的全息图案可使光束以对应于层的数量的方式衍射，并使光电检测器266及光缝265分别设置有与标记层Y相对应的检测区域及孔部就已足够。
虽然在上述各个实施例中由单一透镜来形成标记层选择透镜55，但本发明并不限于此，标记层选择透镜可通过结合多个透镜来形成。如果这样，那么可通过改变从标记层选择透镜发出的光束的发散角来改变被物镜18汇聚的记录光束LC的焦点FC的深度就已足够。
虽然在上述各个实施例中在反射表面102上形成螺旋状轨道，但本发明并不限于此。例如，可在反射表面102上形成坑或导引槽和凹坑的结合。反射表面102上的轨道可以非螺旋状而是同心圆状的。在任何情况下，使光盘设备10、110及210能够通过伺服反射光束LSR来识别光盘100的表面上的任何特定位置就已足够。
虽然在上述各个实施例中，轨道形成在光盘100的反射表面102上，并且光盘设备通过使伺服光束LS被反射表面102反射而进行聚焦控制及寻轨控制，但本发明并不限于此。
例如，伺服表面可以独立地形成在光盘100的反射表面102与照射表面100A之间，并且轨道可形成在伺服表面上而并不将轨道形成在光盘100的反射表面102上。由此，使伺服表面具有反射伺服光束LS并透射读取光束LD的二向色特性就已足够。
虽然在上述各个实施例中通过起再现光源作用的LED 61，物镜18，适于起再现光检测部分作用的光电检测器66、166或266，以及适于起再现处理部分作用的信号处理部分13、113或213，来形成光盘设备10、110或210，但本发明并不限于此。可替代地通过具有与上述不同构造的再现光源、物镜、再现光检测部分、再现处理部分来形成本发明的光盘设 备。
本发明可应用于适于从光盘再现诸如图像、声音、或计算机数据等信息的光盘设备。
本领域的技术人员可以理解，在落入所附权利要求及其等同方案的范围内的前提下，可根据设计要求及其他因素来完成各种不同改变、组合、子组合以及替代。
关联申请的交叉引用
本发明包含涉及于2008年4月17日向日本专利局递交的日本专利中请JP 2008-108228的主题，通过引用将其全部内容包含在本说明书中。 

Claims (11)

1.一种光盘设备，包括：
再现光源，其将在汇聚时不会汇聚至单一点的再现光束发射到具有记录层和反射表面的光盘上，所述记录层包括一个或多个标记层，在每个所述标记层处，表示各个信息的多个记录标记被布置在一虚拟平面上，所述反射表面用于反射对信息进行再现所使用的光束；
物镜，其从照射表面侧改变所述再现光束的发散角以使其成为大致准直光，并将准直光投射至目标标记层中的目标位置，其中，在所述光盘内，所述照射表面与所述反射表面相对且所述记录层被置于所述反射表面与所述照射表面之间；
再现光检测部分，其具有检测区域以检测所述检测区域内的光量，所述检测区域处于与所述目标位置的共焦点处，并且所述检测区域用于对经过所述记录层、被所述反射层反射、并再次经过所述记录层和所述物镜的所述再现光束进行检测；以及
再现处理部分，其根据在所述检测区域内的检测结果来对所述目标位置处所述记录标记的是否存在进行识别，由此对信息进行再现。
2.根据权利要求1所述的光盘设备，还包括：
伺服光源，其发出不同于所述再现光束的伺服光束；
伺服光检测部分，其对在所述伺服光束被所述物镜汇聚并被所述反射表面反射时产生的伺服反射光束进行检测；以及
透镜驱动控制部分，其根据对所述伺服反射光束的检测结果来控制所述物镜的位置。
3.根据权利要求2所述的光盘设备，其中：
所述反射表面承载位置信息，所述位置信息记录在所述反射表面上以表明所述光盘的表面上的位置；并且
所述透镜驱动控制部分基于所述伺服光检测部分的检测结果来获得所述反射表面的所述位置信息，并用于根据所述位置信息来进行在所述光盘的径向上的移动的寻轨控制。
4.根据权利要求2所述的光盘设备，其中：
所述透镜驱动控制部分用于基于所述伺服光检测部分的检测结果来进行使所述物镜朝向或远离所述光盘移动的聚焦控制。
5.根据权利要求1所述的光盘设备，其中：
通过在每个所述标记层上以螺旋状或同心圆状的方式布置记录标记，来形成多个轨道；并且
所述再现光检测部分具有多个检测区域，所述多个检测区域分别包含与目标标记层上的多个轨道上的所述记录标记的共焦点；并且
所述再现处理部分基于由所述再现光检测部分的所述多个检测区域进行的检测结果，来并行地对在所述多个轨道上每个所述记录标记的是否存在进行识别并对信息进行再现。
6.根据权利要求1所述的光盘设备，其中：
所述设备还包括对所述物镜的位置进行控制的透镜驱动控制部分；
所述记录标记以螺旋状或同心圆状的方式布置在所述标记层上而形成多个轨道；
除了包含与所述目标位置的共焦点的所述检测区域之外，所述再现光检测区域还具有其他检测区域，所述其他检测区域位于与所述目标标记层的共焦点处；并且
所述透镜驱动控制部分用于基于所述检测区域和/或所述其他检测区域中的检测结果来进行使所述物镜在所述光盘的径向上移动的寻轨控制。
7.根据权利要求1所述的光盘设备，其中：
所述设备还包括衍射元件，所述衍射元件使经过所述物镜的所述再现光束衍射，而将其分光为多个再现光束，以同时将所述光盘的所述记录层中的所述多个标记层位于与所述再现光检测部分的共焦点处；
所述再现光检测部分设置有多个检测区域，所述多个检测区域分别包含与所述多个标记层中的所述记录标记的共焦点；
所述再现处理部分基于由所述再现光检测部分的所述多个检测区域进行的检测结果，来并行地对所述多个标记层中的每个标记层上所述记录标记的是否存在进行识别并对信息进行再现。
8.根据权利要求7所述的光盘设备，其中：
所述设备还包括对所述物镜的位置进行控制的透镜驱动控制部分；
在假定在所述目标标记层与所述反射表面一侧的相邻标记层之间，并在所述目标标记层与位于与所述反射表面一侧相对一侧的相邻层之间布置虚拟中间层的情况下，所述衍射元件使得中间层中的每个都位于与所述再现光检测部分的共焦点处；
所述再现光检测部分设置有多个用于中间层的检测区域，以包含与所述中间层中的所述目标位置对应的位置的共焦点；并且
所述透镜驱动控制部分用于基于在所述用于中间层的检测区域中的检测结果来进行驱动所述物镜以朝向或远离所述光盘移动的聚焦控制。
9.根据权利要求1所述的光盘设备，还包括：
层选择透镜，其取决于所述目标标记层来改变被所述反射表面反射并经过所述物镜的所述再现光束的发散角。
10.根据权利要求1所述的光盘设备，其中：
所述再现光源发出的所述再现光束具有与发射在所述记录层上以形成所述记录标记的所述记录光束不同的波长。
11.一种光盘再现方法，包括：
发射步骤，将在汇聚时不会汇聚至单一点的再现光束发射到具有记录层和反射表面的光盘上，所述记录层包括一个或多个标记层，每个所述标记层承载了表示各个信息的多个记录标记，所述多个记录标记被布置在一虚拟平面上，所述反射表面用于反射对信息进行再现所使用的光束；
照射步骤，由预定的物镜从照射表面侧改变所述再现光束的发散角以使其成为大致准直光，并利用所述准直光进行照射以包含目标标记层中的目标位置，其中，在所述光盘内，所述照射表面与所述反射表面相对且所述记录层被置于所述反射表面与所述照射表面之间；
再现光检测步骤，通过布置在与目标位置的共焦点处的检测区域，对经过所述记录层、被所述反射层反射、并再次经过所述记录层和所述物镜的所述再现光束的光量进行检测；以及
再现处理步骤，基于在所述检测区域中的检测结果来对所述目标位置处所述记录标记的是否存在进行识别，由此对信息进行再现。
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