CN102044274A - 光学驱动装置及倾斜检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明披露了一种光学驱动装置及倾斜检测方法，该光学驱动装置用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现，该光学驱动装置包括：位置控制单元，被配置为经由物镜将第二光聚焦在其中形成有光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在反射膜上的第二光的反射光使第二光的光斑位置能够跟随位置引导元件以控制物镜的位置。该光学驱动装置进一步包括第一聚焦单元、第一光传感部和表面反射光偏移量检测单元。

Description

光学驱动装置及倾斜检测方法

相关申请的交叉参考

本申请包含涉及于2009年10月23日向日本专利局提交的日本优先权专利申请第JP 2009-244389号中公开的主题，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及一种用于通过利用物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置处形成标记来执行信息记录或再现所记录的信息的光学驱动装置以及这种光学驱动装置的倾斜检测方法，更具体地，涉及一种用于通过物镜将第二光聚焦在其中形成有光学记录介质的位置引导元件的反射膜上并使第二光的光斑位置能够根据聚焦在反射膜上的第二光的反射光跟随位置引导元件以控制物镜位置的光学驱动装置。

背景技术

作为用于通过照射光来记录/再现信号的光学记录介质，诸如压缩盘(CD)、数字多功能光盘(DVD)或蓝光光盘(BD)(注册商标)的所谓的光盘已经开始广泛使用。

关于目前以CD、DVD、BD等状态广泛使用的下一代光学记录介质，首先，本发明申请人提出了在日本未审查专利申请公开第2008-135144或2008-176902号中所描述的一种所谓的块记录(bulk recording)型光学记录介质。

这里，例如，块记录表示一种通过将激光束照射到至少具有覆盖层101和块层(记录层)102的光学记录介质(块型记录介质100)，顺序改变聚焦位置以在块层102中执行多层记录来实现大的记录容量的技术。

在这样的块记录中，日本未审查专利申请公开第2008-135144号公开了一种被称为所谓的微全息方法的记录技术。

该微全息方法分为正型微全息方法和负型微全息方法，如图21A和图21B所示。

在微全息方法中，所谓的全息记录材料被用作块层102的记录介质。作为全息记录介质，例如光可聚合性光致聚合物等是众所周知的。

如图21A所示，正型微全息方法是一种将两个相对的光通量(光通量A和光通量B)聚焦在同一位置以形成微小干涉条纹(全息)并使用该微小干涉条纹作为记录标记的方法。

与正型微全息方法相反，图21B中所示的负型微全息方法是一种由激光束照射擦除预先形成的干涉条纹并使用该擦除的部分作为记录标记的方法。

图22A和图22B是示出了负型微全息方法的图示。

在负型微全息方法中，在执行记录操作之前，如图22A中所示，预先执行初始化过程以在块层102中形成干涉条纹。具体地，如图所示，相对地照射平行光的光通量C和D以在全部块层102中形成干涉条纹。

当初始化过程预先形成干涉条纹之后，如图22B所示，通过形成擦除标记执行信息记录。具体地，通过根据记录信息将激光束以聚焦状态照射在任意层位置，执行通过擦除标记的信息记录。

本发明申请人提出例如一种形成日本未审查专利申请公开第2008-176902号公开的孔隙(孔洞)作为记录标记的记录方法，作为与微全息方法不同的块记录方法。

孔隙记录方法是例如一种以相对高的功率将激光束照射到由记录材料(诸如光可聚合性光致聚合物)形成的块层102，从而在块层102中记录孔洞(孔隙)的方法。如日本未审查专利申请公开第2008-176902号所述，形成的孔洞部分具有与块层102的其他部分不同的折射率，从而其边界部分的光反射率增大。因此，孔洞部分用作记录标记，从而实现了通过形成孔洞标记进行信息记录。

在这样的孔隙记录方法中，由于未形成全息，因此由一侧的光照射完成记录。即，作为按照正型微全息方法，不必将两光通量聚焦在同一位置以形成记录标记。

此外，与负型微全息方法相比，正型微全息方法具有不执行初始化过程的优点。

虽然在日本未审查专利申请公开第2008-176902号中描述了一种在执行孔隙记录时的记录之前照射预固化光(pre-cure light)的实施例，然而即使当省略了预固化光的照射，仍可能进行孔隙记录。

然而，即使在块记录型(也被简称为块型)光学记录介质(其中提出以上多种记录方法)中，在例如形成多个反射膜的意义上，块型光学记录介质的记录层(块层)不具有明显的多层结构。即，在块层102中，不设置包含在一般多层光盘的每个记录层中的反射膜和引导凹槽。

因此，在图20中所示的块型记录介质100的结构中，在不形成标记的记录过程中不执行聚焦伺服或跟踪伺服。

因此，实际上，在块型记录介质100中，设置了成为具有图23中所示的引导凹槽的基准的反射表面(基准表面)。

具体地，在覆盖层101的下表面侧中形成诸如凹坑或凹槽的引导凹槽并且在其上形成选择性反射膜103。将块层102层压在其上形成有选择性反射膜103的覆盖层101的下层侧上，插入在其间的粘合材料作为图示的中间层104，诸如UV光固化树脂。

形成这样的介质结构之后，如图24中所示，与用于记录(或再现)标记的激光束(第一激光束)分离地将第二激光束照射到块型记录介质100作为位置控制激光束。

如图所示，通过共用物镜将第一激光束和第二激光束照射到块型光学记录介质100。

此时，如果第二激光束到达块层102，则在块层102中记录的标记可能受到不利影响。因此，在相关领域的块记录方法中，将具有与第一激光束的波长范围不同的波长范围的激光束用作第二激光束，并将具有波长选择性的选择性反射膜103设置为在引导凹槽形成表面(基准表面)上形成的反射膜，该膜反射第二激光束并透过第一激光束。

基于以上假设，将参照图24描述在标记记录时的操作。

首先，当关于其中没有形成引导凹槽或反射膜的块层102执行多层记录时，在块层102的深度方向预先设置用于记录标记的层位置。在图示中，示出了将包括第一信息记录层L1至第五信息记录层L5的全部5层信息记录层(标记形成层)L设置为用于在块层102中形成标记的层位置(标记形成层；也被称为信息记录层)的情况。如图所示，将第一信息记录层L1的层位置设置到在聚焦方向(深度方向)上与其中形成引导凹槽的选择性反射膜103(基准表面)分开第一偏移量of-L1的位置。将第二信息记录层L2的层位置、第三信息记录层L3的层位置、第四信息记录层L4的层位置和第五信息记录层L5的层位置分别设置到与选择性反射膜103分开第二偏移量of-L2、第三偏移量of-L3、第四偏移量of-L4和第五偏移量of-L5的位置。

在尚未形成标记的记录过程中，对于作为目标的第一激光束的反射光不根据块层102中的层位置执行聚焦伺服和跟踪伺服。因此，执行记录过程中物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制，以使第二激光束的光斑位置能够根据作为位置控制光束的第二激光束的反射光来跟随选择性反射膜103上的引导凹槽。

对于作为标记记录光束的第一激光束，到达形成在选择性反射膜103的下层侧上的块层102是必要的。因此，在这种情况的光学系统中，提供了一种与物镜的聚焦机构分立的独立调节第一激光束的聚焦位置的第一激光聚焦机构。

作为第一激光聚焦机构，可以实现一种用于改变入射到物镜等的第一激光束的校准的扩展器(expander)。

在记录过程，当对预先设置的信息记录层L中的必要的信息记录层L执行标记记录时，控制第一激光聚焦机构以将第一激光束的聚焦位置改变对应于所选择的信息记录层L的偏移量“of”。在图示中，示出了在选择第三信息记录层L3作为要记录的信息记录层L，并且与之对应，将第一激光束的聚焦位置从选择性反射膜103改变第三偏移量of-L3的情况。

如上所述，执行物镜的聚焦伺服控制，以根据第二激光束的反射光跟随选择性反射膜103。因此，可以实现对第一激光束的某种聚焦伺服(跟随表面摆动等)。

关于记录过程中的第一激光束的跟踪伺服，如上所述，自动执行物镜的跟踪伺服控制以根据第二激光束的反射光跟随引导凹槽。具体地，将第一激光束的光斑位置控制到块层102中位于引导凹槽下方的位置。

虽然未示出，但是由于在再现过程在块层102中形成标记串，因此不必像记录过程那样根据第二激光束的反射光控制物镜的位置。即，在再现过程中，对于形成在要再现的信息记录层L上的标记串，根据第一激光束的反射光执行物镜的聚焦伺服控制和跟踪伺服控制。

如上所述，在块记录方法中，通过共用物镜(合成在同一光轴上)将作为标记记录/再现光的第一激光束和作为位置控制光的第二激光束照射到块型记录介质100。在下文中，通过执行控制以使物镜的位置根据第二激光束的反射光跟随引导凹槽，即使当引导凹槽不形成在块层102中时，第一激光束的跟踪方向的光斑位置仍跟随引导凹槽下方的位置。

然而，如日本未审查专利申请公开第2008-71435号中所公开的，当产生所谓的倾斜时，第一激光束的光斑位置从第二激光束的光斑位置移开。

即，当产生倾斜时，由于块型记录介质100与第二激光束和第一激光束的公共光轴不垂直，块层102中的第一激光束的光斑位置不是引导凹槽下方第二激光的光斑跟随的位置，从而在其之间产生偏移。

在日本未审查专利申请公开第2008-71435号中，公开了一种对于这种倾斜的第一激光束和第二激光束的光斑位置之间的偏移进行校正的技术。

在相关技术领域，如日本未审查专利申请公开第2008-71435号的第二实施方式(图17A和图17B)所公开的，执行使用倾斜传感器165的倾斜(倾角)检测以校正光斑位置之间的偏移。

如日本未审查专利申请公开第2008-71435号中所公开的，倾斜传感器165被配置为通过用于倾斜检测的激光二极管167照射传感器光束以相对光盘200形成预定角并且根据能够通过光电探测器168从光盘获得的反射光的光斑位置的结果检测倾角。

发明内容

然而，在日本未审查专利申请公开第2008-71435号中公开的相关技术领域的校正方法中，倾斜传感器165被设置为与用于标记记录/再现或位置控制的光学系统分离，因此单独的光源是必要的。即，由于如上所述的对于倾斜传感器165来说必需照射传感器光束以形成相对光盘的预定角并接收其反射光，因此装配了与用于记录/再现的光学系统或服务器不同的光学系统。

因此，有必要在用于记录/再现或位置控制的光学系统外部确保其中安装倾斜传感器165的空间。从而，在设备小型化方面是不利的。

在本发明中，光学驱动装置具有以下配置。

即，根据本发明的一个实施方式的一种光学驱动装置是一种用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现的光学驱动装置，该光学驱动装置包括：位置控制单元，被配置为经由物镜将第二光聚焦在其中形成有光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在反射膜上的第二光的反射光使第二光的光斑位置能够跟随位置引导元件以控制物镜的位置。

光学驱动装置包括：第一聚焦单元，被配置为聚焦通过将第二光照射到光学记录介质经由物镜而入射的第二光的来自光学记录介质的反射光；以及，第一光传感部，被设置为以便在第一光传感部的光传感表面上形成包含在由第一聚焦单元聚焦的第二光的反射光中的来自光学记录介质的表面的反射光的光斑。

此外，光学驱动装置包括：表面反射光偏移量检测单元，被配置为基于由第一光传感部产生的光传感信号来检测来自所述表面的反射光的光斑与光传感表面中的基准位置的偏移量。

如下所述，当第一光传感部感应到第二光(位置控制光)的来自光学记录介质的表面的反射光时，则由于倾斜量将导致与光传感部的光传感表面中的基准位置的偏移量。

因此，根据本发明的实施方式，可以执行倾斜量的检测，更具体地，可以执行由于倾斜产生的相对于第二光的光斑位置的第一光(记录/再现光)的偏移量的检测。

此时，根据本发明的实施方式，可以使用第二光作为位置控制光来执行倾斜量(由于倾斜导致的光斑偏移量)的检测，而无需如相关技术领域的倾斜传感器那样设置独立的光源。即，可以在用于标记记录/再现或位置控制的光学系统中装配用于这种情况的倾斜检测的光学系统。

因此，根据本发明的实施方式，可以执行倾斜量的检测，更具体地，可以通过使用第二光的反射光来执行由于倾斜产生的第一光(记录/再现光)的光斑位置相对于第二光(位置控制光)的光斑位置的偏移量的检测，并可以在用于标记记录/再现或位置控制的光学系统中装配用于倾斜检测的光学系统。

因此，如在使用相关技术领域的倾斜传感器的情况下，不必设置与用于标记记录/再现或位置控制的光源分离的光学系统，从而不必在用于标记记录/再现或位置控制的光学系统外部确保用于倾斜检测的光学系统的空间。

因此，根据本发明的实施方式，与相关技术领域相比，通过减少部件数量使得降低设备制造成本或实现设备小型化成为可能。

附图说明

图1是根据一个实施方式的用于记录/再现的光学记录介质的截面结构图；

图2是示出了记录过程的伺服控制的图示；

图3是示出了再现过程的伺服控制的图示；

图4A和图4B是示出了根据一个实施方式的倾斜检测方法的图示；

图5是示出了当物镜的发生透镜移动时焦点A的状态的图示；

图6是示出了用于实现焦点A的偏移量检测的第二激光束的光学系统的配置实施例的图示；

图7是示出了为检测光分离HOE设置的全息图样的图示；

图8A和图8B是示出了根据第一实施方式的包含在光学驱动装置中的第二激光的光传感部的安装位置及其内部配置的图示；

图9A和图9B是示出了照射到位置控制PD和倾斜导致偏移量检测PD的光传感表面的光的状态的图示；

图10是示出了用于校正第一激光束的光斑位置的配置的图示；

图11是示出了根据第一实施方式的光学驱动装置的内部配置的图示；

图12是示出了根据第一实施方式的包含在光学驱动装置中的用于第二激光的光传感信号处理单元的内部配置的图示；

图13是示出了用于产生检测由于透镜移动导致的光斑位置偏移量的检测光的光学系统的配置实施例的图示；

图14是示出了设置到照射光分离HOE的全息图样的图示；

图15A和图15B是示出了对于倾斜的焦点B的状态以及对于透镜移动的焦点B的状态的图示；

图16A和图16B是示出了用于检测焦点B的偏移量的详细配置的图示；

图17A和图17B是示出了根据第二实施方式的照射到包含在光学驱动装置中的用于第二激光的光传感部上的光的状态的图示；

图18是示出了根据第二实施方式的光学驱动装置的内部配置的图示；

图19是示出了根据第二实施方式的包含在光学驱动装置中的用于第二激光的光传感信号处理单元的内部配置的图示；

图20是示出了块记录方法的图示；

图21A和图21B是示出了微全息方法的图示；

图22A和图22B是示出了负型微全息方法的图示；

图23是示出了具有基准表面的实际的块型记录介质的截面结构的图示；以及

图24是示出了标记记录在块型记录介质上时的操作的图示。

具体实施方式

在下文中，将描述实现本发明的最优模式(下文中被称为实施方式)。将按照以下顺序给出描述。

<1.用于记录/再现的光学记录介质的实施例>

<2.关于记录/再现过程中的伺服控制>

<3.第一实施方式：由于倾斜导致的光斑偏离的检测校正>

[3-1.检测由于倾斜导致的光斑偏离量的方法]

[3-2.用于检测偏移量的详细配置]

[3-3.第一实施方式的光学驱动装置的配置]

<4.第二实施方式：包含由于透镜移动导致的光斑偏移的光斑偏移的检测校正>

[4-1.检测由于透镜移动导致的光斑偏离量的方法]

[4-2.用于检测偏移量的详细配置]

[4-3.第二实施方式的光学驱动装置的配置]

<5.变形实施例>

<1.用于记录/再现的光学记录介质的实施例>

图1是根据一个实施方式的用于记录/再现的光学记录介质的截面结构图。

在该实施方式中，用于记录/再现的光学记录介质是所谓的块记录型光学记录介质并在下文中被称为块型记录介质1。

块型记录介质1是盘形光学记录介质，其将激光束照射到旋转并驱动的块记录介质1以执行标记记录(信息记录)。通过将激光束照射到旋转并驱动的块型记录介质1执行记录信息的再现。

光学记录介质表示用于通过光照射再现所记录的信息的记录介质。

如图1所示，在块型记录介质1中，从上层侧顺序形成覆盖层2、选择性反射膜3、中间层4和块层5。

在本说明书中，“上层侧(upper layer side)”表示当来自如下所述的实施方式的光学驱动装置(记录/再现装置10或记录/再现装置60)侧的激光束入射到的表面是上表面时的上表面。

虽然在本说明书中使用术语“深度方向(depth direction)”，但是术语“深度方向”表示与根据“上层侧”定义的垂直方向匹配的方向(即，平行于光学驱动装置侧的激光束的入射方向的方向：聚焦方向)。

在块型记录介质1中，覆盖层2由例如树脂(诸如聚碳酸酯或丙烯酸)形成，并具有如图所示的根据用于在其下表面侧引导记录/再现位置的引导凹槽的形成的不规则的截面形状。

作为引导凹槽，形成连续的凹槽或凹坑行(pit row)。例如，如果引导凹槽由凹坑行形成，则由凹坑和引导脊(land)的长度的组合来记录位置信息(绝对位置信息：例如旋转角信息、半径位置信息等)。可选地，如果引导凹槽由凹槽形成，则以锯齿形状(摇摆)方式周期性地形成凹槽以利用锯齿形状的周期信息记录位置信息。

使用其中形成有这种引导凹槽的压模(不规则形状)通过注模或其他类似方式生成覆盖层2。

在其中形成有引导凹槽的覆盖层2的下表面侧上形成选择性反射膜3。

如上所述，在块记录方法中，与用于对作为记录层的块层5执行标记记录的记录光(第一激光束)相分离地照射用于根据以上引导凹槽获得跟踪或聚焦误差信号的伺服光(也被称为位置控制光或第二激光束)。

此时，如果伺服光到达块层5，则在块层5中标记记录可能受到不利影响。因此，具有反射伺服光和传输记录光的选择性的反射膜是必要的。

在相关技术领域的块记录方法中，使用具有与记录光和伺服光的波长范围不同的波长范围的激光束，并且与之对应，使用具有波长选择性的反射具有与伺服光相同的波长范围的光而传输具有其他波长范围的光的选择性反射膜作为选择性反射膜3，。

将作为记录层的块层5层压(粘附)在选择性反射膜3的下层侧上，其间插入有由例如粘合材料(诸如UV光固化树脂)形成的中间层4。

作为块层5的材料(记录材料)，例如根据采用的诸如上述正型微全息方法、负型微全息方法、孔隙记录方法的块记录方法适当地采用最佳材料。

在本发明的实施方式中，期望检测在如下的情况下(即，通过用物镜将第一光在光学记录介质的记录层中的所需位置处聚焦来执行信息记录或由标记信息形成的信息记录的再现，通过物镜将第二光聚焦在反射膜(其中形成了光学记录介质的位置引导元件)上，并且控制物镜的位置以便第二光的光斑位置根据在反射膜上聚焦的第二光的反射光来跟随位置引导元件)由倾斜产生的位置控制光和记录光之间的光斑位置偏移。

根据这个观点，本发明的实施方式的光学记录介质的标记记录方法不受特别限制，并且在块记录方法的范围内可以采用某种方法。

在具有以上配置的块型记录介质1中，覆盖层2的上层侧的表面成为块型记录介质1的表面Surf。

此外，具有根据覆盖层2的下表面侧的引导凹槽的不规则形状的选择性反射膜3成为反射表面(其为用在基于第二激光束的第一激光束的位置控制中的基准)，如下所述。在这种情况下，其上形成选择性反射膜3的表面在下文中被称为基准表面Ref。

<2.关于记录/再现过程中的伺服控制>

随后，将参照图2和图3描述块型记录介质1的记录/再现过程中的伺服控制。

图2是示出了记录过程的伺服控制的图示，而图3是示出了再现过程的伺服控制的图示。

首先，在图2中，如上所述，将用于形成记录标记并根据记录标记执行信息再现的激光束(第一激光束)以及具有与第一激光束不同的波长范围的作为伺服光的激光束(第二激光束)照射到块型记录介质1。

如图所示，通过共用物镜(图11的物镜20)将第一激光束和第二激光束照射到块型记录介质1。

如图1中所示，在块层5中，例如，与诸如数字多功能光盘(DVD)或蓝光光盘(BD)(注册商标)的现有光盘的多层磁盘不同，具有由凹坑或凹槽产生的引导凹槽的反射表面没有形成在要记录的每层位置上。因此，在尚未形成标记的记录过程，不使用第一激光束的反射光执行第一激光束的聚焦伺服或跟踪伺服。

根据这个观点，在块型记录介质1的记录过程，使用第二激光束的反射光作为伺服光来执行第一激光束的跟踪伺服和聚焦伺服两者。

具体地，关于记录过程中的第一激光束的聚焦伺服，首先，设置了用于仅独立改变第一激光束的聚焦位置的第一激光束的聚焦机构(图11的透镜14和15和透镜驱动单元16)，然后使用作为基准的选择性反射膜3(基准表面Ref)根据图示中所示的偏移量“of”控制第一激光束的聚焦机构。

这里，如上所述，通过共用物镜将第一激光束和第二激光束照射到块型记录介质1。通过使用来自基准表面Ref(选择性反射膜3)的第二激光束的反射光控制物镜来执行第二激光束的聚焦伺服。

经由共用物镜照射第一激光束和第二激光束以及通过根据来自基准表面Ref的第二激光束的反射光控制物镜来执行第二激光束的聚焦伺服，以使第一激光束的聚焦位置跟随块型记录介质1的表面改变。

在下文中，使用第一激光束的聚焦机构，将第一激光束的聚焦位置偏移偏移值“of”。因此，第一激光束的聚焦位置跟随块层5中的必需的深度位置。

在图示中，作为对应于其中在块层5中设置5层标记形成层(也被称为信息记录层)L的情况下的偏移量“of”的实施例，示出了设置其中对应于第一信息记录层L1的层位置的第一偏移量of-L1、对应于第二信息记录层L2的层位置的第二偏移量of-L2、对应于第三信息记录层L3的层位置的第三偏移量of-L3、对应于第四信息记录层L4的层位置的第四偏移量of-L4以及对应于第五信息记录层L5的层位置的第五偏移量of-L5的情况。通过使用偏移量“of”值驱动第一激光束的聚焦机构，可以从如第一信息记录层L1的层位置、如第二信息记录层L2的层位置、如第三信息记录层L3的层位置、如第四信息记录层L4的层位置以及如第五信息记录层L5的层位置中充分选择深度方向上的标记形成位置(记录位置)。

关于记录过程中的第一激光束的跟踪伺服，如上所述，使用经由共用物镜照射第一激光束和第二激光束的点执行使用来自基准表面Ref的第二激光束的反射光的物镜的跟踪伺服控制。

随后，将描述图3中示出的再现过程的伺服控制。

在图3中，在第一信息记录层L1到第五信息记录层L5中完成了标记串的记录的状态被作为再现过程中的块型记录介质1的状态示出。

在其中已经形成标记串的块型记录介质1的再现过程中，可以对所记录的标记串执行第一激光束的聚焦伺服控制。因此，通过根据第一激光束的反射光控制上述第一激光束的聚焦机构来执行再现过程中的第一激光束的聚焦伺服控制，以使聚焦位置跟随要再现的标记串(信息记录层L)。

为了读取第二激光束的绝对位置信息，通过根据第二激光束的反射光控制物镜的聚焦方向的位置以跟随基准表面Ref执行第二激光束的聚焦伺服控制。

在对再现开始位置的访问完成之前和之后改变再现过程中的跟踪伺服(物镜的跟踪方向的控制)。即，由于在对再现开始位置的访问操作完成之前，记录在基准表面Ref中的绝对位置信息为可读是必要的，因此第二激光束的光斑位置跟随引导凹槽是必要的。相反地，在完成访问操作之后，为了使用第一激光束再现块层5中记录的信息，第一激光束的光斑位置跟随标记串是必要的。

基于以上观点，执行再现过程中的物镜的跟踪方向的位置控制，以在完成访问之前根据第二激光束的反射光跟随基准表面Ref中的引导凹槽而在完成访问之后根据第一激光束的反射光跟随要再现的标记串。

总之，执行在这种情况下记录/再现过程中的第一激光束和第二激光束的伺服控制如下。

在记录过程中

在根据第二激光束的反射光相对基准表面Ref控制物镜的聚焦方向的位置情况下，通过第一激光束的聚焦机构根据要记录的信息记录层L将第一激光束的聚焦位置改变偏移“of”，执行第一激光束的聚焦伺服。

(根据第二激光束的反射光通过物镜的跟踪方向的位置控制，自动执行记录过程中的第一激光束的跟踪伺服。)

通过控制物镜的聚焦方向位置执行第二激光束的聚焦伺服，以根据第二激光束的反射光跟随基准表面Ref。

通过控制物镜的跟踪方向位置执行第二激光束的跟踪伺服，以根据第二激光束的反射光跟随基准表面Ref中的引导凹槽。

在再现过程中

执行物镜的跟踪伺服控制，以便在完成访问之前根据第二激光束的反射光使第二激光束的光斑跟随基准表面Ref的引导凹槽，以及执行物镜的跟踪伺服控制以便在完成访问之后根据第一激光束的反射光使第一激光束的光斑跟随要再现的标记串。

通过根据第一激光束的反射光控制第一激光束的聚焦机构来执行聚焦机构以跟随关于第一激光束的标记串，以及通过根据第二激光束的反射光控制物镜的聚焦方向位置来执行聚焦机构以跟随关于第二激光束的基准表面Ref。

<3.第一实施方式：由于倾斜导致的光斑偏离的检测校正>

[3-1.检测由于倾斜导致的光斑偏离量的方法]

这里，根据以上描述可以理解的是，在本实施方式中，在块型记录介质1中，通过由物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中必要的位置形成标记来执行信息记录或所记录的信息的再现，以及通过物镜将第二光聚焦在其中形成光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，以及根据聚焦在反射膜上的第二光的反射光来控制物镜的位置以使第二光的光斑位置跟随位置引导元件。

如上所述，在采用了根据第二激光束的反射光通过共用物镜的跟踪伺服控制实现第一激光束的跟踪伺服控制的方法的情况下，由于倾斜的产生导致块型记录介质1与第二激光束和第一激光束的公共光轴不垂直，则块层5中的第一激光束的光斑位置没有位于第二激光束的光斑位置跟随的引导凹槽下方，从而产生了第一激光束与第二激光束的光斑位置之间的光斑位置偏移。

虽然在日本未审查专利申请公开第2008-71435号中公开了使用倾斜传感器165的技术作为校正这样的倾斜导致的第一激光束与第二激光束之间的相对光斑位置偏移的技术，然而如上所述，倾斜传感器165必须具有与用于标记记录/再现或伺服的光学系统独立设置的光源。从而，由于在记录/再现或伺服的光学系统外部确保其中安装倾斜传感器的空间是必要的，因此在设备制造成本的降低或小型化方面是不利的。

因此，在本实施方式中，利用下述使用位置控制光的倾斜检测方法，不必增加独立的光源，降低了设置制造成本并且实现了小型化。

图4A和图4B是示出了根据一个实施方式的倾斜检测方法的图示。

在图4A和图4B中，图4A和图4B示出了经由物镜照射的第二激光束、块型记录介质1的表面Surf以及基准表面Ref之间的关系，其中图4A示出了不出现倾斜的状态而图4B示出了出现倾斜的状态。

在图4A和图4B中，在本实施方式中，如图所示，检测经由物镜照射到块层记录介质1的第二激光束的来自表面Surf的反射光的焦点A的偏移量，以检测倾斜生成量以及由于倾斜导致的第一激光束与第二激光束之间的光斑位置偏移量。

这里，如图4A中所示，在没有产生倾斜的状态中，块型记录介质1垂直于第二激光束的光轴(中心)C(光轴C与表面Surf或基准表面Ref之间的角度为90°)以及在第二激光束的光轴C上获得来自表面Surf的反射光的焦点A。

相反地，如图4B中所示，如果产生倾斜，块型记录介质1与图4A中所示的状态倾斜θ°，则从第二激光束的光轴C偏移的位置获得焦点A。

这里，如图所示，如果块型记录介质1的表面Surf和基准表面Ref之间的距离为t_c，则由于倾斜产生的焦点A与光轴C的偏移量δ_θ0由等式1表达

等式1

δ_θ0＝2t_c·θ

图5是示出了当物镜的透镜产生移动时焦点A的状态的图示。

为了确认，透镜移动表示随着由于跟踪伺服控制等将物镜沿跟踪方向(块型记录介质1的径向)移动，移动物镜以使其中心偏离在光学系统设计时在跟踪方向上设置的物镜的中心基准位置C-ol。

虽然在第二实施方式中描述了，然而物镜的透镜移动以及倾斜产生了第一激光束与第二激光束之间的光斑位置偏移。

然而，如图5中所示，如果产生透镜移动，则焦点A位于第二激光束的光轴C上。即，焦点A的检测位置在透镜移动的情况下不改变。

通过以上描述可以理解的是，从第二激光束的来自表面Surf的反射光的焦点A的光轴C的偏移量仅由倾斜生成量(由于倾斜导致的光斑位置偏移量)引起。

[3-2.用于检测偏移量的详细配置]

将参照图6至图9描述用于检测焦点A的偏移量的详细配置。

图6是示出了用于实现焦点A的偏移量检测的第二激光束的光学系统的配置实施例的图示。

首先，在该光学系统中，提供了图示的第二激光器作为第二激光束的光源。从第二激光器发射的第二激光束经由准直透镜成为平行光束，通过偏振分束器传输并通过1/4波长板进入物镜。入射到物镜的第二激光束被第二激光束的聚焦伺服控制控制以具有在块型记录介质1的基准表面Ref上的焦点，如图所示。

形成在基准表面Ref上的第二激光束的焦点在下文中被称为焦点R。

作为来自块型记录介质1的反射光，可以获得来自基准表面Ref的焦点R的反射光与来自表面Surf的反射光。

来自块型记录介质1的第二激光束的反射光穿过物镜和1/4波长板并从上述偏振分束器反射以进入图中的检测光分离全息光学元件(HOE：全息元件)28。

然后，通过聚焦透镜将穿过检测光分离HOE 28的第二激光束的反射光转换为聚焦光并通过柱面透镜将转换为聚焦光的光聚焦在用于第二激光的光传感部31的检测表面上。

这里，检测光分离HOE 28传输从偏振分束器入射的来自块型记录介质1的第二激光束的反射光作为0阶光，并在偏离图中所示的跟踪方向的位置上生成并输出衍射光。

图7是示出了为用于在偏离如上所述的跟踪方向的位置上产生和输出衍射光的检测光分离HOE 28设置的全息图样的图示。

在图7中，示出了图6中所示的跟踪方向。垂直于跟踪方向的方向是线性方向(块型记录介质1的圆周方向)。

如图7所示，在检测光分离HOE 28中形成偏心全息图样以及将每个圆圈的中心α设置为向跟踪方向中的任意一个倾斜的位置。通过这样的图样设置，使得在跟踪方向中心α向其倾斜的方向(在该情况中，为纸面的左方)输出衍射光成为可能。

在图6中，用粗实线表示第二激光光的0阶光而用细实线表示从检测光分离HOE 28输出的第二激光束的衍射光(第一阶光)。

如图所示，从检测光分离HOE 28输出并聚焦在第二激光的光传感部31上的0阶光的光轴(在图示中，点虚线)为“oax-0”。此外，从检测光分离HOE 28输出并聚焦于在跟踪方向上偏离第二激光的光传感部31的0阶光的聚焦位置的位置的一阶光的光轴(在图示中，虚线)为“oax-1”。

图8A和图8B是示出了图6中所示的第二激光器的光传感部31的安装位置及其内部配置的图示。

在图8A和图8B中，图8A示出了用于第二激光的光传感部31的截面结构以及0阶光(图中的粗实线)和照射到用于第二激光的光传感部31的第二激光的反射光的1阶光的状态。图8B是用于第二激光的光传感部31的光传感表面(检测表面)的平面图。

在图8A和图8B中，纸张的左边和右边方向(水平方向)是图6中所示的跟踪方向。

为了确认，从图6可以看出，照射到第二激光的光传感部31第二激光束的反射光(0阶光和1阶光两者)包括：来自基准表面Ref的反射光分量(来自焦点R的光)以及来自表面Surf的反射光分量(来自焦点A的光)。

在图8A中，关于0阶光和1阶光中都包含的来自基准表面Ref的反射光分量以及来自表面Surf的反射光分量，用实线表示来自基准表面Ref的反射光分量以及用虚线表示来自表面Surf的反射光分量。

此外，在图8A中，还示出了图6中所示的0阶光的光轴oax-0和1阶光的光轴oax-1。

首先，如图8A和图8B中所示，第二激光的光传感部31包括位置控制光电检测器(PD)31-R和倾斜导致偏移量检测PD 31-A。

位置控制PD 31-R是一种用于根据来自图6中所示的焦点R的反射光(即，具有凹坑行或摆动凹槽形成图样的光)检测激光束的位置控制信息的检测器。

此外，倾斜导致偏移量检测PD 31-A是一种用于检测从图6中所示的点A的光轴C的偏移量(即，由于倾斜导致的第一激光束和第二激光束的光斑位置的偏移量)的检测器。

如图8B中所示，采用四分检测器作为位置控制PD 31-R和倾斜导致偏移量检测PD 31-A。如图所示，在位置控制PD 31-R中包含的四个光传感元件E、F、H和G中，一组“E和G”和一组“F和H”在跟踪方向上彼此相邻。类似地，甚至在倾斜导致偏移量检测PD 31-A中包含的四个光传感元件E1、F1、H1和G1中，一组“E1和G1”和一组“F1和H1”仍在跟踪方向上彼此相邻。

由实线表示的来自基准表面Ref的反射光(关于由图8A中的粗线表示的0-阶光)的通过聚焦透镜(见图6)的焦点被设为“r-0”。来自表面Surf的0阶光的反射光(虚线)的通过聚焦透镜的焦点被设为“a-0”。如图8A中所示，表面Surf的反射光的焦点a-0形成在基准表面Ref的反射光的焦点r-0的背面。如图6中所示，这是由于焦点A形成在比基准表面Ref更接近物镜的位置。

在1阶光侧产生相同的操作。即，如果由实线表示的来自基准表面Ref的反射光(关于由图8A中的细线表示的1-阶光)的通过聚焦透镜的焦点被设置为“r-1”，以及虚线表示的表面Surf的反射光通过聚焦透镜的焦点设置为“a-1”，则表面Surf的反射光的焦点a-1形成在基准表面Ref的反射光的焦点r-1的背面。

根据这一点，在本实施方式中，第二激光的光传感部31中的位置控制PD 31-R和倾斜导致偏移量检测PD 31-A的设置位置设置如下。

即，在第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配且没有产生倾斜和透镜移动的状态下，位置控制PD 31-R被设置在检测表面上的中心位置与包含在0阶光侧中的基准表面Ref的反射光的焦点r-0相匹配的位置。

此外，类似地，在第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配并且没有产生倾斜和透镜移动的状态下(即，在表面Surf的反射光的焦点A与光轴C相匹配的状态下)，倾斜导致偏移量检测PD 31-A被配置在检测表面上的中心位置(偏移量＝0的基准位置)与包含在1阶光侧中的表面Surf的反射光的焦点a-1相匹配的位置。

图9A和图9B是示出了照射到根据以上位置关系设置的位置控制PD 31-R和倾斜导致偏移量检测PD 31-A的检测表面上的状态的图示。

首先，图9A示出了来自基准表面Ref的反射光的状态。如图所示，通过位置控制PD 31-R和倾斜导致偏移检测PD 31-A的上述设置，照射来自基准表面Ref的反射光以使其0阶光在位置控制PD31-R上形成聚焦光斑。即，通过这种操作，例如可以根据来自基准表面Ref的反射光的0阶光检测激光束的位置控制的信息(诸如聚焦误差信号或跟踪误差信号)。

如图(见图8A)所示，由于焦点r-1位于倾斜导致偏移量检测PD 31-A的检测表面的背面上，因此来自基准表面Ref的反射光的1阶光在模糊状态下被照射而没有在倾斜导致偏移量检测PD 31-A的检测表面上形成光斑。

图9B示出了表面Surf的反射光的状态。

如图所示，在来自表面Surf的反射光的0阶光在位置控制PD31-R上处于模糊状态以及其1阶光在倾斜导致偏移量检测PD 31-A的检测表面上形成聚焦光斑的状态下，照射来自表面Surf的反射光，与来自基准表面Ref的反射光相反。

根据参照图8A和图8B所述的PD的设置，使用检测光分离HOE 28输出的0阶光和1阶光，只有来自基准表面Ref的反射光的0阶光的聚焦光斑可以形成在位置控制PD 31-R上而只有来自表面Surf的反射光的1阶光的聚焦光斑可以形成在倾斜导致偏移量检测PD 31-A上。

即，通过该操作，可以独立执行用于根据来自基准表面Ref的反射光的激光束的位置控制的信息的检测以及根据表面Surf的反射光的倾斜检测(由于倾斜导致的光斑位置偏移量的检测)。

根据以上描述，通过倾斜导致偏移量检测PD 31-A传感表面Surf的反射光分量中的检测光线分离HOE 28的1阶光分量以及检测光传感位置的偏移量来执行倾斜量的检测。然而，具体地，根据倾斜导致偏移量检测PD 31-A的光传感元件E1、F1、G1和H1的光传感信号通过以下计算获得来自表面Surf的反射光的光传感位置的偏移量。即，如果跟踪方向的光斑位置偏移量(换言之，径向的倾斜量)为D_skew_rad，

等式2

D_skew_rad＝E1+G1-(F1+H1)

此外，如果线性方向的光斑位置偏移量(即，切向方向的倾斜量)为D_skew_tan，

等式3

D_skew_tan＝E1+F1-(G1+H1)

这里，在实际记录过程中，当由于在径向中的倾斜的产生导致第一激光束的光斑位置在跟踪方向上偏离第二激光束的光斑位置时通常会出现问题。

根据这个观点，在本实施方式中，不执行由于切向方向的倾斜产生的光斑位置偏移的校正，而执行径向的倾斜检测和根据检测结果执行跟踪方向上的光斑位置偏移的校正。

在本实施方式中，使用例如图10中所示的电反射镜(galvanomirror)17执行第一激光束的光斑位置的校正。这里，如图10中所示，在该光学系统中，提供了二向棱镜作为合成第一激光束和第二激光束以将其引导到物镜的配置。即，在这种情况下，考虑到第一激光束与第二激光束的波长范围不同，使用具有选择性反射表面的二向棱镜，选择性反射表面反射与第一激光束相同波长范围的光而传输其他波长范围的光。

利用二向棱镜，第一激光束和第二激光束被合成以使其光轴相互匹配并通过物镜被照射到块型记录介质1。

如图所示，在第一激光束与第二激光束合成之前的第一激光束由二向棱镜进入的位置处设置电反射镜17。通过改变电反射镜17的反射表面的角度，只有第一激光束的光轴可以被独立调节以校正在跟踪方向上第一激光束相对于第二激光束的光斑位置的光斑位置偏移。

在本实施方式中，通过根据等式2检测的偏移量D_skew_rad的值改变电反射镜17的反射表面的角度，将第一激光束的光斑位置校正到在跟踪方向上与第二激光束的光斑位置匹配。

此时，应该注意的是，基于第二激光束来执行偏移量D_skew_rad的检测，通过调节第一激光束的光斑位置来执行基于偏移量D_skew_rad的校正。即，在这种情况下，甚至在执行了校正时，该校正仍没有被施加到偏移量D_skew_rad的值。因此，这种校正控制不会成为用于将检测的偏移量D_skew_rad的值设置为“0”的反馈控制。

在本实施方式中，通过预先执行实验或其他类似方式计算每个偏移量D_skew_rad所需的校正量(在这种情况下为电反射镜17的角度调节量)并使用指示偏移量D_skew_rad与校正量的值之间关系的信息，执行根据检测的偏移量D_skew_rad的第一激光束的光斑位置的校正。

例如，准备其中关于校正量的信息与每个偏移量D_skew_rad的值相关联的表格信息，并通过使用该表格信息将检测的偏移量D_skew_rad的值转换为校正量的值来执行校正。

可选地，可以使用指示偏移量D_skew_rad与所需的校正量的值之间的关系的函数执行检测的偏移量D_skew_rad的值到校正量的转换。具体地，将检测的偏移量D_skew_rad的值带入到函数以计算所需的校正量值的值。

通过根据这样的转换过程获取的校正量的值来控制电反射镜17的驱动控制以调节其反射表面的角度，将第一激光束的光斑位置校正到在跟踪方向上与第二激光束的光斑位置相匹配。

[3-3.第一实施方式的光学驱动装置的配置]

随后，将描述如第一实施方式的用于实现由于倾斜导致的光斑位置偏移量的检测以及光斑位置偏移的校正的光学驱动装置的配置。

这里，第一实施方式的光学驱动装置具有关于决型记录介质1的块层5中记录的信息(即，记录作为用户数据的信息)的记录功能和再现功能。在这个意义上，在下文中，第一实施方式的光学驱动装置被称为记录/再现装置10。

图11是示出了根据第一实施方式的记录/再现装置10的内部配置的图示。

首先，主轴电机(未示出)旋转并驱动安装在记录/再现装置10中的块型记录介质1。

在记录/再现装置10中，提供用于将第一激光束和第二激光束照射到旋转并驱动的块型记录介质1的光学拾取器(optical pickup)OP。

在光学拾取器OP中，提供了作为用于执行通过标记的信息记录以及再现通过标记所记录的信息的第一激光束的光源的第一激光器11以及作为位置控制光(伺服光)的第二激光束的光源的第二激光器24。

这里，如上所述，第一激光束和第二激光束具有不同的波长。在该实施例中，第一激光束的波长大约为405纳米(所谓的紫色激光束)而第二激光束的波长大约为650纳米(红色激光束)。

在光学拾取器OP中，提供了作为第一激光束和第二激光束到块型记录介质1的输出端的物镜20。此外，提供了第一激光的光传感部23和第二激光的光传感部31，第一激光的光传感部23传感第一激光束的来自块型记录介质1的反射光，第二激光的光传感部31(见图6)传感第二激光束的来自块型记录介质1的反射光。

此外，在光学拾取器OP中，形成了将第一激光器11照射的第一激光束引导至物镜20并将入射到物镜20的来自块型记录介质1的第一激光束的反射光引导至第一激光的光传感部23的光学系统。具体地，第一激光器11照射的第一激光束通过准直透镜12变为平行光以进入偏振分束器13。偏振分束器13被配置为传输从第一激光11侧入射的第一激光束。

通过偏振分束器13传输的第一激光束进入包含透镜14、透镜15和透镜驱动单元16的扩展器。通过将位于接近作为光源的第一激光器11的透镜14设置为固定透镜、将远离第一激光器11的透镜15设置为移动透镜并由透镜驱动单元16在平行于第一激光束的光轴的方向上驱动透镜15，该扩展器对第一激光束执行独立聚焦控制。

如下所述，扩展器(透镜驱动单元16)在记录过程中根据控制器40的指令偏移第一激光束的聚焦位置并在再现过程中根据第一激光的聚焦伺服电路35的输出信号执行第一激光束的聚焦控制。

穿过扩展器的第一激光束进入电反射镜17的反射表面。在入射的第一激光束的光轴可以被以基本90°弯曲的位置处设置电反射镜17。

电反射镜17根据下述光轴校正驱动器42的驱动信号改变其反射表面的角度，以调节通过反射表面输出的第一激光束的光轴的角度。

电反射镜17反射的第一激光束通过1/4波长板18进入二向棱镜19。二向棱镜19被配置为使其选择性反射表面反射具有与第一激光束相同的波长范围的光而传输具有其他波长范围的光。因此，入射的第一激光束被从二向棱镜19反射。

如图所示，将从二向棱镜19反射的第一激光束通过物镜20照射到块型记录介质1。

在物镜20中，提供了用于可移动地在聚焦方向(与块型记录介质1相邻或分离的方向)和跟踪方向(垂直于聚焦方向的方向：块型记录介质1的径向)上支持物镜20的双轴机构21。

通过分别地将来自下述第二激光的聚焦伺服电路37和跟踪伺服电路38的驱动电流施加到聚焦线圈和跟踪线圈，双轴机构21在聚焦方向和跟踪方向上移动物镜20。

在再现过程中，通过如上所述将第一激光束照射到块型记录介质1，从块型记录介质1(在块层5中要再现的信息记录层L中记录的标记串)获得第一激光束的反射光。将通过以上操作获得的第一激光束的反射光通过物镜20引导到二向棱镜19并且从二向棱镜19反射该反射光。

从二向棱镜19反射的第一激光束的反射光穿过1/4波长板18、电反射镜17和扩展器(透镜15和透镜14)，然后进入偏振分束器13。

通过1/4波长板18的操作和块型记录介质1的反射操作，入射到偏振分束器13的第一激光束的反射光(返回光)的偏振方向与从第一激光11侧入射到偏振分束器13的第一激光束的偏振方向相差90°。结果，入射的第一激光束的反射光被从偏振分束器13反射。

从偏振分束器13反射的第一激光束的反射光通过聚焦透镜22聚焦在第一激光的光传感部23的检测表面上。

在光学拾取器OP中，在用于第一激光束的光学系统的上述配置以外，形成了一种光学系统，用于将从第二激光器24照射的第二激光束引导到物镜20以及将入射到物镜20并从块型记录介质1反射的第二激光束的反射光引导到第二激光的光传感部31。

如图所示，从第二激光器24照射的第二激光束通过准直透镜25变为平行光并进入偏振分束器26。偏振分束器26被配置为传输从第二激光器24侧入射的第二激光束(前向光)。

通过偏振分束器26传输的第二激光束通过1/4波长板27进入二向棱镜19。

如上所述，二向棱镜19被配置为用于反射具有与第一激光束相同的波长范围的光而传输具有其他波长范围的光。因此，第二激光束通过二向棱镜19传输以通过物镜20被照射到块型记录介质1。

通过将第二激光束照射到块型记录介质1获得的第二激光束的反射光(具体地，在该情况下为来自基准表面Ref的反射光以及来自表面Surf的反射光)穿过物镜20，传输到二向棱镜19，并通过1/4波长板27进入偏振分束器26。

与第一激光束类似，通过1/4波长板27的操作和块型记录介质1的反射操作，从块型记录介质1侧入射的第二激光束的反射光(返回光)的偏振方向与前向光的的偏振方向相差90°，从而从偏振分束器26反射作为返回光的第二激光束的反射光。

因此，从偏振分束器26反射的第二激光束的反射光穿过检测光分离HOE 28、聚焦透镜29和柱面透镜30，以聚焦在第二激光的光传感部31的检测表面上。

这里，虽然图11中未示出，检测光分离HOE 28在偏离如图6中所示的跟踪方向的位置输出衍射光(1阶光)。

此外，如参照图8A和图8B所描述的，设置第二激光的光传感部31以使其中包含的位置控制PD 31-R和倾斜导致偏移量检测PD 31-A的设置位置满足以下条件。

即，在位置控制PD 31-R中，在第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配且没有产生倾斜和透镜移动的状态下，其检测表面的中心位置与来自基准表面Ref的反射光的通过聚焦透镜29的焦点r-0相匹配，来自基准表面Ref的反射光包含在通过检测光分离HOE28传输的第二激光束的反射光的0阶光中。

即，在倾斜导致偏移量检测PD 31-A中，类似地，在第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配且没有产生倾斜和透镜移动的状态下，其检测表面的中心位置(偏离量＝0的基准位置)与表面Surf的反射光的通过聚焦透镜29的焦点a-1相匹配，来自表面Surf的反射光包含在检测光分离HOE 28输出的第二激光束的反射光的1阶光中。

虽然省略了描述，而实际上在记录/再现装置10中，提供了用于在跟踪方向上滑动并驱动整个上述光学拾取器OP的滑动驱动单元，以利用滑动驱动单元通过驱动光学拾取器OP来广泛地移动激光束的照射位置。

在记录/再现装置10中，与上述光学拾取器OP一起，提供了记录处理单元32、第一激光的光传感信号处理单元33、再现处理单元34、第一激光的聚焦伺服电路35、第二激光的光传感信号处理单元36、第二激光的聚焦伺服电路37、跟踪伺服电路38、位置信息检测单元39、控制器40、校正量转换单元41以及光轴校正驱动器42。

首先，将要记录到块型记录介质1的数据(记录数据)输入到记录处理单元32。记录处理单元32对于输入的记录数据执行误差校正码的添加或预先编订的记录调制编码，并获得实际记录在块型记录介质1中的“0”和“1”二进制数据串的记录调制数据串。

根据控制器40的指令，记录处理单元32根据生成的记录调制数据串执行第一激光器11的发射驱动。

第一激光的光传感信号处理单元33包括电流/电压转换电路、矩阵计算/放大电路以及与作为第一激光的光传感部23的多个光传感元件的输出电流一致的类似电路，并通过矩阵计算处理生成所需的信号。

具体地，生成对应于再现记录调制数据串的再现信号的高频信号(在下文中被称为再现信号RF)、用于聚焦伺服控制的聚焦误差信号FE-1以及用于跟踪伺服控制的跟踪误差信号TE-1。

将第一激光的光传感信号处理单元33生成的再现信号RF提供给再现处理单元34。将聚焦误差信号FE-1提供给第一激光的聚焦伺服电路35以及将跟踪误差信号TE-1提供给跟踪伺服电路38。

再现处理单元34响应于再现信号RF执行用于恢复上述记录数据的再现处理，诸如二元化处理、解码记录调制码处理或者误差校正处理，并获得再现记录数据的再现数据。

第一激光的聚焦伺服电路35根据聚焦误差信号FE-1生成聚焦伺服信号并根据聚焦伺服信号控制透镜驱动单元16的驱动，以执行第一激光束的聚焦伺服控制。

从以上描述可以理解的是，在再现过程中，根据第一激光束的反射光通过驱动透镜驱动单元16执行第一激光束的聚焦伺服控制。

与再现相一致，第一激光的聚焦伺服电路35控制透镜驱动单元16的驱动，以根据控制器40的指令执行块型记录介质1中形成的信息记录层L(标记串)之间的层间跳跃操作或引入必要的信息记录表面L的伺服控制。

关于第二激光束侧，第二激光的光传感信号处理单元36根据来自上述第二激光的光传感部31中的多个光传感元件(E、F、G和H，以及E1、F1、G1和H1)的光传感信号生成必要的信号。

具体地，第二激光的光传感信号处理单元36生成用于各自的聚焦和跟踪伺服控制的聚焦误差信号FE-2和跟踪误差信号TE-2。

此外，生成用于执行记录在基准表面Ref中的绝对位置信息的检测的位置信息检测信号fpd。

具体地，在本实施方式中，表示由于倾斜导致的偏移量D_skew_rad的倾斜导致误差信号被生成并在下文中被称为“倾斜导致误差信号D_skew_rad”。

图12是示出了第二激光的光传感信号处理单元36的内部配置的图示。

在图12中，还示出了第二激光的光传感部31的内部配置。

如图12中所示，在第二激光的光传感信号处理单元36中，提供了位置信息检测信号发生单元51、跟踪误差信号发生单元52、聚焦误差信号发生单元53和倾斜导致偏移量检测单元54。

位置信息检测信号发生单元51接收来自第二激光的光传感部31中的位置控制PD 31-R的光传感元件E、F、G和H的光传感信号，并且生成用于执行记录在基准表面Ref中的绝对位置信息的检测的位置信息检测信号fpd。例如，如果由凹坑行生成绝对位置信息，则来自光传感元件E、F、G和H的光传感信号的总信号生成位置信息检测信号fpd。可选地，如果由摆动凹槽记录了绝对位置信息，则通过推挽信号生成位置信息检测信号fpd。

跟踪误差信号发生单元52根据来自位置控制PD 31-R的光传感元件E、F、G和H的光传感信号生成跟踪误差信号TE-2，以及聚焦误差信号发生单元53根据来自位置控制PD 31-R的光传感元件E、F、G和H的光传感信号生成聚焦误差信号FE-2。

倾斜导致偏移量检测单元54接收来自倾斜导致偏移量检测PD31-A中的光传感元件E1、F1、G1和H1的光传感信号，并且根据光传感信号执行等式2的计算以生成倾斜导致误差信号(倾斜导致偏移量)D_skew_rad。

描述返回图11。

如图所示，将第二激光的光传感信号处理单元36生成的位置信息检测信号fpd提供给位置信息检测单元39。位置信息检测单元39根据位置信息检测信号fpd检测记录在基准表面Ref中的绝对位置信息。将所检测到的绝对位置信息提供给控制器40。

将第二激光的光传感信号处理单元36生成的聚焦误差信号FE-2提供给第二激光的聚焦伺服电路37。

将跟踪误差信号TE-2提供给跟踪伺服电路38。

将倾斜导致误差信号D_skew_rad提供给校正量转换单元41。

第二激光的聚焦伺服电路37根据聚焦误差信号FE-2生成聚焦伺服信号，并且根据聚焦伺服信号驱动双轴机构21的聚焦线圈，以执行物镜20的聚焦伺服控制。如上所述，在记录过程中以及再现过程中，根据第二激光束的反射光执行物镜20的聚焦伺服控制。

第二激光的聚焦伺服电路37驱动聚焦线圈，以根据控制器40的指令执行对于形成在块型记录介质1中的选择性反射膜3(基准表面Ref)的聚焦伺服引入。

根据控制器40的指令，跟踪伺服电路38根据来自第一激光的光传感信号处理单元33的跟踪误差信号TE-1或者来自第二激光的光传感信号处理单元36的跟踪误差信号TE-2中的任意一个执行双轴机构21的跟踪线圈的驱动。

如上所述，在记录过程中根据第二激光束的反射光执行物镜20的跟踪伺服控制，以及在再现过程中，在访问完成之前根据第二激光束的反射光执行物镜20的跟踪伺服控制而在访问完成之后根据第一激光束的反射光执行物镜20的跟踪伺服控制。

在记录过程中，根据控制器40的指令，跟踪伺服电路38根据跟踪误差信号TE-2生成跟踪伺服信号，并且根据跟踪伺服信号驱动双轴机构21的跟踪线圈。在再现过程中，在访问完成之前，根据控制器40的指令，根据跟踪误差信号TE-2生成跟踪伺服信号并根据跟踪伺服信号驱动双轴机构21的跟踪线圈，以及，在访问完成之后，根据控制器40的指令，根据跟踪误差信号TE-1生成跟踪伺服信号并根据跟踪伺服信号驱动双轴机构21的跟踪线圈。

此外，根据控制器40的指令，跟踪伺服电路38执行跟踪伺服的引入操作(pull-in operation)或跟踪跳跃操作。

控制器40包括微型计算机，微型计算机包括例如中央处理器(CPU)或诸如只读存储器(ROM)的存储器(存储设备)，并且根据ROM等所存储的程序执行控制处理以执行记录/再现装置10的整体控制。

具体地，在记录过程中，控制器40根据如参照图2所述的预先设置的与每层位置一致的偏移量“of”的值执行第一激光束的聚焦位置的控制(深度方向上记录位置的选择)。具体地，控制器40根据与要记录的层位置一致的偏移量“of”的值驱动透镜驱动单元16，以执行深度方向上的记录位置的选择。

如上所述，根据第二激光束的反射光执行记录过程中的跟踪伺服控制。因此，在记录过程中，控制器40命令跟踪伺服电路38根据跟踪误差信号TE-2执行跟踪伺服控制。

同时，在再现过程中，控制器40命令第一激光的聚焦伺服控制电路35将第一激光束聚焦在其中记录了要被再现的数据的信息记录层L(标记串的形成位置)。即，对于第一激光束，对应于信息记录层L来执行聚焦伺服控制。

在再现过程中，控制器40命令跟踪伺服电路38在访问完成之前/之后改变跟踪伺服控制。具体地，在访问完成之前，根据跟踪误差信号TE-2执行跟踪伺服控制，而在访问完成之后，根据跟踪误差信号TE-1执行跟踪伺服控制。

在记录/再现装置10中，将校正量转换单元41和光轴校正驱动器42设置为用于执行由于倾斜导致光斑偏移的校正的配置。

校正量转换单元41将第二激光的光传感信号处理单元36生成的倾斜导致误差信号D_skew_rad的值(偏移量D_skew_rad的值)转换为电反射镜17的校正量的值。具体地，校正量转换单元41根据指示偏移量D_skew_rad与校正量之间的关系的上述表格信息或关于函数的信息将偏移量D_skew_rad的值转换为电反射镜17的校正量的值。

光轴校正驱动器42根据校正量转换单元41获得的校正量的值控制电反射镜17的驱动。因此，执行第一激光束的光斑位置的校正，以使第一激光束的光斑位置与第二激光束的光斑位置在跟踪方向上位置相匹配。

从图2和图3的描述可以理解的是，主要在记录过程中第一激光束与第二激光束之间的光斑位置偏移是有问题的(由于在再现过程中关于所记录的标记串执行第一激光束的伺服控制)。即，在本实施方式中，只在记录过程中通过控制电反射镜17的驱动执行光斑位置偏移的校正操作。

与之相一致的是，只在记录过程中控制器40命令光轴校正驱动器42根据校正量的值控制电反射镜17的驱动。

可选地，甚至在再现过程中也可执行光斑位置偏移的校正操作。根据以上描述，甚至在再现过程中，在访问完成之前，根据第二激光束的反射光执行物镜20的跟踪方向的位置控制。在对再现开始位置的访问完成的时刻，对应要再现的标记串执行第一激光束的跟踪伺服的引入操作。然而，此时，如果第一激光束的位置偏离第二激光束，则引入可能不能顺利执行。

考虑到这点，即使在再现过程中，在对再现开始位置的访问完成之前(即，在访问操作过程中)，可以通过电反射镜17执行第一激光束的光斑位置偏移校正。在这种情况下，在记录过程中以及在再现的访问过程中，控制器40命令光轴校正驱动器42根据电反射镜17的校正量的值执行驱动控制。

如上所述，根据第一实施方式，使用来自块型记录介质1的表面Surf的第二激光束的反射光作为位置控制光，使得执行倾斜量的检测成为可能，更具体地，可以执行由于倾斜生成的记录/再现光(第一激光束)的光斑位置与位置控制光(第二激光束)的光斑位置之间的偏移量的检测。

因此，在倾斜量(由于倾斜导致的光斑位置偏移量)的检测中，不必如相关技术领域的倾斜传感器165中那样提供独立的光源，并且用于倾斜检测的光学系统可以装配在用于标记记录/再现或位置控制的光学系统中。

即，根据第一实施方式，如使用相关技术领域的倾斜传感器的情况，不必在用于标记的记录/再现或位置控制的光学系统外部保证用于倾斜检测的光学系统的空间。因此，与相关技术领域相比，通过降低部件数量使得降低设备制造成本或实现设备小型化成为可能。

在第一实施方式中，当独立检测来自基准表面Ref的反射光与来自表面Surf的反射光时，使用检测光分离HOE 28。通过使用检测光分离HOE，可以独立地检测最初在同一光轴聚焦的来自基准表面Ref的反射光与来自表面Surf的反射光。

例如，如果独立检测来自基准表面Ref的反射光与来自表面Surf的反射光，则可以采用一种利用半透明镜等光谱地分割块型记录介质1的反射光并检测通过不同光路的反射光的方法。在这种情况下，位置控制PD和倾斜导致偏移量检测PD 31-A可以被设置在相对分离的位置。

相反地，如果使用检测光分离HOE 28，则根据图6可见，位置控制PD和倾斜导致偏移量检测PD 31-A可以被配置在非常接近的位置并且可以被集成设置在共用光传感部中。即，可以降低部件数量。

<4.第二实施方式：包含由于透镜移动导致的光斑偏移的光斑偏移的检测校正>

[4-1.检测由于透镜移动导致的光斑偏离量的方法]

随后，将描述第二实施方式。在第二实施方式中，执行由于透镜移动以及倾斜导致的光斑位置偏移的检测和校正。

甚至在第二实施方式中，关于光斑位置偏移量的检测和校正只考虑跟踪方向。

如日本未审查专利申请公开第2008-310848号中所描述的，在通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中所需位置来执行通过形成标记的信息记录或再现所记录的信息的情况下，通过物镜将第二光聚焦在其中形成有光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并根据聚焦在反射膜上的第二光的反射光来控制物镜的位置以使第二光的光斑位置跟随位置引导元件，当物镜的透镜移动(跟踪移动)发生时，第一光的光斑位置没有正好在第二光的光斑位置下方，从而产生光斑位置偏移。

即，如日本未审查专利申请公开第2008-310848号(具体地，图5和图6)中所描述的，如果在跟踪方向上物镜中心偏离中心基准位置C-ol(见图5)，则记录/再现光的光轴和位置控制光的光轴被物镜折射，但是，此时，由于记录/再现光与位置控制光的聚焦位置(在聚焦方向上的光斑位置)不同(记录/再现光＝块层5的内侧，以及位置控制光＝基准表面Ref)，因此在记录光和位置控制光之间产生光斑位置偏移，甚至在垂直于聚焦方向的方向上产生光斑位置偏移。

根据以上描述可以理解的是，由于透镜移动以及倾斜导致产生第一激光束和第二激光束的光斑位置之间的光斑位置偏移。

因此，在第二实施方式中，提出了一种校正由于透镜的这种移动导致的光斑位置偏移的方法。

首先，当执行由于透镜移动导致的光斑位置偏移的校正时，执行由于透镜移动导致的光斑位置偏移量的检测。

在第二实施方式中，通过以下方法执行检测由于透镜移动导致的光斑位置偏移量。

图13是示出了用于产生检测由于透镜移动导致的光斑位置偏移量的检测光的光学系统的配置实施例的图示。

在图13中，与图11中所示的第二激光束的光学系统配置部分相同部分用相同的参考数字标记，但是未示出图11中所示的二向棱镜19、聚焦透镜29和圆柱透镜30。

此外，在图13中，应指出的是，纸张的水平方向是块型记录介质1的线性方向。

从图13可见，在第二实施方式中，在包含在第一实施方式的记录/再现装置10中的第二激光的光学系统中新插入照射光分离HOE 61。

在光源侧的位置而不是在光谱点(这里，对应于偏振分束器26的选择性反射表面)(该光谱点用于从用来将至少从光源发出的第二激光束引导至物镜20的光路分光第二激光束的来自块型记录介质1的反射光)的位置处插入照射光分离HOE 61，具体地，在这种情况下，如图所示，在准直透镜25和偏振分束器26之间插入照射光分离HOE 61。

照射光分离HOE 61传输从第二激光器24经由准直透镜25入射的第二激光束作为0阶光，并在所示的线性方向上的偏离位置产生和输出衍射光(1阶光：图中的虚线)。此时，如图所示，在第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配的状态下，作为从照射光分离HOE 61输出的衍射光，衍射光的通过物镜20的焦点位于基准表面Ref的后侧(下层侧)2tc的距离。换言之，衍射光的焦点的位置在位于基准表面Ref的后面一段距离，这段距离是表面Surf和基准表面Ref之间的距离的两倍。

例如，可以通过设置照射光分离HOE 61和物镜20(此时，物镜20的位置是第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配的位置)之间的距离或者照射光分离HOE 61的全息图样执行衍射光的焦点位置的调节。

图14是示出了用于在线性方向上偏离的位置产生并输出衍射光的照射光分离HOE 61的全息图样的一个实施例的图示。

如图14所示，甚至在照射光分离HOE 61中，形成了类似于图7中所示的检测光分离HOE 28的偏心全息图样。在这种情况下，将每个圆圈的中心α被设置到向线性方向(不是跟踪方向)的任意一个方向倾斜的位置。通过这种配置，可以在中心α在线性方向上向其倾斜的方向的中心的方向(在这种情况下，为纸张的向上方向)上输出衍射光。

描述回到图13。

当聚焦在基准表面Ref的后面(下层侧)2t_c距离位置的衍射光(1阶光)被照射到块型记录介质1时，衍射光的基准表面Ref的反射光聚焦在图中B点(以下，被称为焦点B)。

此时，焦点B的聚焦方向的位置与第二激光束的0阶光(光束在图中标记为实线)的来自表面Surf的反射光的焦点A相匹配。

在第二实施方式中，根据通过上述方法形成的第二激光束的照射光分离HOE 61的1阶光的来自基准表面Ref的反射光的焦点B的偏移量的检测结果，执行由于透镜移动导致的偏移量的检测。

图15A是示出了对于倾斜的焦点B的状态的图示，而图15B是示出了对于透镜移动的焦点B的状态的图示。

在图15A中，倾斜产生在径向方向。

如图15A所示，与焦点A类似，甚至由于倾斜的产生导致焦点B从光轴C偏离。

具体地，当从未发生倾斜的状态产生θ°的倾斜时，由于透镜移动导致的焦点B与光轴C的偏移量δ_θ1为等式4。

等式4

δ_θ1＝4t_c·θ

如图15B所示，通过物镜的透镜移动，焦点B偏离光轴C。

此外，在其中心与中心基准轴c-ol相匹配的状态下，当物镜在跟踪方向移动距离d时，焦点B与光轴C的偏移量δ_d1变为等式5，当物镜的焦距为f时，物镜和物镜的物点之间的距离S₁＝f(f+2t_c)/2t_c，以及物镜和照射光分离HOE 61的1阶光的焦点之间的距离S₂＝f+2t_c。

等式5

δ_d1＝2t_c/f·d

由于倾斜和透镜移动两者导致焦点B偏离光轴C。换言之，当检测到焦点B的偏移量时，从光轴C的偏移量的值包括由于倾斜导致的偏移量和由于透镜移动导致的偏移量两者。

如果通过上述方法检测焦点B的偏移量，则可以获得包括由于倾斜和透镜移动两者导致的第一激光束与第二激光束之间的光斑位置偏移量的值。

因此，仅使用检测焦点B的偏移量的结果执行这种情况的校正。

然而，如上所述，出现了不能由反馈控制执行第一激光束的光斑位置的校正控制的问题。

即，在通过基于第二激光束的反射光而检测的光斑位置的偏移量来执行第一激光束的光斑位置校正的情况下，如第一实施方式中所述，需要计算检测的偏移量的值与在预先通过实验等时所获得的所需的第一激光束的光斑位置值之间的关系。

假定预先计算了需要的校正量，根据独立操作的简化观点，独立地执行对应于只由倾斜导致的偏移量所需的校正量的计算以及对应于只由透镜移动导致的偏移量所需的校正量的计算是优选的。

换言之，由于计算关于焦点B的偏移量(焦点B的偏移量包含由于倾斜导致的偏移量以及由于透镜移动导致的偏移量)的值所需要的校正量的操作是十分复杂的，因此优选避免这种操作。

根据这个观点，在第二实施方式中，分别检测由于倾斜导致的偏移量以及由于透镜移动导致的偏移量，并分别获得关于由于倾斜导致的的校正量的信息以及关于由于物镜移动导致的的校正量的信息。然后，执行根据关于校正量的信息的第一激光束的光斑位置校正。

此时，要考虑如何只检测由于透镜移动导致的偏移量。然而，参照等式2(图4B)，可见第一实施方式中所述的焦点A的由于倾斜导致的偏移量δ_θ0(＝2t_c·θ)的值是如等式4所示的焦点B由于倾斜导致的偏移量δ_θ1(＝4t_c·θ)的1/2。

如果使用这种关系，则使用第一实施方式中所述的由于倾斜导致的偏移量(D_skew)的值，可以从焦点B的偏移量的值(该值包括由于倾斜和透镜移动两者导致的偏移量)中提取仅由于透镜移动导致的偏移量的值。

具体地，如果焦点B的偏移量(只考虑跟踪方向)为“D_b_rad”，则可以根据等式6得到由于透镜移动导致的偏移量＝D_shift_rad。

等式6

D_shift_rad＝D_b_rad-2·D_skew_rad

[4-2.用于检测偏移量的详细配置]

如果利用该方法检测焦点B的偏移量(D_b_rad)，则通过从偏移量的值中减去两倍于第一实施方式中所述的焦点A的偏移量(由于倾斜导致的偏移量：D_skew_rad)的值可得到只由于透镜移动导致的偏移量D_shift_rad的值。

将参照图16和图17描述检测焦点B的偏移量的详细配置。

图16A和图16B是示出了用于检测焦点B的偏移量的详细配置的图示。图16A只示出了根据关于块型记录介质1的表面Surf和基准表面Ref的第二激光束的反射光偏移量检测中的主要部分的配置，而图16B是包含在第二实施方式中的第二激光的光传感部62的检测表面的平面图。

如图所示，在图16A和图16B中，纸张的水平方向是线性方向。

在第二实施方式中，假定，如同第二激光束的光学系统，除了添加图13中所示的照射光分离HOE 61之外，与图11中所示的第一实施方式的记录/再现装置10相同的光学系统。

在图16A中，基于以上假设，只提取并示出了用于第二激光束的反射光的检测光学系统中的偏移量检测中的主要部分的配置。

如图13中所述，焦点A和焦点B在聚焦方向的位置方面相匹配，焦点A在线性方向上与光轴C相匹配，而焦点B在线性方向上偏离光轴C。

甚至在这种情况下，经由透镜20从焦点A入射的光(用于通过第二激光束的照射光分离HOE 61的0阶光的表面Surf的反射光)的状态与第一实施方式中的相同。即，经由透镜20从第二激光束的焦点A入射的光被检测光分离HOE 28分为0阶光和偏离跟踪方向的1阶光，并且0阶光和1阶光被聚焦透镜29聚焦。

图中，在经由物镜20从焦点A入射的由聚焦透镜29聚焦的光中，示出了通过检测光分离HOE 28的1阶光分量的焦点a-1。

根据经由物镜20从焦点B入射的光束，由检测光分离HOE 28生成0阶光和1阶光。

这里，经由物镜20从焦点B入射的光在下文中被称为B光。

虽然，在图示中，示出了由B光的通过检测光分离HOE 28的1阶光分量的由聚焦透镜29形成的焦点b-1，由于如上所述焦点B在线性方向上偏离焦点A，类似地，焦点b-1形成于在线性方向上偏离焦点a-1的位置。

在第二实施方式中，包含了图16B中所示的第二激光的光传感部62。

根据与图8B的对比可见，通过将B光偏移量检测PD 62-B新添加到第一实施方式的第二激光的光传感部31得到第二实施方式的第二激光的光传感部分62。

B光偏移量检测PD 62-B包括光传感元件E2、F2、G2和H2，以及如图所示，一组“E2和G2”和一组“F2和H2”在跟踪方向上彼此相邻。确定B光偏移量检测PD 62-B的设置位置，以在第二激光束的焦点R与基准表面Ref相匹配并且未产生倾斜和透镜移动的状态下，使其检测表面的中心(偏移量＝00的基准位置)与图中所示的上述焦点b-1相匹配。

为了确认，甚至在这种情况下，位置控制PD 31-R和倾斜导致偏移量检测PD 31-A的设置位置与第一实施方式中的相同。

虽然在图16B中示出了B光的检测光分离HOE 28的0阶光的焦点b-0，然而由于检测光分离HOE 28的1阶光在偏离跟踪方向上的位置输出，如图所示，则焦点b-0和焦点b-1在跟踪方向上偏离。

图17A和图17B是示出了照射到包含在光学驱动装置中的第二激光的光传感部62的光的状态，其中图17A示出了来自焦点R的反射光的状态而图17B示出了来自焦点A的光和来自焦点B的光的状态。

如图17A中所示，甚至在这种情况下，来自焦点R的反射光被照射，以使其0阶光在位置控制PD 31-R上形成聚焦光斑并且使其1阶光在倾斜导致偏移量检测PD 31-A附近处于模糊状态，类似于图9A。

在图17B中，甚至在这种情况下，来自焦点A的光被照射，以使其0阶光在位置控制PD 31-R上处于模糊状态以及使其1阶光在倾斜导致偏移量检测PD 31-A的检测表面上形成聚焦光斑，类似于图9B。

在图17B中，来自焦点B的光被照射，以使0阶光在线性方向上偏离位置控制PD 31-R的位置上处于模糊状态，并使1阶光在B光偏移量检测PD 62-B的检测表面上形成聚焦光斑。

从图17A和图17B可知，甚至在第二实施方式中，使用检测光分离HOE 28输出的0阶光和1阶光，只有来自焦点R的反射光的0阶光的聚焦光斑可以形成在位置控制PD 31-R上并且只有来自焦点A的反射光的1阶光的聚焦光斑可以形成在倾斜导致偏移量检测PD 31-A上。

此外，只有来自焦点B的光的1阶光的聚焦光斑可以形成在B光偏移检测PD 62-B中。

因此，可以独立地执行基于来自基准表面Ref的反射光的用于激光束的位置控制的信息的检测、基于来自焦点A的光的倾斜检测(由于倾斜导致的光斑偏移量的检测)以及基于来自焦点B的光的B光的偏离量(D_b_rad)的检测。

根据B光偏移量检测PD 62-B的光传感元件E2、F2、G2和H2的光传感信号可以如下计算B光的偏移量(与焦点B的光轴C的偏移量)D_b_rad的检测。

等式7

D_b_rad＝E2+G2-(F2+H2)

此外，可以如下计算在线性方向上的B光的偏移量D_b_tan。

等式8

D_b_tan＝E2+F2-(G2+H2)

从以上说明可以理解的是，在第二实施方式中，使用等式7计算的B光的偏移量D_b_rad的值以及由于倾斜导致的偏移量D_skew_rad(等式2)的值(其根据来自倾斜导致偏移量检测PD 31-A的光传感元件E1、F1、G1和H1的光传感信号计算得出)，由等式6得到由于透镜移动导致的偏移量D_shift_rad。

因此，在第二实施方式中，使用由于倾斜导致的偏移量D_skew_rad的值以及由于透镜移动导致的偏移量D_shift_rad的值，校正由于倾斜和透镜移动导致的第一激光束的光斑位置偏移。

从以上描述可知，在第二实施方式中，单独产生指示只由于倾斜导致的偏移量与需要的校正量之间的关系的信息(被称为倾斜侧校正量转换信息)以及指示只由于透镜移动导致的偏移量与需要的校正量之间的关系的信息。

在实际的校正中，基于倾斜侧校正量转换信息得到根据由于倾斜导致的偏移量D_skew_rad的值的校正量的值，得到根据由于透镜移动导致的偏移量D_shift_rad的值的校正量的值，通过将上述校正量的值相加得到用于校正由于倾斜和透镜移动导致的光斑位置偏移的最终校正量的值。

基于得到的最终校正量的值通过控制电反射镜17的驱动以调节第一激光束的光轴，可以将第一激光束的光斑位置校正到与在跟踪方向上与第二激光束的光斑位置相匹配。

[4-3.第二实施方式的光学驱动装置的配置]

图18是示出了根据第二实施方式的记录/再现装置60的内部结构的图示，用于实现由于上述透镜移动导致的光斑偏移的检测和校正。

在图18中，与图11相同的部件用相同的参考标号表示并且将省略其说明。

比较图18和图11可以看出，第二实施方式的记录/再现装置60与第一实施方式的记录/再现装置10不同之处在于，图13中所述的照射光分离HOE 61插入在准直透镜25与偏振分束器26之间并包含图16中所示的第二激光的光传感部62而不是第二激光的光传感部31。

此外，不同之处在于包含第二激光的光传感信号处理单元63而不是第二激光的光传感信号处理单元36，并包含校正量转换单元64而不是校正量转换单元41。

此外，不同之处在于新添加了移动导致偏移量计算单元65。

图19是示出了包含在根据第二实施方式的记录/再现装置60中的第二激光的光传感信号处理单元63的内部配置的图示。

在图19中，还示出了第二激光的光传感部62。

比较图19与图12可以看出，通过将B光偏移量检测单元71新添加到第一实施方式的第二激光的光传感部36得到第二激光的光传感信号处理单元63。

B光偏移量检测单元71根据第二激光的光传感部62中的B光偏移量检测PD 62-B的光传感元件E2、F2、G2和H2的光传感信号执行等式7的计算，并生成B光的偏移量D_b_rad(在下文中，被称为B光误差信号D_b_rad)。

描述返回图18。

在图18中，第二激光的光传感信号处理单元63生成的倾斜导致偏移量D_skew_rad(倾斜导致误差信号)被提供给校正量转换单元64并被提供给移动导致偏移量计算单元65。

将第二激光的光传感信号处理单元63生成的B光误差信号D_b_rad提供给移动导致偏移量计算单元65。

移动导致偏移量计算单元65根据提供的倾斜导致误差信号D_skew_rad和B光误差信号D_b_rad执行等式6的运算并且计算由于透镜移动导致的偏移量＝D_shift_rad的值。

将移动导致偏移量计算单元65计算的由于透镜移动导致的偏移量D_shift_rad的值提供给校正量转换单元64。

在校正量转换单元64中，设置上述倾斜侧校正量转换信息和移动侧校正量转换信息。

校正量转换单元64基于倾斜侧校正转换信息根据由于倾斜导致的偏移量D_skew_rad的值获得校正量的值，以及基于移动侧校正量转换信息根据由于透镜移动导致的偏移量D_shift_rad的值获得校正量的值。

然后，将所得的校正量的值相加以获得用于校正由于倾斜和透镜移动导致的光斑位置偏移的最终校正量的值，并将最终校正量的值提供给光轴校正驱动器42。

光轴校正驱动器42基于由校正量转换单元64获得的最终校正量的值控制电反射镜17的驱动以调节第一激光束的光轴，从而将第一激光束的光斑位置校正到在跟踪方向与第二激光束的光斑位置相匹配。

根据第二实施方式，使用来自第二激光束的块型记录介质1的反射光作为位置控制光，可以执行由于倾斜导致的光斑位置偏移和由于透镜移动导致的光斑位置偏移的检测和校正。

在相关技术中，在由于倾斜和透镜移动两者导致的光斑位置偏移被检测和校正的情况下，合并了日本未审查专利申请公开第2008-71435号中公开的技术以及日本未审查专利申请公开第2008-310848号中公开的技术。然而，在这种情况下，难以使用来自同一光源的光单独检测由于倾斜导致的偏移量和由于透镜移动导致的偏移量。

相反地，根据第二实施方式，由于使用共用光源作为第二激光器24来执行由于倾斜导致的偏移量的检测和由于透镜移动导致的偏移量的检测，因此可以将其配置安装在第二激光束的光学系统中。因此，可以实现配置的简化、部件数量的减少、制造设备的成本降低以及设备的小型化。

此外，在第二实施方式中，由于用于执行位置控制(诸如伺服)的来自焦点R的反射光以及用于检测由于倾斜和透镜移动导致的偏移量的来自焦点A和焦点B的光中的每一个进入检测光分离HOE 28中以执行检测，因此与每种光被半透明镜等光谱地分割的情况相比，位置控制PD、倾斜导致偏移量检测PD 31-A和B光偏移量检测PD 62-B可以被配置在相邻的位置。因此，在第二实施方式中，如图16B等所示，由于位置控制PD、倾斜导致偏移量检测PD 31-A和B光偏移量检测PD 62-B可以被集成设置在共用光传感部中，因此这些PD可以不用作为独立的光传感部而分开设置。即，因此减少了部件的数量。

<5.变形实施例>

虽然已经描述了本发明的实施方式，但是本发明不限于那些到目前为止已经被描述的详细的实施例。

例如，虽然在以上说明中只描述了在跟踪方向的光斑位置偏移的校正，然而根据如上述在跟踪方向上光斑位置偏移的检测和校正的相同方法可以检测并校正线性方向上的光斑位置偏移。

虽然在以上说明中描述了通过使用电反射镜17调节第一激光束的光轴来执行第一激光束的光斑位置偏移的校正的情况，但是可以通过其他方式执行第一激光束的光斑位置的校正。

例如，在只有由于倾斜导致的光斑位置偏移被检测并被校正的第一实施方式中，第一激光束的光斑位置没有被校正，块型记录介质1可能是倾斜的，整个光学拾取器OP可能是倾斜的，或者倾斜本身可能被校正。如果倾斜本身被校正，则由于校正被应用于偏移量D_skew_rad的值，在这种情况下，校正操作可以通过反馈控制来执行。

在由于透镜移动所引起的光斑位置偏移也被检测并被校正的第二实施方式中，通过“B点的偏移量D_b-由倾斜引起的偏移量D_skew×2”的计算得到由于透镜移动所引起的光斑位置偏移量D_shift。此时，如果校正了倾斜本身，则不会充分检测到由于倾斜导致的偏移量D_skew的值，从而没有检测到由于透镜移动导致的光斑位置偏移量D_shift。因此，在检测并校正由于透镜移动导致的光斑位置偏移的情况下，第一激光束的光斑位置变成了将被校正的对象。

虽然，在第二次实施方式中，在B光的偏移量检测中检测了B光的通过检测光分离HOE 28的1阶光分量的光传感部的偏移，由于可以通过照射光分离HOE 61的操作在偏离线性方向的位置获得B光，因此可以关于B光的通过检测光分离HOE 28的0阶光分量执行B光的偏移量的检测。

在这种情况下，B光偏移量检测PD 62-B被配置为使其中心(基准位置)与图16B中所示的焦点b-0相匹配。

虽然在以上说明中描述了将本发明的实施方式应用到用于对光学记录介质执行记录和再现的记录/再现装置的情况，然而本发明的实施方式可适用于只可能对光学记录介质进行记录的记录专用的设备(记录设备)。可选地，本发明的实施方式可适用于只可能进行再现的再现专用的设备(再现设备)。

本领域的技术人员应理解的是，在所附权利要求的范围或其等同替换内，根据设计要求和其他因素可以进行各种修改、组合、子组合以及变更。

Claims (11)

1.一种光学驱动装置，用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现，所述光学驱动装置包括：

位置控制单元，被配置为经由所述物镜将第二光聚焦在其中形成有所述光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在所述反射膜上的所述第二光的反射光使所述第二光的光斑位置能够跟随所述位置引导元件以控制所述物镜的位置；

第一聚焦单元，被配置为聚焦通过将所述第二光照射到所述光学记录介质经由所述物镜而入射的所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光；

第一光传感部，被设置为使包含在由所述第一聚焦单元聚焦的所述第二光的反射光中的来自所述光学记录介质的表面的反射光的光斑形成在所述第一光传感部的光传感表面上；以及

表面反射光偏移量检测单元，被配置为基于由所述第一光传感部产生的光传感信号来检测来自所述表面的所述反射光的所述光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量。

2.根据权利要求1所述的光学驱动装置，还包括分光元件，被配置为光谱地分割经由所述物镜从所述光学记录介质入射的所述第二光的反射光，

其中，所述第一聚焦单元被设置在至少一个被所述第一分光元件光谱地分割的光所聚焦的位置。

3.根据权利要求1所述的光学驱动装置，其中：

所述分光元件包括第一全息元件，并通过衍射来光谱地分割经由所述物镜入射的所述第二光的反射光，

所述第一聚焦单元被设置在由作为所述第一全息元件的所述分光元件光谱地分割的0阶光和1阶光都聚焦的位置，以及

所述第一光传感部被设置在包含在从所述分光元件输出的1阶光侧中的来自所述表面的反射光的由所述第一聚焦单元形成的光斑形成在所述光传感表面上的位置处。

4.根据权利要求1所述的光学驱动装置，还包括第一聚焦位置校正单元，被配置为基于有关由所述表面反射光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息来校正所述第一光在所述记录层中的聚焦位置。

5.根据权利要求1所述的光学驱动装置，还包括：

检测光照射单元，在用于将从光源发射的所述第二光引导到所述物镜的光路中具有第二全息元件，所述第二全息元件被插入在光源侧但不是分光点的位置上，用于光谱地分割所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光，并且，所述检测光照射单元被配置为经由所述物镜接收从所述第二全息元件输出的1阶光，并且照射聚焦在位于所述反射膜的后面且距离所述反射膜为所述光学记录介质的表面与所述反射膜之间的距离的两倍的位置处的检测光；

第二聚焦单元，被配置为聚焦通过将所述检测光照射到所述光学记录介质而经由所述物镜入射的所述检测光的来自所述光学记录介质的反射光；

第二光传感部，被设置为使包含在由所述第二聚焦单元聚焦的所述检测光的反射光中的所述检测光的来自所述反射膜的反射光的光斑形成在所述第二传感部的光传感表面上；以及

检测光偏移量检测单元，被配置为基于所述第二光传感部产生的光传感信号来检测所述检测光的来自所述反射膜的反射光的光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量。

6.根据权利要求5所述的光学驱动装置，其中：

所述第一聚焦单元与所述第二聚焦单元是同一聚焦元件，该同一聚焦元件被设置在从所述第二全息元件输出的所述第二光的0阶光分量的来自所述光学记录介质的反射光和所述检测光的来自所述光学记录介质的反射光所入射的位置处，

所述光学驱动装置还包括第三全息元件，被配置为接收被所述同一聚焦元件聚焦的来自所述光学记录介质的反射光，

所述第一光传感部被设置在包含在所述第三全息元件的1阶光侧中的来自所述表面的反射光的由所述同一聚焦元件形成的光斑形成在所述光传感表面上的位置处；以及

所述第二光传感部被设置在包含在所述第三全息元件的所述1阶光侧中的所述检测光的来自所述反射膜的反射光的由所述同一聚焦元件形成的所述光斑形成在所述光传感表面上的位置处。

7.根据权利要求5所述的光学驱动装置，还包括第二聚焦位置校正单元，被配置为基于有关由所述表面反射光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息以及有关由所述检测光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息两者来校正所述第一光在所述记录层中的聚焦位置。

8.根据权利要求5所述的光学驱动装置，其中，当由所述表面反射光偏移量检测单元检测的所述偏移量的值为D_skew、而由所述检测光偏移量检测单元检测的所述偏移量的值为D_b时，所述第二聚焦位置校正单元基于所述值D_skew和值D_b-2·D_skew来校正所述第一光在所述记录层中的聚焦位置。

9.根据权利要求4或7所述的光学驱动装置，其中，通过将所述第一光引导到所述物镜的可变角反射镜来调节所述第一光的光轴，所述第一聚焦位置校正单元或所述第二聚焦位置校正单元校正所述第一光在所述记录层中的聚焦位置。

10.根据权利要求5所述的光学驱动装置，其中，所述光学记录介质是盘形记录介质，所述第二全息元件被配置为在偏离所述光学记录介质的圆周方向的位置处输出衍射光。

11.一种光学驱动装置的倾斜检测方法，所述光学驱动装置用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现，所述倾斜检测方法包括：

位置控制步骤，经由所述物镜将第二光聚焦在其中形成有所述光学记录介质的位置引导元件的反射膜上，并基于聚焦在所述反射膜上的所述第二光的反射光使所述第二光的光斑位置能够跟随所述位置引导元件以控制所述物镜的位置；以及

表面反射光偏移量检测步骤，基于由第一光传感部产生的光传感信号来检测来自表面的反射光的光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量，所述第一光传感部被设置为使包含在由第一聚焦单元聚焦的所述第二光的反射光中的来自所述光学记录介质的表面的反射光的光斑形成在所述第一光传感部的光传感表面上，所述第一聚焦单元用于聚焦通过将所述第二光照射到所述光学记录介质经由所述物镜而入射的所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光。

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