JP2011198426A - 光学ドライブ装置、スポット位置ずれ補正方法 - Google Patents

Abstract

【課題】第１の光と第２の光のスポット位置ずれの要因となる事象の発生量であるずれ要因事象発生量を検出し、該ずれ要因事象発生量に対し補正係数を与えて求めた補正量に基づき光軸調整部を駆動制御して上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正する場合に、該スポット位置ずれの補正精度の向上を図る。
【解決手段】バルク層内における基準面の所定のトラックと同一半径位置となる位置に基準トラックを形成しておく。その上で、第１の光と第２の光のスポット位置をトラッキング方向において一致させた状態にてずれ要因事象発生量と光軸調整部による光軸の補正量とを検出し、それらの検出結果から適正とされる補正係数を逆算する。
【選択図】図６

Description

本発明は、光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置とそのスポット位置ずれ補正方法とに関するものであり、特に、マーク記録を行うための第１の光と、上記光ディスク記録媒体に形成された位置案内子に基づき位置制御を行うための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成された光学ドライブ装置に適用して好適なものである。

特開２００８−１３５１４４号公報 特開２００８−１７６９０２号公報 特開２００９−９６３５号公報

光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。

これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型の光記録媒体を提案している。

ここで、バルク記録とは、例えば図１０に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。

このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式は、次の図１１に示されるように、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。

ポジ型マイクロホログラム方式は、図１１（ａ）に示すように、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。

また、図１１（ｂ）に示すネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。

図１２は、ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である、
ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、図１２（ａ）に示されるようにして予めバルク層１０２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行うことになる。具体的には、図中に示すように平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層１０２の全体に形成しておく。
このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、図１２（ｂ）に示されるようにして消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。

また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空孔（ボイド）を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。

このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。

ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光ディスク記録媒体であるが、このようなバルク型の光ディスク記録媒体の記録層（バルク層）は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていない。
従って、先の図１０に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができないことになる。

このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図１３に示すような案内溝を有する基準となる反射面（基準面）を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側に例えばピットやグルーブの形成による案内溝（位置案内子）がスパイラル状又は同心円状に形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
ここで、上記のようなピットやグルーブ等による案内溝の形成により、例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報（アドレス情報）の記録が行われている。以下の説明では、このような案内溝が形成され絶対位置情報の記録が行われた面（この場合は上記選択反射膜１０３の形成面）のことを、「基準面Ｒｅｆ」と称する。

また、上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図１４に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光とも称する）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）を照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。

このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆに形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。

以上の前提を踏まえた上で、図１４を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。

マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。

但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための録再光用フォーカス機構が設けられることになる。

ここで、このような録再光用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構を含めた、バルク型記録媒体１００の記録再生を行うための光学系の概要を図１５に示しておく。
図１５において、図１４にも示した対物レンズは、図示するように２軸アクチュエータによりバルク型記録媒体１００の半径方向（トラッキング方向）、及びバルク型記録媒体１００に接離する方向（フォーカス方向）に変位可能とされている。

この図１５において、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するための機構は、図中のフォーカス機構（エキスパンダ）が該当する。具体的に、このエキスパンダとしてのフォーカス機構は、固定レンズと、レンズ駆動部により録再用レーザ光の光軸に平行な方向に変位可能に保持された可動レンズとを備えて構成されており、上記レンズ駆動部により上記可動レンズが駆動されることで、図中の対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーションが変化し、それにより録再用レーザ光の合焦位置がサーボ用レーザ光とは独立して調整されるようになっている。

また、上述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯が異なるものとされているので、これに対応しこの場合の光学系では、図中のダイクロイックプリズムにより、録再用レーザ光、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１００からの反射光がそれぞれの系に分離されるように（つまりそれぞれの反射光検出を独立して行えるように）している。
また、往路光で考えた場合、上記ダイクロイックプリズムは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とを同一軸上に合成して対物レンズに入射させる機能を有する。具体的にこの場合、録再用レーザ光は、図示するように上記エキスパンダを介しミラーで反射された後、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面で反射されて対物レンズに対して入射する。一方、サーボ用レーザ光は、上記ダイクロイックプリズムの選択反射面を透過して対物レンズに対して入射する。

図１６は、バルク型記録媒体１００の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。
マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（再生時については情報記録層Ｌとも称する）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行えばよい。

上記のようにしてバルク記録方式においては、バルク型記録媒体１００に対し、マーク記録／再生を行うための録再用レーザ光と位置制御用光としてのサーボ光とを共通の対物レンズを介して（同一光軸上に合成して）照射するようにした上で、記録時においては、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆの位置案内子に追従するように対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行い且つ、録再光用フォーカス機構により録再用レーザ光の合焦位置を別途調整することによって、バルク層１０２内に案内溝が形成されていなくとも、バルク層１０２内の所要の位置（深さ方向及びトラッキング方向）に対してマーク記録ができるように図られている。
また、再生時には、既に記録されたマーク列に録再用レーザ光の焦点位置が追従するようにして当該録再用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行うことで、バルク層１０２内に記録されたマークの再生を行うことができる。

ここで、上記により説明してきたようなバルク記録方式を採用する場合には、いわゆるｓｋｅｗ（チルト）の発生や、ディスク偏芯に伴う対物レンズのレンズシフトの発生に伴い、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とに、記録面内方向におけるスポット位置ずれが生じることが知られている。

図１７は、ｓｋｅｗの発生に伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図１７（ａ）に示すｓｋｅｗ無しの状態では、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置は記録面内方向において一致している。これに対し、図１７（ｂ）に示すようなｓｋｅｗの発生に応じては、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光とに光軸のずれが生じ、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じてしまう。

また図１８は、レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示している。
図１８（ａ）に示すレンズシフト無しの状態では、対物レンズが基準位置にあり、対物レンズの中心と該対物レンズに入射する各レーザ光の光軸ｃとが一致している。光学系は、このように対物レンズが基準位置にある状態において、各レーザ光の記録面内方向におけるスポット位置が一致するように設計されている。

これに対し、トラッキングサーボ制御により図１８（ｂ）に示すようにディスク偏芯に追従するようにして対物レンズが基準位置からシフトしてしまった場合（この場合は紙面左方向へのシフトとしている）には、図中に示すようなスポット位置ずれΔｘが生じる。
このようなレンズシフト起因のスポット位置ずれは、対物レンズに対するサーボ用レーザ光と録再用レーザ光の入射態様の差によって生じるものとなる。具体的には、サーボ用レーザ光は対物レンズに対して略平行光により入射するのに対し、録再用レーザ光は非平行光により入射することに起因するものである。

このようなｓｋｅｗやレンズシフトに起因したサーボ用レーザ光と録再用レーザ光のスポット位置ずれが生じることによっては、バルク層１０２内における情報記録位置のずれが生じてしまう。つまり、先の説明からも理解されるように、記録時における録再用レーザ光のスポット位置は、サーボ用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのトラッキングサーボ制御が行われることで制御されるので、上記のようなスポット位置ずれの発生に応じては、バルク層１０２内の意図した位置に記録を行うことができなくなってしまうものである。

このとき、ｓｋｅｗ・偏芯の発生量やトラックピッチ（位置案内子の形成間隔）の設定によっては、隣接するトラック間で情報記録位置が重なってしまう虞がある。具体的にディスクの偏芯やｓｋｅｗは、スピンドルモータへのディスクのクランプのされかたなどにより、ディスクが装填されるごとに異なる態様で発生することがあるので、例えば或るディスクについてディスク付け替えを伴う追記を行ったとき、前回の記録時に生じていたｓｋｅｗ・偏芯の態様と追記時に生じるｓｋｅｗ・偏芯の態様とが異なることに起因して、既記録部分のマーク列と追記部分のマーク列とに重なりが生じたり、場合によっては交差してしまうという問題が生じるものである。
このようであると、正しく記録信号を再生することはできなくなる。

このようなマーク列の重なりや交差の発生を防止するための一つの手法として、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチを広めに設定しておくということを挙げることができる。
しかしながら、このように基準面Ｒｅｆのトラックピッチを広げた場合には、当然のことながらバルク層１０２における記録容量の縮小化を招くものとなってしまう。

そこで、情報記録位置のずれ自体を防止するために、ｓｋｅｗやレンズシフトを検出した結果から、録再用レーザ光のスポット位置ずれを補正するということが考えられる。
具体的に、図１７や図１８を参照して理解されるようにｓｋｅｗの発生量とスポット位置ずれ量、及びレンズシフト量とスポット位置ずれ量とは比例関係となるので、ｓｋｅｗ量の検出結果からｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれ補正量を求め、またレンズシフト量の検出結果からレンズシフト起因分のスポット位置ずれ補正量を求めた上で、それらの和をｓｋｅｗとレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量として算出する。
このように算出した補正量に基づき、例えば録再用レーザ光の光軸を平行移動させるなどして、サーボ用レーザ光と録再用レーザ光との間のスポット位置ずれを補正する。

ここで、上記のようにｓｋｅｗやレンズシフトの検出量に応じて情報記録位置の補正を行うとした場合には、検出したｓｋｅｗ量やレンズシフト量を正規化することになる。具体的には、検出感度の差やオフセットが生じることを加味して、検出したｓｋｅｗ量やレンズシフト量に対してゲインやオフセットなどとしての補正係数を与えるというものである。

しかしながら、このような正規化のための補正係数には、光学的、電気的なずれは必ず発生するものとなる。
また、先の図１７や図１８を参照すると、スポット位置ずれは、ｓｋｅｗ量やレンズシフト量に応じて変化するのみでなく、記録対象とする層位置に応じても変化するものであることが分かる。
これらの点からも理解されるように、補正係数として、予め定められた固定値を使用する場合には、適正に情報記録位置を補正することができない虞がある。

また、スポット位置ずれは、光学倍率によっても変化する。例えば、ドライブ装置の個体ごとに光学倍率にバラツキがある場合などには、個々で最適とされる補正係数が異なるものとなり、従ってこの点でも固定値による補正係数を使用した場合には、情報記録位置の補正を適正に行うことができない虞がある。

上記のような問題点に鑑み、本発明では光学ドライブ装置として以下のように構成することとした。
すなわち、本発明の光学ドライブ装置は、位置案内子としてのトラックがスパイラル状又は同心円状に形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有すると共に、上記記録層内における、上記基準面上の所定のトラックと同一半径位置に対して基準トラックが形成された光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置であって、上記記録層に対する情報記録を行うための第１の光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための第２の光とが入射され、これら第１の光と第２の光の双方を上記光ディスク記録媒体に対して照射する対物レンズを備える。
また、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構を備える。
また、上記対物レンズに入射する上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係を変化させる光軸調整部を備える。
また、上記第１の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光して得られるトラッキングエラー信号から第１のトラッキングサーボ信号を生成する第１のトラッキングサーボ信号生成部を備える。
また、上記第２の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光して得られるトラッキングエラー信号から第２のトラッキングサーボ信号を生成する第２のトラッキングサーボ信号生成部を備える。
また、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれの要因となる事象の発生量を検出するずれ要因事象発生量検出部を備える。
また、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されたスポット位置ずれ要因事象発生量と、所定の補正係数とに基づく演算を行って、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するための補正量を計算すると共に、計算した補正量に基づき上記光軸調整部を駆動制御することで、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するスポット位置ずれ補正部を備える。
また、上記光軸調整部による光軸の補正量についての検出を行う補正量検出部を備える。
その上で、上記トラッキング機構による上記第２のトラッキングサーボ信号に基づく上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御により、上記第２の光のスポット位置を上記基準面上の上記所定のトラックに追従させつつ、上記光軸調整部により、上記第１のトラッキングサーボ信号に基づく上記第１の光についてのトラッキングサーボ制御を実行させて、上記第１の光のスポット位置を上記記録層内の上記基準トラックに追従させた状態において、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量と、上記補正量検出部により検出される上記光軸の補正量とを所定複数回サンプリングすると共に、
それらサンプリングしたスポット位置ずれ要因事象発生量と光軸の補正量との関係から、上記補正係数を逆算する制御・演算部を備えるものである。

上記のように本発明では、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれの要因となる事象の発生量であるずれ要因事象発生量を検出し、該ずれ要因事象発生量に対し補正係数を与えて求めた補正量に基づき、上記光軸調整部を駆動制御して上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するものとしている。その上で、光ディスク記録媒体に形成された基準トラックを用いて、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置をトラッキング方向において一致させた状態にてずれ要因事象発生量と上記光軸調整部による光軸の補正量とを検出し、それらの検出結果から適正とされる補正係数を逆算するものとしている。すなわち、上記基準トラックを利用して、上記補正係数についてのキャリブレーションを行うものである。
このようなキャリブレーションを行うことで、実際に記録を行う層位置やドライブ装置（光学系）、ディスクの違いに応じて適正とされる補正係数を求めることができる。つまり、このように適正な補正係数に基づき第１の光と第２の光のスポット位置ずれの補正を行う本発明によれば、第１の光による情報記録位置のずれをより高精度に補正することができる。

上記のようにして本発明によれば、第１の光による情報記録位置の補正を、より高精度に行うことができる。
情報記録位置の補正を高精度に行うことができれば、その分、基準面におけるトラックピッチ（半径方向における位置案内子の形成間隔）は狭めることができ、その結果、記録容量の増大化が図られる。

また、トラックピッチを狭めることができれば、その分、アクセス時間の短縮化も図られる。つまり、トラックピッチが広い場合は、記録したデータ列の探索に多くの時間を要するものとなるが、本発明ではこれが緩和され、アクセス時間の短縮化が図られる。

実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図である。 光ディスク記録媒体に形成される基準トラックについて説明するための図である。 実施の形態としての光学ドライブ装置が備える光学ピックアップの内部構成を示した図である。 実施の形態としての光学ドライブ装置の全体的な内部構成を示した図である。 キャリブレーション時の動作について説明するための図である。 実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するための具体的な処理の手順を示したフローチャートである。 基準トラックを複数の層位置に設ける変形例についての説明図である。 基準トラックを複数の半径位置に設ける変形例についての説明図である。 多層記録媒体の断面構造図である。 バルク記録方式について説明するための図である。 マイクロホログラム方式について説明するための図である。 ネガ型マイクロホログラム方式について説明するための図である。 基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。 バルク型記録媒体に対するマーク記録時の動作について説明するための図である。 バルク型記録媒体の記録再生を行うための光学系の概要を示した図である。 バルク型記録媒体の再生時におけるサーボ制御について説明するための図である。 ｓｋｅｗに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。 レンズシフトに伴う録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを模式的に示した図である。

以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。

＜１．実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体＞
＜２．光学ドライブ装置の構成＞
＜３．実施の形態としてのキャリブレーション動作例＞
＜４．処理手順＞
＜５．まとめ＞
＜６．変形例＞

＜１．実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体＞

図１は、実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体の断面構造図を示している。
実施の形態で記録／再生対象とする光ディスク記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。

図１に示されるように、バルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態としての光学ドライブ装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。

また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち光学ドライブ装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。

バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための位置案内子として案内溝が形成され、図のように凹凸の断面形状が与えられている。位置案内子は、スパイラル状又は同心円状に形成される。本例の場合において、上記位置案内子はスパイラル状に形成されているものとして以下の説明を続ける。
上記案内溝としては、連続溝（グルーブ）、又はピット列で形成される。例えば案内溝がピット列で形成される場合、ピットとランドの長さの組み合わせにより位置情報（絶対位置情報：例えば回転角度情報や半径位置情報など）が記録される。或いは、案内溝がグルーブとされる場合、当該グルーブを周期的に蛇行（ウォブル）させて形成することで、該蛇行の周期情報により位置情報の記録が行われる。
カバー層２は、例えばこのような案内溝（凹凸形状）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。

また、上記案内溝が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、前述もした通りバルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録／再生を行うための光（録再用レーザ光）とは別に、上記のような案内溝に基づきトラッキングやフォーカスのエラー信号を得るための光（サーボ用レーザ光）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ用レーザ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。

上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の形成材料（記録材料)としては、例えば先に説明したポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式、ボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明で対象とする光ディスク記録媒体に対するマーク記録方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。以下の説明においては一例として、ボイド記録方式が採用される場合を例示する。

ここで、上記のような構成を有するバルク型記録媒体１において、上述の案内溝としての位置案内子が形成された選択反射膜３は、後述もするようにサーボ用レーザ光に基づく録再用レーザ光の位置制御を行うにあたっての基準となる反射面となる。この意味で、選択反射膜３が形成された面を以下、基準面Ｒｅｆと称する。

先の図１４においても説明したように、バルク型の光記録媒体においては、バルク層内に多層記録を行うために、予め情報記録を行うべき各層位置（情報記録層位置Ｌ）が設定される。バルク型記録媒体１においても、情報記録層位置Ｌについては、先の図１４の場合と同様に、基準面Ｒｅｆからそれぞれ深さ方向に第１オフセットｏｆ-L1、第２オフセットｏｆ-L2、第３オフセットｏｆ-L3、第４オフセットｏｆ-L4、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した第１情報記録層位置Ｌ、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５が設定されているとする。
基準面Ｒｅｆからの各層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する記録再生装置１０におけるコントローラ４１に対して設定される。

また、本実施の形態のバルク型記録媒体１には、バルク層５内に図２に示すような基準トラック（バルク層内基準トラック）ＴＲ-blが形成される。
このようなバルク層５内における基準トラックＴＲ-blは、基準面Ｒｅｆにおいて形成されたトラックのうちから選出した或る１本のトラック（基準面上基準トラックＴＲ-rf、或いは単に基準トラックＴＲ-rfとも表記する）と同一半径位置となるように形成されている。
一例として、本例の場合における基準トラックＴＲ-blは、図のように基準面Ｒｅｆから深さ方向にオフセットｏｆ-L3分だけ離間した位置に形成されているとする。すなわちこの場合における基準トラックＴＲ-blは情報記録層位置Ｌ３に形成されている。

基準トラックＴＲ-blの形成は、例えば高精度に調整されたライターを用いてマーク列を形成することで行うことができる。具体的には、ｓｋｅｗやレンズシフトに起因した録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のスポット位置ずれをほぼ完全に補正することができるように高精度に調整されたライターを用いるものである。
なお、基準トラックＴＲ-blを基準面Ｒｅｆにおける基準トラックＴＲ-rfと同一半径位置となるように正確に形成するための手法については上記手法以外にも種々考えられ、ここで特に限定されるべきものではない。
また、基準トラックＴＲ-blはマーク列（断続的に形成されたマーク）ではなくＤＣマーク（連続的に形成されたマーク）により形成することもできる。

＜２．光学ドライブ装置の構成＞

図３及び図４は、図１及び図２に示したような構造を有するバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う実施の形態としての光学ドライブ装置（記録再生装置１０と称する）の内部構成について説明するための図である。
図３は、実施の形態の記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示し、図４は光学ピックアップＯＰを含む記録再生装置１０の全体的な内部構成を示す。

図３において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、図示は省略したスピンドルモータによる回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータにより回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。

光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された案内溝を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。

また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。

その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。

具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。

上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、シフトレンズ１４Ａ、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、光源である録再用レーザ１１に近い側がシフトレンズ１４Ａとされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものである（図１５を参照）。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構（上記レンズ駆動部１６）は、図４に示したコントローラ４１によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。

またこの場合は、上記録再光用フォーカス機構におけるシフトレンズ１４Ａは、図中のレンズ駆動部１４Ｂにより入射光軸に直交する方向に変位可能に保持されている。この場合、レンズ駆動部１４Ｂは、バルク型記録媒体１の半径方向に平行な方向に上記シフトレンズ１４Ａを変位させるように構成されている。すなわち、当該レンズ駆動部１４Ｂによるシフトレンズ１４Ａのシフトにより、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される録再用レーザ光の光軸を、上記半径方向に平行な方向にシフトさせることができるようにされているものである。
ここで、このように録再用レーザ光の光軸をシフトさせるために設けられた上記レンズ駆動部１４Ｂについては、以下、ビームシフタ１４Ｂとも称する。
ビームシフタ１４Ｂは、例えばヴォイスコイルモータ（ＶＣＭ）により上記シフトレンズ１４Ａをシフトさせるように構成され、後述するドライバ４０からの駆動信号Ｄ-bsによって駆動制御される。

上記録再光用フォーカス機構を形成するシフトレンズ１４Ａ及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。

上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。

ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→シフトレンズ１４Ａ）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。

ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。

このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。

また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。

上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。

また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。

偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。

ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。

また、この場合の光学ピックアップＯＰ内においては、位置センサ３０が設けられている。
位置センサ３０は、対物レンズ２０の近傍に設けられ、当該対物レンズ２０のトラッキング方向における位置（基準位置からの変位量）を検出する。すなわち、レンズシフト量を検出するものである。
位置センサ３０による対物レンズ２０についての位置検出信号ｐｓ-olは、後述する補正量計算部３９とコントローラ４１とに供給される。

また、記録再生装置１０には、ｓｋｅｗセンサ４２が設けられる。
ｓｋｅｗセンサ４２は、バルク型記録媒体１の傾き（ｓｋｅｗ）を検出する。例えばこの場合のｓｋｅｗセンサ４２は、バルク型記録媒体１に対して所定角度で光を照射する光照射部と、該光照射部により照射した光についてのバルク型記録媒体１からの反射光を受光する受光部とを備え、該受光部による上記反射光の受光位置のずれ量を検出することでバルク型記録媒体１の傾き量を検出する。
ｓｋｅｗセンサ４２による検出信号（ｓｋｅｗ検出信号ｓｋとする）は、補正量計算部３９とコントローラ４１とに供給される。

また、光学ピックアップＯＰ内には、位置センサ３１が設けられる。
位置センサ３１は、シフトレンズ１４Ａの近傍に設けられ、当該シフトレンズ１４Ａのトラッキング方向における位置（基準位置からの変位量）を検出する。
位置センサ３１によるシフトレンズ１４Ａについての位置検出信号ｐｓ-shは、コントローラ４１に対して供給される。

なお、確認のために述べておくと、当該位置センサ３１による位置検出信号ｐｓ-shは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを補正するにあたっての、光軸の補正量を表す信号として機能するものである。

記録再生装置１０の全体的な内部構成は、図４に示すものとなる。
なお、この図４においては、光学ピックアップＯＰの内部構成については一部のみを抽出して示している。

図４において、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、マーク記録／再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキング制御を行うための信号処理系の構成として、図中の記録処理部３２、録再光用マトリクス回路３３、再生処理部３４、録再光用サーボ回路３５、サーボ光用マトリクス回路３６、位置情報検出部３７、及びサーボ光用サーボ回路３８が設けられている。

記録処理部３２には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３２は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
記録処理部３２は、このように生成した記録変調データ列に基づく記録パルスＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。

録再光用マトリクス回路３３は、図３に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列を再生した再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。

録再光用マトリクス回路３３にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３４に供給される。
また、上記フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３５に対して供給される。

再生処理部３４は、上記再生信号ＲＦについて、２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。

また、録再光用サーボ回路３５は、マトリクス回路３３から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
なお先の説明からも理解されるように、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。

また、録再光用サーボ回路３５は、再生時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。

なお、録再光用サーボ回路３５は、後述するキャリブレーション動作時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じ、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づき生成したトラッキング駆動信号ＴＤ-rpをドライバ４０に対して出力することになるが、これについては後述する。

また、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系において、サーボ光用マトリクス回路３６は、図３に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にサーボ光用マトリクス回路３６は、フォーカス／トラッキングの各サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
また、基準面Ｒｅｆにおいて記録された絶対位置情報（アドレス情報）の検出を行うための位置情報検出用信号Ｄｐｓを生成する。例えば絶対位置情報がピット列により記録される場合、位置情報検出用信号Ｄｐｓとしては和信号を生成する。或いは、ウォブリンググルーブにより絶対位置情報が記録される場合、位置情報検出用信号Ｄｐｓとしてはプッシュプル信号を生成する。

上記位置情報検出用信号Ｄｐｓは、位置情報検出部３７に供給される。位置情報検出部３７は、上記位置情報検出用信号Ｄｐｓに基づき基準面Ｒｅｆに記録された絶対位置情報を検出する。検出された絶対位置情報はコントローラ４１に対して供給される。

また、サーボ光用マトリクス回路３６にて生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、サーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。
サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svをそれぞれ生成する。
そして、記録時には、コントローラ４１からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。

また、サーボ光用サーボ回路３８は、記録時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして２軸アクチュエータ２１のトラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、基準面Ｒｅｆに対するフォーカスサーボの引き込み制御等も行う。

コントローラ４１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
具体的にコントローラ４１は、前述のようにして予め各層位置に対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。より具体的に、コントローラ４１は、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、深さ方向における記録位置の選択を行う。

また、コントローラ４１は、先の図１４〜図１６にて説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４１は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３５にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３５に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。

またコントローラ４１は、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御を行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定のアドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示を行う。

また、この場合のコントローラ４１は、後の図６にて説明する処理動作を実行することで、実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するものとなるが、これについては後述する。

また、記録再生装置１０においては、前述したビームシフタ１４Ｂ、位置センサ３０、及びｓｋｅｗセンサ４２と共に、図中の補正量計算部３９及びドライバ４０が、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因した録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とにスポット位置ずれを補正するための構成として設けられている。

補正量計算部３９は、ｓｋｅｗセンサ４２からのｓｋｅｗ検出信号ｓｋと、位置センサ３０による位置検出信号（レンズシフト量）ｐｓ-olとを入力し、それらの値と予め設定された所定の補正係数とに基づく演算を行うことで、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを補正するための補正量（正規化補正量）を算出する。

具体的に、補正量計算部３９では、以下のような考え方に基づき、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因するスポット位置ずれを補正するための補正量（この場合はビームシフタ１４Ｂによるシフトレンズ１４Ａの移動量）ADJ_BSを計算する。
先ず、ｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量ADJ_SKと、レンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量ADJ_SHとを個別に考え、

ADJ_SK＝（ｓｋ−offset_SK）×gain_SK ・・・［式１］

ADJ_SH＝（ｐｓ-ol−offset_SH）×gain_SH ・・・［式２］

とする。ここで［式１］において、offset_SK、gain_SKは、ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値に基づきｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量ADJ_SKを求めるにたって設定された補正係数である。
同様に［式２］において、offset_SH、gain_SHは、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値に基づきレンズシフト起因分のスポット位置ずれを補正するための補正量ADJ_SHを求めるにたって設定された補正係数である。
このようにｓｋｅｗ起因分のスポット位置ずれについての補正量ADJ_SKとレンズシフト起因分のスポット位置ずれについての補正量ADJ_SHとを個別に扱うものとした上で、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に起因したスポット位置ずれを補正するための補正量ADJ_BSを、次の［式３］により計算する。

ADJ_BS＝ADJ_SK＋ADJ_SH＋Ｄ_alm ・・・［式３］

但し［式３］において、Ｄ_almは、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数である。

このように補正量計算部３９は、ｓｋｅｗセンサ４２によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値と、予め定められた補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとに基づく演算を行うことで、正規化された補正量ADJ_BSを算出する。
補正量計算部３９により算出された補正量ADJ_BSは、ドライバ４０に対して供給される。

ドライバ４０は、上記補正量ADJ_BSに基づく駆動信号Ｄ-bsを生成し、該駆動信号Ｄ-bsに基づき光学ピックアップＯＰ内のビームシフタ１４Ｂを駆動制御する。
これにより、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に起因した録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを補正するようにされている。

＜３．実施の形態としてのキャリブレーション動作例＞

上記のようにして本実施の形態の記録再生装置１０では、ｓｋｅｗ及びレンズシフトに起因して生じる録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれを、実際にｓｋｅｗ量・レンズシフト量を検出し、それらに所定の補正係数を与えて正規化した補正量に基づきビームシフタ１４Ｂを駆動することで補正するものとしている。

しかしながら、前述もしたように正規化のための補正係数には、光学的、電気的なずれは必ず生じるものであり、従って補正係数として予め定められた固定値を使用する場合には、適正に情報記録位置を補正することができない虞がある。
また、スポット位置ずれは記録対象とする層位置に応じても変化し、また光学倍率によっても変化するので、これらの点からも固定値による補正係数を用いた補正とした場合には、情報記録位置のずれを適正に補正することができない虞がある。

そこで、本実施の形態では、先の図２に示したような基準トラックＴＲ-blを用いて、録再用レーザ光のスポット位置をサーボ用レーザ光のスポット位置に強制的に一致させた状態とし、その状態において補正係数についてのキャリブレーションを行うことで、校正された適正な補正係数を用いたより高精度なスポット位置ずれ補正が行われるようにする。

図５は、実施の形態としてのキャリブレーション動作について説明するための図である。 なおこの図５においては、バルク型記録媒体１と、先の図２に示した光学ピックアップＯＰ内におけるシフトレンズ１４Ａ、ビームシフタ１４Ｂ、可動レンズ１５、レンズ駆動部１６、ダイクロイックミラー１９、対物レンズ２０、及び２軸アクチュエータ２１を抽出して示している。

補正係数についてのキャリブレーションを行うにあたっては、先ず、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆにおける基準トラックＴＲ-rfを追従するように対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御を行う。
そして、その状態において、ビームシフタ１４Ｂの駆動により、録再用レーザ光の反射光に基づき録再用レーザ光がバルク層５内の基準トラックＴＲ-blを追従するようにトラッキングサーボ制御を行う。
なおこのとき、録再光用フォーカス機構（レンズ駆動部１６）によっては、基準トラックＴＲ-blの形成層を選択させる。具体的にこの場合は、情報記録層位置Ｌ３を選択させるものとなる。

このようにして、基準トラックＴＲ-blを利用して録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のスポット位置をトラッキング方向において強制的に一致させる。すなわち、各スポットのトラッキング方向における位置が一致した理想的な補正状態を得るものである。

このように各スポット位置を一致させた状態において、コントローラ４１は、ｓｋｅｗセンサ４２によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値と、位置センサ３１による位置検出信号ｐｓ-shの値とを所定複数回サンプリングし、それらサンプリングした値と先の［式１］〜［式３］とに基づき、適正とされる補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを逆算する。具体的には、サンプリングした各値を代入して得られる各式（つまり補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを未知数とした各式）についての連立方程式を解くことで、補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを逆算するものである。
なお確認のために述べておくと、上記各値のサンプリング回数は、少なくとも上記補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almとしての５つの未知数の逆算に必要な回数が設定されればよいものである。

コントローラ４１は、このようにして求めた補正係数を、補正量計算部３９に対して設定する。
これにより、先の図４にて説明した補正動作は、実際にキャリブレーションを行って求めた適正とされる補正係数に基づき行われるものとなり、その結果、録再用レーザ光による情報記録位置の補正をより高精度に行うことができる。

なお、上記のような補正係数についてのキャリブレーション動作を行うタイミングとしては、例えばディスク装填後のスタートアップ動作時や、記録動作開始の直前などを挙げることができる。或いは、所定時間おきに実行するといったことも考えられる。

＜４．処理手順＞

図６は、上記により説明した実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するための具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
この図６においては、実施の形態としてのキャリブレーション動作を実現するための具体的な処理手順を、コントローラ４１が内部のＲＯＭ等の所定のメモリに格納されたプログラムに基づき実行する処理の手順として示している。

先ず、ステップＳ１０１においては、サーボ用レーザ光で基準トラックＴＲ-rf付近にシークするための処理を実行する。すなわち、図４に示したサーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御として、基準面Ｒｅｆにおける予め定められた基準トラックＴＲ-rf付近のアドレスを目標としたシーク動作制御を行う。

続くステップＳ１０２では、録再用レーザ光の基準トラックＴＲ-blへのトラッキングサーボ引き込みを行うための処理を実行する。つまり、録再光用サーボ回路３５に対する指示により、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力先をドライバ４０側に選択させる（ビームシフタ１４Ｂを録再用レーザ光の反射光に基づき駆動可能な状態とする）と共に、トラッキングサーボループをオンとするように指示を行うものである。
ここで、サーボ用レーザ光（対物レンズ２０）が基準トラックＴＲ-rf付近にシークしていることに応じては、録再用レーザ光のスポット位置としても基準トラックＴＲ-bl付近に位置していることになる。従ってステップＳ１０２において上記のような録再用レーザ光についてのトラッキングサーボ引き込み指示を行うことで、（数回のリトライを要する可能性があるが）録再用レーザ光のスポット位置を基準トラックＴＲ-blに引き込むことができる。
なお、サーボ用レーザ光が基準トラックＴＲ-rfに到達した後に、基準トラックＴＲ-blに対する録再用レーザ光のトラッキングサーボ引き込み指示を行うようにすることもできる。

次のステップＳ１０３では、サーボ用レーザ光が基準トラックＴＲ-rfに到達するまで待機する。
そして、該ステップＳ１０３において、サーボ用レーザ光が基準トラックＴＲ-rfに到達したとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１０４においてビームシフタ移動量、対物レンズシフト量、ｓｋｅｗ量を所定複数回サンプリングする。すなわち、位置センサ３１による位置検出信号ｐｓ-shの値と、位置センサ３０による位置検出信号ｐｓ-olの値と、ｓｋｅｗセンサ４２によるｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値とのサンプリングを、所定複数回行うものである。

続くステップＳ１０５では、サンプリングしたビームシフタ移動量、対物レンズシフト量、ｓｋｅｗ量に基づき、補正係数を逆算する。つまり先に述べたようにして、複数回サンプリングした各位置検出信号ｐｓ-shの値と、各位置検出信号ｐｓ-olの値と、各ｓｋｅｗ検出信号ｓｋの値と、先の［式１］〜［式３］とに基づき、適正とされる補正係数offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_almを逆算するものである。

次のステップＳ１０６では、このように算出した補正係数（offset_SK、gain_SK、offset_SH、gain_SH、Ｄ_alm）を、補正量計算部３９に対して設定する。
当該ステップＳ１０６の処理の実行を以て、この図に示すキャリブレーション動作のための一連の処理は終了となる。

＜５．まとめ＞

上記により説明したように、本実施の形態によれば、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のスポット位置ずれの要因となるｓｋｅｗ及びレンズシフトを検出し、それらの検出結果に対し所定の補正係数を与えて正規化した補正量に基づき上記各レーザ光のスポット位置ずれを補正する構成を採る場合において、バルク型記録媒体１に形成されたバルク層内基準トラックＴＲ-blを用いて、上記各レーザ光のスポット位置をトラッキング方向において強制的に一致させた状態にてｓｋｅｗ・レンズシフト量とそのときの光軸補正量（位置センサ３１による位置検出信号ｐｓ-shの値）とをサンプリングし、それらのサンプリング結果から適正とされる補正係数を逆算するものとしている。すなわち、基準トラックＴＲ-blを利用して、補正係数についてのキャリブレーションを行うものとしている。
このようなキャリブレーションを行うことで、実際に記録を行う層位置やドライブ装置（光学系）、ディスクの違いに応じて適正とされる補正係数を求めることができる。つまり、このように適正な補正係数に基づき各スポット間の位置ずれを補正する本実施の形態によれば、録再用レーザ光による情報記録位置のずれをより高精度に補正することができる。

録再用レーザ光による情報記録位置の補正をより高精度に行うことができれば、その分、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチ（半径方向における位置案内子の形成間隔）は狭めることができ、その結果、バルク層５内におけるトラックピッチも狭まり、記録容量の増大化が図られる。

また、トラックピッチを狭めることができれば、その分、アクセス時間の短縮化も図られる。つまり、トラックピッチが広い場合は、記録したデータ列の探索に多くの時間を要するものとなるが、本実施の形態によればこれが緩和され、アクセス時間の短縮化が図られる。

＜６．変形例＞

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、バルク層５内における基準トラックＴＲ-blが１つの層位置に対してのみ形成される場合を例示したが、次の図７に示されるように、基準トラックＴＲ-blは複数の層位置に対して設けることもできる。
この図７の例では、基準トラックＴＲ-blは各情報記録層位置Ｌごとに設けるものとしている。図のように情報記録層位置Ｌ１に形成される基準トラックＴＲ-blは基準トラックＴＲ-bl_L1としている。他の基準トラックＴＲ-blについても同様に、形成される層位置Ｌに応じて基準トラックＴＲ-bl_L2、基準トラックＴＲ-bl_L3、基準トラックＴＲ-bl_L4、基準トラックＴＲ-bl_L5とする。

この場合、キャリブレーション動作としては、各情報記録層位置Ｌごとに行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌｎに形成された基準トラックＴＲ-bl_Lnを用いて、先の図６に示したものと同様の処理を行うことで、各層位置Ｌごとの補正係数のキャリブレーション動作を行う。
これにより、バルク層５への多層記録を行う場合において、各情報記録層位置Ｌに応じた適正な補正係数を用いた情報記録位置の補正を行うことができる。

なお、このように各情報記録層位置Ｌに応じた適正な補正係数を用いた情報記録位置の補正を行うにあたっては、必ずしも各情報記録層Ｌに基準トラックＴＲ-blを設けておく必要性はない。例えばバルク層５に対し３層以上の多層記録を行う場合において、少なくとも最上層となる情報記録層位置（Ｌ１）と最下層となる情報記録層位置（Ｌ５）に対してのみ基準トラックＴＲ-blを形成しておいた上で、上記最上層でのキャリブレーションで求めた補正係数と上記最下層でのキャリブレーションで求めた補正係数とを線形補間して残りの各情報記録層位置Ｌで使用する補正係数を求めるといった手法を採ることもできる。つまりこの場合、基準トラックＴＲ-blが非形成とされる情報記録層位置Ｌへの記録時には、このように線形補間により求めた補正係数を用いてスポット位置ずれの補正を行うものである。

或いは、バルク層５を、深さ方向において複数の情報記録層位置Ｌごとのエリア（層方向エリアとする）に分割し、各層方向エリア内の所定の情報記録層位置Ｌに対してのみ基準トラックＴＲ-blを形成しておくといった手法を採ることもできる。つまり、或る層方向エリア内の所定の情報記録層位置Ｌに形成された基準トラックＴＲ-blを用いたキャリブレーションで求めた補正係数を、その層方向エリア内の他の情報記録層位置Ｌにおいて共用するというものである。

また、基準トラックＴＲ-blは、図８に示されるようにして半径方向に複数設けることもできる。
この図８では、内周、中周、外周の３箇所に基準トラックＴＲ-blを形成（基準トラックＴＲ-rfを設定）した場合を例示している。図のように内周側から順に基準トラックＴＲ-bl1（ＴＲ-rf1）、基準トラックＴＲ-bl2（ＴＲ-rf2）、基準トラックＴＲ-bl3（ＴＲ-rf3）とする。
ここで、半径位置が異なると、最適とされる補正係数（offset，gain）が異なる場合がある。そこで、半径方向のエリアごとにキャリブレーションを行うものとすれば、このように半径位置に応じて最適とされる補正係数が異なる場合にも、エリアごとに最適とされる補正係数を用いたスポット位置ずれ補正を実現することができ、補正精度を向上できる。
具体的な手法としては、この場合も図７にて説明した深さ方向の場合と同様の考え方に基づき、１つの半径方向エリアにつき１つの基準トラックＴＲ-blが含まれるように半径方向エリアを分割し、各半径方向エリアごとに、そのエリア内の基準トラックＴＲ-blを用いたキャリブレーションで求めた補正係数を使用するといった手法を採ることができる。
或いは、例えば最内周位置と最外周位置など内周側の所定半径位置と外周側の所定半径位置との２箇所のみに基準トラックＴＲ-blを形成しておき、それら２箇所でのキャリブレーションを行って求めた補正係数を線形補間して各半径位置での補正係数を算出・使用するといった手法を採ることもできる。

また、これまでの説明では特に言及しなかったが、補正係数の逆算にあたっては、キャリブレーション時に有効なサンプリング値が得られるようにするために、敢えてｓｋｅｗやレンズシフトを与えるようにすることもできる。すなわち、仮に、キャリブレーション時においてｓｋｅｗやレンズシフトの発生量がゼロであった場合には補正係数の逆算のための有効なサンプリング値を得ることができなくなる虞があるため、その防止を図るべく、意図的にｓｋｅｗやレンズシフトを発生させるというものである。
意図的にｓｋｅｗを発生させる手法としては、例えば所要のアクチュエータを設けてディスクを傾ける、或いは光学ピックアップＯＰ全体を傾けるなどの手法を挙げることができる。
またレンズシフトに関しては、前述したスライド駆動部を利用したスライドサーボ制御が行われる下で、スライドサーボ制御ループ内に意図的にオフセットを与えるなどの手法を挙げることができる。

また、これまでの説明では、補正係数の具体例としてオフセットとゲイン、及び各ビームのアライメントずれを例示したが、もちろん補正係数としてはこれらに限定されるべきものではなく、多様に考えることができる。
また、これまでの説明では、ｓｋｅｗやレンズシフトなどのスポット位置ずれの発生要因となる事象（ずれ要因事象）の発生量と必要とされる補正量との関係が線形であるものとして一次関数を用いて補正量を求める場合を例示したが、正規化のための関数は一次関数に限定されるべきものではなく二次関数など他の関数を設定することもできる。

また、これまでの説明では、ｓｋｅｗ及びレンズシフトの双方に応じたスポット位置ずれ補正を行うものとしたが、何れか一方のみに基づく補正や、他のずれ要因事象発生量に基づく補正とすることもできる。

また、これまでの説明では、ビームシフタ１４Ｂによりシフトレンズ１４Ａをシフトさせてスポット位置ずれの補正（光軸の調整）を行う場合を例示したが、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とのスポット位置ずれは、例えばガルバノミラーなどの他の手段で補正することもできる。

また、これまでの説明では、スポット位置ずれの補正は、録再用レーザ光側の光軸を調整することで行う場合を例示したが、サーボ用レーザ光側の光軸を調整することによってもスポット位置ずれの補正を行うことができる。つまりこの場合は、サーボ用レーザ光の光軸をずらした分、対物レンズ２０が動き、それによって録再用レーザ光のスポット位置が補正されるようになるものである。
なお、このようにサーボ用レーザ光側の光軸を調整する光軸調整部によりスポット位置ずれの補正を行う構成とする場合、キャリブレーション時において各スポット位置を強制的に一致させるためには、サーボ用レーザ光の反射光に基づく対物レンズ２０のトラッキングサーボ制御によってサーボ用レーザ光を基準トラックＴＲ-rfに追従させつつ、録再用レーザ光の反射光に基づく上記サーボ用レーザ光側の光軸調整部のトラッキングサーボ制御を行うことにより、録再用レーザ光を基準トラックＴＲ-blに追従させることになる。
なお上記説明からも理解されるように、本発明において、スポット位置ずれを補正するための光軸調整部は、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光の光軸の相対的な位置関係を変化させることができるように構成されたものであればよい。

また、これまでの説明では、位置センサ３０により対物レンズ２０のレンズシフト量の検出を行うものとしたが、レンズシフト量の検出手法としては、例えばトラッキングコイルの駆動信号に基づき検出する手法など他にも多様に考えられる。
また、シフトレンズ１４Ａのシフト量の検出についても同様に、ビームシフタ１４Ｂの駆動信号に基づき検出する手法なども採ることができ、位置センサ３１を用いる手法以外にも多様に考えられる。

また、ｓｋｅｗの検出手法についても多様に考えられ、特に１つの手法に限定されるべきものではない。

また、これまでの説明では、バルク型記録媒体１を対象として情報記録を行う場合に本発明を適用する場合を例示したが、本発明は、図９に示されるような多層記録媒体５０に対する記録を行う場合にも好適に適用することができる。
図９において、多層記録媒体５０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜５１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜５１は、基板５２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜５１には、グルーブやピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体５０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
そこでこの場合には、記録層内の所要の半透明記録膜５１に対し、基準面Ｒｅｆ上に設定した所定のトラックと同一半径位置となる位置においてマーク形成による基準トラックを予め形成しておき、該基準トラックを用いて、補正係数のキャリブレーションを行う。

なお、このような多層記録媒体５０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜５１が形成されているため、記録時においても録再用レーザ光の反射光を用いたフォーカス制御を行うことができる。
すなわち、この場合の記録時において、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、当該録再光用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズ２０を駆動することで、記録対象とする半透明記録膜５１に合焦させるようにして行うことになる。
一方、記録時における録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御に関しては、この場合もサーボ用レーザ光を用いて行うことになる。すなわち、この場合としても、記録時におけるトラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズ２０を駆動することで、当該サーボ用レーザ光の焦点位置が基準面Ｒｅｆの案内溝に追従するようにして行う。

また、再生時には、この場合も既に記録されたマーク列に基づいて録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御を行うことができる。また、上記説明からも理解されるように、再生時においても、録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、対象とする半透明記録膜５１（情報記録層Ｌ）からの反射光を利用して行うことができる。
つまりこの場合、再生時におけるサーボ制御は、実施の形態の場合と同様の手法で行うことになる。すなわち、再生時における録再用レーザ光のフォーカスサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光が対象とする情報記録層Ｌに合焦するように対物レンズ２０を駆動することで行い、また録再用レーザ光のトラッキングサーボ制御は、録再用レーザ光の反射光に基づき、当該録再光用サーボ光の焦点位置が記録済みマーク列を追従するように対物レンズ２０を駆動することで行う。

なお確認のために述べておくと、このような多層記録媒体５０を対象とする場合も、スポット位置ずれの補正手法や補正係数のキャリブレーション手法自体はこれまでで説明したものと同様となる。

またこれまでの説明では、光ディスク記録媒体に対する位置案内子の形成が、グルーブやピット列などの凹凸断面形状パターンの付与により行われる場合を例示したが、本発明における光ディスク記録媒体が有する位置案内子は、例えばマーク列の記録などの他の手法により形成されたものであってもよい。

またこれまでの説明では、位置案内子が形成された基準面Ｒｅｆが、記録層よりも上層側に形成される場合を例示したが、基準面Ｒｅｆが記録層よりも下層側に形成される場合にも本発明は好適に適用できる。

また、これまでの説明では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のそれぞれの反射光を装置側で独立して受光するにあたり、ダイクロイックプリズム１９を設けて、それぞれの光の波長の違いを利用して分光を行う手法を例示したが、これに代えて、例えばｐ偏光／ｓ偏光などの偏光方向の違いを利用した分光を行う構成を採るなど、他の手法により分光を行うようにすることもできる。

またこれまでの説明では、本発明が光ディスク記録媒体に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光ディスク記録媒体に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。

１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、ＴＲ-rf 基準面上基準トラック、ＴＲ-bl バルク層内基準トラック、１０ 記録再生装置、１１ 録再用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４Ａ シフトレンズ、１４Ｂ ビームシフタ（レンズ駆動部）、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 録再光用受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ サーボ光用受光部、３０,３１ 位置センサ、３２ 記録処理部、３３ 録再光用マトリクス回路、３４ 再生処理部、３５ 録再光用サーボ回路、３６ サーボ光用マトリクス回路、３７ 位置情報検出部、３８ サーボ光用サーボ回路、３９ 補正量計算部、４０ ドライバ、４１ コントローラ、４２ ｓｋｅｗセンサ、５０ 多層記録媒体、５１ 半透明記録膜、５２ 基板

Claims (13)

1. 位置案内子としてのトラックがスパイラル状又は同心円状に形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有すると共に、上記記録層内における、上記基準面上の所定のトラックと同一半径位置に対して基準トラックが形成された光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置であって、
   上記記録層に対する情報記録を行うための第１の光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための第２の光とが入射され、これら第１の光と第２の光の双方を上記光ディスク記録媒体に対して照射する対物レンズと、
   上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、
   上記対物レンズに入射する上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係を変化させる光軸調整部と、
   上記第１の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光して得られるトラッキングエラー信号から第１のトラッキングサーボ信号を生成する第１のトラッキングサーボ信号生成部と、
   上記第２の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光して得られるトラッキングエラー信号から第２のトラッキングサーボ信号を生成する第２のトラッキングサーボ信号生成部と、
   上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれの要因となる事象の発生量を検出するずれ要因事象発生量検出部と、
   上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されたスポット位置ずれ要因事象発生量と、所定の補正係数とに基づく演算を行って、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するための補正量を計算すると共に、計算した補正量に基づき上記光軸調整部を駆動制御することで、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するスポット位置ずれ補正部と、
   上記光軸調整部による光軸の補正量についての検出を行う補正量検出部と、
   制御・演算部とを備えると共に、
   上記制御・演算部は、
   上記トラッキング機構による上記第２のトラッキングサーボ信号に基づく上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御により、上記第２の光のスポット位置を上記基準面上の上記所定のトラックに追従させつつ、上記光軸調整部により、上記第１のトラッキングサーボ信号に基づく上記第１の光についてのトラッキングサーボ制御を実行させて、上記第１の光のスポット位置を上記記録層内の上記基準トラックに追従させた状態において、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量と、上記補正量検出部により検出される上記光軸の補正量とを所定複数回サンプリングすると共に、
   それらサンプリングしたスポット位置ずれ要因事象発生量と光軸の補正量との関係から、上記補正係数を逆算する
   光学ドライブ装置。
2. 上記ずれ要因事象発生量検出部は、
   ｓｋｅｗを検出するｓｋｅｗ検出部、又は上記対物レンズのレンズシフト量を検出するレンズシフト検出部の何れかとされる
   請求項１に記載の光学ドライブ装置。
3. 上記ずれ要因事象発生量検出部は、
   上記ｓｋｅｗ検出部と上記レンズシフト検出部の双方を有して成り、
   上記スポット位置ずれ補正部は、
   上記ｓｋｅｗ検出部により検出されたｓｋｅｗ量と所定の補正係数とに基づき計算されるｓｋｅｗ分補正量と、上記レンズシフト検出部により検出されたレンズシフト量と所定の補正係数とに基づき計算されるレンズシフト分補正量とに基づき、上記光軸調整部を駆動制御して上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正する
   請求項２に記載の光学ドライブ装置。
4. 上記スポット位置ずれ補正部は、
   上記ｓｋｅｗ検出部により検出されたｓｋｅｗ量をＤ_SKとしたとき、上記ｓｋｅｗ分補正量を、補正係数ｏｆｓ_SK及び補正係数ｇａｉｎ_SKを用いて、
   
   （Ｄ_SK−ｏｆｓ_SK）×ｇａｉｎ_SK
   
   により計算すると共に、
   
   上記レンズシフト検出部により検出されたレンズシフト量をＤ_SHとしたとき、上記レンズシフト分補正量を、補正係数ｏｆｓ_SH及び補正係数ｇａｉｎ_SHを用いて、
   
   （Ｄ_SH−ｏｆｓ_SH）×ｇａｉｎ_SH
   
   により計算する
   請求項３に記載の光学ドライブ装置。
5. 上記スポット位置ずれ補正部は、
   上記第１の光と上記第２の光の光軸位置のアライメントずれを表す補正係数Ｄ_almを用いて、
   
   （Ｄ_SK−ｏｆｓ_SK）×ｇａｉｎ_SK＋（Ｄ_SH−ｏｆｓ_SH）×ｇａｉｎ_SH＋Ｄ_alm
   
   により計算した補正量に基づいて上記光軸調整部を駆動制御することで、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正する
   請求項４に記載の光学ドライブ装置。
6. 上記光軸調整部は、
   上記対物レンズに入射する上記第１の光の光軸をシフトレンズの駆動によって平行移動させるビームシフタで構成され、
   上記補正量検出部は、上記ビームシフタによる上記シフトレンズの移動量を検出する
   請求項１に記載の光学ドライブ装置。
7. 上記補正量検出部は、上記シフトレンズの位置を検出する位置センサを有して構成される
   請求項６に記載の光学ドライブ装置。
8. 反射膜を有さず深さ方向の所要の層位置に対して選択的にマーク記録が行われるバルク状の上記記録層を有する上記光ディスク記録媒体を対象として記録を行う
   請求項１に記載の光学ドライブ装置。
9. 上記光ディスク記録媒体において、上記基準トラックは、上記記録層内における複数の層位置に形成されており、
   上記制御・演算部は、上記補正係数の逆算を、上記複数の層位置に形成された基準トラックに基づき上記層位置ごとに行う
   請求項１に記載の光学ドライブ装置。
10. 上記記録層には、マーク記録を行うべき層位置として３以上の層位置が設定されており、且つ、上記基準トラックは、少なくとも最上層と最下層の２つの層位置に対して形成されており、
    上記制御・演算部は、
    少なくとも上記最上層と上記最下層の２つの層位置に対して形成された上記基準トラックに基づいて上記補正係数の逆算を行うと共に、それらの層位置で求めた上記補正係数を線形補間して生成した補正係数を用いて、上記基準トラックが非形成とされる層位置におけるスポット位置ずれ補正が実行されるように制御を行う
    請求項９に記載の光学ドライブ装置。
11. 上記記録層には、マーク記録を行うべき層位置として３以上の層位置が設定されており、且つ、それらの各層位置に対して上記基準トラックが形成されており、
    上記制御・演算部は、
    上記補正係数の逆算を、それぞれの上記層位置に形成された基準トラックに基づき上記層位置ごとに行う
    請求項９に記載の光学ドライブ装置。
12. 上記光ディスク記録媒体において、上記基準トラックは、上記記録層内における複数の半径位置に形成されており、
    上記制御・演算部は、上記補正係数の逆算を、上記複数の半径位置に形成された基準トラックに基づき上記複数の半径位置ごとに行う
    請求項１に記載の光学ドライブ装置。
13. 位置案内子としてのトラックがスパイラル状又は同心円状に形成された反射膜を有する基準面と、光照射に応じたマーク形成により情報記録が行われる記録層とを有すると共に、上記記録層内における、上記基準面上の所定のトラックと同一半径位置に対して基準トラックが形成された光ディスク記録媒体についての少なくとも記録を行う光学ドライブ装置であり、上記記録層に対する情報記録を行うための第１の光と、上記基準面に形成された上記位置案内子に基づく位置制御を行うための第２の光とが入射され、これら第１の光と第２の光の双方を上記光ディスク記録媒体に対して照射する対物レンズと、上記対物レンズを上記光ディスク記録媒体の半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、上記対物レンズに入射する上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係を変化させる光軸調整部と、上記第１の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光して得られるトラッキングエラー信号から第１のトラッキングサーボ信号を生成する第１のトラッキングサーボ信号生成部と、上記第２の光の上記光ディスク記録媒体からの反射光を受光して得られるトラッキングエラー信号から第２のトラッキングサーボ信号を生成する第２のトラッキングサーボ信号生成部と、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれの要因となる事象の発生量を検出するずれ要因事象発生量検出部と、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されたスポット位置ずれ要因事象発生量と、所定の補正係数とに基づく演算を行って、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するための補正量を計算すると共に、計算した補正量に基づき上記光軸調整部を駆動制御することで、上記第１の光と上記第２の光のスポット位置ずれを補正するスポット位置ずれ補正部と、上記光軸調整部による光軸の補正量についての検出を行う補正量検出部とを備える光学ドライブ装置におけるスポット位置ずれ補正方法であって、
    上記トラッキング機構による上記第２のトラッキングサーボ信号に基づく上記第２の光についてのトラッキングサーボ制御により、上記第２の光のスポット位置を上記基準面上の上記所定のトラックに追従させつつ、上記光軸調整部により、上記第１のトラッキングサーボ信号に基づく上記第１の光についてのトラッキングサーボ制御を実行させて、上記第１の光のスポット位置を上記記録層内の上記基準トラックに追従させた状態において、上記ずれ要因事象発生量検出部により検出されるスポット位置ずれ要因事象発生量と、上記補正量検出部により検出される上記光軸の補正量とを所定複数回サンプリングするサンプリング手順と、
    それらサンプリングしたスポット位置ずれ要因事象発生量と光軸の補正量との関係から、上記補正係数を逆算する補正係数逆算手順と
    を有するスポット位置ずれ補正方法。