JP2012094207A - 記録装置、スポット位置制御方法 - Google Patents

Abstract

【課題】位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体において、上記記録層における記録ピッチが上記基準面のトラックピッチに依存したものとならないようにする。またこのとき、トラッキングサーボの安定性をより確実なものとする。
【解決手段】基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて複数のピット列位相を有するようにされた光記録媒体とする。ピット列とそれらの中間位置とを順次サーボ対象として切り替えていくようにすることで、トラッキング誤差信号のよりリニアリティの高い部分を使用でき、サーボ制御の安定性を向上できる。
【選択図】図１６

Description

本発明は、位置案内子が形成された基準面と、上記基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体に対する記録を行う記録装置とその方法に関する。

特開２００８−１３５１４４号公報 特開２００８−１７６９０２号公報

光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスクが普及している。

これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及している光記録媒体の次世代を担うべき光記録媒体に関して、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型（単にバルク型とも呼ばれる）の光記録媒体を提案している。

ここで、バルク記録とは、例えば図２３に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。

このようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。

マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式と、ネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。このネガ型マイクロホログラム方式では、初期化処理として、予めバルク層に干渉縞を形成しておく処理が必要となる。

また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空包、空孔）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空包を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空包部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空包部分は記録マークとして機能し、これによって空包マークの形成による情報記録が実現される。

このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないので、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、上述のポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。

ところで、上記のような各種の記録手法が提案されているバルク記録型（単にバルク型とも称する）の光記録媒体であるが、このようなバルク型の光記録媒体の記録層（バルク層）は、位置案内子やそれが形成された記録膜（反射膜）が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。つまりこの点において、通常の多層ディスクの場合に必要となる複数の記録膜（及び位置案内子）の生成工程を省略でき、その分、製造コストの削減が図られる。

しかしながら、先の図２３に示したバルク型記録媒体１００の構造のままでは、マークが未形成である記録時において、フォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができない。

このため実際において、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２４に示すような位置案内子を有する基準となる反射面を設けるようにされている。
具体的には、カバー層１０１の下面側に例えばピットやグルーブの形成による案内溝（位置案内子）がスパイラル状又は同心円状に形成され、そこに選択反射膜１０３が成膜される。そして、このように選択反射膜１０３が成膜されたカバー層１０２の下層側に対し、図中の中間層１０４としての、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料を介してバルク層１０２が積層される。
ここで、上記のようなピットやグルーブ等による案内溝の形成により、例えば半径位置情報や回転角度情報などの絶対位置情報（アドレス情報）の記録が行われている。以下の説明では、このような案内溝が形成され絶対位置情報の記録が行われた面（この場合は上記選択反射膜１０３の形成面）のことを、「基準面Ｒｅｆ」と称する。

また、上記のような媒体構造とした上で、バルク型記録媒体１００に対しては、次の図２５に示されるようにマークの記録（又は再生）のためのレーザ光（以下、録再用レーザ光、或いは単に録再光とも称する）とは別途に、位置制御用のレーザ光としてのサーボ用レーザ光（単にサーボ光とも称する）を照射するようにされる。
図示するようにこれら録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１００に照射される。

このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層１０２に到達してしまうと、当該バルク層１０２内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、従来よりバルク記録方式では、上記サーボ用レーザ光として、録再用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆに形成される反射膜としては、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという波長選択性を有する選択反射膜１０３を設けるものとしている。

以上の前提を踏まえた上で、図２５を参照し、バルク型記録媒体１００に対するマーク記録時の動作について説明する。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層１０２に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層１０２内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる。図中では、バルク層１０２内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜１０３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
なお、層位置Ｌの数は５に限定されるべきものではない。

マークが未だ形成されていない記録時においては、録再用レーザ光の反射光に基づいてバルク層１０２内の各層位置を対象としたフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆにおいて案内溝に追従するようにして行うことになる。

但し、上記録再用レーザ光は、マーク記録のために基準面Ｒｅｆよりも下層側に形成されたバルク層１０２に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、録再用レーザ光の合焦位置を独立して調整するためのフォーカス機構（録再光用フォーカス機構）が別途設けられることになる。
具体的に、このようなフォーカス機構としては、対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーション状態（発散／平行／収束）を変化させるエキスパンダを設けるようにする。すなわち、このように対物レンズに入射する録再用レーザ光のコリメーション状態を変化させることで、録再用レーザ光の合焦位置を、サーボ用レーザ光とは独立して調整できるようにするものである。

このような録再用レーザ光についてのフォーカス機構を設けることで、前述のように対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御が基準面Ｒｅｆからのサーボ用レーザ光の反射光に基づき行われることによって、録再用レーザ光の焦点位置が、バルク層１０２内の所要の情報記録層位置Ｌに一致し且つ、トラッキング方向においては基準面Ｒｅｆに形成された案内溝に対応する位置となるように制御されることになる。

なお、マーク記録が既に行われたバルク型記録媒体１００について再生を行う際は、記録時のように対物レンズの位置をサーボ用レーザ光の反射光に基づいて制御する必要性はない。すなわち、再生時においては、再生対象とする情報記録層位置Ｌ（再生時については情報記録層Ｌとも称する）に形成されたマーク列を対象として、録再用レーザ光の反射光に基づいて対物レンズのフォーカス及びトラッキングサーボ制御を行えばよい。

上記のようにしてバルク型記録媒体１００に対する記録時には、サーボ用レーザ光の基準Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズのフォーカスサーボ・トラッキングサーボを行いつつ、上述のフォーカス機構により録再光用レーザ光をバルク層５内の所要の情報記録層位置Ｌに合焦させることで、バルク層１０２内の所望の位置にマーク記録を行うことができる。

ここで、上述のようにサーボ用レーザ光と録再用レーザ光とは、選択反射膜１０３での選択反射を実現するため、それぞれ波長帯が異なるレーザ光を用いるようにされる。このとき、バルク層１０２の記録密度を高めるべきであることを考慮すると、録再用レーザ光の方を、サーボ用レーザ光よりも波長の短い光とするべきである。例えば、サーボ用レーザ光をＤＶＤと同様の赤色レーザ光（波長λ＝６５０nm程度）とし、録再用レーザ光をＢＤと同様の青紫色レーザ光（波長λ＝４０５nm程度）とすることが考えられる。

しかしながら、上述のような従来の位置制御手法によると、バルク層１０２内における記録ピッチは、基準面Ｒｅｆにおけるトラックピッチに依存したものとなってしまう。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいてはピットやグルーブ等による位置案内子がスパイラル状（又は同心円状）に形成されることになるが、バルク層１０２における記録ピッチは、このような位置案内子の形成ピッチ（トラックピッチ）と同等となってしまい、結局のところ、録再用レーザ光のスポットサイズを小とできても、バルク層１０２の記録密度（半径方向における）を基準面Ｒｅｆの記録密度以上に高めることができなくなってしまう。

本発明はかかる問題点に鑑み為されたもので、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体に対して上記記録層に対する記録光としての第１の光と上記基準面からの反射光を得るための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射し且つ、上記対物レンズのトラッキングサーボ制御を上記第２の光の上記基準面からの反射光に基づき行うように構成された記録装置において、上記記録層における記録ピッチが上記基準面のトラックピッチに依存したものとならないようにすることをその課題とする。またこの場合において、併せてトラッキングサーボの安定性をより確実なものとすることもその課題とする。

上記課題の解決のため、本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
すなわち、基準面と、当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有すると共に、上記基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている光記録媒体に対して、上記記録層に対する記録光としての第１の光と上記基準面からの反射光を得るための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射し且つ、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する光照射・受光部を備える。
また、上記対物レンズを上記半径方向に変位させるトラッキング機構部を備える。
また、上記光照射・受光部が上記第２の光の反射光を受光して得た受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部を備える。
また、上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記基準面に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部を備える。
また、トラッキング誤差信号生成部として以下のものを備える。
つまり、上記基準面に形成された各位相のピット列のうちトラッキングサーボの対象とすべきとして選択されたピット列を対象ピット列、上記基準面に形成された各位相のピット列のそれぞれの中間位置のうちトラッキングサーボの対象とすべきとして選択された中間位置を対象中間位置としたとき、
上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記対象ピット列に対する位相差がそれぞれ等しい関係となる２つのピット列にそれぞれ対応したタイミング選択信号をピット列選択用タイミング選択信号として選択し、当該ピット列選択用タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて上記受光信号の値をサンプルホールドし、当該サンプルホールドした値の差分を計算することで、上記第２の光の照射スポット位置の上記対象ピット列に対する上記半径方向における位置誤差を表す第１のトラッキング誤差信号を生成する第１のトラッキング誤差信号生成処理と、
上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記対象中間位置に対する位相差がそれぞれ等しい関係となる２つのピット列にそれぞれ対応したタイミング選択信号をピット列間位置選択用タイミング選択信号として選択し、当該ピット列間位置選択用タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて上記受光信号の値をサンプルホールドし、当該サンプルホールドした値の差分を計算することで、上記第２の光の照射スポット位置の上記対象中間位置に対する上記半径方向における位置誤差を表す第２のトラッキング誤差信号を生成する第２のトラッキング誤差信号生成処理と
を実行可能に構成されたトラッキング誤差信号生成部を備える。
また、上記トラッキング誤差信号生成部より出力されるトラッキング誤差信号に基づいて上記トラッキング機構部を制御することで、上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部を備える。
また、上記トラッキングサーボ制御部を含むトラッキングサーボループに対し鋸歯状波によるオフセットの付与を行うオフセット付与部を備える。
さらに、上記鋸歯状波によるオフセットの極性反転タイミングに応じたタイミングで、上記トラッキング誤差信号生成部による出力が上記第１のトラッキング誤差信号と上記第２のトラッキング誤差信号との間で交互に切り替えられるように制御する制御部を備えるようにした。

上記のような基準面の構造と、上記鋸歯状波によるオフセットの付与及びトラッキング誤差信号の順次切替（ピット列／中間位置）によるトラッキングサーボ制御手法とを組み合わせた本発明の位置制御手法によれば、トラッキングサーボが掛けられた状態を維持しつつ、上記第２の光の照射スポット位置（ひいては第１の光の照射スポット位置）を半径方向に連続的に変位させていくことが可能となる。このとき、上記照射スポット位置の半径方向への単位時間当たり移動量は、上記オフセットの傾きの設定で任意に設定できる。このため本発明によれば、上記スポットの移動軌跡として任意ピッチによるスパイラルが描かれるようにできる。
このことからも理解されるように、本発明によれば、記録層における記録ピッチが基準面におけるトラックピッチに依存したものとならないようにできる。
そして、本発明では、オフセット付与とトラッキング誤差信号の切り替え（サーボ対象位置の切替）とによる位置制御にあたり、ピット列を選択するための第１のトラッキング誤差信号だけでなく、ピット列間の中間位置を選択するための第２のトラッキング誤差信号も用いるものとしている。
このような第２のトラッキング誤差信号も用いた位置制御とする本発明によれば、より狭間隔でサーボ対象位置の選択を行うことができ、その分、上記のように照射スポット位置を半径方向に変位させるための上記鋸歯状波のオフセットの最大値（絶対値）を、より小さく抑えることができる。換言すれば、トラッキング誤差信号の目標値（ゼロ）からの乖離の最大値をより小さく抑えることができ、これにより、トラッキング誤差信号におけるリニアリティのより高い部分を使用した位置制御を実現できるものとなり、結果、サーボ制御の安定性をより向上できる。

上記のように本発明によれば、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体に対して上記記録層に対する記録光としての第１の光と上記基準面からの反射光を得るための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射し且つ、上記対物レンズのトラッキングサーボ制御を上記第２の光の上記基準面からの反射光に基づき行うように構成された記録装置において、上記記録層における記録ピッチが、上記基準面のトラックピッチに依存したものとならないようにできる。つまりこれにより、上記記録層の記録ピッチを従来よりも狭めることができ、結果、記録密度の向上が図られるようにできる。

なおかつ、本発明によれば、サーボループへのオフセット付与と順次のトラッキング誤差信号の切替とによりスポット位置を半径方向に連続的に変位させる位置制御を行うにあたり、ピット列をサーボ対象として選択するための第１のトラッキング誤差信号と共に、ピット列間の中間位置をサーボ対象として選択するための第２のトラッキング誤差信号も用いるようにしたことで、上記位置制御に際し付与すべきオフセットの最大値（絶対値）をより小とすることができ、その結果サーボ制御の安定性をより向上することができる。

先行例、及び実施の形態で記録／再生対象とするバルク型記録媒体の断面構造図である。 先行例、及び実施の形態の記録装置が備える光学系の構成を主に示した図である。 先行例、及び実施の形態で用いるバルク型記録媒体の基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。 基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。 アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。 バルク型記録媒体の回転駆動に伴い基準面上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。 ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。 ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。 チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。 先行例のトラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。 先行例としての記録装置全体の内部構成を示したブロック図である。 クロック生成回路の内部構成を示した図である。 先行例の記録装置が備えるselector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。 任意の記録ピッチを実現するための先行例としての具体的な制御手法について説明するための図である。 先行例としての位置制御手法を各ピット列のトラッキングエラー信号と関連付けて示した図である。 実施の形態としての位置制御手法について説明するための図である。 ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。 同じく、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。 実施の形態の記録装置の内部構成について説明するための図である。 実施の形態の記録装置が備えるselector信号生成・選択部の内部構成を示した図である。 任意の記録ピッチを実現するための実施の形態としての具体的な制御手法について説明するための図である。 変形例としての光記録媒体の断面構造を示した図である。 バルク記録方式について説明するための図である。 基準面を備える実際のバルク型記録媒体の断面構造を例示した図である。 バルク型記録媒体に対するマークの記録／再生手法について説明するための図である。

以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
ここで、本明細書においては、実施の形態の説明に先立ち、先ずは本出願人が先に提案した先行例についての説明を行う。
なお、説明の順序は以下の通りである。

＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］
［1-2．光学系の構成］
［1-3．基準面の構造］
［1-4．アドレス情報について］
［1-5．サーボ対象位置の選択手法］
［1-6．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点］
［1-7．記録装置の全体的な内部構成］
［1-8．任意記録ピッチの実現手法］
＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の課題］
［2-2．実施の形態の任意ピッチの実現手法］
［2-3．実施の形態の記録装置の構成］
＜３．変形例＞

＜１．先行例＞
［1-1．記録／再生対象とする光記録媒体］

図１は、先行例（及び実施の形態）において記録／再生対象とする光記録媒体の断面構造図を示している。
ここで、この先行例を含め、後述する実施の形態において記録／再生対象とする光記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
バルク型の光記録媒体とは、いわゆるバルク記録が行われる光記録媒体を指す。バルク記録とは、通常の多層光ディスクのような複数の記録膜が形成された多層構造は有さず、図のようなバルク層５としての記録層に対して逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行って多層記録を行う技術を指す。

図１において、バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされ、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対するレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）が行われる。また、記録情報の再生としても、回転駆動されるバルク型記録媒体１に対してレーザ光を照射して行われる。
なお光記録媒体とは、光の照射により情報の記録／再生が行われる記録媒体を総称したものである。

図示するようにバルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する記録装置（記録再生装置１０）側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。

また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向と一致する方向（すなわち記録装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。

バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録位置を案内するための位置案内子として後述するピット列が形成されていることで、凹凸の断面形状が与えられている。カバー層２は、後述するピット列が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
なお、バルク型記録媒体１における上記ピット列の具体的な形成態様については後述する。

また、上記ピット列が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
ここで、先の図２５を参照して説明したようにバルク記録方式では、記録層としてのバルク層５に対してマーク記録／再生を行うための光（録再用レーザ光）を照射する一方で、上記のようなピット列などの位置案内子に基づきトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を得るための光（サーボ用レーザ光）を別途に照射するものとされている。
このとき、仮に、上記サーボ用レーザ光がバルク層５に到達してしまうと、当該バルク層５内におけるマーク記録に悪影響を与える虞がある。このため、サーボ用レーザ光は反射し、録再用レーザ光は透過するという選択性を有する反射膜が必要とされている。
従来よりバルク記録方式では、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なるレーザ光を用いるようにされており、これに対応すべく、上記選択反射膜３としては、サーボ用レーザ光と同一の波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという、波長選択性を有する選択反射膜が用いられる。
なお以下、当該選択反射膜３の反射面（上記位置案内子としてのピット列に応じた凹凸断面形状が与えられた面）を、基準面Ｒｅｆと称する。

上記選択反射膜３の下層側には、例えばＵＶ硬化樹脂などの接着材料で構成された中間層４を介して、記録層としてのバルク層５が積層（接着）されている。
バルク層５の形成材料（記録材料)としては、例えば先に挙げたポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式などのマイクロホログラム方式、或いはボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本発明において、バルク層に対するマーク記録の方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。以下の説明では一例として、上記のボイド記録方式が採用されているものとする。

ここで、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め定めておくことになる（図２５を参照）。この場合もバルク層５内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも呼ぶ）として、先の図２５の場合と同様に例えば第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定されているとする。
この場合、基準面Ｒｅｆからの各情報記録層位置Ｌへのオフセットｏｆ-Lの情報は、後述する先行例としての記録再生装置１０のコントローラ４１（実施の形態のコントローラ５３も同様）に設定される。

［1-2．光学系の構成］

図２は、上記により説明したバルク型記録媒体１に対する記録／再生を行う記録再生装置１０が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録再生装置１０が備える光学ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。

図４において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、ここでは図示を省略したスピンドルモータ４４（図１１）による回転駆動が可能な状態に保持される。
光学ピックアップＯＰは、上記スピンドルモータ４４により回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光、サーボ用レーザ光を照射するために設けられる。

光学ピックアップＯＰ内には、マークによる情報記録、及びマークにより記録された情報の再生を行うための録再用レーザ光の光源である録再用レーザ１１と、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子を利用した位置制御を行うための光であるサーボ用レーザ光の光源であるサーボ用レーザ２４とが設けられる。
ここで、前述のように録再用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長が異なる。本例の場合、録再用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、サーボ用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされる。

また、光学ピックアップＯＰ内には、録再用レーザ光とサーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１への出力端となる対物レンズ２０が設けられる。
さらには、上記録再用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するための録再光用受光部２３と、サーボ用レーザ光のバルク型記録媒体１からの反射光を受光するためのサーボ光用受光部２９とが設けられる。

その上で、光学ピックアップＯＰ内においては、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光を上記対物レンズ２０に導くと共に、上記対物レンズ２０に入射した上記バルク型記録媒体１からの録再用レーザ光の反射光を上記録再光用受光部２３に導くための光学系が形成される。

具体的に、上記録再用レーザ１１より出射された録再用レーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。偏光ビームスプリッタ１３は、このように録再用レーザ１１側から入射した録再用レーザ光については透過するように構成されている。

上記偏光ビームスプリッタ１３を透過した録再用レーザ光は、固定レンズ１４、可動レンズ１５、及びレンズ駆動部１６から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、前述した録再光用フォーカス機構に相当するものであり、光源である録再用レーザ１１に近い側が固定レンズ１４とされ、録再用レーザ１１に遠い側に可動レンズ１５が配置され、レンズ駆動部１６によって上記可動レンズ１５が録再用レーザ光の光軸に平行な方向に駆動されることで、録再用レーザ光について独立したフォーカス制御を行う。
後述もするように、当該録再光用フォーカス機構におけるレンズ駆動部１６は、図１１に示すコントローラ４１によって、対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に応じて駆動される。

上記録再光用フォーカス機構が有する固定レンズ１４及び可動レンズ１５を介した録再用レーザ光は、図のようにミラー１７にて反射された後、１／４波長板１８を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
ダイクロイックプリズム１９は、その選択反射面が、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した録再用レーザ光は、ダイクロイックプリズム１９にて反射される。

上記ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光は、図示するようにして対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に対して照射される。
対物レンズ２０に対しては、当該対物レンズ２０をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２１が設けられる。
２軸アクチュエータ２１には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２０をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。

ここで、再生時においては、上記のようにしてバルク型記録媒体１に対して録再用レーザ光が照射されることに応じて、バルク型記録媒体１（バルク層５内の再生対象の情報記録層Ｌに記録されたマーク列）より上記録再用レーザ光の反射光が得られる。このように得られた録再用レーザ光の反射光は、対物レンズ２０を介してダイクロイックプリズム１９に導かれ、当該ダイクロイックプリズム１９にて反射される。
ダイクロイックプリズム１９で反射された録再用レーザ光の反射光は、１／４波長板１８→ミラー１７→録再光用フォーカス機構（可動レンズ１５→固定レンズ１４）を介した後、偏光ビームスプリッタ１３に入射する。

ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射する録再用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板１８による作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、録再用レーザ光１１側から偏光ビームスプリッタ１３に入射した録再用レーザ光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射した録再用レーザ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１３にて反射される。

このように偏光ビームスプリッタ１３にて反射された録再用レーザ光の反射光は、集光レンズ２２を介して録再光用受光部２３の受光面上に集光する。

また、光学ピックアップＯＰ内には、上記により説明した録再用レーザ光についての光学系の構成に加えて、サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光を対物レンズ２０に導き且つ、上記対物レンズ２０に入射したバルク型記録媒体１からのサーボ用レーザ光の反射光をサーボ光用受光部２９に導くための光学系が形成される。
図示するように上記サーボ用レーザ２４より出射されたサーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２５を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ２６に入射する。偏光ビームスプリッタ２６は、このようにサーボ用レーザ２４側から入射したサーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。

上記偏光ビームスプリッタ２６を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板２７を介してダイクロイックプリズム１９に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム１９は、録再用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム１９を透過し、対物レンズ２０を介してバルク型記録媒体１に照射される。

また、このようにバルク型記録媒体１にサーボ用レーザ光が照射されたことに応じて得られる当該サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２０を介した後ダイクロイックプリズム１９を透過し、１／４波長板２７を介して偏光ビームスプリッタ２６に入射する。
先の録再用レーザ光の場合と同様にして、このようにバルク型記録媒体１側から入射したサーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２７の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としてのサーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ２６にて反射される。

偏光ビームスプリッタ２６にて反射されたサーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ２８を介してサーボ光用受光部２９の受光面上に集光する。

ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光学ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光学ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。

［1-3．基準面の構造］

ここで、上記により説明した光学ピックアップＯＰを有する先行例としての記録再生装置１０は、位置案内子が形成された基準面と当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有する光記録媒体に対して、共通の対物レンズを介して第１の光（録再用レーザ光）と第２の光（サーボ用レーザ光）とを照射し且つ、上記対物レンズのトラッキングサーボ制御を上記第２の光の上記基準面からの反射光に基づき行うように構成されたものとなる。
先に述べたように、このような構成が採られる場合には、上記記録層における上記第１の光による記録ピッチが、上記基準面のトラックピッチに依存したものとなってしまい、上記記録層の記録密度の向上が図られないという問題がある。

かかる問題の解決を図るべく、先に本出願人は、基準面Ｒｅｆにおける位置案内子として、以下で説明するような態様によるピット列を形成する手法を提案した。

図３は、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）の表面を一部拡大した平面図である。
この図３においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向（線方向）としている。この場合、サーボ用レーザ光のスポットは、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、上記ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、バルク型記録媒体１の半径方向である。
この場合、半径方向における上記スポットの進行方向（つまりバルク層５における半径方向の記録進行方向と同じ）は、内周→外周であることを前提としている。

また図３において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。

ここで、図中の黒太線で表す間隔は、従来のバルク型記録媒体１において実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、本実施の形態のバルク型記録媒体１では、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、従来限界の１トラック幅内に形成されている、すなわち半径方向における光学限界を超えるピッチで配列されていることになる。

但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。

そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、

１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。

というものである。

ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。

本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生及びサーボ制御は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６５０nm程度、開口数ＮＡ＝０．６５程度の条件で行うものとしている。このことに対応して本例では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。

ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、図４を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図４では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。

この図４を参照して分かるように、バルク型記録媒体１の基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図４ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。

また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するように複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。

ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図３に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。

［1-4．アドレス情報について］

続いて、図５により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
なお、以下、図８までの説明においては、便宜上、トラッキングエラー信号としてはプッシュプル信号に基づく信号を生成することを前提とする。後の説明により明らかとなるように、先行例としての実際の構成、及び実施の形態では、トラッキングエラー信号としてｓｕｍ信号（和信号）に基づく信号を生成することになる。

図５において、先ず図５（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図５（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。

ここで、後述もするように、記録再生装置１０は、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において光学限界を超えたピッチで配列されているという点である。すなわち、この場合においてサーボ用レーザ光の照射スポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできなくなる。
このために、本例においては、選択したピット列におけるピット形成可能位置のタイミングにおけるトラッキングエラー信号をサンプルし、該サンプルしたトラッキングエラー信号の値に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるということをその基本概念とする。

そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置のタイミングにおける和信号（ｓｕｍ信号）をサンプルし、その値に基づいてアドレス情報を検出するという手法を採る。

このような情報検出の手法に対応するため、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。

その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図５（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。

このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うということを基本としたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。

図５（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。

バルク型記録媒体１においては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここでアドレス情報としては、ディスク上の絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度位置の情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。

なお、図５の説明からも理解されるように、バルク型記録媒体１における基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分をチャネルデータ「１」、それ以外の部分をチャネルデータ「０」とする記録手法を指すものである。

［1-5．サーボ対象位置の選択手法］

上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明する手法をその基本とする。

図６は、バルク型記録媒体１の回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上をサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図２に示したサーボ光用受光部２９としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。

図示するようにして、バルク型記録媒体１の回転に伴いサーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。

ここで、この図の例ではサーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。

また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。

具体的に、クロックＣＬＫとしては、ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図７に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。

図８は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。

このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。

これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。従って、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）をサンプルホールドすることで、Ａ〜Ｆのうちの１つのピット列に追従するためのトラッキングエラー信号を得ることができる。すなわち、このように生成したトラッキングエラー信号に基づき対物レンズ２０についてのトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列上にサーボ用レーザ光のスポットをトレースさせることが可能となる。

［1-6．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点］

ここで、上記の説明では、サーボ対象として任意のピット列を選択するにあたり、そのためのトラッキングエラー信号としてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるものとしたが、このようにプッシュプル信号を用いる場合には、いわゆるチルト（skew）や対物レンズのレンズシフトに起因して、正確なトラッキング誤差情報を得ることができない虞がある。

図９は、チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図９（ａ）はチルト・レンズシフトが生じていない理想状態におけるサーボ光用受光部２９上の反射光スポット（受光スポット）を示し、図９（ｂ）はチルト・レンズシフトが生じた場合におけるサーボ光用受光部２９上の反射光スポットを示している。
なおこれら図９（ａ）（ｂ）において、反射光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。

先ず前提として、プッシュプル信号（ＰＰ）は、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組みがそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、

ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi） ・・・［式１］

により計算されるものである。但し［式１］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。

ここで、サーボ用レーザ光の照射スポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、チルト・レンズシフトが生じていない図９（ａ）の理想状態であれば、上記[式１]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図９（ｂ）に示すようなチルト・レンズシフトに伴う反射光スポット位置ずれが生じている場合、[式１]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。

このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰには、チルトやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。

このようなチルトやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、上記で説明したままのトラッキングエラー信号の生成手法は有効であるが、トラッキングサーボ制御の安定性の向上を図るにあたっては、トラッキングエラー信号には上記のようなオフセット成分が重畳しないことが望ましい。

従来、チルトやレンズシフトに伴うオフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としては、いわゆる３スポット法が知られているが、該３スポット法は、グレーティング等の光学部品の追加が必要であり、その分、部品コストや調整コストの増加を招く。
また、上記オフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としてはＤＰＰ（Differential Push Pull）法も知られているが、該ＤＰＰ法としても同様にグレーティング等の追加が必要であり、部品コスト、調整コストの増加を招く。

これら従来のトラッキングエラー検出手法が有する問題点の解決を図りつつ、チルト・レンズシフトに伴うオフセット成分の影響を回避するために、先行例（実施の形態も同様）では、以下で説明するようなｓｕｍ信号を用いる手法によりトラッキングエラー信号を生成するものとしている。

図１０は、先行例のトラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
なおこの図１０では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態でのサーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。

例えばこの図１０に示されるように、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほど、そのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ距離（半径方向における距離）だけ離間した（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）においても同じ値をとることになる。

ここで、図中に示す状態とは異なり、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。

この点を踏まえ先行例では、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号の生成を行う。
すなわち、先ずは、トラッキングサーボの対象とするピット列に対し位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例の場合は、トラッキングサーボの対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出するものとする。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図１０におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。該計算結果が、上記サーボ対象のピット列についてのトラッキングエラー信号となる。

［1-7．記録装置の全体的な内部構成］

以上の説明を踏まえた上で、先行例としての記録装置（記録再生装置１０）の全体的な構成について説明する。
図１１は、記録再生装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図１１において、光学ピックアップＯＰの内部構成については、先の図２に示した構成のうち録再用レーザ１１、レンズ駆動部１６、２軸アクチュエータ２１のみを抽出して示している。

図１１において、記録再生装置１０には、スピンドルモータ４４が設けられる。
スピンドルモータ４４は、ＦＧ（Frequency Generator）モータを備え、バルク型記録媒体１を一定速度（一定回転速度）で回転駆動する。
スピンドルモータ４４は、コントローラ４１からの指示に応じてその回転の開始／停止を行う。

また、記録再生装置１０には、バルク層５を対象とした記録／再生や、記録マークの再生時における対物レンズ２０のフォーカス／トラッキングサーボ制御（つまり録再用レーザ光の反射光に基づく位置制御）を行うための信号処理系として、図中の記録処理部３１、録再光用マトリクス回路３２、再生処理部３３が設けられている。

記録処理部３１には、バルク型記録媒体１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化を施すなどして、バルク型記録媒体１に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。そして、このように生成した記録変調データ列に応じた記録パルス信号ＲＣＰにより、光学ピックアップＯＰ内の録再用レーザ１１の発光駆動を行う。

録再光用マトリクス回路３２は、図２に示した録再光用受光部２３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-rp（出力電流）に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
具体的には、上述した記録変調データ列についての再生信号に相当する高周波信号（以降、再生信号ＲＦと称する）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-rpを生成する。

録再光用マトリクス回路３２にて生成された上記再生信号ＲＦは、再生処理部３３に供給される。
また、フォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpは、録再光用サーボ回路３４に対して供給される。

再生処理部３３は、上記再生信号ＲＦについて２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを復元した再生データを得る。

また、録再光用サーボ回路３４は、マトリクス回路３２から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥ-rp、トラッキングエラー信号ＴＥ-rpに基づきフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpをそれぞれ生成し、これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-rp、トラッキングサーボ信号ＴＳ-rpに基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpに基づき、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することで、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御を行う。
確認のため述べておくと、このような録再用レーザ光の反射光に基づく２軸アクチュエータ２１（対物レンズ２０）のサーボ制御は、再生時において行われるものである。

また、録再光用サーボ回路３４は、再生時に対応してコントローラ４１から為される指示に応じて、トラッキングサーボループをオフとして上記トラッキングコイルにジャンプパルスを与えることでトラックジャンプ動作を実現したり、トラッキングサーボの引き込み制御等も行う。また、フォーカスサーボの引き込み制御等も行う。

また、記録再生装置１０においては、サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、サーボ光用マトリクス回路３５、アドレス検出回路３６、サンプルホールド回路ＳＨ１、サンプルホールド回路ＳＨ２、減算部３７、サーボ光用サーボ回路３８、クロック生成回路３９、selector信号生成・選択部４０、オフセット生成部４２、及び加算部４３が設けられる。
なお、これらの構成のうち、オフセット生成部４２と加算部４３とについては後に改めて説明する。

サーボ光用マトリクス回路３５は、図２に示したサーボ光用受光部２９における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的にこの場合のサーボ光用マトリクス回路３５は、上記複数の受光素子の和信号としてのｓｕｍ信号、及びフォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
図示するようにｓｕｍ信号は、サンプルホールド回路ＳＨ１、サンプルホールド回路ＳＨ２、クロック生成回路３９、及びアドレス検出回路３６に対して供給される。
またフォーカスエラー信号ＦＥ-svはサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。

アドレス検出回路３６は、selector信号生成・選択部４０により後述するようにして生成・選択されるselector信号Ｓ_Adを入力し、該selector信号Ｓ_Adが表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号Ｓ_AdがＨレベルの区間）で上記サーボ光用マトリクス回路３５からのｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報（少なくとも半径位置情報や回転角度位置情報を含む絶対位置情報）を検出する。
ここで、先の図５を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路３６は、上記selector信号Ｓ_Adの立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図５で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路３６で検出されたアドレス情報は、コントローラ４１に対して供給される。

クロック生成回路３９は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図１２は、クロック生成回路３９の内部構成を示している。
図１２において、クロック生成回路３９内にはスライス回路３９Ａ、ｓｕｍ微分回路３９Ｂ、スライス回路３９Ｃ、ＡＮＤゲート回路３９Ｄ、及びＰＬＬ回路３９Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路３９Ａとｓｕｍ微分回路３９Ａとに入力される。スライス回路３９Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路３９Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路３９Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路３９Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路３９Ｄは、上記スライス回路３９Ａからの出力と上記スライス回路３９Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路３９Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路３９Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。

図１１に戻り、クロック生成回路３９により生成されたクロックＣＬＫは、selector信号生成・選択部４０に対して供給される。

selector信号生成・選択部４０は、クロックＣＬＫに基づく各selector信号の生成、及び生成したselector信号のうちの指示されたselector信号の選択出力（図中のselector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_Ad）を行う。

図１３は、selector信号生成・選択部４０の内部構成を示している。
図示するようにselector信号生成・選択部４０には、selector信号生成回路４５、及びselector信号選択回路４６が設けられる。
selector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路４５は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
これら６種のselector信号はselector信号選択回路４６に対して供給される。

selector信号選択回路４６は、selector信号生成回路４５から供給されるselector信号のうちから、コントローラ４１からの選択信号SLCTによってアドレス検出回路３６に対して供給すべきとして指示された位相のselector信号をselector信号Ｓ_Adとして選択出力すると共に、同じく上記選択信号SLCTによって指示される、前述したトラッキングエラー信号の生成手法において必要となる、サーボ対象とするピット列に対しそれぞれ位相差が等しい関係となる各ピット列に対応する位相のselector信号を、selector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2として選択出力する。
なお先の説明からも理解されるように、本例の場合、selector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2については、サーボ対象とするピット列に対してそれぞれ隣接するピット列に対応したselector信号を出力するようにコントローラ４１から指示が為されるものとなる。

selector信号選択回路４６より出力されたselector信号Ｓ_1はサンプルホールド回路ＳＨ１に供給され、selector信号Ｓ_2はサンプルホールド回路ＳＨ２に供給される。

サンプルホールド回路ＳＨ１は、selector信号Ｓ_1により示されるタイミングで、マトリクス回路３５から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算部３７に出力する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ２は、selector信号Ｓ_2により示されるタイミングで、マトリクス回路３５から供給されるｓｕｍ信号の値をサンプルホールドし、その結果を減算部３７に出力する。

減算部３７は、サンプルホールド回路ＳＨ１によるサンプルホールド出力値から、サンプルホールド回路ＳＨ２によるサンプルホールド出力値を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ-svを得る。先の説明からも理解されるように当該トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、サーボ対象として選択したピット列に対するトラッキング誤差を表す信号となる。
図示するようにトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、後述する加算部４３を介してサーボ光用サーボ回路３８に対して供給される。

サーボ光用サーボ回路３８は、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-sv（加算器４３経由後）に基づき、それぞれフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
そして、記録時には、コントローラ４１からの指示に応じて、上記フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svに基づいて、２軸アクチュエータ２１のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動することで、サーボ用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御、及び所要のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実現する。

コントローラ４１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４１は、前述したように予め各層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、録再用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、記録対象とする情報記録層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づき、光学ピックアップＯＰ内のレンズ駆動部１６を駆動することで、バルク層５内の深さ方向における記録位置の選択を行う。

また、コントローラ４１は、先に説明したような記録／再生時の対物レンズ２０のサーボ制御切り替えを実現するための制御も行う。具体的にコントローラ４１は、記録時には、サーボ光用サーボ回路３８に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を指示し、また録再光用サーボ回路３４にはフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を停止するように指示を行う。
一方、再生時には、録再光用サーボ回路３４に対してフォーカス駆動信号ＦＤ-rp、トラッキング駆動信号ＴＤ-rpの出力を指示し、サーボ光用サーボ回路３８に対しては、フォーカス駆動信号ＦＤ-sv、トラッキング駆動信号ＴＤ-svの出力を停止するように指示を行う。

またコントローラ４１は、サーボ光用サーボ回路３８に対するシーク動作制御も行う。すなわち、サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上における所定の目標アドレスに移動させるようにサーボ回路３８に対する指示、及びselector信号生成・選択部４０（selector信号選択回路４６）に対する選択信号SLCTによるselector信号の選択指示を行う。

ここで、この場合におけるシーク動作制御は、大まかには例えば以下のような手順で行われることになる。

１）前述のスライド駆動部を利用した光学ピックアップＯＰ全体の移動による目標アドレス付近への移動
２）サーボ用レーザ光のフォーカスサーボＯＮ
３）ｓｕｍ信号に基づくクロックＣＬＫの生成＆各selector信号の生成
４）任意に選択したselector信号に基づき、任意のピット列を対象としたトラッキングサーボ制御を実行
５）上記４）にてトラッキングサーボがかかることで、アドレス情報（ピット列を識別するための情報）が読めるので、そのアドレスから目標アドレスまでのピット列ジャンプを行う

コントローラ４１は、上記１）２）の動作が実行されるように、サーボ回路３８に対する指示を行う。またコントローラ４１は、上記４）における任意のselector信号の選択のために、選択信号SLCTにより、selector信号生成・選択部４０に対して、予め定められた位相のピット列に対しそれぞれ隣接するピット列の位相に対応するselector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2の選択指示を行う。
またコントローラ４１は、上記５）の動作の実現のために、selector信号Ｓ_Adについて、上記の「予め定められた位相のピット列」（つまりサーボ対象として選択されるピット列）に対応するselector信号の選択指示をselector信号生成・選択部４０に対して行う。
そして、このように指示されたselector信号Ｓ_Adに対応してアドレス検出回路３６が検出したアドレス情報を入力し、該アドレス情報に基づき、目標アドレスまでに要するピット列のジャンプ本数を計算し、該ジャンプ本数分だけピット列ジャンプ動作を実行させるための指示をサーボ回路３８に対して行う。

［1-8．任意記録ピッチの実現手法］

上記により説明した記録再生装置１０の構成によれば、基準面Ｒｅｆに形成された各位相のピット列のうち任意の１つのピット列を対象としたトラッキングサーボを行うことができる。
先行例においては、このような基準面Ｒｅｆ上の１つのピット列に追従するトラッキングサーボを可能とする構成を前提とした上で、以下のような手法によって、任意の記録ピッチの実現を図るものとしている。

図１４は、任意の記録ピッチを実現するための先行例としての具体的な制御手法について説明するための図である。
この図１４では、任意の記録ピッチ（スパイラルピッチ）を実現するためにトラッキングサーボループに対して与えるべきオフセットの波形と、当該オフセットの付与に応じて順次出力されるべきselector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2の遷移と、これらselector信号Ｓ_1,Ｓ_2の遷移に伴うサーボ対象ピット列の順次の切り替え及び上記オフセットの付与によって生じるスポット位置の移動の軌跡との関係を示している。
またこの図１４では、スポットの移動に伴って順次切り替えられるべきselector信号Ｓ_Adの遷移も併せて示している。

ここで、サーボ用レーザ光のスポット位置がディスク上で任意ピッチによるスパイラル形状の奇跡を描くようにするためには、バルク型記録媒体１の回転に伴い移動する照射スポット位置が、半径方向において順次ピット列を跨いでいく（渡っていく）ようにすればよい。すなわち、このようにピット列を渡っていく間隔を、実現したいスパイラルピッチに応じて予め定めておくことで、任意のスパイラルピッチを実現することができる。

このようなスポット位置の移動は、トラッキングサーボループに対してオフセットを付与ことで実現する。具体的には、トラッキングサーボをオンとした状態で、時間経過と共にその値が上昇していくオフセットをトラッキングサーボループに対し与えることで、スポット位置がサーボ対象のピット列から徐々に離間していくようにする。そして、スポット位置がサーボ対象のピット列から或る程度離間したところで、サーボ対象ピット列を外周側に隣接するピット列に切り換えて、同様にトラッキングサーボループに対して時間経過と共に値が上昇するオフセットを与えることで、スポット位置が新たにサーボ対象に切り換えられたピット列から徐々に外周側に離間していくようにする。
このようなトラッキングサーボループに対するオフセットの付与と、サーボ対象ピット列の順次の切り換えとを繰り返し行い、いわば綱渡り的にスポット位置が各ピット列を跨いでいくようにすることで、基準面Ｒｅｆに形成されたピット列のピッチに依らぬピッチでスポット位置がディスク上でスパイラル状の軌跡を描くようにできる。このとき、トラッキングサーボループに与える上記オフセットの傾きの設定により、スパイラルピッチは任意に設定できる。

なお確認のため述べておくと、このようなサーボ対象ピット列の順次の切替とオフセットの付与とによるスポット位置の変位を実現できるのは、基準面Ｒｅｆの構造を図３にて説明した構造として半径方向にピット列を光学限界を超えたピッチで配列できるようにしたことによる。つまり、ピット列を半径方向に光学限界を超えたピッチで配列できなければ、オフセットの付与に伴ってトラッキングサーボが外れてしまうためである。

ところで、任意のスパイラルピッチを実現するにあたり上記のようにサーボ対象のピット列を順次切り替えていくという手法を採る場合、その切り換え位置（タイミング）を隣接ピット列間におけるどの位置とするかを予め定めておく必要がある。本例においては、このようなサーボ対象ピット列の切り換え位置を、隣接ピット列間のちょうど中間点となる位置に設定するものとしている。

ここで、或るスパイラルピッチを実現しようとしたとき、そのスパイラルピッチの実現のためにスポット位置をディスク上のどの位置を通過させていけばよいかは、基準面Ｒｅｆのフォーマットから予め計算により求めておくことができる。つまりこのことからも理解されるように、上記のようなスポット位置が隣接ピット列間の中間点に至る位置は、予め計算によって求めておくことができるものとなる。
本例においては、このようにして予め計算により求められた上記中間点としての位置（どのアドレスブロックの何クロック目）に至ったことに応じて、サーボ対象とするピット列をそれまで対象としていたピット列の外周側に隣接するピット列に切り換える。

また、このように隣接ピット列間の中間点に至るタイミングでサーボ対象ピット列の切り換えを行うことに対応するため、スポット位置を半径方向に変位させるためのオフセットとしては、図１４に示すように上記中間点ごとに極性が変化する波形のものを用いる。ここで、上記中間点となる位置にスポットが位置しているときのオフセット値は、例えばピット列Ａを対象としたサーボ時には「＋ｏｆ_s」、隣接するピット列Ｂを対象としたサーボ時には「−ｏｆ_s」となるので、上記中間点に至るタイミングとしてのサーボ対象ピット列の切り換えタイミングにおいては、上記オフセットの極性を反転させる必要がある。この点から、この場合において与えるべきオフセットの波形は、上記のように鋸歯状波となる。
確認のために述べておくと、このようなオフセットの波形としても、実現しようとするスパイラルピッチの情報と、基準面Ｒｅｆのフォーマットの情報とに基づき予め計算により求めることができるものである。

このような予め定められた鋸歯状波によるオフセットをトラッキングサーボループに対して与えつつ、スポット位置が上記中間点としての予め定められた隣接ピット列間の所定位置に至るタイミングごとに、トラッキングサーボの対象とするピット列をそれまで対象としていたピット列の外周側に隣接するピット列に切り換えるということを繰り返すことで、スポット位置がディスク上で任意ピッチによるスパイラル形状を描くようにスポット位置制御を行うことができる。

ここで、このような先行例としてのスポット位置制御を実現するための各selector信号の選択手法は、図１４に示す通りである。なお図１４では、スポット位置がピット列Ａ→ピット列Ｆ→ピット列Ｅ→ピット列Ｄ→ピット列Ｃ→ピット列Ｂを通過していく様子を示すと共に、この際に順次選択されるべきselector信号Ｓ_1、selector信号Ｓ_2、及びselector信号Ｓ_Adを示している。
図示するように、ここでは、ピット列Ａ−Ｆ間の中間点に相当するタイミングを時点ｔ１とおく。以降、ピット列Ｆ−Ｅ間、ピット列Ｅ−Ｄ間、ピット列Ｄ−Ｃ間、ピット列Ｃ−Ｂ間、ピット列Ｂ−Ａ間のそれぞれの中間点に相当するタイミングは時点ｔ２、ｔ３，ｔ４，ｔ５，ｔ６となる。

時点ｔ１以前の段階では、ピット列Ａをサーボ対象としているので、図のようにselector信号Ｓ_1としてはピット列Ｆに対応する位相のselector信号を、またselector信号Ｓ_2としてはピット列Ｂに対応する位相のselector信号を選択させる。すなわち、サーボ対象のピット列Ａに対してそれぞれ隣接関係となる（位相差が一致する）ピット列Ｆ、ピット列Ｂのselector信号をそれぞれ選択させるものである。
また、selector信号Ｓ_Adについては、サーボ対象であるピット列Ａに対応する位相のselector信号を選択させる。
なお、先の図１１や図１３の説明からも理解されるように、これらselector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_Adの選択指示はコントローラ４１が選択信号SLCTによりselector信号生成・選択部４０（selector信号選択回路４５）に対して行うものである。

時点ｔ１に至ると、サーボ対象ピット列がピット列Ｆに切り替えられるべく、selector信号Ｓ_1としてはピット列Ｅに対応する位相のselector信号、selector信号Ｓ_2としてはピット列Ａに対応する位相のselector信号をそれぞれ選択させる。
またselector信号Ｓ_Adについてはピット列Ｆに対応する位相のselector信号を選択させる。

以降も同様に、切替タイミングとしての時点ｔｎごとに、selector信号Ｓ_1、Ｓ_2についてはサーボ対象とするピット列に隣接するそれぞれのピット列についてのselector信号を選択させ、selector信号Ｓ_Adについてはサーボ対象のピット列のselector信号を選択させる。具体的に、図のように時点ｔ２では「Ｓ_1：Ｄ、Ｓ_2：Ｆ、Ｓ_Ad：Ｅ」、時点ｔ３では「Ｓ_1：Ｃ、Ｓ_2：Ｅ、Ｓ_Ad：Ｄ」時点ｔ４では「Ｓ_1：Ｂ、Ｓ_2：Ｄ、Ｓ_Ad：Ｃ」、時点ｔ５では「Ｓ_1：Ａ、Ｓ_2：Ｃ、Ｓ_Ad：Ｂ」をそれぞれ選択させる。

ここで、図１４中に示すような鋸歯状波によるオフセットの付与は、先の図１１に示した記録再生装置１０において、オフセット生成部４２と加算部４３とが行う。
オフセット生成部４２は、予め計算された所定の傾きを有する鋸歯状波信号を生成し、これを加算部４３に出力する。
加算部４３は、このようにオフセット生成部４２より入力された鋸歯状波信号を、減算部３７から入力されるトラッキングエラー信号ＴＥ-svに対して加算する。
なお、コントローラ４１は、オフセット生成部４２に対して上記鋸歯状波信号の出力停止／開始指示を行う。

ここで、確認のために、図１５により上記で説明した先行例としての位置制御手法を各ピット列のトラッキングエラー信号ＴＥ-svとの対応で表しておく。
図１５において、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆは、それぞれピット列Ａ〜Ｆについてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svであることを表す。なお、これらトラッキングエラーＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形は、照射スポット位置を徐々に外周側に移動させていったときの波形を表すものである。

この場合、ピット列の位相としてはＡ〜Ｆの６種あるので、図のように各トラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ-sv）の位相は６０°ずつずれた関係となる。
上記により説明した先行例としての位置制御手法は、図中の太線で示すように、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ→ＴＥ_Ｆ→ＴＥ_Ｅ→ＴＥ_Ｄ→ＴＥ_Ｃ→ＴＥ_Ｂ→ＴＥ_Ａ・・・の順で、それらのゼロ近傍の区間を順次なぞっていくものであるとして表現することができる。

＜２．実施の形態＞
［2-1．先行例の課題］

上記により説明した先行例によれば、サーボ用レーザ光の照射スポット位置がディスク上で任意ピッチのスパイラル形状を描くようにすることができ、結果、バルク層５における記録ピッチについても任意のピッチとすることができる。

但し、この先行例のように、スパイラル制御のためにトラッキングサーボループに対してオフセットを与えつつ順次サーボ対象ピット列を切り替えていくという手法を採る場合には、上記サーボループに対して与えるオフセットの値は、できるだけ小であることが望ましいこととなる。すなわち、図１５を参照して分かるように、オフセットの値が小であれば、その分、トラッキングエラー信号ＴＥ-svにおけるリニアリティの高い区間を使用してピット列を渡っていくことができ、その結果としてサーボの安定性をより確実なものとすることができるためである。

［2-2．実施の形態の任意ピッチの実現手法］

そこで、本実施の形態では、次の図１６に示されるように、ピット列Ａ〜Ｆの各ピット列間の中間となる位置に対応したトラッキングエラー信号ＴＥ-sv（ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-sv）を生成可能とし、これらハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svも用いて、先行例の場合と同様の位置制御を行う。
具体的に、本例では、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svとして、ピット列Ａ−Ｆ間の中間位置に相当するトラッキングエラー信号ＴＥ_ＡＦ、ピット列Ｆ−Ｅ間の中間位置に相当するトラッキングエラー信号ＴＥ_ＦＥ、ピット列Ｅ−Ｄ間の中間位置に相当するトラッキングエラー信号ＴＥ_ＥＤ、ピット列Ｄ−Ｃ間の中間位置に相当するトラッキングエラー信号ＴＥ_ＤＣ、ピット列Ｃ−Ｂ間の中間位置に相当するトラッキングエラー信号ＴＥ_ＣＢ、ピット列Ｂ−Ａ間の中間位置に相当するトラッキングエラー信号ＴＥ_ＢＡをそれぞれ生成する。
なおこの図では説明の便宜上、図１５に示したトラッキングエラー信号ＴＥ-sv（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆ）との区別を容易とするため、ハーフピッチのトラッキングエラー信号ＴＥ_svのゲインを変えて示している。

ここで、これらハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、以下のような手法で生成することができる。
図１７、図１８は、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成手法について説明するための図である。これら図１７、図１８では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄとピット列Ｅとの間の中間位置上をトレースするようにサーボ用レーザ光のスポットが移動する様子とを示している。

これら図１７、図１８を参照すると、サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ−Ｅ間の中間位置上を正確にトレースしているときには、当該Ｄ−Ｅ間の中間位置に対する位相差がそれぞれ等しいピット列のピット上において、ｓｕｍ信号の値がそれぞれ等しくなることが分かる。
つまり、このことからも理解されるように、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svとしては、所望のピット列間の中間位置（中間位相）を基準として、当該中間位置に対しそれぞれ位相差が等しい関係となる各ピット列のｓｕｍ信号のサンプルホールド値を用いて生成することができる。具体的には、これら中間位置に対する位相差が等しい各ピット列のピット形成位置（ピット形成可能位置）を表すタイミングでそれぞれサンプルホールドしたｓｕｍ信号の値の差分が、上記中間位置についてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svとなる。すなわち上記中間位置をサーボ対象として選択可能とするためのトラッキングエラー信号ＴＥ-svである。

このようなハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svも用いて、サーボ対象位置を或るピット列→これに隣接する中間位置→これに隣接するピット列・・・と交互に切り替えていく。具体的に、例えば先の図１４のようにピット列Ａを対象としたサーボを行っている状態からの遷移で言えば、先ずはピット列Ａ→ピット列Ａ−Ｆ間の中間位置ＡＦへの切り替えを行い、その後も順次、中間位置ＡＦ→ピット列Ｆ→中間位置ＦＥ→ピット列Ｅ→中間位置ＥＤ→ピット列Ｄ→中間位置ＤＣ→ピット列Ｃ→中間位置ＣＢ→ピット列Ｂ→中間位置ＢＡ→ピット列Ａ・・・と切り替えを行っていく。

［2-3．実施の形態の記録装置の構成］

図１９は、実施の形態の記録装置の内部構成について説明するための図である。
実施の形態の記録装置は、先行例としての記録再生装置１０におけるサーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御系の構成を変更したものとなる。このため図１９では、実施の形態の記録装置が備えるサーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御系の構成のみを抽出して示し、光学ピックアップＯＰや録再用レーザ光側の記録／再生系やサーボ系の構成については記録再生装置１０の場合と同様となることから図示は省略している。
なお図１９において、既に先行例において説明済みとなった部分については同一符号を付して説明を省略する。

この図１９と先の図１１とを比較して分かるように、実施の形態の記録装置においては、ｓｕｍ信号をサンプルホールドするサンプルホールド回路として、新たに上述のハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成するためのサンプルホールド回路ＳＨ３とサンプルホールド回路ＳＨ４とが追加される。また、サンプルホールド回路ＳＨ３の出力からサンプルホールド回路ＳＨ４の出力を減算する減算部５１が追加される。

図示するように減算部５１の出力は、セレクタ５２に入力される。またこの場合、減算部３７の出力がセレクタ５２に入力されるようになっている。セレクタ５２は、後述するコントローラ５３からの指示によりこれら減算部３７の出力と減算部５１の出力の何れか一方を選択出力する。
セレクタ５２の出力は、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとして加算部４３に入力される。

また、この場合の記録装置には、図１１に示したselector信号生成・選択部４０に代えて、selector信号生成・選択部５０が設けられる。図２０は、当該selector信号生成・選択部５０の内部構成を示しているが、先の図１３と比較して分かるように、selector信号生成・選択部５０は、selector信号選択回路４６に代えてselector信号選択部５５が設けられた点が異なる。
selector信号選択回路５５は、サンプルホールド回路ＳＨ１に対してselector信号Ｓ_1を、またサンプルホールド回路ＳＨ２に対してselector信号Ｓ_2を、アドレス検出回路３６に対してselector信号Ｓ_Adをそれぞれ出力する点は先行例の場合と同様であるが、この場合はさらに、サンプルホールド回路ＳＨ３に対してselector信号Ｓ_3を、サンプルホールド回路ＳＨ４に対してselector信号Ｓ_4を出力するように構成されている点が異なる。
selector信号選択回路５５は、selector信号生成回路４５が生成する各位相のselector信号のうちから、コントローラ５３が選択信号SLCTによりそれぞれ指示する信号をselector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_3、Ｓ_4、Ｓ_Adとして選択出力する。

コントローラ５３は、先のコントローラ４１と同様に例えばマイクロコンピュータで構成され、記録装置の全体制御を行う。
この場合のコントローラ５３は、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svを用いた任意記録ピッチ実現のための処理として、選択信号SLCTによるselector信号Ｓ_3、selector信号Ｓ_4の選択指示と、セレクタ５２の出力切替制御を行う点とが異なる。

ここで、実施の形態の場合において行われるべきselector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_3、Ｓ_4、Ｓ_Adの選択、及びトラッキングサーボループに与えるべきオフセットとの具体的な関係を、図２１を参照して説明する。
先ず、この図２１では、先の図１４の場合と同様に、各ピット列間の中間点（中間位置）に至るタイミングを時点ｔ１〜時点ｔ６として表している。

ここで、本例では、ピット列を対象とするサーボ状態と、中間位置を対象とするサーボ状態との切り替えを行うタイミングは、それらピット列と中間位置との中間点となるタイミングを設定するものとしている。つまり、例えばサーボ対象位置をピット列Ａから中間位置ＡＦに切り替えるタイミングは、これらピット列Ａと中間位置ＡＦとの中間点となるタイミングとするものである。

このため図２１では、ピット列Ａ→中間位置ＡＦの切り替えタイミングを時点ｔ０．７５と表記し、中間位置ＡＦ→ピット列Ｆ、ピット列Ｆ→中間位置ＦＥ、中間位置ＦＥ→ピット列Ｅ、ピット列Ｅ→中間位置ＥＤ、中間位置ＥＤ→ピット列Ｄ、ピット列Ｄ→中間位置ＤＣ、中間位置ＤＣ→ピット列Ｃ、ピット列Ｃ→中間位置ＣＢ、中間位置ＣＢ→ピット列Ｂ、ピット列Ｂ→中間位置ＢＡ、中間位置ＢＡ→ピット列Ａの各切り替えタイミングをそれぞれｔ１．２５、ｔ１．７５、ｔ２．２５、ｔ２．７５、ｔ３．２５、ｔ３．７５、ｔ４．２５、ｔ４．７５、ｔ５．２５、ｔ５．７５、ｔ６．２５と表記している。

ここで、上記のようにサーボ対象位置の切替タイミングをピット列と中間位置との中間点に設定すれば、スポット位置を半径方向に変位させるために付与すべきオフセットの最大値を最小にできる。

上記のようにサーボ対象位置の切替タイミングをピット列と中間位置との中間点に設定するので、本例においてトラッキングサーボループに対して付与するオフセットの波形としても、図のようにピット列と中間位置との中間点となるタイミングごとにその極性を反転させることになる。
つまりこの場合のオフセット生成部４２は、このようにピット列と中間位置との中間点となるタイミングごとにその極性が反転する鋸歯状波信号を出力するように構成される。
なお、ピット列と中間位置との中間点となるタイミングとしても、実現したいスパイラルピッチの情報と基準面Ｒｅｆのフォーマットの情報とから算出可能なものである。

そして、実施の形態の場合、このようなオフセットの付与を行いつつ、selector信号Ｓ_1、Ｓ_2、Ｓ_3、Ｓ_4、Ｓ_Adについて以下のような切り替えを行う。なお先の説明からも理解されるように、selector信号の選択指示はコントローラ５３がselector信号選択回路５０に対して選択信号SLCTを供給して行うものである。
先ず、selector信号Ｓ_Adについては、この場合も先行例と同様のタイミングで同様の切り替えが行われるようにする。つまり、照射スポットがピット列Ａとピット列Ｆの中間点（つまり中間位置ＡＦ）に至る時点ｔ１において、ピット列Ａについてのselector信号からピット列Ｆについてのselector信号に切り替えが行われるようにする。
以降、中間位置ＦＥに至る時点ｔ２ではＦ→Ｅ、中間位置ＥＤに至る時点ｔ３ではＥ→Ｄ、中間位置ＤＣに至る時点ｔ４ではＤ→Ｃ、中間位置ＣＢに至る時点ｔ５ではＣ→Ｂ、中間位置ＢＡに至る時点ｔ６ではＢ→Ａとなるように、それぞれselector信号Ｓ_Adの選択切り替えが行われるようにする。

また、selector信号Ｓ_1及びselector信号Ｓ_2については、図のように時点ｔ０．７５（ピット列Ａ−中間位置ＡＦの中間点）に至るまでは「Ｓ_1：Ｆ、Ｓ_2：Ｂ」が選択出力されるようにし、時点ｔ０．７５から時点ｔ１．７５（ピット列Ｆ−中間位置ＦＥの中間点）までの間は、「Ｓ_1：Ｅ、Ｓ_2：Ａ」が選択出力されるようにする。
以降、時点ｔ１．７５から時点ｔ２．７５（ピット列Ｅ−中間位置ＥＤの中間点）までの間は「Ｓ_1：Ｄ、Ｓ_2：Ｆ」、時点ｔ２．７５から時点ｔ３．７５（ピット列Ｄ−中間位置ＤＣの中間点）までの間は「Ｓ_1：Ｃ、Ｓ_2：Ｅ」、時点ｔ３．７５から時点ｔ４．７５（ピット列Ｃ−中間位置ＣＢの中間点）までの間は「Ｓ_1：Ｂ、Ｓ_2：Ｄ」、時点ｔ４．７５から時点ｔ５．７５（ピット列Ｂ−中間位置ＢＡの中間点）までの間は「Ｓ_1：Ａ、Ｓ_2：Ｃ」、時点５．７５以降（ピット列Ａ−中間位置ＡＦの中間点までの間）は「Ｓ_1：Ｆ、Ｓ_2：Ｂ」、がそれぞれ選択出力されるようにする。

また、ハーフピッチ側であるselector信号Ｓ_3及びselector信号Ｓ_4については、以下のような選択出力が行われるようにする。
先ず、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成にあたっては、先の説明からも理解されるように、selector信号Ｓ_3、selector信号Ｓ_4として、サーボ対象とする中間位置に対する位相差がそれぞれ等しいピット列のselector信号が選択されるようにすることになる。ここでは一例として、位相差が等しいピット列のselector信号については、図１８に示したようにサーボ対象とする中間位置に対しピット列１．５本分の位相差を有することとなる各ピット列のselector信号を選択する例を挙げる。

図２１において、この場合のselector信号Ｓ_3、selector信号Ｓ_4については、先ず、時点ｔ１．２５（中間位置ＡＦ−ピット列Ｆの中間点）に至るまでの間において、「Ｓ_3：Ｅ、Ｓ_4：Ｂ」が選択出力されるようにしている。
そして、時点ｔ１．２５から時点ｔ２．２５（中間位置ＦＥ−ピット列Ｅの中間点）までの間は「Ｓ_3：Ｄ、Ｓ_4：Ａ」が選択出力されるようにしている。以降、時点ｔ２．２５から時点ｔ３．２５（中間位置ＥＤ−ピット列Ｄの中間点）までの間は「Ｓ_3：Ｃ、Ｓ_4：Ｆ」、時点ｔ３．２５から時点ｔ４．２５（中間位置ＤＣ−ピット列Ｃの中間点）までの間は「Ｓ_3：Ｂ、Ｓ_4：Ｅ」、時点ｔ４．２５から時点ｔ５．２５（中間位置ＣＢ−ピット列Ｂの中間点）までの間は「Ｓ_3：Ａ、Ｓ_4：Ｄ」、時点ｔ５．２５から時点ｔ６．２５（中間位置ＢＡ−ピット列Ａの中間点）までの間は「Ｓ_3：Ｆ、Ｓ_4：Ｃ」、がそれぞれ選択出力されるようにしている。

そして本例では、このようなselector信号の順次の切り替え、及び上述のオフセットの付与が行われる下で、セレクタ５２の切り替え制御を行う。具体的には、図中の破線で囲うように、時点ｔ０．７５までの間は、selector信号Ｓ_1,Ｓ_2により生成されるトラッキングエラー信号ＴＥ-sv（つまり図１９における減算部３７の出力）を選択出力させ、時点ｔ０．７５から時点ｔ１．２５までの間はselector信号Ｓ_3,Ｓ_4により生成されるトラッキングエラー信号ＴＥ-sv（減算部５１の出力）を選択出力させる。
以降も同様に、時点ｔ１．２５、ｔ１．７５、ｔ２．２５、ｔ２．７５、ｔ３．２５、ｔ３．７５、ｔ４．２５、ｔ４．７５、ｔ５．２５、ｔ５．７５、ｔ６．２５としての、それぞれが隣接関係にあるピット列と中間位置との中間点に至るタイミングごとに、セレクタ５２によって減算部３７の出力と減算部５１の出力とを交互に切り替えるようにして出力させる。

このようなセレクタ５２の出力切替制御が上述のselector信号の順次の切り替え（選択）と共に繰り返されることで、トラッキングエラー信号ＴＥ-svについては、ピット列Ａ、中間位置ＡＦ、ピット列Ｆ、中間位置ＦＥ、ピット列Ｅ、中間位置ＥＤ、ピット列Ｄ、中間位置ＤＣ、ピット列Ｃ、中間位置ＣＢ、ピット列Ｂ、中間位置ＢＡ、ピット列Ａ・・・を対象とした信号が順次切り替えて出力されることになり、その結果、これらのピット列、中間位置を順次対象としたトラッキングサーボが行われつつ、上述のオフセットの付与に応じてスポット位置を外周側に徐々に移動させていくというスポット位置制御（任意ピッチによるスパイラルを描くための制御）が行われることになる。

ここで、上記説明からも理解されるように、本例においては、サンプルホールド回路ＳＨとしてＳＨ１とＳＨ２の組だけでなくＳＨ３とＳＨ４の組も設けるものとしている。そして、上述のselector信号Ｓ_1〜Ｓ_4の選択手法からも理解されるように、本例では、サンプルホールド回路ＳＨ１、ＳＨ２に入力されるselector信号Ｓ_1、Ｓ_2（つまりピット列をサーボ対象とするためのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成にあたり選択すべきselector信号）については、ピット列→中間位置の切り替えに応じて、次にサーボ対象に選択されることが予定されているピット列についてのselector信号を予め選択しておくようにし、同様に、サンプルホールド回路ＳＨ３、ＳＨ４に入力されるselector信号Ｓ_3、Ｓ_4（中間位置をサーボ対象とするためのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの生成にあたり選択すべきselector信号）については、中間位置→ピット列の切り替えに応じて、次にサーボ対象として選択されることが予定されている中間位置についてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成するためのselector信号を予め選択しておくようにしている。
このようにすることで、ピット列をサーボ対象とするためのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する側（ＳＨ１,ＳＨ２，減算部３７）では、中間位置がサーボ対象として選択されている期間において、予め次にサーボ対象とされるべきピット列についてのｓｕｍ信号のサンプルホールドを開始しておくことができる。同様に、中間位置をサーボ対象とするためのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する側（ＳＨ３,ＳＨ４,減算部５１）では、ピット列がサーボ対象として選択されている期間に、予め次にサーボ対象とされるべき中間位置についてのｓｕｍ信号のサンプルホールドを開始しておくことができる。
つまりこのことで、サーボ対象位置の切り替えに応じてｓｕｍ信号のサンプルホールドを開始してこれを即座に出力しなければならいということを回避でき、その結果、トラッキングサーボの安定性の向上を図ることができる。

なお、もちろん、上記はサンプルホールド回路ＳＨ１,ＳＨ２,減算部３７の１組のみでトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成し分ける構成を否定するものではない。サンプルホールド回路ＳＨ１,ＳＨ２,減算部３７の１組のみとする場合には、図２１において破線で囲う部分について、Ｓ_3をサンプルホールド回路ＳＨ１に供給されるselector信号Ｓ_1と、Ｓ_4をサンプルホールド回路ＳＨ２に供給されるselector信号Ｓ_2と置き換えて、Ｓ_１とＳ_2とを破線で囲う部分の順番の通りに順次切り替えていけばよい。

以上で説明した実施の形態によれば、ハーフピッチ対応のトラッキングエラー信号ＴＥ-svも併用したスポット位置制御としたことで、サーボループに対して付与すべきオフセットの最大値を先行例の場合よりも小さくすることができる。具体的には、半減することができる。
このようにサーボループに対して付与すべきオフセットの最大値をより小とできることで、トラッキングエラー信号ＴＥ-svにおけるリニアリティのより高い区間を使用することが可能となり、結果、サーボ制御の安定性をより向上できる。ひいては、任意ピッチによるスパイラルを描くための位置制御の安定性向上が図られる。

＜３．変形例＞

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、バルク層５としての記録層において、内周→外周に記録が進行することを前提としたので、外周方向側に沿ってピット列、中間位置の交互の選択が行われるようにしたが、外周→内周に記録が進行する場合には、逆に内周方向側に沿ってピット列、中間位置の交互の選択が行われるようにすればよい。

また、これまでの説明では、記録層に対する記録を行うためのレーザ光の光源と、当該記録層に記録されたマーク列からの反射光を利用して情報再生やトラッキング・フォーカスサーボを行うためのレーザ光の光源とを共通とする構成を例示したが、これら記録のためのレーザ光の光源と情報再生・サーボ制御のための光源とを別々に設けた構成とすることもできる。

また、これまでの説明では言及しなかったが、本例では基準面ＲｅｆにＣＡＶ方式でピット列が記録され、これに対応してバルク型記録媒体１を一定回転速度で回転駆動するようにしているため、この場合における記録層では、外周側となるほど記録密度が疎となってしまう。これを対策するため、例えば半径位置に応じて連続的に記録クロック周波数を変化させるなど、記録密度を一定（或いは一定と見なすことのできる状態）とするための構成を付加することもできる。

また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにおけるピット列をスパイラル状に形成する場合を例示したが、同心円状に形成することもできる。ピット列を同心円状に形成した場合も、任意ピッチのスパイラルを描くための位置制御手法については実施の形態で説明したものと同様でよい。

また、これまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列として、Ａ〜Ｆの計６つを設定するものとし、半径方向においてはこれら６つのパターン（ピット列位相）によるピット列が繰り返し形成されるものとしたが、上記複数のピット列の数は６つに限定されるべきものではなく、より多くの本数、或いはより少ない本数とすることもできる。

また、ピット列における各ピット形成可能位置の区間長は３Ｔ分の区間長とし、またピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も同様の３Ｔ分の長さに設定する（つまりｎ＝６Ｔに設定する）場合を例示したが、これらはあくまで一例を示したものに過ぎない。これら各ピット形成可能位置の区間長、及びピット列形成方向における各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔については、先に挙げた１）２）の条件が満たされるようにして設定されればよいものである。

またこれまでの説明では、それぞれが異なるピット列位相を有する複数のピット列に関して、外周側ほどピット列位相が進み内周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列したが、例えば逆に内周側ほどピット列位相が進み外周側ほどピット列位相が遅れるようにピット列を配列するなど、上記複数のピット列の配列パターンは、ピット列形成方向において光学限界を超えないという条件の下で様々なパターンの設定が可能である。

また、これまでの説明では、本発明において記録対象とする光記録媒体がバルク型の光記録媒体とされる場合を例示したが、本発明としては、バルク層５ではなく、例えば次の図２２に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体６０とする）に対しても好適に適用できる。
図２２において、多層記録媒体６０は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜６１と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜６１は、基板６２上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
ここで、注意すべきは、上記半透明記録膜６１には、ピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体６０としても、スパイラル状又は同心円状の位置案内子は、基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。

このような多層記録媒体６０の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜６１が形成されているため、記録時においても録再用レーザ光の反射光を用いたフォーカス制御を行うことができる。
すなわち、この場合の記録時において、録再用レーザ光についてのフォーカスサーボ制御は、当該録再光用レーザ光の反射光に基づいて可動レンズ１５（レンズ駆動部１６）を駆動することで、記録対象とする半透明記録膜６１に合焦させるようにして行うことになる。
なお、再生時におけるフォーカスサーボ、トラッキングサーボの具体的手法はバルク型記録媒体１を対象とする場合と同様で良い。

また、これまでの説明では、基準面は、記録層の上層側に対して設けるものとしたが、基準面は記録層の下層側に設けることもできる。

またこれまでの説明では、本発明が光記録媒体（記録層）に対する記録及び再生の双方を行う記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明は光記録媒体（記録層）に対する記録のみが可能とされた記録専用装置（記録装置）にも好適に適用できる。

１ バルク型記録媒体、２ カバー層、３ 選択反射膜、Ｒｅｆ 基準面、４ 中間層、５ バルク層、Ｌ マーク形成層位置（情報記録層位置）、１０ 記録再生装置、１１ 録再用レーザ、１２,２５ コリメーションレンズ、１３,２６ 偏光ビームスプリッタ、１４ 固定レンズ、１５ 可動レンズ、１６ レンズ駆動部、１７ ミラー、１８,２７ １／４波長板、１９ ダイクロイックプリズム、２０ 対物レンズ、２１ ２軸アクチュエータ、２２,２８ 集光レンズ、２３ 録再光用受光部、２４ サーボ用レーザ、２９ サーボ光用受光部、３１ 記録処理部、３２ 録再光用マトリクス回路、３３ 再生処理部、３４ 録再光用サーボ回路、３５ サーボ光用マトリクス回路、３６ アドレス検出回路、３７,５１ 減算部、３８ サーボ光用サーボ回路、３９ クロック生成回路、３９Ａ,３９Ｃ スライス回路、３９Ｂ ｓｕｍ微分回路、３９Ｄ ＡＮＤゲート回路、３９Ｅ ＰＬＬ回路、４０,５０ selector信号生成・選択部、４１ コントローラ、４２ オフセット生成部、４３ 加算部、４４ スピンドルモータ、ＳＨ１,ＳＨ２,ＳＨ３,ＳＨ４ サンプルホールド回路、４５ selector信号生成回路、４６,５５ selector信号選択回路、５２ セレクタ、６０ 多層記録媒体、６１ 半透明記録膜、６２ 基板

Claims (6)

1. 基準面と、当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有すると共に、上記基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている光記録媒体に対して、上記記録層に対する記録光としての第１の光と上記基準面からの反射光を得るための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射し且つ、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する光照射・受光部と、
   上記対物レンズを上記半径方向に変位させるトラッキング機構部と、
   上記光照射・受光部が上記第２の光の反射光を受光して得た受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成部と、
   上記クロック生成部により生成されたクロックに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成部と、
   上記基準面に形成された各位相のピット列のうちトラッキングサーボの対象とすべきとして選択されたピット列を対象ピット列、上記基準面に形成された各位相のピット列のそれぞれの中間位置のうちトラッキングサーボの対象とすべきとして選択された中間位置を対象中間位置としたとき、
   上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記対象ピット列に対する位相差がそれぞれ等しい関係となる２つのピット列にそれぞれ対応したタイミング選択信号をピット列選択用タイミング選択信号として選択し、当該ピット列選択用タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて上記受光信号の値をサンプルホールドし、当該サンプルホールドした値の差分を計算することで、上記第２の光の照射スポット位置の上記対象ピット列に対する上記半径方向における位置誤差を表す第１のトラッキング誤差信号を生成する第１のトラッキング誤差信号生成処理と、
   上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記対象中間位置に対する位相差がそれぞれ等しい関係となる２つのピット列にそれぞれ対応したタイミング選択信号をピット列間位置選択用タイミング選択信号として選択し、当該ピット列間位置選択用タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて上記受光信号の値をサンプルホールドし、当該サンプルホールドした値の差分を計算することで、上記第２の光の照射スポット位置の上記対象中間位置に対する上記半径方向における位置誤差を表す第２のトラッキング誤差信号を生成する第２のトラッキング誤差信号生成処理と
   を実行可能に構成されたトラッキング誤差信号生成部と、
   上記トラッキング誤差信号生成部より出力されるトラッキング誤差信号に基づいて上記トラッキング機構部を制御することで、上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御部と、
   上記トラッキングサーボ制御部を含むトラッキングサーボループに対し鋸歯状波によるオフセットの付与を行うオフセット付与部と、
   上記鋸歯状波によるオフセットの極性反転タイミングに応じたタイミングで、上記トラッキング誤差信号生成部による出力が上記第１のトラッキング誤差信号と上記第２のトラッキング誤差信号との間で交互に切り替えられるように制御する制御部と
   を備える記録装置。
2. 上記トラッキング誤差信号生成部は、
   上記ピット列選択用タイミング選択信号を入力する第１のサンプルホールド部と第２のサンプルホールド部と、
   これら第１，第２のサンプルホールド部がサンプルホールドした値の差分を計算して上記第１のトラッキング誤差信号を得る第１の減算部と、
   上記ピット列間位置選択用タイミング選択信号を入力する第３のサンプルホールド部と第４のサンプルホールド部と、
   これら第３，第４のサンプルホールド部がサンプルホールドした値の差分を計算して上記第２のトラッキング誤差信号を得る第２の減算部と、
   上記第１の減算部の出力と上記第２の減算部の出力とを選択出力する選択出力部と
   を有して構成され、
   上記制御部は、
   上記鋸歯状波によるオフセットの極性反転タイミングに応じたタイミングで、上記選択出力部による出力切替制御を行う
   請求項１に記載の記録装置。
3. 上記基準面には、
   個々の上記ピット列上の上記ピットの形成可能位置におけるピットの形成有無のパターンにより、上記個々のピット列ごとに上記光記録媒体上の位置情報が記録されており、
   上記複数のタイミング選択信号のうちから選択されたタイミング選択信号が表すタイミングで上記受光信号の値をサンプルして上記ピットの形成可能位置における上記ピットの形成有無としてのチャネルビット値の判定を行った結果に基づき、上記位置情報を検出する位置情報検出部を備える
   請求項１に記載の記録装置。
4. 上記光照射・受光部は、
   上記記録層としてバルク状態の記録層を有する上記光記録媒体に対して上記第１の光と上記第２の光とを照射する
   請求項１に記載の記録装置。
5. 上記光照射・受光部は、
   上記記録層として深さ方向の複数位置に記録膜が形成された多層構造を有する記録層を有する上記光記録媒体に対して上記第１の光と上記第２の光とを照射する
   請求項１に記載の記録装置。
6. 基準面と、当該基準面とは異なる深さ位置に形成された記録層とを有すると共に、上記基準面において、１周回におけるピットの形成可能位置の間隔が第１の間隔に制限されたピット列がスパイラル状又は同心円状に形成され、半径方向に配列されるピット列において、上記ピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔が所定の第２の間隔ずつずれた位置に設定されて、複数のピット列位相を有するようにされている光記録媒体に対して、上記記録層に対する記録光としての第１の光と上記基準面からの反射光を得るための第２の光とを共通の対物レンズを介して照射し且つ、上記第２の光の上記基準面からの反射光を受光する光照射・受光部と、上記対物レンズを上記半径方向に変位させるトラッキング機構部とを有する記録装置におけるスポット位置制御方法であって、
   上記光照射・受光部が上記第２の光の反射光を受光して得た受光信号に基づき、上記ピットの形成可能位置の間隔に応じたクロックを生成するクロック生成手順と、
   上記クロック生成手順により生成したクロックに基づき、上記光記録媒体に形成された各位相のピット列についての上記ピットの形成可能位置のタイミングをそれぞれ表す複数のタイミング選択信号を生成するタイミング選択信号生成手順と、
   上記基準面に形成された各位相のピット列のうちトラッキングサーボの対象とすべきとして選択されたピット列を対象ピット列、上記基準面に形成された各位相のピット列のそれぞれの中間位置のうちトラッキングサーボの対象とすべきとして選択された中間位置を対象中間位置としたとき、
   上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記対象ピット列に対する位相差がそれぞれ等しい関係となる２つのピット列にそれぞれ対応したタイミング選択信号をピット列選択用タイミング選択信号として選択し、当該ピット列選択用タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて上記受光信号の値をサンプルホールドし、当該サンプルホールドした値の差分を計算することで、上記第２の光の照射スポット位置の上記対象ピット列に対する上記半径方向における位置誤差を表す第１のトラッキング誤差信号を生成する第１のトラッキング誤差信号生成手順と、
   上記複数のタイミング選択信号のうちから、上記対象中間位置に対する位相差がそれぞれ等しい関係となる２つのピット列にそれぞれ対応したタイミング選択信号をピット列間位置選択用タイミング選択信号として選択し、当該ピット列間位置選択用タイミング選択信号が表すそれぞれのタイミングにおいて上記受光信号の値をサンプルホールドし、当該サンプルホールドした値の差分を計算することで、上記第２の光の照射スポット位置の上記対象中間位置に対する上記半径方向における位置誤差を表す第２のトラッキング誤差信号を生成する第２のトラッキング誤差信号生成手順と、
   上記第１又は第２のトラッキング誤差信号に基づき行われるトラッキングサーボのサーボループに対し鋸歯状波によるオフセットの付与を行うと共に、当該オフセットの極性反転タイミングに応じたタイミングで上記第１のトラッキング誤差信号と上記第２のトラッキング誤差信号とを交互に切り替えて入力し、当該入力したトラッキング誤差信号に基づいて上記トラッキング機構部を制御することで上記対物レンズについてのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボ制御手順と
   を有するスポット位置制御方法。

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