JPS60258739A - フオ−カシング誤差検出装置 - Google Patents
フオ−カシング誤差検出装置Info
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- JPS60258739A JPS60258739A JP11417584A JP11417584A JPS60258739A JP S60258739 A JPS60258739 A JP S60258739A JP 11417584 A JP11417584 A JP 11417584A JP 11417584 A JP11417584 A JP 11417584A JP S60258739 A JPS60258739 A JP S60258739A
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- Japan
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- circuit
- error signal
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔、発明の技術分野〕
この発明は、光学式ディスクプレーヤ等における円盤状
記録媒体（以下、ディスクと呼ぶ）に記録された記録ピ
ットより情報を光学的に読み取る光ピツクアップにおい
て、特に、高精度のフォーカシング誤差を検出するため
のフォーカシング誤差検出装置に関するものである。
記録媒体（以下、ディスクと呼ぶ）に記録された記録ピ
ットより情報を光学的に読み取る光ピツクアップにおい
て、特に、高精度のフォーカシング誤差を検出するため
のフォーカシング誤差検出装置に関するものである。
従来、光学式ディスクプレーヤ等においては、ディスク
上に記録されている記録ピットより情報信号を読み出す
ために、光学式の光ピツクアップを用い、情報信号読み
取シ用の光ビームを記録ピットが存在するディスク面上
にフォーカシングし、かつ記録ピットをトラッキングし
て読み取り光を、常にディスク面上の記録ピットに正確
に照射し、この記録ピットよりの反射光を受光する様に
していた。そして、この様な場合に、光ビームを、常に
上記ディスク面上にフォーカシングするため、フォーカ
シングのずれを検知する方法として、非点収差法が知ら
れている。
上に記録されている記録ピットより情報信号を読み出す
ために、光学式の光ピツクアップを用い、情報信号読み
取シ用の光ビームを記録ピットが存在するディスク面上
にフォーカシングし、かつ記録ピットをトラッキングし
て読み取り光を、常にディスク面上の記録ピットに正確
に照射し、この記録ピットよりの反射光を受光する様に
していた。そして、この様な場合に、光ビームを、常に
上記ディスク面上にフォーカシングするため、フォーカ
シングのずれを検知する方法として、非点収差法が知ら
れている。
第１図は従来の非点収差法を用いた光ピツクアップにお
けるフォーカシング誤差検出装置を示す概略構成図であ
る。図において、■は半導体レーザ、２は偏光ビームス
プリッタ、３は１／４波長板、４は対物レンズ、５は円
筒状レンズ、６は光検出器、７は集光点、８はディスク
、９杜トラツク、１０は記録ピット、１１はランドであ
る。上記記録ピントＩＯとランド１１によって記録情報
が形成されている。さて、半導体レーザｌからの発散光
は偏光ビームスプリッタ２ 、 ｌ／４波長板３を通り
対物レンズ４に入射し、この対物レンズ４によりディス
ク８面上の記録ピット１０若しくはランドｌＯ上に集光
される。次に、ディスク８面上よりの反射光は、逆の光
路を通り偏光ビームスプリンタ２により光路が曲げられ
て、円筒状レンズ５を経て光検出器６へ入射される。こ
こで、ｌ／４波長板３の作用は周知の通力であり、詳細
な説明は省略する。
けるフォーカシング誤差検出装置を示す概略構成図であ
る。図において、■は半導体レーザ、２は偏光ビームス
プリッタ、３は１／４波長板、４は対物レンズ、５は円
筒状レンズ、６は光検出器、７は集光点、８はディスク
、９杜トラツク、１０は記録ピット、１１はランドであ
る。上記記録ピントＩＯとランド１１によって記録情報
が形成されている。さて、半導体レーザｌからの発散光
は偏光ビームスプリッタ２ 、 ｌ／４波長板３を通り
対物レンズ４に入射し、この対物レンズ４によりディス
ク８面上の記録ピット１０若しくはランドｌＯ上に集光
される。次に、ディスク８面上よりの反射光は、逆の光
路を通り偏光ビームスプリンタ２により光路が曲げられ
て、円筒状レンズ５を経て光検出器６へ入射される。こ
こで、ｌ／４波長板３の作用は周知の通力であり、詳細
な説明は省略する。
第２図は、第１図のフォーカシング誤差検出装置におけ
る円筒状レンズの作用を示す説明図である。図に示す様
に、円筒状レンズ５を通過した光ビームは、最初は縦長
の楕円ビーム１２となり、次に円形ビーム１３となり、
さらに横長の楕円ビーム１４となる。ここで、上記ディ
スク８と対物レンズ４との距離が変わると、これらの位
置が変化する。今、半導体レーザ１よりの光ビームがデ
ィスク８面上に集光されて焦点が合っている時に、上記
光検出器６を円形ビーム１３となる位置に設定する。
る円筒状レンズの作用を示す説明図である。図に示す様
に、円筒状レンズ５を通過した光ビームは、最初は縦長
の楕円ビーム１２となり、次に円形ビーム１３となり、
さらに横長の楕円ビーム１４となる。ここで、上記ディ
スク８と対物レンズ４との距離が変わると、これらの位
置が変化する。今、半導体レーザ１よりの光ビームがデ
ィスク８面上に集光されて焦点が合っている時に、上記
光検出器６を円形ビーム１３となる位置に設定する。
第３図（ａ）ないしくｃ）は、それぞれ第１図のフォー
カシング誤差検出装置において、光検出器の形状及び光
検出器面」−の入射光パターンを示す図である。図に示
す杼に、光検出器６は、各光検出器６ａ。
カシング誤差検出装置において、光検出器の形状及び光
検出器面」−の入射光パターンを示す図である。図に示
す杼に、光検出器６は、各光検出器６ａ。
６ｂ、６ｃ、６ｄに４分割されておシ、各々は電気的に
独立な光検出器として作用する。１５は差動増幅器であ
る。今、光ビームの焦点が合った場合には、第３図（ｂ
）に示す様に調整しであるので、各光検出器６ａ、６ｂ
、６ｃ、６ｄのそれぞれの出力は等しく、上記差動増幅
器１５の出力は零になる。次に、ディスク８が対物レン
ズ４に近付いた時には、上記光検出器６上の入射光パタ
ーンは、第３図（ａ）に示す様になシ、縦長の楕円とな
る。このため、各光検出器６ａと６ｂの出力の和が、各
光検出器６ｃと６ｄの出力の和よりも大きくなり、上記
差動増幅器１５の出力は正となる。逆に、ディスク８が
対物レンズ４より遠ざかる時には、上記光検出器６上の
入射光パターンは、第３図（ｅ）に示す様になり、横長
の楕円となる。このため、各光検出器６ａと６ｂの出力
の和が、各光検出器６ｃと６ｄの出力の和よりも小さく
なシ、上記差動増幅器１５の出力は急となる。以上述べ
た様に、ディスク８と対物レンズ４との相対的位置関係
により、上記差動増幅器１５の出力が変化し、この出力
電圧をフォーカシング誤差信号として、上記出力電圧が
零となる様に、第１図には図示されない駆動機構により
、機械的に対物レンズ４全動がせば、常にディスク８面
上に半導体Ｖ−ザ１よりの光ビームを集光することがで
きる。
独立な光検出器として作用する。１５は差動増幅器であ
る。今、光ビームの焦点が合った場合には、第３図（ｂ
）に示す様に調整しであるので、各光検出器６ａ、６ｂ
、６ｃ、６ｄのそれぞれの出力は等しく、上記差動増幅
器１５の出力は零になる。次に、ディスク８が対物レン
ズ４に近付いた時には、上記光検出器６上の入射光パタ
ーンは、第３図（ａ）に示す様になシ、縦長の楕円とな
る。このため、各光検出器６ａと６ｂの出力の和が、各
光検出器６ｃと６ｄの出力の和よりも大きくなり、上記
差動増幅器１５の出力は正となる。逆に、ディスク８が
対物レンズ４より遠ざかる時には、上記光検出器６上の
入射光パターンは、第３図（ｅ）に示す様になり、横長
の楕円となる。このため、各光検出器６ａと６ｂの出力
の和が、各光検出器６ｃと６ｄの出力の和よりも小さく
なシ、上記差動増幅器１５の出力は急となる。以上述べ
た様に、ディスク８と対物レンズ４との相対的位置関係
により、上記差動増幅器１５の出力が変化し、この出力
電圧をフォーカシング誤差信号として、上記出力電圧が
零となる様に、第１図には図示されない駆動機構により
、機械的に対物レンズ４全動がせば、常にディスク８面
上に半導体Ｖ−ザ１よりの光ビームを集光することがで
きる。
しかるに、上記した従来のフォーカシング誤差検出装置
では、ディスク８面上の記録ビン）１０によって、フォ
ーカシンク精度が悪くなるという欠点があった。すなわ
ち、第１図Ｑζおい−Ｃ、ディスク８は回転しており、
半導体レーザｌよりの射出光をトラック９上に集光した
とすると、集光スポットがランドｌｌ′ｆｔ照射してい
る時には、鏡面反射された光ビームが光検出器６に入射
する。しかるく、集光スポットが記録ピット１Ｏ１−照
射している時には、この記録ピット１０によって回折さ
れた光ビームが光検出器６に入射するが、この回折光は
集光スポットのトラック９のずれや、記録ピット１０の
長さや、ディスク８の傾斜等によって影１１に受けるた
め、光検出器６上での入射光パターンが合焦点のところ
でも変化し、見掛は上焦点ずれを起こしているという誤
差情報を発生し、これによシ、フォーカシング精度が悪
くなるという欠点かあった。
では、ディスク８面上の記録ビン）１０によって、フォ
ーカシンク精度が悪くなるという欠点があった。すなわ
ち、第１図Ｑζおい−Ｃ、ディスク８は回転しており、
半導体レーザｌよりの射出光をトラック９上に集光した
とすると、集光スポットがランドｌｌ′ｆｔ照射してい
る時には、鏡面反射された光ビームが光検出器６に入射
する。しかるく、集光スポットが記録ピット１Ｏ１−照
射している時には、この記録ピット１０によって回折さ
れた光ビームが光検出器６に入射するが、この回折光は
集光スポットのトラック９のずれや、記録ピット１０の
長さや、ディスク８の傾斜等によって影１１に受けるた
め、光検出器６上での入射光パターンが合焦点のところ
でも変化し、見掛は上焦点ずれを起こしているという誤
差情報を発生し、これによシ、フォーカシング精度が悪
くなるという欠点かあった。
この発明は、上記の様な従来のものの欠点を改善する目
的でなされたもので、光源よりの集光スポットが情報記
録媒体上のピントの存在しない部分のみで反射されて得
られる誤差信号を抽出し、この抽出された誤差信号を平
滑化回路を通すことによりフォーカシング誤差信号を得
る様にすることにより、ピットの部分の影響を排除した
高精度５ のフォーカシング誤差信号を得ることができ
るフｔ：ｔ−ｔ）’／７ケ、え□、−□６４゜アあ、。
的でなされたもので、光源よりの集光スポットが情報記
録媒体上のピントの存在しない部分のみで反射されて得
られる誤差信号を抽出し、この抽出された誤差信号を平
滑化回路を通すことによりフォーカシング誤差信号を得
る様にすることにより、ピットの部分の影響を排除した
高精度５ のフォーカシング誤差信号を得ることができ
るフｔ：ｔ−ｔ）’／７ケ、え□、−□６４゜アあ、。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第４図はこの発明の一実施例であるフォーカシング誤差
検出装置において、ディスクよりの情報信号の変化をピ
ットに対応させて示す図である。図に示される様に、集
光スポットが記録ピット１００部分全照射している時の
情報信号（以下、ＲＦ倍信号呼ぶ）は、記録ピット１０
によって照射光が回折されるため減少し、逆に、上記集
光スポットがランド１１の部分を照射している時は゛、
鏡面反射するためにＲＦ信号２４は増加する。したがっ
て、上記ＲＦ倍信号４を、このＲＦ信号２４が正となる
部分でパルスを発生するコンパレータＩ９に入力すると
、このコンパレータ１９の出力ｕＲＦ信号２４のランド
１１の部分に相当した時にのみパルスを発生するので、
記録ピッ）１０とランド１１０部分を弁別する信号とす
ることができる。
検出装置において、ディスクよりの情報信号の変化をピ
ットに対応させて示す図である。図に示される様に、集
光スポットが記録ピット１００部分全照射している時の
情報信号（以下、ＲＦ倍信号呼ぶ）は、記録ピット１０
によって照射光が回折されるため減少し、逆に、上記集
光スポットがランド１１の部分を照射している時は゛、
鏡面反射するためにＲＦ信号２４は増加する。したがっ
て、上記ＲＦ倍信号４を、このＲＦ信号２４が正となる
部分でパルスを発生するコンパレータＩ９に入力すると
、このコンパレータ１９の出力ｕＲＦ信号２４のランド
１１の部分に相当した時にのみパルスを発生するので、
記録ピッ）１０とランド１１０部分を弁別する信号とす
ることができる。
第５図はこの発明の一実施例であるフォーカシング誤差
検出装置を示すブロック構成図である。
検出装置を示すブロック構成図である。
図において、６は光検出器でオシ、この光検出器６は４
分割された各光検出器６ ａ ＋ ６ ｂ ＋ ６ ｃ
ｒ６ｄより構成される。１６ａは、光検出器６の内の
各光検出器６ａと６ｂのそれぞれの出力を入力し、（ａ
十ｂ）の出力を得る加算回路、１６ｂは、各光検出器６
ｃと６ｄのそれぞれの出力を入力し、（ｃ＋ｄ）の出力
を得る加算回路、１７は、各加算回路１６ａ。
分割された各光検出器６ ａ ＋ ６ ｂ ＋ ６ ｃ
ｒ６ｄより構成される。１６ａは、光検出器６の内の
各光検出器６ａと６ｂのそれぞれの出力を入力し、（ａ
十ｂ）の出力を得る加算回路、１６ｂは、各光検出器６
ｃと６ｄのそれぞれの出力を入力し、（ｃ＋ｄ）の出力
を得る加算回路、１７は、各加算回路１６ａ。
１６ｂの出力を入力し、ＲＦ信号２４を得る加算回路、
１８は各加算回路１６ａ 、 １６ｂの出力よりフォー
カシング誤差信号（ａ＋ｂ ）−（ｃ＋ｄ ）を得るた
めの減算回路である。加算回路１７の出力であるＲＦ信
号２４は、第４図で説明した様に、その一部をコンパレ
ータ１９に入力する。このコンパレータ１９け、ＲＦ信
号２４のランド１１の部分よりの信号にしたがってパル
スを発生する。一方、減算回路１８によって得たフォー
カシング誤差信号全ゲート回路２０に導き、コンパレー
タ１９の出力でサンプリングし、この出力を低域フィル
タ（ＬＰＦ）２１と増幅器２２に入力することによって
、ランドＩＬの部分のみで構成され、記録ピッ）１０の
部分の影響を排除した高精度のフォーカシング誤差信号
２３を得ることができる。
１８は各加算回路１６ａ 、 １６ｂの出力よりフォー
カシング誤差信号（ａ＋ｂ ）−（ｃ＋ｄ ）を得るた
めの減算回路である。加算回路１７の出力であるＲＦ信
号２４は、第４図で説明した様に、その一部をコンパレ
ータ１９に入力する。このコンパレータ１９け、ＲＦ信
号２４のランド１１の部分よりの信号にしたがってパル
スを発生する。一方、減算回路１８によって得たフォー
カシング誤差信号全ゲート回路２０に導き、コンパレー
タ１９の出力でサンプリングし、この出力を低域フィル
タ（ＬＰＦ）２１と増幅器２２に入力することによって
、ランドＩＬの部分のみで構成され、記録ピッ）１０の
部分の影響を排除した高精度のフォーカシング誤差信号
２３を得ることができる。
第６図はこの発明の他の実施例でおるフォーカシング誤
差検出装置を示すブロック構成図である。
差検出装置を示すブロック構成図である。
第６図に示す実施例では、ＲＦ信号２４を微分回路２５
に通すことによシ、記録ピン）１００部分の中心で零と
なり、その前後で負から正に変化する信号を得、また、
ランド１１０部分の中心で零となり、その前後で正から
負に変化する信号を得ている。次に、この信号を、入力
信号が正から釦に変化する時に、パルスを発生する零ク
ロス検出回路２６に入力することにより、記録ビン）１
０の部分とランド１１の部分と全弁別するパルス金得る
様にしたものである。このパルス信号でケート回路２０
全動作させることにより、第５図で説明した様に、記録
ピッ）１００部分の影響を排除した高精度のフォーカシ
ング誤差信号２３を得ることができる。
に通すことによシ、記録ピン）１００部分の中心で零と
なり、その前後で負から正に変化する信号を得、また、
ランド１１０部分の中心で零となり、その前後で正から
負に変化する信号を得ている。次に、この信号を、入力
信号が正から釦に変化する時に、パルスを発生する零ク
ロス検出回路２６に入力することにより、記録ビン）１
０の部分とランド１１の部分と全弁別するパルス金得る
様にしたものである。このパルス信号でケート回路２０
全動作させることにより、第５図で説明した様に、記録
ピッ）１００部分の影響を排除した高精度のフォーカシ
ング誤差信号２３を得ることができる。
なお、上記実施例では、非点収差法を用いてフォーカシ
ング誤差信号を発生する場合について説明したが、ナイ
フェツジ法を用いてフォーカシング誤差信号上発生する
場合でも、同様に適用が可能である３゜ また、上記実施例では、ゲート回路２０と低域フィルタ
２１を組み合わせた回路について説明したが、これに代
えてサンプルホールド回路を用いても良い。
ング誤差信号を発生する場合について説明したが、ナイ
フェツジ法を用いてフォーカシング誤差信号上発生する
場合でも、同様に適用が可能である３゜ また、上記実施例では、ゲート回路２０と低域フィルタ
２１を組み合わせた回路について説明したが、これに代
えてサンプルホールド回路を用いても良い。
この発明は以上説明した様に、光源よりの集光スポット
が情報記録媒体上のピットの存在しない部分のみで反射
されて得られる誤差信号を抽出し、この抽出された誤差
信号を平滑化回路を通すことによシフオーカシング誤差
信号を得る様にしたので、ビットの部分の影響を排除し
た高精度のフォーカシング誤差信号を、極めて容易に、
かつ安定して得られるという優れた効果を奏するもので
ある。
が情報記録媒体上のピットの存在しない部分のみで反射
されて得られる誤差信号を抽出し、この抽出された誤差
信号を平滑化回路を通すことによシフオーカシング誤差
信号を得る様にしたので、ビットの部分の影響を排除し
た高精度のフォーカシング誤差信号を、極めて容易に、
かつ安定して得られるという優れた効果を奏するもので
ある。
第１図は従来の非点収差法を用いた光ピツクアップにお
けるフォーカシング誤差検出装置を示す概略構成図、第
２図は、第１図のフォーカシング誤差検出装置における
円筒状レンズの作用を示す説明図、第３図（ａ）ないし
くｃ）は、それぞれ第１図のフォーカシング誤差検出装
置において、光検出器の形状及び光検出器面上の入射パ
ターンを示す図、第４図はこの発明の一実施例であるフ
ォーカシング誤差検出装置において、ディスクよりの情
報信号の変化をビットに対応させて示す図、第５図はこ
の発明の一実施例であるフォーカシング誤差検出装置を
示すブロック構成図、第６図はこの発明の他の実施例で
あるフォーカシング誤差検出装置を示すブロック構成図
である。 図において、■・・半導体レーザ、２ 偏光ビームスプ
リンタ、３・ｌ／４波長板、４ ・対物レンズ、５・・
円筒状レンズ、６．６ａ〜６ｄ・・光検出器、７・・集
光点、８ ディスク、９・ トラック、ＩＯ９・・記録
ピット、１１ ランド、１２．１４・・楕円ビーム、１
３ ・円形ビーム、１５ ・差動増幅器、１６ａ 、
１６ｂ 、’ １７ ・・・加算回路、１８ 減算回路
、１９ ・コンパレータ、２０・・ゲート回路、２１
・低域フィルタ（ＬＰＦ）、２２・・増幅器、２３・・
・フォーカシング誤差信号、２４−ＲＦ倍信号２５・・
・−微分回路、２６・・零クロス検出回路である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第１図 第２図 （ｂ） 第４図
けるフォーカシング誤差検出装置を示す概略構成図、第
２図は、第１図のフォーカシング誤差検出装置における
円筒状レンズの作用を示す説明図、第３図（ａ）ないし
くｃ）は、それぞれ第１図のフォーカシング誤差検出装
置において、光検出器の形状及び光検出器面上の入射パ
ターンを示す図、第４図はこの発明の一実施例であるフ
ォーカシング誤差検出装置において、ディスクよりの情
報信号の変化をビットに対応させて示す図、第５図はこ
の発明の一実施例であるフォーカシング誤差検出装置を
示すブロック構成図、第６図はこの発明の他の実施例で
あるフォーカシング誤差検出装置を示すブロック構成図
である。 図において、■・・半導体レーザ、２ 偏光ビームスプ
リンタ、３・ｌ／４波長板、４ ・対物レンズ、５・・
円筒状レンズ、６．６ａ〜６ｄ・・光検出器、７・・集
光点、８ ディスク、９・ トラック、ＩＯ９・・記録
ピット、１１ ランド、１２．１４・・楕円ビーム、１
３ ・円形ビーム、１５ ・差動増幅器、１６ａ 、
１６ｂ 、’ １７ ・・・加算回路、１８ 減算回路
、１９ ・コンパレータ、２０・・ゲート回路、２１
・低域フィルタ（ＬＰＦ）、２２・・増幅器、２３・・
・フォーカシング誤差信号、２４−ＲＦ倍信号２５・・
・−微分回路、２６・・零クロス検出回路である。 なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 代理人 大岩増雄 第１図 第２図 （ｂ） 第４図
Claims (3)
- （１） 光源よシの発散光を情報記録媒体上のピットの
列へ集光スポットとして集光し、その反射光を分割光検
知器で受光し、これら受光領域の各出力信号の演算によ
り、前記集光スポットの前記情報記録媒体に対する焦点
ずれをフォーカシング誤差信号として検出するフォーカ
シング誤差検出装置において、前記集光スポットが前記
ピットの存在しない時点における誤差信号全抽出する手
段と、この誤差信号を平滑化する平滑化回路を備え、抽
出された前記誤差信号を前記平滑化回路を通すことによ
り前記フォーカシング誤差信号を得ることを特徴とする
フォーカシング誤差検出装置。 - （２）前記分割光検知器の各出力信号の加算信号によシ
、この加算信号の基準レベルよシ大なる部分でパルスを
発生するコンパレータと、前記誤差信号をサンプリング
するゲート回路と、低域フィルタと、増幅器により、前
記フォーカシング誤差信号を得ることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のフォーカシング誤差検出装置。 - （３） 前記加算信号を微分する微分回路と、この出力
信号の正から負に変化する点における零クロス点を検出
する零クロス検出回路を備え、この零クロス検出回路の
出力によって前記ゲート回路を開閉することを特徴とす
る特許請求の範囲第１項又は第２項記載のフォーカシン
グ誤差検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11417584A JPS60258739A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | フオ−カシング誤差検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11417584A JPS60258739A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | フオ−カシング誤差検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60258739A true JPS60258739A (ja) | 1985-12-20 |
Family
ID=14631051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11417584A Pending JPS60258739A (ja) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | フオ−カシング誤差検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60258739A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009289366A (ja) * | 2008-05-30 | 2009-12-10 | Sony Corp | 光ディスク装置及び補正サーボ制御信号生成方法 |
| US7995439B2 (en) | 2008-04-17 | 2011-08-09 | Sony Corporation | Optical disc apparatus and optical disc replay method |
| US8274875B2 (en) | 2008-05-26 | 2012-09-25 | Sony Corporation | Optical disc device and focus control method |
-
1984
- 1984-06-04 JP JP11417584A patent/JPS60258739A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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