CN101512644A - 具有改善的激光器功率控制(lpc)的光驱 - Google Patents
具有改善的激光器功率控制(lpc)的光驱 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及用于在光学载体或光盘(1)上记录信息的光驱。光驱具有可由控制装置(50,22)控制的辐射源(4),控制装置具有用于阈值电流(I_THR_O)和变化电流(I_delta_O)的校准值。控制装置(50,22)适用于:1)通过施加功率差(delta_P),利用对应的阈值电流(I_THR_O),将变化电流(I_delta_O)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及2)施加重新校准变化电流(I_DEL_1)和已校准阈值电流(I_THR_O)。在光驱运行期间,通过微调或重新适配变化电流进行重新校准。本发明很明显的益处在于可以执行变化电流的重新校准而不会耗费时间或者耗费时间极少。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于在相关光学载体上进行记录的光驱或光学记录装置,该光驱包含用以重新校准用于记录的辐射束(例如激光束)功率电平的装置。本发明还涉及对应的控制装置和对应的方法。
背景技术
在光盘或光学载体上进行光学记录的过程中,对于可重写介质,根据将在光盘或光学载体上写入的数据,施加激光束,以便选择性地使相变材料处于晶态或非晶态。同样地,对于一次性地写入介质,根据将在光盘或光学载体上写入的数据,施加激光束,以便选择性地改变/烧掉/变形(染色)材料。使用含有比其自身信道速率更高频率分量的脉冲形式来驱动激光器。这具有多电平脉冲形式,以达到响应于编码数据,在给定的长度写入一个“标记”或“空白”的目的。通过所谓的写策略将编码数据(也称为不归零数据,NRZ)转换为具有更高时间分辨率和多功率电平的脉冲序列。因此施加的激光束的功率必须以相对高的精度控制,从而在特定光盘上为给定数据集合实施特定的写策略。
通常,通过对来自称为前向传感(FS)的光电二极管的激光束反馈信号进行采样,从而进行激光器功率控制(LPC)。该光电二极管或者定位在激光束的一部分之内,或者可选地,激光束的一部分经由分束装置(比如所谓的漏光棱镜(leaky prism)分束器或者漏光镜(leakymirror))定向到光电二极管。可选地,可以通过在光盘上专用功率校准区域(PCA)中进行测试写入来在相同的区域中进行激光器功率控制(LPC),在相同的区域中还可以执行"最优功率控制(OPC)",但这是一种开环/前馈方法,不如前向传感(FS)控制那样稳定、有效。前向传感控制还可称为前向监视(FM)控制。
在前向传感(FS)方法中,关于激光器功率建立反馈控制环路。因此,反馈控制原则上能够连续监测激光器功率,但由于激光器功率电平太高和/或因所施加的写策略导致激光器功率快速交替,不可能连续地监视实际的激光器功率,因此用于预测激光器在例如更高功率情况下实际性能的多种模型可被应用来弥补前向传感(FS)方法的这种缺点。例如激光器电流和产生的激光功率之间的线性关系,用于激光器功率控制(LPC)的多种解决方案已经在美国专利6,577,655或美国专利申请2004/00552185中公开。
WO2004/105004还公开了一种用于激光器功率控制(LPC)的解决方案,参考图2,其中使用了激光器辐射功率和激光器电流之间的线性关系。由于描述功率和电流之间关系的线性系数(即,电流阈值和电流增量)的偏移,其由于老化和/或变化的温度而引起,因此WO2004/105004提出在光驱使用寿命期间重新校准上述线性系数。具体地,对于至少两个阈值电流而言,所述线性系数或者对于一个相关函数F的更普遍的系数被更新。因此,这种解决方案的缺点在于对于激光器必须找到至少两个不同的阈值,由于激光器的冷却或加热需要用掉大量时间,因而不能在重新校准期间进行读或写。此外,这种重新校准需要使用相当精确的功率计以便获得功率范围之外有效的令人满意的重新校准,所述功率范围对应于施加在重新校准中的至少两个电流阈值。因此,改善后的光驱将会是有益的,特别地,更有效率的和/或更可靠的光驱将会是有益的。
发明内容
因此,本发明优选地寻求以单独的方式或以任何结合的方式来减轻、缓和、或消除上述一个或多个缺点。特别地,可以看出本发明的目的在于提供一种带有激光器功率控制(LPC)的光驱,以解决现有技术中的上述问题。
在本发明的第一方面中,通过提供一种用于在相关光学载体上记录信息的光驱,达到这种目的和其他一些目的,该光驱包含:
辐射源,其被设置成由电流源提供的电流进行供电,
控制装置,其适用于控制所述电流源,该控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流(I_THR_0),在该阈值电流,辐射源以第一预定功率电平(P_1)进行辐射,以及
-变化电流(I_delta_0),对于该变化电流,阈值电流需要被增加,以便使得辐射源能够以第二预定功率电平(P_2)辐射,以及
功率控制装置,其能够获得已发出的辐射的测量的功率电平与已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差(delta_P),
其中控制装置适用于:
1)利用对应的阈值电流(I_THR_0),通过施加功率差(delta_P),将变化电流(I_delta_0)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及
2)施加重新校准变化电流(I_DEL_1)连同已校准阈值电流(I_THR_0)来控制电流源。
因为可以通过微调或重新适配光驱工作期间的变化电流来进行本发明的重新校准,所以本发明特别地而非排外地有利于用于获得能够以有效方式弥补光驱辐射源的特征响应中的偏移的简单而迅速的解决方案。本发明显著的优点在于,与现有技术相比(特别是WO2004/105004),由于重新校准可以在例如光驱写处理期间执行,所以变化电流的重新校准可以被执行而没有耗时或耗时极少。另外,本发明有可能精密微调变化电流,这特别适合于对施加的功率电平的精度和可重复性具有高要求的多个功率电平写策略。这种写策略越来越普遍地应用在光驱领域。
在一个具体实施方式中,控制装置可以更进一步地适用于3),施加重新校准变化电流(I_DEL_1)和已校准阈值电流(I_THR_0)以实现包含多个功率电平的写策略。这样,控制装置可以便于实现现在应用于许多光驱上的具有多电平脉冲序列的写策略。这不同于施加“块写入(block writing)”策略(即没有交变的功率电平)的简单写策略。特别地,本发明的写策略还能够擦除相关载体上的光学可读效果,即删除所谓的"标记"。
有益地,光驱可被适配以便步骤1)中的重新校准或微调与光驱正执行的写处理并行执行。这可以显著地减少在重新校准上花费的时间,因为可以在光驱写信息的同时执行重新校准。
重新校准的步骤1)可在预定重新校准周期(RCP)期间进行,其中用于辐射源的闭环功率控制环临时开路,以便重新校准不受闭环干扰。有益地,重新校准周期(RCP)可更进一步地分成第一子周期(RCP1)和第二子周期(RCP2),在第一子周期中来自功率控制环的任何瞬变值基本上消失,在第二子周期(RCP2)中变化电流(I_DEL_0)被重新校准。
有益地,辐射源的温度在第二子周期(RCP2)期间可以基本保持恒定。这可以证明阈值电流(I_THR_0)没有被重新校准,因为在第二子周期(RCP2)期间可以预期阈值电流几乎不发生变化。下文将进行更进一步的解释。
在一个具体实施方式中,在制造光驱期间,即在装配或生产光驱期间,可将已校准阈值电流(I_THR_0)和/或已校准变化电流(I_DEL_0)存储在控制装置中,使用例如非常精确的功率计来测量已发出的辐射,可以进行校准。然而,由于老化,在光驱使用寿命期间靠后的时间点,该工厂校准可能不是完全正确的。
在另一个具体实施方式中,当处于在先的使用状态下的校准(即,在光驱已被制造出来并进入用户环境之后执行的校准)期间,已校准阈值电流(I_THR_0)和/或已校准变化电流(I_DEL_0)可被存储在控制装置中。这种校准可作为正常使用的整体部分进行,其在光驱正常使用期间以有规律的时间间隔启动和/或由特定事件/事变(incident)启动。特别地,上述在先使用状态下的校准可以包含子步骤:确定对于至少两个不同阈值电流的辐射功率和对应的变化电流。这在WO2004/105004中得到更进一步的解释。
在第二方面,本发明涉及控制装置,该控制装置适用于控制能够在光学载体上进行记录的光驱,该控制装置适用于控制用于对辐射源供电的电流源,控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流(I_THR_0),在该阈值电流,辐射源以第一预定功率电平(P_1)进行辐射,以及
-变化电流(I_delta_0),对于该变化电流,阈值电流需要被增加,以便使得辐射源能够以第二预定功率电平(P_2)辐射,以及
其中控制装置适用于:
1)使用对应的阈值电流(I_THR_0),通过施加已发出的辐射的测量的功率电平和已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差(delta_P),将变化电流(I_delta_0)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及
2)施加重新校准变化电流(I_DEL_1)连同已校准阈值电流(I_THR_0)来控制电流源。
在第三方面,本发明涉及一种用于操作光驱以在光学载体(1)上记录信息的方法,该方法包含步骤:
将来自电流源的电流提供给辐射源(4),
提供适用于控制所述电流源的控制装置(50,22),该控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流(I_THR_0),在该阈值电流,辐射源(4)以第一预定功率电平(P_1)进行辐射,以及
-变化电流(I_delta_0),对于该变化电流,阈值电流需要被增加,以便使得辐射源(4)能够以第二预定功率电平(P_2)辐射,
获得已发出的辐射的测量的功率电平与已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差(delta_P),
使用对应的阈值电流(I_THR_0),通过施加功率差(delta_P),将变化电流(I_delta_0)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及
施加重新校准变化电流(I_DEL_1)连同已校准阈值电流(I_THR_0)来控制电流源。
在第四方面,本发明涉及一种适用于使计算机系统能够根据本发明第三方面控制光驱的计算机程序产品,该计算机系统包含具有与其相关联的数据存储装置的至少一台计算机。
本发明的这个方面特别地而不是排他地具有优势:本发明可通过使计算机系统能够执行本发明第二方面的操作的计算机程序产品来实现。因此,可以想到,通过在计算机系统上安装计算机程序产品来控制所述光学记录装置,可以改变一些已知的光驱来根据本发明进行操作。可在任何种类的计算机可读介质上,例如基于磁性的或光学的介质,或者通过诸如因特网之类的基于计算机的网络,可以提供这种计算机程序产品。
本发明的第一、第二、第三和第四方面每一个可与任何其它方面相结合。参照下文所述的具体实施方式,本发明的这些及其它方面将变得清楚并得以阐明。
附图说明
现在参考附图,仅以举例方式来解释本发明,其中
图1是根据本发明的光学记录装置的具体实施方式的示意图,
图2是两个温度下的辐射源的电流-功率关系图,
图3是显示根据本发明执行的重新校准的示意图,
图4是显示本发明的一个具体实施方式中本发明的定时的示意图,
图5是显示用于激光器的阈值电流和变化电流随着温度变化的图,
图6是三种不同温度下与图3的图类似的图,以及
图7是根据本发明的方法的流程图。
具体实施方式
图1显示根据本发明的光学记录装置或光驱以及光学载体1。载体1是固定的,并由保持装置30旋转。
载体1包含适用于通过辐射束5记录信息的材料。例如,记录材料可以是磁光型、相变型、染色型、诸如铜/硅之类的金属合金或任何其他的适当的材料。信息以光学可检测区域的形式,亦称为用于可重复写入介质的"标记",被记录在光学载体1上。
该装置包含光学头20,有时称为光学读取头(OPU),光学头20可由致动装置21(比如电气步进电机)代替。光学头20包含光电检测系统10、激光器驱动设备30、辐射源4、分束器6、物镜7和能够将透镜7按照载体1的径向和聚焦方向移动的透镜移位装置9。光学头20还包含前向光电传感装置(FS),所述传感装置包含光电检测器40,亦称前向检测监视器(FDM),和放大器41,例如电流-电压变换器(I-V),其带有可度量的电输出信号FS_S,该电输出信号FS_S被传输到处理器50以供更进一步地处理和分析。
前向光电传感装置(FS)的功能在于控制来自辐射源4的已发出的辐射5的功率电平。辐射束5的部分光束39从分束器6导向光电检测器40,以便获得辐射束5的功率测量值。获知分束器6的特征是一个标准程序。可选地,光电检测器40可定位在光束5内部,以便对辐射束4的功率进行更直接的测量。
光电检测系统10的功能在于将从载体1反射的辐射8转换为电信号。这样,光电检测系统10包含若干能够产生一个或多个电输出信号的光电检测器,比如光电二极管、电荷耦合器件(CCD)等等。光电检测器被设置成在相互间存有空隙并且具有充分的时间分辨率,以便能够检测出误差信号,即聚焦误差FE和径向循轨误差RE。聚焦误差FE和径向循轨误差RE信号被传输到处理器50,在处理器50中通过使用PID(比例-积分-微分)控制装置操作的公知的伺服机构被应用于控制辐射束5在载体1上的径向位置和焦点位置。
用于发出辐射束或光束5的辐射源4可以例如是具有可变功率的半导体激光器,可能还具有可变辐射波长。可选地,辐射源4可以包含多于一个激光器。在本发明的背景下,术语"光"被认为是包含任何种类的适用于光学记录和/或再现的电磁辐射,比如可见光、紫外光(UV)、红外光(IR)等。
辐射源4由激光器驱动设备(LD)22控制。激光器驱动器(LD)22包含电子线路装置,特别是响应于从处理器50传输的时钟信号和数据信号NRZ,用于向辐射源4提供控制电流的电流源(未在图1中显示)。处理器50接收来自前向传感装置(FS)的反馈,即FS_S信号,以便估计辐射束5中的实际功率值。如果期望目标功率电平和辐射束5中的实际功率值之间存在偏差,那么处理器50可以向激光器驱动器22和辐射源4产生适当的控制信号,从而校正实际功率电平。这样,就建立起一个反馈控制环路以控制辐射束4的功率。期望目标功率电平和辐射束5中的实际功率值之间的偏差通常定义为功率误差delta_P,并且激光器功率控制环的功能是为了最小化功率误差delta_P,如有可能,则消除功率误差delta_P。在一个具体实施方式中,放大器41可集成到激光器驱动器22中。可选地,放大器41可定位在光学头20外面,可能在处理器50内部或附近。
处理器50接收和分析来自光电检测装置10的信号。如图1示意性所示,处理器50还可以向致动装置21、辐射源4、透镜移位装置9以及旋转装置30输出控制信号。类似地,处理器50可以接收待写入的数据,如61所标示的,并且处理器50可以输出来自读取过程的数据,如60所标示的。尽管在图1中已将处理器50描述为单个单元,但是应当理解,处理器50同样可以是定位在光驱中的多个互连处理单元,其中一些单元可能定位在光学头20中。
图2是以示意方式显示在两个温度T0和T1下对于辐射源的电流-功率关系图。在垂直刻度上给出了辐射源4(即激光器)的功率PLASER。在水平刻度上,给出了由激光器驱动器(LD)22中的电流源提供的电流;ILASER。
如美国专利6,577,655中所进一步解释说明的,可用一个线性方程式来描述阈值电流(ITHR)和激光器的效率(斜率=η)之间的关系,该专利全文通过引用方式包含到本文中。
为了完整起见,给出使阈值电流I_THR和斜率η有关的等式:
其中
η0=在参考温度下的激光器的效率
ηT=在当前温度下的激光器的效率
ITHR_T=在温度T1下的激光器的阈值电流
ITHR_0=在参考温度T0下的激光器的阈值电流
a=用于表示某种类型激光器的特性的无因次数
T0,T1=使激光器分别具有阈值电流ITHR_0、ITHR_T1的温度。注意,温度的绝对值不重要,并且可随着时间和条件而改变。
定义IDEL=(PWRITE-PREAD)/η,等式(1)也可根据下式描述为关于IDEL的等式:
公式(2)表明阈值电流(%Δ-thr)的相对改变将伴随着效率(η)的改变而一起改变,使得所需delta电流的改变是%Δ-del=a*%Δ-thr。
实际上,这依赖于如下假设:可以在电流-功率曲线图上定位一个点,该曲线图对激光器的全部(扩展的)电流-功率斜率给出一个虚交点,如图2中下半部分曲线图中的虚线所标示的。
交点(I_int,P_int)的位置是:
因子“a”是(该类型)激光器的特征。通过调整ITHR_0和η0(≡1/IDEL_0)的值,则有可能找到第一曲线的位置。利用这个曲线和"a"的假设值或实测值,可以计算出虚交点,并且可以预计曲线在其他温度下的位移。
然而,本发明发明人的经验是上述因子"a"和等效对应阈值电流I_THR值和变化电流I_DEL可以在辐射源4老化期间发生改变。因此,存在的优势是在光驱中重新校准这些值。当重新校准时,通过因子"a"达到的更高精度,还存在显著的性能改善。
图3是示意性地显示根据本发明执行的重新校准的曲线图。为了便于实现本发明,控制装置,即处理装置50和激光器驱动器(LD)22内部的控制装置,适用于控制激光器驱动器(LD)22内部的电流源。控制装置具有对于阈值电流I_THR_0的已存储的一个或多个校准值,在阈值电流I_THR_0,辐射源4以第一预定功率电平P_READ辐射。
另外,变化电流I_DEL_0被存储在控制装置中,对于该变化电流I_DEL_0,阈值电流(I_THR)需要被增加,以便使辐射源能够以第二预定功率电平(P_WRITE)辐射。阈值电流I_THR_0和变化电流I_DEL_0的这些值对应于图3中在某一温度T0下的曲线A。
此外,功率控制装置40和41能够获得已发出的辐射5的测量的功率电平和已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差delta_P。
然后,控制装置22和50首先适用于1):使用对应的阈值电流I_THR_0,通过施加功率差delta_P,将变化电流I_DEL_0重新校准为重新校准变化电流I_delta_1。所述功率差delta_P从前向传感装置(FS)40和相关电路中获得。在图3的曲线图中,重新校准对应于改变曲线A的斜率,导致产生曲线B;曲线B具有的变化电流I_DEL_1略小于曲线A的变化电流I_DEL_0。注意,阈值电流I_THR_0没有因为根据本发明的重新校准而被修改。
此外,控制装置22和50其次适用于2)施加重新校准变化电流I_delta_1连同已校准阈值电流I_THR_0,用于控制读或写期间的电流源。然而,本发明的重新校准实际上可以在读或写期间执行或者与其并行执行,因为功率的前向传感监视便于这种预先校准。
在图3中,第一预定功率电平表示为读功率电平P_READ,但情况不必总是如此。类似地,第二预定功率电平表示为写功率电平P_WRITE,但是这也可以是另一种功率电平,比如擦除功率电平。
图4是示意性地显示本发明具体实施方式中本发明的定时的曲线图。在从读R转换到写W的过渡期间,光驱可以在预定重新校准周期RCP期间实现本发明,其中闭环辐射功率控制环是临时开路。这是允许进行重新校准所必需的。
在第一子周期RCP1期间,来自功率控制环的任何瞬变值被允许基本上消失,使得这些瞬变值不影响重新校准。取决于光驱中的具体的光学系统,周期RCP1可以持续大约10微秒。
在第二子周期RCP2期间,变化电流I_DEL_0根据本发明的教导被重新校准。取决于所要求的重新校准的精度,子周期RCP2可以持续大约1毫秒。处理器50的频带宽度也可能影响RCP2的长度。
应当注意,关于图4,重新校准可以与写周期W并行执行。这样,在光驱已经开始写期间W的同时,光驱可以利用已发出的辐射5的功率电平,确定一个或多个功率误差delta_P作为重新校准所需的输入,来同时执行根据本发明的重新校准。
在图4中,重新校准被显示为在写期间W开始时被执行,但是可选地或附加地,根据本发明的重新校准可以在写期间W过程中在有规律的时间间隔执行。例如,重新校准可以在写期间的一半处执行,或者在写期间的其他部分执行。同样地,可以在辐射源4发出预定数量的写脉冲之后有规律地执行重新校准,从而补偿辐射源4的任何偏移。
辐射源4的温度在第二子周期RCP2期间基本上恒定,这至少在某种程度上证明了重新校准的要求是合理的,这种要求是在变化电流从I_DEL_0微调到I_DEL_1期间对应的阈值电流I_THR_0保持恒定。
图5是显示出用于激光器的阈值电流和变化电流随着温度变化的说明性曲线图。在水平刻度上,时间以十秒为单位表示。激光器的温度随时间而增加,因此这个刻度还可以作为激光器温度的量度。在垂直刻度上显示了以任意单位的阈值电流和变化电流。在测量周期的开始的突然升高是测量周期的瞬变值。可以观察到激光器的阈值电流和变化电流随着时间(即,随着激光器温度)增加而平缓地增加。然而,阈值电流和变化电流的改变在秒或者更小的时间刻度上是平缓的。因此,考虑到图5,假定阈值电流I_THR_0在第二子周期RCP2(以及之后一段时间)保持恒定是一种合理的近似。
本领域的技术人员可以想到以多种不同的方式实现图4中所示的定时过程所需的电子线路。因此,在一个具体实施方式中,提供两个计时器,一个计时器用于在RCP期间通过(by-passing)由前向传感(FS)提供的闭环功率控制,而被第一子周期RCP1延迟的另一个计时器启动第二子周期RCP2,在第二子周期中发生根据本发明的重新校准。
图6是分别在T0、T1和T2三种不同温度的类似于图3的曲线图。如温度上方的箭头所示,温度正在增加;T0<T1<T2。对于温度T0和T1,在曲线图下方分别显示出对于温度T0和T1的阈值电流I_THR_T0和I_THR_1。作为根据本发明执行的重新校准的一部分,变化电流分别从I_DEL_T0重新校准到I_DEL_T0”,以及从I_DEL_T1重新校准到I_DEL_T1”。然而,阈值电流没有被本发明修改。不过,用其它方式可将阈值电流I_THR_T0改变为I_THR_T1。一个例子是在WO2004/105004中公开的阈值电流的更新过程。可选地,如果对于光驱的辐射源4因子"a"是已知的或者可以被估计出来,则可以根据公式(1)和(2)按比例确定(scale)出阈值电流。
在图6的实例中,示出了阈值电流随温度而增加。类似地,斜率,即激光器效率η被显示随着温度而降低(因为变化电流I_DEL正在增加)。这是在光学存储中所使用的全部类型的激光器的通常响应,但是本技术领域中还可以看到响应于增加的温度的其他方式。
在阈值电流没有更新的情况下,比如从I_THR_T0到I_THR_1,作为光驱的温度改变(例如从T0到T1),特别是辐射源4的温度改变的结果,本发明仍然可以通过微调变化电流I_DEL,对辐射束5中的功率误差提供一些补偿。因此,本发明的教导可应用于辐射源4的温度(或指示)已知的情况,还可以应用于不精确知道辐射源4的温度的情况。
虽然,当辐射源4关于功率-电流响应以基本线性的方式进行响应时,本发明当然的获得最好的有益效果,但是,如果辐射源4的功率电流响应显示出非线性行为,比如因为过热和/或故障,那么本发明仍可以在某种程度上为这种非线性行为提供补偿。
图7是根据本发明的方法的流程图。该方法包含步骤:
S1将来自电流源的电流提供给辐射源4,
S2提供适用于控制电流源的控制装置50和22,控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流I_THR_0,在该阈值电流,辐射源4以第一预定功率电平P_1进行辐射,以及
-变化电流I_delta_0,对于变化电流,该阈值电流需要增加,以便使得辐射源4能够以第二预定功率电平P_2辐射,
S3获得已发出的辐射的测量的功率电平与已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差delta_P,
S4使用对应的阈值电流I_THR_0,通过施加功率差delta_P,,将变化电流I_delta_0重新校准为重新校准变化电流I_delta_1,以及
S5施加重新校准变化电流I_DEL_1连同已校准阈值电流I_THR_0用于控制电流源。
虽然已经通过特定的具体实施方式对本发明进行了描述,但是并不意味着本发明限制于本文所述的具体形式。相反,本发明的范围仅仅由所附的权利要求限定。在权利要求书中,术语"包含"不排除存在其他的元件或步骤。此外,虽然单个的特征可能包含在不同的权利要求中,但是这些特征有可能进行有益的合并,并且被包含在不同权利要求中并不意味着特征的合并是不可行的和/或不是有利的。此外,以单个的引用并不排除多数的情况。因此,"一"、"一个"、"第一"、"第二"等不排除多个。此外,权利要求中的附图标记将不会被理解成对其范围的限制。
Claims (13)
1.一种用于在相关光学载体(1)上记录信息的光驱,该光驱包含:
辐射源(4),其被设置成由电流源提供的电流供电,
控制装置(50,22),其适用于控制所述电流源,该控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流(I_THR_0),在该阈值电流,所述辐射源(4)以第一预定功率电平(P_1)进行辐射,以及
-变化电流(I_delta_0),对于该变化电流,阈值电流需要被增加,以便使得辐射源(4)能够以第二预定功率电平(P_2)辐射,以及
功率控制装置(40,41,50),其能够获得已发出的辐射的测量的功率电平与已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差(delta_P),
其中所述控制装置(50,22)适用于:
1)使用对应的阈值电流(I_THR_0),通过施加功率差(delta_P),将变化电流(I_delta_0)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及
2)施加重新校准变化电流(I_DEL_1)连同已校准阈值电流(I_THR_0)用于控制电流源。
2.根据权利要求1的光驱,其中所述控制装置(50,22)更进一步地适用于3)施加所述重新校准变化电流(I_DEL_1)和已校准阈值电流(I_THR_0)以实现包含多个功率电平的写策略。
3.根据权利要求2的光驱,其中所述写策略还能够擦除所述相关载体(1)上的光学可读效果。
4.根据权利要求1的光驱,其中所述光驱可适配成使得步骤1)中的重新校准与光驱正执行的写处理并行执行。
5.根据权利要求1或4的光驱,其中步骤1)中的重新校准在预定重新校准周期(RCP)期间执行,在重新校准周期中闭环功率控制环临时开路。
6.根据权利要求5的光驱,其中所述的重新校准周期(RCP)包含第一子周期(RCP1)和第二子周期(RCP2),在第一子周期中允许来自功率控制环的任何瞬变值基本消失,在第二子周期(RCP2)中所述变化电流(I_DEL_0)被重新校准。
7.根据权利要求6的光驱,其中所述辐射源(4)的温度在所述第二子周期(RCP2)期间基本保持恒定。
8.根据权利要求1的光驱,已校准阈值电流(I_THR_0)和/或已校准变化电流(I_DEL_0)其中在光驱制造期间被存储在所述控制装置(50,22)中。
9.根据权利要求1的光驱,其中已校准阈值电流(I_THR_0)和/或已校准变化电流(I_DEL_0)在在先的使用状态下的校准期间被存储在控制装置(50,22)中。
10.根据权利要求8的光驱,其中所述在先的使用状态下的校准包含子步骤:确定用于至少两个不同的阈值电流的辐射功率和对应的变化电流。
11.控制装置(50,22),其适用于控制能够在光学载体(1)上进行记录的光驱,所述控制装置适用于控制用于对辐射源(4)供电的电流源,该控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流(I_THR_0),在该阈值电流,辐射源(4)以第一预定功率电平(P_1)进行辐射,以及
-变化电流(I_delta_0),对于该变化电流,阈值电流需要被增加,以便使得辐射源能够以第二预定功率电平(P_2)辐射,以及
其中所述控制装置适用于:
1)使用对应的阈值电流(I_THR_0),通过施加已发出的辐射(5)的测量的功率电平和已发出的辐射(5)的目标功率电平之间的功率差(delta_P),将变化电流(I_delta_0)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及
2)施加重新校准变化电流(I_DEL_1)连同已校准阈值电流(I_THR_0)来控制电流源。
12.一种用于操作光驱以在光学载体(1)上记录信息的方法,该方法包含步骤:
将来自电流源的电流提供给辐射源(4),
提供适用于控制所述电流源的控制装置(50,22),所述控制装置具有对于如下内容的存储的校准值:
-阈值电流(I_THR_0),在该阈值电流,辐射源(4)以第一预定功率电平(P_1)进行辐射,以及
-变化电流(I_delta_0),对于该变化电流,阈值电流需要被增加,以便使得所述辐射源(4)能够以第二预定功率电平(P_2)辐射,
获得已发出的辐射的测量的功率电平与已发出的辐射的目标功率电平之间的功率差(delta_P),
使用对应的阈值电流(I_THR_0),通过施加功率差(delta_P),将变化电流(I_delta_0)重新校准为重新校准变化电流(I_delta_1),以及
施加重新校准变化电流(I_DEL_1)连同已校准阈值电流(I_THR_0)来控制电流源。
13.一种计算机程序产品,其适用于使包含至少一个计算机的计算机系统能够控制根据权利要求12的光驱,其中所述计算机具有与其相关联的数据存储装置。
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