JP2003317276A - 光ディスク装置及びフォーカスバイアス調整方法 - Google Patents
光ディスク装置及びフォーカスバイアス調整方法Info
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- JP2003317276A JP2003317276A JP2002123518A JP2002123518A JP2003317276A JP 2003317276 A JP2003317276 A JP 2003317276A JP 2002123518 A JP2002123518 A JP 2002123518A JP 2002123518 A JP2002123518 A JP 2002123518A JP 2003317276 A JP2003317276 A JP 2003317276A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フォーカスバイアス調整中にトラッキングサ
ーボ外れを起こさないように、設定するフォーカスバイ
アス値を制限する。 【解決手段】 フォーカスエラー信号を所定のレベル以
下の範囲とするとともに、トラッキングエラー信号を所
定のレベル以上の範囲に設定する手段を設けて、フォー
カスサーボは閉じ、トラッキングサーボループは閉じな
い状態で、フォーカスバイアス値の範囲を設定する第1
のフォーカスバイアス調整手段と、フォーカスサーボと
トラッキングサーボループが閉じた状態で、所定のジッ
タ量、あるいは、所定の再生信号等を満足するフォーカ
スバイアス値を検出する第2のフォーカスバイアス調整
手段を設ける。
ーボ外れを起こさないように、設定するフォーカスバイ
アス値を制限する。 【解決手段】 フォーカスエラー信号を所定のレベル以
下の範囲とするとともに、トラッキングエラー信号を所
定のレベル以上の範囲に設定する手段を設けて、フォー
カスサーボは閉じ、トラッキングサーボループは閉じな
い状態で、フォーカスバイアス値の範囲を設定する第1
のフォーカスバイアス調整手段と、フォーカスサーボと
トラッキングサーボループが閉じた状態で、所定のジッ
タ量、あるいは、所定の再生信号等を満足するフォーカ
スバイアス値を検出する第2のフォーカスバイアス調整
手段を設ける。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスクド装置及
びフォーカスバイアス設定方法に係り、特に、フォーカ
スバイアスの調整技術に関する。
びフォーカスバイアス設定方法に係り、特に、フォーカ
スバイアスの調整技術に関する。
【0002】
【従来の技術】CDやDVD等の光ディスクの再生装置
(以下、光ディスク装置)では、光ディスクのデータ記
録面に対して、レーザー光を照射し、その戻り光による
再生信号を元にデータ記録面に記録されているデータを
読み出している。また、光ディスク装置は、光ディスク
のデータ記録面より適切な再生信号を得るために、レー
ザー光の焦点を光ディスクのデータ記録面上に合わせる
必要がある。そのため、光ディスク装置は対物レンズと
データ記録面との距離を合焦状態に保つため、フォーカ
スサーボ、及び、光ディスクの半径方向に並ぶデータ列
(以下、トラック)を追従するためのトラッキングサーボ
を備えており、各々フォーカスエラー信号とトラッキン
グエラー信号を用いて制御している。
(以下、光ディスク装置)では、光ディスクのデータ記
録面に対して、レーザー光を照射し、その戻り光による
再生信号を元にデータ記録面に記録されているデータを
読み出している。また、光ディスク装置は、光ディスク
のデータ記録面より適切な再生信号を得るために、レー
ザー光の焦点を光ディスクのデータ記録面上に合わせる
必要がある。そのため、光ディスク装置は対物レンズと
データ記録面との距離を合焦状態に保つため、フォーカ
スサーボ、及び、光ディスクの半径方向に並ぶデータ列
(以下、トラック)を追従するためのトラッキングサーボ
を備えており、各々フォーカスエラー信号とトラッキン
グエラー信号を用いて制御している。
【0003】フォーカスサーボの基本的な動作は、ピッ
クアップ内のフォーカスレンズを光ディスクの接離方向
に駆動して、光ディスクで反射されたレーザー光をピッ
クアップ内のフォトディテクタで電気信号に変換してフ
ォーカスエラー信号として取り出し、フォーカスエラー
信号レベルが0となる状態を光ディスクの記録面上にお
けるレーザー光の合焦点としている。しかし、実際の光
ディスク装置においては、フォーカスエラー信号レベル
が0となる合焦点で最適再生信号値を得るとは限らない
場合が発生する。このため、フォーカスサーボループ中
に任意の電気的なオフセットを注入(以下、フォーカス
バイアスと呼ぶ)することで、データ記録面とフォーカ
スレンズとの距離を任意に変化させる手段を備えてい
る。フォーカスエラー信号レベルがオフセットする理由
は、対物レンズが自重で下がることや、光学系に問題が
あり、これを自動的に補正するため等が原因と考えられ
る。
クアップ内のフォーカスレンズを光ディスクの接離方向
に駆動して、光ディスクで反射されたレーザー光をピッ
クアップ内のフォトディテクタで電気信号に変換してフ
ォーカスエラー信号として取り出し、フォーカスエラー
信号レベルが0となる状態を光ディスクの記録面上にお
けるレーザー光の合焦点としている。しかし、実際の光
ディスク装置においては、フォーカスエラー信号レベル
が0となる合焦点で最適再生信号値を得るとは限らない
場合が発生する。このため、フォーカスサーボループ中
に任意の電気的なオフセットを注入(以下、フォーカス
バイアスと呼ぶ)することで、データ記録面とフォーカ
スレンズとの距離を任意に変化させる手段を備えてい
る。フォーカスエラー信号レベルがオフセットする理由
は、対物レンズが自重で下がることや、光学系に問題が
あり、これを自動的に補正するため等が原因と考えられ
る。
【0004】このフォーカスバイアス値の最適化を行な
う調整をフォーカスバイアス調整と呼び、再生信号振幅
が最大となり、ジッタ量、データ誤り率等が最小となる
値を求めている。フォーカスバイアス調整方法として
は、例えば、特開2000−90451号公報では、装
填された光ディスクのテスト記録領域に対して、通常記
録レーザパワーよりも低いレーザパワーで、かつ、適当
に設定されたフォーカスバイアス範囲内でフォーカスバ
イアス値を逐次変更しながら記録し、再生時のジッタ最
良点からフォーカスバイアス設定値を得ている。また、
特開2001−84608号公報では、装置内部の温度
上昇等によるフォーカスバイアス設定値のずれ補正手段
として、装填された光ディスクに対して、ジッタ量を最
良化するフォーカスバイアス設定値を求めるとともに、
設定値と異なるフォーカスバイアス値におけるジッタ量
を測定してメモリーに蓄積し、定期的に前記フォーカス
バイアス値におけるジッタ量変化をチェックし、ジッタ
量の変化に応じて、フォーカスバイアス設定値に補正を
加えている。
う調整をフォーカスバイアス調整と呼び、再生信号振幅
が最大となり、ジッタ量、データ誤り率等が最小となる
値を求めている。フォーカスバイアス調整方法として
は、例えば、特開2000−90451号公報では、装
填された光ディスクのテスト記録領域に対して、通常記
録レーザパワーよりも低いレーザパワーで、かつ、適当
に設定されたフォーカスバイアス範囲内でフォーカスバ
イアス値を逐次変更しながら記録し、再生時のジッタ最
良点からフォーカスバイアス設定値を得ている。また、
特開2001−84608号公報では、装置内部の温度
上昇等によるフォーカスバイアス設定値のずれ補正手段
として、装填された光ディスクに対して、ジッタ量を最
良化するフォーカスバイアス設定値を求めるとともに、
設定値と異なるフォーカスバイアス値におけるジッタ量
を測定してメモリーに蓄積し、定期的に前記フォーカス
バイアス値におけるジッタ量変化をチェックし、ジッタ
量の変化に応じて、フォーカスバイアス設定値に補正を
加えている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、DVD−RA
Mディスクでは、上記フォーカスバイアス調整の際、ト
ラッキングエラー信号の振幅が小さくなり、トラッキン
グサーボが不安定となってトラッキングサーボ外れが発
生し、フォーカスバイアス調整が不可能になるばかりで
なく、フォーカスサーボ自体も外れるケースが生じる。
この問題が発生すると、トラッキングサーボやフォーカ
スサーボ各々のサーボ引き込み動作が必要となり、光デ
ィスク装置に光ディスクを入れてから再生するまで長時
間化する問題があった。
Mディスクでは、上記フォーカスバイアス調整の際、ト
ラッキングエラー信号の振幅が小さくなり、トラッキン
グサーボが不安定となってトラッキングサーボ外れが発
生し、フォーカスバイアス調整が不可能になるばかりで
なく、フォーカスサーボ自体も外れるケースが生じる。
この問題が発生すると、トラッキングサーボやフォーカ
スサーボ各々のサーボ引き込み動作が必要となり、光デ
ィスク装置に光ディスクを入れてから再生するまで長時
間化する問題があった。
【0006】図2はフォーカスエラー信号の波形図であ
り、ピックアップ内のフォーカスレンズを光ディスクの
接離方向に駆動させた場合、光ディスク記録面上の合焦
点近傍範囲におけるフォーカスエラー信号振幅の様子を
示す。b点〜c点の間にてレーザー光が光ディスクの記
録面上で合焦し、a点以前、a点〜b点間、c点〜d点
間、d点以降では、光ディスクの記録面上にレーザー光
は合焦せず、フォーカスサーボは外れる。このフォーカ
スエラー信号振幅値は、光ディスクの製造上の問題また
は、汚れ具合等により光ディスク毎に異なる他、経時劣
化、環境変化の影響も受ける為、予め設定したフォーカ
スバイアス範囲では合焦位置からはずれるケースがあ
る。また、最適な再生信号を得るフォーカスバイアス値
も、使用する光ディスク毎や、光ディスク装置によって
異なることが知られている。
り、ピックアップ内のフォーカスレンズを光ディスクの
接離方向に駆動させた場合、光ディスク記録面上の合焦
点近傍範囲におけるフォーカスエラー信号振幅の様子を
示す。b点〜c点の間にてレーザー光が光ディスクの記
録面上で合焦し、a点以前、a点〜b点間、c点〜d点
間、d点以降では、光ディスクの記録面上にレーザー光
は合焦せず、フォーカスサーボは外れる。このフォーカ
スエラー信号振幅値は、光ディスクの製造上の問題また
は、汚れ具合等により光ディスク毎に異なる他、経時劣
化、環境変化の影響も受ける為、予め設定したフォーカ
スバイアス範囲では合焦位置からはずれるケースがあ
る。また、最適な再生信号を得るフォーカスバイアス値
も、使用する光ディスク毎や、光ディスク装置によって
異なることが知られている。
【0007】本発明の目的は、フォーカスバイアス調整
の失敗が無く正常に調整が行なえるようして、光ディス
クを挿入してから再生するまでの時間を安定にするフォ
ーカスバイアス調整技術を提供することにある。
の失敗が無く正常に調整が行なえるようして、光ディス
クを挿入してから再生するまでの時間を安定にするフォ
ーカスバイアス調整技術を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、フォーカスエラー信号を所定のレベル以
下の範囲とするとともに、トラッキングエラー信号を所
定のレベル以上の範囲にてフォーカスバイアス調整を行
なう。
成するために、フォーカスエラー信号を所定のレベル以
下の範囲とするとともに、トラッキングエラー信号を所
定のレベル以上の範囲にてフォーカスバイアス調整を行
なう。
【0009】特に、図2に示すフォーカスエラー信号の
最小値b点と最大値c点の間にてレーザー光が光ディス
クの記録面上で合焦し、フォーカスサーボループが安定
することに着目し、光ディスク装填時にフォーカスエラ
ー信号レベルを測定し、b点とc点間より狭いフォーカ
スエラー信号レベル範囲にてフォーカスバイアス調整を
行なう。
最小値b点と最大値c点の間にてレーザー光が光ディス
クの記録面上で合焦し、フォーカスサーボループが安定
することに着目し、光ディスク装填時にフォーカスエラ
ー信号レベルを測定し、b点とc点間より狭いフォーカ
スエラー信号レベル範囲にてフォーカスバイアス調整を
行なう。
【0010】第1の発明では、フォーカスバイアス調整
方法は、フォーカスサーボはオン、トラッキングサーボ
はオフの状態で所定のトラッキングエラー信号振幅値を
満足することができるフォーカスバイアス範囲を検出す
るフォーカスバイアス検出ステップと、フォーカスサー
ボとトラッキングサーボの両方をオンさせた状態で、前
記検出されたフォーカスバイアス範囲内において、所定
のジッタ量、所定の再生信号振幅、あるいは所定のデー
タ誤り率を満足するフォーカスバイアス値を設定するフ
ォーカスバイアス設定ステップとを備える。
方法は、フォーカスサーボはオン、トラッキングサーボ
はオフの状態で所定のトラッキングエラー信号振幅値を
満足することができるフォーカスバイアス範囲を検出す
るフォーカスバイアス検出ステップと、フォーカスサー
ボとトラッキングサーボの両方をオンさせた状態で、前
記検出されたフォーカスバイアス範囲内において、所定
のジッタ量、所定の再生信号振幅、あるいは所定のデー
タ誤り率を満足するフォーカスバイアス値を設定するフ
ォーカスバイアス設定ステップとを備える。
【0011】第2の発明は、第1の発明において、前記
フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアスが無い
場合のトラッキングエラー信号の振幅値に所定の割合を
乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値以上のトラ
ッキングエラー信号振幅が得られるフォーカスバイアス
である。
フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアスが無い
場合のトラッキングエラー信号の振幅値に所定の割合を
乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値以上のトラ
ッキングエラー信号振幅が得られるフォーカスバイアス
である。
【0012】第3の発明では、光ディスク装置は、光デ
ィスクに対してレーザー光を収束させ、前記レーザー光
の焦点位置にオフセットを与えるフォーカスバイアス設
定を行なうフォーカスサーボと、光ディスク上のトラッ
クを追従するトラッキングサーボを有する光ディスク装
置であって、フォーカスサーボはオンさせ、トラッキン
グサーボはオフした状態で、所定のトラッキングエラー
信号振幅値を満足するフォーカスバイアス範囲を検出す
るフォーカスバイアス検出手段と、フォーカスサーボと
トラッキングサーボの両方をオンさせた状態で、前記検
出されたフォーカスバイアスの範囲内で、所定のジッタ
量、所定の再生信号振幅、あるいは所定のデータ誤り率
を満足するフォーカスバイアス値を設定するフォーカス
バイアス設定手段とを備える。
ィスクに対してレーザー光を収束させ、前記レーザー光
の焦点位置にオフセットを与えるフォーカスバイアス設
定を行なうフォーカスサーボと、光ディスク上のトラッ
クを追従するトラッキングサーボを有する光ディスク装
置であって、フォーカスサーボはオンさせ、トラッキン
グサーボはオフした状態で、所定のトラッキングエラー
信号振幅値を満足するフォーカスバイアス範囲を検出す
るフォーカスバイアス検出手段と、フォーカスサーボと
トラッキングサーボの両方をオンさせた状態で、前記検
出されたフォーカスバイアスの範囲内で、所定のジッタ
量、所定の再生信号振幅、あるいは所定のデータ誤り率
を満足するフォーカスバイアス値を設定するフォーカス
バイアス設定手段とを備える。
【0013】第4の発明では、第3の発明において、前
記フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアス無し
の状態におけるトラッキングエラー信号の振幅値に、任
意の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値
以上が得られるフォーカスバイアスである。
記フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアス無し
の状態におけるトラッキングエラー信号の振幅値に、任
意の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値
以上が得られるフォーカスバイアスである。
【0014】第5の発明では、第3の発明において、フ
ォーカスバイアス範囲を検出するフォーカスバイアス検
出手段は、フォーカスサーボとトラッキングサーボをオ
フした状態で、前記光ディスクに対するレーザー光の収
束位置とその近傍におけるフォーカスエラー信号を測定
して記憶する手段と、フォーカスサーボをオンし、トラ
ッキングサーボをオフした状態で、フォーカスバイアス
が無い場合におけるトラッキングエラー信号振幅値を測
定して記憶する手段とを備え、前記フォーカスエラー信
号の最大値と最小値の間にある振幅中心を含み、かつ、
前記最大値と前記最小値より狭い任意のフォーカスエラ
ー信号値の範囲で、前記トラッキングエラー信号振幅値
より小さな任意のトラッキングエラー信号値が得られる
フォーカスバイアスを検出する。
ォーカスバイアス範囲を検出するフォーカスバイアス検
出手段は、フォーカスサーボとトラッキングサーボをオ
フした状態で、前記光ディスクに対するレーザー光の収
束位置とその近傍におけるフォーカスエラー信号を測定
して記憶する手段と、フォーカスサーボをオンし、トラ
ッキングサーボをオフした状態で、フォーカスバイアス
が無い場合におけるトラッキングエラー信号振幅値を測
定して記憶する手段とを備え、前記フォーカスエラー信
号の最大値と最小値の間にある振幅中心を含み、かつ、
前記最大値と前記最小値より狭い任意のフォーカスエラ
ー信号値の範囲で、前記トラッキングエラー信号振幅値
より小さな任意のトラッキングエラー信号値が得られる
フォーカスバイアスを検出する。
【0015】第6の発明では、第5の発明において、前
記フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアス無し
の状態におけるトラッキングエラー信号の振幅値に、任
意の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値
以上が得られるフォーカスバイアスである。
記フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアス無し
の状態におけるトラッキングエラー信号の振幅値に、任
意の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値
以上が得られるフォーカスバイアスである。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につい
て、実施例を用い、図を参照して説明する。図3は本発
明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図で
ある。図において、ピックアップ2は、スピンドルモー
タ1によって回転されている光ディスク12のデータ記
録面に対して、レーザー光を照射し、データ記録面から
の戻り光をピックアップ2内のフォトディテクタにより
検出し、フォトディテクタ内で戻り光の強度に比例した
電気信号を生成する。信号処理部3では、この電気信号
から、RF信号、フォーカスエラー信号、トラッキング
エラー信号を生成する。
て、実施例を用い、図を参照して説明する。図3は本発
明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図で
ある。図において、ピックアップ2は、スピンドルモー
タ1によって回転されている光ディスク12のデータ記
録面に対して、レーザー光を照射し、データ記録面から
の戻り光をピックアップ2内のフォトディテクタにより
検出し、フォトディテクタ内で戻り光の強度に比例した
電気信号を生成する。信号処理部3では、この電気信号
から、RF信号、フォーカスエラー信号、トラッキング
エラー信号を生成する。
【0017】RF信号はデコーダ部4にてデータに復調
され、そのデータはI/F部8を経てホストコンピュー
タ11等の外部に接続された機器に出力される。フォー
カスエラー信号は、光ディスク12のデータ記録面に対
する、ピックアップ2から照射されるレーザー光の焦点
の位置偏差に比例する信号で、この信号を基にサーボ部
6では、対物レンズ13をディスクの厚さ方向に駆動さ
せるアクチュエータへの制御信号を生成し、この制御信
号は増幅器5を経てピックアップ2に入力される。ま
た、トラッキングエラー信号は、光ディスク12のデー
タ記録面に形成されているトラックに対する、ピックア
ップ2から照射されるレーザー光による光スポットのデ
ィスク径方向の位置偏差を検出する信号で、この信号を
基にサーボ部6では、対物レンズ13をディスク径方向
に駆動させるアクチュエータへの制御信号を生成し、こ
の制御信号は増幅器5を経てから、ピックアップ2に入
力される。
され、そのデータはI/F部8を経てホストコンピュー
タ11等の外部に接続された機器に出力される。フォー
カスエラー信号は、光ディスク12のデータ記録面に対
する、ピックアップ2から照射されるレーザー光の焦点
の位置偏差に比例する信号で、この信号を基にサーボ部
6では、対物レンズ13をディスクの厚さ方向に駆動さ
せるアクチュエータへの制御信号を生成し、この制御信
号は増幅器5を経てピックアップ2に入力される。ま
た、トラッキングエラー信号は、光ディスク12のデー
タ記録面に形成されているトラックに対する、ピックア
ップ2から照射されるレーザー光による光スポットのデ
ィスク径方向の位置偏差を検出する信号で、この信号を
基にサーボ部6では、対物レンズ13をディスク径方向
に駆動させるアクチュエータへの制御信号を生成し、こ
の制御信号は増幅器5を経てから、ピックアップ2に入
力される。
【0018】さらにサーボ部6は、トラッキングエラー
信号の低周波数成分を基に制御信号を生成する。この制
御信号は増幅器5で増幅され後、ピックアップ2をディ
スク径方向に駆動させるスレッドモータ15に入力され
る。また、サーボ部6では、目標とするディスク回転数
と、スピンドルモータ1から得る回転数情報の偏差よ
り、スピンドルモータ1の制御信号を生成し、増幅器5
を経てスピンドルモータ1に入力され、これを駆動して
いる。
信号の低周波数成分を基に制御信号を生成する。この制
御信号は増幅器5で増幅され後、ピックアップ2をディ
スク径方向に駆動させるスレッドモータ15に入力され
る。また、サーボ部6では、目標とするディスク回転数
と、スピンドルモータ1から得る回転数情報の偏差よ
り、スピンドルモータ1の制御信号を生成し、増幅器5
を経てスピンドルモータ1に入力され、これを駆動して
いる。
【0019】マイコン7は、光ディスク12の再生を行
なうために光ディスク装置全体を制御するもので、信号
処理部3、及び2値化回路9、ジッタ量検出部10、サ
ーボ部6、デコーダ部4、I/F部8等を内包したDS
P14等に命令を出す、あるいは情報を得たりしてい
る。本発明の実施例では、DSP14のように複数の処
理部を内包するICを例として挙げているが、これらの
処理部が独立したICとする構成であっても良い。
なうために光ディスク装置全体を制御するもので、信号
処理部3、及び2値化回路9、ジッタ量検出部10、サ
ーボ部6、デコーダ部4、I/F部8等を内包したDS
P14等に命令を出す、あるいは情報を得たりしてい
る。本発明の実施例では、DSP14のように複数の処
理部を内包するICを例として挙げているが、これらの
処理部が独立したICとする構成であっても良い。
【0020】本実施例の光ディスク装置は、後述するジ
ッタ量検出部10を備えており、検出したジッタ量に比
例する電圧値を出力する。さらに、この電圧値はマイコ
ン7に備えられているA/D変換器(図示せず)に入力
されるように構成することにより、マイコン7にて光デ
ィスク12のジッタ量を検出することが可能となる。ま
た、必ずしもジッタ量を電圧値としてマイコン7に入力
する必要はなく、検出したジッタ量に比例した数値デー
タを直接的にマイコン7に伝達できる構成であってもよ
い。マイコン7は、この検出されたジッタ量に基づいて
後述するフォーカスバイアス調整を実施する。
ッタ量検出部10を備えており、検出したジッタ量に比
例する電圧値を出力する。さらに、この電圧値はマイコ
ン7に備えられているA/D変換器(図示せず)に入力
されるように構成することにより、マイコン7にて光デ
ィスク12のジッタ量を検出することが可能となる。ま
た、必ずしもジッタ量を電圧値としてマイコン7に入力
する必要はなく、検出したジッタ量に比例した数値デー
タを直接的にマイコン7に伝達できる構成であってもよ
い。マイコン7は、この検出されたジッタ量に基づいて
後述するフォーカスバイアス調整を実施する。
【0021】次に図4を用いて、ジッタ量について説明
する。図4は14Tのパルスと基準クロックの波形図で
あり、図4(a)は14Tのパルスが出力されている期
間中の基準クロックが140の場合の波形図を、図4
(b)は14Tのパルスが出力されている期間中の基準
クロックが120の場合の波形図を、図4(c)は14
Tのパルスが出力されている期間中の基準クロックが1
60の場合の波形図を示す。RF信号を2値化回路9に
より2値化すると、パルスの立ち上がりから、立ち下が
りまでの長さが3T、4T〜11T、14Tの10通り
の長さを持つパルスが生成される。(Tは任意の単位時
間)この内、14Tのパルスを例に挙げて説明する。ジ
ッタ量は、14Tのパルスが出ている期間における基準
クロック数を測定することで検出ができる。図4(a)
は14Tのパルスが出ている期間に、基準クロックが1
40クロック出力された場合を示す。本実施例では、こ
のように14Tのパルスが出ている期間に、基準クロッ
クが140クロック出力された場合をジッタが無い状態
とする。もちろん装置が異なれば、基準クロックの周波
数も異なるので、ジッタが無いとするクロック数も異な
る。例えば1400クロックが出力された場合にジッタ
無しとなる装置もある。
する。図4は14Tのパルスと基準クロックの波形図で
あり、図4(a)は14Tのパルスが出力されている期
間中の基準クロックが140の場合の波形図を、図4
(b)は14Tのパルスが出力されている期間中の基準
クロックが120の場合の波形図を、図4(c)は14
Tのパルスが出力されている期間中の基準クロックが1
60の場合の波形図を示す。RF信号を2値化回路9に
より2値化すると、パルスの立ち上がりから、立ち下が
りまでの長さが3T、4T〜11T、14Tの10通り
の長さを持つパルスが生成される。(Tは任意の単位時
間)この内、14Tのパルスを例に挙げて説明する。ジ
ッタ量は、14Tのパルスが出ている期間における基準
クロック数を測定することで検出ができる。図4(a)
は14Tのパルスが出ている期間に、基準クロックが1
40クロック出力された場合を示す。本実施例では、こ
のように14Tのパルスが出ている期間に、基準クロッ
クが140クロック出力された場合をジッタが無い状態
とする。もちろん装置が異なれば、基準クロックの周波
数も異なるので、ジッタが無いとするクロック数も異な
る。例えば1400クロックが出力された場合にジッタ
無しとなる装置もある。
【0022】再生状態が理想的である場合は、図4
(a)に示すように14Tのパルスの長さが基準クロッ
クの140クロック分に対応するが、光ディスクや装置
の状態によって140クロック分ではない場合が生じ
る。つまり、14Tのパルスが出力される期間が短くな
ったり、あるいは長くなったりする場合がある。図4
(b)は14Tのパルスの期間が短くなった場合を示
し、この期間に基準クロックは120クロック分しか出
力されない。また、図4(c)は14Tのパルスの期間
が長くなった場合を示し、この期間に基準クロックは1
60パルス分出力される。ジッタ量とは、14Tのパル
スが出力される期間の基準クロックのクロック数と目標
クロック数との差を表す値であり、本実施例では、目標
クロック数を140クロックとしている。
(a)に示すように14Tのパルスの長さが基準クロッ
クの140クロック分に対応するが、光ディスクや装置
の状態によって140クロック分ではない場合が生じ
る。つまり、14Tのパルスが出力される期間が短くな
ったり、あるいは長くなったりする場合がある。図4
(b)は14Tのパルスの期間が短くなった場合を示
し、この期間に基準クロックは120クロック分しか出
力されない。また、図4(c)は14Tのパルスの期間
が長くなった場合を示し、この期間に基準クロックは1
60パルス分出力される。ジッタ量とは、14Tのパル
スが出力される期間の基準クロックのクロック数と目標
クロック数との差を表す値であり、本実施例では、目標
クロック数を140クロックとしている。
【0023】以下、本発明によるフォーカスバイアス調
整処理動作の一実施例について、図1を用いて説明す
る。図1は本発明によるフォーカスバイアス調整処理動
作の一実施例を示すフローチャートである。図におい
て、ステップ21にて、スピンドルモータ1を駆動し光
ディスクを回転させる。ステップ22にて、ピックアッ
プ2のレーザーを発光する。ステップ23にて、ピック
アップ2の対物レンズを光ディスクの厚さ方向に下から
上に移動させながらフォーカスエラー信号を測定し、図
2に示すフォーカスエラー信号測定値の最大値(c点)と
最小値(b点)からフォーカスエラー信号振幅値を得ると
ともに、フォーカスエラー信号振幅値の80%をフォー
カスバイアス上限値、下限値として記憶する。なお、本
実施例では80%を採用したが、装置やフォーカスサー
ボの能力によっては、80%以下が適切な場合や、80
%以上が適切な場合もありうる。ステップ24にて、デ
ィスク判別を行なう。次に、ステップ25にて、フォー
カスサーチを実施する。フォーカスサーチでは、ピック
アップ2の対物レンズを光ディスクの厚さ方向に上下移
動(本例では下から上に移動)させながら図2に示すフォ
ーカスエラー信号測定値の最大値(c点)と最小値(b点)
の振幅中心を合焦点位置としてフォーカスサーボループ
を閉じる(オン)。ステップ26にてフォーカスサーボ
ループを閉じ、一方、トラッキングサーボループは閉じ
ていない(オフ)状態で、トラッキングエラー信号振幅
を用いてフォーカスバイアス設定限界値(T)測定を実
施する。本測定手順については、図5、図6のフローチ
ャートを用いて、詳細を後述する。ステップ27にて、
トラッキングサーボループを閉じる。ステップ28に
て、フォーカスサーボループ、トラッキングサーボルー
プ共に閉じた状態で、ジッタ量測定を用いてフォーカス
バイアス調整を実施する。この時点では、すでにフォー
カスバイアス設定限界値(T)がステップ26にて測定
済みであるので、このフォーカスバイアス設定限界値の
範囲内でジッタ量を最小化するフォーカスバイアス値を
求める。本測定手順は、図7、図8のフローチャートに
基づいており、詳細は後述する。
整処理動作の一実施例について、図1を用いて説明す
る。図1は本発明によるフォーカスバイアス調整処理動
作の一実施例を示すフローチャートである。図におい
て、ステップ21にて、スピンドルモータ1を駆動し光
ディスクを回転させる。ステップ22にて、ピックアッ
プ2のレーザーを発光する。ステップ23にて、ピック
アップ2の対物レンズを光ディスクの厚さ方向に下から
上に移動させながらフォーカスエラー信号を測定し、図
2に示すフォーカスエラー信号測定値の最大値(c点)と
最小値(b点)からフォーカスエラー信号振幅値を得ると
ともに、フォーカスエラー信号振幅値の80%をフォー
カスバイアス上限値、下限値として記憶する。なお、本
実施例では80%を採用したが、装置やフォーカスサー
ボの能力によっては、80%以下が適切な場合や、80
%以上が適切な場合もありうる。ステップ24にて、デ
ィスク判別を行なう。次に、ステップ25にて、フォー
カスサーチを実施する。フォーカスサーチでは、ピック
アップ2の対物レンズを光ディスクの厚さ方向に上下移
動(本例では下から上に移動)させながら図2に示すフォ
ーカスエラー信号測定値の最大値(c点)と最小値(b点)
の振幅中心を合焦点位置としてフォーカスサーボループ
を閉じる(オン)。ステップ26にてフォーカスサーボ
ループを閉じ、一方、トラッキングサーボループは閉じ
ていない(オフ)状態で、トラッキングエラー信号振幅
を用いてフォーカスバイアス設定限界値(T)測定を実
施する。本測定手順については、図5、図6のフローチ
ャートを用いて、詳細を後述する。ステップ27にて、
トラッキングサーボループを閉じる。ステップ28に
て、フォーカスサーボループ、トラッキングサーボルー
プ共に閉じた状態で、ジッタ量測定を用いてフォーカス
バイアス調整を実施する。この時点では、すでにフォー
カスバイアス設定限界値(T)がステップ26にて測定
済みであるので、このフォーカスバイアス設定限界値の
範囲内でジッタ量を最小化するフォーカスバイアス値を
求める。本測定手順は、図7、図8のフローチャートに
基づいており、詳細は後述する。
【0024】次に、ステップ26にて行なわれるフォー
カスバイアス設定限界値(T)測定手順の一例を図5の
フローチャートを用いて説明する。図5、図6はフォー
カスバイアス調整処理動作の他の実施例を示すフローチ
ャートであり、図5及び図6のフローチャートで一連の
フォーカスバイアス調整処理動作を説明する。図5のフ
ローチャートでは次に設定するフォーカスバイアス値の
計算において、任意の刻み値を加算する場合の動作処理
について、図6のフローチャートでは次に設定するフォ
ーカスバイアス値の計算において、任意の刻み値を減算
する場合の動作処理にについて示す。フォーカスバイア
ス限界値(T)の調査を実施するときの前提条件とし
て、ステップ51にて、フォーカスバイアスを0もしく
はその近傍に設定する。次に、ステップ52にて、オフ
セットがゼロの時のトラッキングエラー信号振幅を測定
する。ステップ53にて、上記で測定したトラッキング
エラー信号振幅の60%の値をトラッキングエラー信号
振幅限界値として、例えばマイコンのRAMに記憶す
る。当然、装置によっては60%以下が適切な場合や、
60%以上が適切な場合もあり、ステップ52での測定
値を基に算出するのではなく、何らかの方法で決定した
固定値でも代用はできる。例えば、トラッキングエラー
信号振幅限界を0.5Vとして決めておき、トラッキン
グエラー信号振幅値が0.5Vとなるフォーカスバイア
ス値を求める方法も考えられる。
カスバイアス設定限界値(T)測定手順の一例を図5の
フローチャートを用いて説明する。図5、図6はフォー
カスバイアス調整処理動作の他の実施例を示すフローチ
ャートであり、図5及び図6のフローチャートで一連の
フォーカスバイアス調整処理動作を説明する。図5のフ
ローチャートでは次に設定するフォーカスバイアス値の
計算において、任意の刻み値を加算する場合の動作処理
について、図6のフローチャートでは次に設定するフォ
ーカスバイアス値の計算において、任意の刻み値を減算
する場合の動作処理にについて示す。フォーカスバイア
ス限界値(T)の調査を実施するときの前提条件とし
て、ステップ51にて、フォーカスバイアスを0もしく
はその近傍に設定する。次に、ステップ52にて、オフ
セットがゼロの時のトラッキングエラー信号振幅を測定
する。ステップ53にて、上記で測定したトラッキング
エラー信号振幅の60%の値をトラッキングエラー信号
振幅限界値として、例えばマイコンのRAMに記憶す
る。当然、装置によっては60%以下が適切な場合や、
60%以上が適切な場合もあり、ステップ52での測定
値を基に算出するのではなく、何らかの方法で決定した
固定値でも代用はできる。例えば、トラッキングエラー
信号振幅限界を0.5Vとして決めておき、トラッキン
グエラー信号振幅値が0.5Vとなるフォーカスバイア
ス値を求める方法も考えられる。
【0025】次に、ステップ54にて、現在設定されて
いるフォーカスバイアス値ゼロに対して、任意のキザミ
量を加えた新しいフォーカスバイアス値を算出する。ス
テップ55にて、ステップ54で算出された新しいフォ
ーカスバイアス値とフォーカスバイアス上限値を比較
し、上限値以下であれば、ステップ56にてフォーカス
バイアス値を設定し直す。例えば、DSP14のサーボ
オフセットのレジスタを少しずつ設定する。一方、上限
値を越えている場合はステップ59に進み、現在のフォ
ーカスバイアス値を記憶する。ステップ57にて、フォ
ーカスバイアス値再設定後のトラッキングエラー信号振
幅を測定する。即ちフォーカスバイアス値を変えながら
トラッキングエラー信号の振幅を測定する。ステップ5
8にて、トラッキングエラー信号の測定値とトラッキン
グエラー信号振幅限界値を比較する。トラッキングエラ
ー信号振幅限界値以上の場合は、ステップ54〜ステッ
プ58までの処理を繰返す。一方、トラッキングエラー
信号振幅限界値より小さい場合は、ステップ59にて現
在のフォーカスバイアス設定値の限界値を記憶する。即
ち、トラッキングエラー信号振幅が限界を超えた時のフ
ォーカスバイアス値を記憶する。そして、この時のフォ
ーカスバイアス値をフォーカスバイアス設定上限値
(T)…(1)とする。
いるフォーカスバイアス値ゼロに対して、任意のキザミ
量を加えた新しいフォーカスバイアス値を算出する。ス
テップ55にて、ステップ54で算出された新しいフォ
ーカスバイアス値とフォーカスバイアス上限値を比較
し、上限値以下であれば、ステップ56にてフォーカス
バイアス値を設定し直す。例えば、DSP14のサーボ
オフセットのレジスタを少しずつ設定する。一方、上限
値を越えている場合はステップ59に進み、現在のフォ
ーカスバイアス値を記憶する。ステップ57にて、フォ
ーカスバイアス値再設定後のトラッキングエラー信号振
幅を測定する。即ちフォーカスバイアス値を変えながら
トラッキングエラー信号の振幅を測定する。ステップ5
8にて、トラッキングエラー信号の測定値とトラッキン
グエラー信号振幅限界値を比較する。トラッキングエラ
ー信号振幅限界値以上の場合は、ステップ54〜ステッ
プ58までの処理を繰返す。一方、トラッキングエラー
信号振幅限界値より小さい場合は、ステップ59にて現
在のフォーカスバイアス設定値の限界値を記憶する。即
ち、トラッキングエラー信号振幅が限界を超えた時のフ
ォーカスバイアス値を記憶する。そして、この時のフォ
ーカスバイアス値をフォーカスバイアス設定上限値
(T)…(1)とする。
【0026】次に、図6のステップ60に移行して、ス
テップ51におけるフォーカスバイアス値を再設定す
る。ステップ61にて、現在設定されているフォーカス
バイアス値に対して、任意のキザミ量を減算した新しい
フォーカスバイアス値を算出する。ステップ62にて、
ステップ61で算出したフォーカスバイアス値とフォー
カスバイアス下限値を比較判定し、下限値以内であれ
ば、ステップ63にてフォーカスバイアス値を設定し直
す。一方、下限値を越える場合はステップ66に進み、
現在のフォーカスバイアス値を記憶する。ステップ64
にて、フォーカスバイアス再設定後のトラッキングエラ
ー信号振幅を測定する。ステップ65にて、測定したト
ラッキングエラー信号振幅値と、トラッキングエラー信
号振幅限界値を比較する。トラッキングエラー信号測定
値が振幅限界値以上の場合は、ステップ61〜ステップ
65までの処理を繰返す。一方、トラッキングエラー信
号が振幅限界値より小さい場合は、ステップ66にて現
在のフォーカスバイアス設定値を限界値として記憶し、
このフォーカスバイアス設定値をフォーカスバイアス設
定下限値(T)…(2)とする。以上の動作より、フォ
ーカスバイアス調整におけるフォーカスバイアス設定上
限値(T)…(1)と設定下限値(T)…(2)を得
る。次に、ステップ67で、基準とするフォーカスバイ
アス値の設定を行う。
テップ51におけるフォーカスバイアス値を再設定す
る。ステップ61にて、現在設定されているフォーカス
バイアス値に対して、任意のキザミ量を減算した新しい
フォーカスバイアス値を算出する。ステップ62にて、
ステップ61で算出したフォーカスバイアス値とフォー
カスバイアス下限値を比較判定し、下限値以内であれ
ば、ステップ63にてフォーカスバイアス値を設定し直
す。一方、下限値を越える場合はステップ66に進み、
現在のフォーカスバイアス値を記憶する。ステップ64
にて、フォーカスバイアス再設定後のトラッキングエラ
ー信号振幅を測定する。ステップ65にて、測定したト
ラッキングエラー信号振幅値と、トラッキングエラー信
号振幅限界値を比較する。トラッキングエラー信号測定
値が振幅限界値以上の場合は、ステップ61〜ステップ
65までの処理を繰返す。一方、トラッキングエラー信
号が振幅限界値より小さい場合は、ステップ66にて現
在のフォーカスバイアス設定値を限界値として記憶し、
このフォーカスバイアス設定値をフォーカスバイアス設
定下限値(T)…(2)とする。以上の動作より、フォ
ーカスバイアス調整におけるフォーカスバイアス設定上
限値(T)…(1)と設定下限値(T)…(2)を得
る。次に、ステップ67で、基準とするフォーカスバイ
アス値の設定を行う。
【0027】次に、ステップ28にて行なわれるフォー
カスサーボループ、トラッキングサーボループ共に閉じ
た状態で行なうジッタ量測定を用いたフォーカスバイア
ス調整手順の一例を、図7及び図8を用いて説明する。
図7、図8はフォーカスバイアス調整処理動作の他の実
施例を示すフローチャートであり、図7及び図8のフロ
ーチャートで一連のフォーカスバイアス調整処理動作を
説明する。図7のフローチャートでは次に設定するフォ
ーカスバイアス値の計算において、任意の刻み値を加算
する場合の動作処理について、図8のフローチャートで
は次に設定するフォーカスバイアス値の計算において、
任意の刻み値を減算する場合の動作処理にについて示
す。図7において、ステップ71にて、基準とするフォ
ーカスバイアス値を設定する。この値は0もしくはその
近傍値でも良い。ステップ72にて、上記フォーカスバ
イアス値におけるジッタ量の測定を行なう。ステップ7
3にて、上記ジッタ量と基準としたフォーカスバイアス
値(通常ゼロ)を記憶する。この場合、一応このジッタ
量を最小ジッタ量とする。ステップ74にて、フォーカ
スバイアス値を1刻み分プラスして、次に設定するフォ
ーカスバイアス値を算出する。
カスサーボループ、トラッキングサーボループ共に閉じ
た状態で行なうジッタ量測定を用いたフォーカスバイア
ス調整手順の一例を、図7及び図8を用いて説明する。
図7、図8はフォーカスバイアス調整処理動作の他の実
施例を示すフローチャートであり、図7及び図8のフロ
ーチャートで一連のフォーカスバイアス調整処理動作を
説明する。図7のフローチャートでは次に設定するフォ
ーカスバイアス値の計算において、任意の刻み値を加算
する場合の動作処理について、図8のフローチャートで
は次に設定するフォーカスバイアス値の計算において、
任意の刻み値を減算する場合の動作処理にについて示
す。図7において、ステップ71にて、基準とするフォ
ーカスバイアス値を設定する。この値は0もしくはその
近傍値でも良い。ステップ72にて、上記フォーカスバ
イアス値におけるジッタ量の測定を行なう。ステップ7
3にて、上記ジッタ量と基準としたフォーカスバイアス
値(通常ゼロ)を記憶する。この場合、一応このジッタ
量を最小ジッタ量とする。ステップ74にて、フォーカ
スバイアス値を1刻み分プラスして、次に設定するフォ
ーカスバイアス値を算出する。
【0028】次に、ステップ75にて、ステップ74で
算出したフォーカスバイアス値とフォーカスバイアス設
定上限値(T)…(1)を比較する。フォーカスバイア
ス設定上限値以内であれば、ステップ76に進み、フォ
ーカスバイアス設定上限値を越えている場合は図8のス
テップ80に進む。ステップ76にて、ステップ74に
て算出したフォーカスバイアス値を設定する。ステップ
77にて、上記フォーカスバイアス値におけるジッタ量
の測定を行なう。ステップ78にて、測定したジッタ量
が今までの測定の中で最小であるかどうか判定し、ジッ
タ量が今までの測定の中で最小であればステップ79に
進み、ジッタ量とフォーカスバイアス値を記憶してステ
ップ74に戻る。一方、ジッタ量が今までの測定の中で
最小値でない場合は、直接ステップ74に戻る。以降、
ステップ74〜ステップ79までの処理は、ステップ7
5にてフォーカスバイアス設定上限値を越えるまで繰返
す。
算出したフォーカスバイアス値とフォーカスバイアス設
定上限値(T)…(1)を比較する。フォーカスバイア
ス設定上限値以内であれば、ステップ76に進み、フォ
ーカスバイアス設定上限値を越えている場合は図8のス
テップ80に進む。ステップ76にて、ステップ74に
て算出したフォーカスバイアス値を設定する。ステップ
77にて、上記フォーカスバイアス値におけるジッタ量
の測定を行なう。ステップ78にて、測定したジッタ量
が今までの測定の中で最小であるかどうか判定し、ジッ
タ量が今までの測定の中で最小であればステップ79に
進み、ジッタ量とフォーカスバイアス値を記憶してステ
ップ74に戻る。一方、ジッタ量が今までの測定の中で
最小値でない場合は、直接ステップ74に戻る。以降、
ステップ74〜ステップ79までの処理は、ステップ7
5にてフォーカスバイアス設定上限値を越えるまで繰返
す。
【0029】一方、ステップ75にて、フォーカスバイ
アス設定限界値(T)…(1)を越えたと判定した場
合、図8のステップ80に進み、ステップ71で設定し
たフォーカスバイアス値を再設定し、これ以降の処理で
は、フォーカスバイアス値をこれまでとは逆方向に変化
させていく。即ち、ステップ81にて、現在設定されて
いるフォーカスバイアス値に対して、フォーカスバイア
ス値を1刻みずつマイナスし、次に設定するフォーカス
バイアス値を算出する。ステップ82にて、ステップ8
1で算出したフォーカスバイアス値がフォーカスバイア
ス設定下限値(T)…(2)を越えているかどうかを判
定する。越えていない場合はステップ83、越えている
場合は87に進む。
アス設定限界値(T)…(1)を越えたと判定した場
合、図8のステップ80に進み、ステップ71で設定し
たフォーカスバイアス値を再設定し、これ以降の処理で
は、フォーカスバイアス値をこれまでとは逆方向に変化
させていく。即ち、ステップ81にて、現在設定されて
いるフォーカスバイアス値に対して、フォーカスバイア
ス値を1刻みずつマイナスし、次に設定するフォーカス
バイアス値を算出する。ステップ82にて、ステップ8
1で算出したフォーカスバイアス値がフォーカスバイア
ス設定下限値(T)…(2)を越えているかどうかを判
定する。越えていない場合はステップ83、越えている
場合は87に進む。
【0030】以降、ステップ82でフォーカスバイアス
設定下限値を越えたと判定させるまで繰返す。また、ス
テップ82にてフォーカスバイアス設定限界値を越えた
と判定した場合、ステップ87に進み、ステップ79、
86で記憶されているジッタ量を比較して小さい方のフ
ォーカスバイアス値を設定し、フォーカスバイアス調整
を終了する。ステップ82でフォーカスバイアス値の設
定限界を超えていない場合には、ステップ83でこの計
算したフォーカスバイアスの値を設定して、ステップ8
4で、ジッタ量を測定し、ステップ85で、測定したジ
ッタ量が最小の場合には、ステップ86で、このジッタ
量とその時の(現在の)フォーカスバイアス値を記憶す
る。
設定下限値を越えたと判定させるまで繰返す。また、ス
テップ82にてフォーカスバイアス設定限界値を越えた
と判定した場合、ステップ87に進み、ステップ79、
86で記憶されているジッタ量を比較して小さい方のフ
ォーカスバイアス値を設定し、フォーカスバイアス調整
を終了する。ステップ82でフォーカスバイアス値の設
定限界を超えていない場合には、ステップ83でこの計
算したフォーカスバイアスの値を設定して、ステップ8
4で、ジッタ量を測定し、ステップ85で、測定したジ
ッタ量が最小の場合には、ステップ86で、このジッタ
量とその時の(現在の)フォーカスバイアス値を記憶す
る。
【0031】このようにしてフォーカスバイアスの値を
調整することによって、フォーカスバイアス調整中にト
ラッキングサーボ外れたり、トラッキングサーボとフォ
ーカスサーボの両方が外れたりすることを防止すること
ができる。
調整することによって、フォーカスバイアス調整中にト
ラッキングサーボ外れたり、トラッキングサーボとフォ
ーカスサーボの両方が外れたりすることを防止すること
ができる。
【0032】以上述べたように、本発明によれば、フォ
ーカスバイアス調整におけるサーボ外れの原因であるフ
ォーカスバイアスの入れ過ぎを防止することができるの
で、適切な状態でのフォーカスバイアス調整が可能とな
る。従って、精度良くフォーカスバイアス調整を行うこ
とができるとともに、光ディスク挿入時の光ディスク再
生を短時間に行なうことができる。
ーカスバイアス調整におけるサーボ外れの原因であるフ
ォーカスバイアスの入れ過ぎを防止することができるの
で、適切な状態でのフォーカスバイアス調整が可能とな
る。従って、精度良くフォーカスバイアス調整を行うこ
とができるとともに、光ディスク挿入時の光ディスク再
生を短時間に行なうことができる。
【0033】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、フ
ォーカスバイアスの入れ過ぎによるサーボ外れを防止し
た、フォーカスバイアス調整を行うことができる。
ォーカスバイアスの入れ過ぎによるサーボ外れを防止し
た、フォーカスバイアス調整を行うことができる。
【図1】本発明によるフォーカスバイアス調整処理動作
の一実施例を示すフローチャートである。
の一実施例を示すフローチャートである。
【図2】フォーカスエラー信号の波形図である。
【図3】本発明による光ディスク装置の一実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図4】14Tのパルスと基準クロックの波形図であ
る。
る。
【図5】フォーカスバイアス調整処理動作の他の実施例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図6】フォーカスバイアス調整処理動作の他の実施例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図7】フォーカスバイアス調整処理動作の他の実施例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
【図8】フォーカスバイアス調整処理動作の他の実施例
を示すフローチャートである。
を示すフローチャートである。
1…スピンドルモータ、2…ピックアップ、3…信号処
理部、4…デコーダ部、5…増幅器、6…サーボ部、7
…マイコン、8…I/F、9…2値化回路、10…ジッ
タ量検出部、11…ホストコンピュータ、12…光ディ
スク、13…対物レンズ、14…DSP、15…スレッ
ドモータ。
理部、4…デコーダ部、5…増幅器、6…サーボ部、7
…マイコン、8…I/F、9…2値化回路、10…ジッ
タ量検出部、11…ホストコンピュータ、12…光ディ
スク、13…対物レンズ、14…DSP、15…スレッ
ドモータ。
Claims (6)
- 【請求項1】フォーカスサーボはオン、トラッキングサ
ーボはオフの状態で所定のトラッキングエラー信号振幅
値を満足することができるフォーカスバイアス範囲を検
出するフォーカスバイアス検出ステップと、フォーカス
サーボとトラッキングサーボの両方をオンさせた状態
で、前記検出されたフォーカスバイアス範囲内におい
て、所定のジッタ量、所定の再生信号振幅、あるいは所
定のデータ誤り率を満足するフォーカスバイアス値を設
定するフォーカスバイアス設定ステップとを備えること
を特徴とするフォーカスバイアス調整方法。 - 【請求項2】請求項1記載のフォーカスバイアス調整方
法において、前記フォーカスバイアス範囲は、フォーカ
スバイアスが無い場合のトラッキングエラー信号の振幅
値に所定の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号
振幅値以上のトラッキングエラー信号振幅が得られるフ
ォーカスバイアスであることを特徴とするフォーカスバ
イアス調整方法。 - 【請求項3】光ディスクに対してレーザー光を収束さ
せ、前記レーザー光の焦点位置にオフセットを与えるフ
ォーカスバイアス設定を行なうフォーカスサーボと、光
ディスク上のトラックを追従するトラッキングサーボを
有する光ディスク装置であって、フォーカスサーボはオ
ンさせ、トラッキングサーボはオフした状態で、所定の
トラッキングエラー信号振幅値を満足するフォーカスバ
イアス範囲を検出するフォーカスバイアス検出手段と、
フォーカスサーボとトラッキングサーボの両方をオンさ
せた状態で、前記検出されたフォーカスバイアスの範囲
内で、所定のジッタ量、所定の再生信号振幅、あるいは
所定のデータ誤り率を満足するフォーカスバイアス値を
設定するフォーカスバイアス設定手段とを備えることを
特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項4】請求項3記載の光ディスク装置において、
前記フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアス無
しの状態におけるトラッキングエラー信号の振幅値に、
任意の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅
値以上が得られるフォーカスバイアスであることを特徴
とする光ディスク装置。 - 【請求項5】請求項3記載の光ディスク装置において、
フォーカスバイアス範囲を検出するフォーカスバイアス
検出手段は、フォーカスサーボとトラッキングサーボを
オフした状態で、前記光ディスクに対するレーザー光の
収束位置とその近傍におけるフォーカスエラー信号を測
定して記憶する手段と、フォーカスサーボをオンし、ト
ラッキングサーボをオフした状態で、フォーカスバイア
スが無い場合におけるトラッキングエラー信号振幅値を
測定して記憶する手段とを備え、前記フォーカスエラー
信号の最大値と最小値の間にある振幅中心を含み、か
つ、前記最大値と前記最小値より狭い任意のフォーカス
エラー信号値の範囲で、前記トラッキングエラー信号振
幅値より小さな任意のトラッキングエラー信号値が得ら
れるフォーカスバイアスを検出することを特徴とする光
ディスク装置。 - 【請求項6】請求項5の光ディスク装置において、前記
フォーカスバイアス範囲は、フォーカスバイアス無しの
状態におけるトラッキングエラー信号の振幅値に、任意
の割合を乗じた所定のトラッキングエラー信号振幅値以
上が得られるフォーカスバイアスであることを特徴とす
る光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002123518A JP2003317276A (ja) | 2002-04-25 | 2002-04-25 | 光ディスク装置及びフォーカスバイアス調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002123518A JP2003317276A (ja) | 2002-04-25 | 2002-04-25 | 光ディスク装置及びフォーカスバイアス調整方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003317276A true JP2003317276A (ja) | 2003-11-07 |
Family
ID=29538785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002123518A Pending JP2003317276A (ja) | 2002-04-25 | 2002-04-25 | 光ディスク装置及びフォーカスバイアス調整方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003317276A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008524767A (ja) * | 2004-12-20 | 2008-07-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ラジアル−バーティカル・クロストークを抑制する光学式焦点誤差オフセット |
-
2002
- 2002-04-25 JP JP2002123518A patent/JP2003317276A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008524767A (ja) * | 2004-12-20 | 2008-07-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ラジアル−バーティカル・クロストークを抑制する光学式焦点誤差オフセット |
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A621 | Written request for application examination |
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