CN101487867A - 测试设备及测试方法 - Google Patents

Abstract

一种测试设备及测试方法，涉及电子器件的测试设备及测试方法领域。涉及显示装置领域。本发明要解决的技术问题是提供一种对电子器件及其子元件都能进行测试的设备。本发明的测试设备包括：承载台；相对所述承载台在接触位与空置位之间移动的第一测试板；相对所述第一测试板在同步位与分离位之间移动的第二测试板；启动所述第一测试板测试信号的第一开关；启动所述第二测试板测试信号的第二开关；当所述第一测试板位于所述接触位且所述第二测试板位于所述同步位时，所述第二开关触发；当所述第一测试板位于所述接触位且所述第二测试板位于所述分离位时，所述第一开关触发。

Description

测试设备及测试方法

【技术领域】

本发明涉及一种测试设备及测试方法，特别是涉及一种电子器件的测试设备及测试方法。

【背景技术】

电子器件在出厂之前都要对其进行电性检测，以确认功能完好。有的电子器件本身是由多个子元件组成的，往往还需要对子元件单独进行测试。以驱动灯管的逆变器为例，其包括至少一个线圈，在出厂前除了要测试逆变器总体性能之外，还要对线圈的阻抗进行测试。现有的生产过程中是使用两台设备分别测试线圈的阻抗和和逆变器的总体性能，这就需要两个工位，人力成本高，检测耗时长。

【发明内容】

本发明要解决的技术问题是提供一种对电子器件及其子元件都能进行测试的设备。本发明的一个目的是提供一种测试设备，其包括：承载台；相对所述承载台在接触位与空置位之间移动的第一测试板；相对所述第一测试板在同步位与分离位之间移动的第二测试板；启动所述第一测试板测试信号的第一开关；启动所述第二测试板测试信号的第二开关；当所述第一测试板位于所述接触位且所述第二测试板位于所述同步位时，所述第二开关触发；当所述第一测试板位于所述接触位且所述第二测试板位于所述分离位时，所述第一开关触发。

作为可选的技术方案，所述的第一开关或第二开关为行程开关，由所述第二测试板抵触触发。

作为可选的技术方案，所述第一测试板或所述第二测试板的底面具有多个测试探针。

作为可选的技术方案，所述的测试设备包括：控制所述第一测试板在接触位与空置位之间移动的第一压杆组件；控制所述第二测试板在同步位与分离位之间移动的第二压杆组件。

作为可选的技术方案，所述第二测试板为线圈阻抗测试板；所述第一测试板为逆变器功能测试板。

本发明的另一个目的是提供一种电子器件测试方法，其包括：

步骤1：提供上述的测试设备，并初始化所述第一测试板至所述空置位，

初始化所述第二测试板至所述同步位；

步骤2：放置待测器件在所述承载台上；

步骤3：移动所述第一测试板至所述接触位，所述第二测试板保持在所述同步位，以启动所述第二测试板测试信号；

步骤4：移动所述第二测试板至所述分离位，以启动所述第一测试板测试信号。

本发明的好处在于可以使用一台设备对电子器件及其子元件进行测试，节省人力和时间；并能避免两项测试之间发生干扰，排除损坏器件的风险。

【附图说明】

图1是本发明一种实施方式的测试设备在一种使用状态下的正视示意图；

图2是图1中的测试设备在另一种使用状态下的正视示意图；

图3是图1中的测试设备在又一种使用状态下的正视示意图；

图4是绘示了第一压杆组件的图1中的测试设备的右视示意图；

图5是绘示了第二压杆组件的图1中的测试设备的正视示意图；。

【具体实施方式】

请参考图1至图3，图1至图3是本发明一种实施方式的测试设备在三种使用状态下的正视示意图。本实施方式的测试设备包括：承载台80，用于承载待测器件70；相对所述承载台80在接触位与空置位之间移动的第一测试板10，如图1所示的第一测试板相对承载台80处于空置位，图2和图3中所示的第一测试板相对承载台80处于接触位；相对所述第一测试板10在同步位与分离位之间移动的第二测试板20，如图1和图2所示的第二测试板20相对所述第一测试板10处于同步位，图3所示的第二测试板20相对所述第一测试板10处于分离位；启动所述第一测试板测试信号的第一开关31；启动所述第二测试板测试信号的第二开关32；当所述第一测试板10位于接触位且第二测试板20位于同步位时，所述第二开关32触发；当第一测试板10位于接触位且第二测试板20位于分离位时，第一开关31触发。在本实施方式中，第一开关31或第二开关32为行程开关，由第二测试板20抵触触发。在图2所示的工作状态下，第二测试板20抵触触发了第二开关32，这时测试信号产生器(未绘示)通过线路(未绘示)向第二测试板提供测试信号，对待测器件70的子元件进行测试。在图3所示的工作状态下，第二测试板抵触触发了第一开关31，这时测试信号产生器通过线路向第一测试板提供测试信号，对待测器件70进行电性测试。第一开关31和第二开关32分别控制第一测试板测试信号和第二测试板测试信号的启动，且由第二测试板在不同位置触发启动，保证了第一测试板和第二测试板不会同时工作。对某些电子器件来说，同时测量器件功能(例如逆变器功能)和子元件参数(例如线圈阻抗)会造成器件损坏，第一测试板和第二测试板不会同时工作的好处在于可以避免这样的意外。在其它实施方式中，第一开关和第二开关可以是除行程开关之外的其它任何开关，只要其能够被在特定位置的第二测试板触发即可。

在本实施方式中，第一测试板或第二测试板的底面具有多个测试探针60，这是为与待测器件连接使用的，当第一测试板处于接触位时，可以通过测试探针与待测器件的测试点连接。当第一测试板处于接触位、第二测试板处于同步位时，第二测试板可以通过测试探针与待测的子元件连接。在其它实施方式中可以是导电橡胶等其它实现导通的材料。

本实施方式的测试设备还包括控制所述第一测试板在接触位与空置位之间移动的第一压杆组件(图1至图3中未绘示)。请再参考图4，图4是绘示了第一压杆组件的图1中的测试设备的右视示意图；第一压杆组件包括定位在承载台80上的支撑柱41；定位在第一测试板10上的驱动柱42以及与支撑柱41和驱动柱42分别铰接的手柄43。通过上拉和下压手柄43的A端，就可以使第一测试板10上升和下降。另外测试设备还可以包括几个定位在承载台80上的导引柱44，导引柱穿过第一测试板10的通孔(未绘示)，使第一测试板10在上升和下降过程中不会发生水平移动。本实施方式的测试设备还包括控制所述第二测试板20在同步位与分离位之间移动的第二压杆组件(图1至图4中未绘示)。第二压杆组件包括定位在第一测试板10上的支撑柱51；定位在第二测试板20上的驱动柱52以及与支撑柱51和驱动柱52分别铰接的手柄53。通过上拉和下压手柄53的B端，就可以使第二测试板20相对第一测试板10上升和下降。压杆组件的结构有很多种，在此不一一列举，而且在其它实施方式中，可以使用任何现有技术的升降装置来实现第一测试板和第二测试板的升降，而不限于使用压杆组件。

本发明一种实施方式的电子器件测试方法，其包括：

步骤1：提供如图1至图3所示的本发明一种实施方式的测试设备，并如图1所示初始化所述第一测试板10至所述空置位，初始化所述第二测试板20至所述同步位；

步骤2：如图1所示放置待测器件在所述承载台80上；

步骤3：如图2所示，移动所述第一测试板10至接触位，所述第二测试板20保持在同步位，以启动所述第二测试板20的测试信号；

步骤4：移动所述第二测试板20至所述分离位，以启动所述第一测试板10的测试信号。

Claims (6)

1.一种测试设备，其特征在于包括：

承载台；

相对所述承载台在接触位与空置位之间移动的第一测试板；

相对所述第一测试板在同步位与分离位之间移动的第二测试板；

启动所述第一测试板测试信号的第一开关；

启动所述第二测试板测试信号的第二开关；

当所述第一测试板位于所述接触位且所述第二测试板位于所述同步位时，所述第二开关触发；

当所述第一测试板位于所述接触位且所述第二测试板位于所述分离位时，所述第一开关触发。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于所述的第一开关或第二开关为行程开关，由所述第二测试板抵触触发。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于所述第一测试板或所述第二测试板的底面具有多个测试探针。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于包括：控制所述第一测试板在接触位与空置位之间移动的第一压杆组件；控制所述第二测试板在同步位与分离位之间移动的第二压杆组件。

5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于所述第二测试板为线圈阻抗测试板；所述第一测试板为逆变器功能测试板。

6.一种电子器件测试方法，其特征在于包括：

步骤1：提供根据权利要求1所述的测试设备，并初始化所述第一测试板至所述空置位，初始化所述第二测试板至所述同步位；

步骤2：放置待测器件在所述承载台上；

步骤3：移动所述第一测试板至所述接触位，所述第二测试板保持在所述同步位，以启动所述第二测试板测试信号；

步骤4：移动所述第二测试板至所述分离位，以启动所述第一测试板测试信号。

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