CN101476876B - 瓷砖外形检测装置及检测方法 - Google Patents

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Abstract

一种瓷砖外形检测装置，瓷砖具有第一长度边缘、第二长度边缘、第一宽度边缘、第二宽度边缘、第一厚度表面及与第二厚度表面，包括：相对于第一厚度表面更加靠近第二厚度表面的第一激光测距感应器；相对于第一宽度边缘更加靠近第二宽度边缘的第二激光测距感应器；相对于第一长度边缘更加靠近第二长度边缘的第三激光测距感应器；与所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器连接的工控机；及设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器进行距离测量的挡板触发装置。

Description

瓷砖外形检测装置及检测方法 
技术领域
本发明涉及一种瓷砖检测装置及检测方法，尤其涉及一种瓷砖外形检测装置及检测方法。 
背景技术
在瓷砖外形及平整度检测过程中，现有技术都是在瓷砖停放好后通过人工借助长度测量工具对每块瓷砖的长度、宽度及厚度(即平整度)进行测量，从而判断瓷砖的外形尺寸及平整度是否符合预定的要求。 
然而，这种人工测量必然导致测量人员的手直接与瓷砖接触，这不仅导致瓷砖刮花或碰损，而且测量速度大大降低，也就是测量效率非常低，同时人工测量容易因人为粗心等原因导致误判。 
因而，有必要提供一种瓷砖外形检测装置及检测方法，以便克服现有技术的缺点与不足。 
发明内容
本发明的目的是提供一种测量过程为非接触式、测量精度及效率较高的瓷砖外形检测装置及检测方法。 
为了实现上述目的，本发明提供一种瓷砖外形检测装置，所述瓷砖具有与瓷砖运动方向一致的第一长度边缘、与第一长度边缘平行的第二长度边缘、与瓷砖运动方向横截的第一宽度边缘、与第一宽度边缘平行的第二宽度边缘、第一厚度表面及与第一厚度表面平行的第二厚度表面，包括： 
相对于第一厚度表面更加靠近第二厚度表面的第一激光测距感应器； 
相对于第一宽度边缘更加靠近第二宽度边缘的第二激光测距感应器； 
相对于第一长度边缘更加靠近第二长度边缘的第三激光测距感应器； 
与所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器电性地连接的工控机；及 
设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器进行距离测量的挡板触发装置，其中 
所述第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的距离、第二激光测距感应器与挡板触发装置之间的距离及第三激光测距感应器与第一长度边缘之间的距离固定； 
在瓷砖运动过程中当第一宽度边缘相对于第二宽度边缘首先接触挡板触发装置时，所述挡板触发装置触发所述第三激光测距感应器测量第三激光测距感应器与第二宽度边缘之间的距离； 
第二激光测距感应器测量第二激光测距感应器与比第一长度边缘更加靠近所述第二激光测距感应器的第二长度边缘之间的距离； 
借助所述第一激光测距感应器测量第一激光测距感应器与比第一厚度表面更加靠近所述第一激光测距感应器的第二厚度表面之间的距离； 
借助所述工控机接收来自所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器及第三激光测距感应器的相应距离数值，将第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的固定距离与第一激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量厚度，将第二激光测距感应器与第二宽度边缘之间的固定距离与第二激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量长度，将第三激光测距感应器与第二长度边缘之间的固定距离与第三激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量宽度； 
所述工控机将上述测量厚度、长度及宽度分别与预定的瓷砖厚度、长度及宽度许可范围进行比较，当测量厚度、长度及宽度位于所述瓷砖厚度、长度及宽度许可范围内时，将瓷砖识别为合格瓷砖。 
本发明同时提供一种瓷砖外形检测方法，所述瓷砖具有与瓷砖运动方向一致的第一长度边缘、与第一长度边缘平行的第二长度边缘、与瓷砖运动方向横截的第一宽度边缘、与第一宽度边缘平行的第二宽度边缘、第一厚度表面及与第一厚度表面平行的第二厚度表面，包括步骤： 
提供相对于第一厚度表面更加靠近第二厚度表面的第一激光测 距感应器、相对于第一宽度边缘更加靠近第二宽度边缘的第二激光测距感应器、相对于第一长度边缘更加靠近第二长度边缘的第三激光测距感应器、与所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器电性地连接的工控机及设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器进行距离测量的挡板触发装置，所述第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的距离、第二激光测距感应器与挡板触发装置之间的距离及第三激光测距感应器与第一长度边缘之间的距离固定； 
在瓷砖运动过程中当第一宽度边缘相对于第二宽度边缘首先接触挡板触发装置时，所述挡板触发装置触发所述第三激光测距感应器测量第三激光测距感应器与第二宽度边缘之间的距离； 
借助所述第二激光测距感应器测量第二激光测距感应器与比第一长度边缘更加靠近所述第二激光测距感应器的第二长度边缘之间的距离； 
借助所述第一激光测距感应器测量第一激光测距感应器与比第一厚度表面更加靠近所述第一激光测距感应器的第二厚度表面之间的距离； 
借助所述工控机接收来自所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器及第三激光测距感应器的相应距离数值，将第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的固定距离与第一激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量厚度，将第二激光测距感应器与第二宽 度边缘之间的固定距离与第二激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量长度，将第三激光测距感应器与第二长度边缘之间的固定距离与第三激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量宽度； 
所述工控机将上述测量厚度、长度及宽度分别与预定的瓷砖厚度、长度及宽度许可范围进行比较，当测量厚度、长度及宽度位于所述瓷砖厚度、长度及宽度许可范围内时，将瓷砖识别为合格瓷砖。 
优选地，比如在瓷砖运行过程中，通过第三激光测距感应器连续探测与第二长度边缘之间的距离是否发生改变而确定瓷砖是否有菱形现象，当距离改变时，判断出瓷砖产生菱形现象，否则没有。 
本发明的优点在于：测量过程中不会导致瓷砖刮花或碰损，并且测量精度及效率较高。 
下面将结合附图，通过优选实施例详细描述本发明。 
附图说明
图1为本发明瓷砖外形检测装置的系统框图。 
具体实施方式
现在参考附图对本发明进行描述。 
如图1所示，本发明提供一种瓷砖外形检测装置，用于对瓷砖80的外形比如长度、宽度及厚度进行检测。 
所述瓷砖80具有与瓷砖80运动方向一致的第一长度边缘86、 与第一长度边缘86平行的第二长度边缘88、与瓷砖运动方向D横截的第一宽度边缘84、与第一宽度边缘84平行的第二宽度边缘82、第一厚度表面99及与第一厚度表面99平行的第二厚度表面98。 
瓷砖外形检测装置包括： 
相对于第一厚度表面99更加靠近第二厚度表面98的第一激光测距感应器92；相对于第一宽度边缘84更加靠近第二宽度边缘82的第二激光测距感应器94；相对于第一长度边缘86更加靠近第二长度边缘88的第三激光测距感应器96；与所述第一激光测距感应器92、第二激光测距感应器94和第三激光测距感应器96电性地连接的工控机20；及设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的第一宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器92、第二激光测距感应器94和第三激光测距感应器96进行距离测量的挡板触发装置100。 
所述第一激光测距感应器92与第一厚度表面99之间的距离、第二激光测距感应器94与挡板触发装置100之间的距离及第三激光测距感应器96与第一长度边缘86之间的距离保持固定不变。 
下面描述本发明装置的瓷砖外形测量过程。 
在瓷砖运动过程中，首先当第一宽度边缘84相对于第二宽度边缘82接触挡板触发装置100。此时，因为第一宽度边缘84与挡板触发装置100接触，因此导致所述挡板触发装置100触发所述第三激光测距感应器96，进而导致第三激光测距感应器96测量第三激光测距感应器96与第二宽度边缘82之间的距离。 
同时，第二激光测距感应器94测量第二激光测距感应器94与比 第一长度边缘86更加靠近所述第二激光测距感应器94的第二长度边缘88之间的距离；而借助所述第一激光测距感应器92测量第一激光测距感应器92与比第一厚度表面99更加靠近所述第一激光测距感应器92的第二厚度表面98之间的距离。 
随后，所述工控机20接收来自所述第一激光测距感应器92、第二激光测距感应器94及第三激光测距感应器96的相应距离数值，将第一激光测距感应器92与第一厚度表面99之间的固定距离与第一激光测距感应器92的测量值之间的差值作为瓷砖的测量厚度，将第二激光测距感应器94与第二宽度边缘82之间的固定距离与第二激光测距感应器94的测量值之间的差值作为瓷砖的测量长度，将第三激光测距感应器96与第二长度边缘88之间的固定距离与第三激光测距感应器96的测量值之间的差值作为瓷砖的测量宽度。 
所述工控机20将上述测量厚度、长度及宽度分别与预定的瓷砖厚度、长度及宽度许可范围进行比较，当测量厚度、长度及宽度位于所述瓷砖厚度、长度及宽度许可范围内时，将瓷砖识别为合格瓷砖。 
本发明同时提供一种瓷砖外形检测方法，所述瓷砖具有与瓷砖运动方向一致的第一长度边缘86、与第一长度边缘86平行的第二长度边缘88、与瓷砖运动方向横截的第一宽度边缘84、与第一宽度边缘84平行的第二宽度边缘82、第一厚度表面99及与第一厚度表面99平行的第二厚度表面98，所述瓷砖外形检测方法包括步骤： 
提供相对于第一厚度表面99更加靠近第二厚度表面98的第一激光测距感应器92、相对于第一宽度边缘84更加靠近第二宽度边缘82 的第二激光测距感应器94、相对于第一长度边缘86更加靠近第二长度边缘88的第三激光测距感应器96、与所述第一激光测距感应器92、第二激光测距感应器94和第三激光测距感应器96电性地连接的工控机20及设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器92、第二激光测距感应器94和第三激光测距感应器96进行距离测量的挡板触发装置100，所述第一激光测距感应器92与第一厚度表面99之间的距离、第二激光测距感应器94与挡板触发装置100之间的距离及第三激光测距感应器96与第一长度边缘86之间的距离固定； 
在瓷砖运动过程中当第一宽度边缘84相对于第二宽度边缘82首先接触挡板触发装置100时，所述挡板触发装置100触发所述第三激光测距感应器96测量第三激光测距感应器96与第二宽度边缘82之间的距离； 
借助所述第二激光测距感应器94测量第二激光测距感应器94与比第一长度边缘86更加靠近所述第二激光测距感应器94的第二长度边缘88之间的距离； 
借助所述第一激光测距感应器92测量第一激光测距感应器92与比第一厚度表面99更加靠近所述第一激光测距感应器92的第二厚度表面98之间的距离； 
借助所述工控机20接收来自所述第一激光测距感应器92、第二激光测距感应器94及第三激光测距感应器96的相应距离数值，将第一激光测距感应器92与第一厚度表面99之间的固定距离与第一激光 测距感应器92的测量值之间的差值作为瓷砖的测量厚度，将第二激光测距感应器94与第二宽度边缘82之间的固定距离与第二激光测距感应器94的测量值之间的差值作为瓷砖的测量长度，将第三激光测距感应器96与第二长度边缘88之间的固定距离与第三激光测距感应器96的测量值之间的差值作为瓷砖的测量宽度； 
所述工控机20将上述测量厚度、长度及宽度分别与预定的瓷砖厚度、长度及宽度许可范围进行比较，当测量厚度、长度及宽度位于所述瓷砖厚度、长度及宽度许可范围内时，将瓷砖识别为合格瓷砖。 
此外，所述方法可以检测瓷砖80是否有菱形现象，比如在瓷砖运行过程中，通过第三激光测距感应器96连续探测与第二长度边缘88之间的距离是否发生改变而确定瓷砖80是否有菱形现象，当距离改变时，判断出瓷砖80产生菱形现象，否则没有。 
本发明的优点包括但不限于：测量过程中不会导致瓷砖刮花或碰损，测量精度并且测量效率较高。 
以上所揭露的仅为本发明的优选实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，因此依本发明申请专利范围所作的等同变化，仍属本发明所涵盖的范围。 

Claims (3)

1.一种瓷砖外形检测装置，瓷砖具有与瓷砖运动方向一致的第一长度边缘、与第一长度边缘平行的第二长度边缘、与瓷砖运动方向横截的第一宽度边缘、与第一宽度边缘平行的第二宽度边缘、第一厚度表面及与第一厚度表面平行的第二厚度表面，其特征在于包括：
相对于第一厚度表面更加靠近第二厚度表面的第一激光测距感应器；
相对于第一宽度边缘更加靠近第二宽度边缘的第二激光测距感应器；
相对于第一长度边缘更加靠近第二长度边缘的第三激光测距感应器；
与所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器连接的工控机；及
设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器进行距离测量的挡板触发装置，其中
所述第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的距离、第二激光测距感应器与挡板触发装置之间的距离及第三激光测距感应器与第一长度边缘之间的距离固定；
在瓷砖运动过程中当第一宽度边缘相对于第二宽度边缘首先接触挡板触发装置时，所述挡板触发装置触发所述第三激光测距感应器测量第三激光测距感应器与第二宽度边缘之间的距离；
第二激光测距感应器测量第二激光测距感应器与比第一长度边缘更加靠近所述第二激光测距感应器的第二长度边缘之间的距离；
借助所述第一激光测距感应器测量第一激光测距感应器与比第一厚度表面更加靠近所述第一激光测距感应器的第二厚度表面之间的距离；
借助所述工控机接收来自所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器及第三激光测距感应器的相应距离数值，将第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的固定距离与第一激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量厚度，将第二激光测距感应器与第二宽度边缘之间的固定距离与第二激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量长度，将第三激光测距感应器与第二长度边缘之间的固定距离与第三激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量宽度；
所述工控机将上述测量厚度、长度及宽度分别与预定的瓷砖厚度、长度及宽度许可范围进行比较，当测量厚度、长度及宽度位于所述瓷砖厚度、长度及宽度许可范围内时，将瓷砖识别为合格瓷砖。
2.一种瓷砖外形检测方法，所述瓷砖具有与瓷砖运动方向一致的第一长度边缘、与第一长度边缘平行的第二长度边缘、与瓷砖运动方向横截的第一宽度边缘、与第一宽度边缘平行的第二宽度边缘、第一厚度表面及与第一厚度表面平行的第二厚度表面，包括如下步骤：
提供相对于第一厚度表面更加靠近第二厚度表面的第一激光测距感应器、相对于第一宽度边缘更加靠近第二宽度边缘的第二激光测距感应器、相对于第一长度边缘更加靠近第二长度边缘的第三激光测距感应器、与所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器电性地连接的工控机及设置在瓷砖运动方向用于与所述瓷砖的宽度边缘接触以便触发所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器和第三激光测距感应器进行距离测量的挡板触发装置，所述第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的距离、第二激光测距感应器与挡板触发装置之间的距离及第三激光测距感应器与第一长度边缘之间的距离固定；
在瓷砖运动过程中当第一宽度边缘相对于第二宽度边缘首先接触挡板触发装置时，所述挡板触发装置触发所述第三激光测距感应器测量第三激光测距感应器与第二宽度边缘之间的距离；
借助所述第二激光测距感应器测量第二激光测距感应器与比第一长度边缘更加靠近所述第二激光测距感应器的第二长度边缘之间的距离；
借助所述第一激光测距感应器测量第一激光测距感应器与比第一厚度表面更加靠近所述第一激光测距感应器的第二厚度表面之间的距离；
借助所述工控机接收来自所述第一激光测距感应器、第二激光测距感应器及第三激光测距感应器的相应距离数值，将第一激光测距感应器与第一厚度表面之间的固定距离与第一激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量厚度，将第二激光测距感应器与第二宽度边缘之间的固定距离与第二激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量长度，将第三激光测距感应器与第二长度边缘之间的固定距离与第三激光测距感应器的测量值之间的差值作为瓷砖的测量宽度；
所述工控机将上述测量厚度、长度及宽度分别与预定的瓷砖厚度、长度及宽度许可范围进行比较，当测量厚度、长度及宽度位于所述瓷砖厚度、长度及宽度许可范围内时，将瓷砖识别为合格瓷砖。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于进一步包括步骤：在瓷砖运行过程中，通过第三激光测距感应器连续探测与第二长度边缘之间的距离是否发生改变而确定瓷砖是否有菱形现象，当距离改变时，判断出瓷砖产生菱形现象，否则没有。
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