CN104567715A - 上下配合式工件结构尺寸检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种上下配合式工件结构尺寸检测装置，包括：设置在台面上方的上检测装置和设置在台面下方的下检测装置，其特征在于，所述上检测装置和所述下检测装置均安装在对应的移动模组上，所述上检测装置上装有上激光器和CCD，所述下检测装置上装有下激光器，所述上激光器和所述下激光器相对设置。本发明在台面的上方和下方分别设置了检测装置，这样均安装激光器的检测装置能够从上方和下方分别对工件进行检测，对于结构复杂的工件，单纯靠一个激光器去检测很难将复杂结构的每一个部分都检测完整和准确，两个从不同角度照射的激光器进行配合不但能够分工进行检测，也能够配合后功能性得到一定拓展的情况下进行检测。
Description
技术领域
本发明涉及电子配件加工领域，尤其涉及一种上下配合式工件结构尺寸检测装置。
背景技术
在对工件的轮廓结构、尺寸和长宽高等指标进行检测需要专用的检测设备，现有技术中，上述的多种指标需要多个流程，并运送到不同的位置分别进行检测，然后再根据多个指标进行综合的筛选并评出质量等级，但是这样的检测较为麻烦，多次的多重检测过程，很难保证工件不会受到额外的损伤，同时也耗费大量时间和资源。检测结束需要通过多种指标的综合评测对工件按照质量标准进行分类评级，这也需要在检测结束马上进行分级，以免弄混。
现有技术中，检测装置中会设有激光器和CCD，但也均是单独发挥各自的功能，无法实现功能的配合或者分工进行，以节约时间。
同一个托盘上的多个工件在进行分类时，需要逐个将不同的工件位置进行确定，并通过质量分级放送到不同的托盘上，进入不同的分类区域。
发明内容
本发明克服了现有技术的不足，提供一种配合分工使用的的上下配合式工件结构尺寸检测装置。
为达到上述目的，本发明采用的技术方案为：一种上下配合式工件结构尺寸检测装置，包括：设置在台面上方的上检测装置和设置在台面下方的下检测装置，其特征在于，所述上检测装置和所述下检测装置均安装在对应的移动模组上，所述上检测装置上装有上激光器和CCD，所述下检测装置上装有下激光器，所述上激光器和所述下激光器相对设置。
本发明一个较佳实施例中，所述上检测装置和所述下检测装置各自对应的移动模组均包括X轴和Y轴。
本发明一个较佳实施例中，所述上激光器的光头和所述下激光器的光头相对设置，所述工件位于两个光头之间。
本发明一个较佳实施例中，激光器的发射光线和接收光线共同所在的平面为光面，所述上激光器的光面和所述下激光器的光面水平成90°夹角设置。
本发明一个较佳实施例中，所述上激光器和所述下激光器在竖直平面内均能够旋转调整发射光线的角度。
本发明一个较佳实施例中，所述上检测装置和所述下检测装置分别对应的X轴相互平行，分别对应的Y轴相互平行。
本发明一个较佳实施例中，所述CCD下部的镜头外周设有环形光源。
本发明解决了背景技术中存在的缺陷，本发明在台面的上方和下方分别设置了检测装置，这样均安装激光器的检测装置能够从上方和下方分别对工件进行检测，对于结构复杂的工件，单纯靠一个激光器去检测很难将复杂结构的每一个部分都检测完整和准确，两个从不同角度照射的激光器进行配合不但能够分工进行检测，也能够配合后功能性得到一定拓展的情况下进行检测。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明的优选实施例的台面上方的立体结构图；
图2是本发明的优选实施例的立体结构图；
图3是本发明的优选实施例的上检测装置的立体图；
图4是本发明的优选实施例的下检测装置的立体图；
图5是本发明的优选实施例的两个激光器相对位置的示意图；
图6是本发明的优选实施例的CCD的立体结构图；
图中：4、上检测装置，6、CCD，8、下检测装置，11、上激光器，13、下激光器，15、环形光源，28、移动模组，30、X轴，32、Y轴，38、工件。
具体实施方式
现在结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
如图1-6所示，一种上下配合式工件结构尺寸检测装置，包括：设置在台面2上方的上检测装置4和设置在台面2下方的下检测装置8，上检测装置4和下检测装置8均安装在对应的移动模组28上，上检测装置4上装有上激光器11和CCD6，下检测装置8上装有下激光器13，上激光器11和下激光器13相对设置。
在台面2的上方和下方分别设置了检测装置，这样均安装激光器10的检测装置能够从上方和下方分别对工件38进行检测，对于结构复杂的工件38，单纯靠一个激光器10去检测很难将复杂结构的每一个部分都检测完整和准确，两个从不同角度照射的激光器10进行配合不但能够分工进行检测，也能够配合后功能性得到一定拓展的情况下进行检测。
上检测装置4和下检测装置8各自对应的移动模组28均包括X轴30和Y轴32，移动模组28配置的X轴30和Y轴32使得两个检测装置均能够在其所在的平面内作任意位置的移动，使得上激光器11和下激光器13能在多角度和多方向实现对同一工件38进行检测，同时移动模组28能够较为精确的为CCD6提供较好的检测位置和角度。
上激光器11的光头和下激光器13的光头相对设置，工件38位于两个光头之间，相对设置的激光器10实现了单独一个激光器10无法实现的扩展功能，并且在同一个工件38的上进行同时的两个角度的检测，并且通过两个激光器10自身的自我定位，以及对工件38的定位，实现更加立体的尺寸轮廓检测，这是单独一个激光器10无法实现的。
激光器10的发射光线和接收光线共同所在的平面为光面，上激光器11的光面和下激光器13的光面水平成90°夹角设置，此种角度设置有利于两个激光器10的配合使用，两个光面相互垂直，有利于检测立体结构的工件38。
上激光器11和下激光器13在竖直平面内均能够旋转调整发射光线的角度，这样丰富了激光器10的工作角度，配合的角度也更加多元。
上检测装置4和下检测装置8分别对应的X轴30相互平行，分别对应的Y轴32相互平行。两套移动模组28上的X轴30和Y轴32相互平行有利于激光器10相互定位，CCD6下部的镜头外周设有环形光源15。
本发明在使用时，如图1所示，带有工件38的托盘40被固定在上激光器11和下激光器13之间，在移动模组28的配合移动下，CCD6和激光器10逐一对工件38进行检测，检测检测结束后通过线体将托盘40运送出去。
以上依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定技术性范围。
Claims (7)
1. 一种上下配合式工件结构尺寸检测装置，包括：设置在台面上方的上检测装置和设置在台面下方的下检测装置，其特征在于，所述上检测装置和所述下检测装置均安装在对应的移动模组上，所述上检测装置上装有上激光器和CCD，所述下检测装置上装有下激光器，所述上激光器和所述下激光器相对设置。
2. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置，其特征在于：所述上检测装置和所述下检测装置各自对应的移动模组均包括X轴和Y轴。
3. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置，其特征在于：所述上激光器的光头和所述下激光器的光头相对设置，所述工件位于两个光头之间。
4. 根据权利要求1或3所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置，其特征在于：激光器的发射光线和接收光线共同所在的平面为光面，所述上激光器的光面和所述下激光器的光面水平成90°夹角设置。
5. 根据权利要求4所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置，其特征在于：所述上激光器和所述下激光器在竖直平面内均能够旋转调整发射光线的角度。
6. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置，其特征在于：所述上检测装置和所述下检测装置分别对应的X轴相互平行，分别对应的Y轴相互平行。
7. 根据权利要求1所述的上下配合式工件结构尺寸检测装置，其特征在于：所述CCD下部的镜头外周设有环形光源。
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