CN101424507A - 平面度测量装置 - Google Patents

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Abstract

一种平面度测量装置，用来测量平板型待测元件的平面度，包括一用来支撑所述待测元件的一边的平台、一垂直安装于所述平台的支架及一用于测量待侧元件的平面度而安装于支架的适当位置处的测量系统，所述测量系统包括一测量部、一带可弹性伸缩的表杆的测量表及一操控所述测量部运动的微调元件，所述测量部的一端抵顶于所述测量表的表杆，测量时，拧紧所述微调元件使其推动所述测量部向所述待测元件方向移动而与待测元件接触，并使抵顶于所述测量部的表杆也向所述待测元件方向弹性伸出，所述测量表根据表杆伸出的长度显示测量部的移动距离，从而方便、快速地得到测量结果。

Description

平面度测量装置
技术领域
本发明是涉及一种测量装置，特别涉及一种进行平面度测量的测量装置。
背景技术
笔记型电脑前、后盖注塑成型及烤漆过程中，平面度测量一直是此类工序地管控难点，而平面的变形程度又直接影响到产品的质量，因此平面度测量就显得格外重要。现有的测量方法是将被测面板立于治具一侧，被测面板靠近上下边缘的地方贴紧治具的两定位销，通过被测面板与治具基准面之间的间隙位置来判定其平面度是否符合规格要求，即被测面板与治具基准面之间出现间隙即判定该被测面板合格；若被测面板与治具基准面接触，而与两定位销或其中任一定位销不接触，则判定该被测面板严重变形。此测量方法应用不方便且测量结果不量化，如若需获知变化量还需配合厚度规测量，即通过插入间隙的厚度规数值来帮助界定，此种方法测量效率低、测量误差大。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种便于测量且测量结果精确的平面度测量装置。
一种平面度测量装置，用来测量平板型待测元件的平面度，包括一用来支撑所述待测元件的一边的平台、一垂直安装于所述平台的支架及一用于测量待侧元件的平面度而安装于支架的适当位置处的测量系统，所述测量系统包括一测量部、一带可弹性伸缩的表杆的测量表及一操控所述测量部运动的微调元件，所述测量部的一端抵顶于所述测量表的表杆，测量时，拧紧所述微调元件使其推动所述测量部向所述待测元件方向移动而与待测元件接触，并使抵顶于所述测量部的表杆也向所述待测元件方向弹性伸出，所述测量表根据表杆伸出的长度显示测量部的移动距离，从而测得所述待侧元件的平面度。
上述测量部可移动的抵顶于测量表，通过调整微调元件来带动测量部的运动，使其与待测元件接触，从而直接观察测量表的变化量即可得到测量部的位移，进而可得出待测元件的平面变形量，从而方便、快速地得到测量结果。
附图说明
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步的详细描述：
图1是本发明平面度测量装置的较佳实施方式的立体分解图。
图2是图1中的测量系统的立体分解图。
图3是图1的立体组装图。
图4是本发明平面度测量装置的较佳实施方式测量一待测元件时的使用状态图。
具体实施方式
请参照图1，本发明平面度测量装置的较佳实施方式包括一操作架10、一第一定位部30、一第二定位部50、一测量系统70及一微调元件(本实施方式中为微调螺丝80)。
操作架10包括一平台12、一垂直安装于平台12的“U”形支架14及一连接于支架14顶端的横梁16。支架14包括两竖置平行的导轨142，支架14每一侧面邻近平台12的部位均设有一滑动槽140。横梁16的两端各设一螺纹孔160，两头部为圆弧面的测量头20分别收容于横梁16的两螺纹孔160。
第一定位部30呈倒置的“L”形，包括第一水平部及自第一水平部的一端垂直延伸的第二水平部，其中第一水平部开设一上下贯穿的通孔32，第一水平部的端壁上开设一螺孔35，第二水平部于与螺孔35相对的一侧壁上凸设一弧形的第一定位块34。
第二定位部50呈方形，包括两相对的侧壁，其中一侧壁上开设一卡口52，另一侧壁上凸设一弧形的第二定位块54，第二定位部50上开设一贯穿该两相对侧壁且与卡口52相通的螺孔56。
请结合参照图2，测量系统70包括一测量表(本实施方式中为百分表72)、固定百分表72的表架74、一固定架76、一固定于固定架76的固定体78、一挡块75、一弹簧73、一连接件(本实施方式为一螺钉77)及一测量块79。百分表72的一侧凸设一固定部720，固定部720内延伸出一可弹性伸缩的表杆722。表架74包括一呈“ㄈ”形的主体740及两分别自主体740的两支臂末端向上下两相反方向竖直延伸的固定脚746；主体740上横向开设一通孔742，竖直开设一与通孔742相通的螺孔744；每一固定脚746上均开设一螺孔748。固定架76大致呈方形，包括一与表杆722伸缩方向平行的第一侧面760及一邻接第一侧面760且与表架74相对的第二侧面762。固定架76由第一侧面760的中间部位横向开设一收容槽764，收容槽764一直延伸直至贯穿第二侧面762。固定架76在远离第一侧面760处由顶部向底部贯穿开设一竖直的通孔765；固定架76在第一侧面760及第二侧面762上于收容槽765的上下两侧部位邻近该两侧面交汇处分别设有两螺孔766、768，在与第二侧面762相对的侧面的中部开设一与收容槽764相通的通孔769。固定体78包括一固定板780及自固定板780的中部突起的固定块782，固定板780于固定块782的两侧分别对应固定架76的螺孔766开设两螺孔784，固定块782上设有一横向贯穿的螺孔786。测量块79包括一竖直部790和一由竖直部790一侧面的中间位置垂直延伸的水平部792，竖直部790另一侧面的边缘处凸设一便于进行透光判断的凸缘794，且该另一侧面中部设有一螺孔(图未示)。水平部792的自由端上开设一螺孔796。挡块75邻近一端处开设一螺孔755，另一端为自由端。
请一并参照图1至图3，组装时，将固定架76通过其通孔765滑动套设于操作架10的支架14的其中一导轨142，沿着导轨142移动固定架76到所需位置，若干手动螺丝(图未示)可将固定架76固定于该导轨142的该位置处。测量块79的水平部792穿过固定架76的通孔769而伸入收容槽764中，将弹簧73套设于水平部792，使螺钉77穿过挡块75的螺孔755并锁入测量块79的水平部792的螺孔796，从而将挡块75锁固于测量块79的水平部792末端，挡块75的自由端自固定架76的第一侧面760伸出收容槽764；弹簧73的一端弹性抵顶于固定架76的收容槽764的槽壁上，另一端弹性抵于挡块75。两螺钉788分别对应的穿过固定体78的螺孔784并锁入固定架76的第一侧面760的螺孔766，从而将固定体78固定于固定架76的第一侧面760，且使固定体78的固定块782背向收容槽764，与挡块75的自由端平行并位于其外侧。此时，测量块79、挡块75、弹簧73及螺钉77组成一测量部。微调螺丝80穿过固定体78的螺孔786抵顶在挡块75的自由端的一侧面上。两螺钉745分别穿过表架74的固定脚746的螺孔748而旋入固定架76的第二侧面762的螺孔768，从而将表架74固定于固定架76的第二侧面762。一侧壁开设一狭槽的轴套724套设于百分表72的固定部720上，百分表72的表杆722及固定部720穿过表架74的通孔742，使轴套724收容于表架74的通孔742内，表杆722与固定于挡块75的螺钉77的螺帽弹性相接触。一螺钉71穿过表架74的螺孔744抵顶于轴套724的侧壁，并挤压轴套724使其上的狭槽收缩而将固定部720紧固于轴套724，从而将百分表72固定于表架74。使第一定位部30通过其通孔32滑动套设于该导轨142，一手动螺丝36穿过第一定位部30的螺孔35将第一定位部30可卡固于导轨142上位于测量系统70上方的任意位置，且使第一定位部30的第一定位块34位于支架14的外侧。一方形锁紧螺母58可移动地容置于导轨142的滑动槽140内，第二定位部50的卡口52卡在支架14上，一螺钉59穿过第二定位部50的螺孔56、螺母58的螺孔，且末端抵顶于支架14，从而将第二定位部50安装于支架14。此时，第一定位部30的第一定位块34和第二定位部50的第二定位块54的弧形部最外端共同位于一竖直的基准面上。将横梁16装设于支架14的两导轨142顶部。
请继续参照图4，当需测量待测元件90外凸变形的一面的变形量时，松释微调螺丝80使其与挡块75脱离接触，弹簧73的弹性回复力推动挡块75及螺钉77并同时带动测量块79向百分表72运动，从而推动百分表72的表杆722收缩，直至测量块79的竖直部790贴合于固定架76。此时，第一定位部30的第一定位块34和第二定位部50的第二定位块54的弧形部最外端所在的基准面与竖直部790之间的垂直距离为一定值d。调整百分表72使其读数归零。根据待测元件90的尺寸调整第一定位部30和第二定位部50的位置。将待测元件90竖起置于操作架10的平台12，并使其外凸那一面的上下两端分别紧靠第一定位块34及第二定位块54。根据待测元件90的外凸部的位置，调整测量系统70在导轨142上的位置并固定，拧紧微调螺丝80，使其推动挡块75向待测元件90靠近，弹簧73受压变形因而推动测量块79向待测元件90运动，此过程中，通过凸缘794与待测元件90之间是否有空隙而透光来判断他们的接触程度，当测量块79的凸缘794与待测元件90刚好接触无透光时，读出百分表72的读数，定值d与百分表72的读数之差即为该待测元件90向外凸起的变形值。
本发明还可以测量待测元件90凹陷的一面的变形值，当需测量待测元件90凹陷变形时，将收容于横梁16的螺纹孔160的其中一测量头20取下，将其安装于测量块79的竖直部790的螺孔内。松释微调螺丝80使其与挡块75脱离接触，弹簧73的弹性回复力推动挡块75及螺钉77向百分表72运动，直至测量块79的竖直部790贴合于固定架76，螺钉77的螺帽紧抵于百分表72的表杆722。此时，第一定位部30的第一定位块34、第二定位部50的第二定位块54的弧形部最外端及竖直部790的测量头20的头部共同位于一竖直的基准面上。调整百分表72使其读数归零。将待测元件90竖起使其凹陷一面的上下端部分别紧靠第一定位块34及第二定位块54。根据待测元件90的凹陷部的位置，调整测量系统70在导轨142上的位置并固定，拧紧微调螺丝80使其推动挡块75及与挡块75连接一起的测量块79向待测元件90靠近，直至测量头20的头部与待测元件90接触，它们的接触程度同样通过透光度来判断，当测量头20的头部与待测元件90刚好接触并无透光时，百分表72上的读数即为该待测元件90凹陷的变形值。
本发明测量装置的其它实施方式中，也可于另一导轨142上装设另一第一定位部30及另一第二定位部50，并于第一定位部30和第二定位部50之间装设另一测量系统70，从而方便两个测量人员分别对两待测元件90进行测量。

Claims (10)

  1. 【权利要求1】一种平面度测量装置，用来测量平板型待测元件的平面度，包括一用来支撑所述待测元件的一边的平台及一垂直安装于所述平台的支架，其特征在于：所述平面度测量装置还包括一用于测量待侧元件的平面度而安装于支架的适当位置处的测量系统，所述测量系统包括一测量部、一带可弹性伸缩的表杆的测量表及一操控所述测量部运动的微调元件，所述测量部的一端抵顶于所述测量表的表杆，测量时，拧紧所述微调元件使其推动所述测量部向所述待测元件方向移动而与待测元件接触，并使抵顶于所述测量部的表杆也向所述待测元件方向弹性伸出，所述测量表根据表杆伸出的长度显示测量部的移动距离，从而测得所述待侧元件的平面度。
  2. 【权利要求2】如权利要求1所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量系统还包括一固定架，所述固定架包括一与测量表的表杆的伸缩方向平行的第一侧面及一邻接于第一侧面并与测量表相对的第二侧面，所述固定架由第一侧面的中间部位横向设有一收容槽，所述收容槽一直延伸直至贯穿所述第二侧面，所述固定架上开设一与所述收容槽相通并贯穿至与所述第二侧面相对的一侧面的通孔，所述测量部包括一测量块，所述测量块包括一用以接触所述待测元件的竖直部及一水平部，所述水平部可移动地穿过所述通孔并收容于所述收容槽。
  3. 【权利要求3】如权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于：所述支架包括一竖直的导轨，所述固定架由顶部向底部开设一贯穿的竖直通孔，所述固定架通过其竖直通孔套设于所述导轨，从而将所述固定架可移动地装设于所述支架。
  4. 【权利要求4】如权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量部还包括一挡块、一弹簧及一连接件，所述弹簧套设于所述测量块的水平部，所述连接件将所述挡块连接于所述水平部，所述弹簧的一端抵顶于所述固定架，另一端抵顶于所述挡块。
  5. 【权利要求5】如权利要求4所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量系统还包括一固定体，所述固定体包括一固定板及一自固定板的中部突起的固定块，所述固定板固定于所述固定架的第一侧面，所述微调元件安装于所述固定块，且其末端抵挡于所述挡块
  6. 【权利要求6】如权利要求4所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量系统还包括一表架，所述表架包括一供所述测量表的表杆穿设的主体和自所述主体向两相反方向竖直延伸的两固定脚，所述两固定脚分别固定于所述固定架的第二侧面。
  7. 【权利要求7】如权利要求6所述的平面度测量装置，其特征在于：所述表架的主体上横向开设一通孔，竖直开设一与所述通孔相通的螺孔，所述测量表的一侧延伸一环绕所述表杆的固定部，一轴套套设于所述固定部，所述轴套及表杆穿过所述表架的主体的通孔使所述表杆抵顶于所述连接件，一螺钉穿过所述螺孔抵顶于所述轴套的侧壁，从而将所述测量表固定于所述表架。
  8. 【权利要求8】如权利要求7所述的平面度测量装置，其特征在于：所述轴套的侧壁上开设一狭槽。
  9. 【权利要求9】如权利要求2至8中任何一项所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量块的竖直部的一边缘背向其水平部垂直设有一凸缘，所述凸缘可抵顶于待测元件的外凸部位，以便判断所述竖直部与所述待测元件的接触情况，从而精确测量待测元件的外凸程度。
  10. 【权利要求10】如权利要求2至8中任何一项所述的平面度测量装置，其特征在于：所述平面度测量装置还包括一便于测量待测元件内凹变形面的头部为圆弧面的测量头，所述测量头可拆卸地安装于所述测量部的测量块，用于抵顶于待测元件的凹陷部位，从而测量待测元件的凹陷程度。
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