CN101210795A - 量测装置及量测方法 - Google Patents

量测装置及量测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101210795A
CN101210795A CNA2006100646245A CN200610064624A CN101210795A CN 101210795 A CN101210795 A CN 101210795A CN A2006100646245 A CNA2006100646245 A CN A2006100646245A CN 200610064624 A CN200610064624 A CN 200610064624A CN 101210795 A CN101210795 A CN 101210795A
Authority
CN
China
Prior art keywords
measurement
measuring
equipment
data processing
workpiece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2006100646245A
Other languages
English (en)
Inventor
李雷
成智
陈平
杨继文
董林森
孙长发
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd filed Critical Shenzhen Futaihong Precision Industry Co Ltd
Priority to CNA2006100646245A priority Critical patent/CN101210795A/zh
Priority to US11/945,512 priority patent/US7779550B2/en
Publication of CN101210795A publication Critical patent/CN101210795A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/28—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B5/285—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for controlling eveness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/22—Feeler-pin gauges, e.g. dial gauges

Abstract

本发明是关于一种量测装置，用以量测待测工件的表面平面度，该量测装置包括一量测设备及一数据处理设备，该量测设备包括一基座、一校零块、一导柱、一滑块及一千分表，该校零块包括一校零平面，该校零块放置在该基座上，该导柱垂直固定在基座上，该滑块一端可移动的设置于所述导柱上，其另一端固定所述千分表，该千分表用以量测待测工件表面若干量测点相较于校零平面的高度值，从而得到若干量测值；该数据处理设备与该量测设备相连，该数据处理设备用以分析由量测设备测得的量测值，判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求，并显示是否通过量测。该量测装置不仅体积较小，成本较低，结构简单，而且可直接显示量测值及量测结果。

Description

量测装置及量测方法
技术领域
本发明涉及一种量测装置及量测方法，尤其是关于一种测量平面度的量测装置及量测方法。
背景技术
工业生产中，为判断工件是否符合尺寸精度，常常需要对工件进行平面度或高度的量测。目前在该领域主要采用三次元量测技术对工件进行抽样量测，一般情况下对每一被测工件需要依次量测受测面上多个测试点的相关数据，然后由电脑处理后输出受测面平面度或高度的量测结果。该方法的主要缺点在于操作较为复杂，逐一的对每个测试点进行量测及数据处理需要较长时间，测试速度较低；且现有的三次元量测仪器体积较为庞大，结构复杂，移动不便，只适合在实验室中对少数产品样本进行量测，不能满足在生产线上进行大规模量测的要求。另外，若单独采用百分表或千分表量测，并由检测人员读数并手工记录，不仅效率低，而且容易造成读数错误。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可直接显示待测工件是否通过量测的量测装置。
另外，有必要提供一种操作简便快捷的量测方法。
一种量测装置，用以量测待测工件的表面平面度，该量测装置包括一量测设备及一数据处理设备，该量测设备包括一基座、一校零块、一导柱、一滑块及一千分表，该校零块包括一校零平面，该校零块放置在该基座上，该导柱垂直固定在基座上，该滑块一端可移动的设置于所述导柱上，其另一端固定所述千分表，该千分表用以量测待测工件表面若干量测点相较于校零平面的高度值，从而得到若干量测值；该数据处理设备与该量测设备相连，该数据处理设备用以分析由量测设备测得的量测值，判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求，并显示是否通过量测。
一种量测方法，该方法包括以下步骤：
对量测设备进行校零操作后，对数据处理设备进行量测参数设定，再用所述量测设备对待测工件表面若干点进行高度的量测，将所述高度的量测值传送到数据处理设备中进行比较分析，所述数据处理设备将待测工件表面每一点的量测值与量测参数加以比较，并显示比较结果。
与现有技术相比，本发明提供的量测装置不仅体积小巧，成本较低，结构简单，而且可直接显示量测值及量测结果，读数精确；本发明提供的量测方法能够将复杂的平面度直接测量转化为量测点到基准面的距离，操作简便快捷。
附图说明
图1为本发明量测装置的较佳实施例的立体示意图；
图2为本发明量测装置的较佳实施例的量测设备的立体示意图；
图3为本发明量测装置的较佳实施例中数据处理设备的功能模块图。
具体实施方式
请参阅图1，本发明量测装置80的较佳实施例包括一量测设备10及一与该量测设备10相互连接的数据处理设备20，该量测装置80可用于对待测工件的平面度及高度等进行量测。
请参阅图2，该量测设备10包括一基座14、一导柱16、一校零块19、一滑块18及一千分表12。该基座14为一大致呈矩形的金属板，其上表面具有很高的平面度，在该上表面临近边缘处开有一通孔142。该导柱16为一金属棒，其横截面与通孔142大小相当，该导柱16可卡固在该通孔142中并与该基座14相垂直。该校零块19具有一校零平面192，该校零块19放置在该基座14上。该滑块18大致呈长方形，在其上表面两端部分别开有一贯通的第一孔180及第二孔181。导柱16的一端穿过滑块18的第一孔180，以使滑块18滑动连接在导柱16上。一定位旋钮184同时固定在滑块18及导柱16上，以保证滑块18滑至一预定位置时相对导柱16固定，若需上下调滑块18，可通过调节定位旋钮184使滑块18沿导柱16上下滑动。该千分表12在本发明中的较佳实施例为一数显千分表，其包括一带有数字显示屏123的表盘122，一固定在表盘122下方的空心柱形轴套126及一伸入该轴套126中的圆柱形量测轴128。在表盘122外圆周侧设有一接口124，其可通过一数据传输线与数据处理设备20相连接，该千分表12的轴套126通过滑块18的第二孔181与该滑块18固定连接。
请一并参阅图1和图3，该数据处理设备20用于处理由量测设备10测得的数据并输出所需量测结果。该数据处理设备20为计算机等数据处理装置，其包括有一内置的功能模块21及一显示屏29，该功能模块21包括一输入/输出模块22、一参数设置模块24、一数据处理模块26及一显示模块28。该输入/输出模块22可通过一数据传输线与千分表12的接口124连接，以便数据处理设备20与量测设备10之间实现数据的传输。参数设置模块24与输入/输出模块22电连接以用于设置及储存量测参数。该数据处理模块26与输入/输出模块22及参数设置模块24电连接，可将来自量测设备10的数据与参数设置模块24中储存的参数进行比较与分析。显示模块28与输入/输出模块22、参数设置模块24及数据处理模块26电连接，该显示模块28与显示屏29电连接且通过该显示屏29显示量测设备10及数据处理设备20的相关参数及对工件的量测结果。
安装时，将量测设备10的接口124通过一数据传输线与数据处理设备20连接，并开启数据处理设备20及量测设备10的电源。
本发明量测方法的较佳实施例即采用上述装置对工件进行量测，该量测方法的较佳实施例包括以下步骤：
首先，对所述量测设备10进行校零操作，其目的是在量测前将量测轴128顶点的位置调节至一基准面上，使千分表12的数字显示屏123显示为零。校零的具体方法是将校零块19放置在基座14上，将校零块19放置在该量测轴128的下方，通过滑块18调节千分表12的高度，使量测轴128的顶点接触校零块19的校零平面192上，该校零平面192即为所述的基准面。之后对该千分表12进行清零操作，将量测轴128此时所在的位置设定为千分表的零值位置，同时该千分表12通过接口124经数据传输线将量测轴128所在的零值位置信息传输至输入/输出模块22，再经数据处理设备20加以储存，即完成校零操作。
校零操作完成后，参数设置模块24需判断是否已经设置量测参数，若尚未设置量测参数，则需要通过参数设置模块24在数据处理设备20中设置平面度的量测参数并加以储存。量测值是每一量测点与基准面之间的位移量，量测参数为能够表现量测值波动程度的参数，例如各量测值之差的可接受的范围，或所有量测值的样本方差的可接受的范围。
量测参数设置完成后即可进行量测操作，具体方法是将量测轴128向上抬起一段距离，将待测工件放置在校零块19的校零平面192上，然后将量测轴128松开以使其与待测工件相接触。在待测工件表面预先设定几个量测点，每量测一点时，千分表12的数字显示屏123显示出该点的高度，即量测点与基准面之间的位移量，即一量测值。数据处理设备20再通过数据传输线将量测设备10中的所述量测值记录下来。量测另一点时，移动待测工件，使量测轴128抵持在该量测点上，千分表12的数字显示屏123显示出该点的高度，数据处理设备20再将该点的数值记录下来。其他各点的量测方法与上述方法一致，故不再重述。
最后，数据处理模块26对量测值进行处理，例如将待测工件表面每一点量测值的差值与量测参数加以比较，进而判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求。若量测值波动较小，例如各量测值之间的差值或所有量测值的样本方差足够小而未超出量测参数的范围，则表示各量测点与基准面之间的距离较为一致，即可判定被量测工件具有较好的平面度，此时显示屏29即可显示如“pass”字样，该工件通过量测。若量测值波动较大，例如各量测值之间的差值或所有量测值的样本方差过大而超出量测参数的范围，则表明各量测点与基准面之间的距离差别较大，被量测工件的平面度不符合要求，此时显示屏29显示“no pass”，该工件不能通过量测。
可以理解，为了节省量测时间，也可在校零操作之前完成量测参数的设置及储存；若本发明量测装置的较佳实施例并非首次被使用，且工件量测标准并未改变，则设置及储存量测参数的步骤可以省略，依靠数据处理设备20储存的量测参数即可完成量测过程。
可以理解，该量测装置80还可以量测较薄工件的厚度及其平面度是否符合标准。

Claims (4)

1.一种量测装置，用以量测待测工件的表面平面度，该量测装置包括一量测设备及一数据处理设备，其特征在于：该量测设备包括一基座、一校零块、一导柱、一滑块及一千分表，该校零块包括一校零平面，该校零块放置在该基座上，该导柱垂直固定在基座上，该滑块一端可移动的设置于所述导柱上，其另一端固定所述千分表，该千分表用以量测待测工件表面若干量测点相较于校零平面的高度值，从而得到若干量测值；该数据处理设备与该量测设备相连，该数据处理设备用以分析由量测设备测得的量测值，判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求。
2.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该千分表包括一带有数字显示屏的表盘及一接口，该接口开设在表盘的外圆周侧，该千分表通过该接口经一数据传输线与该数据处理设备连接。
3.如权利要求1所述的量测装置，其特征在于：该数据处理设备包括一输入/输出模块、一参数设置模块、一数据处理模块、一显示模块及一显示屏，所述四模块相互电连接，该输入/输出模块与千分表连接，使该数据处理设备与所述量测设备进行数据传输，该参数设置模块用于设置及储存量测参数，该数据处理模块用于分析比较量测值及量测参数，该显示屏与该显示模块电连接，用于显示待测工件是否通过量测。
4.一种应用权利要求1所述量测装置的量测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：
对量测设备进行校零操作，
对数据处理设备进行量测参数设定，
用所述量测设备量测待测工件表面若干点相较于校零平面的高度值，从而得到若干量测值，
该数据处理设备分析由量测设备测得的量测值，判断所述待测工件表面平面度是否符合预定要求。
CNA2006100646245A 2006-12-29 2006-12-29 量测装置及量测方法 Pending CN101210795A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2006100646245A CN101210795A (zh) 2006-12-29 2006-12-29 量测装置及量测方法
US11/945,512 US7779550B2 (en) 2006-12-29 2007-11-27 Micrometer-based measuring system and method of using same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2006100646245A CN101210795A (zh) 2006-12-29 2006-12-29 量测装置及量测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101210795A true CN101210795A (zh) 2008-07-02

Family

ID=39581943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2006100646245A Pending CN101210795A (zh) 2006-12-29 2006-12-29 量测装置及量测方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7779550B2 (zh)
CN (1) CN101210795A (zh)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101726230B (zh) * 2009-11-17 2011-06-29 三一重型装备有限公司 一种液压支架及其支护高度的检测装置和检测方法
CN102788548A (zh) * 2012-08-01 2012-11-21 浙江佰耐钢带有限公司 钢带平整度测试装置
CN103075950A (zh) * 2012-12-31 2013-05-01 天津力神电池股份有限公司 极耳的平面度测量装置及测量方法
CN103712539A (zh) * 2013-12-28 2014-04-09 安徽昊方机电股份有限公司 带轮内孔端面轴向长度测量装置
CN104406553A (zh) * 2014-11-24 2015-03-11 重庆金辰机械制造有限公司 一种压缩机缸体两用检具
CN105091738A (zh) * 2015-05-08 2015-11-25 嘉兴斯达微电子有限公司 一种精准测量平整物整体曲面的测量装置及测量方法
CN105529294A (zh) * 2014-09-29 2016-04-27 盛美半导体设备（上海）有限公司 一种卡盘的水平调节装置以及使用该装置对卡盘进行水平调节的方法
CN107525489A (zh) * 2016-11-22 2017-12-29 浙江大学台州研究院 轴的清洗和检测装置
CN108466191A (zh) * 2017-02-23 2018-08-31 台濠科技股份有限公司 影像量测装置
CN109059703A (zh) * 2018-10-18 2018-12-21 南京星乔威泰克汽车零部件有限公司 一种带计算功能的百分表
CN110779476A (zh) * 2018-10-19 2020-02-11 深圳北芯生命科技有限公司 医用导管的直线度的检测装置及检测方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101236059A (zh) * 2007-02-02 2008-08-06 深圳富泰宏精密工业有限公司 测量设备及其测量方法
CN101408400B (zh) * 2007-10-12 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 测量装置
CN101424507B (zh) * 2007-10-30 2010-12-08 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 平面度测量装置
CN101819018B (zh) * 2009-02-26 2011-11-30 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 检测装置
CN102735414B (zh) * 2011-04-15 2016-02-17 中山市云创知识产权服务有限公司 跌落测试系统
US9329017B2 (en) * 2012-03-20 2016-05-03 Micro Motion, Inc. Alignment tool
CN102749064B (zh) * 2012-06-19 2015-10-14 歌尔声学股份有限公司 一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法及其装置
CN202994114U (zh) * 2012-07-30 2013-06-12 富鼎电子科技(嘉善)有限公司 尺寸测试装置
CN103148987B (zh) * 2013-02-28 2018-02-16 贵州虹智精密轴承有限责任公司 一种轴承密封状态测量装置及其方法
US10150192B1 (en) * 2015-08-07 2018-12-11 Joseph R. Navarro, Sr. Alignment tool and method of use
US10753720B2 (en) * 2017-06-20 2020-08-25 Kenneth D. Schultz End play measurement apparatus for linear actuators
JP7097925B2 (ja) * 2020-05-28 2022-07-08 株式会社ミツトヨ 自動測定装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000234923A (ja) 1999-02-15 2000-08-29 Nikon Corp 面形体測定装置および部品製造方法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101726230B (zh) * 2009-11-17 2011-06-29 三一重型装备有限公司 一种液压支架及其支护高度的检测装置和检测方法
CN102788548A (zh) * 2012-08-01 2012-11-21 浙江佰耐钢带有限公司 钢带平整度测试装置
CN103075950B (zh) * 2012-12-31 2015-12-02 天津力神电池股份有限公司 使用平面度测量装置测量极耳平面度的方法
CN103075950A (zh) * 2012-12-31 2013-05-01 天津力神电池股份有限公司 极耳的平面度测量装置及测量方法
CN103712539A (zh) * 2013-12-28 2014-04-09 安徽昊方机电股份有限公司 带轮内孔端面轴向长度测量装置
CN103712539B (zh) * 2013-12-28 2017-02-08 安徽昊方机电股份有限公司 带轮内孔端面轴向长度测量装置
CN105529294A (zh) * 2014-09-29 2016-04-27 盛美半导体设备（上海）有限公司 一种卡盘的水平调节装置以及使用该装置对卡盘进行水平调节的方法
CN105529294B (zh) * 2014-09-29 2019-12-20 盛美半导体设备（上海）有限公司 一种卡盘的水平调节装置以及使用该装置对卡盘进行水平调节的方法
CN104406553A (zh) * 2014-11-24 2015-03-11 重庆金辰机械制造有限公司 一种压缩机缸体两用检具
CN105091738A (zh) * 2015-05-08 2015-11-25 嘉兴斯达微电子有限公司 一种精准测量平整物整体曲面的测量装置及测量方法
CN107525489A (zh) * 2016-11-22 2017-12-29 浙江大学台州研究院 轴的清洗和检测装置
CN108466191A (zh) * 2017-02-23 2018-08-31 台濠科技股份有限公司 影像量测装置
CN109059703A (zh) * 2018-10-18 2018-12-21 南京星乔威泰克汽车零部件有限公司 一种带计算功能的百分表
CN110779476A (zh) * 2018-10-19 2020-02-11 深圳北芯生命科技有限公司 医用导管的直线度的检测装置及检测方法
CN110779476B (zh) * 2018-10-19 2022-01-11 深圳北芯生命科技股份有限公司 医用导管的直线度的检测装置及检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20080155846A1 (en) 2008-07-03
US7779550B2 (en) 2010-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101210795A (zh) 量测装置及量测方法
CN101236059A (zh) 测量设备及其测量方法
US20070240322A1 (en) Testing system for flatness and parallelism
CN200975875Y (zh) 多功能测量仪
WO2016150005A1 (zh) 数显卡尺自动化检测的方法及装置
US20100286947A1 (en) Resilience and displacement measuring device and method
CN213456497U (zh) 一种挠性线路板的静态弯折力检测装置
CN101701792B (zh) 量块自动检定系统及检定方法
CN1458497A (zh) 圆柱度的分离测量方法及其装置
CN104330009A (zh) 零件高度尺寸测量方法及测量工装
CN201527425U (zh) 用于测量混凝土收缩的试验装置
CN104251966A (zh) 自动化测量系统及方法
TWI398620B (zh) 量測裝置及量測方法
CN214309936U (zh) 一种cmp抛光垫压缩比测量装置
CN201764929U (zh) 穴座位置度检测治具
CN213122259U (zh) 一种数字仪表显示结果自动识别装置
CN210689488U (zh) 一种便携式对称度检测装置
CN210070867U (zh) 一种高精度智能孔径测试装置
CN201867410U (zh) 一种用于测量混凝土收缩的试验装置
CN213238675U (zh) 一种互换刀座精度检测装置
CN207515677U (zh) 多功能高度仪
CN206387326U (zh) 球栅标准装置
CN205448970U (zh) 中厚板激光三角法检测标定装置
CN219914716U (zh) 一种背压测试装置
CN203190954U (zh) 一种薄板瓢曲测量仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Open date: 20080702