CN104330009A - 零件高度尺寸测量方法及测量工装 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种零件高度尺寸测量方法及测量工装，将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，记录测量千分表的刻度值A，标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐，标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸；将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上，读出测量千分表的刻度值B；将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。上述测量方法不需要任何制式量具即可对零件的上、下基准面之间的高度尺寸进行快速、高精度的测量，使用方便。

Description

零件高度尺寸测量方法及测量工装

技术领域

    本发明涉及一种零件高度尺寸测量方法及测量工装。

背景技术

零件高度尺寸为零件上、下基准面之间的高度尺寸，测量时，选用不同精度规格的内径千分表、外径千分尺或者是游标卡尺等量具对上、下基准面的间距进行测量，进而得到待测零件高度尺寸，判断其是否合格。

但上述不同规格类型的内径千分表、外径千分尺或者是游标卡尺等量具的通用性较差，每种规格类型的量具一般多是对应一种类型的零件尺寸，这就存在通用性较差的问题，当零件尺寸种类较多时，所需量具规格种类也较多，操作较为麻烦，并且还会经常出现因缺少某种规格类型的量具而导致对两基准面间距的测量工作无法进行，影响测量工作的正常进行。

发明内容

本发明提供一种零件高度尺寸测量方法，以解决现有技术中测量零件尺寸所需量具规格种类较多的技术问题；同时，本发明还提供一种应用于上述测量方法中的测量工装。

本发明所提供的零件高度尺寸测量方法的技术方案是：零件高度尺寸测量方法，包括如下步骤：

（1）        将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，记录测量千分表的刻度值A，标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐，标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸；

（2）        将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上，读出测量千分表的刻度值B；

（3）        将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，即可得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。

上述步骤一中，在将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上时，将测量千分表调零，所述测量千分表的刻度值A为0。

所述的测量方法还包括在步骤一中将测量千分表顶压在标准检块的上基准面之前，选用调平千分表将标准检块的下基准面与待测零件的下基准面进行调平，调平时先将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上，记录调平千分表的刻度值C，将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上，调整标准检块的高度使得调平千分表显示刻度值C即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

所述的调平千分表和测量千分表为同一个杠杆千分表，该杠杆千分表安装在可沿上下方向调整杠杆千分表位置的千分表升降台上。

在将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上时，将调平千分表调零，调平千分表的刻度值C为0，在将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上时，调整标准检块的高度使得调平千分表归零即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

本发明所提供的零件高度尺寸测量工装的技术方案是：零件高度尺寸测量工装，包括标准检块，标准检块的上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸，测量工装还包括用于在标准检块的下基准面与待测零件高度尺寸的下基准面平齐时在上基准面检测位对标准检块上基准面进行检测定位、在上基准面测量位对待测零件上基准面进行测量的测量千分表，测量千分表设置在可驱动测量千分表从上基准面检测位平移至上基准面测量位的千分表安装架上，测量千分表具有用于在测量千分表位于上基准面检测位时顶压在标准检块上基准面上、在测量千分表位于上基准面测量位时顶压在待测零件上基准面上的测量触头。

所述的标准检块沿上下方向高度可调的设置在检块调整架上。

所述的测量千分表沿上下方向高度可调的安装在所述千分表安装架上，所述测量千分表为用于在下基准面检测位对待测零件下基准面进行检测定位、在下基准面调平位对标准检块下基准面进行测量调平的调平千分表，所述千分表安装架可驱动调平千分表从所述下基准面检测位平移至下基准面调平位。

所述的千分表安装架和检块调整架均为数显高度尺。

所述的测量千分表为杠杆千分表。

本发明的有益效果是：采用本发明所提供的测量工装及测量方法对零件高度尺寸进行测量时，在标准检块的下基准面与待测零件高度尺寸的下基准面平齐时，通过测量千分表对标准检块的上基准面进行检测定位，再将测量千分表平移对待测零件的上基准面进行测量，因为标准检块上、下基准面之间的高度尺寸等于待测零件上、下基准面的理论高度尺寸，通过计算测量千分表两次两侧读数做差再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，即可快速得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。这种测量方法不需要任何制式量具即可对零件的上、下基准面之间的高度尺寸进行快速、高精度的测量，操作过程简单、使用方便、测量成本低，通用性强。

进一步的，在测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上时，将测量千分表调零，这样一来，在步骤三中，可直接将当测量千分表的测量触头在步骤二中顶压在待测零件的上基准面上时得到的测量千分表的读数与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和即可得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸，计算方便。

附图说明

图1是本发明所提供的零件高度尺寸测量工装一种实施例的结构示意图（测量千分表处于下基准面检测位）；

图2是图1所示测量工装在对标准检块的下基准面进行调平时的结构示意图（测量千分表处于下基准面调平位，千分表调整架未显示）；

图3是图1所示测量工装在对标准检块的上基准面进行检测定位时的结构示意图（测量千分表处于上基准面检测位，千分表调整架未显示）；

图4是图1所示测量工装在对待测零件的上基准面进行测量时的结构示意图（测量千分表处于上基准面测量位，千分表调整架未显示）；

图5是如图1所示测量工装对零件内径的高度尺寸进行测量的示意图；

图6是一种实例零件的结构示意图；

图7是对如图6所示零件进行高度尺寸测量的测量工装的结构示意图（调平千分表处于下基准面检测位）；

图8是图7所示测量工装在对标准检块的下基准面进行调平时的结构示意图（调平千分表处于下基准面调平位，千分表调整架未显示）；

图9是图7所示测量工装在对标准检块的上基准面进行检测定位时的结构示意图（测量千分表处于上基准面检测位，千分表调整架未显示）；

图10是图7所示测量工装在对待测零件的上基准面进行测量时的结构示意图（测量千分表处于上基准面测量位，千分表调整架未显示）。

具体实施方式

本发明所提供的零件高度尺寸测量方法的实施例，该实施例中的测量方法包括如下步骤：

（1）将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，将测量千分表调零，测量千分表的刻度值A为0，标准检块的下基准面与待测零件高度尺寸的下基准面平齐，标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸；

（2）将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上，读出测量千分表的刻度值B；

（3）将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，即可得到待测零件的上、下基准面之间的实际高度尺寸。

上述的测量方法还包括在步骤一中将测量千分表顶压在标准检块的上基准面之前，选用调平千分表将标准检块的下基准面与待测零件的下基准面进行调平，调平时先将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上，记录调平千分表的刻度值C，将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上，调整标准检块的高度使得调平千分表显示刻度值C即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

在将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上时，将调平千分表调零，调平千分表的刻度值C为0，在将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上时，调整标准检块的高度使得调平千分表归零即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

上述的调平千分表和测量千分表为同一个杠杆千分表，该杠杆千分表安装在可沿上下方向调整杠杆千分表位置的千分表升降台上。在其他实施例中，调平千分表和测量千分表也可以分别采用不同的杠杆千分表。

上述测量方法的实施例中，在将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，将测量千分表调零，测量千分表的刻度值A为0，这样可以根据在步骤二中读取的刻度值B直接与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，迅速得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。在其他实施例中，也可以不进行调零操作，此时就需要将在步骤一中所得到的刻度值A和在步骤二中所得到的刻度值B做差，最终也可以得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。

上述测量方法的实施例中，测量千分表和调平千分表均采用杠杆千分表，在其他实施例中，也可以采用现有技术中常用的千分表。

如图1至图5所示，本发明所提供的零件高度尺寸测量工装的实施例，该实施例中的测量工装包括标准检块6，标准检块6的上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件1的上、下基准面之间的理论高度尺寸，本实施例中的标准检块6具体可由预制的高精度尺寸量块叠合构成，将多个量块叠合的放置在安装架4中以形成标准检块6，测量工装还包括用于在标准检块6下基准面与待测零件1下基准面平齐时在上基准面检测位对标准检块6的上基准面进行检测定位、在上基准面测量位对待测零件1的上基准面进行测量的测量千分表2，该测量千分表为杠杆千分表，测量千分表2具有用于在测量千分表2位于上基准面检测位时顶压在标准检块6的上基准面上、在测量千分表2位于上基准面测量位时顶压在待测零件1的上基准面上的测量触头。

本实施例中的测量工装还包括工作台10，工作台10上放置有用于支撑待测零件1的支撑块11，工作台10上还依次布置有千分表调整架3和检块调整架5，此处的千分表调整架3和标准检块调整架5均为数显高度尺，测量千分表2沿上下方向高度可调的安装在千分表调整架3上，标准检块6通过安装架4沿上下方向高度可调的安装在检块调整架5上，千分表安装架3可驱动测量千分表2从与待测零件下基准面顶压的下基准面检测位平移至与标准检块6的下基准面顶压的下基准面调平位，还可以在测量千分表2沿千分表调整架3上调后驱动测量千分表2从与标准检块6的上基准面顶压的上基准面检测位平移至于待测零件1的上基准面顶压的上基准面测量位。

利用测量千分表2作为调平千分表对待测零件1的下基准面进行检测定位、对标准检块6的下基准面进行检测调平时，测量千分表处于下基准面检测位时对待测零件1的下基准面检测定位，测量千分表在处于下基准面调平位时对标准检块的下基准面进行调平。

如图1至图4所示，采用零件高度尺寸测量工装对零件外径高度尺寸进行测量；

如图1所示，首先将测量千分表2调整至处于下基准面检测位，此时，测量千分表2的测量触头顶压在待测零件1的下基准面a，并将测量千分表调零，然后如图2所示，移动千分表调整架3驱动测量千分表2移动至下基准面调平位，测量千分表2的测量触头顶压在标准检块6的下基准面c上，通过检块调整架5调整标准检块6的高度，使得测量千分表5读数归零，完成调平操作，标准检块6的下基准面与待测零件1的下基准面平齐，然后如图3所示，将测量千分表2向上移动至上基准面检测位，测量千分表2的测量触头顶压在标准检块6的上基准面d上，并测量千分表调零，对标准检块6的上基准面d进行检测定位，然后如图4所示，移动千分表调整架3驱动测量千分表2移动至上基准面测量位，测量千分表2的测量触头顶压在待测零件1的上基准面b上，读取测量千分表2上的刻度值B，该刻度值B与标准检块6的上、下基准面之间的高度尺寸做和即可得到待测零件的上、下基准面之间的实际高度尺寸。

上述实施例中，测量千分表2作为调平千分表对标准检测的下基准面进行测量调平，在其他实施例中，也可以仅使用测量千分表对标准检块的上基准面进行检测定位、对待测零件的上基准面进行测量，而另外选取调平千分表对待测零件的下基准面进行检测定位，对标准检块的下基准面进行测量调平。

上述实施例中，为便于对零件外径尺寸的下基准面进行测量，在工作台上设有支撑块，在其他实施例中，如果零件本身具有支撑部的话，也可以省去支撑块，只要能够保证对待测零件的下基准面的检测定位即可。

上述实施例中，千分表调整架和检块调整架均采用数显高度尺，这样可以保证标准检块和测量千分尺的调整精度，在其他实施例中，也可以选取其他的高度调整结构。

上述实施例中，可利用测量工装对零件外径的上、下基准面之间的高度尺寸进行测量，如图5所示，也可以利用测量工装对零件内径的上、下基准面之间的高度尺寸进行测量，测量方法与图1至图4中的测量方法相同，区别在于根据实际需要选取不同的便于测量的杠杆千分表。

利用如图1所示的零件工装除了可以对零件的标准外径或内径尺寸进行测量，还可以根据实际需要对零件上选取的上、下基准面之间的高度尺寸进行测量，如图6所示，需要对零件21的上基准面f和下基准面e之间的高度尺寸进行测量，在使用本发明所提供的测量工装进行测量时，首先选取合适的标准检块6，该标准检块的上基准面k、下基准j之间的高度尺寸与零件21的上基准面f、下基准面e之间的理论高度尺寸相同，并调平千分表22及测量千分表23安装在千分表调整架上，将标准检块6通过安装架安装在检块调整架上，另外，本实施例中在具体使用时，分别选取调平千分表22和测量千分表23。

具体测量时，如图7所示，将调平千分表22调整至处于下基准面检测位，此时，调平千分表22的测量触头顶压在待测零件1的下基准面a，并将调平千分表调零，然后如图8所示，移动千分表调整架驱动调平千分表22移动至下基准面调平位，调平千分表22的测量触头顶压在标准检块6的下基准面j上，通过检块调整架调整标准检块6的高度，使得调平千分表22读数归零，完成调平操作，标准检块6的下基准面j与零件21的下基准面e平齐，然后如图9所示，将测量千分表23向上移动至上基准面检测位，测量千分表23的测量触头顶压在标准检块6的上基准面k上，并将测量千分表23调零，对标准检块6的上基准面k进行检测定位，然后如图10所示，移动千分表调整架驱动测量千分表23移动至上基准面测量位，测量千分表23的测量触头顶压在零件的上基准面f上，读取测量千分表23上的刻度值，该刻度值与标准检块6的上、下基准面之间的高度尺寸做和即可得到零件21的上、下基准面之间的实际高度尺寸，然后根据的实际高度尺寸判断零件是否合格。 

Claims (10)

1.零件高度尺寸测量方法，其特征在于：包括如下步骤：

（1）将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，记录测量千分表的刻度值A，标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐，标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸；

（2）将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上，读出测量千分表的刻度值B；

（3）将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，即可得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。

2.根据权利要求1所述的零件高度尺寸测量方法，其特征在于：上述步骤一中，在将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上时，将测量千分表调零，所述测量千分表的刻度值A为0。

3.根据权利要求1或2所述的零件高度尺寸测量方法，其特征在于：所述的测量方法还包括在步骤一中将测量千分表顶压在标准检块的上基准面之前，选用调平千分表将标准检块的下基准面与待测零件的下基准面进行调平，调平时先将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上，记录调平千分表的刻度值C，将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上，调整标准检块的高度使得调平千分表显示刻度值C即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

4.根据权利要求3所述的零件高度尺寸测量方法，其特征在于：所述的调平千分表和测量千分表为同一个杠杆千分表，该杠杆千分表安装在可沿上下方向调整杠杆千分表位置的千分表升降台上。

5.根据权利要求3所述的零件高度尺寸测量方法，其特征在于：在将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上时，将调平千分表调零，调平千分表的刻度值C为0，在将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上时，调整标准检块的高度使得调平千分表归零即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐。

6.零件高度尺寸测量工装，其特征在于：包括标准检块，标准检块的上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸，测量工装还包括用于在标准检块的下基准面与待测零件高度尺寸的下基准面平齐时在上基准面检测位对标准检块上基准面进行检测定位、在上基准面测量位对待测零件上基准面进行测量的测量千分表，测量千分表设置在可驱动测量千分表从上基准面检测位平移至上基准面测量位的千分表安装架上，测量千分表具有用于在测量千分表位于上基准面检测位时顶压在标准检块上基准面上、在测量千分表位于上基准面测量位时顶压在待测零件上基准面上的测量触头。

7.根据权利要求6所述的零件高度尺寸测量工装，其特征在于：所述的标准检块沿上下方向高度可调的设置在检块调整架上。

8.根据权利要求7所述的零件高度尺寸测量工装，其特征在于：所述的测量千分表沿上下方向高度可调的安装在所述千分表安装架上，所述测量千分表为用于在下基准面检测位对待测零件下基准面进行检测定位、在下基准面调平位对标准检块下基准面进行测量调平的调平千分表，所述千分表安装架可驱动调平千分表从所述下基准面检测位平移至下基准面调平位。

9.根据权利要求7所述的零件高度尺寸测量工装，其特征在于：所述的千分表安装架和检块调整架均为数显高度尺。

10.根据权利要求6至9中任一项所述的零件高度尺寸测量工装，其特征在于：所述的测量千分表为杠杆千分表。