CN101352815A - 模块化测量探头 - Google Patents

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Abstract

公开了一种测量探头，例如碰触触发式探头，其包括连接到基部模块(20；120)上的触针模块(22；122)。所述触针模块(22；122)包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器(24；132)。所述基部模块(20；120)包括测量部分(36；124)，用于产生表示所述触针保持器(24；132)相对于所述壳体的运动的测量数据。所述触针模块(22；122)具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。在一种实施方式中，通过将电池(34)一体地结合到所述触针模块(22)中提供所述内置失效模式。还描述了提供机械失效模式，其中，触针模块(122)的部件在一定的使用量之后突然失效。

Description

模块化测量探头
技术领域
本发明涉及一种用于与机床等结合使用的测量探头，本发明特别涉及模块化测量探头装置。
背景技术
已知各种测量探头。例如，已知碰触触发式探头(参见US4153998)，其包括运动学机构，其中当触针接触物体时触针保持器从探头主体中的相关的位置离开。运动学机构的离开断开了允许产生“接触”或者触发信号的电路。作为这种碰触触发式探头的一种替代，已知使用应变仪等来测量触针偏转，或者当一定量的触针偏转发生时提供对触针偏转的测量或者发送触发信号。
通常，对于机床，提供测量探头，其为单个机械坚固的探头主体的形式，探头主体中容纳电路和可偏转的触针机构。触针通常例如通过螺纹可释放地连接到探头主体的触针保持器机构上，以允许不同的触针用于不同的测量任务，并允许替代磨损或者折断的触针。在机床环境中，通常提供电池供电的测量探头，其通过无线电线路与相关的探头接口通信。这种无线(RF)测量探头的一个例子可从瑞尼斯豪公司(RENISHAW PLC)的产品RMP60获得。也已知RMP60探头的模块化形式，其中适配器和延伸杆允许可连接触针的探头模块位于离探头主体延长的距离处，该探头主体容纳无线(RF)通信和数据处理电子设备。这种模块化系统被设计成提高测量难以接近的部件的能力。
发明内容
根据本发明的第一方面，提供一种测量探头，其包括可释放地连接到一基部模块上的触针模块，所述触针模块包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器，所述基部模块可安装到坐标定位装置上，所述基部模块包括测量部分，用于产生表示所述触针保持器相对于所述壳体的运动的测量数据，其中，所述触针模块具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。
本发明因此提供一种模块化或多部件的测量探头，用于与例如数控机床的坐标定位装置结合使用。该测量探头的基部模块可安装到该坐标定位装置上，例如，它可以安装到机床的心轴上和/或安装到机床的床身或工作台上。基部模块还包括测量部分，用于产生测量数据，例如触发信号或者触针偏转信息。优选直接且可重复地连接到基部模块上的触针模块包括触针保持器，该触针保持器可动地安装到壳体上，使得安装到触针保持器上的触针的偏转导致触针保持器相对于壳体运动。本发明的测量探头的触针模块还具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。换句话说，该触针模块包括至少一个能够在预定的时间或者使用量之后失效或者变得不工作的部件。
提供根据本发明的模块化布置相比于大多数部件包含在单一探头壳体中的上述类型的现有技术测量探头具有一些优点。特别的是，本发明的模块化测量探头允许测量探头的大多数或优选全部运动部件结合到触针模块中。这样，是触针模块的这些部件在测量探头操作期间经受机械磨损和撕裂。相反，基部模块被布置成包含测量探头的不经受机械磨损的部件并因此具有长得多的使用寿命。例如，基部模块除了包括测量部分的分析原始触针偏转信号以产生所需测量数据的处理电子设备之外可包括相对复杂的通信部分，例如跳频RF通信单元。该触针模块可包含一些电子设备，但优选不包含装备测量探头所必须的任何相对昂贵的电子设备。这样，触针模块可设置为相对低成本(例如可丢弃或者可消耗)的模块。
如上所述，本发明的测量探头的触针模块具有内置失效模式，使得其具有基本上预定的使用寿命。如下面更详细描述的，触针模块可包括一个或多个用于对测量探头供电的电池，其在一定的使用量之后失效。
提供这种失效模式允许制造商预设或者控制触针模块的预期使用寿命。在触针模块失效之后，可以通过使新的触针模块和基部模块配对来重新激活测量探头。本发明可因此提供在其中的运动部件被磨损得足以使得测量精度变差之前失效的触针模块。这确保了保持测量精度。另外，本发明还可允许制造商初始相对于单件式测量探头以显著低的折扣出售模块化测量探头，并通过连续出售触针模块来弥补提供这种初始折扣的成本。这也通过允许可能对其生产过程中的探测技术的好处不确信的用户以低的前期成本采用该技术来使用户受益。
该测量探头优选由电池驱动。有利的是，触针模块包括至少一个电池。当基部模块连接到触针模块上时，所述触针模块的至少一个电池可以方便地对基部模块供电。换句话说，触针模块可以包括电源，在使用中对基部模块的测量部分和任何无线通信部分供电。这允许基部模块设置成永久密封的单元，其不需要任何必须被周期性打开以接近电池的电池盒。没有任何电池盒开口，有助于保护基部模块的部件在更换电池期间不受来自冷却剂、金属屑或其他进入该装置的污染物的损害。应当注意，尽管触针模块优选对基部模块提供所有必须的电能，但是基部模块也可以包括一个或多个更长寿命的电池，以对某些电子部件(例如存储器芯片等)连续供电。有利的是，仅仅从设置在基部模块中的任何电池流出很小的电流，以确保基部模块的使用寿命不会被这些电池显著限制。任何基部模块电池都可例如利用由触针模块提供的电能再充电。
优选的是，触针模块的至少一个电池永久地一体结合在触针模块中。换句话说，触针模块的一个或多个电池可与触针模块一体地设置或者形成，并优选不可从触针模块移除。有利的是，至少一个电池不能从触针模块的壳体移除，不会不可逆地损坏触针模块的至少一部分。例如，触针模块可包括模块化塑料壳体，电池容纳在该壳体中。在该例子中，仅仅通过物理破坏或者切开塑料壳体才可去除电池，这减低了触针模块的强度，提供了金属屑、冷却剂和其他污染物可进入的开口。这样，测量探头可与某个触针模块配合直到该模块的电池被耗尽。此时，触针模块被丢弃，替代的触针模块与基部模块结合，提供可操作的测量探头。提供这种专用电池也可允许触针模块的尺寸相对于具有用于保持标准尺寸的电池的电池盒的触针模块减小。相反，可以设置定制的电池，其使可存储在一定尺寸的触针模块中的电能量最大化。
有利的是，测量探头包括指示器，用于当触针模块的一个或多个电池快用完时发出信号。该指示器可以是可视的和/或可听的。例如，测量探头可以包括用于提供低电池警告的一个或多个LED和/或发出“嘟嘟”警告音的扬声器。优选的是，电池监控电路和/或低电池指示器设置为基部模块的一部分，以提供所连接的触针模块很快需要更换的警告。
在使用中，触针模块优选包括触针。触针的远端或者称物体接触端可具有红宝石球或者工具调整立方体。触针可以可释放地连接到触针保持器上，例如，触针的近端可包括螺纹，其可与设置在触针保持器上的互补的螺纹凹槽螺纹接合。这样，连接到触针模块上的触针可以根据需要改变。
有利的是，触针模块包括与触针保持器形成一体的触针。换句话说，触针设置为触针模块的在正常使用中不能与触针保持器分离的部分。这样，对触针的任何伤害需要更换整个触针模块而不是仅更换触针。
提供具有一体的触针的触针模块允许该触针模块在连接到基部模块上之前被适当地校准。换句话说，通常在新的触针首次连接到测量探头上时需要进行的原位测量探头校准过程可以通过设置已经固定有触针的触针模块而被避免。例如，触针相对于壳体的中立(neutral)位置可以在触针模块的制造期间被适当的居中或者“跳汰(jig)”。如果触针模块还包括机械安座组件，被施加以使触针回到中立位置的弹簧力可以在触针模块制造期间根据需要设置。这样，通过将新触针模块连接到基部模块上来替换破坏的触针。
有利的是，测量探头包括一个或多个传感器，用于提供表示触针保持器和壳体之间的运动的一个或多个偏转信号。一个或多个传感器可例如包括应变仪、电容传感器、光学传感器等。优选的是，所述一个或多个传感器结合为触针模块的一部分。可选择的是，所述一个或多个传感器可以位于基部部分中并被布置成感测触针保持器相对于所连接的触针模块的壳体的任何运动。例如，设置在基部模块中的光学传感器可被布置成感测连接到触针保持器上的反射元件的运动。
在使用中，由一个或多个传感器产生的一个或多个偏转信号被方便地传递到基部模块的测量部分。有利的是，测量部分被布置成根据一个或多个偏转信号产生所需的测量数据。例如，该测量部分可包括处理器，其将来自多个传感器例如应变传感器或电容传感器的偏转信号转换成设置在测量探头笛卡尔坐标(a，b，c)中的触针尖端偏转值。可选择的是，该测量部分可产生触发信号形式的测量数据，该触发信号在已经确定触针已经偏转大于一定量时被发送。
有利的是，触针模块包括偏转机构，该偏转机构将触针保持器安装到壳体上。方便的是，该偏转机构在没有任何外力的情况下将触针保持器推压到可重复的中立或零点位置。如果电池被设置成触针模块的一体的部分，则触针模块的壳体可被布置成使得任何接近壳体的企图都会不可逆地损坏偏转机构。例如，电池外壳可以形成提供偏转机构的结构的一部分，以使得移除电池的企图会干扰偏转机构。这样，可防止在电池已经被耗尽之后使用触针模块。
优选的是，该偏转机构采取已知类型的运动学安座组件的形式。偏转机构可因此包括设置在壳体上的第一定位元件和设置在触针保持器上的第二定位元件，其中，所述第一定位元件和所述第二定位元件相互配合以将所述触针保持器相对于所述壳体定位在可重复的位置。该偏转机构还可方便地包括偏压装置，例如弹簧机构，用于推压所述第一定位元件和所述第二定位元件使所述第一定位元件和所述第二定位元件接触。在一种优选实施方式中，第一定位元件可包括三对球，每对球提供V形座，第二定位元件可包括三个滚子，用于与球接合，从而将触针保持器支撑在座上。
该测量探头可包括所谓的电阻接触触发式探头，其中，当触针保持器的第一定位元件从壳体的相关联的第二定位元件移开时，触发信号被发送。有利的是，第一定位元件和第二定位元件还形成导电路径的一部分，当第一定位元件与第二定位元件脱离时，所述导电路径被断开。在这种布置中，基部模块的测量部分被方便地布置成监控所述导电路径的电阻并当所述导电路径被断开时产生触发信号形式的测量数据。该测量部分可包括已知类型的数据处理电子设备，例如WO03/021182中描述的设备，来减小错误触发等的可能性。
如上所述，本发明的触针模块的使用寿命可以通过在该模块中建立机械失效模式来预设。有利的是，触针模块的至少一个部件被构造成在一定的使用量之后机械失效。为了提供这种机械失效模式，偏转机构可被方便地构造成在一定的使用量之后突然失效。通过突然失效，意味着偏转机构可在一定的使用量期间正常操作，并然后完全失效。突然失效与渐进失效形成鲜明对照，在渐进失效模式中，触针模块的测量性能随着时间逐渐降低，直到完全失效。为了实现突然失效模式，触针模块可包括脆弱的、易碎的或者易剪切的部分，例如弹簧的削弱部分，其可在折断或者剪断之前弯曲或者运动一定次数。
取代提供上述机械失效模式，或者除了提供上述机械失效模式之外，可以在触针模块中结合预编程的或者电子的失效模式。例如，触针模块可包括电路，该电路包括失活部分，其防止触针模块在一定使用量或者使用一定时间之后正操操作(由此使得触针模块不能工作)。装置使用模块可以设置为触针模块的一部分，其存储适当的测量探头使用信息(例如触发计数值)，该信息可通过失活部分读取。可以从本申请人的同样要求欧洲申请07252959.7的优先权的待审申请中了解有关这种失活布置的更多细节。
触针模块可包括多个内置失效模式。有利的是，上述电池和/或电子失效模式可与机械失效模式结合使用。例如，可以通过提供在一定使用量之后(例如在多于大致一万次触发之后)机械失效的部件(作为触针偏转机构的一部分)来提供机械失效模式。而电子失效模式可被布置成防止触针模块在这种机械失效发生之前(例如八千次触发之后)进行工作。这样，如果需要，可以对用户提供即将发生触针模块失效的适当警告。在这种布置中，在机械失效模式阻止正在进行的操作之前，用户对电子设备的任何未经许可的干扰或者重置提供短的且不可预知的额外触针模块使用量。渐进机械失效模式也可使用在这种布置中。
该测量探头可以是无线装置。基部模块的测量部分产生的全部或者一些测量数据可以通过无线电(例如RF或者光学)线路传递到相关联的接口或者控制器。基部模块可有利地包括无线通信部分，所述无线通信部分允许这些测量数据通过无线电线路传递到远程探头接口。无线通信部分也可被布置成从相关联的探头接口接收信息，例如，测量探头操作指令可以通过探头接口传递到测量探头。无线电线路可以是扩展频谱例如跳频线路，例如WO2004/057552中描述的线路。
触针模块可以直接地和可重复地连接到基部模块上。可选择的是，中间张性节可以位于触针模块和基部模块之间。有利的是，触针模块包括第一运动学安装部分，基部模块包括第二运动学安装部分，所述第一运动学安装部分和所述第二运动学安装部分相互配合以将触针模块相对于基部模块定位在可重复的位置。有利的是，触针模块和基部模块每个都包括多个互补的电触点，用于在基部模块连接到触针模块上时在触针模块和基部模块之间提供多个电连接。通过这些电触点，能量和/或电信号可在基部模块和触针模块之间传递。
测量探头可被布置成用作心轴安装的探头和/或台面安装的探头。例如，基部模块可包括或者可连接到轴(shank)上，该轴可被保持在机床的心轴中。可心轴安装的测量探头方便地与触针模块结合使用，该触针模块包括远端连接有球的触针。可选择的是，基部模块可包括安装机构(例如运动学或者磁性支座)，其允许安装到机床的床身上。包括工具调整尖端(例如立方体)的触针模块可与这种台面安装的基部模块结合使用。尽管这里详细描述了测量探头与机床的结合使用，但是本发明的测量探头可以与任何定位测量装置结合使用。例如，本发明的测量探头可以与专用坐标测量机器(CMM)等结合使用。
根据本发明的第二方面，提供一种用于测量探头的触针模块，所述触针模块包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器，所述触针模块可连接到相关联的基部模块上，所述基部模块包括测量部分，用于产生表示所述触针保持器相对于所述壳体的运动的测量数据，其中，所述触针模块具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。
根据本发明的又一方面，提供一种电池驱动的测量探头，其包括基部模块和触针模块，其中，基部模块包括测量电路，触针模块包括可偏转的触针保持器，工件接触触针可连接到所述触针保持器上，其中，所述触针模块结合有至少一个电池，当所述基部模块连接到触针模块上时，所述至少一个电池对所述基部模块的测量电路供电。
根据本发明的再一方面，提供一种触针模块，其包括触针，其中，所述触针模块包括至少一个电池。
根据本发明的另一方面，提供一种触针模块，其包括连接到壳体上的触针保持器，其中，所述触针模块具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。有利的是，触针保持器通过可偏转机构连接到壳体上，其中，所述可偏转机构被构造成在基本上预定的使用量之后突然失效。
附图说明
现在将借助示例，参照附图来描述本发明，其中：
图1示意性地示出了现有技术的测量探头；
图2示意性地示出了本发明的模块化测量探头，其具有包括一体的电池的触针模块；以及
图3示出了本发明另一种模块化测量探头，其具有机械失效模式。
具体实施方式
参照图1，其示意性示出了用于机床的现有技术的无线测量模块。所示的测量模块可从UK的Gloucestershire的Wotton-under-edge的瑞尼斯豪公司商业获得，产品名称为RMP60。
该测量探头包括连接到轴4上的探头主体2，该轴4可以收纳在机床的心轴中。触针6的近端通过螺纹连接件10可释放地连接到探头主体2的触针保持器上。触针6的远端或者尖端包括工件接触红宝石球12。
该测量探头是碰触触发式探头，其中触针保持器通过如US4153998中原始公开的类型的弹簧加载的运动学组件连接到探头主体上。该弹簧加载的运动学组件提供在触针保持器和探头主体的支座之间的六个触点，使得触针保持器被保持在可重复的“中立(neutral)”或原始位置。弹簧加载的运动学组件允许触针在遇到工件的表面时相对于探头主体偏转，而弹簧确保该机构在触针处于自由空间时复位。导电路径通过这些触点延伸，通过该电路的电阻由探头的电子设备测量。使一个或者多个运动触点移开，能够使电路的电阻产生可测量的变化。处理器设置为测量探头的一部分，以分析电路的电阻并当触针通过与物体接触而偏转时产生触发信号，这在WO03/021182中进行了更详细的描述。
测量探头的电子设备通过电池供电，密封的电池盒14设置成探头主体2的一部分。跳频射频通信单元也设置在探头主体2内，用于对相关的远程探头接口(未示出)无线发送触发信号数据。WO2004/057552更详细描述了用于与接口通信的跳频协议。
用于机床的现有技术的测量探头通常为如图1所示的单个整体式探头主体。但是，已知可以提供两件式模块化测量探头系统。这种系统目前可从瑞尼斯豪公司获得，产品名称为RMP60M。在这种模块化系统中，测量探头被分成两个单独的模块，它们可以重复地彼此相连。这可以被认为将如图1所示的主体2分成两个部分，例如第一部分2a和第二部分2b。第一部分2a是包括弹簧加载的运动学组件的探头模块，第二部分2b是包括电池盒和相关的测量和通信电子设备的探头基部。然后不同长度的延伸杆可以安装在探头基部和探头模块之间，以增加探头的有效长度，不必增加触针的长度。这种类型的模块化布置使得能够对非模块化更短的测量头难以接近的部件特征进行检查，而不需要使用过长的触针。
参照图2，示意性示出了本发明的模块化测量探头。测量探头包括基部模块20和触针模块22。
触针模块22包括已知类型的弹簧加载的运动学组件，其中触针保持器24被弹簧推动成与触针模块壳体的座26接触。触针保持器还包括一体的不可拆卸的工件接触触针30和电池34。该触针可以永久地结合(例如胶接或者焊接)到触针保持器上，或者触针和触针保持器可以一起形成为单个部件。在制造过程中，触针的中立位置和由弹簧28施加的复位力被设置。尽管对于碰触触发式探头优选在制造过程中设置中立位置和复位力，但是如果触针模块构成类似的探头，可以可选择地测量触针偏移值。
尽管触针模块22具有一体的触针，也可提供一种触针保持器，触针可以可拆卸地连接到该触针保持器上(例如通过标准的螺纹连接件)。这允许替换触针，但是可使得用户在更换触针之后需要重新校准触针模块的中立位置和/或调节复位力。触针模块22还包括外壳32，其被密封，以防止在制造后接近触针模块的各个内部部件。该密封也足以防止流体(例如冷却剂)在使用过程中流出到触针模块中。
基部模块20包括测量部分36，用于监控通过触针模块的弹簧加载的运动学组件的触点形成的电路的电阻。因此在检测到物体接触时，该测量部分36产生触发信号，该触发信号被传递到跳频RF通信部分40，并向前传送到相关联的探头接口42。RF通信部分和相关联的接口可执行任何合适的通信协议，例如可使用WO2004/057552中描述的协议。基部模块20还包括密封的外壳33，用以防止对其中的电子部件造成损坏。
触针模块22可以可释放地连接到基部模块20上。特别地，可以在触针模块22和基部模块20之间提供运动学或者伪运动学(pseudo-kinematic)连接，使得触针模块22和基部模块20可以反复安装到彼此上。为了提供运动学定位，三个突出的球44设置在基部模块20上，三个互补的沟槽46形成在触针模块22上(注意图2仅仅示出了一个球和一个沟槽)。还设置螺纹连接件48用于保持触针模块22和基部模块20在连接之后的接合。应当注意，本领域技术人员了解用于在触针模块和基部模块之间提供可重复的物理连接的各种替代技术。例如，可使用EP293036中描述的接头。
多个第一电触点50设置在基部模块20上，互补的第二电触点52设置在触针模块22上。第一电触点50和第二电触点52在触针模块和基部模块彼此连接时允许电能从触针模块22的电池34路由到基部模块20的电子部件(即，测量部分36和无线通信部分40)。类似地，导电路径可以设置在基部模块和触针模块之间，以允许基部模块的测量部分36测量通过触针模块的弹簧加载的运动学组件的触点形成的电路的电阻。此外，本实施例仅仅描述了多个电连接可以形成在基部模块和触针模块之间的一种方式，并且不应该被认为是任何限制。本领域技术人员应当理解，可以替代地或者额外地采用多种替代技术例如设置一个或者多个互补的电连接器来建立必要的电连接。
在使用中，触针模块22和基部模块20形成接合。如上所述，触针模块22位于密封单元中，其中弹簧力和触针中立位置在制造过程中已经被设置。通过基部模块和触针模块之间的运动学连接，模块的相对位置被准确地限定。因此用户无需在使用前进行任何测量探头的校准，但是如果需要可以进行校准检查。
使触针模块22和基部模块20物理接合也能在这些模块之间建立必要的电连接。基部模块20的电子设备通过触针模块22的电池34供电。此时，测量探头可以以与传统的测量探头相同的方式操作。例如，测量探头可以保持在机床的心轴中并被用于检查工件。触针30的任何偏转通过测量部分36产生触发信号，其经由通信部分40传递到探头接口42。探头接口可将触发信号传递到机床数字控制器的适当的输入上。
触针模块22的电池34具有有限容量，通过基部模块20的电子设备从电池34排出的能量的大小取决于测量探头的使用量。典型的电池可以用于对基部模块20的电子设备连续供电几百小时。但是，测量探头通常仅间歇地用于机加工操作之间的检查过程。测量探头可因此包括备用模式，其中当未进行测量时基部模块20的大多数电子设备断电。测量探头然后可以以各种已知的方式(例如通过轴开关，通过旋转打开开关或者通过使用探头接口的无线电打开技术)从备用模式唤醒。典型的电池能够对这种备用模式供电几百天，这取决于与特定的备用模式相关联的电力消耗。
因此制造商可以选择电池34的存储容量以提供测量探头的一定的或者预定的使用量。换句话说，触针模块在电池失效发生前具有有限的预定的使用寿命。触针模块的使用寿命可以基于对典型的探头使用量和需要的使用天数的估计。在电池34已经耗尽之后，或者电池可提供的能量已经下降到可接受的水平之下之后，测量探头的操作停止。测量探头与触针模块形成一体并且不能从触针模块上移下，因此用户不能接近并替换电池34。取而代之的是，耗尽的触针模块必须被丢弃或者返回到制造商以再循环。新的触针模块可被连接到基部模块20上，无需进行如上所述的任何校准，以继续测量操作。
该基部模块20可包括电池状态监控设备60，用于评价触针模块的电池34中剩余的能量。电池的状态可通过设置在基部模块20上的一个或者多个LED传递到用户。例如，LED指示器可以被设置成：当电池处于良好状态时指示绿色，当电池接近耗尽时指示琥珀色，当电池被耗尽或者马上要被耗尽时指示红色。电池状态信息也可通过无线电线路传递到接口42。这种类型的电池监控给予用户提前警告：很快需要更换触针模块。
虽然图2中未示出，触针模块22可包括电池，该电池没有正好定位在或者密封在触针模块中，而是实际上设置为该模块的一体的部分。例如，该电池可以与使触针保持器复位的弹簧接合，使得任何想移除电池的企图都需要重新调节弹簧力。可选择地，电池外壳可以形成保持器所接合的安座机构的一部分，使得移除电池需要使触针中立位置被重置。
这样，用户替换电池(例如通过砸开电池外壳)不仅会损坏外壳而且需要重新校准触针模块。
尽管上述实施例描述了触针模块包括最小量的电子设备，但是应当理解，根据需要，额外的电子部件可以包括在触针模块中。例如，触针模块本身可以包括用于监控电池寿命的电路和/或用于处理触针偏转数据的电路系统的至少一些。
应当理解，本发明决不限于包括如上所述类型的弹簧加载的运动学组件的触针模块。该测量探头可包括任何类型的触针偏转测量机构。类似地，应变仪或者光学传感器可用来测量触针偏转。类似地，本发明不仅适用于当触针偏转超过一定阈值时发送触发信号的碰触触发式探头，同样适用于所谓的模拟或者扫描探头，其中产生表示触针位置的坐标数据。另外，测量触针保持器偏转的传感器不是一定必须设置为触针模块的一部分。取而代之的是，基部模块可包括监控相关联的触针模块的触针保持器的偏转的传感器(例如一个或多个光学传感器)。
上述实施例包括用于将数据发送到探头接口的RF部分。虽然描述的RF通信线路，但是测量探头可包括其它类型的无线(例如光学)通信系统。此外，可以替代地设置硬连接的布置。
这里描述的测量探头可连接到用于心轴安装的轴上。可选择地，测量探头可以是台面安装(table mounted)，以允许进行工具调整操作。可以设置包括不同类型的触针(例如不同长度的触针、具有不同尖端的触针等)的各种触针模块。也可以设置多个不同类型的触针模块，它们与单个基部模块相容，用户可以简单地选择需要的触针模块用于特定的任务。
参照图3，示意性示出了本发明的另一测量探头，其包括基部模块120和触针模块122。基部模块和触针模块以与参照图2描述的实施方式相同的方式可释放地且可重复地相互连接，但是图3中为了清楚起见未示出连接机构。
基部模块120包括测量部分124、电池126和RF通信部分128。触针模块122包括壳体130和触针保持器132，它们通过偏转机构134连接。触针保持器132具有从其突出的一体的触针136。偏转机构134允许触针136和触针保持器132相对于壳体130运动。在使用中，触针保持器132相对于壳体130的运动被检测，当触针偏转大于一定量时，通过测量部分124产生触发信号。RF通信部分128将这种触发信号传递到远程探头接口(未示出)。
偏转机构134还被布置成具有在一定的使用量之后突然失效的部件。触针模块的偏转机构134可包括脆弱的、易碎的或者易剪切的部件，例如弹簧的削弱部分，其可在折断或者剪断之前被弯曲或者运动一定次数。如上所述，偏转机构的突然失效优于渐进失效模式，渐进失效模式会导致随着使用性能逐渐变差。虽然描述了偏转机构的一部分的机械失效，但是应当注意，触针模块的任何适当的部件可提供必要的机械失效。
虽然图3中未示出，但是触针模块122可包括电子失活部分，其防止在已经获得一定数量的测量结果和/和已经过去一定时间之后触针模块进行操作。这种电子失效模式可与机械失效模式结合使用。例如，触针模块的寿命可以最终由嵌入到硬件(例如触针偏转模块)中的突变性或者渐进性失效模式限制，也可以设置电子失效模式，其防止通常在机械失效发生之前的操作。这样，可以对用户提供即将发生触针模块失效的适当警告，而在机械失效模式阻止正在进行的操作之前，用户对电子设备的任何未经许可的干扰或者重置仅提供短的且可能不可预知的额外触针模块使用量。上述电池失效模式也可基于类似的原因与机械失效模式结合使用。
应当理解，上述例子仅仅用于示例地示出本发明的优选实施方式。本领域技术人员理解，根据本发明可以提供各种替代装置。

Claims (17)

1.一种测量探头，其包括可释放地连接到一基部模块上的触针模块，所述触针模块包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器，所述基部模块可安装到坐标定位装置上，所述基部模块包括测量部分，所述测量部分用于产生表示所述触针保持器相对于所述壳体的运动的测量数据，
其中，所述触针模块具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。
2.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述触针保持器包括至少一个电池。
3.根据权利要求2所述的测量探头，其特征在于，所述基部模块连接到所述触针模块上，所述触针模块的所述至少一个电池对所述基部模块供电。
4.根据权利要求2所述的测量探头，其特征在于，所述至少一个电池与所述触针模块永久地形成一体。
5.根据权利要求2所述的测量探头，其特征在于，所述内置失效模式来自于所述至少一个电池的耗尽，所述基本上预定的使用寿命由所述电池的容量确定。
6.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述触针模块包括触针，所述触针与所述触针保持器永久地形成一体。
7.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述触针模块包括一个或多个传感器，用于提供表示所述触针保持器和所述壳体之间的相对运动的一个或多个偏转信号。
8.根据权利要求7所述的测量探头，其特征在于，在使用中，所述一个或多个偏转信号被传递到所述基部模块的所述测量部分，所述测量部分被布置成根据所述一个或多个偏转信号产生测量数据。
9.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述触针模块的至少一个部件被构造成在一定的使用量之后机械失效。
10.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述触针模块包括将所述触针保持器安装到所述壳体上的偏转机构。
11.根据权利要求10所述的测量探头，其特征在于，所述偏转机构包括设置在所述壳体上的第一定位元件和设置在所述触针保持器上的第二定位元件，所述第一定位元件和所述第二定位元件相互配合以将所述触针保持器相对于所述壳体定位在可重复的位置，其中，所述偏转机构还包括偏压装置，用于推压所述第一定位元件和所述第二定位元件使所述第一定位元件和所述第二定位元件接触。
12.根据权利要求11所述的测量探头，其特征在于，所述第一定位元件和所述第二定位元件还形成导电路径的一部分，当第一定位元件与第二定位元件脱离时，所述导电路径被断开，其中，所述基部模块的测量部分被布置成监控所述导电路径并当所述导电路径被断开时产生触发信号形式的测量数据。
13.根据权利要求10至12中任一项所述的测量探头，其特征在于，所述偏转机构被构造成在一定的使用量之后突然失效。
14.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述基部模块包括无线通信部分，所述无线通信部分允许测量数据通过无线电线路传递到远程探头接口。
15.根据权利要求1所述的测量探头，其特征在于，所述触针模块包括第一运动学安装部分，所述基部模块包括第二运动学安装部分，所述第一运动学安装部分和所述第二运动学安装部分相互配合以将所述触针模块相对于所述基部模块定位在可重复的位置。
16.一种用于测量探头的触针模块，所述触针模块包括壳体和可动地连接到所述壳体上的触针保持器，所述触针模块可连接到相关联的基部模块上，所述基部模块包括测量部分，所述测量部分用于产生表示所述触针保持器相对于所述壳体的运动的测量数据，
其中，所述触针模块具有内置失效模式，并由此具有基本上预定的使用寿命。
17.一种用于坐标定位装置的电池驱动的测量探头，其包括：
基部模块，其可安装到坐标定位装置上，所述基部模块包括测量电路；以及
触针模块，其可释放地连接到所述基部模块上，所述触针模块包括可偏转的触针保持器，工件接触触针可连接到所述触针保持器上，
其中，所述触针模块结合有至少一个电池，当所述基部模块连接到触针模块上时，所述至少一个电池对所述基部模块的所述测量电路供电。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101913103A (zh) * 2010-08-19 2010-12-15 上海理工大学 数控机床回转工作台转角误差测量方法
CN102706315A (zh) * 2012-03-20 2012-10-03 深圳市大族激光科技股份有限公司 平台台面的平面度测量装置及测量方法
CN103267513A (zh) * 2013-05-22 2013-08-28 河南省计算机应用技术研究所有限公司 微触式浑水水下地形仪
CN103675366A (zh) * 2012-08-28 2014-03-26 未来技术股份有限公司 面板测试用玻璃碰撞型探头块结构
CN109916365A (zh) * 2019-03-15 2019-06-21 江苏中兴派能电池有限公司 一种电池组鼓胀保护装置、检测系统及检测方法
CN110749271A (zh) * 2019-10-11 2020-02-04 成都飞机工业（集团）有限责任公司 一种无线形位测量装置
WO2023093884A1 (zh) * 2021-11-29 2023-06-01 北京银河方圆科技有限公司 定位装置及定位系统

Families Citing this family (71)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7693325B2 (en) 2004-01-14 2010-04-06 Hexagon Metrology, Inc. Transprojection of geometry data
GB0518078D0 (en) * 2005-09-06 2005-10-12 Renishaw Plc Signal transmission system
WO2007033273A2 (en) * 2005-09-13 2007-03-22 Romer Incorporated Vehicle comprising an articulator of a coordinate measuring machine
CN101511529B (zh) * 2006-08-31 2013-01-30 法罗技术股份有限公司 可去除智能探针、组合系统以及使用坐标测量机的方法
WO2008064276A2 (en) * 2006-11-20 2008-05-29 Hexagon Metrology Ab Coordinate measurement machine with improved joint
DE102006054978A1 (de) * 2006-11-22 2008-05-29 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Tastsystem
EP2028439A1 (en) * 2007-07-26 2009-02-25 Renishaw plc Deactivatable measurement apparatus
US20090212938A1 (en) * 2008-02-22 2009-08-27 Agilent Technologies, Inc. Probe device having a clip-on wireless system for extending probe tip functionality
US8122610B2 (en) 2008-03-28 2012-02-28 Hexagon Metrology, Inc. Systems and methods for improved coordination acquisition member comprising calibration information
US7779548B2 (en) * 2008-03-28 2010-08-24 Hexagon Metrology, Inc. Coordinate measuring machine with rotatable grip
EP2112461B1 (en) * 2008-04-24 2012-10-24 Hexagon Metrology AB Self-powered measuring probe
US7908757B2 (en) 2008-10-16 2011-03-22 Hexagon Metrology, Inc. Articulating measuring arm with laser scanner
EP2221790B1 (en) * 2009-02-24 2020-11-18 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Wireless communications system for tool
TW201039113A (en) * 2009-04-29 2010-11-01 Prime View Int Co Ltd Digital electronic apparatus
CA2766906C (en) * 2009-06-30 2019-03-05 Hexagon Metrology Ab Coordinate measurement machine with vibration detection
US20110112786A1 (en) 2009-11-06 2011-05-12 Hexagon Metrology Ab Cmm with improved sensors
US20110115588A1 (en) * 2009-11-17 2011-05-19 Digirad Corporation Magnetic Attachment of Detector Modules enabling front side removal
US20110213247A1 (en) * 2010-01-08 2011-09-01 Hexagon Metrology, Inc. Articulated arm with imaging device
JP2011177430A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Terumo Corp 医療用マニピュレータシステム
USD643319S1 (en) 2010-03-29 2011-08-16 Hexagon Metrology Ab Portable coordinate measurement machine
EP2384851B1 (en) * 2010-05-03 2018-01-03 Tesa Sa Coordinate Measuring System with rotatory adapter
WO2011139283A1 (en) * 2010-05-07 2011-11-10 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Telecentric optical assembly
GB201013938D0 (en) * 2010-08-20 2010-10-06 Renishaw Plc Method for recalibrating coordinate positioning apparatus
US8127458B1 (en) 2010-08-31 2012-03-06 Hexagon Metrology, Inc. Mounting apparatus for articulated arm laser scanner
IT1402715B1 (it) * 2010-10-29 2013-09-18 Marposs Spa Sonda di tastaggio
IT1403845B1 (it) * 2010-10-29 2013-11-08 Marposs Spa Sonda di tastaggio e relativo metodo di controllo
US9194727B2 (en) 2010-11-24 2015-11-24 Hysitron, Inc. Mechanical testing instruments including onboard data
FR2969745B1 (fr) * 2010-12-27 2013-01-25 Technip France Procede de production d'un courant riche en methane et d'un courant riche en hydrocarbures en c2+ et installation associee.
CN102353311A (zh) * 2011-06-23 2012-02-15 奇瑞汽车股份有限公司 一种钣金翻边孔高度通止检测装置
WO2013091697A1 (de) * 2011-12-21 2013-06-27 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zum koppeln zweier systemkomponenten eines messgeräts, insbesondere eines koordinatenmessgeräts
JP5620414B2 (ja) * 2012-01-18 2014-11-05 株式会社スクウェア・エニックス ゲーム装置
US8763267B2 (en) 2012-01-20 2014-07-01 Hexagon Technology Center Gmbh Locking counterbalance for a CMM
US8849444B2 (en) * 2012-02-15 2014-09-30 Regina George Slipcover method and system
US20130238272A1 (en) * 2012-03-06 2013-09-12 Shi-Duang Chen Touch trigger probe
JP6165461B2 (ja) * 2012-03-13 2017-07-19 東芝機械株式会社 機上測定機能付き加工装置
US9069355B2 (en) 2012-06-08 2015-06-30 Hexagon Technology Center Gmbh System and method for a wireless feature pack
US20140028635A1 (en) * 2012-07-27 2014-01-30 Christoph Horst Krah Modular stylus device
US9176604B2 (en) 2012-07-27 2015-11-03 Apple Inc. Stylus device
US9250722B2 (en) * 2013-01-07 2016-02-02 Disney Enterprises, Inc. Pressure and angle-sensitive stylus device
US9250214B2 (en) 2013-03-12 2016-02-02 Hexagon Metrology, Inc. CMM with flaw detection system
US9009985B2 (en) * 2013-04-30 2015-04-21 Quality Vision International, Inc. Probe deployment mechanism of measuring machine with isolated locator coupling
GB201309506D0 (en) * 2013-05-28 2013-07-10 Renishaw Plc Methods of controlling a coordinate positioning machine
JP6208492B2 (ja) 2013-08-07 2017-10-04 株式会社ミツトヨ 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び情報処理システム
DE102013016715A1 (de) * 2013-10-09 2015-04-09 M & H Inprocess Messtechnik Gmbh Messvorrichtung für eine Werkzeugmaschine
TWI512302B (zh) 2013-12-13 2015-12-11 Mpi Corp Detection system and its detection method
US9163921B2 (en) 2013-12-18 2015-10-20 Hexagon Metrology, Inc. Ultra-portable articulated arm coordinate measurement machine
US9594250B2 (en) 2013-12-18 2017-03-14 Hexagon Metrology, Inc. Ultra-portable coordinate measurement machine
EP2887011B1 (de) * 2013-12-20 2017-02-08 Hexagon Technology Center GmbH Koordinatenmessmaschine mit hochpräziser 3D-Druckfunktionalität
JP6316663B2 (ja) * 2014-05-30 2018-04-25 株式会社キーエンス 座標測定装置
US9759540B2 (en) 2014-06-11 2017-09-12 Hexagon Metrology, Inc. Articulating CMM probe
US10089439B2 (en) * 2014-10-28 2018-10-02 Stryker Sustainability Solutions, Inc. Medical device with cryptosystem and method of implementing the same
DE102015206308A1 (de) * 2015-04-09 2016-10-13 Carl Zeiss 3D Automation Gmbh Taststifthalter
US11103212B2 (en) * 2015-11-11 2021-08-31 Koninklijke Philips N.V. Systems and methods for associating and verifying an association of a transducer with an imaging device
CN108713128A (zh) * 2016-03-16 2018-10-26 海克斯康测量技术有限公司 用于坐标测量机的探针夹
EP3472556B1 (en) * 2016-06-15 2023-08-23 Hexagon Metrology, Inc. Cmm apparatus for identifying and confirming the stylus
GB201615307D0 (en) * 2016-09-09 2016-10-26 Renishaw Plc Measurement method and apparatus
JP6654128B2 (ja) * 2016-11-15 2020-02-26 Dmg森精機株式会社 工作機械の管理システム
EP3327524B1 (en) * 2016-11-29 2023-04-05 GF Machining Solutions AG Kinematic calibration
US10101141B2 (en) 2016-12-07 2018-10-16 Mitutoyo Corporation Trigger counter for measurement device with count values stored in flash memory
GB201700879D0 (en) * 2017-01-18 2017-03-01 Renishaw Plc Machine tool apparatus
US10663274B2 (en) 2017-01-27 2020-05-26 Faro Technologies, Inc Articulated arm coordinate measuring machine
US9835433B1 (en) 2017-05-09 2017-12-05 Tesa Sa Touch trigger probe
DE102017114551B4 (de) * 2017-06-29 2021-12-23 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Dreh-Schwenk-Mechanismus für ein Koordinatenmessgerät
JP6964452B2 (ja) * 2017-07-13 2021-11-10 株式会社ミツトヨ 測定機管理システム及びプログラム
EP3460384A1 (en) * 2017-09-26 2019-03-27 Renishaw PLC Measurement probe
US10675689B2 (en) * 2017-10-31 2020-06-09 Mackay Manufacturing, Inc. Metal lathe and tooling calibration
US20190149885A1 (en) * 2017-11-13 2019-05-16 Philo, Inc. Thumbnail preview after a seek request within a video
EP3865071B1 (en) * 2018-10-11 2022-09-21 FUJIFILM Corporation Ultrasonic probe
DE102018222464A1 (de) * 2018-12-20 2020-06-25 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Kommunikation von Werkzeugmaschinen in einem Netzwerk
US11408916B2 (en) 2019-03-08 2022-08-09 National Instruments Corporation Modular probe for automated test applications
DE102021101749A1 (de) 2021-01-27 2022-07-28 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Schnittstellenanordnung zur kopplung von systemkomponenten einer messvorrichtung

Family Cites Families (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4153998A (en) * 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
GB1445977A (en) * 1972-09-21 1976-08-11 Rolls Royce Probes
US4370721A (en) * 1980-09-02 1983-01-25 Cincinnati Milacron Inc. Method for modifying programmed positions by using a programmably controlled surface sensing element
JPS5754814A (en) * 1980-09-19 1982-04-01 Tokyo Electric Co Ltd Postage scales
US5065035A (en) * 1981-04-30 1991-11-12 Gte Valenite Corporation Optical data system having flash/receiver head for energizing/receiving information from a battery operated transmitter
US4510693A (en) * 1982-06-14 1985-04-16 Gte Valeron Corporation Probe with stylus adjustment
US4536851A (en) * 1982-10-22 1985-08-20 Damon Germanton Electronic thermometer and associated apparatus
JPS59104003U (ja) * 1982-12-29 1984-07-13 黒田精工株式会社 タツチセンサ
EP0293036B1 (en) 1983-11-15 1994-04-06 Renishaw plc Coupling for tool change apparatus
GB8330412D0 (en) * 1983-11-15 1983-12-21 Renishaw Plc Tool change apparatus
US4693110A (en) * 1985-06-06 1987-09-15 Gte Valeron Corporation Method and apparatus for testing the operability of a probe
US4625417A (en) * 1985-06-17 1986-12-02 Gte Valeron Corporation Probe with stylus pressure adjustment
JPH0765883B2 (ja) * 1986-06-05 1995-07-19 宣夫 福久 無線送受信器を有する位置検出装置
GB8719107D0 (en) 1987-08-12 1987-09-16 Renishaw Plc Communications adaptor
GB8808613D0 (en) * 1988-04-12 1988-05-11 Renishaw Plc Signal transmission system for machine tools inspection machines &c
GB8815984D0 (en) * 1988-07-05 1988-08-10 Univ Brunel Probes
JPH0526601A (ja) * 1991-06-18 1993-02-02 Nikken Kosakusho:Kk 接触検出装置
JPH05306908A (ja) 1992-04-16 1993-11-19 Keyence Corp スペックル測長計
JPH0651910U (ja) 1992-12-21 1994-07-15 株式会社ミツトヨ 測定子の使用頻度測定装置
EP0605140B2 (en) * 1992-12-24 2002-10-09 Renishaw plc Touch probe and signal processing circuit therefor
JPH06230885A (ja) * 1993-01-28 1994-08-19 Hitachi Ltd 携帯型情報処理装置
GB9423176D0 (en) * 1994-11-17 1995-01-04 Renishaw Plc Touch probe
US5578996A (en) * 1994-11-23 1996-11-26 Brk Brands, Inc. Long life detector
IT1279590B1 (it) * 1995-05-11 1997-12-16 Marposs Spa Sistema e metodo di trasmissione di segnali via etere fra una testa di controllo e un ricevitore remoto
US6266551B1 (en) * 1996-02-15 2001-07-24 Biosense, Inc. Catheter calibration and usage monitoring system
GB9605609D0 (en) * 1996-03-16 1996-05-15 Renishaw Plc Inspection system for coordinate positioning machine
GB9907643D0 (en) * 1999-04-06 1999-05-26 Renishaw Plc Measuring probe
US6308089B1 (en) * 1999-04-14 2001-10-23 O.B. Scientific, Inc. Limited use medical probe
US6631353B1 (en) * 1999-06-10 2003-10-07 Hologic, Inc. Sonometry and densitometry medical diagnostic devices enabled for per-use patient examinations charged via internet connections to financial cards
JP2001160106A (ja) 1999-09-21 2001-06-12 Olympus Optical Co Ltd 医療機器リース方法、医療機器リースシステム及び医療機器
CA2333501A1 (en) 2000-02-01 2001-08-01 Faro Technologies Inc. Method, system and storage medium for providing an executable program to a coordinate measurement system
JP2001296120A (ja) 2000-04-14 2001-10-26 Canon Inc 球面計
GB0020370D0 (en) 2000-08-18 2000-10-04 Hewlett Packard Co Trusted device
DE60213956T2 (de) * 2001-02-02 2006-12-21 Renishaw Plc, Wotton-Under-Edge Messsonde für werkzeugmaschine
GB0114765D0 (en) * 2001-06-16 2001-08-08 Renishaw Plc Machine tool probe
US6662091B2 (en) 2001-06-29 2003-12-09 Battelle Memorial Institute Diagnostics/prognostics using wireless links
ATE462952T1 (de) * 2001-09-05 2010-04-15 Renishaw Plc Sondenansteuerung
DE10228103A1 (de) 2002-06-24 2004-01-15 Bayer Cropscience Ag Fungizide Wirkstoffkombinationen
US7284126B2 (en) 2002-11-12 2007-10-16 Agilent Technologies, Inc. Device authentication using pre-configured security keys
GB0229763D0 (en) 2002-12-23 2003-01-29 Renishaw Plc Signal transmission system for a trigger probe
US6922904B2 (en) * 2003-01-29 2005-08-02 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Method and system for analyzing transmitted signals from a probe system
EP1443300B1 (fr) * 2003-01-29 2010-02-24 Tesa SA Palpeur orientable
JP4008828B2 (ja) * 2003-01-30 2007-11-14 サンクス株式会社 接触式変位センサ
JP4436257B2 (ja) * 2003-01-31 2010-03-24 カール ツァイス インドゥストリーレ メステクニーク ゲーエムベーハー 座標測定機械用プローブヘッド
JP4184823B2 (ja) * 2003-02-07 2008-11-19 フジノン株式会社 内視鏡用処置具
GB0308149D0 (en) * 2003-04-09 2003-05-14 Renishaw Plc Probe for sensing the position of an object
AU2003902308A0 (en) * 2003-05-14 2003-05-29 Diagnose It Pty Ltd A method and system for the monitoring of medical conditions
WO2005008385A2 (en) * 2003-07-07 2005-01-27 Cryptography Research, Inc. Reprogrammable security for controlling piracy and enabling interactive content
US20050028609A1 (en) * 2003-07-17 2005-02-10 Langemann Peter J. Flow-monitoring method and device
JP2005207924A (ja) * 2004-01-23 2005-08-04 Toyota Motor Corp 排気センサの制御装置
DE102004035926A1 (de) * 2004-07-23 2006-03-16 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Tastkopf
JP2006195809A (ja) * 2005-01-14 2006-07-27 Hitachi Ltd 計測システム
DE102005022482A1 (de) * 2005-05-11 2006-11-16 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Antaststift und damit ausgestattetes Tastsystem
DE602006020138D1 (de) 2005-06-29 2011-03-31 Compumedics Ltd Sensoranordnung mit leitfähiger brücke
US20070038088A1 (en) * 2005-08-04 2007-02-15 Rich Collin A Medical imaging user interface and control scheme
GB0518078D0 (en) * 2005-09-06 2005-10-12 Renishaw Plc Signal transmission system
DE102005042558A1 (de) * 2005-09-08 2007-03-15 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Tastkopf
JP2009008429A (ja) 2007-06-26 2009-01-15 Citizen Seimitsu Co Ltd 測長器の管理装置及び管理方法
EP2018934A1 (en) * 2007-07-26 2009-01-28 Renishaw plc Measurement device having authentication module
EP2028439A1 (en) * 2007-07-26 2009-02-25 Renishaw plc Deactivatable measurement apparatus

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101913103A (zh) * 2010-08-19 2010-12-15 上海理工大学 数控机床回转工作台转角误差测量方法
CN101913103B (zh) * 2010-08-19 2013-05-22 上海理工大学 数控机床回转工作台转角误差测量方法
CN102706315A (zh) * 2012-03-20 2012-10-03 深圳市大族激光科技股份有限公司 平台台面的平面度测量装置及测量方法
CN103675366A (zh) * 2012-08-28 2014-03-26 未来技术股份有限公司 面板测试用玻璃碰撞型探头块结构
CN103267513A (zh) * 2013-05-22 2013-08-28 河南省计算机应用技术研究所有限公司 微触式浑水水下地形仪
CN103267513B (zh) * 2013-05-22 2015-10-21 河南省计算机应用技术研究所有限公司 微触式浑水水下地形仪
CN109916365A (zh) * 2019-03-15 2019-06-21 江苏中兴派能电池有限公司 一种电池组鼓胀保护装置、检测系统及检测方法
CN110749271A (zh) * 2019-10-11 2020-02-04 成都飞机工业（集团）有限责任公司 一种无线形位测量装置
CN110749271B (zh) * 2019-10-11 2021-12-10 成都飞机工业（集团）有限责任公司 一种无线形位测量装置
WO2023093884A1 (zh) * 2021-11-29 2023-06-01 北京银河方圆科技有限公司 定位装置及定位系统

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