CN101335492B - 抖动校正装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供抖动校正装置，在确保装置的小型化的同时能够高精度地对摄像元件的相对位置进行检测。通过将X轴振子(320x)和Y轴振子(320y)配置在靠近各自的长度方向轴(Lx、Ly)交叉的假想的交叉点(P)且相互不交叉的位置上，将检测CCD(31)的相对位置的位置检测构件配置在由X轴振子(320x)和Y轴振子(320y)的各一端部包围且包含假想的交叉点(P)的区域(E)内，从而能够通过利用由X轴振子(320x)和Y轴振子(320y)的配置产生的死空间来确保装置的小型化，并且，通过将位置检测构件配置在接近CCD(31)的位置，从而能够降低重叠的误差量，高精度地对CCD(31)的相对位置进行检测。

Description

抖动校正装置

技术领域

本发明涉及在数字照相机等摄像装置中用于对手抖进行校正的抖动校正装置。

背景技术

以往，在摄像装置中，具有下述的抖动校正装置：为了对手抖进行校正，利用致动器(actuator)使CCD等摄像元件在与摄影光轴正交的平面内向水平方向和垂直方向分别独立地移位移动，由此对在摄像元件的摄像面上成像的被摄体光束的位置进行校正(例如，参照专利文献1)。在该情况下，为了对致动器的驱动量进行控制，需要具有对移位移动的摄像元件的相对位置进行检测的位置检测传感器。此处，在专利文献1中，位置检测传感器配置在使摄像元件单元动作的致动器的外侧。

【专利文献1】日本特开2006-81348号公报

但是，在专利文献1所述的装置中，将位置检测传感器配置为比配置有致动器的位置更靠外侧，因此，抖动校正装置大型化。并且，由于位置检测传感器从摄像元件离开，所以，误差量容易重叠从而摄像元件的位置检测精度降低。

发明内容

本发明就是鉴于上述情况而完成的，其目的在于，提供一种能够确保装置的小型化、同时能够高精度地对摄像元件的相对位置进行检测的抖动校正装置。

为了解决上述课题，达成目的，本发明所涉及的抖动校正装置通过使矩形的摄像元件向该摄像元件的第一边方向和/或与该第一边垂直的第二边方向移动，从而对在所述摄像元件面上成像的被摄体光束的位置进行校正，所述抖动校正装置具有：固定部件，其具有第一致动器，所述第一致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述第一边附近与该第一边方向平行地进行配置；第一移动部件，其具有第二致动器，所述第二致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述第二边附近与该第二边方向平行地进行配置，所述第一移动部件由所述第一致动器驱动，由此在所述固定部件上向与所述摄像元件的所述第一边方向平行的方向被驱动；第二移动部件，其配置有所述摄像元件，由所述第二致动器驱动，由此在所述第一移动部件上向与所述摄像元件的所述第二边方向平行的方向被驱动；以及位置检测构件，所述位置检测构件对通过所述第一致动器和/或所述第二致动器而移动的所述摄像元件的相对位置进行检测，所述第一致动器配置在下述位置：靠近该第一致动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的假想的交叉点且不与所述第二致动器交叉的位置，所述第二致动器配置在靠近所述假想的交叉点且不与所述第一致动器交叉的位置上，所述位置检测构件配置在由所述第一和第二致动器的各一端部包围且包含所述假想的交叉点的区域内。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述位置检测构件具有：臂部，其从所述第二移动部件向所述区域延伸；磁铁，其设在该臂部的前端部；以及检测部，其配置在所述固定部件上，并具有多个霍尔元件，所述多个霍尔元件用于在所述区域内对所述磁铁的磁力的变化进行检测。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述检测部在与所述摄像元件的所述第一和第二边方向对应的假想的X轴和Y轴上分别具有至少各一个所述霍尔元件，所述磁铁在光轴方向的两端部上具有磁极，在所述第一和第二移动部件位于移动量为0的标准位置时，其磁力线中心与所述假想的X轴和Y轴的中心大致一致。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述磁铁在与所述检测部对置的磁极端面上具有闭环形状的等磁力线分布。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述霍尔元件沿着所述假想的X轴或者Y轴配置有多个。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述霍尔元件以与磁检测面上的比磁通密度分布的最大部分靠内侧的倾斜分布部分对应的方式，配置在相对于磁检测面上的磁铁中心对称的位置上。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述位置检测构件具有：X轴传感器，其配置在所述固定部件上；X轴标尺，其配置在所述第一移动部件上并利用所述X轴传感器检测移动量；Y轴传感器，其配置在所述第一移动部件上；以及Y轴标尺，其配置在所述第二移动部件上并利用所述Y轴传感器检测移动量，在包含所述第一致动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的假想的交叉点在内的区域中，在与光轴平行的Z轴方向上，从所述固定部件依次配置有所述X轴传感器、X轴标尺、Y轴传感器、Y轴标尺。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述X轴传感器和所述Y轴传感器由反射型光传感器构成，所述X轴标尺和所述Y轴标尺由以预定间距等间隔地形成的明暗图形构成。

并且，本发明所涉及的抖动校正装置形成为，在上述发明中，所述X轴标尺具有覆盖相对于所述X轴传感器的移动范围的大小，所述Y轴标尺具有覆盖相对于所述Y轴传感器和所述X轴传感器的移动范围的大小。

对于本发明所涉及的抖动校正装置，第一和第二致动器配置在靠近各自的长度方向轴交叉的假想的交叉点且相互不交叉的位置上，检测摄像元件的相对位置的位置检测构件配置在由第一和第二致动器的各一端部包围且包含假想的交叉点的区域内，因此，能够利用由第一和第二致动器的配置产生的死空间来配置位置检测构件，能够确保装置的小型化。并且，能够将位置检测构件配置在接近摄像元件的位置上，能够降低重叠的误差量从而高精度地对摄像元件的相对位置进行检测。进而，能够将位置检测构件配置在尽量接近对摄像元件的位置进行控制的第一和第二致动器的位置上，能够直接对成为致动器的移动对象的摄像元件的动作进行检测，能够对致动器适当地进行反馈控制。并且，由于X轴传感器、X轴标尺、Y轴传感器、以及Y轴标尺重叠配置，所以能够使位置检测构件小型化。由此，即使是在第一和第二致动器的各延长线上的死空间中也能够配置位置检测构件。

附图说明

图1是概略地示出搭载有本发明的抖动校正装置的电子照相机的主要电气系统结构的框图。

图2是示出振子的动作原理的示意图。

图3是示出本发明的实施方式的抖动校正装置的结构的分解立体图。

图4是概略地示出抖动校正装置的主要部分的结构的俯视图。

图5是沿图4中的E-E’线的剖面图。

图6是沿图4中的A-A’线的剖面图。

图7是将沿图4中的D-D’线的剖面图包含在一部分的沿C-C’线的剖面图。

图8是沿图7中的B-B’线的剖面图。

图9是将从CCD的背面侧观察的配置关系简化表示的示意图。

图10是将磁铁和检测部的结构例放大进行表示的概略立体图。

图11是以主视图的方式示出磁铁的磁力线分布和霍尔元件的配置关系的说明图。

图12是以俯视图的方式示出磁铁的磁力线分布和霍尔元件的配置关系的说明图。

图13是在与图7对应的CC’剖面上的变形例的抖动校正装置的主要部分的剖面图。

图14是以主视图的方式示出Y轴传感器和Y轴标尺的配置关系的说明图。

图15是以主视图的方式示出X轴传感器和X轴标尺的配置关系的说明图。

符号说明

31：CCD；31a：第一边；31b：第二边；35：保持器；301：X框；302：框架；300：抖动校正装置；320x：X轴振子；320y：Y轴振子；323x、323y：压电元件；360：位置检测装置；361：臂部；362：磁铁；363：检测部；364x、364y、365x、365y：霍尔元件；370：位置检测装置；371：X轴传感器；372：X轴标尺；373：Y轴传感器；374：Y轴标尺；Lx、Ly：长度方向轴；P：交叉点；E：区域。

具体实施方式

以下，根据附图对用于实施本发明的抖动校正装置的最佳方式进行说明。本实施方式的抖动校正装置是对包含通过光电转换获得图像信号的摄像元件的摄像单元进行手抖校正的抖动校正装置，此处，作为一例，对搭载于能够更换镜头的单镜头反光式电子照相机的例子进行说明。

首先，参照图1对搭载有本实施方式的抖动校正装置的电子照相机的系统结构例进行说明。图1是概略地示出电子照相机的主要的电气系统结构的框图。该电子照相机由作为照相机本体的主体单元100、和附件装置之一即作为更换镜头的镜头单元10来构成系统。

镜头单元10经由设在主体单元100的前面的未图示的镜头支座装卸自如。镜头单元10的控制由自身所具有的镜头控制用微型计算机(以下称为“Lucom”)5进行。主体单元100的控制由主体控制用微型计算机(以下称为“Bucom”)50进行。这些Lucom 5和Bucom 50在镜头单元10装配于主体单元100的状态下，以能够经由通信连接器6通信的方式电连接。并且，作为照相机系统，构成为Lucom 5一边从属地协作于Bucom50一边进行工作。

镜头单元10具有摄影镜头1和光圈3。摄影镜头1由设在镜头驱动机构2内的未图示的DC电动机(直流电动机)驱动。光圈3由设在光圈机构4内的未图示的步进电动机驱动。Lucom 5根据Bucom 50的指令对这些各电动机进行控制。

在主体单元100内，如图所示配设有以下结构部件。例如设置有：作为光学系统的单镜头反光方式的结构部件(快速复原反射镜(quickreturn mirror)11、五棱镜12、目镜13、副反射镜11a)；位于摄影光轴上的焦平面式的快门15；以及AF(自动对焦)传感器单元16。AF传感器单元16接收来自副反射镜11a的反射光束并检测散焦量。

并且，在主体单元100内设有：AF传感器驱动电路17；反射镜驱动机构18；快门上紧机构19；快门控制电路20；以及测光电路21。AF传感器驱动电路17对AF传感器单元16进行驱动控制。反射镜驱动机构18对快速复原反射镜11进行驱动控制。快门上紧机构19对驱动快门15的前幕和后幕的弹簧进行上紧。快门控制电路20对这些前幕和后幕的动作进行控制。测光电路21根据检测来自五棱镜12的光束的测光传感器21a进行测光处理。

并且，设有：对AF传感器单元16进行驱动控制的AF传感器驱动电路17；对快速复原反射镜11进行驱动控制的反射镜驱动机构18；用于对驱动快门15的前幕和后幕的弹簧进行上紧的快门上紧机构19；对这些前幕和后幕的动作进行控制的快门控制电路20；以及根据检测来自五棱镜12的光束的测光传感器21a进行测光处理的测光电路21。

在摄影光轴上设有用于对通过上述光学系统后的被摄体像进行光电转换的摄像单元30。摄像单元30是将作为摄像元件的CCD 31和配设在CCD 31的前面的光学低通滤波器(LPF)32、防尘过滤器33作为单元并一体化而成的。在防尘过滤器33的周缘部安装有压电元件34。压电元件34具有两个电极，并构成为通过防尘过滤器控制电路48使压电元件34以预定的频率振动，从而使防尘过滤器33振动，由此可除去附着在滤波器表面的灰尘。对于摄像单元30附加有后述的手抖校正用的抖动校正装置300。

并且，该照相机系统具备：与CCD 31连接的CCD接口电路23；以及图像处理控制器28，其利用液晶监视器24、作为存储区域而发挥功能的SDRAM(同步动态随机存储器)25、Flash ROM(快闪只读存储器)26等进行图像处理，所述照相机系统构成为能够同时提供电子摄像功能和电子记录显示功能。此处，记录介质27是各种存储卡或外置的HDD等的外部记录介质，安装为能够经由通信连接器与照相机本体进行通信并且能够更换。进而，通过摄影得到的图像数据记录在该记录介质27中。作为其它的存储区域，用于存储照相机控制所需的预定的控制参数的、例如由EEPROM构成的非易失性存储器29设置成能够从Bucom 50进行存取。

在Bucom 50中设有：用于通过显示输出向用户告知该照相机的动作状态的动作显示用LCD 51及动作显示用LED 51a；以及照相机操作SW52。照相机操作SW 52是包含例如释放SW、模式变更SW及电源SW等操作该照相机所需的操作钮在内的开关组。另外，设有作为电源的电池54，和将电池54的电压转换为构成该照相机系统的各电路单元所需的电压来提供的电源电路53，还设有检测从外部电源通过插座提供电流时的电压变化的电压检测电路。

如上述那样构成的照相机系统的各部分大致以下那样工作。首先，图像处理控制器28根据Bucom 50的指令来对CCD接口电路23进行控制，并从CCD 31取入图像数据。该图像数据由图像处理控制器28转换为视频信号，并利用液晶监视器24进行输出显示。用户能够根据该液晶监视器24的显示图像对所拍摄的图像影像进行确认。

此处，参照图6，进一步对摄像单元30的结构进行说明。摄像单元30具有：作为摄像元件的CCD 31光学低通滤波器(LPF)32；在该光学LPF 32的前面侧隔开预定间隔对置配置的防尘过滤器33；以及压电元件34。CCD 31获得与透过摄影光学系统并照射到自身的摄像元件面上的光对应的图像信号。光学LPF 32配设在矩形的CCD 31的摄像元件面侧，从透过摄影光学系统照射来的被摄体光束中除去高频成分。压电元件34配设在防尘过滤器33的周缘部，并对防尘过滤器33赋予预定的振动。再有，作为摄像元件，不限于CCD，也可以是CMOS传感器等。

并且，配设有气密地覆盖CCD 31和光学LPF 32的保持器35。如后述的图4所示，整体形成为圆形(或者多边形)的板状的防尘过滤器33通过按压部件37以按压状态支撑，所述按压部件37由板簧等弹性体形成，并通过螺钉36固定在保持器35上。

其次，对本实施方式的照相机中的手抖校正功能进行说明。首先，设摄影光轴的方向为Z轴方向，设在光轴上与光轴正交配置的矩形状的CCD 31的第一边方向(长边方向)为X轴方向，设与第一边垂直的第二边方向(短边方向)为Y轴方向。对于本实施方式的手抖校正功能，通过使CCD 31向X轴方向和/或Y轴方向移位移动，从而对在CCD 31的摄像元件面上成像的被摄体光束的位置进行校正。进而，本实施方式的抖动校正装置将通过被附加预定的周期电压而在驱动部产生椭圆振动的致动器用作驱动源，将搭载有摄像单元30中的CCD 31的保持器35构成为移动对象物。

首先，参照图2，对在本实施方式的抖动校正装置中用作致动器的振子的动作原理进行说明。图2是示出振子的动作原理的示意图。振子200具有：压电元件204，其由压电体201和一对驱动电极202、203构成；以及两个作为驱动部的驱动件205、206。压电体201以预定的大小整体形成细长的矩形形状。一对驱动电极202、203偏置在压电体201的一面侧并中心对称地形成。驱动件205、206在压电体201的与驱动电极202、203对应的表面位置上沿着与压电元件204的中心轴平行的假想轴线配置。此处，在振子200上仅产生在长度方向上伸缩的纵向振动时，纵向振动的波节成为波节面。波节面没有振幅，压电体201的长度方向的端面成为最大振幅。另一方面，当在振子200上仅产生弯曲振动时，波节成为波节线(图2中的纸面的表里方向)。波节线存在于波节面上，没有振幅，压电体201围绕波节线进行旋转振动。对于振子200，通过由箭头At示出的振动方向的纵向振动和由与箭头At正交的箭头Ak示出的振动方向的弯曲振动的合成而在驱动件205、206上产生椭圆振动。

因此，对压电体201的一个驱动电极202施加基于预定频率的正弦波的周期电压，并且，对另一个驱动电极203施加基于频率与施加在驱动电极202上的周期电压的频率相同但相位错开的正弦波的周期电压。施加的周期电压的频率设定为如下的预定的数值：压电体201的中央成为弯曲振动的波节，驱动件205、206的部分成为弯曲振动的波腹，并且，压电体201的纵向振动的波节与弯曲振动的波节一致。于是，伴随施加的周期电压的+、-的变化，振子200反复进行包含图2(b)所示的状态在内的图2(a)～(c)所示的弯曲振动和纵向振动，从而在驱动件205、206的表面产生椭圆振动。由此，通过将作为驱动对象的移动体配设为与振子200的驱动件205、206侧按压接触，从而移动体按照在驱动件205、206的表面产生的椭圆振动的方向而移动。

接着，参照图3～图8对以这样的振子作为致动器的本实施方式的抖动校正装置进行说明。图3是示出抖动校正装置的结构的分解立体图，图4是示意地示出抖动校正装置的主要部分的结构的俯视图，图5是沿图4中的E-E’线的剖面图，图6是沿图4中的A-A’线的剖面图，图7是将沿图4中的D-D’线的剖面图包含在一部分的沿C-C’线的剖面图，图8是沿图7中的B-B’线的剖面图。

本实施方式的抖动校正装置300将搭载了CCD 31的保持器35(第二移动部件)作为在X轴方向和/或Y轴方向移位移动的最终移动对象物。抖动校正装置300具有X框301和框架(固定部件)302。X框301形成为具有围绕摄影光轴周围的开口301a的框部301b的框形状，并将保持器35搭载成能够在Y轴方向上移动。框架302紧固在未图示的照相机本体上，形成为具有围绕摄影光轴周围的开口302a的框部302b的框形状，并将X框301搭载成能够在X轴方向上移动。

而且，抖动校正装置300具有：使X框301相对于框架302在X轴方向上变位移动的X轴驱动机构310x；以及使保持器35相对于X框301在Y轴方向上变位移动的Y轴驱动机构310y。抖动校正装置300通过X轴驱动机构310x和Y轴驱动机构310y，使保持器35与X框301一起相对于框架302在X轴方向上移位移动，同时使保持器35相对于X框301在Y轴方向上移位移动。由此，搭载在保持器35上的CCD 31在XY平面内在X轴方向和/或Y轴方向上移位移动，以补偿抖动。

此处，对X轴驱动机构310x的结构进行说明。X轴驱动机构310x具有：X轴振子(第一致动器)320x；滑动体330x，其一体地固定在X框301上，与X框301一起构成作为驱动对象的第一移动部件311x；以及按压机构340x，其对X轴振子320x向滑动体330x侧施力。

X轴振子320x在细长的矩形形状的压电元件323x的一面上作为整体具有驱动件(驱动部)321x、322x，所述驱动件(驱动部)321x、322x根据图2中说明了的振子200的动作原理，通过被施加预定的周期电压而产生椭圆振动。X轴振子320x在压电元件323x的与驱动件321x、322x相反一侧的中央位置具有振子保持器324x。进而，形成在振子保持器324x上的突起325x嵌合在框架302的槽342x(保持部)中，由此，X轴振子320x被定位并保持，以限制X轴振子320x在X轴方向上的移动。通过这样的结构，基于在驱动件321x、322x上产生的椭圆振动的驱动力作用在X轴方向上。

此外，滑动体330x是通过在轴承(被引导部)331x上紧固滑动板(滑动部)332x而成的。轴承331x在X轴振子320x的驱动件321x、322x被按压而与滑动板332x接触的位置，利用例如小螺钉333x一体地固定在X框301的一部分上。此处，滑动体330x以比形成为期望的大小的X框301的尺寸小的尺寸(与X轴振子320x相当的尺寸)形成。并且，X框301由刚性低的树脂材料或铝等形成，与此相对，滑动板332x由具有耐磨性且刚性高的陶瓷等材质形成，轴承331x是对铁素体系的不锈钢等可以淬火的材质进行淬火来提高刚性而成的。

并且，框架302具有轴承(引导部)304x，所述轴承304x配置在形成于框架302上的开口形状的安装部，并用小螺钉303x以与滑动体330x的轴承331x对置的方式固定。如图8所示，在该轴承304x中，通过紧固用于防止磨损的V形槽板306x而形成有沿着X轴方向的V形槽305x。如图8所示，在轴承331x中，通过紧固用于防止磨损的V形槽板335x而形成有与轴承304x的V形槽305x(V形槽板306x)对置的V形槽334x。此处，通过将由定位器(retainer)336x定位的两个滚珠337x、338x(滚动体)夹在V形槽305x、334x之间，从而轴承304x、331x形成为具有沿着X轴方向排成一列的两个滚珠337x、338x的结构。如图7等所示，两个滚珠337x、338x定位在比驱动件321x、322x的位置更向外侧离开的位置，由定位器336x限制X轴方向的移动。再有，作为滚动体不限于滚珠，也可以是滚柱。

按压机构340x具有按压板341x和按压弹簧347x。按压板341x的一端隔着衬垫(spacer)343x利用小螺钉344x固定在框架302上，该按压板341x保持X轴振子320x。按压弹簧347x隔着衬垫346x配设在将按压板341x的另一端侧固定于框架302的小螺钉345x的周围，并对按压板341x施力，以使X轴振子320x的驱动件321x、322x与滑动板332x按压接触。由按压机构340x产生的按压力设定为15N(牛顿)左右的非常大的力。

再有，虽然轴承331x通过滚珠337x、338x的中心，可以绕与V形槽334x平行的轴旋转，但是轴承331x与X框301一体化，在与X方向不同的方向上离开轴承331x的位置，在框架302和X框301之间配设有一个滚珠307x(滚动体)。该滚珠307x借助于在滚珠307x附近卡定在框架302和X框301之间的弹簧308x的作用力而维持夹持状态，并进行定位，以维持X框301相对于框架302在摄影光轴(Z轴)方向上的间隔。此处，弹簧308x的作用力只要能够维持滚珠307x的夹持状态即可，设定为比弹簧347x的作用力弱得多。由此，由X框301和滑动体330x构成的第一移动部件311x构成为，相对于框架302利用由两个滚珠337x、338x和一个滚珠307x形成的三点支撑而能够移动。并且，通过将滚珠307x相对于滚珠337x、338x隔着摄影光轴和开口301a配置在相反侧，能够使滚珠307x与滚珠337x、338x的距离分开，因此能够形成为稳定的三点支撑结构。这样，根据本实施方式，利用三个滚珠(滚动体)，在对第一移动部件311x的移动方向进行引导的同时能够规定其倾斜，能够进行稳定的驱动。

另一方面，具有Y轴振子(第二致动器)320y的Y轴驱动机构部310y的基本结构也与X轴驱动机构部310x同样，对于相同或者对应的部分在同一标号上附上字母y进行表示，并省略说明。再有，Y轴驱动机构部310y具有滑动体330y，所述滑动体330y一体地固定在保持器35上，并与保持器35一起构成作为驱动对象的第二移动部件311y。

并且，本实施方式的抖动校正装置300在框架302上配设有检测主体单元100的围绕X轴的抖动(俯仰方向的抖动)的X轴陀螺仪350x和检测主体单元100的围绕Y轴的抖动(偏转方向的抖动)的Y轴陀螺仪350y。并且，具有检测CCD 31的位置的位置检测装置360。另外，具有根据来自这些X轴陀螺仪350x、Y轴陀螺仪350y以及位置检测装置360的信号相对于X轴振子320x、Y轴振子320y控制振子驱动电路354的防振控制电路355。防振控制电路355根据来自Bucom 50的指示执行控制动作。

其次，对X轴驱动机构310x的动作进行说明。首先，对X轴振子320x施加预定的周期电压而使驱动件321x、322x产生椭圆振动。于是，X轴振子320x的驱动件321x、322x利用按压机构340x的强作用力与滑动板332x按压接触，因此，滑动体330x被向驱动件321x、322x的椭圆振动的旋转方向驱动。

此时，虽然施加在X轴振子320x上的按压力强，但是由于构成滑动体330x的滑动板332x以及轴承331x的刚性高，所以驱动件321x、322x与滑动板332x的按压接触状态稳定。由此，伴随椭圆振动的驱动力能够可靠地传递至滑动板332x，能够高效地向椭圆振动的旋转方向驱动。并且，由于滑动体330x的具有滑动板332x的一侧相对于框架302不是面接触，而是在轴承331x、304x的部分通过滚珠337x、338x以滚动方式接触，所以即使按压力强，滑动体330x也能够相对于框架302以摩擦少的状态可靠地移动。进而，由于轴承331x、304x由沿着X轴方向的一列的滚珠轴承的轴承结构构成，所以，当滑动体330x接受X轴振子320x的驱动时只在X轴方向上移动。当滑动体330x这样移动时，固定有滑动体330x的X框301也和滑动体330x一体地在X轴方向上移动。即，X框301的移动方向也通过由沿着X轴方向的一列滚珠轴承的轴承结构形成的轴承331x、304x之间的卡合来引导。

在这样的动作中，轴承331x通过滚珠337x、338x的中心，能够绕与V形槽334x平行的轴旋转。此处，在本实施方式中，轴承331x与X框301一体化，在与X轴方向不同的方向上离开轴承331x的位置，在框架302和X框301之间配设有一个滚珠307x。并且，由X框301和滑动体330x构成的移动体311x相对于框架302通过两个滚珠337x、338x和一个滚珠307x在离开的位置三点支撑。其结果是，不会因绕与V形槽334x平行的轴旋转而产生影响，能够稳定地在框架302上向X轴方向移动。由此，相对于X轴振子320x的强按压部分的引导支撑机构为基于轴承331x、304x的沿着X轴方向的一列滚珠轴承的轴承结构即可，能够实现小型化、结构简单化。

Y轴驱动机构310y也与X轴驱动机构310x的情况同样进行动作。

其次，参照图4、图5以及图9～图12，对本实施方式的X轴振子320x、Y轴振子320y和位置检测装置360的配置以及位置检测装置360的结构进行说明。图9是将从CCD 31的背面侧观察的配置关系简化进行表示的示意图。图10是将磁铁和检测部的结构例放大进行表示的概略立体图。图11是以主视图的方式示出磁铁的磁力线分布与霍尔元件的配置关系的说明图。图12是以俯视图的方式示出磁铁的磁力线分布与霍尔元件的配置关系的说明图。

首先，对于具有整体呈细长的矩形形状的压电元件323x的X轴振子320x，其在框架302上，位于例如以4∶3的比例形成为横向稍长的矩形形状的CCD 31的第一边(长边)31a的外侧附近，并与该第一边31a的方向(X轴方向)平行地进行配置。并且，对于具有整体呈细长矩形形状的压电元件323y的Y轴振子320y，其在框架302上，位于CCD 31的与第一边31a垂直的第二边(短边)31b的外侧附近，并与该第二边31b的方向(Y轴方向)平行地进行配置。此处，X轴振子320x配置在下述位置：靠近该X轴振子320x的长度方向轴Lx和Y轴振子320y的长度方向轴Ly交叉的假想的交叉点P且不与Y轴振子320y交叉的位置。同样，Y轴振子320y配置在靠近假想的交叉点P且不与X轴振子320x交叉的位置。

并且，用于检测通过X轴振子320x和Y轴振子320y进行移位移动的CCD 31的相对位置的位置检测装置360如图9所示，配置在由X轴振子320x和Y轴振子320y的各自的一端部包围的包含假想的交叉点P的区域E中。此处，如图4和图5所示，位置检测装置360具有：臂部361，其从搭载有CCD 31的保持器35的一角向区域E延伸；磁铁362，其设在该臂部361的前端部；以及检测部363，其相对于框架302由支撑片302c支撑，且在区域E内相对于磁铁362在光轴方向上对置配置。

此处，检测部363具有多个霍尔元件，所述多个霍尔元件用于在区域E内检测磁铁362的磁力(磁通密度)的变化。在本实施方式中，如图10以及图11所示，检测部363具有四个霍尔元件364x、365x、364y、365y，所述四个霍尔元件分别位于与CCD 31的第一边31a、第二边31b的方向对应的假想的X轴和Y轴上。

并且，如图10和图11所示，磁铁362是在摄影光轴方向(Z轴方向)的两端部上具有N、S磁极的矩形状的部件。如图12中所示，该磁铁362沿整周均等地具有从N极朝向S极且在边缘部附近为最大的磁力线分布。由此，磁铁362在与检测部363对置的S极端面上具有图11所示的大致矩形闭环形状的等磁力线分布(等磁通密度分布)(另外，磁铁362也可以是圆形形状，该情况下成为同心圆状的等磁力线分布)。此处，设定为在X框301和保持器35位于移动范围的大致中央时(位于CCD 31的移动量为0的标准位置时)，磁力线中心与假想的X轴和Y轴的中心O一致。并且，霍尔元件364x、365x沿着假想的X轴分开配置，霍尔元件364y、365y沿着假想的Y轴分开配置。如图12中所示，霍尔元件364x、365x以与磁检测面上的比磁通密度分布的最大部分靠内侧的倾斜分布部分对应的方式配置在相对于中心O对称的位置上。同样，霍尔元件364y、365y以与比磁通密度分布的最大部分靠内侧的倾斜分布部分对应的方式配置在相对于中心O对称的位置上。

在这样的结构中，在利用X轴陀螺仪350x、Y轴陀螺仪350y检测到照相机的手抖时，利用振子驱动电路354对X轴振子320x和/或Y轴振子320y进行驱动，使搭载有CCD 31的保持器35向X轴方向和/或Y轴方向移位移动。此时，利用位置检测装置360检测CCD 31是否从移动量为0的标准位置移位移动到了能够对手抖量进行补偿的预定的目标位置，并提供给X轴振子320x、Y轴振子320y的反馈控制。

此处，例如在X轴振子320x被驱动、从而搭载有CCD 31的保持器35向X轴方向移位移动的情况下，通过臂部361而与保持器35一体的磁铁362也向X轴方向移位移动。由此，在标准位置检测到同一磁力强度的霍尔元件364x、365x根据保持器35(磁铁362)的移动方向而在检测到的磁力强度上产生强弱的差，一方的检测磁力增加，与此相对，另一方的检测磁力下降。因此，将利用X轴方向的一对霍尔元件364x、365x检测到的磁力强度差作为衰减比算出，通过使用预定的算式进行运算处理，能够高精度地对在X轴方向上的从标准位置移动的移动量(相对位置)和朝向进行检测。由此，进行下述的反馈控制：在检测到的相对位置到达目标位置的时刻，基于X轴振子320x的移位移动停止。在基于Y轴振子320y的驱动对保持器35(磁铁362)在Y轴方向上进行移位驱动的情况下，同样也能够高精度地对在Y轴方向上的从标准位置移动的移动量(相对位置)和朝向进行检测。由此，进行下述的反馈控制：在检测到的相对位置到达目标位置的时刻，基于Y轴振子320y的移位移动停止。

根据由这样的结构构成的本实施方式的抖动校正装置300，X轴振子320x和Y轴振子320y配置在靠近各自的长度方向轴Lx、Ly交叉的假想的交叉点P且相互不交叉的位置上，检测CCD 31的相对位置的位置检测装置360配置在由X轴振子320x和Y轴振子320y的各一端部包围且包含假想的交叉点P在内的区域E中，因此，能够利用由X轴振子320x和Y轴振子320y的配置所产生的微小的死空间(dead space)，来配置位置检测装置360，能够确保抖动校正装置300的小型化。此时，虽然利用死空间的区域E的大小受到限制，但是由于检测部363一体地具有进行X、Y这两个轴方向的检测的霍尔元件而构成为小型的结构，因此能够没有障碍地相对于区域E进行配置。并且，能够将位置检测装置300配置在尽量接近CCD 31的位置上，能够降低在检测系统中重叠的误差量，高精度地对CCD 31的相对位置进行检测。进而，能够将位置检测装置360配置在尽量接近对CCD 31进行位置控制的X轴振子320x和Y轴振子320y的位置，能够直接对成为X轴振子320x和Y轴振子320y的移动对象的CCD 31的动作进行检测。由此，能够对X轴振子320x和Y轴振子320y适当地进行反馈控制。

再有，本发明不限于上述的实施方式，只要在不脱离本发明的主旨的范围内，可以进行各种变形。例如在本实施方式中，将霍尔元件在X轴方向、Y轴方向分别各设置两个，根据二者之间的差分产生的衰减比对CCD 31的相对位置进行检测，但是也可以在X轴方向、Y轴方向分别各设置一个霍尔元件364x、364y，根据由霍尔元件364x、364y检测出的磁力强度的变化对CCD 31的相对位置进行检测。或者，在磁铁的S极侧配置霍尔元件，但也可以将霍尔元件配置在N极侧，也可以配置在S极侧和N极侧这两侧。如果在两侧进行配置，则能够进一步缩小图9的配置范围E。

并且，位置检测装置的检测方式不限于利用磁铁和霍尔元件的磁检测方式，例如，也可以是光学检测方式。图13～图15中示出光学检测方式的位置检测装置370的变形例。图13是在与图7对应的CC’剖面上的抖动校正装置的主要部分的剖面图。图14是以主视图的方式示出Y轴传感器和Y轴标尺(scale)的配置关系的说明图。图15是以主视图的方式示出X轴传感器和X轴标尺的配置关系的说明图。

变形例中所示的位置检测装置370具有：X轴传感器371；X轴标尺372；Y轴传感器373；以及Y轴标尺374。X轴传感器371配置在框架302上。X轴标尺372配置在X框301上并利用X轴传感器371检测移动量。Y轴传感器373配置在X框301上。Y轴标尺374配置在搭载有CCD 31的保持器35的支撑片375上并利用Y轴传感器373检测移动量。此处，X轴传感器371和Y轴传感器373由反射型光学传感器构成，X轴标尺372和Y轴标尺374是分别在X轴方向、Y轴方向上以预定间距等间隔地形成有黑白的明暗图形的部件。由此，根据X轴传感器371、Y轴传感器373检测到的距标准位置的明暗图形量，来检测CCD 31的X轴方向、Y轴方向的相对的移动量。并且，对于这些部件，在包含上述的X轴振子320x、Y轴振子320y的长度方向轴Lx、Ly交叉的假想的交叉点P在内的区域E中，在与摄影光轴平行的Z轴方向上，从框架302侧依次接近配置有X轴传感器371、X轴标尺372、Y轴传感器373、Y轴标尺374。并且，如图15所示，X轴标尺372形成为覆盖相对于X轴传感器371的移动范围的大小。另一方面，如图14所示，Y轴标尺374形成为覆盖相对于Y轴传感器373的移动范围并且也覆盖相对于X轴传感器371的移动范围的大小。

对于变形例的位置检测装置370，虽然X轴方向和Y轴方向的传感器结构分开形成，但是由于在区域E内利用在光轴方向上依次配置的层叠结构集中配置，因此能够相对于区域E没有障碍地进行配置。特别是，由于使X轴传感器371和X轴标尺372、Y轴传感器373和Y轴标尺374分别接近配置，因此也能够提高检测精度。并且，由于Y轴标尺374形成为不仅覆盖相对于Y轴传感器373的移动范围而且也覆盖相对于X轴传感器371的移动范围的大小，因此能够确保可靠的检测。

Claims (9)

1.一种抖动校正装置，所述抖动校正装置通过使矩形的摄像元件向该摄像元件的第一边方向和/或与该第一边垂直的第二边方向移动，从而对在所述摄像元件面上成像的被摄体光束的位置进行校正，其特征在于，所述抖动校正装置具有：

固定部件，其具有第一致动器，所述第一致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述第一边附近与该第一边方向平行地进行配置；

第一移动部件，其具有第二致动器，所述第二致动器具有整体呈细长形状的压电元件，且在所述摄像元件的所述第二边附近与该第二边方向平行地进行配置，所述第一移动部件由所述第一致动器驱动，由此在所述固定部件上向与所述摄像元件的所述第一边方向平行的方向被驱动；

第二移动部件，其配置有所述摄像元件，由所述第二致动器驱动，由此在所述第一移动部件上向与所述摄像元件的所述第二边方向平行的方向被驱动；以及

位置检测构件，所述位置检测构件对通过所述第一致动器和/或所述第二致动器而移动的所述摄像元件的相对位置进行检测，

所述第一致动器配置在下述位置：靠近该第一致动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的假想的交叉点且不与所述第二致动器交叉的位置，

所述第二致动器配置在靠近所述假想的交叉点且不与所述第一致动器交叉的位置上，

所述位置检测构件配置在由所述第一和第二致动器的靠近所述假想的交叉点的各一端部包围且包含所述假想的交叉点的区域内。

2.根据权利要求1所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述位置检测构件具有：

臂部，其从所述第二移动部件向所述区域延伸；

磁铁，其设在该臂部的前端部；以及

检测部，其配置在所述固定部件上，并具有多个霍尔元件，所述多个霍尔元件用于在所述区域内对所述磁铁的磁力的变化进行检测。

3.根据权利要求2所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述检测部在与所述摄像元件的所述第一和第二边方向对应的假想的X轴和Y轴上分别具有至少各一个所述霍尔元件，

所述磁铁在光轴方向的两端部上具有磁极，在所述第一和第二移动部件位于移动量为0的标准位置时，其磁力线中心与所述假想的X轴和Y轴的中心大致一致。

4.根据权利要求3所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述磁铁在与所述检测部对置的磁极端面上具有闭环形状的等磁力线分布。

5.根据权利要求3所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述霍尔元件沿着所述假想的X轴或者Y轴配置有多个。

6.根据权利要求5所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述霍尔元件以与磁检测面上的比磁通密度分布的最大部分靠内侧的倾斜分布部分对应的方式，配置在相对于磁检测面上的磁铁中心对称的位置上。

7.根据权利要求1所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述位置检测构件具有：X轴传感器，其配置在所述固定部件上；X轴标尺，其配置在所述第一移动部件上并利用所述X轴传感器检测移动量；Y轴传感器，其配置在所述第一移动部件上；以及Y轴标尺，其配置在所述第二移动部件上并利用所述Y轴传感器检测移动量，在包含所述第一致动器的长度方向轴和所述第二致动器的长度方向轴交叉的假想的交叉点在内的区域中，在与光轴平行的Z轴方向上，从所述固定部件依次配置有所述X轴传感器、X轴标尺、Y轴传感器、Y轴标尺。

8.根据权利要求7所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述X轴传感器和所述Y轴传感器由反射型光传感器构成，

所述X轴标尺和所述Y轴标尺由以预定间距等间隔形成的明暗图形构成。

9.根据权利要求7所述的抖动校正装置，其特征在于，

所述X轴标尺具有覆盖相对于所述X轴传感器的移动范围的大小，

所述Y轴标尺具有覆盖相对于所述Y轴传感器和所述X轴传感器的移动范围的大小。

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