CN101324653A - 边界扫描测试连接装置、方法以及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种边界扫描测试连接装置、方法和系统。该方法包括：识别JTAG器件的工作电平，分别将要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链；将上述获得的菊花单链连接到边界扫描测试连接装置对应电平的第二电平区，并赋予第二电平区相应外部电平；将测试设备连接到如上所述边界扫描测试连接装置的第一电平区；该测试设备向该连接装置输入测试信号，并根据该连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。通过本发明，能够满足被测单元中各JTAG器件的电平要求，保证异电平JTAG器件能够在功能上连接为一条菊花链，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测试；同时，在一定程度上改善现有测试设备对于被测单元的驱动状况和测试信号质量。
Description
技术领域
本发明涉及测试领域，尤其涉及一种边界扫描测试连接装置、一种边界扫描测试方法及一种边界扫描测试系统。
背景技术
JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，对边界扫描测试(Boundary Scan Test，简称BST)技术进行了规范，包括芯片级到系统级测试，核心逻辑电路互连测试和数模或模数电路测试等一系列测试技术。
JTAG的应用非常广泛，如器件互连测试、器件虚拟测试、器件簇测试和器件自建内测试等等。其一般要求被测单元(Unit Under Test，简称UUT)上所有的JTAG器件按照一定的方式连接为一条JTAG菊花链(daisy chain)，测试设备通过发送测试信号给被测单元，并接收测试结果，从而判断被测单元是否有故障以及故障在哪里。
基于JTAG标准，被测单元的各个JTAG器件分别定义有TAP(TestAccess Port，测试访问口)，并通过该TAP连接为一条JTAG菊花链。该TAP一般为四线接口，用于支持TMS(测试模式选择)、TCK(测试时钟)、TDI(测试数据输入)和TDO(测试数据输出)端口信号；同时，测试复位信号(TRST，一般以低电平有效)是可选的第五个端口信号。一条菊花链上的JTAG器件，其连接方式通常为：第一个JTAG器件的输出TDO被连接到第二个JTAG器件的输入TDI，以此类推，直到连接了被测单元的所有JTAG器件，如图1所示。
在实际测试过程中，一条菊花链上需要连接的JTAG器件往往要求不同的工作电平，比如第一个JTAG器件可能要求5V的工作电平，那么其输入信号和输出信号都是5V，如果第二个JTAG器件要求3.3V的工作电平，则显然第一个JTAG器件的输出与第二个JTAG器件的输入是不匹配的；不仅如此，其余的JTAG器件还可能工作在2.5V、1.8V、1.5V……，这种工作电平的不一致，会导致被测单元的JTAG器件无法直接连接为一条JTAG菊花链。
可以看出，为了保证对被测单元测试的顺利进行，必须妥善解决器件电平不统一的问题。
在现有技术中，主要采用以下两种方式来解决器件电平不统一的情况：
一种方式为：采用带有电平转换功能的74系列器件。这种方式的缺陷在于：74系列器件只能进行电平的单向转换，即一个74系列器件只能从一种电平输出到另一种电平，比如从5V转换为3.3V；这样，在被测单元规模较大且菊花链上所连接的JTAG器件电平不一致时，往往需要多个74系列器件，比如一个JTAG器件的工作电平是3.3V，其前后JTAG器件的工作电平都是5V，那么就需要两个74系列器件进行转换。显然，这种方式必然导致单板布局紧张，以及带来器件浪费和成本升高问题；同时，处理低电平(小于3.3V)转换时可选择的74系列器件很少，常常难以有效的实现所需的电平转换。
另一种方式为：采用分压形式的模拟电路。这种方式的缺陷在于，模拟电路设计复杂，成本很高，且其进行电平转换的效果并不尽如人意。
综上所述，现有技术并不能有效解决菊花链中JTAG器件的异电平问题。
发明内容
本发明的实施例旨在提供一种边界扫描测试方案，以满足菊花链各JTAG器件的电平要求，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测试。
为实现上述目的，本发明的实施例提供了一种边界扫描测试连接装置，设有多个电平区，包括：
第一电平区，设置有用于与测试设备连接的测试接口；
N个第二电平区，分别设置有用于与被测单元一菊花单链连接的测试接口以及电压控制接口；其中，该电压控制接口与外部电平连接，基于该外部电平控制其所在第二电平区测试接口所输出信号的电平，以支持各菊花单链对于不同工作电平的要求；该N大于1，该菊花单链由要求相同工作电平的JTAG器件连接构成；
该第一电平区测试接口的TDI端口接收测试设备输入的TDI信号，在该连接装置连接有M条菊花单链的情况下，驱动一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口；该第二电平区测试接口的TDO端口驱动下一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口，依次类推，直至驱动第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口；
该第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDO端口驱动该第一电平区测试接口的TDO端口，用于向测试设备输出TDO信号；
且，该第一电平区TAP测试接口TDI和TDO以外的端口同时连通全部第二电平区测试接口的相应端口。
本发明的实施例还提供了一种边界扫描测试方法，适用于对被测单元的JTAG器件进行边界扫描测试；包括以下步骤：
S1、识别JTAG器件的工作电平，分别将要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链；
S2、将上述获得的菊花单链连接到如上所述边界扫描测试连接装置对应电平的第二电平区，并赋予第二电平区相应外部电平；
S3、将测试设备连接到如上所述边界扫描测试连接装置的第一电平区；
S4、该测试设备向该连接装置输入测试信号，并根据该连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。
本发明的实施例还提供了一种边界扫描测试系统，包括被测单元和测试设备；还包括：
如上所述的边界扫描测试连接装置；
其中，要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链，该菊花单链分别连接到该连接装置对应电平的第二电平区，该第二电平区与相应外部电平连接；
该测试设备连接到该连接装置的第一电平区，通过向该连接装置输入测试信号，并根据该连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。
由上述技术方案可知，本发明的实施例通过区分JTAG器件的工作电平分别连接为菊花单链，采用具有电平转换功能的连接器件将菊花单链连接起来，具有以下有益效果：
1、满足被测单元中各JTAG器件的电平要求，保证异电平JTAG器件能够在功能上连接为一条菊花链，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测试；
2、在多数情况下各菊花单链的JTAG器件数目相对于被测单元中JTAG器件数目都会有显著减少，因此在一定程度上现有测试设备对于被测单元的驱动状况能够得到改善，同时测试信号质量也得到相应改善；
3、通过进一步的菊花单链长度控制，驱动能力和测试信号质量能够得到有效保障。
通过以下参照附图对优选实施例的说明，本发明的上述以及其它目的、特征和优点将更加明显。
附图说明
图1为现有技术中菊花链的示意图；
图2为本发明提供的边界扫描测试连接装置一实施例的框图；
图3为图2所示边界扫描测试连接装置一具体实施例的示意图；
图4为本发明提供的边界扫描测试方法一实施例的流程图；
图5为本发明提供的边界扫描测试方法另一实施例的流程图；
图6为本发明提供的边界扫描测试系统一实施例的框图。
具体实施方式
下面将详细描述本发明的具体实施例。应当注意，这里描述的实施例只用于举例说明，并不用于限制本发明。
首先，为了解决多个不同电平JTAG器件难以直接连成一条JTAG菊花链的问题，本发明提供了一种边界扫描测试连接装置100，其一实施例如图2所示，设有多个电平区。这些电平区被区分如下：
第一电平区110，其设置有用于与测试设备连接的测试接口111，该测试接口111用于与测试设备的TAP对接。
N个第二电平区120；这里所述的N大于1，具体数值可以根据装置的规模以及实际需要设置；
每一个第二电平区120都设置有用于与被测单元一菊花单链连接的测试接口121以及电压控制接口122。
对于上述第一电平区测试接口111和第二电平区测试接口121来说，其可以包括TDI、TMS、TCK和TDO端口，或者，可以包括TDI、TMS、TCK、TRST和TDO端口。一般来说，测试接口111和测试接口121所支持的端口情况统一即可。
对于上述第二电平区120：
其测试接口121用于与菊花单链的TAP对接，该菊花单链由要求相同工作电平的JTAG器件连接构成，其结构具体为：前一JTAG器件的TDI端口与后一JTAG器件的TDO端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为该菊花单链的TDI端口和TDO端口；同时，全部JTAG器件的TMS、TCK和TRST端口并联，接收测试接口121输出的统一的TMS、TCK和TRST信号，因此也可以视为菊花单链的TMS、TCK和TRST端口；
其电压控制接口122与外部电平连接，基于该外部电平控制其所在地而电平区120测试接口121所输出信号的电平，即TDI、TMS、TCK和TRST(可选)的信号电平由外部电平统一控制，从而支持测试接口121所连接菊花单链对于不同工作电平的要求。可以看出，菊花单链要求的工作电平可以彼此完全不一致，也可以存在部分菊花单链工作电平一致的情况；对于上述可能的情况，通过调整外部电平，可以满足每一菊花单链的的要求。
为了实现将不同电平的菊花单链连接为一整条菊花链，各电平区测试接口的连接关系如下：
该第一电平区测试接口111的TDI端口接收测试设备输入的TDI信号，在连接装置100连接有M条(M＜N)菊花单链的情况下，连通一连接有菊花单链的第二电平区测试接口121的TDI端口，即采用测试设备的TDI信号来驱动该第二电平区测试接口121的TDI端口；
该第二电平区测试接口121的TDO端口连通下一连接有菊花单链的第二电平区测试接口121的TDI端口，即该第二电平区测试接口121输出的TDO信号驱动下一第二电平区测试接口121的TDI端口；
依次类推，直至连通第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口121的TDI端口；
且对于第M个连接有菊花单链的第二电平区TAP而言，其第二电平区测试接口121的TDO端口连通第一电平区测试接口111的TDO端口，即该第二电平区测试接口121的TDO信号用于驱动第一电平区测试接口111的TDO端口，向测试设备输出TDO信号；
以及，第一电平区测试接口111的TDI和TDO以外的其它端口同时连通全部第二电平区测试接口121的相应端口，也就是测试设备输出的TMS和TCK信号，也可能包括TRST信号，被用来驱动所有连接有菊花单链的第二电平区测试接口121的相应端口；
可见，上述边界扫描测试连接装置100相当于一个HUB器件，能够为具有不同电平要求的M条菊花单链提供电平支持，并使所连接的菊花单链能够在功能上被连接为一条菊花链。
同时，上述技术方案还同时具有改善测试设备驱动状况和测试信号质量的效果。
这是由于在现有技术中，测试设备输出的TMS、TCK、TRST信号是直接并联到各个JTAG器件的TAP接口上的。如果被测单元内器件数目为几个或者十几个，那么测试设备的驱动能力一般能够支持；但在实际测试过程中，随着被测单元内器件数目的增多，往往一条菊花链上需要连接几十个甚至更多的JTAG器件，这种情况下，为了保证并联的测试信号能够有效驱动被测单元，必须为上述信号提供额外的驱动芯片。显然，大量驱动芯片的加入，不但占用了单板空间，而且导致信号质量的下降。
而本发明所提供的技术方案中，边界扫描测试连接装置100一般是通过多个测试接口121连接多条菊花单链，因此事实上，边界扫描测试连接装置100同时提供了驱动芯片的功能，即测试设备输出的TMS、TCK、TRST信号作为一驱多路信号，在边界扫描测试连接装置100中获得驱动加强，再通过各个测试接口121提供给菊花单链；由于在多数情况下各菊花单链的JTAG器件数目相对于被测单元中JTAG器件数目都会有显著减少，因此相对于现有技术，所需的驱动芯片数量在一定程度上将会减少，即现有测试设备对于被测单元的驱动状况能够得到改善；同时驱动芯片数量的减少能够相应改善测试信号的质量。
在实际应用中，上述实施例所提供的边界扫描测试连接装置100可以预先设置好各第二电平区120的使用次序和工作电压，并建立相应端口之间的连接；当然，这种方式局限性较高，需要提供多种配套的装置供用户实际选择；
或者，上述实施例所提供的边界扫描测试连接装置100也可以仅规划好各个电平区和工作电平，在接入相应的菊花单链后，通过开关模块控制相应端口间的连接。
作为具体实施例，本发明提供的边界扫描测试连接装置100可以采用可编程逻辑器件实现，包括PLD(Programmable Logic Device，可编程逻辑器件)、CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)和FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)等芯片。
该可编程逻辑器件可以为具有多电平BANK(槽)的芯片，芯片的每一个BANK具有相同的电平，通过在其上设置一个或多个第二电平区120，能够同时为一条或多条需要相同电平的菊花单链提供TAP支持。
为了实现同一BANK上对多个第二电平区120的支持，设置在一个BANK上的第二电平区120合设电压控制接口122，使该BANK上的第二电平区120测试接口121输出的信号具有相同的电平。
特别是，第一电平区110和第二电平区120同样可以合设。比如，可以在提供较常用电平的BANK中，引出一测试接口形成第一电平区110。
如图3所示，显示了利用PLD的MachXO640芯片实现本发明边界扫描测试连接装置100的示意图。
其中，该MachXO640芯片提供了四组电平BANK功能，分别为1.5V、3.3V、1.8V和2.5V，在图3中，每一组虚线框代表一个BANK，通过VCCO管脚作为电压控制接口122，通过分别接入各自的电平，实现对所在BANK电平的控制。
在图3中，以每一个BANK上设置一个第二电平区120为例加以描述。但本领域普通技术人员可以了解，当存在具有相同电平的菊花单链时，可以通过在相应BANK同时设置多组第二电平区120，并将VCCO作为共同的电压控制接口122实现对多条需要相同电平菊花单链的支持。
同时，图3所示MachXO640芯片在较常用的电平BANK(以3.3V为例)中设置了第一电平区110，与外部测试设备进行连接。为了便于区分，这组端口分别表示为HUB_TCK、HUB_TDO、HUB_TMS、HUB_TRST以及HUB_TDI。
在图3中，未就芯片内部的逻辑连接关系加以显示，说明如下：
HUB_TCK为一驱多路TCK端口，即接收从测试设备JTAG端口(JTAGPort)输入的TCK信号，并通过MachXO640芯片分别发送给与TCK1、TCK2、TCK3和TCK4连接的菊花单链的相应端口，用于向菊花单链中的JTAG器件提供TCK信号；
HUB_TMS为一驱多路TMS端口，即接收从测试设备JTAG端口输入的TMS信号，并通过MachXO640芯片分别发送给与TMS1、TMS2、TMS3和TMS4连接的菊花单链的相应端口，用于向菊花单链中的JTAG器件提供TMS信号；
HUB_TRST为一驱多路TRST端口，即接收从测试设备JTAG端口输入的TRST信号，并通过MachXO640芯片分别发送给与TRST1、TRST2、TRST3和TRST4连接的菊花单链的相应端口，用于向菊花单链中的JTAG器件提供TRST信号；
HUB_TDI接收从测试设备JTAG端口输入的TDI信号，并通过MachXO640芯片发送给TDI1端口，用于向与TDI1端口连接的菊花单链提供TDI信号；
TDO1端口接收从其菊花单链输出的TDO信号，并通过MachXO640芯片发送给TDI2端口，用于向与TDI2端口连接的菊花单链提供TDI信号；
依次类推，直至TDO4端口接收从其菊花单链输出的TDO信号，并通过MachXO640芯片发送给HUB TDO端口，用于向与HUB TDO端口连接的测试设备提供TDO信号。
显然，上述提供的实施例仅使用一个MachXO640芯片，就能够将多个JTAG菊花单链连成一条链，并且完全满足每条JTAG单链的电平要求。
基于上述提供的边界扫描测试连接装置，本发明还提供了边界扫描测试方法，适用于对被测单元的JTAG器件进行边界扫描测试。
如图4所示，显示了该边界扫描测试方法一实施例的流程图，包括以下步骤：
S1、识别待测各JTAG器件的工作电平，分别将要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链；
具体的，本步骤S1将相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链的步骤包括：将前一JTAG器件的TDI端口与后一JTAG器件的TDO端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为该菊花单链的TDI端口和TDO端口。同时，全部JTAG器件的TMS、TCK和TRST端口可以按照现有技术处理，接收统一的TMS、TCK和TRST信号，因此也可以视为菊花单链的TMS、TCK和TRST端口。
S2、将上述获得的菊花单链连接到如上所述边界扫描测试连接装置对应电平的第二电平区，并赋予该第二电平区相应外部电平；
具体连接方式为：菊花单链的TDI、TDO、TMS、TCK和TRST端口分别与第二电平区TAP的相应端口连接，接收第二电平区输出的TDI、TMS、TCK和TRST信号，并向第二电平区输入TDO信号。
S3、将测试设备连接到如上所述边界扫描测试连接装置的第一电平区，即将测试设备的JTAG端口连接到第一电平区TAP端口；
S4、该测试设备向该连接装置输入测试信号(即向第一电平区输入TDI、TMS、TCK和TRST信号)，并根据该连接装置输出的测试信号(即从第一电平区接收的TDO信号)识别边界扫描结果。
从上述步骤S1～S4可以看出，通过区分JTAG器件的工作电平分别连接为菊花单链，并采用具有电平转换功能的连接器件将菊花单链连接起来，能够满足被测单元中各JTAG器件的电平要求，保证异电平JTAG器件能够在功能上连接为一条菊花链，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测试。
同时，由于边界扫描测试连接装置取代了大量导致信号损耗的驱动芯片，且多数情况下各被驱动菊花单链的JTAG器件数目相对于被测单元中JTAG器件数目都会有显著减少，因此所需的驱动芯片数量在一定程度上将会减少，即现有测试设备对于被测单元的驱动状况能够得到改善，同时测试信号质量也得到相应改善。
进一步的，为了实现测试设备驱动能力对被测单元的支持，本发明还提供了边界扫描测试方法一较佳实施例，如图5所示，在步骤S1之后还包括：
SA1、统计获得的任一菊花单链中JTAG器件的数目；
SA2、如果超出预设的阈值，则按照所述阈值将所述菊花单链拆分为多条菊花单链，保证每一条菊花链无需额外的驱动芯片加以驱动；
SA3、如果未超出预设的阈值，则保持当前菊花单链结构。
这样，边界扫描测试连接装置所连接的每一条菊花单链中JTAG器件的数目都是有限的，从而通过边界扫描测试连接装置的集中驱动，即可保证测试设备驱动能力能够有效支持菊花单链的测试，同时保证了测试信号的质量。
相应的，基于上述提供的边界扫描测试连接装置100，本发明还提供了边界扫描测试系统10，其一实施例如图6所示，包括：
如上所述的边界扫描测试连接装置100；
被测单元200，其中包括异电平的多JTAG器件；
测试设备300；
其中，被测单元200中要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链，该菊花单链的结构为：前一JTAG器件的TDI端口与后一JTAG器件的TDO端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为该菊花单链的TDI端口和TDO端口。
上述菊花单链分别连接到该连接装置100对应电平的第二电平区，该第二电平区与相应外部电平连接；
该测试设备300连接到连接装置100的第一电平区，通过向连接装置100输入测试信号，并根据该连接装置100输出的测试信号识别边界扫描结果。
从上述边界扫描测试系统10可以看出，通过区分JTAG器件的工作电平分别连接为菊花单链，并采用具有电平转换功能的连接器件将菊花单链连接起来，能够满足被测单元中各JTAG器件的电平要求，保证异电平JTAG器件能够在功能上连接为一条菊花链，从而实现对异电平JTAG器件的边界扫描测试。
同时，由于边界扫描测试连接装置100取代大量的驱动芯片进行多路的集中驱动，且多数情况下各菊花单链的JTAG器件数目相对于被测单元中JTAG器件数目都会有显著减少，因此在一定程度上可以减少驱动芯片的使用数量，实现驱动状况的改善和测试信号质量的改善。
为了实现测试设备驱动能力对被测单元的支持，本发明还提供了边界扫描测试系统一较佳实施例，在上述实施例的基础上，进一步包括单链拆分单元(图中未示)，与被测单元200连接，用于统计获得的任一菊花单链中JTAG器件的数目，如果超出预设的阈值，则按照该阈值将所述菊花单链拆分为多条菊花单链；如果未超出预设的阈值，则保持当前菊花单链结构。
这样，边界扫描测试连接装置所连接的每一条菊花单链中JTAG器件的数目都是有限的，无需额外的驱动芯片，从而保证测试设备驱动能力能够有效支持菊花单链的测试，同时保证了测试信号的质量。
虽然已参照几个典型实施例描述了本发明，但应当理解，所用的术语是说明和示例性、而非限制性的术语。由于本发明能够以多种形式具体实施而不脱离发明的精神或实质，所以应当理解，上述实施例不限于任何前述的细节，而应在随附权利要求所限定的精神和范围内广泛地解释，因此落入权利要求或其等效范围内的全部变化和改型都应为随附权利要求所涵盖。
Claims (10)
1.一种边界扫描测试连接装置，其特征在于，设有多个电平区，包括：
第一电平区，设置有用于与测试设备连接的测试接口；
N个第二电平区，分别设置有用于与被测单元的一菊花单链连接的测试接口以及电压控制接口；其中，所述电压控制接口与外部电平连接，基于所述外部电平控制其所在第二电平区测试接口所输出信号的电平，以支持各菊花单链对于不同工作电平的要求；所述N大于1，所述菊花单链由要求相同工作电平的JTAG器件连接构成；
所述第一电平区测试接口的TDI端口接收所述测试设备输入的TDI信号，在所述连接装置连接有M条菊花单链的情况下，连通一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口；所述第二电平区测试接口的TDO端口连通下一连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口，依次类推，直至连通第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDI端口；
所述第M个连接有菊花单链的第二电平区测试接口的TDO端口连通所述第一电平区测试接口的TDO端口，用于向测试设备输出TDO信号；
且，所述第一电平区测试接口TDI和TDO以外的端口同时连通全部第二电平区测试接口的相应端口。
2.根据权利要求1所述的边界扫描测试连接装置，其特征在于，所述连接装置为可编程逻辑器件。
3.根据权力要求2所述的边界扫描测试连接装置，其特征在于，所述可编程逻辑器件为具有多电平BANK的芯片，每一个BANK上设置一个或多个电平区，其中，设置在一个BANK上的第二电平区合设电压控制接口，使所述BANK上的第二电平区测试接口输出的信号具有相同的电平。
4.根据权利要求1-3任一所述的边界扫描测试连接装置，其特征在于，所述电平区测试接口包括TDI、TMS、TCK和TDO端口，或者，所述电平区测试接口包括TDI、TMS、TCK、TRST和TDO端口。
5.一种边界扫描测试方法，适用于对被测单元的JTAG器件进行边界扫描测试；其特征在于，包括以下步骤：
S1、识别所述JTAG器件的工作电平，分别将要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链；
S2、将上述获得的菊花单链连接到如权利要求1-4任一所述边界扫描测试连接装置对应电平的第二电平区，并赋予所述第二电平区相应外部电平；
S3、将测试设备连接到如权利要求1-4任一所述边界扫描测试连接装置的第一电平区；
S4、所述测试设备向所述连接装置输入测试信号，并根据所述连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。
6.根据权利要求5所述的边界扫描测试方法，其特征在于，所述步骤S1中将相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链的步骤包括：将前一JTAG器件的TDI端口与后一JTAG器件的TDO端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为所述菊花单链的TDI端口和TDO端口。
7.根据权利要求5或6所述的边界扫描测试方法，其特征在于，所述步骤S1之后还包括：
SA1、统计获得的任一菊花单链中JTAG器件的数目；
SA2、如果超出预设的阈值，则按照所述阈值将所述菊花单链拆分为多条菊花单链；
SA3、如果未超出预设的阈值，则保持当前菊花单链结构。
8.一种边界扫描测试系统，包括被测单元和测试设备；其特征在于，还包括：
如权利要求1-4任一所述的边界扫描测试连接装置；
其中，所述被测单元中要求相同工作电平的JTAG器件连接为一条菊花单链，所述菊花单链分别连接到所述连接装置对应电平的第二电平区，所述第二电平区与相应外部电平连接；
所述测试设备连接到所述连接装置的第一电平区，通过向所述连接装置输入测试信号，并根据所述连接装置输出的测试信号识别边界扫描结果。
9.根据权利要求8所述的边界扫描测试系统，其特征在于，所述菊花单链的结构为：前一JTAG器件的TDI端口与后一JTAG器件的TDO端口连接，最前JTAG器件的TDI端口和最后JTAG器件的TDO端口分别作为所述菊花单链的TDI端口和TDO端口。
10.根据权利要求8或9所述的边界扫描测试系统，其特征在于，还包括单链拆分单元，与所述被测单元连接，用于统计获得的任一菊花单链中JTAG器件的数目，如果超出预设的阈值，则按照所述阈值将所述菊花单链拆分为多条菊花单链；如果未超出预设的阈值，则保持当前菊花单链结构。
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