CN101286327B - 用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法与系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统及方法，其中光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质。该系统包含有：循轨伺服回路，是安排来控制光学存储装置的光学读取头的循轨操作；循轨偏移控制回路，是安排来控制循轨伺服回路的记录循轨偏移；控制器，是安排来使能记录循轨偏移的最新值作为读出值，来以供后续进行的记录程序所利用；以及比较器，是安排来比较记录长度与阈值，并产生旗标来代表记录长度是否为长记录长度。其中最新值取得自循轨偏移控制回路。本发明所提供的方法及系统，能够控制自光学读取头发射的激光光点在轨道中央，避免了因循轨不当而使数据受破坏。

Description

用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法与系统
技术领域
本发明是有关于光学存储装置的循轨偏移校准(track offset calibration)，尤指用来校准光学存储装置的记录循轨偏移(recording track offset)的方法与系统，其中光学存储装置存取(access)平面与沟槽记录/重现类型(land andgroove recording/reproduction type)的光学存储介质。
背景技术
针对数字多功能光盘(Digital Versatile Disc，DVD)，例如可记录式数字多功能光盘(DVD-Recordable，DVD-R)，在将数据记录于其中的程序中，精确地控制数字多功能光驱(DVD drive)的光学读取头的循轨偏移对记录质量而言并非很重要，这是因为即使自光学读取头发射的激光光点(laser light spot)没有锁定于可记录式数字多功能光盘的沟槽轨道(groove track)的中央，也不会有明显的问题发生。然而，针对随机存取记忆式数字多功能光盘(DVD-RAM)而言，若当数字多功能光驱正在记录数据于随机存取记忆式数字多功能光盘的第二轨道时，自光学读取头发射的激光光点没有锁定于第二轨道的中央，则先前被写在邻近于第二轨道的第一轨道上的数据很可能被抹除或被重写，典型的结果是导致代表不良的记录质量的大跳动值(jitter value)。在最差状况下，将无法读取随机存取记忆式数字多功能光盘上的至少一部分数据。
例如：第二轨道为中央对准于图1所示的线(b)的沟槽轨道21G，其中地址区块16至地址区块19分别被标示为ID1至ID4。若当数字多功能光驱正在记录数据于沟槽轨道21G时，激光光点24沿着线(a)扫描，则先前被写在邻近于沟槽轨道21G的平面轨道(land track)21L(即此状况下的第一轨道)上的 数据很可能被损坏。若当数字多功能光驱正在记录数据于沟槽轨道21G时，激光光点24沿着线(c)扫描，则先前被写在邻近于沟槽轨道21G的平面轨道22L(即此状况下的第一轨道)上的数据很可能被损坏。其中，图1中的标号16、17、18、19是表示地址区块，ID1、ID2、ID3、ID4为地址区块的辨识码，而22L、23L与22G分别为平面轨道与沟槽轨道。
有时由于激光光点的亮度变化以及所谓的光检测芯片增益(PDIC gain)的不平衡，记录循轨偏移(recording track offset)(即于记录程序中的循轨偏移)的数值会异于读取循轨偏移(reading track offset)(即于读取程序中的循轨偏移)的数值。依据先前技术，进行在线闭回路控制(online closed loopcontrol)可能对于控制记录循轨偏移有所帮助，其中如图2所示，对应于射频(Radio Frequency，RF)信号RF的加总信号(All Sum signal)AS可用来控制激光光点24沿着线(b)扫描。其中，图2中的标号25是表示凹洞。
一般在记录程序之前所进行的最优功率校准(Optimal Power Calibration，OPC)的过程中，若记录循轨偏移的初始值(例如零初始值)并不适当，其是指记录循轨偏移的初始值与实际值相距甚远，其中实际值是对应于光学读取头相对于轨道的实际径向位置(radial location)，则最优功率校准很可能失败。即使没有发生最优功率校准失败，光学读取头的记录功率的校准值通常会高于记录功率的代表值，这会导致若干问题，例如：随机存取记忆式数字多功能光盘上的整体重写次数降低、较高的错误率、以及较大的跳动值。
针对未预先进行最优功率校准的记录程序，若记录循轨偏移的初始值并不恰当，先前记录的数据(例如：先前记录在上述的第一轨道上的数据)会部分地/全然地被抹除或被后来记录的数据(例如：记录在上述的第二轨道上的数据)所重写。于是，随机存取记忆式数字多功能光盘上的先前记录的数据中的至少一部分就损失了。
发明内容
本发明的目的在于提供用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法与系统，可解决记录循轨偏移不恰当而造成数据丢失及重写次数降低等问题。其中该光学存储装置存取平面与沟槽类型(land and groove type)的光学存储介质。
本发明的一个实施方式中提供一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其中该光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该系统包含有：循轨伺服回路(tracking servo loop)，是安排来控制光学存储装置的光学读取头的循轨操作；循轨偏移控制回路(track offset control loop)，是安排来控制循轨伺服回路的记录循轨偏移；控制器，是安排来使能(enable)记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中最新值是取得自循轨偏移控制回路；以及比较器，是安排来比较记录长度与阈值，并产生旗标来代表记录长度是否为长记录长度，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，以及当所述的旗标指出所述的记录长度并非长记录长度时，所述的控制器保持初始值不作改变，当所述的旗标指出所述的记录长度为长记录长度时，所述的控制器用所述的读出值来更新所述的循轨偏移控制回路使用的初始值，以供后续进行的所述的记录程序所利用。
本发明的又一个实施方式中提供一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法，其中光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该方法包含有：存储记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中最新值是取得自光学存储装置的循轨偏移控制回路；以及比较记录长度与阈值，并依此决定是否来更新代表初始循轨偏移的初始值，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，以及当所述的记录长度小于所述的阈值时，保留所述的初始值以供后续进行的所述的记录程序所利用，当所述的记录长度大于所述的阈值时，所述的初始值是由所述的读出值来更新以供后续进行的所述的记录程序所利用。
本发明所提供的方法及系统，能够控制自光学读取头发射的激光光点在轨道中央，避免了因循轨不当而使数据受破坏。
附图说明
图1为先前技术随机存取记忆式数字多功能光盘上的沟槽轨道与平面轨道的示意图；
图2为先前技术用来控制记录循轨偏移的加总信号的示意图；
图3为依据本发明一个实施方式的光学存储装置的示意图；
图4绘示于本发明的一个实施方式中图3所示的光学存储装置的相关信 号的波形；
图5为本发明的一个实施方式中、绘示有多个校准步骤的流程图，其中该多个校准步骤是为光学存储装置于记录使用者数据至平面与沟槽记录/重现类型的光学存储介质上之前所进行；
图6为依据本发明一个实施方式所提供的一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法的流程图，其中该光学存储装置存取平面与沟槽记录/重现类型的光学存储介质；
图7为依据本发明第一实施方式的光学存储装置的示意图，其中第一实施方式是为图3所示的实施方式的变化例；
图8绘示依据本发明的实施方式而在图7所示的光学存储装置当中所利用的分离光电检测器；
图9绘示针对某一种情形而在图7所示的光学存储装置当中所利用的反射光量信号的峰对峰值；
图10与图11绘示针对某些其它的情形而在图7所示的光学存储装置当中所利用的该反射光量信号的峰对峰值；
图12为依据本发明的第二实施方式的光学存储装置的示意图，其中第二实施方式是为第一实施方式的变化例；
图13绘示应用于图12所示的光学存储装置的方法的流程图；
图14为依据本发明的第三实施方式的光学存储装置的示意图，其中第三实施方式是为第一实施方式的变化例；
图15为依据本发明的第四实施方式的光学存储装置的示意图，其中第四实施方式是为第一实施方式的变化例；
图16绘示于本发明的实施方式中关于图15所示的补偿单元的实施细节的示意图；
图17与图18绘示于图16所示的实施方式中关于图15所示的补偿单元的相关信号；
图19绘示于本发明另一个实施方式中关于图15所示的补偿单元的实施细节的示意图；
图20与图21绘示于图19所示的实施方式中关于图15所示的补偿单元的相关信号。
具体实施方式
在本专利说明书及权利要求书当中使用了某些词汇来指称特定的组件。所属领域中具有通常知识者应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及后续的请求项当中所提及的“包含”是开放式的用语，故应解释成“包含但不限定于”。以外，“耦接”一词在此是包含任何直接及间接的电气连接手段。因此，若文中描述第一装置耦接于第二装置，则代表第一装置可直接电气连接于第二装置，或透过其它装置或连接手段间接地电气连接至第二装置。
请参考图3，图3为依据本发明一个实施方式的光学存储装置100的示意图，例如数字多功能光盘机的示意图，其中光学存储装置100可存取平面与沟槽记录/重现类型的光学存储介质10，例如：光盘，尤其是随机存取记忆式数字多功能光盘(DVD-RAM)。依据本实施方式，光学存储装置100的循轨控制系统(tracking control system)包含循轨伺服回路(tracking servo loop)。如图3所示，循轨伺服回路包含循轨误差信号检测电路(tracking error signaldetection circuit)50、循轨误差补偿器(tracking error compensator，TEcompensator)110、与读取头驱动电路70，其中循轨伺服回路是用来控制光学存储装置100的光学读取头30沿着相对于光学存储装置100的主轴电机(spindle motor)20的径向(radial direction)的循轨操作。
循轨误差信号检测电路50可依据来自光学读取头30的重现信号(reproduced signal)来产生循轨误差信号TE，其中重现信号至少包含来自光 学读取头30的两输出信号其中之一。循轨误差补偿器110是用来进行补偿，依据循轨误差信号TE，通过利用(utilize)读取头驱动电路70来控制光学读取头30的径向位置(radial location)，其中读取头驱动电路70依据循轨误差补偿器110的输出来驱动光学读取头30。
在本实施方式中，循轨控制系统另包含循轨偏移控制回路(track offsetcontrol loop)。如图3所示，循轨偏移控制回路包含反射光量信号检测电路(reflected light amount signal detection circuit)80、两取样/保持电路(sample/hold circuit)122与124、差分电路(differential circuit)126、与补偿器130，其中当光学存储装置100正记录数据于光学存储介质10上时，上述的循轨偏移控制回路被使能(enable)。
反射光量信号检测电路80包含加法电路与低通滤波器(未显示)，其中加法电路是用来将来自光学读取头30的两输出相加来产生相加信号，而低通滤波器则用来对相加信号进行滤波来产生反射光量信号(reflected light amountsignal)AS，本实施方式中也可称为加总信号。取样/保持电路122与取样/保持电路124取样/保持反射光量信号AS以分别产生两输出S1与S2。另外，差分电路126计算输出S1与S2之间的差量。依据本实施方式的第一个实施选择，输出S1与S2分别对应于图2所示的检测值VAS1与VAS2。依据本实施方式的第二个实施选择，输出S1与S2分别对应于图2所示的检测值VRF3与VRF4。
通过应用上述的任一个实施选择，自差分电路126输出的差量可被用作为指标(indication)，用来指出放射自光学读取头30发射的激光光点的中心位置是否对准线(b)，或者用来指出激光光点的中心位置是否移向线(a)或线(c)。也就是说，自差分电路126输出的差量可被用作光学读取头30的径向位置的指针。于是，通过利用差分电路126与补偿器130，循轨偏移控制回路依据分别来自取样/保持电路122与取样/保持电路124的输出S1与输出S2来调整循轨误差信号TE，其中耦接至补偿器130的算术单元(arithmetic unit)132 可用来将初始信号注入(inject)循轨偏移控制回路。
若控制信号WLDON对应于用来代表读取程序的逻辑值“0”，则耦接至算术单元132的多任务器(multiplexer)144选择一个零输入(zero input)，使得透过算术单元132注入循轨偏移控制回路的初始信号实质上(substantially)是零，其中如图4所示，上述的逻辑值“0”在本实施方式中是对应于低位准。相反地，若控制信号WLDON是对应于用来代表记录程序的逻辑值“1”，则多任务器144选择初始值INIT，使得透过算术单元132注入循轨偏移控制回路的初始信号载有(carry)初始值INIT，其中如图4所示，上述的逻辑值“1”在本实施方式中是对应于高位准。
依据本实施方式，为了进行记录，控制器，例如光学存储装置100的微处理单元(Micro-Processing Unit，MPU)150，可用来设定上述的初始值INIT，其中初始值INIT代表初始循轨偏移。如此，循轨偏移控制回路可利用初始循轨偏移作为初始状态(或起始点)，用来进行向前控制(forward control)。只要初始值大约在循轨偏移控制回路的稳定值附近，记录程序可由一个轨道的中间开始。
需要注意的是，初始值INIT可在记录循轨偏移校准的过程中首先取得，故可以在记录程序之前或在记录程序之初根据初始值INIT来设定初始状态。于是，记录使用者数据就可由一个轨道的中间开始。
依据本实施方式，微处理单元150在记录程序之前设定初始值INIT。在记录开始的时候，控制信号WLDON上升至高位准，且算术单元132所输出的循轨偏移信号(track offset signal)TO等同于载有初始值INIT的初始信号。循轨偏移控制回路利用代表初始循轨偏移的初始值INIT来开始操作。为了达成此操作，在控制信号WLDON的上升沿(rising edge)的时间点(例如图4所示)，补偿器130的内部状态及其输出均被清除且被重设为零，这是因为通常补偿器会有记忆效应，也就是先前的状态及输出可能会残留。
如图3所示，锁存器(latch)142是用来在控制信号WLDON的下降沿 (falling edge)(例如图4所示的下降沿)的时间点来锁存循轨偏移信号TO的值。以图4所示的状况为例，当控制信号WLDON下降至低位准时，自锁存器142输出的读出值(readout value)信号RV代表锁存值(latched value)，其中微处理单元150将锁存值存储为读出值，以供进一步利用。例如：在后续进行的另一记录程序中，读出值代表循轨偏移控制回路于先前的记录程序中的先前的控制结果，并可用来作为微处理单元150在后续进行的记录程序之前或在后续进行的记录程序之初所设定的初始值INIT。于是，可发生如图4所示的相似的状况。
在这诸多状况中的每一个状况中(例如图4所示的状况)，由控制信号WLDON上升至高位准的时间点直到控制信号WLDON下降至低位准的时间点，读出值信号RV具有如循轨偏移信号TO一般相同的波形，其中在控制信号WLDON上升至高位准的时间点，循轨偏移信号TO的初始值与初始信号所载的初始值INIT相同。另外，在控制信号WLDON下降至低位准的时间点，锁存器142锁存循轨偏移信号TO并输出锁存值，所以微处理单元150将锁存值存储为读出值，以供进一步利用。在控制信号WLDON下降至低位准的时间点，循轨偏移信号TO被重设为零，这是因为耦接至算术单元132的多任务器144依据控制信号WLDON选择零输入。
需要注意的是，一般而言，透过算术单元60注入循轨伺服回路的循轨偏移信号TO载有循轨偏移。依据本实施方式的一个变化例，控制器，例如上述的微处理单元150，可依据对应于循轨偏移信号TO的读出值(例如：读出值信号RV的锁存值)来取得循轨偏移，并将读出值所代表的循轨偏移存储进存储单元(未显示)，例如光学存储装置100中的寄存器(或内存)。依据本变化例，用来存储循轨偏移的寄存器(或内存)位于微处理单元150中。在记录程序中，循轨偏移被称为记录循轨偏移(recording track offset)，其中上述的补偿器130可依据差分电路126所计算的差量来控制记录循轨偏移。于是，透过循轨偏移控制回路的组件的上述操作，循轨偏移控制回路可用来控 制记录循轨偏移。另一方面，在读取程序中，循轨偏移被称为读取循轨偏移(reading track offset)或重现循轨偏移(reproduction track offset)。在图3所示的循轨控制系统中，记录循轨偏移与读取循轨偏移中的任一者可被设定为具有透过算术单元132所注入的初始信号所载的初始值。依据本变化例，初始信号所载的初始值INIT是由微处理单元150所设定。一般而言，记录循轨偏移的代表值(typical value)并不一定和读取循轨偏移的代表值相同或相近。在某些状况下，记录循轨偏移的代表值和读取循轨偏移的代表值相距甚远。
请参阅图5与图6。图5为本发明一个实施方式中、绘示有多个校准步骤的流程图，其中该多个校准步骤是光学存储装置在记录使用者数据至平面与沟槽记录/重现类型的光学存储介质上之前所进行。图6为依据本发明另一个实施方式所提供的一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法的流程图，其中光学存储装置存取平面与沟槽记录/重现类型的光学存储介质。图5与图6所示的流程图的工作流程均可应用于图3所示的光学存储装置100，其中依据本实施方式，图6实质上绘示了图5所示的步骤920的详细步骤。此外，图5与图6所示的步骤的控制可通过利用控制器来实施，其中控制器例如：执行固件码(firmware code)的微处理单元150。
依据图5所示的流程图，光学存储装置100固件记录使用者数据到光学存储介质10上(步骤990)之前，会先进行记录循轨偏移校准(步骤920)、聚焦平衡(focus balance)校准(步骤950)、以及最优功率校准(optimal powercalibration，OPC)(步骤980)，其中最优功率校准为本领域技术人员所知悉。依据图6所示的流程图，用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法可说明如下：
步骤922：设定循轨偏移控制回路的补偿器130的至少一个控制参数，来驱动循轨偏移控制回路进入初始状态，例如本实施方式的校准状态。
步骤924：将记录循轨偏移设定为初始信号所载的初始值INIT，其中初始值INIT实质上是为零或记录循轨偏移的代表值。
步骤926：在循轨偏移控制回路被使能的状况下将数据记录到光学存储介质10上，取得记录循轨偏移的最新值，其中数据例如：预定样本(predeterminedtest pattern)或使用者数据的一部分。尤其是，在本实施方式中，微处理单元150在循轨偏移控制回路被使能的状况下控制光学存储装置100将数据记录到光学存储介质10上的测试区，来取得记录循轨偏移的最新值。依据本实施方式，如前面所述，微处理单元150由对应于循轨偏移信号TO的读出值(例如：读出值信号RV的锁存值)取得记录循轨偏移的最新值。例如在图4所示的状况中，在记录程序的末期、控制信号WLDON下降至低位准的时间点，锁存器142锁存循轨偏移信号TO并输出锁存值。
步骤928：存储记录循轨偏移的最新值(例如上述的读出值)至存储单元，例如上述光学存储装置100中的寄存器(或内存)。存储单元中所存储的最新值可用来作为执行后续步骤(例如步骤950、980、或990)时、初始信号所载的预定值(例如：初始信号所载的初始值INIT)。如前面所述，微处理单元150可将锁存值存储为读出值，以供进一步利用，故一旦将读出值存储在存储单元中，读出值即可被视为记录循轨偏移的最新值，以供后续进行的记录程序加以利用。关于校准结果的进一步利用的相似说明，例如：利用微处理单元150来设定初始值INIT、控制上述的控制信号WLDON上升至高位准、以及在记录开始时控制循轨偏移信号TO等同于载有初始值INIT的初始信号等等，在此不重复描述。
步骤930：设定循轨偏移控制回路的补偿器130的控制参数，来驱动循轨偏移控制回路进入一种一般状态，其中循轨偏移控制回路的回路响应在校准状态下与在一般状态下是彼此相异。更明确而言，依据本实施方式，循轨偏移控制回路的回路响应在校准状态下比在一般状态下更快。
步骤920E：结束。
本实施方式的补偿器130是通过利用具有多个控制参数的滤波器来实现，其中循轨偏移控制回路的回路带宽(loop bandwidth)可通过适当地设定控制 参数来加以控制。另外，循轨偏移控制回路的回路增益可通过改变控制参数来加以调整。于是，补偿器130依据控制参数来进行补偿。
依据本实施方式，微处理单元150可在步骤922中设定控制参数来驱动循轨偏移控制回路进入校准状态，并在步骤930中设定控制参数来驱动循轨偏移控制回路进入一般状态，使得校准状态中的回路带宽大于一般状态中的回路带宽。依据试用性实验(trial experiment)，光学存储装置100为存取随机存取记忆式数字多功能光盘的数字多功能光驱，校准状态中的回路带宽对一般状态中的回路带宽的比率的代表值的范围分布在四到五之间。
需要注意的是，输出S1与S2为用来决定记录循轨偏移的指标，这是因为输出S1与S2之间的差量代表光学读取头30相对于轨道的径向位置位移量(radial location shift amount)。依据本实施方式，若输出S1与S2在校准状态中彼此相异，记录循轨偏移可迅速地调整(tune)至步骤926中的最新值，故光学读取头30的径向位置可迅速地被对准至轨道的中央。另外，为了避免在进行某些对噪声较敏感的步骤(例如：记录使用者数据)时易于出错，一般状态中的较慢的回路响应可在执行步骤930之后被使用。
依据本实施方式的一个变化例，微处理单元150简单地设定控制参数使其在步骤922与930中分别具有不同的值，故控制参数设定循轨偏移控制回路在校准状态中具有第一回路增益，并设定循轨偏移控制回路在一般状态中具有第二回路增益，其中第一回路增益大于第二回路增益。依据试用性实验，光学存储装置100为存取随机存取记忆式数字多功能光盘的数字多功能光驱，第一回路增益对第二回路增益的比率的代表值大约是二。
依据本实施方式的一个变化例，步骤990可执行N次，其中图5所示的步骤990可被代换为步骤990-0、990-1、…、与990-(N-1)。另外，图5所示的步骤920可进一步地在步骤990-0、990-1、…、与990-(N-1)中的两步骤之间被执行至少一次。例如：图5所示的步骤920可进一步地执行(N-1)次，在此分别称为步骤920-1、920-2、…、与920-(N-1)，并分别紧接着步骤990-0、 990-1、…、与990-(N-2)而被执行，其中对应于步骤920-i的步骤926-i(i＝1、2、…、(N-1))当中所记录的数据并不必然被记录到上述的测试区。
请参考图7，图7为依据本发明的第一实施方式的光学存储装置100-1的示意图，其中第一实施方式是为图3所示的实施方式的变化例。第一实施方式与图3所示的实施方式之间的差别可被描述如下。第一实施方式中，被任意设定的设定值是用来取代图3所示的实施方式的多任务器144的零输入。如此，当控制信号WLDON降到低位准，多任务器144选择该设定值。此外，在第一实施方式中并不需要通过如图3所示的从微处理单元150至循轨误差补偿器110的信号联系所实施的控制功能。即此处微处理单元150可依据固件来执行其它功能。
如图7所示，另一个反射光量信号检测电路180是用来取代上述的反射光量信号检测电路80以产生另一反射光量信号AS1。本实施方式的取样/保持电路122与取样/保持电路124可依据特定时间点来取样/保持反射光量信号AS1以分别产生输出S1与S2。
图8绘示依据本发明而在图7所示的光学存储装置100-1当中所利用的分离光电检测器(split photo-detector)的一个实施方式，其中分离光电检测器具有第一检测区域I1与第二检测区域I2。典型地，两检测区域之间的分离器SSPD是平行于投影的轨道轴向，且反射光量信号AS1实质上代表分别来自第一检测区域I1与第二检测区域I2的检测结果之和。
需注意，上述的特定的时间点是依据符合特定的随机存取记忆式数字多功能光盘(DVD-RAM)规格的标头类型而决定，且图7的输出S1与输出S2可用来代表偏离自中央线的循轨偏移位移量。该中央线，例如图9所示的线(a0)为当盘片10转动时，从光学读取头30放射至盘片10的激光光点的路径。
图9绘示针对某一种情形而在图7所示的光学存储装置100-1当中所利用的反射光量信号AS1的峰对峰值(peak-to-peak value)。本情形中，对应于图8所示的分离光电检测器中的第一检测区域I1的路径的信号振幅等于对应 于图8所示的分离光电检测器中的第二检测区域I2的路径的信号振幅。峰对峰值IVFO1、IVFO2、IVFO3与IVFO4分别被利用来代表标头字段(headerfield)1至4当中、在中央线(a0)的不同侧的标头偏移情形。
由于上述的规格，图9所示的标头区域中的标头字段1至4被安排来定位于沟槽区域与平面区域之间的边缘附近，且标头字段1至4分别具有位置相关数据PID1至PID4，其中PID代表物理识别数据(Physical IdentificationData)。此外，标头区域被设计为具有样式，其中该样式包含有重复出现的复数组4T凹洞(pit)与4T平面(land)组(即所谓的VFO区域，其中VFO代表可变频率振荡器)，且可依据峰对峰值是否彼此相等而控制光学存储装置100-1。本实施方式中，因为标头字段1与3大于标头字段2与4，利用分别相对应于标头字段1与3的峰对峰值IVFO1与IVFO3来控制光学存储装置100-1的实施较为容易。依据峰对峰值IVFO1与IVFO3，可调整记录循轨偏移。只要峰对峰值IVFO1与IVFO3彼此相等，便达到将放射自光学读取头30的激光光点的中心位置对准线(a0)的目标。
当激光光点的中心位置对准中央线(a0)时，分别对应于检测区域I1与检测区域I2的峰对峰值(其信号路径也可分别称为I1路径与I2路径)彼此相等。当激光光点的中心位置移向线(b0)时，峰对峰值IVFO1大于峰对峰值IVFO3。当激光光点的中心位置移向线(c0)时，峰对峰值IVFO1小于峰对峰值IVFO3。
需要注意的是，图9所示的AS1信号的振幅轮廓是依据理想情况而描述。在此理想情况中，I1路径与I2路径之间没有差别，且分离光电检测器完美地对准其位置。相反地，在真实情况中，如图10与图11所示，I1路径与I2路径之间的不平衡可能会发生，及/或分离光电检测器未适当地对准其位置。
图10与图11绘示针对某些其它的情形而在图7所示的光学存储装置100-1当中所利用的反射光量信号AS1的峰对峰值IVFO1与IVFO3。在该多个情形中，分别对应于检测区域I1与检测区域I2的信号振幅并不相等。举例来说，当放射自光学读取头30的激光光点的中心位置分别对准线(a1)与线(a2) 时，对应于检测区域I1的路径(即I1路径)的信号振幅大于对应于检测区域I2的路径(即I2路径)的信号振幅。请注意，上述的第一检测区域I1与第二检测区域I2如同寓言一般地绘示于图10与图11，以便对各个检测区域所检测的相对光量能有更好的理解。
更明确而言，由于I1路径的路径增益大于I2路径的路径增益，对应于沟槽轨道与平面轨道的表现会不同，如图10与图11分别所示。首先请参阅图10。由于I1路径的路径增益大于I2路径的路径增益，且由于标头字段1与标头字段3分别对应于I1路径与I2路径，当激光光点的中心位置对准中央线(a1)时，峰对峰值IVFO1大于峰对峰值IVFO3。当激光光点之后从中央线(a1)偏向线(b1)时，由于峰对峰值IVFO1原本大于峰对峰值IVFO3，峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差异会变得更大。
另一方面，当激光光点之后从中央线(a1)偏向线(c1)时，由于峰对峰值IVFO1原本小于峰对峰值IVFO3，峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差异会变小。如此，当激光光点的中心位置对准线(d1)时，即激光光点微量地从中央线(a1)偏向线(c1)时，峰对峰值IVFO1与IVFO3实质上会达到相同的值。至于从中央线(a1)偏向线(d1)的偏移量，是依I1路径的路径增益与I2路径的路径增益之间的差异而定。当此差异较大时，从中央线(a1)偏向线(d1)的偏移量会较大(即，线(d1)比较靠近线(c1))；否则，该偏移量会较小(即，线(d1)比较靠近中央线(a1))。
相仿地，针对图10所示的同一个沟槽轨道，当I1路径的路径增益小于I2路径的路径增益时，激光光点之后就从中央线(a1)偏向线(e1)。
关于图11所示的情形，激光光点已从沟槽轨道移到其相邻的平面轨道。由于I1路径的路径增益大于I2路径的路径增益，且由于标头字段1与标头字段3分别对应于I2路径与I1路径，当激光光点的中心位置对准中央线(a2)时，峰对峰值IVFO1小于峰对峰值IVFO3。当激光光点之后从中央线(a2)偏向线(c2)时，由于峰对峰值IVFO1原本小于峰对峰值IVFO3，峰对峰值IVFO1与 IVFO3之间的差异会变得更大。
另一方面，当激光光点之后从中央线(a2)偏向线(b2)时，由于峰对峰值IVFO1原本小于峰对峰值IVFO3，峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差异会变小。如此，当激光光点的中心位置对准线(e2)时，即激光光点微量地从中央线(a2)偏向线(b2)时，峰对峰值IVFO1与IVFO3实质上会达到相同的值。至于从中央线(a2)偏向线(e2)的偏移量，其是依I1路径的路径增益与I2路径的路径增益之间的差异而定。当此差异较大时，从中央线(a2)偏向线(e2)的偏移量会较大(即，线(e2)比较靠近线(b2))；否则，该偏移量会较小(即，线(e2)比较靠近中央线(a2))。
相仿地，针对图11所示的同一个平面轨道，当I1路径的路径增益小于I2路径的路径增益时，激光光点之后就从中央线(a2)偏向线(d2)。
关于从图10所示的情形至图11所示的情形的转变，当原本对准线(d1)(即激光光点沿着沟槽轨道的目标)的激光光点移向平面轨道时，激光光点的中心位置最初对准线(d2)。然而，激光光点沿着该平面轨道的目标却是线(e2)。于是，当记录循轨偏移控制被使能时，激光光点会从线(d2)偏向线(e2)。
关于从图11所示的情形至图10所示的情形的转变，当原本对准线(e2)(即激光光点沿着平面轨道的目标)的激光光点移向沟槽轨道时，激光光点的中心位置最初对准线(e1)。然而，激光光点沿着沟槽轨道的目标却是线(d1)。于是，当记录循轨偏移控制被使能时，激光光点会从线(e1)偏向线(d1)。
一般而言，激光光点在线(d’)与线(e’)之间摆动，其中线(d’)代表线(d1)或线(d2)，而线(e’)则代表线(e1)或线(e2)。补偿器130的带宽可进一步减低，以减少或消除线(d’)与线(e’)之间的摆动效应；于是，不论I1路径的路径增益与I2路径的路径增益是否相等，激光光点的中心位置实质上就对准线(a’)，其中线(a’)代表真正的轨道中心，例如上述的中央线(a0)、(a1)与(a2)。
依据第一实施方式，与上述的理想情况相比，图7所示的光学存储装置100-1通过设定补偿器130的带宽也可以在真实情况中适当地操作，所以激光 光点不会明显地在线(d’)与线(e’)之间摆动。举例来说，补偿器130的带宽的上限可设定为比转频(rotational frequency)低特定百分比(例如：从10％至20％当中的百分比)。当补偿器130的带宽愈低，放射自光学读取头30的激光光点的中心位置就愈精确地对准线(a’)。
在一般状况下，当在记录程序中记录长度够长时，图3所示的架构就足以克服摆动效应。但是如果在记录程序中遇到记录长度总是很短的情况，记录于沟槽轨道上的机率与记录于平面轨道上的机率可能会不相等，就有机会造成图3所示的架构无法操作或效能低落。
举例来说，当在记录程序中记录长度等于一个错误校准码区块(ErrorCorrection Code block，ECC block)(在本实施方式中，例如：十六个区段)之时，尤其是，当记录位置不连续地分布并且在整个盘片上广泛地散布在内圈外圈当中之时，记录于沟槽轨道上的机率与记录于平面轨道上的机率就会不相等。因此，本发明的某些实施方式可供使用于这些记录于沟槽轨道上的机率与记录于平面轨道上的机率不相等的状况。
在最差的状况下，记录于沟槽轨道上的机率与记录于平面轨道上的机率相差甚多。如果大部分数据记录于沟槽轨道上，则激光光点的中心位置会落在线(d’)。由于在本实施方式中I1路径的路径增益大于I2路径的路径增益，一旦这两个路径增益之间的差异较大，从线(a’)偏向线(d’)的偏移量就会较大(即，线(d’)会更靠近线(c’)，其中线(c’)代表线(c1)或线(c2))。甚至激光光点的中心位置会落在线(c’)，以致有机会损坏邻轨上的数据。
另一方面，如果大部分数据记录在平面轨道上，则激光光点的中心位置会落在线(e’)。由于在本实施方式中I1路径的路径增益大于I2路径的路径增益，一旦这两个路径增益之间的差异较大，从线(a’)偏向线(e’)的偏移量就会较大(即，线(e’)会更靠近线(b’)，其中线(b’)代表线(b1)或线(b2))。甚至激光光点的中心位置会落在线(b’)，以致有机会损坏邻轨上的数据。为了解决这些问题，接下来依据本发明的更多个实施方式(例如对应于图12至图18的那些实施 方式)来进一步说明。
图12为依据本发明的第二实施方式的光学存储装置100-2的示意图，其中第二实施方式为第一实施方式的变化例。第二实施方式与第一实施方式之间的差异描述如下。如图12所示，比较器CMP比较记录长度与阈值(threshold)，并依据此比较操作来产生旗标RecLongLength，其中旗标RecLongLength代表记录长度是否为长记录长度。也就是说，旗标RecLongLength是用来代表记录长度是否比阈值更长。
另外，记录长度传送自光学存储装置100-2中的编码器(未显示)，且阈值是由光学存储装置100-2所设定或由光学存储装置100-2从外部所接收。举例来说，阈值代表十个轨道的临界。若记录长度大于阈值，旗标RecLongLength被设定为逻辑值“1”，来代表记录长度为长记录长度；否则，旗标RecLongLength被设定为逻辑值“0”，来代表记录长度并非长记录长度。图12所示的旗标RecLongLength是用来决定是否送出读出值(取得自读出值信号RV)，以供用来作为初始值INIT，其中旗标RecLongLength可在记录程序开始之前就已经决定好了，或在记录程序结束之后才决定。
请参考图13所示的流程图；如此，在记录程序结束时，微处理单元150可依据旗标RecLongLength所指出的内容(即，记录长度是否为长记录长度)来操作，以决定是否将初始值INIT设定为读出值RV或保持初始值INIT不作改变。在步骤1310中，微处理单元150检查旗标RecLongLength是否被设定为逻辑值“1”。若旗标RecLongLength设定为逻辑值“1”，进入步骤1320，故微处理单元150将INIT设定为RV；否则(即旗标RecLongLength设定为逻辑值“0”)，进入步骤1330，故微处理单元150保持INIT的值不作改变。
依此，在记录数据至光学存储介质的程序结束时，当旗标RecLongLength指出记录长度为长记录长度时，微处理单元150可用读出值RV来更新初始值INIT，以供后续进行的另一个记录程序所利用。另一方面，当旗标RecLongLength指出记录长度并非长记录长度时，微处理单元150可保持初始 值INIT不作改变。于是，在后续进行的记录程序之前或在后续进行的记录程序之初，循轨偏移控制回路可利用如上所述取得的初始值INIT来设定记录循轨偏移。因此，依据本实施方式，当记录长度短时典型地发生的问题(例如：当I1路径与I2路径不平衡存在时且大部分时间所使用的轨道为平面轨道或沟槽轨道的情况下所造成的错误的循轨偏移闭回路控制)可予以避免。本实施方式与上述实施方式相似之处不再重复赘述。
图14为依据本发明第三实施方式的光学存储装置100-3的示意图，其中第三实施方式为第一实施方式的变化例，也为第二实施方式的变化例。如图14所示，第三实施方式中的比较器CMP是用来控制插入于补偿器130与算术单元132之间的多任务器145。如此，当旗标RecLongLength设定为逻辑值“1”时，算术单元132是耦接至补偿器130(如同在第一实施方式中)；否则(即旗标RecLongLength设定为逻辑值“0”)，算术单元132耦接至一个零输入(zero input)。
依据图14所示的第三实施方式，在记录程序开始之前，旗标RecLongLength必须已经决定好了，并且通过利用比较器CMP事先予以设定为逻辑值“1”或逻辑值“0”。如此，与图12所示的实施方式相比较，用来决定图14所示的实施方式中的旗标RecLongLength的时机较为严格。
多任务器145插入于补偿器130与算术单元132之间。如此，在记录程序开始之前，当旗标RecLongLength指出传送自编码器的记录长度(例如：对应于目前的记录程序的记录长度的数值)并非长记录长度时，算术单元132注入信号0(即上述的零输入)，且循轨偏移控制回路保持记录循轨偏移为初始值INIT。另一方面，当旗标RecLongLength指出传送自编码器的记录长度(例如：对应于目前的记录程序的记录长度的数值)为长记录长度时，算术单元132注入来自补偿器130的补偿结果，且循轨偏移控制回路正常地操作，而不保持记录循轨偏移为初始值INIT。本实施方式与上述实施方式相似之处不再重复描述。
依据第三实施方式的一个变化例，在第三实施方式中耦接至比较器CMP的多任务器145可插入于差分电路126与补偿器130之间，以达到与第三实施方式相仿的操作结果。也就是说，多任务器145是插入于差分电路126与补偿器130之间。如此，多任务器145依据旗标RecLongLength多任务选择差分电路126所计算的差量或一个零输入作为输出，且补偿器130依据多任务器145的输出来控制记录循轨偏移。本变化例与上述实施方式相似之处不再重复描述。
依据图12与图14所示的这两个实施方式，本发明的系统与方法克服某些错误控制的问题(例如：在线记录循轨偏移闭回路追踪朝向一个不想要的方向的问题，这样的问题会导致激光光点的中心位置无法对准轨道的中央)。举例来说，本发明可应用于具有小记录长度的随机写入操作。
图15为依据本发明的第四实施方式的光学存储装置100-4的示意图，其中第四实施方式也为第一实施方式的变化例。不论上述的错误控制的问题是否存在，本实施方式中的架构均可正常操作。第四实施方式与第一实施方式之间的差异描述如下。上述的补偿器130被代换为补偿单元130’。本实施方式的补偿单元130’包含补偿器130以及其它组件(例如：多个开关)，上述的其它组件是用来控制补偿器130的输入端的连接状态，其中补偿单元130’的实施细节后续将进一步说明。两个开关的切换状态可依据沟槽/平面信号GL来决定。于是，沟槽/平面信号GL可被某些其它组件加以利用，来于每两个轨道控制补偿单元130’中的补偿器130在特定时期(例如短时期)耦接至差分电路126。
图16绘示于本发明一个实施方式中关于图15所示的补偿单元130’的实施细节的示意图。如图16所示，除了补偿器130以及代表上述的两个开关的开关1646G与1646L，补偿单元130’另包含边沿检测器1610、两个延伸单元(extension unit)1622与1624、与门(AND gate)1630、至少一个延迟单元如延迟单元1639-1与1639-2、解多任务器(demultiplexer)1642、两个计算 单元1644G与1644L、以及算术单元(arithmetic unit)如加法器1648。算术单元是用来取得其多个输入的线性组合。由于本实施方式中的算术单元为加法器1648，线性组合代表加法器1648的两输入之和。
图17与图18绘示于图16所示的实施方式中关于图15所示的补偿单元130’的相关信号。图17对应于当沟槽/平面信号GL的第一个边沿为下降沿的状况，而图18对应于当沟槽/平面信号GL的第一个边沿为上升沿的状况。依据本实施方式，边沿检测器1610检测沟槽/平面信号GL的多个边沿，来产生多个检测结果并透过检测结果信号Er与Ef输出检测结果，其中检测结果信号Er与Ef所载的检测结果(即检测结果信号Er与Ef的脉冲)分别代表检测到上升沿与检测到下降沿。
另外，这两个延伸单元1622与1624分别保持检测结果信号Er与Ef所载的检测结果，来产生中间信号ErSU与EfSU，如图17与图18所示。与门1630可依据中间信号ErSU与EfSU进行与运算(AND operation)，来产生输出(于图17与图18中是标示为“与门的输出”)如切换信号1638，以供控制开关1646G与开关1646L；因此，当切换信号1638的延迟版本对应于逻辑值“1”时，两个延伸单元1622与1624所分别存储的检测结果的保持值均被切换信号1638的延迟版本所清除。
延迟单元1639-1与1639-2以延迟量来延迟切换信号1638，来产生切换信号1638的延迟版本，其中延迟量是依据理论计算或试误性实验而适当地设计。于是，延迟版本中的延迟脉冲的上升沿被对准切换信号1638中的相对应脉冲的下降沿。如此，每当切换信号1638的延迟版本中的延迟脉冲出现，两个延伸单元1622与1624就被重设。
此外，当切换信号1638对应于逻辑值“1”时，开关1646G与开关1646L透过解多任务器1642并通过计算单元1644G或1644L耦接加法器1648至差分电路126，以致补偿器130透过图16所示的中间组件耦接至差分电路126的输出。否则当切换信号1638对应于逻辑值“0”时，开关1646G与开关1646L 分别将加法器1648的输入从计算单元1644G与计算单元1644L断路。
请注意，图17所示的与门的输出的脉冲的出现对应于沟槽/平面信号GL的上升沿，而图18所示的与门的输出的脉冲的出现对应于沟槽/平面信号GL的下降沿。如此，不论沟槽/平面信号GL的第一个边沿是为上升沿(即图17所示的状况)或下降沿(即图18所示的状况)，与门的输出的波形于每两个轨道就具有脉冲。
在本实施方式中，沟槽/平面信号GL的高位准代表沟槽轨道，而沟槽/平面信号GL的低位准代表平面轨道。于是，在图17所示的状况中，切换信号1638(即图17所示的与门的输出)在接续出现的沟槽轨道的每一者开始时触发开关1646G与1646L。另外，在图18所示的状况中，切换信号1638(即图18所示的与门的输出)在接续出现的平面轨道的每一者开始时触发开关1646G与1646L。在本实施方式的一个变化例中，虽然沟槽/平面信号GL的位准的意义可能有所改变，与门的输出的波形却依然于每两个轨道就具有脉冲。
在说明了开关1646G与开关1646L的切换操作之后，由差分电路126至补偿器130的路径上的组件进一步说明如下。
解多任务器1642依据沟槽/平面信号GL来解多任务选择(demultiplex)差分电路126的输出，在本实施方式中，其中差分电路126的输出代表峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量。当沟槽/平面信号GL处于高位准(于本实施方式即逻辑值“1”)，这表示激光光点已经移向特定沟槽轨道，解多任务器1642透过标示为“1”的输出端来将差分电路126的输出转送至计算单元1644G。如此，计算单元1644G依据特定沟槽轨道中的每一区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量来进行统计运算来产生数值GRV_VFOdiff。例如，计算单元1644G通过计算对应于特定沟槽轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量当中的最大值，来取得数值GRV_VFOdiff。
另一方面，当沟槽/平面信号GL处于低位准(于本实施方式即逻辑值“0”)， 这表示激光光点已经移向特定平面轨道，解多任务器1642透过标示为“0”的输出端来将差分电路126的输出转送至计算单元1644L。如此，计算单元1644L依据该特定平面轨道中的每一区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量来进行统计运算来产生数值LND_VFOdiff。例如，计算单元1644L通过计算对应于特定平面轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量当中的最大值，来取得数值LND_VFOdiff。
依据本实施方式，在图17所示的状况中，切换信号1638在接续出现的沟槽轨道的每一者开始时触发开关1646G与1646L。另外，在图18所示的状况中，切换信号1638在接续出现的平面轨道的每一者开始时触发开关1646G与1646L。因此，针对每两个轨道，加法器1648可将数值GRV_VFOdiff与LND_VFOdiff相加，来产生一个和以供输入至补偿器130供其操作之用。
第四实施方式可通过参考图10或图11来进一步说明。请参考图10，当发射自光学读取头30的激光光点的中心对准中央线(a1)时(例如：针对特定沟槽轨道)，峰对峰值IVFO1大于峰对峰值IVFO3，故数值GRV_VFOdiff大于零。请参考图11，当发射自光学读取头30的激光光点的中心对准中央线(a2)时(例如：针对特定平面轨道)，峰对峰值IVFO1小于峰对峰值IVFO3，故数值LND_VFOdiff小于零。于是，数值GRV_VFOdiff与LND_VFOdiff之和可接近或达到零；因此，循轨偏移就不会被循轨偏移控制回路所调整。
另外，请参考图10，当激光光点的中心对准线(b1)时，峰对峰值IVFO1确实会大于峰对峰值IVFO3，故数值GRV_VFOdiff大于零。然而，请参考图11，当激光光点的中心对准线(b2)时，由于I1路径的信号振幅大于I2路径的信号振幅，数值LND_VFOdiff(其于本实施方式中例如：对应于特定平面轨道中的全部/某些区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量当中的最大值)的绝对值相较于激光光点的中心对准图9所示的线(b0)的状况就减少了。于是，数值GRV_VFOdiff与LND_VFOdiff之和就大于零；因此，循轨偏移控制回路就会沿着一个正确的方向来调整循轨偏移。
此外，请参考图11，当激光光点的中心对准线(c2)时，峰对峰值IVFO1确实会小于峰对峰值IVFO3，故数值LND_VFOdiff小于零。然而，请参考图10，当激光光点的中心对准线(c1)时，由于I1路径的信号振幅大于I2路径的信号振幅，数值GRV_VFOdiff(其于本实施方式例如：对应于特定沟槽轨道中的全部/某些区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量当中的最大值)的绝对值相较于激光光点的中心对准图9所示的线(c0)的状况就减少了。于是，数值GRV_VFOdiff与LND_VFOdiff之和就小于零；因此，循轨偏移控制回路就会沿着一个正确的方向来调整循轨偏移。本实施方式与前述实施方式相似之处不再重复描述。
依据图16所示的实施方式的一个变化例，计算单元1644G与1644L的计算可加以变化。例如：计算单元1644G通过计算对应于特定沟槽轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量当中的最小值，来取得数值GRV_VFOdiff；而计算单元1644L通过计算对应于特定平面轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量当中的最小值，来取得数值LND_VFOdiff。本变化例与上述实施方式相似之处不再重复描述。
依据图16所示的实施方式的另一个变化例，计算单元1644G通过计算对应于特定沟槽轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量的平均值，来取得数值GRV_VFOdiff；而计算单元1644L通过计算对应于特定平面轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量的平均值，来取得数值LND_VFOdiff。如此，依据本变化例，加法器1648可对通过平均(averaging)对应于沟槽轨道中的全部(或某些)区段的差量所取得的数值GRV_VFOdiff以及通过平均对应于邻接该沟槽轨道的平面轨道中的全部(或某些)区段的差量所取得的数值LND_VFOdiff进行加总，来产生一个和以供输入至补偿器130供其操作之用。本变化例与上述实施方式相似之处不再重复描述。
依据图16所示的实施方式的另一个变化例，计算单元1644G通过针对对 应于特定沟槽轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量进行移动平均(moving average)操作，来取得数值GRV_VFOdiff；而计算单元1644L通过针对对应于特定平面轨道中的全部(或某些)区段的峰对峰值IVFO1与IVFO3之间的差量进行移动平均操作，来取得数值LND_VFOdiff。上述的移动平均操作通过动态地平均若干样本(例如：上述的差量)来计算多个平均值，也就是说，此移动平均操作舍弃最旧的样本并且新增新的样本，来取得接续地得到的多个平均值中之一，且取得自此移动平均操作的平均值会比一般方法更加精确。如此，依据本变化例，加法器1648可对通过移动平均(moving-averaging)对应于沟槽轨道中的全部(或某些)区段的差量所取得的数值GRV_VFOdiff以及通过移动平均对应于邻接该沟槽轨道的平面轨道中的全部(或某些)区段的差量所取得的数值LND_VFOdiff进行加总，来产生一和以供输入至补偿器130供其操作之用。本变化例与上述实施方式相似之处不再重复描述。
请参阅图19，一并参阅图20与图21。图19绘示于本发明另一个实施方式中关于图15所示的补偿单元130’的实施细节的示意图，其中图19所示的实施方式为图16所示的实施方式的变化例。图20与图21绘示在图19所示的实施方式中关于图15所示的补偿单元130’的相关信号。依据本实施方式，上述的切换信号1638是代换为切换信号1938，而用来产生切换信号1638的组件是对应地代换为分频器(frequency divider)1910、至少延迟单元如延迟单元1939、以及异或门(XOR gate)1930。
不论沟槽/平面信号GL的第一个边沿是为下降沿(即图21所示的状况)或上升沿(即图20所示的状况)，分频器1910对沟槽/平面信号GL进行分频操作，以产生如图中所绘示的分频信号GLH，其中分频信号GLH的频率对沟槽/平面信号GL的频率的比例可采用1/2作为范例。延迟单元1939延迟分频信号GLH以产生延迟版本GLHD，如图20与图21所示。异或门1930依据分频信号GLH及其延迟版本GLHD进行异或操作(XOR operation)，以 产生输出(于图20与图21中是标示为“异或门的输出”)如切换信号1938，以供用来控制开关1646G与1646L。本实施方式与上述实施方式相似之处不再重复描述。
以上所述仅为本发明的较佳实施方式，凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰，都应属于本发明的涵盖范围。

Claims (10)

1.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，该光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该系统包含有：
循轨伺服回路，是安排来控制所述的光学存储装置的光学读取头的循轨操作；
循轨偏移控制回路，是安排来控制所述的循轨伺服回路的记录循轨偏移；
控制器，是安排来使能所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中所述的最新值取得自所述的循轨偏移控制回路；以及
比较器，是安排来比较记录长度与阈值，并产生旗标来代表该记录长度是否为长记录长度，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，以及当所述的旗标指出所述的记录长度并非长记录长度时，所述的控制器保持所述的循轨偏移控制回路使用的初始值不作改变，当所述的旗标指出所述的记录长度为长记录长度时，所述的控制器用所述的读出值来更新所述的循轨偏移控制回路使用的初始值，以供后续进行的所述的记录程序所利用。
2.如权利要求1所述的用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，在后续进行的所述的记录程序之前或在后续进行的所述的记录程序之初，所述的控制器另将所述的初始值设定为初始循轨偏移，其中所述的初始循轨偏移是被所述的循轨偏移控制回路所利用。
3.如权利要求1所述的用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，该系统另包含有：
多任务器，是安排来多任务选择所述的循轨偏移控制回路使用的初始值或设定值作为输出，其中在后续进行的所述的记录程序之前或在后续进行的所述的记录程序之初，所述的循轨偏移控制回路利用所述的输出来设定所述的记录循轨偏移。
4.如权利要求1所述的用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，该循轨伺服回路包含：
循轨误差信号检测电路，是安排来依据来自所述的光学读取头的重现信号来产生循轨误差信号；
循轨误差补偿器，是安排来依据控制参数进行补偿，以依据所述的循轨误差信号来控制所述的光学读取头的径向位置；以及
读取头驱动电路，是安排来依据所述的循轨误差补偿器的输出来驱动所述的光学读取头。
5.如权利要求1所述的用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，该循轨偏移控制回路包含：
反射光量信号检测电路，是安排来依据来自所述的光学读取头的至少一个输出来产生反射光量信号；
多个取样/保持电路，是安排来取样/保持该反射光量信号以及分别产生多个输出；
差分电路，是安排来计算来自所述的多个取样/保持电路的所述的多个输出之间的差量；以及
补偿器，用来依据所述的差量来控制所述的记录循轨偏移。
6.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，该光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该系统包含有：
循轨伺服回路，是安排来控制所述的光学存储装置的光学读取头的循轨操作；
循轨偏移控制回路，是安排来控制所述的循轨伺服回路的记录循轨偏移，该循轨偏移控制回路包含：
反射光量信号检测电路，是安排来依据来自所述的光学读取头的至少一个输出来产生反射光量信号；
多个取样/保持电路，是安排来取样/保持该反射光量信号以及分别产生多个输出；
差分电路，是安排来计算来自所述的多个取样/保持电路的所述的多个输出之间的差量；以及
补偿器，用来依据所述的差量来输出补偿结果；
控制器，是安排来使能所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中所述的最新值取得自所述的循轨偏移控制回路；
比较器，是安排来比较记录长度与阈值，并产生旗标来代表该记录长度是否为长记录长度，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，所述比较器用于控制多任务器；以及
多任务器，耦接于所述的循轨偏移控制回路中的补偿器，当所述的旗标指出所述的记录长度为长记录长度时，所述的多任务器选择所述的补偿器的输出，当所述的旗标指出所述的记录长度并非长记录长度时，所述的多任务器选择一个零输入作为输出，所述多任务器的输出用于控制所述的记录循轨偏移。
7.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的系统，其特征在于，该光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该系统包含有：
循轨伺服回路，是安排来控制所述的光学存储装置的光学读取头的循轨操作；
循轨偏移控制回路，是安排来控制所述的循轨伺服回路的记录循轨偏移，该循轨偏移控制回路包含：
反射光量信号检测电路，是安排来依据来自所述的光学读取头的至少一个输出来产生反射光量信号；
多个取样/保持电路，是安排来取样/保持该反射光量信号以及分别产生多个输出；
差分电路，是安排来计算来自所述的多个取样/保持电路的所述的多个输出之间的差量；以及
补偿器；
控制器，是安排来使能所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中所述的最新值取得自所述的循轨偏移控制回路；
比较器，是安排来比较记录长度与阈值，并产生旗标来代表该记录长度是否为长记录长度，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，所述比较器用于控制多任务器；以及
多任务器，当所述的旗标指出所述的记录长度为长记录长度时，所述的多任务器选择所述的差量作为输出，当所述的旗标指出所述的记录长度并非长记录长度时，所述的多任务器选择一个零输入作为输出；
其中所述的循轨偏移控制回路中的补偿器耦接至所述的多任务器，且被安排来依据所述的多任务器的输出来控制所述的记录循轨偏移。
8.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法，其特征在于，所述的光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该方法包含有：
存储所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中所述的最新值是取得自所述的光学存储装置的循轨偏移控制回路；以及
比较记录长度与阈值，并依此决定是否来更新代表初始循轨偏移的初始值，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，以及当所述的记录长度小于所述的阈值时，保留所述的初始值以供后续进行的所述的记录程序所利用，当所述的记录长度大于所述的阈值时，所述的初始值是由所述的读出值来更新以供后续进行的所述的记录程序所利用。
9.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法，其特征在于，所述的光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该方法包含有：
存储所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中所述的最新值是取得自所述的光学存储装置的循轨偏移控制回路，该循轨偏移控制回路包含：反射光量信号检测电路，是安排来依据来自所述的光学存储装置的光学读取头的至少一个输出来产生反射光量信号；多个取样/保持电路，是安排来取样/保持该反射光量信号以及分别产生多个输出；差分电路，是安排来计算来自所述的多个取样/保持电路的所述的多个输出之间的差量；以及补偿器，用来依据所述的差量来输出补偿结果；
比较记录长度与阈值，产生旗标来代表所述的记录长度是否大于所述的阈值，并依此决定是否来更新代表初始循轨偏移的初始值，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度；以及
当所述的旗标指出所述的记录长度为长记录长度时，利用耦接于所述补偿器的多任务器选择所述的补偿器的输出，当所述的旗标指出所述的记录长度并非长记录长度时，利用耦接于所述补偿器的多任务器选择一个零输入作为输出，所述多任务器的输出用于控制所述的记录循轨偏移。
10.一种用来校准光学存储装置的记录循轨偏移的方法，其特征在于，所述的光学存储装置存取平面/沟槽类型的光学存储介质，该方法包含有：
存储所述的记录循轨偏移的最新值作为读出值，以供后续进行的记录程序所利用，其中所述的最新值是取得自所述的光学存储装置的循轨偏移控制回路，该循轨偏移控制回路包含：反射光量信号检测电路，是安排来依据来自所述的光学存储装置的光学读取头的至少一个输出来产生反射光量信号；多个取样/保持电路，是安排来取样/保持该反射光量信号以及分别产生多个输出；差分电路，是安排来计算来自所述的多个取样/保持电路的所述的多个输出之间的差量；以及补偿器；
比较记录长度与阈值，产生旗标来代表所述的记录长度是否大于所述的阈值，并依此决定是否来更新代表初始循轨偏移的初始值，其中所述的记录长度是以区段计量的待记录的数据的长度，当所述的旗标指出所述的记录长度为长记录长度时，利用耦接于所述补偿器的多任务器选择所述的差量作为输出，当所述的旗标指出所述的记录长度并非长记录长度时，利用耦接于所述补偿器的多任务器选择一个零输入作为输出；以及
依据所述的多任务器的输出，利用所述的循轨偏移控制回路中的补偿器来控制所述的记录循轨偏移。
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