CN101084431A - 用于确定容器领口表面是否存在缺陷的照射方法和装置 - Google Patents

用于确定容器领口表面是否存在缺陷的照射方法和装置 Download PDF

Info

Publication number
CN101084431A
CN101084431A CNA2005800383224A CN200580038322A CN101084431A CN 101084431 A CN101084431 A CN 101084431A CN A2005800383224 A CNA2005800383224 A CN A2005800383224A CN 200580038322 A CN200580038322 A CN 200580038322A CN 101084431 A CN101084431 A CN 101084431A
Authority
CN
China
Prior art keywords
neckline
irradiation unit
light
irradiation
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CNA2005800383224A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101084431B (zh
Inventor
奥利维耶·科勒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tiama SA
Original Assignee
Tiama SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tiama SA filed Critical Tiama SA
Publication of CN101084431A publication Critical patent/CN101084431A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101084431B publication Critical patent/CN101084431B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9018—Dirt detection in containers
    • G01N21/9027—Dirt detection in containers in containers after filling
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9036—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents using arrays of emitters or receivers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
    • G06V10/10—Image acquisition
    • G06V10/12—Details of acquisition arrangements; Constructional details thereof
    • G06V10/14—Optical characteristics of the device performing the acquisition or on the illumination arrangements
    • G06V10/145—Illumination specially adapted for pattern recognition, e.g. using gratings

Landscapes

  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明涉及一种照射装置，用于检测台(2)，所述检测台(2)能够从图像上确定在透明或半透明容器(4)的领口表面(s)上是否存在缺陷。本发明的所述照射装置包括：至少一个照射系统(11，20)，其根据包括在2π球面度立体角的至少一部分内的整个或部分入射角，对包括所述领口表面(s)在内的一表面上的任意点提供准恒定照射；以及用于对至少一部分照射到除所述领口(3)的所述表面(s)之外部分的、且能够在所述领口的所述图像中产生杂散反射的光线进行阻挡的装置(12)。

Description

用于确定容器领口表面是否存在缺陷的照射方法和装置
技术领域
本发明涉及这样的技术领域，即对通常具有透明或者半透明特征的诸如瓶、罐或玻璃瓶之类的中空物体或者容器进行光电检测，以检测在这种容器的领口(collar)可能存在的表面缺陷。
更具体而言，本发明的目的旨在这样的领域，即检测这种容器，以检测在容器的领口上是否存在表面缺陷，所述表面缺陷对应于材料过多或者材料不足、称之为砂眼或者气泡的缺陷、破裂或者瑕疵领口的缺陷、或者所谓领口上纹线的缺陷。
背景技术
为了去除包含能影响容器的美学性能或者更严重地有可能具有对使用者现实危险的缺陷的容器，现有技术已经提出了用于控制容器领口质量的各种装置。例如，包括照射系统的检测台(detection station)是公知的，该照射系统能够提供集中于领口上表面上的入射光束。相机定位成接收被反射的光束，所述被反射的光束被传递到适合的处理单元以形成领口表面的图像。所述处理单元分析所述图像以检测可能存在的缺陷，所述缺陷通过折射来干扰光的反射，从而导致光的局部缺失以使缺陷看起来为暗的；或者通过使光集中来干扰光的反射以使缺陷看起来为亮的。应当注意的是，美国专利申请2004/01508150提出了一种检测设备，其结合了使缺陷看起来为暗的照射和使缺陷看起来为亮的照射。
为了获得对容器领口表面的良好观测，已知的是，应当控制光通量相对于领口表面的入射角。然而，已有人指出，这种技术将位于领口内部的砂眼检测为缺陷，然而包括有位于深处的这种砂眼的容器却被认为是合格的。而且，已经有人指出，特别是因为在容器表面上的不同光线反射导致在图像中存在寄生振荡(parasite)，所以难于在处理图像时可靠地检测缺陷。
发明内容
因此，本发明的目的旨在通过提供这样一种用于检测容器领口表面的技术来弥补现有技术的缺陷，所述技术适合于高稳定性地检测多种可能存在的缺陷，同时避免将例如光的杂散反射和深处的砂眼当作缺陷。
为了实现上述目的，本发明的目的旨在提供一种光学检测方法，以确定在透明或半透明的容器的领口表面上是否存在缺陷，所述方法包括下列步骤：
利用照射系统至少对所述容器的所述领口表面进行照射；
形成所述领口表面的图像；以及
分析所述图像以确定在所述领口表面上是否存在缺陷；根据本发明：
所述照射是通过至少一个照射系统来进行的，所述照射系统根据包括在2π球面度立体角的至少一部分内的整个或部分入射角，对包括所述领口表面在内的一表面上的任意点提供准恒定照射；
对至少一部分照射到除所述领口表面之外部分的、且能够在所述领口的所述图像中产生杂散反射的光线进行阻挡。
更具体的，根据本发明的光学检测方法，对照射到除所述领口表面之外部分的光线进行阻挡的设置可以是对照射到所述表面的外侧部分的光线和/或照射到所述领口的所述表面的内侧部分的光线进行阻挡。
本发明的另一目的是提供一种照射装置，用于检测台，所述检测台能够从图像上确定在透明或半透明容器的领口表面上是否存在缺陷。根据本发明，所述照射装置包括：
至少一个照射系统，其根据包括在2π球面度立体角的至少一部分内的整个或部分入射角，对包括所述领口表面在内的一表面上的任意点提供准恒定照射；以及
用于对至少一部分照射到除所述领口表面之外部分的、且能够在所述领口的所述图像中产生杂散反射的光线进行阻挡的装置。
根据本发明的一替代实施例，用于对照射到除所述领口的所述表面之外部分的光线进行阻挡的所述装置由对所述领口表面的外侧部分的光线进行阻挡的掩模和/或对所述领口表面的内侧部分的光线进行阻挡的掩模构成。
根据本发明的另一替代实施例，用于对照射到除所述领口表面之外部分的光线进行阻挡的所述装置由具有多个受控同心环的液晶屏构成，通过一控制单元可使所述多个同心环各自处于透明状态或者不透明状态。
根据所述另一替代实施例，用于控制该液晶屏的所述控制单元控制成储存和/或交互地改变所述多个同心环的电控制配置。
根据本发明的优选实施例特征，所述照射装置包括用作所述掩模的支撑物的抗反射透明板。
根据本发明的优选特征，所述照射系统由半球形的漫射均匀光源制成。
根据本发明的第一替代实施例，所述照射装置包括一体化的半球，由位于所述一体化的半球的基部处的环形光源从内侧照射所述一体化的半球。
根据本发明的第二替代实施例，所述照射系统由半透明漫射半球制成，由朝着所述半透明漫射半球的中央定向的系列光源从外侧照射所述半透明漫射半球。
根据本发明的第三替代实施例，所述照射系统包括筒形的均匀漫射光源和/或宽环形的均匀漫射光源和/或锥形的均匀漫射光源。
应当考虑到，所述照射系统包括用于一相机的观测区域，所述相机以所述照射系统的对称轴线为中心。
此外，优选地是，所述照射装置包括位于相机的观测区域中的所述照射系统的补充照射装置；以及插置在所述相机的所述观测区域和所述补充照明装置之间的光学元件，以一方面使所述补充照射装置提供的照射向着所述领口表面反射或者传递，另一方面使所述领口表面反射的光线向着所述相机传递和反射。
优选地，所述照射装置包括用于控制所述照射系统和所述补充照射装置的机构，通过该机构可以选择照射系统的组合操作或者单独操作。
本发明的另一方面是提供一种光学检测台，用于确定在透明或者半透明的容器的领口表面上是否存在缺陷。根据本发明，所述光学检测台包括：
根据本发明的照射装置；
相机，设置成用于回收由该容器的所述领口表面反射的光束；以及
分析处理单元，连接于相机，且适于对由所述相机传递的视频信号所获得的图像进行分析以确定是否存在表面缺陷。
附图说明
根据下面的说明并参考附图各种其它的特征将会清楚明了，所述附图示出了作为非限制性示例的实现本发明目的实施例。
图1是示出了作为部分检测台的根据本发明的照射装置第一替代实施例的正视图。
图2和图3示出了根据本发明的照射装置的第二实施例和第三实施例。
图4为根据本发明获得的图像的示例。
具体实施方式
图1示出了根据本发明的用于检测台2的照射装置1，该检测台2用于检测在透明或半透明容器4的领口3的表面s上可能存在的表面缺陷，容器4具有对称轴线或者旋转轴线X。
一般来说，检测台2包括点阵式相机(matrix camera)6，点阵式相机6设置成回收(cover)由容器4的领口3的表面s反射的光束。装配有物镜的所述相机6连接于分析处理单元7，所述分析处理单元7适于用所述相机传递的视频信号形成图像。所述分析处理单元7包括算法处理装置，通过该算法处理装置可以在所述图像中确定是否存在着诸如毛边、气泡、纹线(tread)、砂眼、突起等之类的表面缺陷。因为分析处理单元7并不是本发明目的的一部分，而是本领域技术人员的公知常识的一部分，所以将不对所述分析处理单元7进行更具体的说明。
通过包括根据本发明的照射装置1的检测台2，可以应用光学方法来检测在领口3的所述表面上可能存在的缺陷。
根据本发明，照射装置1包括照射系统11，照射系统11根据包括在至多2π球面度立体角(steradian solid angle)内的整个或部分入射角，对包括所述容器的领口3的表面s在内的一表面上的任意点提供准恒定照射。应当明白的是，照射系统11适于使表面S上的任意点接收沿着2π球面度立体角的至少一部分内的若干方向或甚至全部方向的均匀照射。所述表面S包括领口3的表面s，以对领口3的表面s上的任意点提供这种具有多个入射角的准恒定照射。
根据本发明的另外特征，照射装置1包括用于对至少一部分照射到除领口3的表面s之外部分的、且能够在所述领口的所述图像中产生杂散反射(stray reflection)的光线进行阻挡的装置12。换句话说，通过将在下文更具体描述的阻挡装置12，可以避免相机6接收例如由所述容器的纹线、领口、壁或者底面所反射的杂散光束(stay light beam)。
通过图1和图2可以清楚看出，所述照射系统11优选地由半球形的漫射均匀光源来制造。
在图1示出的示例中，照射系统11包括一体化的半球13，由位于所述半球的基部处的环状光源14从内侧照射一体化的半球13。诸如发光二极管、光纤、白炽灯、卤素灯或者任意其它光源之类的光源14设置成使它们发出的光朝向半球13的顶部，从而使得半球13的整个内壁均被照射。半球13的内壁适于例如由白色涂层覆盖，使得在各方向上以相同能量和以漫射方式反射光。由半球13的内壁反射的光照射到表面S上，从而表面S看起来为碟状(disk)。表面S上的每一个点均被认为是由漫射的、同质的且全向的光源所照射。表面S设置成包括待检测容器的领口3的表面s。从而，如同从图1中清楚看到的那样，表面s设置成在照射表面S所在的平面内延伸。应当注意的是，容器4设置成使其对称轴线X与半球13的对称轴线或者旋转轴线X′共轴线。
根据本发明的另一特征，照射系统11包括用于相机6的观测区域Z，所述相机6以半球13的对称轴线X′为中心。观测区域Z横跨设置于半球13且以轴线X′为中心的孔15上。通过观测区域Z，相机6可以由此回收由领口3的表面s反射的光束。应当注意的是，考虑到半球13上存在孔15，表面s上的各点并没有接收自孔15限定的立体角进行照射的光。换句话说，表面s上的各点接收沿由所述半球限定的2π球面度立体角的方向的均匀照射，但是孔15所限定的立体角除外。
此外，根据优选实施例的特征，照射装置1包括位于观测区域Z中的补充照射装置20。通过这种补充照射装置20，由此可以对缺少孔15所限定的立体角中的入射角进行弥补。照射装置11和20的结合应用使得表面S上的各点能接收沿着由半球13所限定的基本等于27π球面度的立体角的所有方向的均匀照射。
当然，补充照射装置20包括光学元件21，光学元件21用于将由领口3的所述表面反射的光束与由补充照射装置20产生的光束分开。例如，该光学元件21可以由半反射镜或者分束镜形成。在图1所示的示例中，光学元件21一方面使由所述领口的所述表面反射的光线沿与半球13的轴线X′同轴线设置的相机6的方向进行传递，另一方面使补充照射装置20提供的光向着半球13的内部进行反射。例如，补充照射装置20由漫反射的平面状同质的光源构成，所述光源例如通过将系列发光二极管24置于一平面内而制成，且在所述平面前方设有扩散传递屏25。
当然，可以将补充照射装置20和相机6之间的相对位置颠倒进行设置。从而，根据图2更具体明显的是，补充照射装置20设置成与半球13的对称轴线X′同轴线，由此相机6的观测区域Z设置成与对称轴线X′垂直。根据此示范实施例，光学元件21一方面使光向着半球13的内部传递，另一方面使由领口3的表面s反射的光线向着相机6反射。
在图1和图2所示的实施例中，对照射到除所述领口3的表面s之外部分的光线进行阻挡的阻挡装置12由对位于领口3的表面s的外侧部分的光线进行阻挡的掩模(mask)121和/或对处于所述领口的表面s的内侧部分的光线进行阻挡的掩模122构成。基于这个目的，应当考虑到所述领口的表面s具有图4所示的环形。此外掩模122为碟状且直径小于领口3的内径，以阻挡在所述领口的中央处通过的光线，即进入所述容器内部的光线。掩模121看起来为环形，掩模121的内径大于领口3的外径。优选的是，掩模121的外径基本等于所述半球的直径，以阻挡所有照射到除所述领口的所述表面之外部分的光线。
根据一替代实施例，掩模121和掩模122由抗反射透明板30支撑，抗反射透明板30大体安装在半球13的基部。当然具有不透明特性的掩模121和掩模122可以形成可互换元件，这些互换元件具有与所述容器的所述领口的直径相匹配的不同直径。而且，可以通过可变光阑(iris diaphragm)来制成掩模121。
根据本发明的另一替代实施例，阻挡装置12由液晶屏形成，液晶屏的液晶偏光电极(liquid crystal polarization)被分割成多个同心的环，所述多个同心的环可分别通电以使所述液晶屏的各环可以彼此独立地处于在不透明状态和透明状态之间转变的状态下。由此，所述环电控制成仅有使照射流经到所述领口上的环处于透明状态。内侧的环随后被通电以使所述内侧的环处于不透明状态，从而使得所述液晶屏将所述领口内侧的光线阻挡(与掩模122的功能相同)。同时，外侧的环对所述领口的外侧的入射光进行阻挡(与掩模121的功能相同)。因此，所述液晶屏实现了对能够在所述领口的图像中产生杂散反射的光线进行阻挡的功能。
所述照射装置还包括软件驱动电控制单元，通过该软件驱动电控制单元可以在没有任何可变器件的情况下电选择地控制外侧的环和内侧的环的尺寸。因此，利用所述照射装置可以储存所述掩模的调整和/或通过在一图像观测单元上直接监视所产生的效果来交互式地改变所述掩模。这种替代方式的有益效果在于避开对设备的可变器件的求助。
有利地，所述液晶屏组装成不会使光在所述液晶屏的外表面上产生任何直接的反射。
从上述说明可以直接推导出根据本发明的照射装置1在检测台2中的应用。
为了确定在容器4的表面s上是否存在缺陷，本发明的方法包括：通过至少一个照射系统11和/或照射系统20，根据包括在至多等于2π球面度的立体角内的整个或部分入射角，对包括领口的表面s在内的表面S上的任意点提供准恒定照射。所述方法还旨在对至少一部分照射到除领口3的表面s之外部分的、且能够在所述领口的图像中产生杂散反射的光线进行阻挡。在这方面，可以选择成对照射到除所述领口的所述表面s之外部分的光线进行阻挡，所述光线为照射到所述领口的表面s的外侧部分的光线、或者为照射到所述领口的表面s的内侧部分的光线、或者为照射到所述领口的表面s的外侧部分及内侧部分的光线。
由领口表面s反射的光线被相机6回收，相机6形成图像I，之后图像I被处理以确定表面缺陷。根据图4明显看出，分析处理单元7包括用于确定看起来是暗的或者是亮的表面缺陷D，所述表面缺陷D诸如是材料过多或者缺少、裂纹、气泡、表面砂眼、纹线等。
在图1所示的实施例中，照射系统11由半球形的漫射均匀光源构成，该光源由半球13构成，在半球13的基部设置有系列光源14。
图2示出了根据本发明的照射系统11的另一示范性实施例，照射系统11由半透明的漫射半球30构成，由朝着所述半球的中央定向的光源31从外侧照射半球30。
图3示出了根据本发明的照射系统11的另一替代实施例，包括：
筒形的均匀漫射光源40，其由半透明漫射筒41形成，系列光源42从外部照射所述半透明漫射筒41；和/或
宽环形的均匀漫射光源45，其以容器4的轴线X为中心且由半透明漫射板46形成，系列光源47从外部照射所述半透明漫射板46；和/或
锥形的均匀漫射光源48，其包括半透明漫射锥形板49，系列光源50从外部照射所述半透明漫射锥形板49。
应当考虑的是，通过均匀漫射光源40、45、48之一或者全部来获得根据本发明的照射系统11。这些均匀漫射光源40、45、48根据所需要的检测来单独或者结合控制。
因为在不脱离本发明构思的情况下可以对所述的和示出的实施例进行各种修改，所以本发明并不局限于所述和所示出的实施例。

Claims (15)

1.一种光学检测方法，用于确定在透明或半透明的容器(4)的领口(3)的表面(s)上是否存在缺陷，所述方法包括下列步骤：
利用照射系统至少对所述容器(4)的所述领口表面(s)进行照射；
形成所述领口表面的图像；以及
分析所述图像以确定在所述领口表面上是否存在缺陷；
其特征在于：
所述照射是通过至少一个照射系统(11，20)来进行的，所述照射系统(11，20)根据包括在2π球面度立体角的至少一部分内的整个或部分入射角，对包括所述领口(3)的所述表面(s)在内的一表面上的任意点提供准恒定照射；
对至少一部分照射到除所述领口(3)的所述表面(s)之外部分的、且能够在所述领口的所述图像中产生杂散反射的光线进行阻挡。
2.根据权利要求1所述的光学检测方法，其特征在于，所阻挡的照射到除所述领口(3)的所述表面(s)之外部分的光线包括照射到所述领口的所述表面(s)的外侧部分的光线和/或照射到所述领口的所述表面(s)的内侧部分的光线。
3.一种照射装置，用于检测台(2)，所述检测台(2)能够从图像上确定在透明或半透明容器(4)的领口表面(s)上是否存在缺陷，其特征在于，所述照射装置包括：
至少一个照射系统(11，20)，其根据包括在2π球面度立体角的至少一部分内的整个或部分入射角，对包括所述领口表面(s)在内的一表面上的任意点提供准恒定照射；以及
用于对至少一部分照射到除所述领口(3)的所述表面(s)之外部分的、且能够在所述领口的所述图像中产生杂散反射的光线进行阻挡的装置(12)。
4.根据权利要求3所述的照射装置，其特征在于，用于对照射到除所述领口的所述表面之外部分的光线进行阻挡的所述装置(12)由对所述领口表面(s)的外侧部分的光线进行阻挡的掩模(121)和/或对所述领口表面的内侧部分的光线进行阻挡的掩模(122)构成。
5.根据权利要求3所述的照射装置，其特征在于，用于对照射到除所述领口的所述表面之外部分的光线进行阻挡的所述装置(12)由具有多个受控同心环的液晶屏构成，通过一控制单元可使所述多个同心环各自处于透明状态或者不透明状态。
6.根据权利要求5所述的照射装置，其特征在于，用于控制该液晶屏的所述控制单元控制成储存和/或交互地改变所述多个同心环的电控制配置。
7.根据权利要求4所述的照射装置，其特征在于，所述照射装置包括用作所述掩模(121，122)的支撑物的抗反射透明板(30)。
8.根据权利要求3所述的照射装置，其特征在于，所述照射系统(11)由半球形的漫射均匀光源制成。
9.根据权利要求8所述的照射装置，其特征在于，所述照射系统(11)包括一体化的半球(13)，位于所述一体化的半球的基部处的环形光源(14)从内侧照射所述一体化的半球(13)。
10.根据权利要求8所述的照射装置，其特征在于，所述照射系统(11)由半透明漫射半球(30)制成，朝着所述半透明漫射半球的中央定向的系列光源(31)从外侧照射所述半透明漫射半球(30)。
11.根据权利要求3所述的照射装置，其特征在于，所述照射系统(11)至少包括筒形的均匀漫射光源(40)和/或宽环形的均匀漫射光源(45)和/或锥形的均匀漫射光源(48)。
12.根据权利要求3和8至11中任一项所述的照射装置，其特征在于，所述照射系统(11)包括用于一相机(6)的观测区域(Z)，所述相机(6)以所述照射系统的对称轴线为中心。
13.根据权利要求12所述的照射装置，其特征在于，所述照射装置包括位于相机的观测区域(Z)中的所述照射系统(11)的补充照射装置(20)；以及插置在所述相机的所述观测区域(Z)和所述补充照明装置(20)之间的光学元件(21)，以一方面使所述补充照射装置(20)提供的照射向着所述领口表面(s)反射或者传递，另一方面使所述领口表面(s)反射的光线向着所述相机(6)传递和反射。
14.根据权利要求13所述的照射装置，其特征在于，所述照射装置包括用于控制所述照射系统(11)和所述补充照射装置(20)的机构，通过该机构可以选择所述照射系统(11，20，40，45，48)的组合操作或者单独操作。
15.一种光学检测台，用于确定在透明或者半透明的容器(4)的领口表面上是否存在缺陷，其特征在于，所述光学检测台包括：
根据权利要求3至14中任一项所述的照射装置(1)；
相机(6)，设置成用于回收由该容器的所述领口表面(s)反射的光束；以及
分析处理单元(7)，其连接于相机(6)，且适于对由所述相机传递的视频信号所获得的图像进行分析以确定是否存在表面缺陷。
CN2005800383224A 2004-11-09 2005-11-09 用于确定容器领口表面是否存在缺陷的照射方法和装置 Expired - Fee Related CN101084431B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0411907A FR2877724B1 (fr) 2004-11-09 2004-11-09 Procede et dispositif d'eclairage pour determiner la presence de defauts sur la surface de la bague d'un recipient
FR0411907 2004-11-09
PCT/FR2005/002792 WO2006051217A1 (fr) 2004-11-09 2005-11-09 Procede et dispositif d'eclairage pour determiner la presence de defauts sur la surface de la bague d'un recipient

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101084431A true CN101084431A (zh) 2007-12-05
CN101084431B CN101084431B (zh) 2010-11-10

Family

ID=34950952

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2005800383224A Expired - Fee Related CN101084431B (zh) 2004-11-09 2005-11-09 用于确定容器领口表面是否存在缺陷的照射方法和装置

Country Status (10)

Country Link
US (1) US8164746B2 (zh)
EP (1) EP1817574B8 (zh)
KR (1) KR20070119607A (zh)
CN (1) CN101084431B (zh)
BR (1) BRPI0517571A (zh)
FR (1) FR2877724B1 (zh)
MX (1) MX2007005602A (zh)
RU (1) RU2397477C2 (zh)
WO (1) WO2006051217A1 (zh)
ZA (1) ZA200703752B (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102322593A (zh) * 2011-08-30 2012-01-18 成都四星液压制造有限公司 一种自适应光源装置及其控制方法
CN103791833A (zh) * 2012-09-13 2014-05-14 阿尔斯通技术有限公司 用于确定管道的质量的方法和系统
CN106353340A (zh) * 2016-10-18 2017-01-25 厦门威芯泰科技有限公司 一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法
CN106896112A (zh) * 2015-12-21 2017-06-27 深圳市青铜科技有限公司 鱼眼类端子在视觉检测中借助于遮光板的光学成像方法
CN107091811A (zh) * 2017-04-21 2017-08-25 无限极（中国）有限公司 一种灯检方法
CN110431406A (zh) * 2017-02-28 2019-11-08 东洋玻璃株式会社 容器的检查装置和容器的检查方法

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7852521B2 (en) * 2006-06-06 2010-12-14 Canon Kabushiki Kaisha Recording medium determination apparatus and image forming apparatus
GB2482473A (en) * 2010-06-29 2012-02-08 Constar Internat Uk Ltd Inspection of articles
KR101015988B1 (ko) * 2010-08-19 2011-02-23 주식회사 디에이테크놀로지 폴리머 전극 비전 검사장치
KR101751394B1 (ko) 2011-06-02 2017-07-11 해성디에스 주식회사 인쇄회로기판 검사 장치 및 방법
EP2708844B1 (en) * 2012-09-13 2021-04-14 General Electric Technology GmbH Method and system for determining quality of tubes
US8941825B2 (en) 2013-03-15 2015-01-27 Owens-Brockway Glass Container Inc. Container inspection
DE102013105726B3 (de) * 2013-06-04 2014-12-04 Petra Sonja Biedermann Verfahren und Vorrichtungen zur Detektion und Lokalisierung von Infraschall
DE202013104938U1 (de) 2013-11-05 2015-02-06 Krones Ag Vorrichtung zur optischen Inspektion eines Mündungsbereichs eines Behälters
FR3027391B1 (fr) * 2014-10-17 2024-05-24 Msc & Sgcc Procedes, dispositif et ligne d'inspection pour visualiser la planeite d'une surface de bague de recipient
JP6772406B2 (ja) * 2015-12-28 2020-10-21 キリンテクノシステム株式会社 口部天面の検査装置及び検査方法
FR3076619B1 (fr) * 2018-01-05 2020-01-24 Tiama Procede, dispositif et ligne d'inspection pour determiner la geometrie tridimensionnelle d'une surface de bague de recipient

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60159637A (ja) * 1984-01-31 1985-08-21 Kirin Brewery Co Ltd 欠陥検出方法および装置
CH679698A5 (zh) * 1989-10-06 1992-03-31 Elpatronic Ag
EP0657732A1 (de) * 1993-12-06 1995-06-14 Elpatronic Ag Verfahren und Vorrichtung zur optischen Prüfung eines durchsichtigen Behälterbereichs, insbesondere des Mündungsbereichs
US6122048A (en) * 1994-08-26 2000-09-19 Pressco Technology Inc. Integral field lens illumination for video inspection
JPH09119902A (ja) * 1995-09-13 1997-05-06 Nippon Glass Kk 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置
FR2846422B1 (fr) * 2002-10-25 2004-12-17 Sgcc Dispositif d'eclairage d'un article pour la detection automatique de defauts et installation de detection automatique de defauts comportant un tel dispositif
US20040150815A1 (en) * 2003-02-05 2004-08-05 Applied Vision Company, Llc Flaw detection in objects and surfaces

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102322593A (zh) * 2011-08-30 2012-01-18 成都四星液压制造有限公司 一种自适应光源装置及其控制方法
CN103791833A (zh) * 2012-09-13 2014-05-14 阿尔斯通技术有限公司 用于确定管道的质量的方法和系统
CN106896112A (zh) * 2015-12-21 2017-06-27 深圳市青铜科技有限公司 鱼眼类端子在视觉检测中借助于遮光板的光学成像方法
CN106353340A (zh) * 2016-10-18 2017-01-25 厦门威芯泰科技有限公司 一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法
CN106353340B (zh) * 2016-10-18 2019-07-16 厦门威芯泰科技有限公司 一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法
CN110431406A (zh) * 2017-02-28 2019-11-08 东洋玻璃株式会社 容器的检查装置和容器的检查方法
CN107091811A (zh) * 2017-04-21 2017-08-25 无限极（中国）有限公司 一种灯检方法
CN107091811B (zh) * 2017-04-21 2019-10-22 无限极（中国）有限公司 一种灯检方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070119607A (ko) 2007-12-20
FR2877724A1 (fr) 2006-05-12
US20100039640A1 (en) 2010-02-18
ZA200703752B (en) 2008-09-25
MX2007005602A (es) 2007-07-13
US8164746B2 (en) 2012-04-24
EP1817574B1 (fr) 2015-09-23
RU2007117364A (ru) 2008-12-20
WO2006051217A1 (fr) 2006-05-18
EP1817574A1 (fr) 2007-08-15
RU2397477C2 (ru) 2010-08-20
FR2877724B1 (fr) 2007-03-16
CN101084431B (zh) 2010-11-10
BRPI0517571A (pt) 2008-10-14
EP1817574B8 (fr) 2015-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101084431B (zh) 用于确定容器领口表面是否存在缺陷的照射方法和装置
CN1708683B (zh) 检测容器颈环的表面缺陷或材料短缺的照射方法和装置
CN1114100C (zh) 采用红外和极化可见光对透明容器进行光学检查的方法和装置
US9746424B2 (en) Method and device for observing and analysing optical singularities in glass containers
CN1324296C (zh) 用于眼镜片检查的系统和方法
CN101315468B (zh) 杯状物附着设备
KR100746114B1 (ko) 평면형 반사성 대상물 상의 결함부를 이미징하는 이미징 시스템
JP5016677B2 (ja) 光電子水準器を備えた傾斜センサ
JPH02275346A (ja) 容器仕上部の検査
KR101732460B1 (ko) 콘택트 렌즈 검사장치
US5896194A (en) Lens meter
US6788399B2 (en) Ophthalmic article inspection system
CN101133319A (zh) 通过将发光小片元件直接聚焦到容器上的容器检查
JP2005091049A (ja) 画像処理用光照射装置及び画像処理用光照射方法
JPH05503154A (ja) 暗視野照明の検査装置
EP0087484B1 (en) Method of detecting foreign matters mixed in a liquid contained in transparent receptacles and apparatus relevant thereto
JP2005127970A (ja) 広拡散光源光測定装置の光学系および広拡散光源光測定装置ならびにその光測定方法
JPH1068601A (ja) 眼鏡レンズの隠しマーク検出装置
TWI812178B (zh) 一種光學設備
CN114184138B (zh) 一种检测装置和检测方法
JP3631503B2 (ja) ガラス壜の内部欠陥検査装置およびその検査方法
CN217059274U (zh) 光学检测仪
JP2007017450A (ja) 画像処理用光照射装置及び画像処理用光照射方法
CA2413343A1 (en) Method and apparatus for testing optical components
KR20030088820A (ko) 다중 접합 웨이퍼의 공간 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20101110