CN100428437C

CN100428437C - 供料装置

Info

Publication number: CN100428437C
Application number: CNB2005101185330A
Authority: CN
Inventors: 林源记; 谢志宏
Original assignee: King Yuan Electronics Co Ltd
Current assignee: King Yuan Electronics Co Ltd
Priority date: 2005-10-27
Filing date: 2005-10-27
Publication date: 2008-10-22
Anticipated expiration: 2025-10-27
Also published as: CN1956160A

Abstract

本发明涉及一种具多组供料机构的供料装置，此供料装置包含有一动力源、一底座、一转动轴、数个供料机构、数个连接装置，以及数个定位装置，通过此一单一动力源推动转动轴旋转而带动各组供料机构翻转以进行供料。此外，各个供料机构通过连接装置与定位装置的控制，可以同时翻转或是分别翻转进行供料。因此，本发明的供料装置不但可以增加产能而且可减少所需的动力源而节省成本。

Description

供料装置

技术领域

本发明涉及一种供料装置，特别是一种用于集成电路元件测试机台的供料装置，其配合容置管(tube)来进行进料。

背景技术

在集成电路元件的制造过程中，通常于完成封装后，为了严格地管控产品的品质，需对集成电路元件再进行测试以剔除品质不良的产品，特别是针对在封装制程中受损的产品。一般是使用容置管(tube)做为保护与载具，将已封装的集成电路元件装入其中再运送至测试厂或测试机台进行测试。在进行测试时，将容置管(tube)放入测试机台的供料装置进行供料，而使集成电路元件可以由容置管中进入测试机台。

图1显示传统集成电路元件测试装置的侧视图。在集成电路测试装置100的一侧设有一供料机构104，可供插入容置管102来供给待测的半导体元件(图中未示)，于下列叙述中简称其为待测元件；以及一具有坡度的暂停区106位于供料机构104之后，用以暂存待测元件以便后续进行分料。分料机构108位于暂停区106上面，用以对暂停区106上的待测元件进行分料。测试区110用来测试待测元件，而测试完的元件则由收集装置112进行收集。

参照图2A，其显示了供料机构104的放大图。当容置管102被插入供料机构104时，位于供料机构104旁的旋转机构104a经由其内部动力源的推动而进行旋转，并且带动容置管102也跟着旋转至定位而竖起。通过重力作用，容置管102内的待测元件103向下滑落而进入暂停区106，于进行分料后即可进行测试。然而，随着集成电路元件体积的缩小，以及对于增加产能的要求，现今的测试机台已经不仅仅是一次只能测试一个集成电路元件，而是一次可同时测试数个集成电路元件。由于测试机台可能一次同时测试4个、8个、16个甚至于32个或64个或更多个集成电路元件，因此仅用一供料装置来进行供料显得不足并且耗时。

有鉴于此，测试机台通常会结合有数个供料机构，如图2B所示，串联两个供料机构104，其具有两个进料口104b可供插入容置管，以及在两边各具有一旋转机构104a，用以分别控制插入进料口104b的容置管，使其旋转至定位而竖起，从而使得待测元件103进入测试机台进行测试。

上述将数个供料机构串联起来进行供料，然而每一供料机构皆需要一旋转机构，其不但占空间而且使得多个供料机构之间无法紧密地串联在一起，因此串联的数目愈多所占据的空间就愈大。再者，需要多组动力源来分别推动各个供料机构的旋转机构以进行供料，导致成本的增加。然而，由于测试厂中的机台摆设通常是一个接一个的并排，因而无法提供此一庞大的空间需求，导致仅仅只能串联两个供料机构，无法有效而快速地对测试装置进行供料，导致产能无法进一步地获得提升。鉴于此，亟需要提出一种可以不占空间，并且可以快速且可同时供给多个测试元件的供料装置。

发明内容

有鉴于上述背景，本发明的目的为提供一种供料装置，其具有多组供料机构，可供插入数个容置管以同时提供数个待测元件给测试装置进行测试，故可以加快供料速度进而增加产能。

本发明的另一目的为提供一种体积小且不占空间的供料装置。此供料装置取代具有数个大体积且占空间的旋转机构的传统供料装置，故可以缩减体积与节省空间。

本发明的再一目的为提供一种具单一动力源的供料装置。此供料装置仅需一动力源即可对多组供料机构进行旋转、竖起以进行供料，取代传统供料装置的多动力源，故可以降低供料装置所需的成本。

为达上述目的，本发明提供一种供料装置，其包含：一动力源；一底座；一转动轴，设置于该底座上且与该动力源连接，通过驱动该动力源使该转动轴转动；数个供料机构，用以进行进料，每一该供料机构的一端具有一进料口，而另一端具有一开口，并且该转动轴贯穿每一该开口而串联该数个供料机构；数个连接装置，分别设置于该数个供料机构上靠近该转动轴的一端，用以连接该数个供料机构与该转动轴而带动该供料机构随着该转动轴转动；以及数个定位装置，设置于该底座上，用以分别定位每一该供料机构于起始位置而不跟随该转动轴旋转。

根据上述目的，由于本发明提供了一种具多组供料机构的供料装置，其包含一动力源、一底座、一转动轴、数个供料机构、数个连接装置，以及数个定位装置。此一转动轴设置于底座上并且与动力源连接，此外，转动轴贯穿了与每一供料机构的一端而串联了数个供料机构。每一供料机构的另一端有一进料口相对，并且每一供料机构在靠近转动轴的一端皆设置有一连接装置。当进行供料时，欲进行翻转的供料机构上的连接装置连接供料机构与转动轴，并且定位装置放开供料机构而与供料机构分离。通过驱动动力源来带动转动轴旋转进而带动供料机构旋转至定位而将容置管竖起，使得容置管内的待测元件可以通过重力下滑滑进测试机台内进行测试。

附图说明

图1为传统集成电路元件测试装置的侧视图；

图2A至图2B分别为传统供料装置的侧视图与正面示意图；

图3A至图3C分别显示本发明供料装置的立体示意图、供料装置的连接装置、与定位装置的立体示意图。

图中符号说明

10 供料装置

12 底座

14 支撑架

16 转动轴

16a 连接插销孔

18 动力源

20a、20b 供料机构

22 进料口

24 开口

26 固定结构

28 连接装置

28a 连结插销

30 定位装置

30a 定位插销

100 集成电路测试装置

102 容置管

103 待测元件

104 供料机构

104a 旋转机构

104b 进料口

106 暂停区

108 分料机构

110 测试区

112 收集装置

具体实施方式

本发明的一些实施例会详细描述如下。然而，除了该详细描述外，本发明还可以广泛地在其它的实施例施行。亦即，本发明的范围不受已提出的实施例的限制，而应以本发明提出的权利要求书为准。其次，当本发明的实施例图标中的各元件或结构以单一元件或结构描述说明时，不应以此作为有限定的认知，即如下的说明未特别强调数目上的限制时本发明的精神与应用范围可推及多数个元件或结构并存的结构与方法上。再者，在本说明书中，各元件的不同部分并没有依照尺寸绘图。某些尺度与其它相关尺度相比已经被夸张或是简化，以提供更清楚的描述和本发明的理解。而本发明所沿用的现有技术，在此仅做重点式的引用，以助本发明的阐述。

参照图3A，其为本发明的一较佳实施例的具多组供料机构的供料装置10的立体示意图。此一供料装置10包含一底座12，其上具有数个支撑架14用以支撑一转动轴16于其上，并且可供转动轴16于其上转动。动力源18与转动轴16连接，用以控制转动轴16的旋转。本实施例具有两个供料机构20a、20b，每一供料机构20a、20b的一端皆具有一进料口22，另一端则具有一开口24，此开口24被转动轴16贯穿而将此二供料机构20a、20b串联起来。此外，每一供料机构20a、20b于靠近开口24的一端皆设置有一连接装置28，用以控制供料机构20a、20b与转动轴16的连接与否；且每一供料机构20a、20b上皆具有一固定结构26。另外，在每一供料机构20a、20b旁皆设置有一定位装置30，用以与固定结构26相结合而固定供料机构20a、20b于起始位置，而不随转动轴16旋转。

图3B显示本发明实施例的连接装置28与转动轴16的局部放大图。每一连接装置28具有一连接插销28a，在转动轴16上则具有对应的连接插销孔16a，可供连接插销28a插入而将供料机构20a、20b与转动轴16互相结合。图3C显示本发明实施例的固定结构26与定位装置30的局部放大图。固定结构26为一固定插销孔，定位装置30则具有一相对应的定位插销30a，可用以插入固定结构26即固定插销孔而使供料机构20a、20b固定于起始位置，不会随转动轴16而旋转。在本实施例中，动力源18为一气压缸，并且连接装置28与定位装置30分别为一连接气压缸与一定位气压缸。

本发明实施例的供料装置10具有两组供料机构20a、20b，但并不以此为限，可以依测试需求而增加供料机构的数量。与传统供料装置比较，本发明不再需要大体积且占空间的旋转机构，由于每一供料机构20a、20b皆具有一个连接装置28与一与其对应的定位装置30，因此，可以分别独立来控制各个供料机构进行翻转及进行供料。

如图3A所示的例子中，供料机构20a与供料机构20b分别作为一不做翻转的供料机构与一欲做翻转的供料机构。首先，在供料机构20b的进料口22中插入容置管，驱动其连接装置28(亦即，连接气压缸)以推动连接插销28a插入转动轴16的连接插销孔16a，使供料机构20b与转动轴16得以连接。接着，驱动对应于供料机构20b的定位装置30(亦即，定位气压缸)，使其收回插入供料机构20b上固定结构26(亦即，固定插销孔)内的定位插销30a，使得定位装置30与供料机构20b分离。跟着，开启动力源18带动转动轴16旋转，通过连接装置28带动供料机构20b跟着旋转。当供料机构20b旋转至定位而将容置管竖起时，容置管内的待测元件可通过重力作用而下滑至测试机台内进行测试。待完成供料后，以动力源18让转动轴16带动供料机构20b回到起始位置，接着，定位装置30的定位插销30a重新插入供料机构20b上的固定结构26，而连接装置28则是收回插入连接插销孔16a的连接插销28a。

至于不做翻转的供料机构20a则是通过对应的定位装置30的定位插销30a插入供料机构20a上固定结构26(亦即，固定插销孔)，使得供料机构20a固定于起始位置而不进行翻转。此时，供料机构20a上的连接装置28不做任何动作，使得供料机构20a与转动轴16处于分离状态。

根据上述实施例，本发明的供料装置具有多组供料机构，依据测试需求可以同时或是分别进行供料。此外，因为其不需数个体积大且占空间的旋转机构，故可以增加较多组供料机构、增加测试的产能、缩小其体积、与节省所占空间。再者，本发明的供料装置仅需一动力源即可使多组供料机构同时或是分别进行供料，故可以节省成本。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用以限定本发明的保护范围。在不脱离本发明的实质内容的范畴内仍可予以变化而加以实施，此等变化应仍属本发明的范围。因此，本发明的范畴由权利要求书的范围所界定。

Claims

1.一种供料装置，其特征在于，包含：

一动力源；

一底座；

一转动轴，设置于该底座上且与该动力源连接，通过驱动该动力源使该转动轴转动；

数个供料机构，用以进行进料，每一该供料机构的一端具有一进料口，而另一端具有一开口，并且该转动轴贯穿每一该开口而串联该数个供料机构；

数个连接装置，分别设置于该数个供料机构上靠近该转动轴的一端，用以连接该数个供料机构与该转动轴而带动该供料机构随着该转动轴转动；以及

数个定位装置，设置于该底座上，用以分别定位每一该供料机构于起始位置而不跟随该转动轴旋转。

2.如权利要求1所述的供料装置，其中，更包含数个支撑架设置于该底座的一表面，用以容置该转动轴。

3.如权利要求1所述的供料装置，其中，该动力源为一气压缸。

4.如权利要求1所述的供料装置，其中，该连接装置为一连接气压缸。

5.如权利要求4所述的供料装置，其中，该连接气压缸具有一连接插销。

6.如权利要求5所述的供料装置，其中，每一该连接插销皆有一对应的连接插销孔设置于该转动轴上，用以供该连接插销插入，从而连接该供料机构与该转动轴。

7.如权利要求1所述的供料装置，其中，每一该供料机构更包含一固定结构，用以与该定位装置连接而固定该供料机构于起使位置。

8.如权利要求7所述的供料装置，其中，该固定结构为一定位插销孔。

9.如权利要求7所述的供料装置，其中，该定位装置为一定位气压缸。

10.如权利要求9所述的供料装置，其中，该定位气压缸具有一定位插销，用以插入该固定结构而固定该供料机构。