CN100407304C - 用于光记录介质的具有倾斜控制系统的重放和记录装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于光记录介质的重放或记录设备的方法和结构,所述重放或记录设备具有用于垂直对准有关光记录介质的扫描束的倾斜控制系统。除了扫描束的倾斜,为了从倾斜控制的不利影响中排除影响由光记录介质检测出的射频信号的其他因素,而不需要附加的倾斜传感器,提供这样一种倾斜控制系统,其使用由光记录介质检测出并表示所检测的射频信号的暗值的射频信号的下包络曲线信号。在进入倾斜控制系统之前,将所述下包络曲线信号乘以调制信号,所述调制信号被添加到来自倾斜控制系统的输出信号,用于将扫描束以直角对准述光记录介质。本发明用于具有倾斜控制的光记录介质的重放或记录设备。

Description

用于光记录介质的具有倾斜控制系统的重放和记录装置
技术领域
本发明涉及一种用于光记录介质的、具有倾斜控制系统的重放和记录设备的方法和结构,所述倾斜控制系统以直角在至少一个方向上将扫描束对准例如CD、DVD或Blue盘(Blue Disc)的光记录介质。
背景技术
诸如CD、DVD或Blue盘的光记录介质常常向外、向上或向下辐射状弯曲,并且通过将扫描束专门引导在光道上和记录介质的聚焦方向的传统扫描装置,不能在上述光记录介质上进行记录或重放。这种情况尤其适用于由大量层组成的记录介质,例如DVD。由于弯曲,从内部向外部弯曲的记录介质也称作伞状盘。诸如这种盘的表面会倾斜,对于一个平面也称作径向倾斜,因此必须斜置扫描装置或致动器,以便以直角将扫描束对准记录介质,因为仅当以直角将扫描束对准记录介质时才能确保信息的最佳记录或重放。记录介质弯曲,在德语中表示为Plattenschlag[盘压紧(disk impact)],并随着记录介质的每个旋转而进行重复,通常导致径向倾斜和切向倾斜。
在US-A-5034939中已经公开了一种通过斜置扫描装置以直角将扫描束对准记录介质的设备。在这种设备中,使用从记录介质读取的数据信号中的误差率以直角进行对准,和/或以便改变扫描束的倾斜。这种情况下的最小误差率对应于最佳斜置校正。而且,斜置伺服电路可从US-A-5001690中得知,通过这种斜置伺服电路来改变扫描束的倾斜角度,以便实现再现的信息信号或从记录介质检测到的HF信号的最大电平。
然而,HF信号的误差率和电平不但取决于斜置,而且还取决于大量的其他因素,例如划痕、所谓的黑点、凹坑深度、盘的反射程度和任何聚焦偏移。然而,尤其是,除了扫描束的倾斜,影响检测到的射频信号的划痕和其他因素导致倾斜角度的不必要的校正,这种不必要的校正具有作为来自以直角对准记录介质的偏差的结果的、对信息的扫描或记录的不利的影响。
而且,倾斜角度改变的方向是仅在对倾斜角度的先前改变之后和误差率或HF电平已经增加或减少之后而确定的,因此可能首先选择不正确的方向,并且不可能立即校正倾斜角度。另外,利用该设备的中央处理单元来确定作为误差率或HF信号电平中的增加或减小的函数的倾斜角度变化的方向。除了扫描束的倾斜,为了从倾斜控制处理器中排除影响检测的射频信号的那些因素,也使用附加的倾斜传感器用于倾斜控制,但是这就涉及到附加的复杂性。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于光记录介质的具有倾斜控制系统的重放或记录设备的方法和结构,其极大地克服了上述的缺点,且能够不复杂地实现,并且不需要任何附加倾斜传感器。
通过独立权利要求所指明的特征可以实现这个目的。在从属权利要求中指明了有利的改进。
本发明的一方面是以直角将用于光记录介质的重放或记录设备的扫描束对准记录介质,而不需要任何附加倾斜传感器,并且除了扫描束的倾斜以外,极大地不受影响检测到的射频信号的其他因素的影响。用于记录或重放信息的扫描束通过倾斜控制系统而从属于记录介质与平面之间的偏差,或者如果发生任何斜置或倾斜则以直角将产生扫描束的扫描装置对准记录介质。通过倾斜控制系统以直角将扫描装置对准记录介质的优势在于,除了改进记录或重放外,还可以以较小的精度来执行在记录或重放设备的产生期间对扫描装置的调整处理。而本发明的目的同样在于:通过以直角将扫描束对准记录介质来从记录介质检测尽可能高的射频信号,然而,除了扫描束的倾斜,应当从扫描束倾斜的控制中排除影响射频信号的幅度和/或电平的其他因素。另一个目的是避免附加的倾斜传感器和根据所谓的试错原理的控制处理。
因此,提供一种倾斜控制系统,该系统基于从光记录介质检测出的射频信号的下包络曲线信号或镜像信号,并且所述射频信号的下包络曲线信号或镜像信号对应于从光记录介质反射的光的暗值(dark value)。下包络曲线信号或镜像信号乘以一个调制信号并被积分,以便形成对应于有关光记录介质的扫描束的倾斜的控制误差。调制信号同样被添加到用于控制用于调整指向光记录介质的扫描束的倾斜的器件的信号,根据一个示例性实施例,所述调制信号是一种方波信号,具有在零信号相位或停止之后变化的极性。在一个实施例中,选择调制信号的幅度,从而导致扫描束的倾斜变化近似1/30度或2弧分。根据示例性实施例,频率为4Hz的、具有规定的幅度和50%的零分量的对称方波信号被用作调制信号。然而,原则上,其他信号形式,例如正弦波、三角波或锯齿波信号也可被用作调制信号。对于频率,具有对应于记录介质的至少一个转数的持续周期的调制信号是有利的,尽管也可以考虑倾斜控制系统速度的需要而使用其他频率。
由于使用从记录介质检测到的射频信号的下包络曲线信号或暗值进行倾斜控制,这就防止了同样影响从记录介质检测到的射频信号的幅度和/或电平的其他因素对倾斜控制系统的不利影响。选择用于倾斜控制的调制信号,从而其在从记录介质检测到的射频信号中实际上是检测不到的。由于在记录介质扫描期间倾斜角度变化相对较慢,因此对于倾斜控制,一个较低的调制信号频率就足够了。下包络曲线信号乘以调制信号,并随后被积分,以便直接确定控制误差,该控制误差表示以直角将扫描束对准记录介质的误差,从而引起动态并立即有效的倾斜控制。
为了实现记录或重放设备中的方法,在那样的设备中可以有利地使用已经存在的部件。例如,在那些设备中已经提供了所谓的镜像信号检测器,用于检测光道改变,这就产生了称作镜像信号的下包络曲线信号。在这一情形中,通常仅用于当扫描束离开记录光道时的开路式光道控制环路的镜像信号用于闭路式光道控制环路中的倾斜控制。为了产生倾斜角度控制环路,提供乘法器、调制器和倾斜控制器,从而例如数字电路结构形式的电路结构可以涉及很少的复杂性。将由包络曲线检测器或摆动信号检测器产生的下包络曲线信号提供给乘法器,所述乘法器连接到用于产生调制信号的调制器。将包络曲线信号与调制信号相乘,导致包络曲线信号与调制信号的相关性,从而在至少一个周期对信号进行积分产生控制误差,所述控制误差对应于倾斜,并且被提供到倾斜控制器,所述倾斜控制器连接到乘法器并且其输出连接到调制器和用于调整扫描束的倾斜的装置。在致动器中使用来自倾斜控制器的输出信号,以便驱动用于扫描束的倾斜的线圈,该线圈相当于用于跟踪或聚焦的线圈,并且具有相当的传递功能,因此允许在100Hz以上的范围内进行快速倾斜角度的变化。由于信号频率较低,A/D和D/A转换器同样可用于倾斜控制环路,所述A/D和D/A转换器是在用于具有数字伺服控制环路的光记录介质的记录或重放设备中提供的,以便控制扫描装置和通过从记录介质检测到的信号的扫描装置进行数字化。可以使用已知的3D致动器以直角将扫描束对准记录介质,使用那样的3D致动器通过线圈或电机来校准扫描束关于记录介质的倾斜角度。
尽管通常在记录设备中使用的记录介质仍未包含用于形成重放设备中的射频信号的任何记录的信息,但在记录设备和重放设备中仍可以使用本发明的方法和结构,因为诸如那样的记录介质具有用于记录信息的摆动光道,其同样产生由摆动信号检测器检测到的射频信号。
所提出的倾斜控制环路不需要任何附加的处理器电源,从而不必装载中央处理器单元来判断倾斜角度变化的方向。
附图说明
在下面的文本中,将通过参考附图中的示例性实施例来更详细地解释本发明,其中:
图1示出了在光记录介质的重放设备中用于倾斜控制的电路结构的方框图;
图2示出了有关用于向上弯曲的记录介质的扫描束的对准的轮廓图;
图3示出了有关用于向下弯曲的记录介质的扫描束的对准的轮廓图;
图4示出了有关已知光扫描装置的结构的轮廓图;
图5示出了有关已知光扫描装置的扫描束对准的轮廓图;
图6示出了有关记录介质的扫描束的切向倾斜的轮廓图;
图7示出了有关记录介质的扫描束的径向倾斜的轮廓图;
图8示出了在用于光记录介质的记录设备中的、用于倾斜控制的电路结构的方框图;
图9示出了图解扫描束倾斜的轮廓图;
图10示出了有关随扫描束倾斜的扫描变化的轮廓图;
图11示出了下包络曲线与扫描束的倾斜之间的关系图;
图12示出了用于图解较大倾斜的射频信号的轮廓图;
图13示出了调制信号;
图14示出了用于图解具有减少的倾斜的射频信号的轮廓图;
图15示出了调制信号;
图16示出了用于图解当以直角对准扫描束时的射频信号的轮廓图;和
图17示出了调制信号。
在附图中以匹配方式来使用参考符号。
具体实施方式
用于光记录介质的记录或重放设备具有用于扫描光记录介质OD的扫描装置PU,图1中未示出光记录介质OD。以已知方式通过跟踪误差信号TE和聚焦误差信号FE来驱动扫描装置PU,以跟踪和聚焦光记录介质OD上的扫描束。通过光电检测器A到F来检测从光记录介质OD反射的光,并且在数字伺服控制环路中经由模拟/数字转换器A/D和/或信号产生器件SG中的至少一个将所述光提供到控制器,以控制跟踪和聚焦。
而且,扫描装置PU产生射频信号HF,该射频信号是从光记录介质OD检测到的,并与光强度相对应。通过对HF信号高通滤波来形成再现的信息信号。也以已知的方式将射频信号HF提供到包络曲线检测器ENV,所述包络曲线检测器用于产生对应于所谓凸区(land)的强度的上包络曲线信号up和射频信号HF的下包络曲线信号lo。下包络曲线信号对应于凹坑的强度。
通常在用于光记录介质OD的记录或重放设备中产生这些包络曲线信号up、lo,以便例如能够以高可靠性估计光记录介质OD上的光道变化或扰动。下包络曲线信号lo也称作镜像信号,并且在开路式光道控制环路的情况下,下包络曲线信号通常用于发出光道变化的信号。因此,镜像和镜像信号的表示是基于光道变化期间穿过光记录介质OD的镜像区域的扫描束的。
在图12、14和16中图解了由包络曲线检测器ENV从射频信号HF产生的上包络曲线信号up和下包络曲线信号lo。图12、14和16示出了具有不同电平或不同幅度的射频信号HF,它受到关于光记录介质OD的扫描束倾斜的影响。对于关于光记录介质OD的扫描束的倾斜,如图6和7中所图解的,绘出了径向倾斜与切向倾斜之间的基本区别。
图6示出了关于光记录介质OD上的记录光道的扫描束的切向倾斜,其中扫描束相对于光记录介质OD的垂线的倾斜角度β是切向倾斜角度β。切向倾斜角度β导致了光记录介质OD上可能被读取的具有不同长度的凹坑,径向倾斜角度α导致了从光记录介质OD扫描的射频信号HF的电平或幅度的减小。因为关于与光记录介质OD垂直的扫描束的倾斜引起更宽的扫描光斑,因此射频信号HF的电平或幅度减小。
如果假设扫描束为圆形,则如果有任何倾斜就反射一个椭圆面。当扫描束在凸区上时,则椭圆面完全对应于镜像区域,并且扫描束的强度相对的独立于倾斜。当扫面束在凹坑上时,则其强度变化,因为仅当入射辐射处于直角时才通过抵消实现最佳凹坑强度或最佳暗值。
通过聚焦控制环路将扫描束聚焦在光记录介质上,从而如图10所示,当以直角将扫描束对准光记录介质OD时,在光记录介质OD上的信息光道T上形成一个圆形光斑。从光记录介质OD反射的光由扫描装置PU检测到,所述扫描装置PU具有已知结构的用于主光束的光电检测器(包括四个象限A、B、C、D)和两个辅助光束检测器E、F。
通常使用来自辅助光束检测器E、F的信号来形成CD记录介质OD的光道误差信号TE,而使用主光束检测器的相对象限的和之间的差信号来形成聚焦误差信号FE,并且使用象限A、B、C、D的和信号来形成射频信号HF的信息信号。用于诸如那种的扫描装置PU的聚焦控制环路将扫描装置PU的物镜控制到一个位置,从而在光电检测器上总是形成圆形光斑。
然而,如图9所示,以倾斜角α指向光记录介质OD并被反射和检测、宽度为b的扫描束照亮长度为a的区域。由于径向倾斜角度α而产生的这个长度a导致更宽的扫描光斑,这个扫描光斑相对于光记录介质OD的信息光道宽度T具有长度a。
然而,具有信息存储元件的光记录介质OD的扫描是基于破坏性干扰原理的,所述信息存储元件由凹陷(depression)或突起(projection),也就是在可写光记录介质OD情况下的所谓的凹坑或所谓的沟道形成,从而必须在同时照亮的突起和凹陷之间维持预定的关系,以便抵消从记录介质OD反射的扫描束。
如果扫描光斑对于光记录介质OD的信息光道宽度T具有长度a,则这种关系受到干扰。从位于信息光道之间的镜面反射的光的比例大于从凹陷或从信息光道反射的光的比例。由于选择了形成光记录介质OD上的信息光道的凹陷以便产生导致扫描束抵消的相移,因此来自记录介质OD的更宽的扫描光斑导致检测到较低的暗值。从记录介质OD的光道之间或相反远离凹陷从光记录介质OD反射的光的最大值保持恒定。
记录介质OD的信息载体层上的凹陷和突起之间的变化被扫描装置PU检测作为射频信号HF。随后从记录介质反射的扫描束的抵消的减少导致具有更低的电平或更小的幅度的射频信号HF,因为射频信号HF的最大值与最小值之间的差被称作射频信号HF的电平或幅度。射频信号HF的最大值形成上包络曲线信号up,射频信号HF的最小值形成射频信号HF的下包络曲线信号。
由于下包络曲线信号lo表示从记录介质OD检测的信号的暗值,因此当以直角将扫描束对准记录介质OD时,下包络曲线Low Env与最大值AD-Max的比率为最小值,如图11所示,所述最大值AD-Max是从扫描装置PU的光电检测器的象限A...D检测到的。来自将扫描束以直角对准记录介质OD的误差Tilt相对于没有任何误差的校准Tilto的比率被作为图11中图形的横坐标。因此图11示出了下包络曲线或下包络曲线信号lo与有关记录介质OD的扫描束的径向倾斜之间的关系。
为了实现幅度尽可能高的射频信号HF或处于最大电平的射频信号HF,扫描装置PU的扫描束和光轴OA必须总是以直角对准光记录介质OD,即使当光记录介质OD弯曲时也是如此,如图2和3所示。记录介质OD的弯曲通常从内半径IDR经过中间半径MDR增加到外半径ODR,光记录介质OD可以向上弯曲,如图2所示,或者向下弯曲,如图3所示。而且,对于光记录介质OD也可能向上弯曲到指定半径,并且随后向下弯曲,反之亦然。
然而,最小的弯曲通常出现在光记录介质OD的内半径IDR。对于例如CD的低存储密度的光记录介质OD,初始既不有意也不需要斜置有关以直角对准光记录介质OD的光轴OA,从而以图4中的示例示出的扫描装置PU是足够的。如图4中所示的光扫描装置PU包括安装在镜头夹LH上的物镜OL,该镜头夹经由四根金属线弹性支撑在接线座WH上。接线座WH安装在底座AP上,其还装配了磁铁M。聚焦线圈FC和跟踪线圈TC放置在镜头夹LH上,并且经由金属线SPW来驱动,以便在光道和/或聚焦方向上偏转物镜。
以未示出的方式,在镜头夹LH下面放置分别用于产生和检测扫描束的激光器和光电检测器。通常将扫描装置PU放置在粗糙的驱动器(coarse drive)上,以便它能够在信息载体层的整个区域上扫描光记录介质OD。如图5所示,诸如这些的扫描装置PU不考虑光记录介质OD的任何弯曲。
在产生过程期间以直角将扫描装置PU的光轴OA对准平坦的记录介质OD,并且在扫描弯曲的记录介质期间,也通过利用由导线SPW形成的平行导槽保持光轴OA的这种对准。如图2和图3所示,为了确保即使在弯曲的记录介质OD的情况下也总是以直角将光轴OA对准光记录介质OD,已知在扫描装置PU中,通过借助于电机斜置扫描装置PU或通过斜置物镜OL,使光轴OA匹配光记录介质的弯曲,如图4所示。
随后提供附加的线圈,以便斜置物镜OL,通过线圈,镜头架LH和物镜OL被另外地倾斜,以便偏转聚焦和光道方向。独立于用于倾斜扫描装置PU的光轴OA的装置提供一个控制环路,通过该控制环路将光轴OA适当地从属于光记录介质OD的弯曲,以便总是确保以直角将扫描束对准光记录介质OD,而不论记录介质OD的弯曲如何或者当扫描装置PU位于中和位置其是否被倾斜放置。
为了避免用于倾斜控制的已知控制环路的缺点,提供一种使用表示射频信号HF的暗值的包络曲线的控制环路,所述暗值是从光记录介质OD扫描获得的。
当以正常方式考虑时,这个包络曲线是从光记录介质OD上的信息光道检测到的射频信号HF下的包络曲线信号lo。如图12所示,如果扫描束具有相对于记录介质OD必须校正的倾斜,则下包络曲线信号lo离基准线N相对较远,并相对接近于射频信号HF的上包络曲线up。
如图12与16的比较所示,为了重放存储在记录介质OD上的信息所需要的检测到的射频信号HF的电平或幅度小于当以直角对准扫描束时所需要的检测到射频信号HF的电平或幅度。通过使用调制信号MO来校正扫描束的倾斜,为了图解原理在图13、15和17中以更大比例示出了该调制信号。
根据示例性实施例,使用这样一种调制信号MO,即为具有50%零分量和频率为4Hz的对称方波信号。在这一实施例中,具有50%零分量的对称方波信号描述了这样一种信号,即其中在一个周期内,不同极性的方波脉冲由零信号分割交替,并具有相同长度。
然而,原则上,关于基准线对称并处于不同频率的其他信号形式也可以被用作调制信号MO。下包络曲线信号lo一方面乘以调制信号MO,另一方面与控制信号相加,以便改变关于记录介质OD的扫描束的倾斜。将调制信号MO添加到控制信号以改变光束的倾斜会以下面将要描述以便解释图14的原理的方法影响下包络曲线信号lo。
然而,因为当在示波器上观察射频信号HF时几乎不能检测到调制,因此上述描述仅仅是理论上的。根据示例性实施例,使用这样的调制信号MO,即其幅度对应于扫描束的大约1/30度的变化或扫描束的光轴OA的倾斜的2弧分的变化。类似于图13,图15中为了图解目的而放大示出的调制信号MO在射频信号HF的下包络曲线lo(类似于图14中所放大示出的)中导致较低的暗值,该暗值是关于超过以直角进行的校准的偏转而得到的。
尽管使用了对称的调制信号MO,然而,只要扫描束倾斜或不在直角,则射频信号HF的下包络曲线lo中的效果仍保持不对称或不相等。由于与调制信号MO的相关性,下包络曲线信号lo不对称,使用这种不对称来控制扫描束的倾斜。
为此,在进入被提供了控制误差的倾斜控制器TIER之前,将下包络曲线信号lo乘以调制信号MO。当以直角将扫描束对准记录介质OD时,如图16所示,这导致了在最大幅度处具有最大电平的射频信号HF,由于实现了最大值抵消,因此得到下包络曲线信号lo的最低值。
为了描述,图16也示出了下包络曲线信号lo的调制,尽管,实际上,这不再是可观测到的。当以直角将扫描束对准记录介质OD时,调制信号MO的正向和负向幅度都导致一个较低的暗值,该暗值对于调制信号MO的两个方向都是相同的,因此控制误差为零。除了90度以外的扫描束倾斜对经由加法器+而添加到控制信号以便调节扫描束的倾斜的调制信号MO进行对称的调制。从而即使在对调制信号MO的一个周期进行积分之后也可以检测到控制误差。
由于下包络曲线信号lo用于倾斜控制,并将对射频信号HF的电平或幅度同样具有不良影响的其他因素排除在倾斜控制处理之外,从而避免了已知解决方案的缺点。表面上的划痕、指纹或其他脏物、缺陷或干扰通常降低光记录介质的反射程度,因此特别影响了上包络曲线信号up和射频信号HF的电平或幅度。而且,诸如光记录介质OD上的脏物、缺陷或干扰也导致所检测到的信息信号中的误差率增加。由于诸如那些的因素独立于扫描束的倾斜而影响了射频信号HF,因此通过使用表示所检测的射频信号HF的暗值的下包络曲线信号lo,将它们的影响排除在倾斜控制处理之外。对于倾斜控制不需要任何附加的倾斜传感器,尽管如此仍极大地阻止了独立于扫描束的倾斜而对射频信号HF产生影响的其他因素对倾斜控制的任何影响。
可以通过来自射频信号HF的电容性连接和DC连接来产生包络曲线信号lo、up,同时已经发现将包络曲线检测器ENV与光电检测器DC连接是有利的。而且,如图1所示,倾斜控制环路可以是使用已经在记录或重放设备可用的部件的数字控制环路的形式。
在用于光记录介质的重放设备的情况下,在通过高通滤波之后,将来自光电检测器A、B、C、D的射频总和信号用作信息信号,也称作所谓的再现信号,缩写为RF。然而,再现的信号失去了一些特性,这些特性被射频信号HF用来形成包络曲线信号lo、up。在记录设备中,在其上还没有存储信息信号的光记录介质OD上写入信息。
然而,诸如这些的记录介质OD即使在它们被记录之前就已经具有摆动光道形式的所谓的沟道,并且这些沟道用于记录信息。也用于确定记录介质OD上的位置的光记录介质OD上的摆动光道,同样由扫描装置PU来检测,并且类似于已经记录了信息的光记录介质OD,提供称作摆动信号WOB的射频信号HF。随后在用于光记录介质OD的记录设备中使用摆动信号WOB的下包络曲线来用于倾斜控制。
图8图解了用于实现所述方法的相应电路结构。图8与图1的不同之处仅在于用摆动信号检测器WOB代替包络曲线检测器ENV。摆动信号WOB的下包络曲线信号lo同样表示射频信号HF或摆动信号WOB的暗值,因此对于记录和重放设备,可以以同样的方式使用所述方法和结构。将从光记录介质OD检测出的射频信号HF的下包络曲线信号与调制信号MO相乘,并且将其积分或低通滤波,以便形成控制误差,该控制误差对应于对准光记录介质OD的扫描束与垂线之间的误差。
如图1所示,在乘法器MU、调制器MOD和倾斜控制器TIER之间形成倾斜控制环路,从而该电路结构几乎不涉及任何复杂性。调制器MOD连接到乘法器MU和加法器+,该加法器连接到倾斜控制器TIER的输出,而还向其提供了下包络曲线信号的乘法器MU连接到倾斜控制器TIER的输入,如图1所示,倾斜控制器TIER的输出经由数/模转换器D/A连接到扫描装置PU,该扫描装置具有用于调节扫描束的倾斜的器件。
这里所描述的实施例只作为示例引用,并且本领域的技术人员能够提出保持在本发明范围之内的本发明的其他实施例。

Claims (11)

1.一种关于光记录介质的重放或记录设备的方法,所述重放或记录设备具有用于扫描束的倾斜控制系统,其中由所述光记录介质检测到并表示从光记录介质反射的光的暗值的射频信号的下包络曲线信号被用于倾斜控制。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述射频信号是由光记录介质的信息光道检测到的射频信号,并且该射频信号在经过高通滤波之后被用作再现的信息信号。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述射频信号是由所述光记录介质检测到的光记录介质的摆动信号。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述下包络曲线信号是由包络曲线检测器产生的镜像信号。
5.如权利要求1所述的方法,其中在进入倾斜控制系统之前,将所述下包络曲线信号乘以调制信号,所述调制信号被添加到来自倾斜控制系统的输出信号,以便将扫描束以直角对准所述光记录介质。
6.如权利要求5所述的方法,其中将具有50%零信号分量的对称方波信号用作调制信号。
7.如权利要求1所述的方法,其中将由光记录介质检测的射频信号的下包络曲线信号乘以一个调制信号,并且对其进行积分或低通滤波,以便形成控制误差,所述控制误差对应于指向光记录介质的扫描束与垂线之间的任何误差。
8.一种关于光记录介质的重放或记录装置的结构,所述重放或记录装置具有用于扫描束的倾斜控制系统,其中倾斜控制系统的输入连接到乘法器,所述乘法器的输入连接到产生由所述光记录介质检测到的射频信号的下包络曲线信号的连接,并且所述乘法器的输入连接到调制器,所述调制器连接到所述倾斜控制系统的输出,所述倾斜控制系统的输出连接到用于改变指向所述光记录介质的扫描束的倾斜的器件。
9.如权利要求8所述的结构,其中所述调制器到所述倾斜控制系统的输出的连接是一个加法器。
10.如权利要求8所述的结构,其中用于产生由所述光记录介质检测到的射频信号的下包络曲线信号的连接是一个包络曲线检测器。
11.如权利要求8所述的结构,其中用于产生由所述光记录介质检测到的射频信号的下包络曲线信号的连接是一个摆动信号检测器。
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