CN100397357C - 周边元件扩展接口的数据存取装置及其方法 - Google Patents

Abstract

一种周边元件扩展接口(Peripheral Componect Interconnect，PCI)的数据存取装置及其方法，于一待测信息处理装置的周边元件扩展接口上插置一数据存取装置，并于系统开机周期时，插入装置选择信号(DEVSEL#)及停止信号(STOP#)到周边元件扩展接口总线，以进行重试周期(Retry Cycle)，再利用一微处理控制模块将一缓存模块锁存到的每一笔周边元件扩展接口总线周期(PCIBus Cycle)的数据，依序存储在一内存模块中，最后通过一显示模块显示每一笔存入内存模块中的数据，以提供较完整的锁存数据内容，让检测人员在进行数据比较及侦错操作时更加方便与有效率。

Description

周边元件扩展接口的数据存取装置及其方法

【技术领域】

本发明为一种有关于数据存取装置及其方法，特别是一种周边元件扩展接口(Peripheral Componect Interconnect，PCI)的数据存取装置及其方法。

【背景技术】

随着信息产业的发达，信息处理装置成为各行各业必备设备之一，而信息处理装置在生产阶段，必须经由故障测试等来确保其品质，而周边元件扩展接口成为不可或缺的测试及系统除错项目，目前周边元件扩展接口的测试卡或侦错系统皆为实时拦截显示方式，仅能锁存一笔或两笔的信息，测试人员通过这些信息来检测装置是否正常，但实时拦截一笔或两笔信息，对具有复杂且庞大电子电路的信息处理装置来说，要判断测试的信息处理装置是否正常，似乎稍显不足，而且当待测的信息处理装置锁存数据时间过长时，会导致系统当机，而使侦错操作重新开始，这是非常耗时且没有效率的。

【发明内容】

本发明的主要目的在于提供一种周边元件扩展接口的数据存取装置及其方法。

周边元件扩展接口的数据存取装置包含有下列模块：锁存模块、一缓存模块、一微处理控制模块、一内存模块及一显示模块，利用锁存模块产生锁存信号到缓存模块，缓存模块接收到锁存信号后开始锁存周边元件扩展接口总线周期的数据，并于一重试周期(Retry Cycle)期间将锁存数据存储于内存模块中，再由显示模块显示存储于内存模块中的周边元件扩展接口总线周期的数据。

而周边元件扩展接口的数据存取方法，包含有下列步骤：锁存周边元件扩展接口总线周期的数据；插入一装置选择信号(DEVSEL#)与一停止(STOP#)以产生一重试周期(Retry Cycle)；将锁存数据存储于内存模块中；当数据存储完后，微处理控制模块产生一个触发信号到锁存模块，以停止重试周期(Retry Cycle)，以进行下一笔周边元件扩展接口总线周期的数据锁存及存储操作。

相较于现有技术，本发明的待测系统在开机周期时，将PCI总线执行的每一步骤的地址、数据、命令及使能等信息记录成完整的数据文件，以有效进行侦错及测试操作。

【附图说明】

图1为本发明的系统方块图。

图2为本发明的周边元件扩展接口总线周期的数据存取时序图。

图3为本发明的步骤流程图。

【具体实施方式】

请参照图1，周边元件扩展接口的数据存取装置100包含有：锁存模块10、缓存模块20、微处理控制模块30、内存模块40、显示模块50、存储数据选择模块60、单步切换模块70及数据传输模块80。

首先将周边元件扩展接口的数据存取装置100安装于待测PCI总线200上，打开信息处理装置的电源，锁存模块10产生一数据锁存信号到缓存模块20，缓存模块20接收到数据锁存信号后，开始锁存周边元件扩展接口总线周期的数据，此时，锁存模块10会产生一个中断信号到微处理控制模块30，微处理控制模块30接收到中断信号后，产生一个预先定义的地址到内存模块40，内存模块40依照微处理模块30产生的地址将缓存模块20锁存的数据存储起来，于数据存储期间，锁存模块10会插入一装置选择信号(DEVSEL#)与一停止信号(STOP#)，以产生一重试周期(Retry Cycle)，当数据存储完后，微处理控制模块30产生一个触发信号到锁存模块10，以停止重试周期(Retry Cycle)，并进行锁存及存储下一笔周边元件扩展接口总线周期的数据的操作，直到所有周边元件扩展接口总线周期的数据存储完毕，一显示模块50用以显示存储于内存模块40中周边元件扩展接口总线周期的数据。

其中一存储数据选择模块60用以将锁存数据分次存储到内存模块40中，且测试人员可通过一单步切换模块70，逐笔显示周边元件扩展接口总线周期的数据，或经由一数据传输模块80(例，串行传输接口RS-232)，将存取的周边元件扩展接口总线周期的数据传送至另一台存储有正确周边元件扩展接口总线周期的数据的信息处理装置，以进行数据比较操作，以达到使侦错操作更加方便与有效率的目的。

请参照图2，首先框信号(FRAME#)维持在一个低准位信号，表示一个新的周边元件扩展接口总线周期的开始，利用一锁存模块产生一地址锁存(A_Latch)110的信号与数据锁存(D_Latch)120到缓存模块(Address&DataLatch Buffer)20，当锁存数据存储于内存模块40期间，锁存模块10插入一个重试周期130~140到周边元件扩展接口总线周期，当锁存的数据存储于内存模块40完毕后，停止重试周期130~140，以继续执行下一周期(Cycle)，让下一笔周边元件扩展接口总线周期的数据进入缓存模块20，并插入一个重试周期130~140，当锁存的数据存储于内存模块40完毕后，停止重试周期130~140，依此类推，直到每一笔数据存储完毕，再由显示模块50显示存储于内存模块40中的周边元件扩展接口总线周期的数据，让检测人员进行数据比较，如此一来，即可马上得知错误位，以进行侦错(Debug)操作，其中重试周期130~140利用插入一个装置选择信号(DEVSEL#)到周边元件扩展接口总线周期中，于周边元件扩展接口汇流排周期结束前，未收到备妥信号(TRDY#)时，重新该周边元件扩展接口总线周期，以继续存储锁存数据，并于数据存储完后，接收待测装置响应备妥信号(TRDY#)后，插入停止信号(STOP#)到周边元件扩展接口总线周期中，以停止重试周期130~140，并进行下一笔周边元件扩展接口总线周期的数据锁存及存储操作。

请参照图3，首先将周边元件扩展接口的数据存取装置100安装于周边元件扩展接口上后，打开信息处理装置的电源，此时，锁存模块发出一锁存信号到缓存模块以锁存周边元件扩展接口总线周期的数据(锁存数据可为地址Address[31..0]；数据Data[31..0]；命令Command；使能信号BE#[3..0])(步骤300)，将锁存数据存储于一内存模块中，并插入一装置选择信号(DEVSEL#)与一停止信号(STOP#)到该周边元件扩展接口总线周期中，以进行一重试周期操作(步骤305)，依照微处理控制模块产生的地址将锁存数据存储在内存模块中(步骤310)并于数据存储完后，停止重试周期操作(步骤315)，以进行下一笔数据的锁存及存储操作，如此循环，直到所有数据存储完毕。

接下来，举一实际例子作说明，首先将周边元件扩展接口的数据存取装置插入待测或故障的信息处理装置的主机板，其中数据存取装置为利用一微处理控制器89C52及64kBytes的静态随机存取内存(Static Random Access Memory；SRAM)，点矩阵液晶显示模块(Dot Matrix LCD Display Module)，地址与数据锁存缓存器(Address&Data Latch Buffer)，译码与控制逻辑器(Decode&Control Logic)，存储数据选择器(Store Data Selector)，单步切换开关(SwitchButton)等模块所组成。

打开信息处理装置的电源，此时在周边元件扩展接口总线(PCI Bus)便有第一个周边元件扩展接口总线周期的信号产生，信号进入译码与控制逻辑器(Decode & Control Logic)，然后译码与控制逻辑(Decode & Control Logic)产生地址锁存(A_Latch)与数据锁存(D_Latch)的锁存信号到地址与数据锁存缓存器(Address & Data Latch Buffer)，并插入装置选择信号(DEVSEL#)及停止信号(STOP#)到周边元件扩展接口总线周期以进行一重试周期(Retry Cycle)操作，此时微处理控制器89C52便会产生原先定义的地址Address(0000h~00009h)与地址Address(1000h~1000Ah)将地址与数据锁存缓存器(Address&Data LatchBuffer)锁存到第一笔数据(周边元件扩展接口总线周期的地址Address[31..0]；Data[31..0]；命令Command；使能信号BE#[3..0])，分批存入64kBytes的静态随机存取内存(Static Random Access Memory；SRAM)中，因为一次仅存储1byte，故需存储数据选择器(Store Data Selector)分十次将一笔周边元件扩展接口总线周期的数据存储完毕，然后于存储完后由微处理控制器89C52发送出触发信号Trigger_52到译码与控制逻辑器(Decode&ControlLogic)。

接着，译码与控制逻辑器(Decode&Control Logic)接收待测装置响应一个备妥信号(TRDY#)，以停止重试周期操作，以便让周边元件扩展接口总线进行下一笔数据的传送，然后译码与控制逻辑器(Decode & Control Logic)再产生地址锁存(A_Latch)与数据锁存(D_Latch)的锁存信号到地址与数据锁存缓存器(Address & Data Latch Buffer)，将第二笔周边元件扩展接口总线的数据锁存在地址与数据锁存缓存器(Address & Data Latch Buffer)内，并插入装置选择信号(DEVSEL#)及停止信号(STOP#)到周边元件扩展接口总线周期中，使周边元件扩展接口总线周期再进行重试周期操作。

接下来产生一中断信号INT1到微处理控制器89C52，此时微处理控制器89C52便产生原先定义的地址Address(0000Ah~00013h)与地址Address(10000h~1000Ah)，并将地址与数据锁存缓存器(Address & Data LatchBuffer)锁存到第二笔数据(周边元件扩展接口总线周期的地址Address[31..0]；数据Data[31..0]；命令Command；使能信号BE#[3..0])分批累加入64kBytes的静态随机存取内存(Static Random Access Memory；SRAM)中，如此反复的将每一笔周边元件扩展接口总线周期上的数据存入SRAM中后(存完64kBytes数据的Address(00000h~0FFFFh)约需时1.2秒)，再由检测人员按单步切换开关(Switch Button)产生步阶(Step)的信号到微处理控制器89C52，以将SRAM中的数据逐笔的显示于点矩阵液晶显示模块(Dot Matrix LCD DisplayModule)上，以让检测人员进行数据比较，或将SRAM中的数据经由微处理控制器89C52的传送(TXD)及接收(RXD)脚位透过数据传输模块(例，串行传输接口RS-232)传送到另一台信息处理装置上，而另一台信息处理装置可以预先将同型的正常的周边元件扩展接口总线周期的数据存储起来，然后再将此一待测信息处理装置系统的周边元件扩展接口总线周期传送来的数据作比较，如此即可马上得知不同或者是错误位的地方，让检测人员可以很快地找出待测信息处理装置系统的故障点，以进行故障排除操作。

通过这种周边元件扩展接口的数据存取装置及其方法，可以记录每笔周边元件扩展接口总线周期的数据，解决先前技术仅能以拦截显示方式锁存一笔或两笔周边元件扩展接口总线周期的数据，以提供测试人员或维修人员较完整的周边元件扩展接口总线周期的数据，达到更有效率的测试及维修目的。

Claims (6)

1.一种周边元件扩展接口的数据存取装置，该装置包含：

一锁存模块，用以产生一锁存信号，以锁存一周边元件扩展接口总线周期的数据，及插入一重试周期至该周边元件扩展接口总线周期，用以重复该周边元件扩展接口总线周期以锁存该周边元件扩展接口总线周期的数据，并于锁存完该周边元件扩展接口总线周期的数据后，产生一中断信号；

一缓存模块，提供一缓存区以暂时存储锁存数据，该锁存数据为经锁存模块锁存的周边元件扩展接口总线周期的数据；

一微处理控制模块，接收该中断信号后，产生一预先定义的地址；

一内存模块，依据该预先定义的地址存储该缓存模块中的锁存数据；及

一显示模块，用以显示存储于该内存模块中的锁存数据；

其中，该微处理控制模块于锁存数据存储完后，产生一触发信号到该锁存模块，用以停止该重试周期。

2.根据权利要求1所述的周边元件扩展接口的数据存取装置，其特征在于：更包含一单步切换模块，与该微处理控制模块相接，用以产生一步阶信号以逐笔显示该周边元件扩展接口总线周期的数据。

3.根据权利要求1所述的周边元件扩展接口的数据存取装置，其特征在于：该内存模块包含一静态随机存取内存。

4.根据权利要求1所述的周边元件扩展接口的数据存取装置，其特征在于：该显示模块包含一点矩阵液晶显示器。

5.一种周边元件扩展接口的数据存取方法，该方法包含下列步骤：

锁存一周边元件扩展接口总线周期的数据；

插入一装置选择信号到该周边元件扩展接口总线周期中，于该周边元件扩展接口总线周期结束时，进行该周边元件扩展接口总线周期的重试周期操作；

将锁存该周边元件扩展接口总线周期的数据存储到一内存模块；及

于存储完该周边元件扩展接口总线周期的数据后，一微处理控制模块响应一备妥信号，以插入一停止信号到该周边元件扩展接口总线周期中，停止该重试周期操作。

6.根据权利要求5所述的周边元件扩展接口的数据存取方法，其特征在于：更包含逐笔显示该周边元件扩展接口总线周期的数据于一显示模块的步骤。

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