CN100394480C - 平台预凹坑数据检测装置及其方法 - Google Patents

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Abstract

一种能够精确地检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的平台预凹坑(LPP)数据的装置和方法。该装置包括：LPP数据检测单元，从自光学介质反射的信号中，检测从中去除了摆频的LPP数据；摆动信号检测器，从反射的信号中检测摆动信号；以及LPP数据产生器，使用检测的LPP数据和检测的摆动信号，产生记录在光学介质上的LPP数据。

Description

平台预凹坑数据检测装置及其方法
技术领域
本发明涉及一种用于检测记录在光学介质上的平台预凹坑(LandPre-Pit，LPP)数据的装置和方法。
背景技术
在诸如DVD-R、DVD-RAM、DVD+RW和DVD-RW的可记录光学介质上形成其上记录有摆动信号的螺旋光道。在DVD-RAM的情况下，在平台光道和凹槽光道中均包括用户数据区域和标题区域，并且在该标题区域中记录DVD-RAM的物理地址。另一方面，在DVD-R或DVD-RW的情况下，仅在凹槽光道中记录用户数据，而将DVD-R或DVD-RW的物理地址记录在使用预凹坑的平台光道中。记录在使用预凹坑的平台光道中的物理地址被称为平台预凹坑(LPP)数据。该LPP数据是在母版制作处理期间形成的，并且当在光学介质上执行记录或再现处理时指示光学介质对应于拾取位置的物理位置。
因此，在光学驱动器的记录或再现处理期间需要精确地检测LPP数据。
发明内容
发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分地进行陈述，并部分地从描述中明显地看出，或通过发明的实践而学到。
本发明的一个方面提供一种用于精确地检测在装入光学驱动器中的光学介质上形成的平台预凹坑(LPP)数据的装置和方法。
本发明的一个方面还提供一种通过从自装入光学驱动器的光学介质反射的光信号中去除摆频来精确地检测LPP数据的装置和方法。
根据本发明的一个方面，一种用于检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的平台预凹坑(LPP)数据的装置包括：LPP数据检测单元，其包括从反射的信号中滤除摆频的带阻滤波器，并且从自光学介质反射的信号中检测去除了摆频的LPP数据；摆动信号检测器，从反射的信号中检测摆动信号；以及LPP数据产生器，使用从所述LPP数据检测单元输出的检测的LPP数据和检测的摆动信号来产生记录在光学介质上的LPP数据。
根据发明的一个方面，所述LPP数据产生器产生包括在反射的信号中由摆动信号检测器检测到摆动信号的部分中的检测的LPP数据，作为记录在光学介质上的LPP数据。
根据发明的一个方面，LPP数据检测单元可以包括LPP数据检测器，使用预定的LPP限幅电平对从带阻滤波器输出的信号进行限幅，并检测从中去除了摆频的LPP数据。
根据本发明的另一个方面，一种检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的LPP数据的方法包括下列步骤：使用带阻滤波器，从自光学介质反射的信号中去除摆频；使用预定的LPP限幅电平，从去除了摆频的信号中检测LPP数据；使用预定的摆动限幅电平从反射信号中检测摆动信号；以及使用检测的摆动信号和检测的LPP数据产生记录在光学介质上的LPP数据。
附图说明
通过结合附图对发明的示例实施例进行详细描述，本发明的上面和其它方面和/或优点将变得更加清楚，其中：
图1A和1B是根据本发明的实施例，用于检测平台预凹坑(LPP)数据的装置的框图；
图2A到2E说明了从图1装置的元件输出的信号的波形；以及
图3是说明根据本发明的实施例的检测LPP数据的方法的流程图。
具体实施方式
现在将详细地参考本发明的实施例，其示例在附图中进行了说明，其中相同的参考标号始终指示相同的元件。通过结合附图在下面对实施例进行描述以解释本发明。
图1A和1B是根据本发明实施例的用于检测平台预凹坑(LPP)数据的装置的框图。参考图1，该装置包括光学介质100、光拾取器101、射频(RF)放大器102、LPP数据检测单元103、摆动信号检测器104和LPP数据产生器105。一个四部分光学检测器120被包括在光拾取器101中，并具有按照光学介质100的径向和切向排列的检测器A、B、C、D，所述检测器A、B、C、D接收来自光学介质100的反射光束并产生相应的信号A、B、C、D。控制器(未示出)使用摆动信号和LPP数据来控制光拾取器101的操作，以传输关于光学介质100的数据。
光学介质100是在其光道中记录有摆动信号的光盘。所述光道包括平台光道和凹槽光道。用户数据仅记录在凹槽光道中，而光道的物理位置信息被记录在使用预凹坑的平台光道中。记录在平台光道中的位置信息被称为LPP数据。该LPP数据在母版制作处理期间被记录，并且指示对应于光拾取器101的位置的光学介质100的部分的物理地址。
光拾取器101接收从光学介质100反射的光信号，将接收的光信号转换为电信号并输出该电信号。
在图1中，光拾取器101输出电信号A、B、C和D。在这种情况下，应当理解该光拾取器101包括四个光接收单元。即，从光拾取器101输出的电信号的数量由其中的光接收单元的数量来确定。然而，应当理解，也可以使用其它类型、配置和数量的光学接收单元。
RF放大器102将从该光拾取器101输出的四个电信号A、B、C和D放大到预定电平，并检测放大后的电信号A、B、C和D之中的差信号BC-AD。LPP数据检测单元103从差信号BC-AD中检测去除了摆频的LPP数据。为这个操作，LPP数据检测单元103包括带阻滤波器106和LPP数据检测器107。
带阻滤波器106从差信号BC-AD中滤除摆频。带阻滤波器106使用的摆频为140.6kHz。从带阻滤波器106输出的去除了摆频的差信号BC-AD被输入到LPP数据检测器107。LPP数据检测器107根据LPP限幅电平对从带阻滤波器106输出的差信号BC-AD进行限幅，并从限幅后的差信号BC-AD中检测从中去除了摆频的LPP数据。换句话说，LPP数据检测器107输出其电平高于LPP限幅电平的信号作为从中去除了摆频的LPP数据。LPP限幅电平是预定的。
图2A说明从光拾取器101输出的信号的波形以及包括摆频和LPP数据的差信号BC-AD的波形。图2B说明从带阻滤波器106输出的信号的波形以及从中去除了摆频的差信号BC-AD的波形。图2C说明从LPP数据检测器107输出的信号的波形以及从中去除了摆频的LPP数据的波形，通过根据图2B所示的LPP限幅电平对图2B的差信号BC-AD的波形进行限幅而获得所述LPP数据。
摆动信号检测器104使用图2A的摆动限幅电平，从自RF放大器102输出的差信号BC-AD中检测摆动信号。在所示实施例中摆动限幅电平是预定的，但是也能够另外确定或设置，诸如使用读数据。对应于图2A的差信号BC-AD的摆动信号被检测如图2D所示。
LPP数据产生器105使用从LPP数据检测单元103输出的去除了摆频的LPP数据和从摆动信号检测器104输出的摆动信号，产生光学介质100的LPP数据。
即，当由LPP数据检测器107检测的LPP数据被包括在由摆动信号检测器104检测的摆动信号的部分中时，LPP数据产生器105产生检测的LPP数据作为光学介质100的LPP数据。因此，如果检测到摆动信号如图2D所示，并且检测到从中去除了摆频的LPP数据如图2C所示，则LPP数据产生器105产生如图2E所示的LPP数据。
图3是说明根据本发明的实施例的检测LPP数据的方法的流程图。参考图3，从自光学介质100反射的光信号中去除摆频(步骤301)。即，根据本发明的一个方面，对光信号执行带阻滤波以去除包含在该光信号中的摆频。
在步骤302，使用预定的LPP限幅电平从去除了摆频的光信号中检测LPP数据。换句话说，根据发明的一个方面，如果去除了摆频的光信号的电平高于LPP限幅电平，则光信号被检测作为LPP数据。
在步骤303，使用摆动限幅电平从反射的光信号中检测摆动信号。即，对如图2A所示的反射的光信号，检测到摆动信号如图2D所示。
使用检测的摆动信号和LPP数据来产生光学介质100的LPP数据(步骤304)。更具体的说，产生包括在检测的摆动信号的部分中的检测的LPP数据作为光学介质100的LPP数据。不产生包括在除了检测的摆动信号的部分以外的部分中的检测的LPP数据作为光学介质100的LPP数据。
如上所述，根据本发明的一个方面，使用从中去除了摆频的LPP数据和摆动信号，仅检测包含在从光学介质反射的光信号的可用部分中的LPP数据作为光学介质的LPP数据。因此，如果检测到摆动信号如图2D所示，并且检测到从中去除了摆频的LPP数据如图2C所示，则LPP数据产生器105产生如图2E所示的LPP数据。从而，能够从光学介质精确地检测LPP数据。这里，可用的部分为检测到包括在反射的光信号中的摆动信号的部分。
虽然按照DVD进行了描述，但是应当理解本发明的装置和方法能够被用于光学媒介。
虽然参考实施例特别展示和描述了的本发明，本领域的技术人员应当理解在不脱离由所附权利要求和等同物所定义的发明的精神和范围的情况下，可以进行各种形式和细节上的变化。

Claims (8)

1.一种用于检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的平台预凹坑LPP数据的装置，该装置包括：
LPP数据检测单元，其包括从自光学介质反射的信号中滤除摆频的带阻滤波器，并且从自光学介质反射的信号中检测从中去除了摆频的LPP数据；
摆动信号检测器，从自光学介质反射的信号中检测摆动信号；以及
LPP数据产生器，使用检测的摆动信号和从所述LPP数据检测单元输出的检测的LPP数据，输出记录在光学介质上的LPP数据。
2.如权利要求1所述的装置，其中，所述LPP数据产生器输出包括在由摆动信号检测器检测到摆动信号的反射信号的部分中的检测的LPP数据，作为记录在光学介质上的LPP数据。
3.如权利要求1所述的装置，其中，所述LPP数据检测单元包括：
LPP数据检测器，使用预定的LPP限幅电平对从带阻滤波器输出的信号进行限幅，并检测从中去除了摆频的LPP数据。
4.如权利要求1所述的装置，其中，所述摆动信号检测器通过使用预定的摆动限幅电平对自光学介质反射的信号进行限幅来检测摆动信号。
5.如权利要求1所述的装置，其中，所述摆频为140.6kHz。
6.一种检测记录在装入光学驱动器的光学介质上的平台预凹坑LPP数据的方法，该方法包括下列步骤：
使用带阻滤波器，从自光学介质反射的信号中去除摆频；
使用预定的LPP限幅电平，从去除了摆频的信号中检测LPP数据；
使用预定的摆动限幅电平，从自光学介质反射的信号中检测摆动信号；以及
使用检测的摆动信号和检测的LPP数据，产生记录在光学介质上的LPP数据。
7.如权利要求6所述的方法，其中，当产生记录在光学介质上的LPP数据时，产生包括在检测到摆动信号的部分中的检测的LPP数据作为记录在光学介质上的LPP数据。
8.如权利要求6所述的方法，其中，所述摆频为140.6kHz。
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