CN101019173B - 记录介质中记录数据的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了在记录介质中记录数据的方法和装置。用于在包括摆动形状的测试区域的记录介质中记录数据的方法包括步骤：a)确定先前使用的测试区域，b)通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索测试区域的当前OPC开始位置，c)执行最佳功率控制(OPC)处理以在OPC开始位置计算最佳写功率，和d)利用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据。因此，该记录介质能应用于制造BD的方法，并能有效的执行盘测试处理和数据记录/再现操作。

Description

记录介质中记录数据的方法和装置
技术领域
本发明涉及在记录介质中记录数据的方法和装置，尤其涉及一种方法和装置，用于当数据被记录在记录介质时确定测试区域的开始位置，以及用于在记录介质中记录开始位置的信息。
背景技术
通常，已经广泛使用光盘来作为能够在其中记录大量数据的记录介质。特别的，近来已经开发了能够长期地记录/存储高质量视频数据和高质量音频数据的高密度光记录介质，例如，蓝光盘(Blu-ray Disc，BD)。
基于下一代记录介质技术的BD已经被考虑作为下一代光记录解决方案，能够存储比常规DVD更多的数据。近来，许多开发者已经着手密集的研究有关BD连同其他的数字设备的国际标准技术规范。
然而，还没有建立用于BD中的优选的数据记录方法，以至于在开发基于BD的光记录/再现设备中出现许多限制和问题。
发明内容
因而，本发明针对在记录介质中记录数据的方法和装置，其充分地克服由于现有技术的限制和缺点所引起的一个或多个问题。
本发明的目的是提供一种方法和装置，用于确定在诸如BD的记录介质中的测试区域的开始位置，和最大限度的使用有限的记录区。
下面的描述将部分地阐述本发明附加的优点、目的和特征，通过检验下述内容这些附加优点、目的和特征对于本领域技术人员将变得显而易见，或可以从本发明的实践中学习。通过所述的说明书和权利要求以及附图所特别指出的结构可以实现和获得本发明的目的和其它的优点。
为实现这些目的和其他的优点以及根据本发明的目的，如在此具体实施和广义所述的，根据本发明的一个方面，涉及一种在包括摆动形状的测试区域的记录介质中记录数据的方法，包括步骤：
a)确定先前使用的测试区域；
b)通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索测试区域的最佳功率控制开始位置；
c)执行最佳功率控制处理以在搜索的最佳功率控制开始位置上计算最佳写功率；和
d)利用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
根据本发明的另外一个方面，涉及一种在包括摆动形状的测试区域的记录介质中记录数据的方法，包括步骤：
a)确定先前使用的测试区域；
b)通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索与匹配表的信息一致的测试区域的当前最佳功率控制开始位置；
c)执行最佳功率控制处理以在搜索的最佳功率控制开始位置上计算最佳写功率；和
d)使用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
根据本发明的另外一个方面，涉及一种用于搜索包括摆动形状的测试区域的记录介质的最佳功率控制开始位置的方法，包括步骤：
a)确定测试区域中的先前使用的测试区；
b)基于预刻槽地址字开始信息来确定摆动计数开始基准位置；和
c)通过在摆动计数开始基准位置上计数摆动数，搜索记录介质的最佳功率控制执行开始位置，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
根据本发明的另外一个方面，涉及一种用于搜索包括摆动形状的测试区域的记录介质的最佳功率控制开始位置的方法，包括步骤：
a)确定测试区域中先前使用的测试区；
b)基于预刻槽地址字开始信息来确定摆动计数开始基准位置；和
c)通过在摆动计数开始基准位置上计数相应于匹配表的摆动数，搜索记录介质的最佳功率控制执行开始位置，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
根据本发明的另外一个方面，涉及一种用于在记录介质中记录数据的装置，包括：
存储器，用于存储匹配表信息；
记录/再现单元，配置成在所述记录介质中记录数据；和
控制器，配置成：
确定先前使用的测试区域；
通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索测试区域的最佳功率控制开始位置；
执行最佳功率控制处理以在搜索的最佳功率控制开始位置上计算最佳写功率；和
利用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
应该明白的是，本发明的前面的一般性描述和下面的详细描述是示例性的，并意在提供对如权利要求的本发明的进一步的解释。
附图说明
所包括的附图提供本发明的进一步解释并被结合和构成本申请的一部分，本发明的实施例连同说明书来解释本发明的原理。在附图中：
图1是根据本发明的能够在其中记录数据的单层光盘结构；
图2是根据本发明优选实施例的能够在其中记录数据的双层的光盘结构；
图3是示例了根据本发明的用于执行最佳功率控制(OPC)的方法的概念图；
图4是示例了根据本发明的簇、ADIP(预刻槽地址)字、AUN(地址单元数)、ADIP单元和摆动间的关系的概念图；
图5显示了根据本发明第一优选实施例的AUN，ADIP字，和ADIP间的匹配表；
图6显示了根据本发明的一个例子，其中单一的ADIP字包括83个ADIP单元；
图7是示例了根据本发明的利用摆动计数处理搜索OPC开始位置的方法的概念图；
图8A是示例了根据本发明第一优选实施例的利用匹配表搜索OPC开始位置的方法的概念图；
图8B是示例了根据本发明第二优选实施例的利用匹配表搜索OPC开始位置的方法的概念图；
图8C是示例了根据本发明第三优选实施例的利用匹配表搜索OPC开始位置的方法的概念图；
图9是示例了根据本发明的光记录/再现设备的方框图；和
图10是示例了根据本发明使用该光记录/再现设备的在记录介质中记录数据的方法的流程图。
具体实施方式
现在将详细参考本发明的一些实施例，其例子被示例在附图中。只要可能的话，整个附图中使用的相同的参考数字表示相同的部分。
在描述本发明之前，应该注意的是，本发明中公开的多数术语对应于本领域公知的通用术语，但根据需要申请人选择了一些术语并在下面公开在本发明的以下的描述中。因此，最好是基于本发明中它们的含义来理解由申请人所定义的术语。
用于本发明中的记录介质表示所有的可记录的介质，例如，根据各种记录方案的光盘和磁带等等。为便于描述和更好的理解本发明，在本发明中此后将示例性地使用诸如BD的光盘作为上述的记录介质。应该注意的是，在不脱离本发明的范围和精神的情况下，本发明的技术思想可以应用于其它的记录介质。
术语“最佳功率控制(OPC)区域”表示被分配的预定的区域以执行记录介质中的OPC处理。术语“最佳功率控制(OPC)”表示当在可记录的光盘中记录数据时能够计算最佳写功率预定的处理。
换句话说，如果光盘被装入特定的光记录/再现设备中，光记录/再现设备重复地执行用于在光盘的OPC区域中记录数据，并再现记录的数据的预定的处理，以便它计算应用于该光盘的最佳写功率。此后，当在光盘中记录数据时，光记录/再现设备使用计算的最佳写功率。因此，OPC区域是可记录光盘所需的。
术语“驱动校准区(DCZ)区域”表示记录介质中的由光记录/再现设备(或驱动)所使用的特定区域，并可以不仅执行OPC处理而且可以执行光记录/再现设备所需的各种测试。
在此情况下，OPC区域和DCZ区域被用于OPC处理。根据本发明，OPC区域和DCZ区域通常被称作测试区域或测试区。注意的是，OPC区域中执行的OPC甚至可以应用到DCZ区域中。
图1是其中能够记录数据的单层的光盘结构。出于方便描述，图1中示出了能够在其中记录数据的单层的BD-R。
参考图1，根据盘内部情况光盘顺序地包括内部区域，数据区域，和外部区域。包含在每个内部区域和外部区域中的特定区域被作为用于记录盘管理信息的记录区域或测试区域。数据区域其中记录实际的用户数据。下面描述内部区域和外部区域的详细说明。内部区域包括PIC(永久信息&控制数据)区域，OPC区域，和两个信息区域(即info-areas)IN1和IN2。PIC区域记录盘管理信息，作为压制的(embossed)HFM(高频调制的)信号。作为测试区域的OPC区域适于执行OPC处理。信息区域IN1和IN2记录各种盘管理信息，其包括缺陷管理区(DMA)。
在此情况下，一次写入型BD-R进一步包括相邻于OPC区域的临时盘管理区(TDMA)。
下面将描述外部区域的详细描述。外部区域包括两个其他的信息区域IN3和IN4，DCZ区域，和保护区(Pr3)。
根据本发明的BD-R在包括槽脊部分(land part)和槽部分的记录层的槽部分中记录数据。槽部分包括HFM-槽和摆动槽。
特别的，利用有关正弦波的调制方法将摆动槽以摆动形状的形式配置在记录层所包含的摆动槽中。利用上述的摆动形状，光记录/再现设备可以读取相应的槽的地址信息(即，ADIP：预刻槽地址)和通用的盘信息。
图2是根据本发明的其中能够记录数据的双层光盘结构。
具体的，图2显示了能够在其中记录数据的一次写入型双层BD-R。在此情况下，两个记录层的一个被称作“层0(L0)”而另一个被称作“层1(L1)”。
如图2所示，根据本发明的一次写入型双层BD-R中，各个记录层具有相同的结构。记录层L0的内部区域包括作为测试区域的OPC区域，记录层L1的内部区域包括作为测试区域的DCZ区域。
因此，如果盘被装入光记录/再现设备中，光记录/再现设备利用OPC区域和/或DCZ区域中的OPC处理来计算最佳写功率。换句话说，如果盘被装入光记录/再现设备中，光记录/再现设备如单层光盘结构中般执行记录/再现操作。
下面将描述用于存储测试区域的管理信息的区域。
图3是示例了根据本发明的执行OPC处理的方法的概念图。
在记录介质中光记录/再现设备的记录介质跟踪方向被确定是物理扇区数(PSN)增加方向，沿该方向PSN增加。记录介质中的OPC处理执行方向被确定成PSN减小方向，沿该方向PSN从高PSN至低PSN的方向上减小。
OPC处理之后的记录方向被确定是以与跟踪方向中相同的方式从低PSN向高PSN的PSN增加方向。
结合上述的描述，用于在记录介质的数据区域中记录数据的单元是1-簇单元，并且通过在OPC区域中执行OPC处理记录数据的单元可以作为1-簇单元。然而，通过OPC处理获得的数据记录区域可以小于1簇，也可以大于1簇。
例如，被记录执行OPC处理的记录数据的单元等于地址单元数(AUN)。AUN表示数据记录时间期间所使用的地址信息。本领域技术人员显而易见的是，作为在数据记录之前形成的先前区域的未使用的OPC区域不包括上述AUN信息。
在此情况下，AUN作为具有小于簇的范围的单元，并且单一的簇包括16个AUN。更具体的，由光记录/再现设备选择单一的OPC处理执行长度，并且不限于物理簇数。
因此，如上所述，当记录OPC处理获得的数据时，以AUN单元而不是簇单元记录数据。具体的，BD-R具有有限的OPC区域并且不能再次使用一次使用了的OPC区域，使得对于BD-R需要最大限度地使用有限的OPC区域。因此，确定簇中新的OPC处理的开始位置是很重要的。
图3显示了三个OPC处理被执行的特定情况。更为具体的，图3显示了多个部分，每个执行OPC处理，和多个OPC标记，用于标识各个部分。
以“簇#P+1”表示用于执行第一OPC处理的部分，并且其包括以“OPC #M”表示的第一部分，和以“OPC标记#M”表示第二部分。“OPC #M”部分其中记录数据，并且“OPC标记#M”部分标识“OPC#M”部分。
用于执行第二OPC处理的部分包括“簇#P”，“簇#N”，和“簇#N-1”的一些部分。以“OPC#M+1”表示的部分其中记录数据，并且“OPC标记#M+1”标识“OPC #M+1”部分。
用于执行第三OPC处理的部分包括“簇#N-1”部分的一些部分。更为具体的，用于执行第三OPC处理的部分包括“OPC #M+2”和“OPC标记#M+2”。“OPC #M+2”部分其中记录数据，而“OPC标记#M+2”部分标识“OPC #M+2”部分。在此情况下，定位在“OPC标记#M+2”部分之前的“簇#N-2”和“簇#N-1”部分作为未使用的簇区域。
结合上述的描述，在能够标识有关OPC处理的数据记录区域的OPC标记中，两个连续的OPC标记之间的距离等于或小于相应于16簇的预定的距离。例如，为了满足需要至少16簇的OPC处理中的上述需求，OPC标记必须被插入OPC处理中。在此情况下，上述的OPC标记必须具有相应于至少868个NML(标称摆动长度，Nominal WobbleLength)的预定的长度。
图3所示的“OPC#M”部分占用OPC区域中单一的簇(即，1簇)。“OPC#M+1”部分占用OPC区域中大于1簇的预定的区域。“OPC#M+2”部分占用OPC区域中小于1簇的预定区域。应该明白，以小于簇单元的单元，例如，AUN单元，来执行该OPC处理。
因此，通过最后的OPC处理记录的“OPC#M+2”部分占用OPC区域中小于1簇的预定区域，而表示“簇#N-1”的一些部分的部分“A”保留未使用。
图4是示例了根据本发明的簇，ADIP字，AUN，ADIP单元和摆动中的关系。
参考图4，图4中显示了OPC区域中的1簇。1簇包括13944个摆动，且包括249个ADIP单元。1簇对应于498个同步帧，并还对应于3ADIP字。在此情况下，三个ADIP字是ADIP字0，ADIP字1，和ADIP字2，如图4所示。
结合上述的说明，1个ADIP字包括83个ADIP单元，而ADIP单元包括56个摆动。1簇包括16个AUN。在此情况下，单一的AUN对应于868个摆动的长度，并也对应于15.5个ADIP单元。在此情况下，摆动表示NWL(标称摆动长度)。
图5显示了根据本发明第一优选实施例的AUN，ADIP字和ADIP单元中的匹配表。
参考图5，1AUN的长度等于15.5ADIP单元的长度，以至于各个AUN的开始位置上的各个ADIP字匹配于包含在各个ADIP字中的ADIP单元，使得生成表。
图5所示的AUN0对应于“ADIP字0”的“0ADIP单元”。AUN1对应于“ADIP字0”的“15.5ADIP单元”。AUN2对应于“ADIP字0”的“3ADIP单元”。AUN3对应于“ADIP字0”的“46.5ADIP单元”。AUN4对应于“ADIP字0”的“62ADIP单元”。AUN0对应于“ADIP字0”的“77.5ADIP单元”。
从AUN6起的AUN对应于“ADIP字1”的区域。
AUN6对应于“ADIP字1”的10ADIP单元。
AUN7对应于“ADIP字1”的25.5ADIP单元。
AUN8对应于“ADIP字1”的41ADIP单元。
AUN9对应于“ADIP字1”的56.5ADIP单元。
AUN10对应于“ADIP字1”的72ADIP单元。
从AUN11起的AUN对应于“ADIP字2”的区域。
AUN11对应于“ADIP字2”的4.5ADIP单元。
AUN12对应于“ADIP字2”的20ADIP单元。
AUN13对应于“ADIP字2”的35.5ADIP单元。
AUN14对应于“ADIP字2”的51ADIP单元。
AUN15对应于“ADIP字2”的66.5ADIP单元。
图5所示的有关AUN和ADIP之间的匹配表的信息表示存储在光记录/再现设备中的信息。
图6显示了根据本发明的一个例子，其中单一的字包括83个ADIP单元。
从图6可以看出，ADIP字的9个首部ADIP单元顺序地包括“单音(monotone)单元”，“同步0单元”，“单音单元”，“同步1单元”，“单音单元”，“同步2单元”，“单音单元”，“同步3单元”，和“基准单元”。
从第10个ADIP单元(即ADIP单元编号＝9)至第83个ADIP单元(即ADIP单元编号＝82)的ADIP单元的每个包括“数据0单元”或“数据1单元”。通过经四比特组合ADIP单元形成15个单元，以至于上述的单元被称作“ADIP码字四位字节数(c0～c14)”。
相应的摆动的物理地址(即，物理ADIP地址“PAA”)和辅助的(AUX)数据被记录在上述的ADIP码字四位字节数(c0～c14)中。光记录/再现设备读取单一的ADIP字，以便它能识别当前盘的PAA位置。
图7是示例了根据本发明的利用摆动计数处理来搜索OPC开始位置的方法的概念图。
参考图7，包含在1簇中的先前使用(即，最后使用的)的OPC区域(即，AUN6～AUN15)表示10个AUN(地址单元数)，而未使用的OPC区域表示从AUN0至AUN5的6个AUN。最后使用的OPC区域中的AUN6能够通过把OPC标记插入AUN6的前面来检测，如图3所示。
通过光记录/再现设备预先确定表示当前OPC处理所需的预定大小的OPC执行大小，并能以各种方式被建立。假设OPC执行大小等于从AUN2至AUN5的4个AUN。
因此，如果用户期望从AUN2的预定位置执行新的OPC处理，用户必须搜索对应于AUN2的物理位置。
摆动信息适于搜索对应于AUN2的物理位置。必须基于表示图6所示的摆动的地址信息的ADIP信息来发现OPC开始位置。
为了利用摆动计数处理来确定OPC开始位置，需要得到摆动-计数的基准位置。如果在光记录/再现设备的检测处理中检测到预定的基准摆动，检测的基准摆动被认为是摆动计数基准位置。优选的，摆动计数基准位置可以等于簇的开始位置。
上述的表示摆动计数基准位置的簇开始位置与ADIP字的开始位置相一致。参考图6，ADIP字的9个首部ADIP单元顺序的包括“单音单元”，“同步_0单元”，“单音单元”，“同步1单元”，“单音单元”，“同步_2单元”，“单音单元”，“同步_3单元”，和“基准单元”。因此，如果在光记录/再现设备的搜索时间期间顺序地检测道ADIP字的9个首部ADIP单元或第一“单音单元”，则建立ADIP字开始位置。换句话说，簇开始位置被认为是摆动计数基准位置。
根据上述基准位置的另一个例子，包含在1簇中的ADIP字开始位置可以被认为是摆动计数基准位置。
换句话说，1簇包括三个ADIP字。假设1簇包括ADIP字0，ADIP字1，和ADIP字2。在此情况下，如果下一个OPC开始位置处于“ADIP字1”区域或“ADIP字2”区域中，表示“ADIP字2”区域的开始位置的ADIP字的9个首部ADIP单元顺序对应于“单音单元”，“同步_0单元”，“单音单元”，“同步_1单元”，“单音单元”，“同步_2单元”，“单音单元”，“同步_3单元”，“单音单元”，和“基准单元”。另一方面，如果第一“单音单元”被检测，“ADIP字1”区域的开始位置或“ADIP字2”区域的开始位置被确定为摆动计数基准位置，以便能够计数摆动数。
因此，如果摆动计数基准位置被确定，并且识别了作为记录的区域的先前使用的OPC区域的大小信息和当前OPC处理所需的OPC区域的大小信息，则光记录/再现设备在摆动计数基准位置上计数摆动数，并搜索驱动所期望的OPC开始位置。
根据图7所示的优选实施例，驱动计数AUN0和AUN1两个AUN的摆动。单一的AUN对应于868摆动的长度。因此，两个AUN对应于868*2摆动的长度，驱动计数868*2摆动数以确定OPC开始位置，并执行OPC处理以便在确定的OPC开始位置上计算最佳写功率。
图8A是示例了根据本发明第一优选实施例的利用匹配表搜索OPC开始位置的方法的概念图。
参考图8A，表示1簇的记录的区域的先前使用的OPC区域表示从AUN4至AUN15的12个AUN，并且未使用的OPC区域表示从AUN0至AUN3的4个AUN。
通过光记录/再现设备预先确定表示当前OPC处理所需的预定的大小的OPC执行大小，并能以各种方式建立。假设根据本发明的第一优选实施例，OPC执行大小等于从AUN2至AUN3的2个AUN。
因此，如果用户期望从AUN2的预定位置执行新的OPC处理，用户必须搜索相应于AUN2的物理位置。
为了搜索相应于AUN2的物理位置，光记录/再现设备利用拾取器单元读取记录介质的信息，并在同时搜索记录介质。在记录介质的搜索时间期间簇开始位置等于ADIP字0的开始位置，以便簇开始位置和ADIP字0的开始位置被确定为摆动计数的基准位置，而且在摆动计数基准位置上开始用于计数摆动数的操作。
结合上述说明，如果检测到预定的基准摆动，检测的基准摆动被认为是基准位置。从图6可以看出，表示ADIP字0的开始位置的ADIP字的9个首部ADIP单元顺序对应于“单音单元”，“同步0单元”，“单音单元”，“同步1单元”，“单音单元”，“同步2单元”，“单音单元”，“同步3单元”和“基准单元”。另一方面，如果第一“单音单元”被检测，ADIP字0的开始位置被设置为摆动计数基准位置，并计数摆动数。
因此，如果摆动计数基准位置被确定，并识别了作为记录的区域的先前使用的OPC区域的大小信息和当前OPC处理所需的OPC区域的大小信息，光记录/再现设备在摆动计数基准位置上计数摆动数，并搜索驱动所期望的OPC开始位置。参考根据本发明的第一优选实施例的图5所示的匹配表，对应的AUN2的ADIP单元数表示ADIP字0的31ADIP单元。
在此情况下，1ADIP包括56个摆动。如果包括56个摆动的1ADIP单元在摆动计数基准位置上被计数，并且然后建立31*56个摆动，则确定作为光记录/再现设备的驱动所期望的OPC开始位置。
因此，如果OPC开始位置被确定，执行能够在确定的OPC开始位置上计算最佳写功率的OPC处理。因此，基于从光记录/再现设备接收了作为相应的记录介质的盘的记录命令，以计算的最佳写功率执行记录命令，以便数据被记录在数据区域中。
结合上述的说明，另一个例子，包含在1簇中的ADIP字开始位
置可以被确定为摆动计数基准位置，下面将结合参考图8B-8C描述详细的说明。
图8B是示例了根据本发明第二优选实施例的利用匹配表搜索OPC开始位置的方法的概念图。
参考图8B，表示1簇的记录的区域的先前使用的OPC区域表示从AUN8至AUN15的8个AUN，而未使用的OPC表示从AUN0至AUN7的8个AUN。
通过光记录/再现设备预先确定表示当前OPC处理所需的预定的大小的OPC执行大小，并能以各种方式被建立。假设根据本发明的第二优选实施例，OPC执行大小等于从AUN6-AUN7的2个AUN。
因此，如果用户期望从AUN6的预定位置执行新的OPC处理，用户必须搜索相应于AUN6的物理位置。
为了搜索相应于AUN6的物理位置，光记录/再现设备利用拾取器单元读取记录介质的信息，并在同时搜索记录介质。整个记录介质的搜索时间期间，ADIP字1的开始位置被确定是摆动计数基准位置，以便在摆动计数基准位置上开始计数摆动数的操作。
结合上述说明，从图6可以看出，表示ADIP字1的开始位置的ADIP字的9个首部ADIP单元顺序的对应于“单音单元”，“同步0单元”，“单音单元”，“同步1单元”，“单音单元”，“同步2单元”，“单音单元”，“同步3单元”，和“基准单元”。另一方面，如果第一“单音单元”被检测，ADIP字1的开始位置被设置为摆动计数基准位置，并且对摆动数计数。
因此，如果摆动计数基准位置被确定，并识别了作为记录的区域的先前使用的OPC区域的大小信息和当前OPC处理所需的OPC区域的大小信息，光记录/再现设备在摆动计数基准位置上计数摆动数，并搜索驱动所期望的OPC开始位置。参考根据本发明的第二优选实施例的图5所示的匹配表，AUN6的对应ADIP单元数表示ADIP字1的10ADIP单元。
在此情况下，以与本发明的第一优选实施例相同的方式，1ADIP包括56个摆动。如果包括56摆动的1ADIP单元在摆动计数基准位置上被计数，并然后建立10*56个摆动立，确定作为光记录/再现设备的驱动所期望的OPC开始位置。因此，执行能够在确定的OPC开始位置上计算最佳写功率的OPC处理。
图8C是示例了根据本发明第三优选实施例的利用匹配表搜索OPC开始位置的方法的概念图。
参考图8C，表示1簇的记录的区域的先前使用的OPC区域表示从AUN13至AUN15的3个AUN，并且未使用的OPC表示从AUN0至AUN12的13个AUN。
通过光记录/再现设备预先确定表示当前OPC处理所需的预定的大小的OPC执行大小，并能以各种方式被建立。假设根据本发明的第三优选实施例，OPC执行大小等于从AUN11至AUN12的2个AUN。
因此，如果用户期望从AUN11的预定位置执行新的OPC处理，用户必须搜索相应于AUN11的物理位置。
为了搜索相应于AUN11的物理位置，光记录/再现设备利用拾取器单元读取记录介质的信息，并在同时搜索记录介质。在记录介质的搜索时间期间，ADIP字2的开始位置被确定是摆动计数基准位置，以便在摆动计数基准位置上开始计数摆动数的操作。
结合上述说明，从图6可以看出，表示ADIP字2的开始位置的ADIP字的9个首部ADIP单元顺序的对应于“单音单元”，“同步0单元”，“单音单元”，“同步1单元”，“单音单元”，“同步2单元”，“单音单元”，“同步3单元”，和“基准单元”。另一方面，如果第一“单音单元”被检测，ADIP字2的开始位置被设置为摆动计数基准位置，并对摆动数计数。
因此，如果摆动计数基准位置被确定，并识别了作为记录的区域的先前使用的OPC区域的大小信息和当前OPC处理所需的OPC区域的大小信息，光记录/再现设备在摆动计数基准位置上计数摆动数，并搜索驱动所期望的OPC开始位置。参考根据本发明的第三优选实施例的图5所示的匹配表，AUN11的对应ADIP单元数表示ADIP字2的4.5ADIP单元。
在此情况下，以与本发明的第一优选实施例相同的方式，1ADIP单元包括56个摆动。如果包括56摆动的1ADIP单元是在摆动计数基准位置上被计数的，且然后建立4.5*56摆动，则确定作为光记录/再现设备的驱动所期望的OPC开始位置。因此，执行能够在确定的OPC开始位置上计算最佳写功率的OPC处理。
因此，如果摆动计数基准位置被确定，且识别了作为记录的区域的先前使用的OPC区域的大小信息和当前OPC处理所需的OPC区域，则能确认光记录/再现设备在摆动计数基准位置上计数摆动数，并搜索驱动所期望的OPC开始位置。
图9是示例了根据本发明的光记录/再现设备的方框图。
参考图9，光记录/再现设备包括：记录/再现单元20，用于在光盘中记录数据/从光盘再现数据；和控制器12，用于控制记录/再现单元20。
记录/再现单元20包括拾取器单元11，信号处理器13，伺服单元14，存储器15，和微处理器16。拾取器单元11直接的在光盘中记录数据，或读取光盘中记录的数据。信号处理器13从拾取器单元11接收读取的信号，把接收的信号恢复为期望的信号值，或把要记录的信号调制成为光盘中记录的另一个信号，以便它发送恢复的或调制的结果。伺服单元14控制拾取器单元11的操作，以便它从光盘中正确地读取期望的信号，并正确地在光盘中记录信号。存储器15不仅临时的存储管理信息而且存储数据。微处理器16控制上述部件的整体操作。
上述的记录/再现单元20在记录介质的测试区域中执行预定的测试，以便计算最佳写功率，和记录计算的最佳写功率。
结合上述的说明，只包括记录/再现单元20的光记录/再现设备被称作驱动，并且通常作为计算机的外围设备。
控制器12控制整个组成部件的操作。结合本发明，控制器12通过与用户接口连接来参考用户命令，并将能够在光盘中记录数据/从光盘再现数据的记录/再现命令发送到记录/再现单元20。
基于从控制器12接收的控制信号，解码器17解码从光盘读取的信号，把解码的信号恢复为期望的信息，并发送恢复的信号给用户。
编码器18从控制器12接收控制信号以在光盘中记录期望的信号，把接收的信号转换为特定格式信号(例如，MPEG2传送流)，并发送特定格式信号到信号处理器13。
存储器15存储图5所示的匹配表信息。微处理器16利用存储在存储器15中的匹配表信息执行记录介质测试，计算最佳写功率，并控制能够以计算的最佳写功率记录最佳写功率的记录/再现单元20，。
图10是示例了根据本发明的利用光记录/再现设备在记录介质中记录数据的方法的流程图。
参考图10，在步骤S10，如果包括OPC和DCZ区域的光盘被装入光记录/再现设备中，包含在记录/再现单元20中的微处理器16利用伺服单元14来控制拾取器单元11，并执行装入的盘的扫描以读取有关先前使用的OPC区域的信息，以便它识别先前使用的OPC区域。
结合上述的说明，用于存储记录介质的管理信息的TDMA区域也存储有关OPC区域的管理信息，以便它存储有关先前使用的OPC区域的信息，特别的，指示先前使用的OPC区域的开始位置的信息。
在步骤S20，在光记录/再现设备中预先确定当前OPC处理所需的OPC区域的大小，以便微处理器16识别该OPC区域的大小。
此后，在步骤S30，确定摆动计数基准位置。如前所述，摆动计数基准位置表示簇开始位置或作为ADIP字的ADIP字0，ADIP字1，和ADIP字2的开始位置。ADIP字的9个首部ADIP单元与ADIP字的开始位置相关，并顺序的包括“单音单元”，“同步0单元”，“单音单元”，“同步1单元”，“单音单元”，“同步2单元”，“单音单元”，“同步3单元”，和“基准单元”。另一方面，如果第一“单音单元”被检测，能识别摆动计数基准位置。值得可取的，ADIP字的开始位置被设置为摆动计数基准位置。
如果在步骤S30检测了摆动计数基准位置，光记录/再现设备的微处理器16在确定的摆动计数基准位置上开始计数摆动数以便在步骤S40搜索下一个OPC开始位置。
当利用匹配表搜索OPC开始位置时，微处理器16还搜索与匹配表所示的ADIP单元相一致的摆动。更为具体的，微处理器16计数与ADIP单元一致的摆动数。在此情况下，摆动计数开始位置作为下一个OPC开始位置。
在步骤S50，记录/再现单元20执行OPC处理以在搜索的当前OPC开始位置上计算最佳写功率。基于从控制器12接收了相应盘的记录命令，记录/再现单元20以计算的最佳写功率执行相应的记录命令，并在数据区域中记录数据。
因此，本发明提供了搜索其上执行当前OPC处理的OPC开始位置的方法，以便有效的使用OPC区域中的未使用的OPC区域，从而可以在搜索的OPC开始位置上执行OPC处理。
工业实用性
对于本领域技术人员来说显而易见的是，在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在本发明中可以作出各种修改和变化。因此，本发明意在覆盖落在所附权利要求和它们的等效物范围内的该发明的修改和变化。

Claims (19)

1.一种在包括摆动形状的测试区域的记录介质中记录数据的方法，包括步骤：
a)确定先前使用的测试区域；
b)通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索测试区域的最佳功率控制开始位置；
c)执行最佳功率控制处理以在搜索的最佳功率控制开始位置上计算最佳写功率；和
d)利用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
2.根据权利要求1的方法，进一步包括步骤：
确定当前最佳功率控制处理所需的最佳功率控制区域大小。
3.根据权利要求1的方法，其中该记录介质表示可记录蓝光盘。
4.根据权利要求1的方法，其中步骤a)基于存储在记录介质中的管理信息来确定先前使用的测试区域。
5.根据权利要求4的方法，其中该管理信息被存储在记录介质的临时盘管理区中。
6.根据权利要求5的方法，其中：
该临时盘管理区指示先前使用的测试区域的开始位置。
7.根据权利要求1的方法，其中步骤b)包括步骤：如果检测到预定的基准摆动，则确定摆动计数基准位置。
8.根据权利要求1的方法，其中步骤b)包括步骤：确定指示物理簇的开始位置的摆动计数基准位置。
9.根据权利要求1的方法，其中步骤b)包括步骤：确定指示预刻槽地址字的开始位置的摆动计数基准位置。
10.根据权利要求9的方法，其中通过包含在预刻槽地址字中的预刻槽地址单元的信息来识别预刻槽地址字的开始位置。
11.根据权利要求1的方法，其中步骤b)包括确定当前最佳功率控制处理所需的最佳功率控制执行大小。
12.一种在包括摆动形状的测试区域的记录介质中记录数据的方法，包括步骤：
a)确定先前使用的测试区域；
b)通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索与匹配表的信息一致的测试区域的当前最佳功率控制开始位置；
c)执行最佳功率控制处理以在搜索的最佳功率控制开始位置上计算最佳写功率；和
d)使用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
13.根据权利要求12的方法，其中该匹配表信息包括地址单元数信息，预刻槽地址字信息，和预刻槽地址单元信息。
14.根据权利要求13的方法，其中包含在匹配表中的预刻槽地址单元信息指示各个预刻槽地址字的预刻槽地址单元信息。
15.一种用于搜索包括摆动形状的测试区域的记录介质的最佳功率控制开始位置的方法，包括步骤：
a)确定测试区域中的先前使用的测试区；
b)基于预刻槽地址字开始信息来确定摆动计数开始基准位置；和
c)通过在摆动计数开始基准位置上计数摆动数，搜索记录介质的最佳功率控制执行开始位置，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
16.一种用于搜索包括摆动形状的测试区域的记录介质的最佳功率控制开始位置的方法，包括步骤：
a)确定测试区域中先前使用的测试区；
b)基于预刻槽地址字开始信息来确定摆动计数开始基准位置；和
c)通过在摆动计数开始基准位置上计数相应于匹配表的摆动数，搜索记录介质的最佳功率控制执行开始位置，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
17.根据权利要求16的方法，其中该匹配表信息包括地址单元数信息、预刻槽地址字信息和预刻槽地址单元信息。
18.一种用于在记录介质中记录数据的装置，包括：
存储器，用于存储匹配表信息；
记录/再现单元，配置成在所述记录介质中记录数据；和
控制器，配置成：
确定先前使用的测试区域；
通过在摆动计数基准位置上计数摆动数，搜索测试区域的最佳功率控制开始位置；
执行最佳功率控制处理以在搜索的最佳功率控制开始位置上计算最佳写功率；和
利用计算的最佳写功率在数据区域中记录数据，
其中所述搜索包括：
确定包括多个预刻槽地址单元的预刻槽地址字的开始位置，作为用于搜索与所述最佳功率控制开始位置相对应的物理位置的摆动计数基准位置，其中，存储在光记录/再现设备中的匹配表将地址单元数与预刻槽地址单元匹配，
其中该测试区域是最佳功率控制区域。
19.根据权利要求18的装置，其中该存储器存储包括地址单元数信息、预刻槽地址字信息和预刻槽地址单元信息的匹配表信息。
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