CN100385539C - 光盘基板和光盘 - Google Patents

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Abstract

在光盘基板上具有数据区域和偏心测定区域(14)，数据区域是用于记录以及/或再生数据；偏心测定区域是形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置。形成在该偏心测定区域上的凹槽区域的宽度、反射镜区域的宽度以及凹槽区域上的凹槽的间隔被选择成为现有的机械特性测定装置可以将形成在凹槽区域上的多条凹槽作为一条凹槽进行跟踪。

Description

光盘基板和光盘
技术领域
本发明涉及光盘基板和光盘，特别是信息信号部和透光层被依次设置在光盘基板上，通过从设置有透光层一侧照射激光，适用于进行信息信号的记录以及/或再生的光盘。
背景技术
近年来，使存储介质(Recording media)的存储容量进一步大容量化被盼望已久。因此，以下的研究非常盛行，即现在最为广泛普及的存储介质之一的光盘通过使记录密度进行高密度化、使记录容量进一步大容量化。
例如，即作为实现使记录密度高密度化的方法之一提出有以下方法，即通过使用于信息信号的记录以及/或再生的激光短波长化的同时、加大物镜的数值孔径NA(Numerical Aperture)来缩小电子束光点直径。
例如，在CD(Compact Disc)的光学系统中，具有输出波长为780nm或830nm的激光的半导体激光和NA为0.45的物镜，相反，在近年来广泛普及的DVD(Digital Versatile Disc)的光学系统中，具有输出波长为660nm的激光的半导体激光和NA为0.6的物镜。通过具有这样的光学系统，DVD可以达到CD的大约8倍的记录容量。
但是，随着推进这样的物镜的高NA化，产生了以下问题，即由于光盘的斜度产生的光的像差增大，光盘面的斜度(倾斜)对于拾波器的光轴的容许量减小。为了解决该问题，提出了将透过激光的基板的厚度变薄的方案。例如，与在CD上使用1.2mm厚度的基板相反，在DVD上使用0.6mm厚度的基板。
今后，对于光盘，考虑到存储HD(High Definition)等的画面，DVD程度的存储容量是不够的。因此，要求将用于信息信号的记录以及/或再生的激光进一步短波长化、物镜更加高NA化以及基板更加薄型化。
在此，提出有以下方案，即在形成在基板上的信息信号部上形成具有0.1mm厚度的透光层，通过具有0.85NA的物镜、从该透光层侧向信息信号部照射波长为405nm的激光来进行信息信号的记录以及/或再生的下一代光盘。这样，由于下一代光盘具有不是从基板侧而是从透光层侧入射激光的构成，因此尽管是0.85这样高的NA，也可以充分增加倾斜的容许量。
在制造该下一代光盘时，要求将弯曲和偏心抑制到比现有的光盘更小。因此，在制造下一代光盘时，为了保证最终产品的机械特性，重要的是在制造工序中的早期阶段对于刚成型的透明基板进行机械特性的测定，进行早期反馈。
作为现有的测定光盘的斜度或偏心等的机械特性的方法，提出有光学测头法等的测定方法(例如，参照特开平3-120640号公报)。
在使用光学测头法进行机械特性测定的装置中，需要具备拾波器，该拾波器对应测定机械特性的光盘的格式即基板或透光层的厚度以及轨间距的大小。这是由于使用光学测头法测定光盘的机械特性的情况下，需要将利用拾波器聚光的光与凹槽随动。
以下方法被提出，即利用机械特性测定装置测定用于下一代光盘的光盘基板的机械特性，该机械特性测定装置使用该光学测头法。在该方法中，在光盘基板上至少形成反射膜和厚度为0.1mm的透光层，通过从该透光层侧照射激光来测定光盘基板的机械特性。这样，通过在光盘基板上至少形成反射膜和厚度为0.1mm的透光层，可以测定光盘基板的机械特性。
但是，为了这样测定光盘基板的机械特性，必须形成0.1mm的透光层，在刚成型的透明基板的状态下，不能测定光盘基板的机械特性。因此，制造上的反馈迟缓，其结果导致光盘的生产效率降低。
在此，提出有以下方法，即，在没有形成0.1mm的透光层的状态下，在形成在光盘基板上的凹槽上设置可以使激光聚光的拾波器，用于机械特性测定装置。但是，只是出于测定透明基板的机械特性的目的设计这样的拾波器、用于机械特性测定装置的做法会导致生产设备的费用提高。
在此，提出有以下方法，即，使用光盘的机械特性测定装置对用于下一代的光盘的机械特性进行测定，该光盘的机械特性测定装置利用现有的广泛普及的光学测头法。该机械特性测定装置用于测定1.2mm的光盘基板的偏心量，具有拾波器，该拾波器具有输出波长为680nm的激光的半导体激光和NA为0.55的物镜。在上述的下一代的光盘中，由于使用了具有1.1mm左右厚度的基板，因此，通过光盘基板将激光进行聚光，用该现有的机械特性装置也可以测定砂轮端面的摆动量或光盘的斜度等。
但是，在上述下一代的光盘的格式中，由于轨间距在小于等于0.6μm，因此，现有的机械特性装置的光学系统不能得到足够大的跟踪误差信号。即，现有的机械特性测定装置不能测定偏心量。
发明内容
因此，本发明的课题是提供以下光盘基板和光盘，即在数据区域的凹槽的间隔为小于等于0.6μm的光盘上，可以在刚成型的透明基板的状态下容易地进行偏心量的测定。
本发明者为了解决现有的技术具有的上述课题，进行了锐意研究。以下就其概要进行说明。
根据本发明者的见解，利用现有的机械特性测定装置不能测定轨间距为小于等于0.6μm的光盘基板的偏心量是由于该格式的光盘基板不能得到足够大的跟踪误差信号。
在此，本发明者为了解决上述课题，就在轨间距为小于等于0.6μm的光盘基板上，用现有的机械特性测定装置可以得到足够大的跟踪误差信号的方法进行了锐意研究。其结果，想到了以下方法，即设置用于测定偏心的偏心测定区域、只在该偏心区域内扩大凹槽的间隔。
但是，本发明者就该方法进行了进一步研究，其结果发现该方法有以下问题。
一般来说，数据区域的凹槽间隔形成为小于等于0.6μm的细凹槽的情况下，与此相对应，控制时的曝光激光的波长也必须缩短，例如，使用波长为266nm的激光。
但是，使用这样的短波长的激光的情况下，在上述偏心测定区域上，如果扩大轨间距，则凹槽宽度相对轨间距过于狭窄，不能得到足够的推挽信号，进而具有信号波形歪斜的问题。
作为多次进行上述研究的结果，本发明者想到在光盘基板上设置偏心测定区域，该偏心测定区域由形成螺旋状凹槽的凹槽区域和与该凹槽区域邻接的平面状的反射镜区域构成。
本发明根据以上的研究而形成。
因此，为了解决上述课题，本发明的第一发明是一种光盘基板，其特征在于，具有偏心测定区域，在所述偏心测定区域中，形成有螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置；上述偏心测定区域设置在非数据区域；上述偏心测定区域的宽度大于等于30μm小于等于3mm。
本发明的第二发明是一种光盘，其特征在于，具有光盘基板、信息信号部和保护层，该光盘基板具有偏心测定区域，在所述偏心测定区域中，形成有螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置；上述偏心测定区域设置在非数据区域；上述偏心测定区域的宽度大于等于30μm小于等于3mm；该信息信号部形成在光盘基板的一个主面上；该保护层保护信息信号部。
如上所述，根据本发明，由于光盘基板具有形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置的偏心测定区域，因此，现有的机械特性测定装置可以将形成螺旋状凹槽的凹槽区域识别成一条凹槽。
附图说明
图1是表示本发明的一个实施方式的光盘结构剖视图。
图2是表示本发明的一个实施方式的基板构成剖视图。
图3是表示本发明的一个实施方式的基板薄片构成剖视图。
图4是表示本发明的一个实施方式的光盘基板的立体图。
图5是表示本发明的一个实施方式的设置在光盘基板上的偏心测定区域的俯视图。
图6是表示波节上的推挽信号的简略波形线图。
图7是在偏心测定区域上，在相邻的凹槽区域移动拾波器时产生的推挽信号的简略波形线图。
图8是表示本发明的一个实施方式的光盘的数据再生时的图象的剖视图。
图9是表示测定本发明的一个实施方式的光盘基板的机械特性时的图象的剖视图。
图10是表示本发明的一个实施方式的变型例的设置在光盘基板上的偏心测定区域的俯视图。
具体实施方式
以下一面参照附图一面就本发明的实施方式进行说明。在以下实施方式的所有的附图中，相同或者对应的部分使用相同的符号。
图1是表示一例本发明的一个实施方式的光盘结构。图2是表示一例本发明的一个实施方式的基板构成。图3是表示一例本发明的一个实施方式的薄片的构成。
如图1所示，本发明的一个实施方式的光盘主要由在中央部具有中心孔1b的圆环形的基板1和在中央部具有贯通孔2c的平面圆环形的透光层2构成。本实施方式的光盘的构成是通过从设置有薄的透光层2侧向基板1照射激光，进行信息信号的记录以及/或再生。另外，透光层2是通过向图2所示的形成基板1的信息信号部1c侧的一个主面粘贴图3所示的薄片4而形成。
另外，如图1所示，在光盘的中心孔1b的附近设定有用于将光盘安装在主轴电动机上的夹紧区域3。该夹紧区域3的内周径从22mm～24mm中选择，例如选择23mm。夹紧区域3的外周径从32mm～34mm中选择，例如选择33mm。
如图2所示，基板1在中央部形成中心孔1b的同时，由光盘基板1a和信息信号部1c构成，光盘基板1a是在一个主面上形成平面和凹槽；信息信号部1c被形成在该光盘基板1a的一个主面上。在形成平面和凹槽的区域上设定有数据区域和偏心测定区域。另外，在本发明的实施方式中，在光盘基板1a的一个主面上将靠近入射光的称为凹槽，将在该凹槽与凹槽之间形成的部分称为平面。
图4是表示本发明的一个实施方式的光盘基板1a的立体图。如图4所示，在该光盘基板1a上，非数据区域11、数据区域12和非数据区域13被从内周侧向着外周侧依次设置，非数据区域11用于将光盘基板1a安装在主轴电动机上；数据区域12用于形成信息信号部1c；非数据区域13具有用于测定光盘基板1a偏心的偏心测定区域14。在此以在外周侧上的非数据区域13上设置偏心测定区域14为例，也可以在内周侧上的非数据区域11上设置偏心测定区域。
光盘基板1a的厚度从0.6mm～1.2mm中选择，例如选择1.1mm。光盘基板1a的直径(外径)例如是120mm，中心孔1b的开口径(内口径)例如是15mm。在数据区域12上，数据被记录在凹槽上或平面上的任何一方或双方上。以下所示的是选择记录在凹槽上的方式。形成在数据区域12上的凹槽间的距离(轨间距)例如被设定为0.32μm。至于形成在数据区域12上的凹槽的宽度，根据信号特性进行选择，例如选择0.22μm(半值宽度)。
另外，光盘基板1a至少由例如可以透过用于测定基板1a的机械特性的激光的材料构成。作为构成该光盘基板1a的材料，可以使用例如聚碳酸酯(PC)或环烯聚合物(例如ゼォネックスZEONEX(注册商标))等低吸水性的树脂。
信息信号部1c通过被设置反射膜、光磁性材料形成的膜、相变化材料形成的膜或者有机色素膜等而构成。具体是，作为最终产品的光盘是再生专用型(ROM(Read Only Memory))光盘的情况下，信息信号部1c被设置至少具有例如Al、Al合金或者Ag合金等形成的单层膜或层积膜而构成。另外，作为最终产品的光盘是可涂改型光盘的情况下，信息信号部1c被设置有至少具有以下的单层膜或层积膜而构成，即TbFeCo类合金、TbFeCoSi类合金或TbFeCoCr类合金等光磁性材料形成的膜或者GeSbTe合金、GeInSbTe类合金或AgInSbTe合金等相变化材料形成的膜。另外，作为最终产品的光盘是在追加记录型光盘的情况下，信息信号部1c由以下的单层膜或层积膜构成，即至少具有由GeTe类材料等的相变化材料形成的膜或者由花青染料色素或酞箐染料色素等有机色素材料形成的膜。
偏心测定区域14是用于测定光盘的偏心量的区域，具体是利用现有的光盘的机械特性测定装置、测定光盘的偏心量的区域。另外，在本发明的一个实施例中，作为一例，现有的机械特性测定装置是测定基板厚度为1.2mm的光盘(例如小型光盘)的机械特性的机械特性测定装置，具体是表示具有以下光学系统的机械特性测定装置，即具有输出波长680nm激光的半导体激光和NA为0.55的物镜的光学系统。
图5是表示形成在光盘基板1a的一个主面上的偏心测定区域14的俯视图。如图5所示，该偏心测定区域14是凹槽区域和平面上的反射镜区域在空间相互交错地设置构成，凹槽区域形成有螺旋状的凹槽。该偏心测定区域14的宽度选择为大于等于光盘基板1a的制造工序中产生的偏心量的最大值。由于在现有的光盘基板1a的制造工序中产生的偏心量的最大值为30μm左右，因此，作为该偏心测定区域14的宽度至少需要大于等于30μm。至于上限，从偏心测定来看没有特别限制。但是，由于如果增加该偏心测定区域14的宽度，则数据区域12的宽度减少，因此偏心测定区域14的宽度最好设定在小于3mm。通过上述，偏心测定区域14在30μm～3mm的范围选择，例如选为100μm。
在凹槽区域上，螺旋状的凹槽被以中心孔1b为中心形成。这样，通过形成凹槽，现有的机械特性测定装置可以得到足够大的跟踪误差信号(推挽信号)。即，现有的机械特性测定装置可以进行跟踪动作。
凹槽区域或反射镜区域的重复间隔d3根据机械特性测定装置的光学系统进行选择。即，重复间隔d3被选择为机械特性测定装置的光学系统可以象跟踪一条凹槽一样跟踪凹槽区域。使用上述现有的机械特性测定装置的情况下，凹槽区域与反射镜区域的重复间隔d3从0.7μm～2.5μm的范围选择，例如选为1.6μm。如果重复间隔d3大于等于0.7μm，则具有上述光学系统的机械特性测定装置可以得到足够大的跟踪误差信号(推挽信号)。即，可以进行稳定的跟踪动作。另外，如果重复间隔d3小于等于2.5μm，则具有上述光学系统的机械特性测定装置可以得到走形小的跟踪误差信号(推挽信号)。
凹槽区域的宽度可以根据测定光盘的机械特性的机械特性测定装置的光学系统进行选择。即，被选择为机械特性测定装置的光学系统可以象跟踪一条凹槽一样跟踪凹槽区域。
使用上述现有的机械特性测定装置测定光盘的机械特性时，如果可以得到充分的大小并且没有走形的推挽信号，则凹槽的宽度可以选择成任何宽度。一般来说，通过在上述凹槽区域的重复间隔d3的0.2～0.8倍的范围内选择凹槽区域的宽度，可以满足上述特性。特别是通过将凹槽区域的宽度选择为上述凹槽区域的重复间隔d3的大约一半左右，可以得到以最大的振幅、并且抑制走形的推挽信号。例如，凹槽区域的重复间隔d3选择为1.6μm的情况下，凹槽区域的宽度选择为例如0.8μm。
与凹槽区域邻接形成的反射镜区域是没有形成凹槽的平面状的区域。该反射镜区域的宽度根据对光盘的机械特性进行测定的机械特性测定装置的光学系统进行选择。即，被选择为机械特性测定装置的光学系统可以象跟踪一条凹槽一样跟踪凹槽区域。
使用上述现有的机械特性测定装置测定光盘的机械特性时，如果可以得到充分的大小并且没有走形的推挽信号，则反光镜区域可以选择成任何宽度。一般来说，通过在上述凹槽区域的重复间隔d3的0.2～0.8倍的范围内选择凹槽区域的宽度，可以满足上述特性。特别是通过将反射镜区域的宽度选择成上述凹槽区域的重复间隔d3的大约一半左右，可以得到以最大的振幅、并且抑制走形的推挽信号。例如，凹槽区域的重复间隔d3选择为1.6μm的情况下，反射镜区域的宽度选择为例如0.8μm。
一般来说，最好不螺旋状地间断地形成凹槽区域上的凹槽。如果螺旋状地间断地形成凹槽，则在其连接点上再生光的中心容易从凹槽的中心偏移。因此，推挽信号紊乱、不能进行稳定的跟踪动作。在此，连接点表示在凹槽区域上形成螺旋状的凹槽的一端以及另一端。
本实施方式的光盘以及光盘基板1a通过适当地选择凹槽区域上的凹槽的间隔d1，降低在连接点上的推挽信号的紊乱、实现稳定的跟踪动作。
凹槽区域上的凹槽的间隔d1，根据用于光盘基板1a的偏心测定的机械特性测定装置的光学系统和连接点上的推挽信号的紊乱来决定。如果考虑这些，则凹槽区域上的凹槽的间隔d1在测定光盘基板1a的偏心的机械特性测定装置的光学系统的绕射限度以下，并且，选择为凹槽区域或反射镜区域的重复间隔d3的0.01～0.25倍，最好是0.01～0.15倍。
例如，使用上述现有的机械特性测定装置的情况下，凹槽区域上的凹槽的间隔d1为小于等于0.6μm，并且是凹槽区域或反射镜区域的重复间隔选择为0.01～0.25倍，最好是0.01～0.15倍。
上述现有的机械特性测定装置上的光学系统的绕射限度作为空间上的周期相当于0.6μm。因此，通过使凹槽区域上的凹槽的间隔为小于等于0.6μm，用现有的机械特性测定装置凹槽区域的各凹槽不被识别，形成在凹槽区域上的数条凹槽被识别成一条凹槽。
在此，利用图6和图7，就考虑到连接点上的推挽信号紊乱的情况下的凹槽的间隔d1进行说明。
图6是表示连接点上的推挽信号的波形。如图6所示，在连接点推挽信号产生紊乱。以下将此时偏移的量称为偏移量B。
图7是表示在邻接的凹槽区域上移动拾波器时产生的推挽信号的波形。如图7所示，在邻接的凹槽区域上移动拾波器时的推挽信号的波形是S形。以下将此时的振幅称为振幅A。
在凹槽区域上的凹槽的间隔d1的上限值选择为偏移量B小于等于振幅A。在以下情况下偏移量B和振幅A成为相等，即在连接点上的脱离磁道量(detrack amount)是凹槽区域宽度的大约0.25倍。因此，为了在连接点上跟踪不偏离，需要选择将连接点上的脱离磁道量，即，使凹槽区域上的凹槽的间隔d1成为小于等于凹槽区域之间的间隔的0.25倍。
为了不受干扰的影响、实现更加稳定的跟踪动作，最好选择比偏移量B更小的值，例如选择连接点上的脱离磁道量，使偏移量B小于等于振幅A的0.8倍。偏移量B成为振幅A的0.8倍的情况，是在连接点上的脱离磁道量、即形成在凹槽区域上的凹槽的间隔d1选择成凹槽区域的间隔的大约0.15倍的情况。
另外，形成在凹槽区域上的凹槽的间隔d1的下限值没有被特别限定，但是考虑到生产效率，最好大于等于凹槽区域的重复间隔d3的0.01倍。通过这样选择凹槽的间隔d1，可以避免在原盘的切削上花费时间、导致生产效率降低。
如图3所示，用于本实施方式中的形成透光层2的薄片4由透光性薄片2a和被涂抹在该透光性片2a的一面上的压敏性粘结剂(PSA：Pressure Sensitive Adhesion)形成的粘接层2b构成。该薄片4与在基板1上的相同、具有打造成平面圆环状的结构，在中央部形成贯通孔2c。薄片4的直径(外径)与基板1的直径大致相同，或选择为小于该直径、例如120mm。一方面，贯通孔2c的直径(内孔直径)从大于中心孔1b的开口直径、并且小于平面区域3的最内周直径(例如23mm直径)的范围选择，例如23mm。另外，薄片4的厚度例如为100μm。
在这样的薄片4上的透光性片2a由具有透光性的热可塑性树脂形成，该透光性是满足至少可以透过用于记录以及/或者再生的激光的光学特性。该热可塑性树脂从耐热尺寸稳定性、热膨胀率或者吸湿膨胀率等的物性值与光盘基板1a相近的材料中选择，具体是从聚碳酸酯(PC)或聚甲烯酸甲酯(甲基丙酸甲酯)等的甲基丙烯树脂中选择。另外，透光性片2a的厚度最好从60μm～100μm的范围中选择，最好从70μm～100μm的范围中选择。在本实施方式中，如果考虑透光性片2a通过由压敏性粘结剂(PSA)构成的粘接层2b被粘贴在基板1的一个主面上的情况，则透光性片2a的厚度例如选择为70μm。另外，该透光性片2a的厚度根据用于信息信号的记录以及/或再生的激光的波长或所希望的透光层2的膜厚来决定。
另外，构成粘接层2b的PSA是诸如甲基丙烯树脂等。该粘接层2b的厚度例如为30μm，但是粘接层2b的厚度或作为压敏性粘结剂而使用的材料根据所希望的透光层2的膜厚或用于信息信号的记录以及/或再生的激光的波长来决定。
图8是表示本发明的一个实施方式的光盘的再生时的图象的剖视图。如图8所示，在本发明的一个实施方式的光盘中，通过从设置有薄的透光层2侧向基板1的信息信号部1c照射激光，来进行信息信号的记录以及/或再生。
图9是表示测定本发明的一个实施方式的光盘基板1a的机械特性时的图象的剖视图。如图9所示，在本发明的一个实施方式的光盘基板1a中，通过向与形成凹凸侧的一个主面的相反侧照射激光，来进行光盘基板1a的机械特性的测定。
根据本发明的实施方式，可以得到以下的效果。
在光盘基板1a上具有形成有螺旋状的凹槽的数据区域12和偏心测定区域，该偏心测定区域上相互交错地设置有形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域。凹槽区域上的凹槽的间隔d1在用于测定光盘基板的偏心的现有的机械特性测定装置的光学系统的绕射限度以下，并且，选择为凹槽区域的重复间隔d3的0.01～0.25倍，最好是0.01～0.15倍。因此，现有的机械特性测定装置可以象跟踪一条凹槽一样对凹槽区域进行稳定的跟踪。因此，利用现有的机械特性测定装置、可以测定具有螺旋状凹槽的狭窄的跟踪距离的光盘的偏心量。
另外，在没有形成透光层2的状态，由于可以测定光盘基板1a的偏心量，因此，可以通过有效率的生产体系制造光盘。
以上就本发明的一个实施方式进行了具体说明，本发明不局限于上述的一个实施方式，可以根据本发明的技术理念进行各种变型。
例如，在上述的一个实施方式中列举的数值不过是一例，可以根据需要使用与此不同的数值。
在上述的实施方式中，以形成在偏心测定区域14上的凹槽之间的距离d1和形成在数据区域12上的凹槽之间的距离不同为例进行了说明，但是也可以使形成在偏心测定区域14上的凹槽之间的距离d1和形成在数据区域12上的凹槽之间的距离相同。
另外，在上述的实施方式中，在形成有螺旋状凹槽的凹槽区域上，以间歇凹槽的结束位置(外周侧的凹槽的一端位置)和间歇凹槽的开始位置(内周侧的凹槽的一端的位置)从光盘基板1a的中心起在同一方向上的情况为例进行说明，但是，间歇凹槽的结束位置和间歇凹槽的开始位置不限于该例。
例如，如图10所示，从光盘基板1a的中心向着间歇凹槽的开始位置的方向与从光盘基板1a的中心向着间歇凹槽的结束位置的方向可以相差180度。这种情况下，虽然凹槽区域的宽度根据地点不同而不同，但是，具有以下优点，即连接点上的凹槽区域的中心的偏心量是凹槽区域上的凹槽的间隔d1的一半。
如上所述，根据本发明，由于光盘基板具有偏心测定区域，该偏心测定区域是形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域空间上被相互交错地设置，因此，现有的机械特性测定装置可以象识别一条凹槽一样识别形成螺旋状凹槽的凹槽区域。因此，在刚成型后的状态下，可以容易地测定光盘基板的偏心量。

Claims (27)

1.一种光盘基板，其特征在于，具有偏心测定区域，在所述偏心测定区域中，形成有螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置；上述偏心测定区域设置在非数据区域；上述偏心测定区域的宽度大于等于30μm小于等于3mm。
2.如权利要求1所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽区域上的凹槽的间隔，根据用于偏心量测定的机械特性测定装置的光学系统和螺旋状地形成在上述凹槽区域上的上述凹槽的一端和另一端上的推挽信号的紊乱进行选择。
3.如权利要求2所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽区域的宽度和上述反射镜区域的宽度根据用于偏心量测定的上述机械特性测定装置的光学系统进行选择。
4.如权利要求2所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽的间隔选择为大于等于上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的0.01倍、小于等于0.25倍。
5.如权利要求2所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽的间隔选择为大于等于上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的0.01倍、小于等于0.15倍。
6.如权利要求4所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔大于等于0.7μm小于等于2.5μm。
7.如权利要求4所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽区域的宽度选择为大于等于上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的0.2倍、小于等于0.8倍。
8.如权利要求4所述的光盘基板，其特征在于，上述凹槽区域的宽度为上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的大约一半。
9.如权利要求1所述的光盘基板，其特征在于，在光盘基板的中心孔附近，设定有用于将光盘安装在主轴电动机上的夹紧区域，该夹紧区域的内周径从22mm～24mm中选择，夹紧区域的外周径从32mm～34mm中选择。
10.如权利要求1所述的光盘基板，其特征在于，依次设置用于将光盘基板安装在主轴电动机上的非数据区域、用于形成信息信号部的数据区域、具有用于测定光盘基板偏心的偏心测定区域的非数据区域。
11.如权利要求1所述的光盘基板，其特征在于，光盘基板的厚度从0.6mm～1.2mm中选择，光盘基板的直径，即外径为80～120mm，中心孔的开口直径，即内口径为15mm。
12.如权利要求1所述的光盘基板，其特征在于，在向凹槽上进行记录的方式中，形成在数据区域上的凹槽间的距离，即轨间距为0.32μm，形成在数据区域上的凹槽的宽度为0.22μm，即半值宽度。
13.一种光盘，具有光盘基板、信息信号部和保护层，该光盘基板具有偏心测定区域，在所述偏心测定区域中，形成有螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置；上述偏心测定区域设置在非数据区域；上述偏心测定区域的宽度大于等于30μm小于等于3mm；该信息信号部形成在光盘基板的一个主面上；该保护层保护信息信号部。
14.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，上述保护层具有透光性，通过从设置有上述保护层一侧照射激光，来进行信息信号的记录和/或再生。
15.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，上述凹槽区域上的凹槽的间隔，根据用于偏心量测定的机械特性测定装置的光学系统和螺旋状地形成在上述凹槽区域上的上述凹槽的一端和另一端上的推挽信号的紊乱进行选择。
16.如权利要求15所述的光盘，其特征在于，上述凹槽区域的宽度和上述反射镜区域的宽度根据用于偏心量测定的上述机械特性测定装置的光学系统进行选择。
17.如权利要求15所述的光盘，其特征在于，上述凹槽的间隔选择为大于等于上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的0.01倍、小于等于0.25倍。
18.如权利要求15所述的光盘，其特征在于，上述凹槽的间隔选择为大于等于上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的0.01倍、小于等于0.15倍。
19.如权利要求17所述的光盘，其特征在于，上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔大于等于0.7μm小于等于2.5μm。
20.如权利要求17所述的光盘，其特征在于，上述凹槽区域的宽度选择为大于等于上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的0.2倍、小于等于0.8倍。
21.如权利要求17所述的光盘，其特征在于，上述凹槽区域的宽度为上述凹槽区域或上述反射镜区域的重复间隔的大约一半。
22.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，上述保护层由透光层构成，通过将薄片粘贴在基板的形成信息信号部侧的一个主面上而形成。
23.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，在光盘基板的中心孔附近，设定有用于将光盘安装在主轴电动机上的夹紧区域，该夹紧区域的内周径从22mm～24mm中选择，夹紧区域的外周径从32mm～34mm中选择。
24.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，依次设置用于将光盘基板安装在主轴电动机上的非数据区域、用于形成信息信号部的数据区域、具有用于测定光盘基板偏心的偏心测定区域的非数据区域。
25.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，光盘基板的厚度从0.6mm～1.2mm中选择，光盘基板的直径，即外径为80～120mm，中心孔的开口直径，即内口径为15mm。
26.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，在向凹槽上进行记录的方式中，形成在数据区域上的凹槽间的距离，即轨间距为0.32μm，形成在数据区域上的凹槽的宽度为0.22μm，即半值宽度。
27.如权利要求13所述的光盘，其特征在于，用于上述透光层形成的薄片由透光性片和粘接层形成，该粘接层由粘接在该透光性片的一面上的压敏性粘接剂，即PSA：Pressure Sensitive Adhesion构成。
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