CH681112A5 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur gleichzeitigen berührungslosen Prüfung einer Mehrzahl von Stellen einer Oberfläche oder einer inneren Grenzfläche eines zu prüfenden Materials (1) mittels Auflichts oder einer Schicht oder eines Abschnitts des zu prüfenden Materials (1) mittels zurückgestreutem oder zurückgespiegeltem Durchlichts, oder mittels direkten Durchlichts, wobei - die Vorrichtung mindestens eine linienförmige Lichtquelle (2) und mindestens eine linienförmige optoelektronische Wandleranordnung (3) umfasst, die so angeordnet ist, dass sie reflektiertes Licht und/oder durchgelassenes Licht erfasst, wobei - die Lichtquelle (2) bestimmte optische Elemente (5a) enthält, die ein linienförmiges Lichtband (7) auf dem zu prüfenden Material (1) erzeugen - die linienförmige Lichtquelle (2) und die optischen Elemente (5a) so ausgebildet sind, dass ein empirischer oder mathematisch definierter Verlauf der Intensität (6a) des Lichts und der räumlichen Kurvenform der Linie erreicht wird, - die Lichtquelle (2) und die optischen Elemente (5a) so ausgebildet sind, dass der Intensitätsverlauf (6a) und der räumliche Verlauf einstellbar sind, - die optoelektronische Wandleranordnung (3) so ausgebildet ist, dass sie einen empirischen oder mathematisch definierten räumlichen Verlauf der Kurvenform und einen definierten Verlauf der Messempfindlichkeit (6b) besitzt, - die Wandleranordnung (3) mit bestimmten optischen Elementen (5b) ausgestattet ist, die so ausgebildet sind, dass sie ein linienförmiges Sichtfeld aufweisen und der räumliche Verlauf und der Verlauf der Messempfindlichkeit (6b) einstellbar sind, - die optoelektronische Wandleranordnung (3) aus mindestens einem Messkanal (4) besteht, - das zu prüfende Material (1) sich im Lichtweg zwischen der Lichtquelle (2) und der Wandleranordnung (3) befindet. Die Verwendung der Vorrichtung dieser Erfindung dient zur Prüfung einer angeblich glatten oder regelmässig strukturierten Oberfläche auf Unregelmässigkeiten, oder zur Prüfung einer lichtdurchlässigen, angeblich gleichmässigen oder regelmässig strukturierten Schicht auf deren Unregelmässigkeit und auf Einschlüsse, oder zur Prüfung einer angeblich ruhigen Oberfläche bzw. einer internen Grenzfläche des zu prüfenden Materials auf Lageänderungen dieser Flächen, besonders zur Prüfung auf Schwingungen von Bereichen, von Einschlüssen oder zur Prüfung rotierender Teile auf Rundlauf und auf Schwingungen. Bisher bekannte Systeme benutzen einen mit mechanischen Mitteln abgelenkten Laserstrahl (laser scanner) und komplizierte optische Komponenten, was sie teuer, voluminös und auch verschleissanfällig macht. Andere Systeme benutzen elektronische Kameras, was aber ebenfalls Korrekturen in der Abbildung nötig macht. Bei beiden Systemen ist die Prüfung von sehr langen oder breiten Materialien nur sehr beschränkt möglich, bedingt durch die geometrischen Erfordernisse und durch die schlechter werdende Fehlerauflösung mit zunehmender Inspektionsbreite. Ein Nachteil der bisher bekannten Systeme besteht auch darin, dass die gesamte abgetastete Information in serieller Form vorliegt, was eine sehr hohe Bandbreite der Auswertegeräte erfordert und auch meistens hohe Anforderungen an die Auswertesoftware stellt. Nachteilig ist auch die fehlende Redundanz. Ein Ausfall eines einzigen wichtigen Teiles, wie z.B. des Lasers führt zum Ausfall der ganzen Anlage. Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es besonders auch kompliziert geformte Materialien zu prüfen, wobei die Prüfvorrichtung den Erfordernissen des Prüfgutes in vorherbestimmter Weise angepasst ist, oder sich dem Prozessablauf selbsttätig anpasst. Prüfvorrichtungen dieser Art sind bisher nicht bekannt. Figurenliste: - Fig. 1a, typische Auflicht- und Durchlicht-Anordnung - Fig. 1b, typische Auflichtanordnung mit gemeinsamer Benutzung eines optischen Elements (5a, 5b) - Fig. 2, typische Anordnung mit ungleichmässig dickem Prüfmaterial - Fig. 3, 2 typische elektrische Blockschemata von Lichtquellen - Fig. 4, 2 typische elektrische Blockschemata von Wandleranordnungen Eine beispielweise in Fig. 1a angegebene Ausbildung einer erfindungsgemässen Vorrichtung zur Prüfung der Oberfläche und des lichtdurchlässigen Innern des Materials (1) besitzt eine Lichtquelle (2) mit vorgesetztem optischen Element (5a). Diese erzeugen auf dem zu prüfenden Material (1) ein linienförmiges Lichtband (7) bestimmter Länge. Ein Teil des auftreffenden Lichts wird reflektiert und zur Oberflächenprüfung verwendet. Hierzu benutzt man den optoelektronischen Wandler (3) mit vorgesetztem optischen Element (5b). Ein weiterer Teil des Lichts durchdringt das zu prüfende Material (1) und wird von einem ähnlichen Wandler (3) mit optischem Element (5b) aufgenommen. Durch Zusammensetzen von solchen Abschnitten bestimmter Länge zu einem Lichtband beliebiger Länge nach einem bestimmten festen oder verstellbaren geometrischen Verlauf im Raum erreicht man eine weitgehende Anpassung an das Prüfmaterial. Fig. 1b zeigt schematisch eine Vorrichtung, bei der beispielgebend ein optisches Element (5a, 5b), ein sogenannter Beamsplitter, gemeinsam von der Lichtquelle (2) und der Wandleranordnung (3) benutzt wird, was für gewisse Fälle eine Vereinfachung bedeutet. In Fig. 2 ist eine Vorrichtung angegeben bei der das Prüfmaterial (1) eine ungleichmässige Dicke besitzt. Um eine gleichmässige Messempfindlichkeit (6b) der Durchlichtmessung zu erreichen, was durch gleiche Länge der Pfeile (6b) angedeutet ist, wird ein Lichtband auf dem Prüfmaterial erzeugt, das einen Intensitätsverlauf (6a) entsprechend dem Verlauf der Lichtabschwächung im Prüfmaterial erhält. Eine optoelektronische Wandleranordnung (3) und ein optisches Element (5b) bilden einen sogenannten Messkanal (4). Fig. 3 zeigt schematisch einige beispielhafte Möglichkeiten zur Verstellung der Lichtintensität eines Lichtquellenabschnittes. Alle Abschnitte können einzeln über einen gemeinsamen Steuerungskanal (control bus) verstellt werden. Fig. 4 zeigt eine entsprechende Anordnung für die Lichtempfänger. Da Anordnungen wie in Fig. 3 und Fig. 4 gezeigt, Stand der Technik sind, soll auf eine detaillierte Beschreibung verzichtet werden. Mechanische Anordnungen um obige Abschnitte geometrisch zu Linien im Raum auszubilden, können sehr vielfältiger Natur sein. Sie sind ebenfalls Stand der Technik.
Claims (10)
1. Vorrichtung zur gleichzeitigen berührungslosen Prüfung einer Mehrzahl von Stellen einer Oberfläche oder einer inneren Grenzfläche eines zu prüfenden Materials (1) mittels Auflichts oder zur Prüfung einer Schicht oder eines Abschnitts des zu prüfenden Materials (1) mittels zurückgestreuten oder zurückgespiegelten Durchlichts, oder mittels direkten Durchlichts, wobei
- die Vorrichtung mindestens eine linienförmige Lichtquelle (2) und mindestens eine linienförmige optoelektronische Wandleranordnung (3) umfasst, die so angeordnet ist, dass sie reflektiertes Licht und/oder durchgelassenes Licht erfasst, wobei
- die Lichtquelle (2) bestimmte optische Elemente (5a) enthält, die ein linienförmiges Lichtband (7) auf dem zu prüfenden Material (1) erzeugen
- die linienförmige Lichtquelle (2) und die optischen Elemente (5a) so ausgebildet sind,
dass ein empirischer oder mathematisch definierter Verlauf der Intensität (6a) des Lichts und der räumlichen Kurvenform der Linie erreicht wird,
- die Lichtquelle (2) und die optischen Elemente (5a) so ausgebildet sind, dass der Intensitätsverlauf (6a) und der räumliche Verlauf einstellbar sind,
- die optoelektronische Wandleranordnung (3) so ausgebildet ist, dass sie einen empirischen oder mathematisch definierten räumlichen Verlauf der Kurvenform und einen definierten Verlauf der Messempfindlichkeit (6b) besitzt,
- die Wandleranordnung (3) mit bestimmten optischen Elementen (5b) ausgestattet ist, die so ausgebildet sind,
dass sie ein linienförmiges Sichtfeld aufweisen und der räumliche Verlauf und der Verlauf der Messempfindlichkeit (6b) einstellbar sind,
- die Lichtquelle (2) mit den optischen Elementen (5a) und die optoelektronische Wandleranordnung (3) mit den optischen Elementen (5b) mindestens je einen Abschnitt bestimmter Länge bilden, wobei
- das zu prüfende Material (1) sich im Lichtweg zwischen der Lichtquelle (2) und der Wandleranordnung (3) befindet.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die linienförmigen Lichtquellen (2) aus mindestens einer Lichtquelle (2) und mindestens einem optischen Element (5a) bestehen, die so beschaffen sind, dass ein kontinuierliches Lichtband ensteht.
3.
Vorrichtung nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen aus Glüh- Entladungs- oder Halbleiter-Lichtquellen einstellbarer Intensität (6a) bestehen und die optischen Elemente (5a) abbildende und transmissiv einstellbare Eigenschaften besitzen.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Wandler (3) aus Fotodioden, Fototransistoren oder Fotomultipliern bestehen.
5. Vorrichtung nach Ansprüchen 1 und 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Wandler (3) optische Elemente (5b) besitzen, die optisch abbildende und transmissiv einstellbare Eigenschaften besitzen.
6. Vorrichtung nach Ansprüchen 1, 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Wandler (3) einstellbare Messverstärker besitzen.
7.
Vorrichtung nach Ansprüchen 1, 3, 5, und 6, dadurch gekennzeichnet, dass die einstellbaren Lichtquellen (2), die optischen Elemente (5a und 5b) und die Messverstärker fest vorprogrammiert, in Intensität (6a) und Messempfindlichkeit (6b), dem zu prüfenden Gut entsprechend eingestellt sind.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die räumliche Kurvenform der Lichtquelle (2) und der Wandleranordnung (3) mit ihren optischen Elementen (5a, 5b) fest programmierbar ist.
9. Vorrichtung nach Ansprüchen 7 und 8, dadurch gekennzeichnet, dass die einstellbaren Komponenten dem Prüfablauf, im Sinne einer Steuerung oder Regelung, automatisch anpassbar sind.
10. Vorrichtung nach Ansprüchen 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass durch das Zusammenfügen von mindestens zwei Sätzen von Lichtbändern und Wandleranordnungen (3) flächige Materialien prüfbar sind.
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