CH638317A5 - Arrangement for the synthetic switch test - Google Patents

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CH638317A5
CH638317A5 CH1282878A CH1282878A CH638317A5 CH 638317 A5 CH638317 A5 CH 638317A5 CH 1282878 A CH1282878 A CH 1282878A CH 1282878 A CH1282878 A CH 1282878A CH 638317 A5 CH638317 A5 CH 638317A5
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CH
Switzerland
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arrangement
interruption
voltage
test
point
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Application number
CH1282878A
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German (de)
English (en)
Inventor
Klaus-Dieter Schmidt
Original Assignee
Bbc Brown Boveri & Cie
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
    • G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
    • G01R31/3336—Synthetic testing, i.e. with separate current and voltage generators simulating distance fault conditions

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Testing Relating To Insulation (AREA)
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