CH617131A5 - - Google Patents

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CH617131A5
CH617131A5 CH1341877A CH1341877A CH617131A5 CH 617131 A5 CH617131 A5 CH 617131A5 CH 1341877 A CH1341877 A CH 1341877A CH 1341877 A CH1341877 A CH 1341877A CH 617131 A5 CH617131 A5 CH 617131A5
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CH
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counter
photodiodes
margin
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CH1341877A
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Inventor
Claude Grosvernier
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Radioelectrique Comp Ind
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H9/00Registering, e.g. orientating, articles; Devices therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/046Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
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CH1341877A 1977-11-04 1977-11-04 CH617131A5 (zh)

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CH1341877A CH617131A5 (zh) 1977-11-04 1977-11-04
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ES (1) ES474793A1 (zh)
FR (1) FR2407818A1 (zh)
GB (1) GB2006952B (zh)
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GB2006952B (en) 1982-03-24
IT1099890B (it) 1985-09-28
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DE2847610C2 (zh) 1987-06-19
US4277176A (en) 1981-07-07
FR2407818A1 (fr) 1979-06-01
ES474793A1 (es) 1979-04-01
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