CH408202A - Verfahren zur Bestimmung des elektrischen Widerstandes eines Körpers aus extrem reinem Halbleitermaterial für elektronische Zwecke - Google Patents

Verfahren zur Bestimmung des elektrischen Widerstandes eines Körpers aus extrem reinem Halbleitermaterial für elektronische Zwecke

Info

Publication number
CH408202A
CH408202A CH500764A CH500764A CH408202A CH 408202 A CH408202 A CH 408202A CH 500764 A CH500764 A CH 500764A CH 500764 A CH500764 A CH 500764A CH 408202 A CH408202 A CH 408202A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
determining
semiconductor material
electrical resistance
body made
extremely pure
Prior art date
Application number
CH500764A
Other languages
English (en)
Inventor
Wolfgang Dr Keller
Original Assignee
Siemens Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Ag filed Critical Siemens Ag
Publication of CH408202A publication Critical patent/CH408202A/de

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2831—Testing of materials or semi-finished products, e.g. semiconductor wafers or substrates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
CH500764A 1963-08-09 1964-04-17 Verfahren zur Bestimmung des elektrischen Widerstandes eines Körpers aus extrem reinem Halbleitermaterial für elektronische Zwecke CH408202A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES0086651 1963-08-09

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH408202A true CH408202A (de) 1966-02-28

Family

ID=7513180

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH500764A CH408202A (de) 1963-08-09 1964-04-17 Verfahren zur Bestimmung des elektrischen Widerstandes eines Körpers aus extrem reinem Halbleitermaterial für elektronische Zwecke

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3315156A (de)
BE (1) BE651551A (de)
CH (1) CH408202A (de)
GB (1) GB1019685A (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3490036A (en) * 1968-01-15 1970-01-13 Western Electric Co Method for testing a crystal wherein the crystal is connected in series with a conductive core to form a single current conducting loop
US3524130A (en) * 1968-09-10 1970-08-11 Atomic Energy Commission Non-contact spark-gap current tool-setting device
NL7106853A (de) * 1971-05-19 1972-11-21
US3953796A (en) * 1973-06-05 1976-04-27 Siemens Aktiengesellschaft Method and apparatus for measuring electrical conductivity
US4208624A (en) * 1978-08-09 1980-06-17 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Method and apparatus for investigating dielectric semiconductor materials
DE3036734A1 (de) * 1980-09-29 1982-05-06 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur messung von widerstaenden und kapazitaeten von elektronischen bauelementen
IL77207A (en) * 1985-12-03 1990-11-29 Benjamin Gavish Device and method for monitoring small displacements of a peak in a frequency spectrum

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1976904A (en) * 1931-03-27 1934-10-16 Frederick E Terman Loss metering circuit
US1960168A (en) * 1933-03-28 1934-05-22 Light Sensitive Apparatus Corp Oil tester using radio frequency
US2358462A (en) * 1943-07-30 1944-09-19 Standard Telephones Cables Ltd Measuring device
US2603754A (en) * 1945-03-17 1952-07-15 Univ Leland Stanford Junior High-frequency apparatus
US2567587A (en) * 1945-12-10 1951-09-11 Zigmond W Wilchinsky Method and apparatus for measuring capacitance
US2614153A (en) * 1948-05-18 1952-10-14 Tesla Nat Corp Method of and device for measuring and controlling the quality factor and damping factor of electric circuits and components thereof
US2939073A (en) * 1958-08-14 1960-05-31 Magnaflux Corp Conductivity measuring instrument

Also Published As

Publication number Publication date
US3315156A (en) 1967-04-18
BE651551A (de) 1965-02-08
GB1019685A (en) 1966-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH422161A (de) Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Kontaktes an einem Halbleiterelement
CH399729A (de) Verfahren und Einrichtung zur Herstellung von Rohren aus thermoplastischem Werkstoff
CH482273A (de) Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Widerstandselementes
CH421913A (de) Verfahren zur Herstellung einkristalliner Aufwachsschichten auf einkristallinen Grundkörpern aus Halbleitermaterial
CH414022A (de) Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Bauelementes
CH372760A (de) Halbleitervorrichtung mit einem halbleitenden Körper aus Siliciumcarbid und Verfahren zur Herstellung derselben
CH423022A (de) Verfahren zur Änderung eines elektrischen Kennwertes eines Halbleiter-Bauelementes
SE411816B (sv) Halvledarmotstand ingaende i en integrerad halvledaranordning
CH514935A (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements und durch dieses Verfahren hergestelltes Halbleiterbauelement
CH442529A (de) Verwendung eines aus Galliumarsenid bestehenden Halbleitermaterials zur Herstellung elektrischer Halbleiterelemente
CH408202A (de) Verfahren zur Bestimmung des elektrischen Widerstandes eines Körpers aus extrem reinem Halbleitermaterial für elektronische Zwecke
CH381329A (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
CH400367A (de) Elektrisches Halbleiterbauelement mit hermetisch gekapseltem Halbleiterelement und Verfahren zur Herstellung eines solchen Halbleiterbauelementes
CH406779A (de) Verfahren zur Herstellung eines Oxydbelages auf einem vorzugsweise einkristallinen Körper aus Halbleitermaterial
DE1719024B2 (de) Verfahren zur herstellung eines stabes aus halbleiter material fuer elektronische zwecke
CH334860A (de) Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Vorrichtung und nach diesem Verfahren hergestellte Vorrichtung
CH410054A (de) Elektronisches Schaltelement und Verfahren zu dessen Herstellung
CH354168A (de) Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Halbleitervorrichtung und nach diesem Verfahren hergestellte Halbleitervorrichtung
CH428676A (de) Verfahren zur Gewinnung von reinstem Halbleitermaterial für elektronische Zwecke
CH407226A (de) Speicherelement aus leitendem magnetischem Material
CH468083A (de) Verfahren zum formändernden Bearbeiten eines kristallinen Körpers aus Halbleitermaterial, insbesondere eines Siliziumeinkristalls
CH449597A (de) Verfahren zur Herstellung eines magnetischen Materials
AT245114B (de) Vorrichtung mit einem Heißleiter aus Halbleitermaterial
CH399598A (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
CH456201A (de) Dateneingabevorrichtung für mechanische Rechenmaschinen und Verfahren zur Herstellung derselben