CH337276A - Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents

Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung

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CH337276A
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Emeis Reimer Dipl Phys
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Siemens Ag
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P95/00Generic processes or apparatus for manufacture or treatments not covered by the other groups of this subclass
    • H10P95/50Alloying conductive materials with semiconductor bodies
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass

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Description


  Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung    Zur Herstellung von Richtleitern, Transistoren  und dergleichen aus einem Halbleiter wird bekannt  lich der Halbleiter kontaktiert, das heisst mit metalle  nen Anschlüssen versehen, und zwar teils sperrfrei,  teils so, dass sich vor dem Kontakt eine Schicht von  entgegengesetztem Leitungstyp und damit ein     p-n-          Übergang    bildet, welcher den Stromdurchgang in  einer der beiden Richtungen sperrt.

   Wird beispiels  weise     p-leitendes    Germanium mit einem Antimon  kontakt versehen, so entsteht in dem Germanium in  der Nachbarschaft des Kontaktes eine     n-leitende          Germaniumschicht.    Zwischen dieser und dem     p-          leitend    verbliebenen Teil des Germaniums befindet  sich dann ein     p-n-übergang.    Wird dagegen     p-leiten-          des    Germanium z. B. mit Aluminium kontaktiert, so  entsteht ein sperrfreier Kontakt, der für einen elek  trischen Strom in beiden Richtungen praktisch  gleichmässig durchlässig ist.  



  Die     Kontaktierung    von Silizium enthaltenden  Halbleitern wie     Silizium    und     Siliziumkarbid    bereitet  im Gegensatz zu derjenigen des Germaniums Schwie  rigkeiten, weil beispielsweise Silizium mit nur wenigen  Stoffen überhaupt legiert, und weil ferner die  Wärmeausdehnung der Mehrzahl der mit diesen  Stoffen gebildeten Legierungen von derjenigen des  Siliziums stark verschieden ist. Deswegen würde z. B.       auflegiertes    Antimon bei grösserer Schichtdicke zu  unerwünschten mechanischen Spannungen im Mate  rial führen, was bei der grossen Sprödigkeit des  Siliziums zur     Rissbildung    bzw. zum Abspringen der  Kontaktschicht führt, wenn der kontaktierte Halb  leiter erkaltet. Ähnlich verhalten sich u. a.

   Silizium  karbid und aus Silizium und Germanium zu grössen  ordnungsmässig gleichen Anteilen     zusammengesetzte     Halbleitersubstanzen. Auch in dünner Schicht liesse  sich Antimon schwierig aufbringen, weil es leicht ab  dampft.    Die vorliegende Erfindung beruht auf den Er  wägungen, dass einerseits die vorerwähnten Schwie  rigkeiten bei der Dotierung und     Kontaktierung    von  Germanium in weit geringerem Masse auftreten, und  dass anderseits Germanium und     Silizium    gleiche  Gitterstruktur und nur wenig voneinander abwei  chende Gitterkonstanten haben und daher zur Misch  kriställbüdung neigen.

   Demgemäss besteht die Erfin  dung     darin,    dass sich zwischen dem Halbleitergrund  körper und dem Kontaktmetall eine mit einem Zu  satzstoff von der     Art    des     Kontaktmetalles    dotierte  Legierungsschicht, bestehend aus Germanium und  der Halbleitersubstanz des Grundkörpers, befindet.

    Die     Germaniumkontaktierung    verleiht dann auch der  ihr benachbarten Schicht des Grundkörpers, wenn  dieser den entgegengesetzten Leitungstyp hat, durch       Eindiffundieren    von Störatomen den gleichen Lei  tungstyp, wie ihn das dotierte     Germanium    hat, und  erzeugt somit im Grundkörper einen     p-h-Übergang.     Die     erwähnten,    der     Kontaktierung    von Silizium usw.  entgegenstehenden Schwierigkeiten können auf diese  Weise umgangen werden; es ist damit z.

   B. möglich,  einen     p-leitenden        Siliziumkörper    mit einer     n-leiten-          des    Germanium enthaltenden Legierungsschicht oder  einen     n-leitenden        Siliziumkörper    mit einer     p-leiten-          des    Germanium enthaltenden Legierungsschicht an  einer oder mehreren Stellen zu versehen, wobei auch  das Anlöten von     Anschlussstücken    oder     -drähten    an  den legierten Stellen verhältnismässig leicht vorge  nommen werden kann.

      Zur praktischen Verwirklichung der Erfindung  wird vorgeschlagen, auf den     Halbleitergrundkörper     eine     n-leitende    bzw. eine     p-leitende    Germanium  schicht aufzuschmelzen, so dass sie mit der Grund  substanz eine aus entsprechend dotierten Mischkri  stallen bestehende Legierung     bildet.         In der Zeichnung sind verschiedene Ausführungs  beispiele der Erfindung in stark vergrössertem     Mass-          stabe    im     Schnitt    dargestellt.     Fig.    1 zeigt einen Gleich  richter mit einem     p-n-Übergang,    der z.

   B. in folgen  der Weise entstanden sein kann: Als Grundkörper  wurde eine     Siliziumscheibe   <B>11</B> vom     p-Leitungstyp     verwendet.     p-leitendes        Silizium    fällt gewöhnlich aus  dem     Zonenschmelzverfahren    an, das, für einen       Siliziumstab    vorteilhaft     tiegelfrei    und in senkrechter  Stellung des Stabes     durchgeführt    und     gegebenenfalls     mehrfach wiederholt, einen     Siliziumeinkristall.    von  sehr hohem Reinheitsgrad liefern kann,

   der jedoch       in    vielen     Fällen    durch sonst kaum nachweisbare  Spuren, z. B. von Bor     p-leitend    ist. Von dem Stab  können einzelne     Siliziumscheiben    zur weiteren Ver  wendung, das heisst zur Herstellung von     Richtlei-          tern,    Transistoren und dergleichen abgesägt werden.  



  Auf eine     derartige        p-leitende        Siliziumscheibe    11  wurde beispielsweise mittels Antimon oder Arsen       scharf        n-dotiertes    Germanium in Scheibenform  draufgelegt oder pulverförmig - trocken oder in  Gestalt einer Paste - als Schicht aufgestrichen.  Durch nachfolgende     Erhitzung    ist das Germanium  geschmolzen und hat mit einem Teil des Siliziums  unter Bildung von Mischkristallen eine Legierungs  schicht 12 gebildet. Vor dieser Schicht 12 ist ferner  eine     Zwischenschicht    13 von     n-leitendem    Silizium  durch Diffusion von Störatomen aus der Schicht 12  entstanden.

   Die durch eine ausgezogene Linie be  zeichnete Grenze der     n-leitenden    Schicht 13 gegen  den     p-leitenden    Grundkörper stellt den gewünschten       p-i2-Übergang        im    Silizium dar. Auf die Legierungs  schicht 12 ist ein Kontakt 14 aus einem der be  kannten für     n-leitendes    Germanium geeigneten sperr  freien Kontaktmetalle, z. B. einer     Blei-Antimon-          legierung    aufgelötet, wobei eine     Anschlussleitung    15  aus     vorteilhaft    bandförmigem Kupfer oder Silber mit  festgelötet ist.  



  Auf der andern Seite der     Siliziumscheibe    11 ist  ein     sperrfreier    Kontakt 16, z. B. aus Aluminium, auf  geschmolzen. Auch von dem Aluminium sind Atome  in den     Siliziumkörper    11     eindiffundiert    und haben  eine im Sinne der     p-Leitung    höher dotierte Zwi  schenschicht gebildet, deren Grenze durch eine ge  strichelte Linie markiert ist.

   Die Schicht 16 besteht  nach dem Erkalten aus einer Legierung von Alu  minium und     Silizium    im     eutektischen    Verhältnis-,  wobei also das Aluminium stark     überwiegt.    Daran  kann eine     Anschlussleitung    aus Kupfer oder Silber  mit     Hilfe    von     Reibelot,    das ist Lötzinn, gemischt  mit feinen Stahlspänen, festgelötet werden. Die An  schlussleitung wird vorteilhaft zwecks Verbesserung  der Kühlung als Platte 17 mit vergrösserter     Fläche     ausgebildet.  



       Fig.    2 zeigt einen in dieser Weise kontaktierten  Flächentransistor. Der Grundkörper 21 aus beispiels  weise     p-leitendem    Silizium ist hierbei auf einer  Flachseite mit einem Muster von Rillen oder     ähn-          lichen    Aussparungen versehen. Von den     Richtelek-          troden        (Emitter,    Kollektor) ist die eine auf der unbe-    musterten Flachseite angebracht, die andere befindet  sich verteilt in den Versenkungen des Musters auf  der andern Flachseite der     Siliziumscheibe    21. Beide  sind durch Kontaktauflagen 22 bzw. 23, die aus       n-leitendem    Germanium bestehen, geschaffen.

   Die       Germaniumauflage    22 ist mit einem Kontakt 24  versehen, der wie der Kontakt 14 in     Fig.    1 aus  einem     Antimonlot    bestehen kann, mit welchem auch  die     Anschlussleitung    40 verlötet ist. Die verteilte       Gemaniumschicht    23 ist mit Kontakten 25, z. B.  aus     Antimonlot,    versehen, die untereinander durch  eine gemeinsame, mit festgelötete Zuleitung 20 ver  bunden sind.

   Auf den erhabenen Teilen der be  musterten Seite der     Siliziumscheibe    21     verteilt    ange  ordnet ist die Basiselektrode 26, bestehend aus auf  geschmolzenen Aluminium-Kontakten, die mitein  ander durch eine mit     Reibelot    aufgelötete Anschluss  platte 27 verbunden sind. Der beschriebene Transi  stor ist ein     ra-p-ra-Transistor.     



  Demgegenüber ist in     Fig.    3 die Grundform eines       p-n-p-Transistors    dargestellt. Auf einer     Silizium-          scheibe    31. vom     n-Leitungstyp    befinden sich an den  Flachseiten die     p-leitendes    Germanium enthaltenden  Legierungsschichten 18 und 19, vor denen sich die  ebenfalls     p-leitenden        Siliziumschichten    als     Richt-          elektroden        ausgebildet    haben.

   Das zur     Kontaktie-          rung    verwendete     p-leitende    Germanium kann bei  spielsweise mit Zusätzen von     Indium    oder Gallium  dotiert sein. Für die     Anschlusskontakte    28 und 29  kann vorteilhaft ein     Indiumlot    verwendet werden,  mit welchem auch die beiderseitigen     Anschlussleitun-          gen    30 aus Kupfer oder Silber befestigt werden kön  nen. Zur Herstellung der Basiselektrode 32 ist n  leitendes Germanium auf den Rand der Scheibe 13  aufgebracht und mit einem     Anschlusskontakt    33 aus       Antimonlot    versehen, an dem sich die Zuleitung 34  befindet.

   Der     p-n-p-Transistor    kann natürlich auch  in der gleichen oder einer ähnlichen Form ausgeführt  werden wie der in     Fig.    2 dargestellte     iT-p-n-Transi-          stor.     



       Fig.    4 zeigt einen Gleichrichter mit     p-i-n-Schicht-          folge.    Bei ihm besteht der Grundkörper 35 aus     hoch-          ohmigem    Silizium, das praktisch eigenleitend ist.  Auf der einen Flachseite der Scheibe befindet sich  eine Auflage 36, die mit     p-leitendem    Germanium  gebildet ist und einen Aluminium-Kontakt 37 trägt,  an dem die     Anschlussplatte    17 befestigt ist.

   Ihm  liegt auf der andern Seite der Scheibe eine mit     n-          leitendem    Germanium gebildete Auflage 38 gegen  über, auf der sich ein Kontakt 39 aus einem     Anti-          monlot    befindet, mit welchem die     Anschlussleitung     15 befestigt ist.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRÜCHE I. Halbleiteranordnung mit einem einkristallinen Grundkörper aus einem Silizium enthaltenden Halb leiterstoff, der mit metallischen Anschlusskontakten versehen ist, dadurch gekennzeichnet, dass sich zwi schen dem Halbleitergrundkörper und dem Kontakt metall eine mit einem Zusatzstoff dotierte Legie- rungsschicht, _ bestehend aus Germanium und der Halbleitersubstanz des Grundkörpers, befindet. 11.
    Verfahren zur Herstellung einer Halbleiter anordnung nach Patentanspruch I, dadurch gekenn zeichnet, dass in eine mit einem Anschlusskontakt zu versehende Oberfläche des Halbleitergrundkörpers zunächst mit einem Zusatzstoff dotiertes Germanium einlegiert und dann auf die Legierungsschicht ein sperrfreies Kontaktmetall aufgelötet wird. UNTERANSPRÜCHE 1.
    Halbleiteranordnung nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass auf einem p-leitenden Halbleiter eine n-leitendes Germanium enthaltende Schicht einlegiert ist, auf welche wiederum ein eine Donatorsubstanz enthaltendes Lot aufgebracht ist. 2. Halbleiteranordnung nach Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass auf einem eigenleiten den Halbleiter an einer Stelle eine n-leitendes Germa nium enthaltende Schicht einlegiert ist, auf welche wiederum ein eine Donatorsubstanz enthaltendes Lot aufgebracht ist. 3.
    Halbleiteranordnung nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass auf dem eigenleiten den Halbleiter an einer andern Stelle eine p-leiten- des Germanium enthaltende Schicht einlegiert ist, auf welche wiederum ein eine Akzeptorsubstanz enthaltendes Lot aufgebracht ist.
CH337276D 1954-07-27 1955-07-15 Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung CH337276A (de)

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