BR102017018936A2 - método para inspecionar uma superfície de um componente, e, sistema de inspeção para inspecionar uma superfície de um componente - Google Patents

Abstract

são providos métodos e sistemas para inspecionar superfícies de vários componentes, como a avaliação de desvios de altura sobre estas superfícies. um método envolve agregar dados de inspeção a partir de múltiplos escâneres de linha em uma série de dados combinada. esta série de dados combinada representa uma porção da superfície que é maior que o campo de medição de qualquer um dos escâneres. adicionalmente, cada par de escâneres adjacentes opera em diferentes períodos de tempo para evitar interferência. porque os períodos de operação são deslocados, as porções de superfícies varridas pelo par de escâneres adjacentes podem se sobrepor sem interferência. esta sobreposição das porções varridas assegura que a superfície inteira seja analisada. a posição dos escâneres em relação à superfície de inspeção pode ser alterada entre as varreduras e, em algumas modalidades, até mesmo durante a varredura. esta proposta permite a varredura precisa de grandes superfícies.

Description

(54) Título: MÉTODO PARA INSPECIONAR UMA SUPERFÍCIE DE UM COMPONENTE, E, SISTEMA DE INSPEÇÃO PARA INSPECIONAR UMA SUPERFÍCIE DE UM COMPONENTE (51) Int. Cl.: G01N 21/88; G01B 11/06; G01B 11/245; G01N 21/89 (30) Prioridade Unionista: 09/11/2016 US 15/347281 (73) Titular(es): THE BOEING COM PAN Y (72) Inventor(es): LUKE C. INGRAM;

ANTHONY W. BAKER; STEVEN A. DORRIS; CHRISTOPHER P. BELLAVIA (85) Data do Início da Fase Nacional:

04/09/2017 (57) Resumo: São providos métodos e sistemas para inspecionar superfícies de vários componentes, como a avaliação de desvios de altura sobre estas superfícies. Um método envolve agregar dados de inspeção a partir de múltiplos escâneres de linha em uma série de dados combinada. Esta série de dados combinada representa uma porção da superfície que é maior que o campo de medição de qualquer um dos escâneres. Adicionalmente, cada par de escâneres adjacentes opera em diferentes períodos de tempo para evitar interferência. Porque os períodos de operação são deslocados, as porções de superfícies varridas pelo par de escâneres adjacentes podem se sobrepor sem interferência. Esta sobreposição das porções varridas assegura que a superfície inteira seja analisada. A posição dos escâneres em relação à superfície de inspeção pode ser alterada entre as varreduras e, em algumas modalidades, até mesmo durante a varredura. Esta proposta permite a varredura precisa de grandes superfícies.

Inspeção

Adicional?

.230

1/42 “MÉTODO PARA INSPECIONAR UMA SUPERFÍCIE DE UM COMPONENTE, E, SISTEMA DE INSPEÇÃO PARA INSPECIONAR UMA SUPERFÍCIE DE UM COMPONENTE”

FUNDAMENTOS [001] A inspeção de superfícies de grandes componentes é essencial para muitas aplicações, tais como a conformação de materiais compósitos ou, mais especificamente, materiais reforçados com fibras. Tipicamente, a precisão de uma ferramenta de inspeção é inversamente proporcional ao seu campo de medição. Em outras palavras, uma ferramenta de inspeção com um campo de medição menor produz uma medição mais precisa que uma ferramenta com um maior campo de medição. Ao mesmo tempo, um campo de medição menor resulta em uma menor área inspecionada durante cada varredura.

[002] Embora múltiplas ferramentas de inspeção possam ser usadas em paralelo para a inspeção de grandes superfícies, a operação simultânea dessas ferramentas pode ser um desafio. Por exemplo, duas ferramentas de inspeção adjacentes operando ao mesmo tempo podem interferir uma com a outra. Esta interferência pode ser particularmente severa com ferramentas de inspeção ópticas que pode ter campos de sobreposição das medições para assegurar a inspeção da superfície inteira. Como tais, métodos e sistemas para inspecionar grandes superfícies usando múltiplos escâneres de uma maneira precisa, acurada, e eficiente, são necessários.

SUMÁRIO [003] São providos métodos e sistemas para inspecionar superfícies de vários componentes, como a avaliação de desvios de altura sobre estas superfícies. Um método envolve agregar dados de inspeção a partir de múltiplos escâneres de linha em uma série de dados combinada. Esta série de dados combinada representa uma porção da superfície que é maior que o campo de medição de qualquer um dos escâneres. Adicionalmente, cada par

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2/42 de escâneres adjacentes opera em diferentes períodos de tempo para evitar interferência. Porque os períodos de operação são deslocados, as porções de superfícies varridas pelo par de escâneres adjacentes podem se sobrepor sem interferência. Esta sobreposição das porções varridas assegura que a superfície inteira seja analisada. A posição dos escâneres em relação à superfície de inspeção pode ser alterada entre as varreduras e, em algumas modalidades, até mesmo durante a varredura. Esta proposta permite a precisa varredura de grandes superfícies.

[004] Em algumas modalidades, um método para inspecionar uma superfície de um componente compreendendo alinhar um primeiro escâner de linha e um segundo escâner de linha um em relação ao outro e à superfície do componente de forma que o campo de medição do primeiro escâner de linha sobreponha parcialmente o campo de medição do segundo escâner de linha. O método prossegue então com a varredura de uma primeira porção da superfície usando o primeiro escâner de linha durante um primeiro período de forma que a varredura da primeira porção produza uma primeira série de dados correspondente à primeira porção. O método também prossegue com a varredura de uma segunda porção da superfície usando o segundo escâner de linha durante um segundo período deslocado em relação ao primeiro período de forma que a varredura da segunda porção produz uma segunda série de dados correspondente à segunda porção. O método então envolve agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em uma série de dados combinada.

[005] Em algumas modalidades, o primeiro período não se sobrepõe com o segundo período. O segundo período pode começar imediatamente depois do primeiro período. Alternativamente, o primeiro período pode parcialmente se sobrepor com o segundo período. Alguma sobreposição entre os períodos pode ser permitida, se esta sobreposição não causar interferência substancial com a varredura. Por exemplo, a sobreposição pode ser inferior a

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20% ou até mesmo inferior a 10% de cada um do primeiro período e do segundo período. Adicionalmente, o processo para obter a série de dados pode ser com base na integração de resposta sobre cada período inteiro e alguma sobreposição pode ter somente impacto mínimo.

[006] Em algumas modalidades, o campo de medição do primeiro escâner de linha é colinear com o campo de medição do segundo escâner de linha. Mais especificamente, a primeira porção da superfície pode ser colinear à segunda porção da superfície. Por exemplo, a superfície inspecionada pode permanecer estacionária com relação aos escâneres enquanto a obtenção de ambas as séries de dados resultantes em ambas as porções é colinear. Alternativamente, a primeira porção da superfície pode ser paralela e deslocada com a segunda porção da superfície. Por exemplo, a superfície inspecionada pode se mover com relação aos escâneres na direção que é, por exemplo, perpendicular aos campos de medição dos escâneres.

[007] Em algumas modalidades, a série de dados combinada compreende uma primeira porção de não sobreposição da primeira série de dados e uma segunda porção de não sobreposição da segunda série de dados. A série de dados combinada pode compreender adicionalmente uma combinação de uma primeira porção de sobreposição da primeira série de dados e uma segunda porção de sobreposição da segunda série de dados. Por exemplo, a combinação da primeira porção de sobreposição da primeira série de dados e a segunda porção de sobreposição da segunda série de dados podem ser uma média da primeira porção de sobreposição da primeira série de dados e da segunda porção de sobreposição da segunda série de dados. [008] Em algumas modalidades, agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados compreende alinhar espacialmente a primeira série de dados e a segunda série de dados. Este alinhamento espacial pode ser realizado com base na posição dos escâneres em relação à superfície do componente inspecionado ou, mais especificamente, com base nas posições

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4/42 dos campos de medição em relação a esta superfície.

[009] Em algumas modalidades, o componente altera a posição em relação ao primeiro escâner de linha enquanto obtém a segunda série de dados. Mais especificamente, o componente pode alterar a posição em relação ao primeiro escâner de linha enquanto obtém a primeira série de dados. Por exemplo, o componente pode ser movido em relação ao primeiro escâner de linha e em relação ao segundo escâner de linha. O componente pode ser movido na direção perpendicular ao campo de medição do primeiro escâner de linha.

[0010] Em algumas modalidades, o método compreende adicionaimente varrer uma terceira porção da superfície usando o primeiro escâner de linha durante um terceiro período de forma que a varredura da terceira porção produz uma terceira série de dados correspondente à terceira porção. O terceiro período é deslocado em relação ao primeiro período e é deslocado em relação ao segundo período.

[0011] Em algumas modalidades, o método pode compreender adicionaimente a varredura de uma terceira porção da superfície usando um terceiro escâner de linha durante o primeiro período de forma que a varredura da terceira porção produza uma terceira série de dados correspondente à terceira porção. O campo de medição do terceiro escâner de linha sobrepõe parcialmente o campo de medição do segundo escâner de linha. Nessas modalidades, a terceira série de dados é agregada conjuntamente à primeira série de dados e à segunda série de dados. O campo de medição do terceiro escâner de linha pode ser colinear com o campo de medição do primeiro escâner de linha.

[0012] Em algumas modalidades, o método compreende adicionaimente formar o componente. Obter a primeira série de dados, obter a segunda série de dados, e gerar a série de dados combinada pode ser realizado em linha com a formação do componente. O componente pode ser

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5/42 uma estrutura compósita.

[0013] É também provido um método para agregar séries de dados obtidas a partir de múltiplos escâneres de linha usados para inspecionar uma superfície de um componente. O método compreende alinhar os múltiplos escâneres de linha em um arranjo para uma inspeção linear da superfície de forma que o campo de medições de cada par de escâneres de linha adjacentes dos múltiplos escâneres de linha se sobreponham. O arranjo pode ser um arranjo linear. O campo de medições desses escâneres pode ser colinear e se estender ao longo do arranjo linear.

[0014] O método prossegue com a varredura da superfície usando os múltiplos escâneres de linha de forma que os escâneres em cada par dos escâneres de linha adjacentes operem em diferentes períodos de tempo. O método prossegue então com agregação das séries de dados produzidas pelos múltiplos escâneres de linha durante a varredura da superfície em uma série de dados combinada.

[0015] Em algumas modalidades, o método compreende adicionalmente alterar a posição dos múltiplos escâneres de linha em relação à superfície e repetir a varredura da superfície usando os múltiplos escâneres de linha. A varredura da superfície usando os múltiplos escâneres de linha pode ser repetida depois de um período determinado com base em uma velocidade de alteração da posição dos múltiplos escâneres de linha em relação à superfície.

[0016] Também é provido um sistema de inspeção para inspecionar uma superfície de um componente. Em algumas modalidades, o sistema compreende um primeiro escâner de linha, um segundo escâner de linha, e um controlador de sistema. O primeiro escâner de linha é usado para a varredura de uma primeira porção da superfície durante um primeiro período e produz uma primeira série de dados. O segundo escâner de linha é usado para a varredura de uma segunda porção da superfície durante um segundo

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6/42 período e produção de uma segunda série de dados. O campo de medição do primeiro escâner de linha parcialmente sobrepõe o campo de medição do segundo escâner de linha. Adicionalmente, o primeiro período é deslocado em relação ao segundo período. O controlador de sistema é usado para agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em uma série de dados combinada.

[0017] Em algumas modalidades, o sistema de inspeção compreende adicionalmente um dispositivo de movimento para mover o primeiro escâner de linha e o segundo escâner de linha em relação ao componente. O sistema de inspeção pode compreender adicionalmente um codificador para determinar a posição de pelo menos um do primeiro escâner de linha e do segundo escâner de linha em relação ao componente. O controlador de sistema do sistema de inspeção pode compreender um agregador de séries de dados, uma memória, e um módulo de análise. O agregador de séries de dados pode ser operável para agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados na série de dados combinada. A memória pode ser operável para armazenar a série de dados combinada. Finalmente, o módulo de análise pode ser operável para analisar a série de dados combinada.

[0018] Essas e outras modalidades são descritas mais detalhadamente abaixo com referência às figuras.

BREVE DESCRIÇÃO DOS DESENHOS [0019] A figura IA é uma vista em perspectiva esquemática de um sistema de inspeção compreendendo um arranjo de dois escâneres para a varredura da superfície de um componente inspecionado, de acordo com algumas modalidades.

[0020] A figura 1B é uma vista esquemática de um sistema de inspeção compreendendo um arranjo de três escâneres para a varredura da superfície de um componente inspecionado, de acordo com algumas modalidades.

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7/42 [0021] A figura 1C é uma vista esquemática do sistema de inspeção de a figura IA, de acordo com algumas modalidades.

[0022] A figura ID é um diagrama de blocos esquemático do sistema de inspeção de a figura 1 A, de acordo com algumas modalidades.

[0023] A figura 2 é um fluxograma de processo correspondente a um método para inspecionar uma superfície de um componente, de acordo com algumas modalidades.

[0024] As figuras 3A-3C são diferentes exemplos de um diagrama de sequência de operação de dois escâneres, de acordo com algumas modalidades.

[0025] As figuras 4A e 4B são representações esquemáticas de duas séries de dados obtidas pelos dois escâneres do sistema de inspeção mostrado na figura 1 A, de acordo com algumas modalidades.

[0026] A figura 4C é uma representação esquemática de uma série de dados combinada produzida por agregação de duas séries de dados mostradas nas figuras 4A e 4B, de acordo com algumas modalidades.

[0027] As figuras 5A e 5B são vistas superiores esquemáticas de um componente inspecionado mostrando diferentes posições de a inspeção porções na superfície do componente inspecionado, de acordo com algumas modalidades.

[0028] A figura 6A é um exemplo de um diagrama de sequência de operação de três escâneres, de acordo com algumas modalidades.

[0029] A figura 6B é uma vista superior esquemática de um componente inspecionado mostrando diferentes posições de a inspeção porções na superfície do componente inspecionado, de acordo com algumas modalidades.

[0030] A figura 7 é uma ilustração de um sistema de inspeção de processamento de dados, de acordo com algumas modalidades.

[0031] A figura 8 é um diagrama de blocos de metodologia de

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8/42 produção e serviço de aeronaves pode utilizam métodos e sistemas para avaliar desvios de altura sobre superfícies de estruturas compósitas descritas aqui.

[0032] A figura 9 é uma ilustração esquemática de uma aeronave que pode incluir estruturas compósitas descritas aqui.

DESCRIÇÃO DETALHADA [0033] Na seguinte descrição, numerosos detalhes específicos são descritos a fim de prover uma compreensão concisa dos conceitos apresentados. Os conceitos apresentados podem ser praticados sem alguns ou todos desses detalhes específicos. Em outros casos, as operações de processo bem conhecidas não foram descritas em detalhe de modo a não obscurecer desnecessariamente os conceitos descritos. Embora alguns conceitos sejam descritos em conjunção com as modalidades específicas, será entendido que essas modalidades não são destinadas a serem limitativas.

Introdução [0034] Várias ferramentas de inspeção podem ser usadas para varrer superfícies. A varredura pode ser usada para determinar desvios de altura e outras características de superfície. Um exemplo de tais ferramentas de inspeção é um escâner de linha, que pode ser também referido como um perfilômetro. Durante cada varredura, um escâner de linha produz uma série de dados correspondente à porção varrida da superfície. O escâner de linha pode ser movido em relação à superfície varrida por movimento dos escâneres, da superfície, ou de ambos. O movimento pode ocorrer depois de completar cada varredura e/ou durante a varredura atual. Por exemplo, um escâner de linha pode ser suportado por um braço robótico acima da superfície e varreduras podem ser disparadas quando o braço robótico se move ao longo da superfície. O movimento pode prosseguir durante cada varredura e entre varreduras (por exemplo, quando outro escâner está operacional). Alternativamente, um escâner de linha pode estar em uma

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9/42 posição fixa medindo uma superfície móvel, como uma correia de transportador ou uma faixa contínua móvel (por exemplo, em um processamento roll-to-roll). Quando o escâner se move ao longo da superfície e produz novas séries de dados, essas séries podem ser agregadas em uma representação de superfície coletiva. Cada varredura pode ser disparada em uma frequência fixa baseada em tempo ou usando algumas fontes externas de disparo, como um codificador ou um controlador de sistema.

[0035] Escâneres de linha têm tamanhos finitos de seu campo de medições. Esses campos de medições frequentemente são menores que as dimensões da superfície varrida, especialmente para grandes componentes comuns na indústria aeronáutica, automotiva, e outras indústrias. Adicionalmente, escâneres de linha com pequenos campos de medição (por exemplo, 5,08 cm (2 polegadas)) podem ser usados para assegurar medições precisas. Como, múltiplos escâneres podem ser arranjados em um arranjo para cobrir uma desejada dimensão/largura de varredura. Múltiplas séries de dados produzidas por este arranjo de escâneres são agregadas conjuntamente para produzir uma série de dados combinada.

[0036] Durante uma varredura, um escâner de linha projeta uma linha de luz sobre uma superfície inspecionada e captura uma imagem óptica da porção iluminada da superfície. Em algumas modalidades, múltiplas imagens podem ser capturadas durante o mesmo período de varredura em uma alta taxa de quadros. A porção iluminada da superfície pode ser referida como uma porção varrida. O tamanho desta porção depende do tamanho do campo de medição do escâner e, também, da posição do escâner de linha em relação à superfície. Triangulação pode ser usada pelo escâner de linha para computar várias características de superfície de alta precisão (por exemplo, desvios de altura) a partir dessas imagens ópticas. Essas características podem ser computadas em espaçamento fixo ao longo da linha de luz projetada. O escâner de linha pode emitir uma série de dados, que pode estar

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10/42 na forma de um arranjo de ID de valores de dados. Em algumas modalidades, a série de dados representa valores de altura ao longo da linha de luz projetada.

[0037] Quando a dimensão de uma superfície inspecionada excede o tamanho do campo de medição de um escâner individual, múltiplos escâneres podem ser colocados lado a lado para cobrir a dimensão inteira. Os campos de medição de escâneres adjacentes podem se sobrepor para assegurar que não hajam interstícios na inspeção. Todavia, sobreposições nas porções de superfícies iluminadas/inspecionadas podem causar várias interferências nas imagens ópticas capturadas. Evitar sobreposição nas porções inspecionadas pode não ser uma opção em situações quando a superfície inteira precisa ser inspecionada. Por exemplo, verificou-se que um interstício de pelo menos 50 milímetros pode ser necessário entre duas porções inspecionadas adjacentes para substancialmente evitar a interferência. Em outras palavras, uma porção da superfície, que tem largura de pelo menos 50 milímetros, não será inspecionada. Isto pode não ser aceitável para muitos tipos de inspeções de superfície.

[0038] Verificou-se que a interferência entre dois escâneres adjacentes pode ser reduzida ou até mesmo eliminada quando esses escâneres são operados em diferentes períodos ou, mais especificamente, em dois períodos que são deslocados um com relação ao outro. Esta característica pode ser referida como um deslocamento operacional baseado em tempo de escâneres adjacentes. Com o deslocamento baseado em tempo, os campos de medições de escâneres adjacentes podem ser posicionados um próximo ao outro e até mesmo se sobrepor sem interferência.

[0039] Em algumas modalidades, a superfície inspecionada está se movendo em relação aos escâneres de linha. Para finalidades desta descrição, o movimento da superfície inspecionada em relação aos escâneres de linha inclui todas as opções possíveis, a menos que especificamente notado: (a)

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11/42 mover a superfície inspecionada enquanto os escâneres de linha permanecem estacionários; (b) mover os escâneres de linha enquanto a superfície inspecionada permanece estacionária; e (c) mover tanto a superfície inspecionada quanto os escâneres de linha. No último exemplo, a superfície inspecionada e os escâneres de linha podem se mover ao longo da mesma direção. O foco aqui é o movimento relativo da superfície inspecionada com relação aos escâneres de linha. Nessas modalidades, interstícios de inspeção serão formados (na direção do movimento) por causa da operação de deslocamento baseado em tempo dos escâneres. Especificamente, depois da varredura de uma primeira porção usando um primeiro escâner de linha, o primeiro escâner de linha pode ser desligado por um curto período enquanto um segundo escâner de linha (adjacente ao primeiro escâner de linha) está realizando sua varredura. Uma porção da superfície se movendo depois do campo de medição do primeiro escâner de linha durante o período ficará não inspecionada. Esta porção pode ser referida a um interstício entre duas porções inspecionadas pelo mesmo escâner de linha. Todavia, porque cada período de varredura é muito curto, esses interstícios serão muito pequenos e geralmente muito menores que o deslocamento físico necessário para evitar interferência (descrita acima). Adicionalmente, o interstício pode ser controlado por alteração da velocidade de movimento e/ou duração da varredura.

[0040] No geral, deslocamentos baseados em tempo para prevenção de interferência podem ser selecionados com base na velocidade de movimento e duração de varredura. Para finalidades desta descrição, v_max é definida como a velocidade de movimento máxima atingível (medida em milímetro por segundos), e - duração de varredura (medida em segundos), At - retardo de tempo entre o início de duas varreduras consecutivas para o mesmo escâner (espaçamento de disparo a tempo para o primeiro escâner de linha ou o segundo escâner de linha, medido em segundos), Ad - largura de

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12/42 interstício não inspecionada para o mesmo escâner (espaçamento de disparo físico para o primeiro escâner de linha ou o segundo escâner de linha, e medido em milímetros).

[0041] Aplicando desses parâmetros em um exemplo de dois escâneres, a duração de varredura (e) pode não exceder à metade do espaçamento de disparo (At), e < Vi At. Para este exemplo, a varredura do primeiro escâner de linha pode terminar antes de começar a varredura com o segundo escâner de linha. As durações de varredura para ambos os escâneres podem ser as mesmas e assim é o espaçamento de disparo. Em algumas modalidades, o final da primeira varredura pode substancialmente coincidir com o início da segunda varredura, e ~ Vi At. Alternativamente, algum retardo pode ser provido depois do final da primeira varredura e antes do início da segunda varredura, e < Vi At. Em algumas modalidades, as varreduras podem se sobrepor no tempo, e > Vi At.

[0042] Adicionalmente, a correlação entre o retardo de tempo entre varreduras (para o mesmo escâner), a largura de interstício não inspecionada, e a velocidade de movimento pode ser de acordo com o seguinte: At > Ad/v_max. O interstício não inspecionado (Ad) pode ser selecionado por redução da qualidade de resolução de um sinal a partir de um codificador linear para disparar os escâneres de linha em um passo fixo. O retardo de tempo entre varreduras (At) pode ser variável com base na velocidade de máquina variável e passo fixo.

[0043] No geral, a superfície a inspeção pode ser substancialmente melhorada por uso de múltiplas linhas de deslocamento baseadas em tempo. Em parte, a taxa na qual a superfície pode ser varrida pode ser aumentada proporcionalmente ao número de escâneres de linha em um arranjo. Com esta proposta, escâneres de linha com resolução fina podem ser usados, enquanto usam uma maior área de cobertura que tipicamente somente seria possível com escâneres a laser de resolução mais baixa, de maior alcance. A colocação

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13/42 de escâneres de linha em um arranjo pode melhorar a cobertura e, por conseguinte, aumentar a taxa na qual a superfície pode ser varrida.

Exemplos de Sistema de Inspeção [0044] A figura IA é uma vista em perspectiva esquemática do sistema de inspeção 100 compreendendo primeiro escâner de linha 110a e segundo escâner de linha 110b, de acordo com algumas modalidades. O sistema de inspeção 100 é mostrado no processo de varredura da superfície 192 do componente inspecionado 190. Deve ser notado que o componente inspecionado 190 não é uma parte do sistema de inspeção 100. O componente inspecionado 190 é apresentado na figura IA e em algumas outras figuras simplesmente como uma referência e para ilustrar várias características do sistema de inspeção 100, como campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a e campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b. [0045] O sistema de inspeção 100 mostrado na figura IA compreende o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b. Em algumas modalidades, o sistema de inspeção 100 pode incluir um ou mais escâneres adicionais, por exemplo, o terceiro escâner de linha 110C como mostrado na figura 1B. Todos os escâneres podem ser arranjados em um arranjo 111, o qual se estende na direção X nas figuras 1A e 1B.

[0046] O primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha

110b são arranjados no arranjo 111 ou, mais especificamente, no arranjo linear 111 se estendendo na direção X. Neste exemplo, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a é paralelo ao campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b ou, mais especificamente, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a é colinear com o campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b.

[0047] Em algumas modalidades, cada um do primeiro escâner de linha 110a e do segundo escâner de linha 110b é operável para detectar desvios de altura sobre a superfície 192 do componente inspecionado 190

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14/42 dentro de seu respectivo campo de medição 112a/l 12b. Como mostrado nas figuras IA e 1B, o primeiro escâner de linha 110a tem o primeiro campo de medição 112a definindo a primeira porção varrida 194a sobre a superfície 192. O segundo escâner de linha 110b é mostrado para ter o segundo campo de medição 112b definindo a segunda porção varrida 194b sobre a superfície 192. Cada um do primeiro campo de medição 112a e do segundo campo de medição 112b pode ser uma linha, em cujo caso o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b podem ser também referidos como escâneres lineares.

[0048] Como mostrado nas figuras IA - IC, o campo de medição

112a do primeiro escâner de linha 110a se sobrepõe parcialmente com o campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b. Esta característica de sobreposição pode ser usada para assegurar que não existam interstícios entre as porções inspecionadas 194a e 194b, pelo menos em uma direção, que é a direção X neste exemplo. Deve ser notado que mesmo se os campos de medição 112a e 112b se sobrepõe, não existe interferência, ou existe muito pouca interferência, entre a operação do primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b porque seus períodos de operação são deslocados e as porções iluminadas/inspecionadas 194a e 194b não se sobrepõem durante as varreduras atuais.

[0049] Com referência à figura IC, os campos de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a se estendem na direção X entre os pontos Xo e X₂, enquanto os campos de medição 112B do segundo escâner de linha 110b se estende na direção X entre os pontos Xi e X₃. A parte de sobreposição 116 desses dois campos de medição 112a e 112b se estende entre os pontos Xi e X₂. O tamanho da parte de sobreposição 116 pode ser entre cerca de 1% e 25% do correspondente tamanho de cada um dos campos de medição 112a e 112b ou, mais especificamente, entre cerca de 5% e 20%. O maior tamanho da parte de sobreposição 116 assegura que mais da superfície 192 seja

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15/42 inspecionada e alinhamento menos preciso dos escâneres seja necessária. Por um lado, o aumento do tamanho da parte de sobreposição 116 pode reduzir o tempo de inspeção total e/ou requerer escâneres adicionais. Deve ser notado que os campos de medição 112a e 112b são definidos por características dos respectivos escâneres 110a e 110b bem como pela posição desses escâneres 110a e 110b um em relação ao outro e com relação à superfície inspecionada 192 (por exemplo, a distância entre escâneres 110a e 110b e a superfície inspecionada 192). Em algumas outras modalidades não mostradas nas figuras 1A-1C, os campos de medição 112a e 112b não se sobrepõem. Em lugar disso, os campos de medição 112a e 112b podem simplesmente se tocar em um ponto ou até mesmo ser separados por um interstício que é inferior a 10% ou até mesmo inferior a 5% do correspondente tamanho de cada um dos campos de medição 112a e 112b.

[0050] A figura ID é um diagrama de blocos esquemático do sistema de inspeção 100 da figura IA, de acordo com algumas modalidades. O primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b podem ser móveis em relação ao componente inspecionado 190. Este movimento pode ser manual. Alternativamente, o sistema de inspeção 100 pode opcionalmente incluir o dispositivo de movimento 135 usado para mover o primeiro escâner de linha 110a e/ou o segundo escâner de linha 110b em relação ao componente inspecionado 190. Alguns exemplos do dispositivo de movimento 135 é um motor de passo, uma mesa linear (por exemplo, mesa Y), uma mesa X-Y, um dispositivo rotacional, ou alguns outros dispositivos apropriados. O primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b podem ser movidos conjuntamente ou independentemente um do outro. Por exemplo, quando o primeiro escâner de linha 110a varre o componente inspecionado 190, ele pode permanecer estacionário em relação ao componente inspecionado 190, enquanto o segundo escâner de linha 110b se move para uma nova posição. Alternativamente, o primeiro escâner de linha

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110a e o segundo escâner de linha 110b podem permanecer estacionários e o componente inspecionado 190 pode ser movido em relação ao primeiro escâner de linha 110a e ao segundo escâner de linha 110b. Em algumas modalidades, o controlador de sistema 130 pode enviar instruções para o dispositivo de movimento 135 para alterar a posição de um ou de ambos os escâneres 110a e 110b em relação ao componente inspecionado 190.

[0051] Em algumas modalidades, o sistema de inspeção 100 opcionalmente inclui um ou mais codificadores 137 para determinar as posições do primeiro escâner de linha 110a e/ou do segundo escâner de linha 110b (por exemplo, em relação ao componente inspecionado 190). Adicionalmente, os codificadores 137 podem ser usados para determinar as posições do primeiro escâner de linha 110a e do segundo escâner de linha 110b um em relação ao outro, por exemplo, para facilitar o estabelecimento ou alteração de uma sobreposição desejada, especialmente quando o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b são móveis um com relação ao outro. Alternativamente, a posição do primeiro escâner 110a e do segundo escâner de linha 110b pode ser fixada um com relação ao outro. Essas posições podem ser associadas com cada série de dados produzida pelo primeiro escâner de linha 110a e/ou pelo segundo escâner de linha 110b. O codificador 137 pode enviar continuamente informação acerca das posições do primeiro escâner de linha 110a e/ou do segundo escâner de linha 110b com relação ao controlador de sistema 130, que pode usar esta informação de posição para iniciar varreduras, associar posições a várias séries de dados, e/ou agregar as séries de dados.

[0052] O controlador de sistema 130 do sistema de inspeção 100 pode ser usado para controlar a operação do primeiro escâner de linha 110a e do segundo escâner de linha 110b. O controlador de sistema 130 pode ser também usado para agregar séries de dados recebidas a partir do primeiro escâner de linha 110a e do segundo escâner de linha 110b usando, por

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17/42 exemplo, o agregador de séries de dados 132. O agregador de séries de dados 132 produz uma série de dados combinada para uma série de dados recebida a partir do primeiro escâner de linha 110a e outra série de dados recebida a partir do segundo escâner de linha 110b. As séries de dados combinadas, produzidas pelo agregador de séries de dados 132 e, em algumas modalidades, outros dados, podem ser armazenados na memória 136 do controlador de sistema 130. Por exemplo, a memória 136 pode também armazenar séries de dados recebidas a partir dos escâneres 110a e 110b, informação recebida a partir do codificador 137 (por exemplo, posições de escâner no momento da varredura). A memória 136 pode também armazenar vários pontos de dado usados para a análise das séries de dados combinadas, como tolerâncias de altura.

[0053] Outro componente adicional do controlador de sistema 130 é o módulo de análise 133. O módulo de análise 133 pode ser usado e configurado para analisar as séries de dados combinadas para determinar, por exemplo, desvios de altura que excederam a tolerância. Em algumas modalidades, o módulo de análise 133 pode identificar valores discrepantes e até mesmo representação de valores discrepantes de construção. Em algumas modalidades, o controlador de sistema 130 pode enviar a representação de valor discrepante para o dispositivo de saída 134, como um visor, impressora, ou outro sistema de computador.

Exemplos de método de inspeção [0054] A figura 2 é um fluxograma de processo correspondente ao método 200 para inspecionar a superfície 192 do componente 190, de acordo com algumas modalidades. Algumas operações do método 200 podem ser realizadas usando a inspeção 100 descrita acima.

[0055] Em algumas modalidades, o método 200 pode começar com a formação do componente 190 durante a operação opcional 210. Por exemplo, o componente 190 pode ser uma estrutura compósita formada a partir de

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18/42 múltiplas camadas. Essas camadas podem ser folhas planas que são arranjadas em uma estrutura de camada. Para conformar a estrutura de camada, a estrutura de camada inicialmente plana pode ser sujeita à pressão em uma matriz ou encurvamento em um molde. Pregas e outras variações de altura podem ocorrer no componente 190 durante sua conformação.

[0056] Em algumas modalidades, a superfície de varredura 192 é realizada em linha com a formação do componente 190 durante a operação

210. Por exemplo, as operações 212a-212b bem como a operação 220 podem ser realizadas e repetidas durante a formação do componente 190, que pode ser referida como inspeção no processo. Por exemplo, a superfície 192 pode ser varrida depois da adição de camada e, mais especificamente, durante a adição de cada camada para detectar quaisquer defeitos no processo. A superfície 192 pode ser varrida adicionalmente durante a conformação da camada superior.

[0057] Em algumas modalidades, o método 200 envolve alinhar o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b um em relação ao outro e em relação à superfície 192 do componente 190 durante a operação opcional 211. Por exemplo, o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b podem ser afixados a um suporte disposto sobre a superfície 192 do componente 190. Depois da conclusão da operação

211, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a pode parcialmente se sobrepor com o campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b, como, por exemplo, mostrado nas figuras 1A-1C e discutido acima.

[0058] Retornando para a figura 2, o método 200 pode envolver varrer a primeira porção 194a de superfície 192 usando o primeiro escâner de linha 110a durante a operação 212a. Esta operação 212a é realizada durante o primeiro período 160a e produz a primeira série de dados 150a correspondente à representação da primeira porção 194a. Por exemplo,

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19/42 durante a operação 212a, o primeiro escâner de linha 110a pode iluminar a primeira porção 194a e capturar uma ou mais imagens ópticas da primeira porção 194a para determinar várias características desta porção, como desvios de altura. A primeira porção 194a corresponde ao campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a durante o primeiro período 160a. [0059] O método 200 pode envolver varrer a segunda porção 194b de superfície 192 usando o segundo escâner de linha 110b durante a operação 212b. Esta operação 212b pode ser similar à operação 212a descrita acima, mas ela é realizada durante o segundo período 160b deslocado em relação ao primeiro período 160a. Também, a operação 212b produz a segunda série de dados 150b correspondente à segunda porção 194b. A segunda porção 194b corresponde ao campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b durante o segundo período 160b. O deslocamento entre o primeiro período 160a e o segundo período 160b é usado para reduzir a interferência entre essas duas varreduras.

[0060] As figuras 3A-3C ilustram três exemplos de sequências de operação 170a e 170b, nas quais o primeiro período 160a é deslocado em relação ao segundo período 160b. Especificamente, a primeira sequência de operação 170a corresponde ao primeiro escâner de linha 110a, enquanto a segunda sequência de operação 170b corresponde ao segundo escâner de linha 110b.

[0061] Com referência à figura 3A, o primeiro período 160a começa em to e termina em tl, enquanto o segundo período 160b começa em ti e termina em t2. Como tal, a extremidade do primeiro período 160a coincide com o início do segundo período 160b, neste exemplo. Em outras palavras, o segundo período 160b começa imediatamente depois do primeiro período 160a. Adicionaimente, o primeiro período 160a não se sobrepõe ao segundo período 160b, neste exemplo.

[0062] A varredura usando o primeiro escâner de linha 110a pode ser

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20/ 42 repetida durante o terceiro período 160c, o qual começa em t₂ & termina em t₃, como mostrado na figura 3A. O final do segundo período 160b coincide com o início do terceiro período 160c, neste exemplo. Em outras palavras, o retardo de disparo (a duração entre o início das duas varreduras) de primeiro escâner de linha 110a é igual a uma soma do primeiro período 160a e do segundo período 160b. De uma maneira similar, a varredura usando o segundo escâner de linha 110b pode ser repetida durante o quarto período 160d, o qual começa em t₃ e termina em t4. Uma pessoa que tem conhecimento comum na técnica entenderia que essas varreduras usando o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b podem continuar a se repetir com o deslocamento estabelecido.

[0063] Em algumas modalidades, o primeiro período 160a é igual ao segundo período 160b. Nessas modalidades, o retardo de disparo é o dobro do período de varredura. Alternativamente, o primeiro período 160a pode ser diferente do segundo período 160b.

[0064] A figura 3B ilustra outro exemplo do primeiro período 160a sendo deslocado em relação ao segundo período 160b. Neste exemplo, o primeiro período 160a se sobrepõe ao segundo período 160b. Especificamente, o primeiro período 160a começa em to e termina em t₂, enquanto o segundo período 160b começa em ti e termina em U. Como tal, o segundo período 160b começa (em ti) antes do primeiro período 160a terminar (em t₂\ A sobreposição (entre ti e i₂) pode ser substancialmente menor que cada um do primeiro período 160a e do segundo período 160b para reduzir a interferência entre duas varreduras. Por exemplo, a sobreposição pode ser inferior a 10% ou até mesmo inferior a 5% de cada um do primeiro período 160a e do segundo período 160b.

[0065] Adicionalmente, quando a varredura usando o primeiro escâner de linha 110a é repetida durante o terceiro período 160c, o qual começa em t₃ e termina em t6, o segundo período 160b também se sobrepõe

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21/42 ao terceiro período 160c. De uma maneira similar, o terceiro período 160c também se sobrepõe ao quarto período 160d em adição à sobreposição ao segundo período 160b.

[0066] A figura 3C ilustra ainda outro exemplo do primeiro período

160a sendo deslocado em relação ao segundo período 160b. Neste exemplo, o primeiro período 160a não se sobrepõe ao segundo período 160b e o segundo período não começa imediatamente depois do primeiro período 160a. Existe um retardo entre o primeiro período 160a e o segundo período 160b. Especificamente, o primeiro período 160a começa em to e termina em ti, enquanto o segundo período 160b começa em t₂ e termina em t₂. Como tal, existe retardo (ti a X₂) entre a extremidade do primeiro período 160a e o início do segundo período 160b. O retardo pode ser substancialmente menor que cada um do primeiro período 160a e do segundo período 160b para reduzir a interferência entre duas varreduras. Por exemplo, o retardo pode ser inferior a 10% ou até mesmo inferior a 5% de cada um do primeiro período 160a e do segundo período 160b.

[0067] Como notado acima, durante a superfície de varredura 192 usando múltiplos escâneres de linha 110, seus campos de medição 112 podem se sobrepor. Com referência às figuras 1A-1C, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a pode parcialmente se sobrepor ao campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b. Especificamente, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a se estende entre Xo e X₂, enquanto o campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b se estendendo entre Xi e X₃. A parte de sobreposição 116 se estende entre Xi e X₂. A parte de sobreposição 116 assegura que não existam interstícios na superfície de varredura 192, pelo menos na direção X.

[0068] Adicionalmente, com referência figura IA, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a pode ser colinear com o campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b. Esta

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22/42 característica de colinearidade pode ser útil durante a agregação da primeira série de dados 150a e da segunda série de dados 150b para formar a série de dados combinada 151 e para evitar a necessidade de deslocamento e de outras manipulações com a primeira série de dados 150a e a segunda série de dados 150b. A colinearidade dos campos de medição 112a e 112b pode se traduzir na colinearidade das porções inspecionadas 194a e 194b se, por exemplo, o componente inspecionado 190 não for movido em relação aos escâneres 110a e 110b durante ou entre a varredura das porções inspecionadas 194a e 194b. Todavia, se o componente inspecionado 190 for movido em relação aos escâneres 110a e 110b durante ou entre a varredura das porções inspecionadas 194a e 194b, então a primeira porção 194a pode ser paralela e deslocada com relação à segunda porção 194b de superfície 192.

[0069] Retornando para a figura 2, o método 200 envolve agregar a primeira série de dados 150a e a segunda série de dados 150b para formar a série de dados combinada 151 durante a operação 220. A primeira série de dados 150a corresponde à primeira porção 194a e é definido pelo campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a durante a varredura atual (por exemplo, o primeiro período 160a), como esquematicamente mostrado na figura IA. Similarmente, a segunda série de dados 150b corresponde à segunda porção 194b e é definido pelo campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110b durante a varredura atual (por exemplo, o segundo período 160b), também esquematicamente mostrado na figura IA. A série de dados combinada 151 corresponde tanto à primeira porção 194a quanto à segunda porção 194b. Com referência à figura IA, a série de dados combinada 151 representa uma porção de superfície 192 se estendendo entre Xo e X₃. Em algumas modalidades, a série de dados combinada 151 representa todas as porções que se estendem ao longo de uma dimensão 191 do componente inspecionado 190.

[0070] A agregação da primeira série de dados 150a e da segunda

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23/42 série de dados 150b depende de posições relativas da primeira porção 194a e da segunda porção 194b, por exemplo, de se a primeira porção 194a e a segunda porção 194b se sobrepõem e/ou são deslocadas uma com relação à outra. Por exemplo, as figuras 1A-1C ilustram a primeira porção 194a e a segunda porção 194b, com referência à parte de sobreposição 116 ilustrada na figura 1C e se estendendo entre Xi e X₂.

[0071] As figuras 4A e 4B são representação esquemática da primeira série de dados 150a e a segunda série de dados 150b, de acordo com algumas modalidades. A primeira série de dados 150a compreende primeira porção de não sobreposição 152a e a primeira porção de sobreposição 154a. A primeira porção de não sobreposição 152a corresponde à primeira parte de não sobreposição (se estendendo entre Xo e Xi, como mostrado na figura 1C) da primeira porção inspecionada 194a. A primeira porção de sobreposição 154a corresponde à parte de sobreposição 116 (se estendendo entre Xi e X₂, como mostrado na figura 1C) da primeira porção inspecionada 194a.

[0072] Similarmente, a segunda série de dados 150b compreende a segunda porção de não sobreposição 152b e a segunda porção de sobreposição 154b. A segunda porção de não sobreposição 152b corresponde à segunda parte de não sobreposição 114b (se estendendo entre X₂ e X3 como mostrado na figura 1C) da segunda porção inspecionada 194b. A segunda porção de sobreposição 154b corresponde à parte de sobreposição 116 (se estendendo entre Xi e X₂, como mostrado na figura 1C). Deve ser notado que a primeira porção de sobreposição 154a da primeira série de dados 150a e a segunda porção de sobreposição 154b da segunda série de dados 150b correspondem à mesma parte de sobreposição 116 do componente inspecionado 190. Em outras palavras, a primeira porção de sobreposição 154a e a segunda porção de sobreposição 154b podem ser visualizadas como um dado redundante. Quando agregando a primeira série de dados 150a e a segunda série de dados 150b, uma da primeira porção de sobreposição 154a e

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24/42 da segunda porção de sobreposição 154b pode ser ignorada ou uma média da primeira porção de sobreposição 154a e da segunda porção de sobreposição 154b pode ser usada para representar a parte de sobreposição 116 da superfície inspecionada 192.

[0073] A figura 4C é uma representação esquemática da série de dados combinada 151, de acordo com algumas modalidades. A série de dados combinada 151 é um resultado da agregação da primeira série de dados 150a e da segunda série de dados 150b durante a operação 220. A série de dados combinada 151 inclui a primeira porção de não sobreposição 152a da primeira série de dados 150a e a segunda porção de não sobreposição 152b da segunda série de dados 150b. A série de dados combinada 151 também inclui a porção de sobreposição combinada 154, que é derivada a partir de uma ou de ambas da primeira porção de sobreposição 154a da primeira série de dados 150a e da segunda porção de sobreposição 154b da segunda série de dados 150b. Por exemplo, a porção de sobreposição combinada 154 pode ser gerada por seleção de uma da primeira porção de sobreposição 154a ou da segunda porção de sobreposição 154b. Em outro exemplo, a porção de sobreposição combinada 154 pode ser a média da primeira porção de sobreposição 154a e da segunda porção de sobreposição 154b ou, mais especificamente, valores de dados nessas porções de sobreposição.

[0074] Em algumas modalidades, a agregação da primeira série de dados 150a e da segunda série de dados 150b compreende alinhar espacialmente essas séries de dados durante a operação opcional 222, como mostrado no fluxograma da figura 2. Este alinhamento espacial pode ser realizado com base nas posições relativas da primeira porção 194a e da segunda porção 194b. Por exemplo, a operação 222 pode envolver a identificação da parte de sobreposição 116 na primeira porção 194a e na segunda porção 194b e então a identificação da primeira porção de não sobreposição 152a, da primeira porção de sobreposição 154a, da segunda

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25/42 porção de não sobreposição 152b, e da segunda porção de sobreposição 154b. Deve ser notado que as posições relativas da primeira porção 194a e da segunda porção 194b são determinadas, pelo menos em parte, pelo alinhamento do primeiro escâner de linha 110a e do segundo escâner de linha 110b um em relação ao outro e em relação à superfície 192 do componente 190. Como tal, este alinhamento do primeiro escâner de linha 110a e do segundo escâner de linha 110b pode ser usado para alinhar espacialmente a primeira série de dados 150a e a segunda série de dados 150b. O exemplo acima se refere ao alinhamento espacial dos dados ao longo do eixo X. Uma pessoa tendo conhecimento comum na técnica compreenderia que o alinhamento pode ser realizado também ao longo de outros eixos, como ao longo do eixo Y, por exemplo, para compensar o movimento do componente inspecionado 190 em relação ao primeiro escâner de linha 110a e ao segundo escâner de linha 110b.

[0075] Retornando para a figura 2, o método 200 pode envolver alterar a posição dos escâneres 110a e 110b em relação ao componente 190 durante a operação 240. Especificamente, a operação 240, que pode ser referida como operação de alteração da posição entre escâner e componente 240, pode envolver mover o componente 190 enquanto os escâneres 110a e 110b permanecem estacionários, como refletida pela operação opcional 242, que pode ser referida como a operação de movimento de componente 242. Alternativamente, a operação de alteração da posição entre escâner e componente 240 pode envolver mover um ou ambos dos escâneres 110a e 110b enquanto o componente 190 permanece estacionário, como refletida pela operação opcional 244, que pode ser referida como operação de movimento de escâner 244. Adicionalmente, a operação de alteração da posição entre escâner e componente 240 pode envolver mover um ou ambos dos escâneres 110a e 110b e o componente 190 ao mesmo tempo. Em outras palavras, a operação de alteração da posição entre escâner e componente 240

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26/42 pode incluir tanto a operação de movimento de componente 242 quanto a operação de movimento de escâner 244, que podem ser realizadas ao mesmo tempo. O movimento durante a operação 242 e/ou a operação 244 pode ser na direção 195 perpendicular ao campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a, como, por exemplo, esquematicamente mostrado na figura IA. [0076] Em algumas modalidades, o componente 190 pode alterar sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a. Pode ocorrer que o componente 190 também altere sua posição em relação ao segundo escâner de linha 110b. Por exemplo, o componente 190 pode alterar sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a e em relação ao segundo escâner de linha 110b ao mesmo tempo. Alternativamente, o componente 190 pode alterar sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a enquanto a posição relativa entre o componente 190 e o segundo escâner de linha 110b é mantida constante. Por exemplo, o primeiro escâner de linha 110a pode ser movido (independentemente do segundo escâner de linha 110b) em relação ao componente 190, enquanto o segundo escâner de linha 110b mantém sua posição relativa no que se refere ao componente 190.

[0077] Este movimento (componente 190 alterando sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a) pode ser realizado durante a varredura da segunda porção 194b usando o segundo escâner de linha 110b durante a operação 212b. Adicionalmente, a primeira porção 194a pode ser varrida usando o primeiro escâner de linha 110a durante este movimento. Em outras palavras, o componente 190 pode alterar sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a enquanto o primeiro escâner de linha 110a varre a primeira porção 194a sobre a superfície 192 do componente 190. [0078] Retornando para a figura 2, depois de o componente 190 alterar sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a, a superfície de varredura 192 usando o primeiro escâner de linha 110a pode ser repetida, como refletido pelo bloco de decisão 230. A varredura adicional pode ser

Petição 870170065523, de 04/09/2017, pág. 108/140 /42 realizada durante o terceiro período 160c, deslocado em relação ao primeiro período 160a e deslocado em relação ao segundo período 160b, como descrito acima com referência a as figuras 3A-3C. A varredura adicional produz a terceira série de dados 150c correspondente à terceira porção 194c da superfície 192. Diferentes exemplos da terceira porção 194c e sua posição em relação à primeira posição 194a são mostrados nas figuras 5A e 5B. A terceira porção 194c é deslocada em relação à primeira porção 194a na direção Y, porque o componente 190 altera sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a. De uma maneira similar, a superfície de varredura 192 usando o segundo escâner de linha 110b pode ser repetida para varrer a quarta porção 194d. Esta varredura pode ser realizada durante o quarto período 190d, que é deslocado em relação ao primeiro período 160a, ao segundo período 160b, e ao terceiro período 160c.

[0079] No exemplo ilustrado na figura 5A, o componente 190 não altera sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a enquanto o primeiro escâner de linha 110a realiza varreduras. Como tal, a primeira porção 194a e a terceira porção 194c têm perfis lineares. Neste exemplo, o componente 190 pode alterar sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a em outros instantes, por exemplo, enquanto o segundo escâner de linha 110b varre a segunda porção 194b. Todavia, neste exemplo ilustrado, o componente 190 também não altera sua posição em relação ao segundo escâner de linha 110b enquanto o segundo escâner de linha 110b realiza varreduras. Por exemplo, o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b podem se mover independentemente um do outro durante a operação global.

[0080] A figura 5B ilustra outro exemplo no qual o componente 190 altera sua posição em relação ao primeiro escâner de linha 110a, enquanto o primeiro escâner de linha 110a realiza varreduras. Como tal, a primeira porção 194a e a terceira porção 194c têm larguras na direção Y.

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Similarmente, o componente 190 altera sua posição em relação ao segundo escâner de linha 110b enquanto o segundo escâner de linha 110b realiza varreduras. Como tal, a segunda porção 194b e a quarta porção 194d têm larguras na direção Y. Adicionalmente, o interstício não inspecionado entre cada par de porções inspecionadas adjacentes pelo mesmo escâner (por exemplo, entre a primeira porção 194a e a terceira porção 194c e, separadamente, entre a segunda porção 194b e a quarta porção 194d) na direção Y, pode ser menor que o tamanho de uma típica imperfeição de superfície nesta direção. Adicionalmente, como mencionado acima, o interstício não inspecionado pode ser controlado e, em algumas modalidades, pode ser selecionado por redução da qualidade de resolução de um sinal a partir de um codificador linear para disparar os escâneres de linha em um passo fixo.

[0081] A largura da primeira porção 194a (na direção Y) depende da velocidade com a qual o componente inspecionado 190 se move em relação ao primeiro escâner de linha 110a e da duração do primeiro período 160a. Igualmente, a largura da segunda porção 194b (na direção Y) depende da velocidade com a qual o componente inspecionado 190 se move em relação ao segundo escâner de linha 110b e da duração do segundo período 160b. Em algumas modalidades, a largura da primeira porção 194a e/ou a segunda porção 194b pode ser entre cerca de 2,54 cm (1 polegada) e 25,4 cm (10 polegada) ou, mais especificamente, entre cerca de 5,08 cm (2 polegadas) e 7,62 cm (3 polegadas). A largura da primeira porção 194a pode ser a mesma que a largura da segunda porção 194b. Neste exemplo, a duração do primeiro período 160a pode ser a mesma que a duração do segundo período 160b. Também, a velocidade com a qual o componente inspecionado 190 se move em relação aos escâneres pode ser a mesma durante ambos os períodos.

[0082] Em algumas modalidades, o sistema de inspeção 100 compreende o terceiro escâner de linha 110c, como esquematicamente

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29/42 mostrado na figura 1B. O terceiro escâner de linha 110c pode formar o arranjo 111 com o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b de forma que o segundo escâner de linha 110b seja disposto entre o primeiro escâner de linha 110a e o terceiro escâner de linha 110c. Como tal campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a não se sobrepõe ao campo de medição 112c do terceiro escâner de linha 110c e o primeiro escâner de linha 110a e o terceiro escâner de linha 110c podem ser operados ao mesmo tempo. O primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b formam o primeiro par de escâneres de linha adjacentes 113a. O segundo escâner de linha 110b e o terceiro escâner de linha 110c formam o segundo par de escâneres de linha adjacentes 113b. Como tal, o campo de medição 112b do segundo escâner de linha 110a pode se sobrepor ao campo de medição 112c do terceiro escâner de linha 110c. A este respeito, a operação do segundo escâner de linha 110b e do terceiro escâner de linha 110c não deve ter sobreposições substanciais. Adicionalmente, o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a pode ser colinear com o campo de medição 112c do terceiro escâner de linha 110c. Em algumas modalidades, todos os três campos de medição 112a-112b podem ser colineares.

[0083] A figura 6A ilustra um exemplo de sequências de operação

170a-170c de três escâneres llOa-llOc. Neste exemplo, o primeiro escâner de linha 110a e o terceiro escâner de linha 110c operam simultaneamente durante o primeiro período 160a. Em outras palavras, a sequência de operação 170a do primeiro escâner de linha 110a pode ser a mesma que a sequência de operação 170b do terceiro escâner de linha 110c, mas diferente da sequência de operação 170b do segundo escâner de linha 110b. O primeiro período 160a é deslocado em relação ao segundo período 160b, durante o qual o segundo escâner de linha 110b é operacional.

[0084] Nessas modalidades com três escâneres, o método 200

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30/42 compreende adicionalmente varrer a terceira porção 194c de superfície 192 usando o terceiro escâner de linha 110c. O local da terceira porção 194c em relação à primeira porção 194a e à segunda porção 194b é ilustrada na figura 6B. Esta varredura produz a terceira série de dados 150c correspondente à terceira porção 194c. Este exemplo da terceira série de dados 150c é agregado 220 conjuntamente à primeira série de dados 150a e à segunda série de dados 150b. Este exemplo de operação não deve ser confundido com outro exemplo no qual a terceira série de dados 150c é obtida durante uma varredura adicional do primeiro escâner de linha 110a, que é descrita acima. Exemplos de Controladores de Sistemas de Inspeção por Computador [0085] Retornando agora para a figura 7, uma ilustração do controlador de sistema 130 do sistema de inspeção 100 é apresentada de acordo com algumas modalidades. O controlador de sistema 130 pode ser usado para implementar um ou mais computadores usados em um controlador de sistema de ou em outros componentes de vários exemplos do sistema de inspeção 100 descrito acima. Em algumas modalidades, o controlador de sistema 130 inclui a estrutura de comunicações 1002, que provê comunicações entre a unidade de processador 1004, a memória 1006, o armazenamento persistente 1008, a unidade de comunicações 1010, a unidade de entrada/saída E/S1012, e o visor 1014. Neste exemplo, a estrutura de comunicações 1002 pode assumir a forma de um sistema de inspeção de barramento.

[0086] A unidade de processador 1004 serve para executar instruções para software/instruções que podem ser carregadas na memória 1006. Essas instruções podem ser usadas para realizar várias operações do método 200 descrito acima com referência à figura 2, como alinhar o primeiro escâner de linha 110a e o segundo escâner de linha 110b um em relação ao outro e à superfície 192 do componente 190 de forma que o campo de medição 112a do primeiro escâner de linha 110a se sobreponha parcialmente com o campo

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31/42 de medição 112b do segundo escâner de linha 110b; a varredura 212 uma primeira porção 194a de superfície 192 usando o primeiro escâner de linha 110a durante o primeiro período 160a de forma que a varredura 212 uma primeira porção 194a produz a primeira série de dados 150a correspondente à primeira porção 194a; a varredura 212b a segunda porção 194b de superfície 192 usando o segundo escâner de linha 110b durante o segundo período 160b deslocado em relação ao primeiro período 160b de forma que a varredura 212b da segunda porção 194b produza a segunda série de dados 150b correspondente à segunda porção 194b; e agregar 220 a primeira série de dados 150a e a segunda série de dados 150b a uma série de dados combinada 151.

[0087] A unidade de processador 1004 pode ser um número de processadores, um núcleo de multiprocessadores, ou algum outro tipo de processador, dependendo da implementação particular. A memória 1006 e o armazenamento persistente 1008 são exemplos de dispositivos de armazenamento 1016. Um dispositivo de armazenamento é qualquer peça de hardware que é capaz de armazenar informação, como, por exemplo, sem limitação, dados, código de programa, em forma funcional, e/ou outra informação apropriada ou em uma base temporária e/ou em uma base permanente. Os dispositivos de armazenamento 1016 podem também ser referidos como dispositivos de armazenamento legíveis por computador nesses exemplos ilustrativos. A memória 1006, nesses exemplos, pode ser, por exemplo, uma memória de acesso aleatório ou qualquer outro apropriado dispositivo de armazenamento volátil ou não volátil. O armazenamento persistente 1008 pode assumir várias formas, dependendo da implementação particular. Por exemplo, o armazenamento persistente 1008 pode conter um ou mais componentes ou dispositivos. Por exemplo, o armazenamento persistente 1008 pode ser um disco rígido, uma memória flash, um disco óptico regravável, uma fita magnética regravável, ou alguma combinação dos

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32/42 acima. Os meios usados pelo armazenamento persistente 1008 também podem ser removíveis. Por exemplo, um disco rígido removível pode ser usado para o armazenamento persistente 1008. O armazenamento persistente 1008 pode ser um meio legível por computador, no qual são codificadas instruções para realizar as operações do método 200 descrito acima.

[0088] A unidade de comunicações 1010, nesses exemplos ilustrativos, provê comunicações com outros sistemas ou dispositivos de inspeção por processamento de dados. Nesses exemplos ilustrativos, a unidade de comunicações 1010 é uma placa de interface de rede. A unidade de entrada/saída 1012 permite a entrada e saída de dados com outros dispositivos que podem ser conectados ao controlador de sistema 130. Por exemplo, a unidade de entrada/saída 1012 pode prover uma conexão para a entrada de usuário através de um teclado, um mouse, e/ou algum outro dispositivo de entrada apropriado. Ainda, a unidade de entrada/saída 1012 pode enviar saída para a impressora. O visor 1014 provê um mecanismo para exibir informação para um usuário.

[0089] Instruções para a operação do sistema de inspeção, aplicativos, e/ou programas, podem ser localizadas nos dispositivos de armazenamento 1016, os quais estão em comunicação com a unidade de processador 1004 através da estrutura de comunicações 1002. Os processos das diferentes modalidades podem ser realizados pela unidade de processador 1004 usando instruções implementadas por computador, que podem estar localizadas em uma memória, como a memória 1006.

[0090] Essas instruções são referidas como código de programa, código de programa usável por computador, ou código de programa legível por computador, que podem ser lidas e executadas por um processador na unidade de processador 1004. O código de programa nas diferentes modalidades pode ser incorporado em diferentes meios de armazenamento físicos ou legíveis por computador, como a memória 1006 ou o

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33/42 armazenamento persistente 1008.

[0091] Código de programa 1018 é localizado na forma funcional no meio legível por computador 1020, que é seletivamente removível e pode ser carregado no, ou transferido para o, controlador de sistema 130 para execução pela unidade de processador 1004. Código de programa 1018 e meio legível por computador 1020 formam o produto de programa de computador 1022 nesses exemplos ilustrativos. Em um exemplo, o meio legível por computador 1020 pode ser um meio de armazenamento legível por computador 1024 ou meio de sinal legível por computador 1026.

[0092] Nesses exemplos ilustrativos, o meio de armazenamento legível por computador 1024 é um dispositivo de armazenamento físico ou tangível, usado para armazenar código de programa 1018 ao invés de um meio que se propaga ou transmite código de programa 1018.

[0093] Alternativamente, o código de programa 1018 pode ser transferido para o controlador de sistema 130 usando o meio de sinal legível por computador 1026. O meio de sinal legível por computador 1026 pode ser, por exemplo, um sinal de dado propagado contendo código de programa 1018. Por exemplo, o meio de sinal legível por computador 1026 pode ser um sinal eletromagnético, um sinal óptico, e/ou qualquer outro tipo de sinal apropriado. Esses sinais podem ser transmitidos sobre ligações de comunicações, como ligações de comunicações sem fio, cabo de fibra óptica, cabo coaxial, um condutor metálico, e/ou qualquer outro tipo apropriado de ligação de comunicações.

[0094] Os diferentes componentes ilustrados para o controlador de sistema 130 não são destinados para prover limitações de arquitetura à maneira na qual as diferentes modalidades podem ser implementadas. As diferentes modalidades ilustrativas podem ser implementadas em um sistema de inspeção de processamento de dados incluindo componentes em adição a, e/ou em lugar de, aqueles ilustrados para o controlador de sistema 130.

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Outros componentes mostrados na figura 7 podem ser variados a partir dos exemplos ilustrativos mostrados. As diferentes modalidades podem ser implementadas usando qualquer dispositivo de hardware ou sistema de inspeção capaz de rodar o código de programa 1018.

Exemplos de Aeronave e Métodos de Fabricação e Operação de Aeronave [0095] Exemplos da presente invenção podem ser descritos no contexto de um método de fabricação e serviço de aeronave 1100, como mostrado na figura 8, e uma aeronave 1102, como mostrada na figura 9. Durante a pré-produção, o método 110 ilustrativo pode incluir especificação e projeto (bloco 1104) da aeronave 1102 e a aquisição de material (bloco 1106). Durante a produção, a fabricação de componentes e subconjuntos (bloco 1108) e a integração de sistemas de inspeção (bloco 1110) da aeronave 1102 podem ser realizados. Os métodos de inspeção de superfícies de componentes descritos acima podem ser realizados durante um ou mais desses estágios. Depois disso, a aeronave 1102 pode ir através de certificação e fornecimento (bloco 1112) para ser colocada no serviço (bloco 1114). Enquanto no serviço, a aeronave 1102 pode ser programada para manutenção e serviço de rotina (bloco 1116). Manutenção e serviço de rotina podem incluir modificação, reconfiguração, remodelação, etc. de um ou mais dos sistemas de inspeção da aeronave 1102.

[0096] Cada um dos processos do método ilustrativo 1100 pode ser realizado ou executado por um integrador do sistema de inspeção, um terceirizado, e/ou um operador (por exemplo, um cliente). Para as finalidades desta descrição, um integrador do sistema de inspeção pode incluir, sem limitação, qualquer número de fabricantes de aeronaves e subcontratados de inspeção dos sistemas principais; um terceirizado pode incluir, sem limitação, qualquer número de vendedores, subcontratados e fornecedores; e um operador pode ser uma empresa de transporte aéreo, companhia de

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35/42 arrendamento, organização militar, organização de serviço, e outros. Os métodos e sistemas descritos podem ser usados durante especificação e projeto (bloco 1104) da aeronave 1102 e a fabricação de componentes e subconjuntos (bloco 1108). Por exemplo, várias estruturas compósitas usadas para a fuselagem e o interior podem ser inspecionadas (por exemplo, para verificar desvios de altura) durante o desenvolvimento do processo e/ou a fabricação atual. Especificamente, os métodos e sistemas de inspeção descritos podem ser usados, disparando a fabricação de componentes e subconjuntos 1108, integração de sistemas 1110, e serviço 1114 de fabricação de asa, fuselagem, empenagem, porta, e nacela da aeronave 1102. [0097] Como mostrado na figura 9, a aeronave 1102 produzida pelo método ilustrativo 1100 pode incluir fuselagem 1118 com uma pluralidade de sistemas de inspeção de alto nível 1120 e interior 1122, que podem incluir o um ou mais abridores de garrafa montáveis de forma rente. Exemplos de sistemas de inspeção de alto nível 1120 incluem um ou mais de sistema de inspeção de propulsão 1124, sistema de inspeção elétrica 1126, sistema de inspeção hidráulico 1128, e sistema de inspeção ambiental 1130. Qualquer número de outros sistemas de inspeção pode ser incluído. Embora um exemplo aeroespacial seja mostrado, os princípios descritos aqui podem ser aplicados a outras indústrias, como a indústria automotiva. Consequentemente, em adição à aeronave 1102, os princípios descritos aqui podem ser aplicados em outros veículos, por exemplo, veículos terrestres, veículos marítimos, veículos espaciais, etc.

[0098] O(s) aparelho(s) e método(s) mostrado(s) ou descrito(s) aqui podem ser empregados durante qualquer um ou mais dos estágios do método de fabricação e serviço (o método 1100 ilustrativo). Por exemplo, componentes ou subconjuntos correspondentes à fabricação de componentes e subconjuntos (bloco 1108) podem ser fabricados ou produzidos de uma maneira similar aos componentes ou subconjuntos produzidos enquanto a

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36/42 aeronave 1102 está no serviço (bloco 1114). Também, um ou mais exemplos do(s) aparelho(s), o método(s), ou combinação dos mesmos podem ser utilizados durante os estágios de produção (bloco 1108) e (bloco 1110), por exemplo, por substancialmente acelerar a montagem de, ou reduzir o custo da aeronave 1102. Similarmente, um ou mais exemplos do aparelho ou das realizações de método e de aparelho, ou uma combinação dos mesmos, podem ser utilizados, por exemplo, e sem limitação, enquanto a aeronave 1102 está no serviço (bloco 1114) e/ou durante manutenção e serviço (bloco 1116).

Conclusão [0099] Diferentes exemplos do(s) aparelho(s) e do(s) método(s) descritos aqui incluem uma variedade de componentes, características e funcionalidades. Deve ser entendido que os vários exemplos do(s) aparelho(s) e o método(s) descritos aqui podem incluir qualquer dos componentes, características, e funcionalidades de qualquer dos outros exemplos do(s) aparelho(s) e o método(s) descritos aqui em qualquer combinação, e todas de tais possibilidades são destinadas a estarem dentro do espírito e escopo da presente invenção.

[00100] Muitas modificações dos exemplos expostos aqui irão à mente de uma pessoa especializada na técnica à qual a presente invenção pertence, tendo o benefício dos ensinamentos apresentados nas descrições precedentes e nos desenhos associados.

[00101] A presente invenção é também referida nas seguintes cláusulas, que não devem ser confundidas com as reivindicações.

Al. Um método para inspecionar uma superfície de um componente, o método compreendendo:

alinhar um primeiro escâner de linha e um segundo escâner de linha um em relação ao outro e à superfície do componente de forma que um campo de medição do primeiro escâner de linha se sobreponha parcialmente

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37/42 com um campo de medição do segundo escâner de linha;

varrer uma primeira porção da superfície usando o primeiro escâner de linha durante um primeiro período de forma que a varredura da primeira porção produza uma primeira série de dados correspondente à primeira porção;

varrer uma segunda porção da superfície usando o segundo escâner de linha durante um segundo período deslocado em relação ao primeiro período de forma que a varredura da segunda porção produza uma segunda série de dados correspondente à segunda porção; e agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em uma série de dados combinada.

A2. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que o primeiro período não se sobrepõe com o segundo período.

A3. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que o segundo período começa imediatamente depois do primeiro período.

A4. E também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que o primeiro período se sobrepõe ao segundo período.

A5. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que o campo de medição do primeiro escâner de linha é colinear com o campo de medição do segundo escâner de linha.

A6. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que a primeira porção da superfície é colinear à segunda porção da superfície.

A7. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que a primeira porção da superfície é paralela e deslocada com relação à segunda porção da superfície.

A8. E também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que a série de dados combinada compreende uma primeira porção de

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38/42 não sobreposição da primeira série de dados e uma segunda porção de não sobreposição da segunda série de dados.

A9. E também provido o método de acordo com o parágrafo 8, em que a série de dados combinada compreende adicionalmente uma combinação de uma primeira porção de sobreposição da primeira série de dados e uma segunda porção de sobreposição da segunda série de dados.

A10. E também provido o método de acordo com o parágrafo 9, em que a combinação da primeira porção de sobreposição da primeira série de dados e da segunda porção de sobreposição da segunda série de dados é uma média da primeira porção de sobreposição da primeira série de dados e da segunda porção de sobreposição da segunda série de dados.

All. E também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados compreende alinhar espacialmente a primeira série de dados e a segunda série de dados.

Al2. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que alinhar espacialmente a primeira série de dados e a segunda série de dados é realizado com base no alinhamento do primeiro escâner de linha e do segundo escâner de linha um em relação ao outro e à superfície do componente.

Al3. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, em que o componente altera a posição em relação ao primeiro escâner de linha durante a varredura da segunda porção usando o segundo escâner de linha.

A14. E também provido o método de acordo com o parágrafo A13, em que o componente altera a posição em relação ao primeiro escâner de linha durante a varredura da primeira porção usando o primeiro escâner de linha.

Al5. E também provido o método de acordo com o parágrafo

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Al 4, em que o componente altera a posição em relação ao primeiro escâner de linha e em relação ao segundo escâner de linha ao mesmo tempo.

Al6. E também provido o método de acordo com o parágrafo Al3, em que o componente altera a posição em relação ao primeiro escâner de linha em uma direção perpendicular ao campo de medição do primeiro escâner de linha.

Al7. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al3, compreendendo adicionalmente a varredura de uma terceira porção da superfície usando o primeiro escâner de linha durante ao terceiro período de forma que a varredura da terceira porção produza uma terceira série de dados correspondente à terceira porção e que o terceiro período sendo deslocado em relação ao primeiro período e sendo deslocado em relação ao segundo período.

Al8. E também provido o método de acordo com o parágrafo Al, compreende adicionalmente varrer uma terceira porção da superfície usando um terceiro escâner de linha durante o primeiro período de forma que a varredura da terceira porção produza uma terceira série de dados correspondente à terceira porção e de forma que um campo de medição do terceiro escâner de linha sobreponha parcialmente o campo de medição do segundo escâner de linha, a terceira série de dados sendo agregada conjuntamente com a primeira série de dados e a segunda série de dados.

Al9. E também provido o método de acordo com o parágrafo Al8, em que o campo de medição do terceiro escâner de linha é colinear com o campo de medição do primeiro escâner de linha.

A20. É também provido o método de acordo com o parágrafo Al, compreendendo adicionalmente formar o componente, em que obter a primeira série de dados, obter e a segunda série de dados, e agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados é realizado em linha com a formação do componente.

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40/42 [00102] De acordo com um outro aspecto da presente invenção, é provido:

Bl. Um método para agregar séries de dados obtidas a partir de múltiplos escâneres de linha usados para inspecionar a superfície de um componente, o método compreendendo:

alinhar os múltiplos escâneres de linha em um arranjo para a inspeção linear da superfície de forma que os campos de medição de cada par de escâneres de linha adjacentes dos múltiplos escâneres de linha se sobreponham;

varrer a superfície usando os múltiplos escâneres de linha de forma que escâneres em cada par dos escâneres de linha adjacentes operam em diferentes períodos de tempo;

agregar as séries de dados produzidas pelos múltiplos escâneres de linha durante a varredura da superfície em uma série de dados combinada.

B2. É também provido o método de acordo com o parágrafo Bl, compreendendo adicionalmente alterar a posição dos múltiplos escâneres de linha em relação à superfície e repetir a varredura da superfície usando os múltiplos escâneres de linha.

B3. É também provido o método de acordo com o parágrafo B2, em que varrer a superfície usando os múltiplos escâneres de linha é repetida depois de um período determinado com base em uma velocidade de alteração de posição dos múltiplos escâneres de linha em relação à superfície.

B4. É também provido o método de acordo com o parágrafo Bl, em que o arranjo é um arranjo linear.

B5. É também provido o método de acordo com o parágrafo

B4, em que os campos de medição são colineares e estendidos ao longo do arranjo linear.

[00103] De acordo com um outro aspecto da presente invenção, é

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41/42 provido:

Cl. Um Sistema de inspeção para inspecionar uma superfície de um componente, o sistema compreendendo:

um primeiro escâner de linha para a varredura de uma primeira porção da superfície durante um primeiro período e produção de uma primeira série de dados correspondente à primeira porção;

um segundo escâner de linha para a varredura de uma segunda porção da superfície durante um segundo período deslocado em relação ao primeiro período e produção de uma segunda série de dados correspondente à segunda porção, um campo de medição do primeiro escâner de linha se sobrepondo parcialmente com um campo de medição do segundo escâner de linha; e um controlador de sistema para agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em uma série de dados combinada.

C. E também provido o sistema de inspeção do parágrafo Cl, compreendendo adicionalmente um dispositivo de movimento para mover o primeiro escâner de linha e o segundo escâner de linha em relação ao componente.

C3. É também provido o sistema de inspeção do parágrafo Cl, compreendendo adicionalmente um codificador para determinar a posição de pelo menos um do primeiro escâner de linha e do segundo escâner de linha em relação ao componente.

C4. E também provido o sistema de inspeção do parágrafo Cl, em que o controlador de sistema compreendendo um agregador de séries de dados, uma memória, e um módulo de análise, em que o agregador de séries de dados é operável para agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em a série de dados combinada, em que a memória é operável para armazenar a série de dados combinada, e em que o módulo de análise é operável para analisar a série de dados combinada.

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42/42 [00104] Por conseguinte, deve ser entendido que a presente invenção não deve ser limitada aos exemplos específicos ilustrados e que modificações e outros exemplos são destinados a ser incluídos dentro do escopo das reivindicações anexas. Adicionalmente, embora a descrição precedente e os desenhos associados descrevam exemplos da presente invenção no contexto de certas combinações ilustrativas de elementos e/ou funções, deve ser apreciado que diferentes combinações de elementos e/ou funções podem ser providas por implementações alternativas sem abandonar o escopo das reivindicações anexas. Consequentemente, os números de referência entre parênteses nas referências anexas são apresentados somente para fins ilustrativos e não são destinados a limitar o escopo da matéria reivindicada aos exemplos específicos providos na presente invenção.

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Claims (15)

1. REIVINDICAÇÕES

   1. Método para inspecionar uma superfície de um componente, o método caracterizado pelo fato de que compreende:

   alinhar um primeiro escâner de linha e um segundo escâner de linha um em relação ao outro e à superfície do componente de forma que um campo de medição do primeiro escâner de linha se sobreponha parcialmente com um campo de medição do segundo escâner de linha;

   varrer uma primeira porção da superfície usando o primeiro escâner de linha durante um primeiro período de forma que a varredura da primeira porção produza uma primeira série de dados correspondente à primeira porção;

   varrer uma segunda porção da superfície usando o segundo escâner de linha durante um segundo período deslocado em relação ao primeiro período de forma que a varredura da segunda porção produza uma segunda série de dados correspondente à segunda porção; e agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em uma série de dados combinada.
2. 2. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o primeiro período não se sobrepõe com o segundo período.
3. 3. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o segundo período começa imediatamente depois do primeiro período.
4. 4. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o primeiro período se sobrepõe parcialmente com o segundo período.
5. 5. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o campo de medição do primeiro escâner de linha é colinear com o campo de medição do segundo escâner de linha.
6. 6. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo

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   2/3 fato de que a primeira porção da superfície é colinear à segunda porção da superfície.
7. 7. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a primeira porção da superfície é paralela e deslocada em relação à segunda porção da superfície.
8. 8. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que a série de dados combinada compreende uma primeira porção de não sobreposição da primeira série de dados e uma segunda porção de não sobreposição da segunda série de dados.
9. 9. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados compreende alinhar espacialmente a primeira série de dados e a segunda série de dados.
10. 10. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que o componente altera a posição em relação ao primeiro escâner de linha durante a varredura da segunda porção usando o segundo escâner de linha.
11. 11. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que compreende adicionalmente varrer uma terceira porção da superfície usando um terceiro escâner de linha durante o primeiro período de forma que a varredura da terceira porção produza uma terceira série de dados correspondente à terceira porção e de forma que um campo de medição do terceiro escâner de linha sobreponha parcialmente o campo de medição do segundo escâner de linha, a terceira série de dados sendo agregada conjuntamente com a primeira série de dados e a segunda série de dados.
12. 12. Sistema de inspeção para inspecionar uma superfície de um componente, o sistema caracterizado pelo fato de que compreende:

    um primeiro escâner de linha para a varredura de uma primeira porção da superfície durante um primeiro período e produzir uma primeira

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    3/3 série de dados correspondente à primeira porção;

    um segundo escâner de linha para a varredura de uma segunda porção da superfície durante um segundo período deslocado em relação ao primeiro período e produção de uma segunda série de dados correspondente à segunda porção, um campo de medição do primeiro escâner de linha se sobrepondo parcialmente com um campo de medição do segundo escâner de linha; e um controlador de sistema para agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados em uma série de dados combinada.
13. 13. Sistema de inspeção de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato de que compreende adicionalmente um dispositivo de movimento para mover o primeiro escâner de linha e o segundo escâner de linha em relação ao componente.
14. 14. Sistema de inspeção de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato de que compreende adicionalmente um codificador para determinar a posição de pelo menos um do primeiro escâner de linha e do segundo escâner de linha em relação ao componente.
15. 15. Sistema de inspeção de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato de que o controlador de sistema compreende um agregador de séries de dados, uma memória, e um módulo de análise, em que o agregador de séries de dados é operável para agregar a primeira série de dados e a segunda série de dados na série de dados combinada, em que a memória é operável para armazenar a série de dados combinada, e em que o módulo de análise é operável para analisar a série de dados combinada.

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    FIG, 1A

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