AT287843B - Einrichtung zur automatischen periodischen Prüfung eines elektronischen Impulslängendiskriminators bzw. Frequenzdiskriminators - Google Patents

Description

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  Einrichtung zur automatischen periodischen Prüfung eines elektronischen
Impulslängendiskriminators bzw. Frequenzdiskriminators 
 EMI1.1 
 

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 EMI2.1 
 

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Claims (1)

1. B.PATENTANSPRÜCHE : 1. Einrichtung zur automatischen periodischen Prüfung eines elektronischen Impulslängen- 55 diskriminators bzw. Frequenzdiskriminators, dessen Ausgang den einen oder den andern von zwei möglichen Zuständen (L oder 0) aufweist, je nachdem, ob die Dauer des jeweils letzten der seinem Eingang zugeführten Impulse einen bestimmten Wert (Eigenzeit des Diskriminators) über-oder <Desc/Clms Page number 3> unterschritten hat, gekennzeichnet durch einen Geber, z.

   B. einen Prüfgenerator (P), mittels welchem vorzugsweise in gleichen zeitlichen Abständen sich wiederholend, dem Eingang des Diskriminators (D) je (mindestens) ein länger als dessen Eigenzeit andauernder und (mindestens) ein kürzer als dessen Eigenzeit andauernder Prüflmpuls zuführbar ist, und des weiteren gekennzeichnet durch einen Auswerter (Z), der eine jeweils in einer vorübergehenden Änderung seines Ausgangssignales bestehende Reaktion des Diskriminators (D) auf je zwei solche Prüfimpulse ungleicher Länge als Kriterium für dessen Funktionstüchtigkeit benutzt.

   2. Einrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch ein dem Diskriminator (D) als Auswerter zugeordnetes, vorzugsweise elektronisches Zeitrelais (Z) (Zeitglied), das durch eine richtige Reaktion des Diskriminators auf die vorzugsweise periodisch wiederholten Prüfimpulse in Ansprechstellung gebracht und gehalten wird, wobei seine Eigenzeit (Verzögerungszeit) grösser als der zeitliche Abstand aufeinanderfolgender Prüfung ist.

   3. Einrichtung nach Anspruch 2, g e k e n n z e i c h n e t d u r c h eine Differenzierschaltung, die die durch die Prüfungen hervorgerufenen Signaländerungen am Ausgang des Diskriminators (D) in Impulse verwandelt, die dem Zeitglied (Z) zugeführt werden. EMI3.1 Ausgangsrelais (R1) des Diskriminators (D) mit diesem über einen blockierbaren Speicher (Sp) verbunden ist, der während der Dauer der Prüfung blockiert wird und so den unmittelbar vor dem Beginn der Prüfung bestehenden Schaltzustand festhält. EMI3.2 lange Prüfimpuls länger ist als die grösste Eigenzeit und der kurze Prüfimpuls kürzer ist als die kleinste Eigenzeit. EMI3.3 Auswertung der Prüfung aller Diskriminatoren ein UND-Gatter aus bei einwandfreiem Zustand der einzelnen Diskriminatoren betätigten Relaiskontakten oder aus äquivalenten elektronischen Elementen verwendet ist.