AT217564B - Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien - Google Patents

Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien

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AT217564B
AT217564B AT183859A AT183859A AT217564B AT 217564 B AT217564 B AT 217564B AT 183859 A AT183859 A AT 183859A AT 183859 A AT183859 A AT 183859A AT 217564 B AT217564 B AT 217564B
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AT
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capacitor
inductance
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AT183859A
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Jan Skoupy
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Tesla Np
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

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   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer
Materialien 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 chen. Der gemessene Kreis erscheint beim Messen an den Klemmen des Messers als reeller Widerstand, der in die Serie mit kleiner Induktivität eingeschaltet ist. Fig. 2 zeigt das Ersatzschema des Messtafelkondensators C mit der veränderlichen   Hilfs-Parallelinduktivität Lt wobei R den Verlustwiderstand   des Kondensators bedeutet und L die Induktivität der Zuleitungen und der Anschlussklemmen. Durch die In-   duktivität     Li wird   die imaginäre Komponente, die durch die Kapazität C verursacht wird. kompensiert, so dass das Ersatzschema vereinfacht werden kann, wie es die Fig. 3 veranschaulicht. 



   Die durch den Messer der Scheinwiderstandskomponenten gemessene reelle Komponente   Rt   unterscheidet sich von der wirklichen reellen Komponente R des Kondensators wie folgt : 
 EMI2.1 
 Nachdem der   Resonanzwiderstand   viel grösser ist   als der Blindwiderstand (Real (tanz) L, ist der Faktor   
 EMI2.2 
 viel kleiner als 1, so dass die Restinduktivität sich praktisch nicht auswirkt. Es gilt daher :   Ri R    
Die Erfindung beseitigt die Nachteile der   bisherbekanntenVerfahren, erreichtaberfolgendeVor-     züge : Die   Erweiterung der Frequenzbreite bei Messungen dielektrischer Materialien im Frequenzbereich bis 250 MHz.

   Beim Messen macht sich die Restinduktivität der Klemmen und der Zuleitungen nicht geltend. nachdem der Messer der Scheinwiderstandskomponenten nicht die imaginäre und reelle Komponente des Messkondensators misst, sondern nur dessen reelle Komponente. 



   Bei Anwendung des Q-Meters addiert sich weder die Kapazität   der Dielektrikumprobe   noch die des 
 EMI2.3 
 das unter Berücksichtigung der Qualität des gemessenen Materials. 



    PATENTANS PRÜCHE :    
1. Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien mit Hilfe eines Messkondensators, der das zu messende Dielektrikum enthält und welcher an die Klemmen des   Scheinwiderstands-   messers angeschlossen ist, dadurch gekennzeichnet, dass der   MeBkondensator   mit einer veränderlichen Parallelinduktivität versehen ist, die dazu bestimmt ist, die Kapazitätskomponenten des Scheinwiderstandes des Messkondensators auszugleichen.

Claims (1)

  1. 2. Vorrichtung zur Messung des Verlustfaktors nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine veränderliche parallele Induktivität, die zur Kompensation der kapazitiven Scheinwiderstandskomponente des Messkondensators bestimmt ist, unmittelbar an die Plattenelektroden dieses Kondensators in solcher Weise angeschlossen ist, dass die Zuleitungen von den Plattenelektroden zu dieser Induktivität getrennt sind von den Leitungen von den Plattenelektroden zu den Klemmen des Scheinwiderstandsmessers.
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