AT217564B - Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien - Google Patents
Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer MaterialienInfo
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Description
<Desc/Clms Page number 1>
Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer
Materialien
EMI1.1
<Desc/Clms Page number 2>
chen. Der gemessene Kreis erscheint beim Messen an den Klemmen des Messers als reeller Widerstand, der in die Serie mit kleiner Induktivität eingeschaltet ist. Fig. 2 zeigt das Ersatzschema des Messtafelkondensators C mit der veränderlichen Hilfs-Parallelinduktivität Lt wobei R den Verlustwiderstand des Kondensators bedeutet und L die Induktivität der Zuleitungen und der Anschlussklemmen. Durch die In- duktivität Li wird die imaginäre Komponente, die durch die Kapazität C verursacht wird. kompensiert, so dass das Ersatzschema vereinfacht werden kann, wie es die Fig. 3 veranschaulicht.
Die durch den Messer der Scheinwiderstandskomponenten gemessene reelle Komponente Rt unterscheidet sich von der wirklichen reellen Komponente R des Kondensators wie folgt :
EMI2.1
Nachdem der Resonanzwiderstand viel grösser ist als der Blindwiderstand (Real (tanz) L, ist der Faktor
EMI2.2
viel kleiner als 1, so dass die Restinduktivität sich praktisch nicht auswirkt. Es gilt daher : Ri R
Die Erfindung beseitigt die Nachteile der bisherbekanntenVerfahren, erreichtaberfolgendeVor- züge : Die Erweiterung der Frequenzbreite bei Messungen dielektrischer Materialien im Frequenzbereich bis 250 MHz.
Beim Messen macht sich die Restinduktivität der Klemmen und der Zuleitungen nicht geltend. nachdem der Messer der Scheinwiderstandskomponenten nicht die imaginäre und reelle Komponente des Messkondensators misst, sondern nur dessen reelle Komponente.
Bei Anwendung des Q-Meters addiert sich weder die Kapazität der Dielektrikumprobe noch die des
EMI2.3
das unter Berücksichtigung der Qualität des gemessenen Materials.
PATENTANS PRÜCHE :
1. Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien mit Hilfe eines Messkondensators, der das zu messende Dielektrikum enthält und welcher an die Klemmen des Scheinwiderstands- messers angeschlossen ist, dadurch gekennzeichnet, dass der MeBkondensator mit einer veränderlichen Parallelinduktivität versehen ist, die dazu bestimmt ist, die Kapazitätskomponenten des Scheinwiderstandes des Messkondensators auszugleichen.
Claims (1)
- 2. Vorrichtung zur Messung des Verlustfaktors nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine veränderliche parallele Induktivität, die zur Kompensation der kapazitiven Scheinwiderstandskomponente des Messkondensators bestimmt ist, unmittelbar an die Plattenelektroden dieses Kondensators in solcher Weise angeschlossen ist, dass die Zuleitungen von den Plattenelektroden zu dieser Induktivität getrennt sind von den Leitungen von den Plattenelektroden zu den Klemmen des Scheinwiderstandsmessers.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| AT183859A AT217564B (de) | 1959-03-07 | 1959-03-07 | Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien |
Applications Claiming Priority (1)
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| AT183859A AT217564B (de) | 1959-03-07 | 1959-03-07 | Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| AT217564B true AT217564B (de) | 1961-10-10 |
Family
ID=3522102
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| AT183859A AT217564B (de) | 1959-03-07 | 1959-03-07 | Vorrichtung zum Messen des Verlustfaktors dielektrischer Materialien |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| AT (1) | AT217564B (de) |
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1959
- 1959-03-07 AT AT183859A patent/AT217564B/de active
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