AT126713B - Strahlenmeßgerät. - Google Patents

Description

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    Strahlenmessgerät.   



   Für die   Schwärzung   photographischer Schichten besteht nach der Theorie des Schwarzschildexponenten ein Unterschied, ob die gleiche Energiemenge an Licht-oder Röntgenstrahlen (diese unter Benutzung der bekannten Verstärkerfolien) in kurzer Zeit auffällt oder ob diese Energiemenge über eine längere Zeitdauer verteilt zur Wirkung gebracht wird. Die praktischen Verhältnisse liegen so, dass die in kurzer Zeit wirkende Energiemenge eine intensivere Schwärzung hervorruft als die gleiche auf längere Zeit verteilte Energiemenge. Ähnlich liegen die Verhältnisse auch bei andern durch elektromagnetische Strahlung hervorgerufenen Änderungen wie Verfärbungen und biologischen Wirkungen. 



   Bei der Ermittlung der eine optimale Schwärzung hervorrufenden Belichtungsdauer sind daher Belichtungsmesser erwünscht, die diesen Verhältnissen Rechnung tragen. Eine wesentliche Art der Strahlenmessung besteht in den bekannten lichtelektrischen oder ionimetrischen Methoden, d. h. es wird das Integral der Stromzeitkurve der Aufladung bzw. Entladung einer Kapazität bestimmt. Da derartige Messgeräte nur die Energiemenge ermitteln und unabhängig davon registrieren, ob eine kurze Zeit hindurch grosse Energie oder über längere Zeit schwächere Energie wirkt, sind besondere Vorkehrungen zu treffen, um bei der Messung die obengenannten Schwärzungsverhältnisse zu   berücksichtigen.   



   Die Erfindung bezieht sich in erster Linie auf Einrichtungen, die den Zeitpunkt registrieren, in dem bei einer photographischen Aufnahme die optimale Schwärzung der lichtempfindlichen Schicht stattgefunden hat. Gemäss der stärkeren   Schwärzung   bei grosser Energie in kurzer Zeit muss das Messgerät für derartige Fälle empfindlicher gemacht werden als für die Einwirkung schwacher Energien über längere Zeiten. Der aufzuladenden bzw. zu entladenden Kapazität wird erfindungsgemäss eine Hilfsleitung, die einen Widerstand enthält, parallel geschaltet. Bei zu entladender Kapazität enthält dieselbe auch eine Gegenspannungsquelle.

   Fallen jetzt eine kurze Zeit hindurch grosse Energien in den Strahlenempfänger, also in die lichtelektrische Zelle oder die Ionimeterkammer, so tritt in der Kapazität plötzlich eine grosse Elektrizitätsmenge auf, wenn mit Aufladung der Kapazität gearbeitet wird. Ein wesentlicher Teil dieser auftretenden grossen Elektrizitätsmenge kann nicht in kurzer Zeit über den Widerstand abgeleitet bzw. von der Hilfsspannungsquelle wieder zugeleitet werden. Durch diese Hilfsleitung lässt sich also das Strahlenmessgerät entsprechend der superproportionalen Empfindlichkeit lichtempfindlicher Schichten für kurze und lange Belichtungsdauern anpassen.   Zweckmässig   wird parallel zu dem Messinstrument ein variabler Kondensator geschaltet, der es gestattet. die Messeinrichtung entsprechend den jeweils zu kompensierenden Zeitexponenten einzustellen.

   Ebenso wird der Widerstand zweckmässig veränderlich gemacht. Als Widerstände kommen z. B. Ohmsche Widerstände in Frage, auch können Entladungsröhren Verwendung finden, gegebenenfalls wird eine unter Einfluss einer Strahlung stehende Gasstrecke (Bronson Widerstand) benutzt. 



   Im Ausführungsbeispiel der Abbildung ist der Strahlenempfänger, hier z. B. eine ionimetrische Kammer   1.   mit einer   Spannungsquelle. 3 verbunden, durch welche ihre Aussenwand   ständig auf ein bestimmtes Potential aufgeladen ist. Isoliert in die Kammer eingeführt ist die Sonde 3. durch welche die Kapazität 4. die durch die   gestrichelte Linif unifasst ist. aufgeladell   

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 wird. Diese Kapazität 4 besteht aus dem Messinstrument 5 und gegebenenfalls einem parallel geschalteten veränderlichen Kondensator 6. Von der Kapazität abgezweigt ist die Hilfsleitung, die den Widerstand 7 enthält. 



    PATENT-ANSPRÜCHE :  
1. Einrichtung zur Kontrolle   photoehemischer   Reaktionen mittels eines Kondensators, dessen Ladestrom oder dessen Entladestrom durch ein für die verwendeten Strahlen empfindliches Gerät   hindurchgeführt wird,   dadurch gekennzeichnet, dass mit dem Kondensator ein die Ladung bzw. die Entladung verzögernder   Nebenschlusskreis verbunden   ist.

Claims (1)

1. 2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass bei mit Entladung der Kapazität arbeitenden Geräten die Hilfsleistung eine Gegenspannungsquelle enthält.

   3. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Widerstand eine Entladungsröhre dient.

   4. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Widerstand eine unter dem Einfluss einer Strahlung stehende Gasstrecke dient. EMI2.1