WO2022249244A1 - 定電圧発生回路 - Google Patents

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WO2022249244A1
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current
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differential amplifier
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健司 三井
宏治 吉井
Original Assignee
リコー電子デバイス株式会社
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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F1/00Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
    • G05F1/10Regulating voltage or current
    • G05F1/46Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
    • G05F1/56Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices

Definitions

  • the present invention relates to a constant voltage generation circuit such as a low dropout regulator (hereinafter referred to as LDO) that operates even with a relatively low potential difference between input and output.
  • LDO low dropout regulator
  • a first amplifier that drives a first transistor connected between a power supply and a load, a second amplifier that drives a second transistor that is connected in parallel with the first transistor, and a first amplifier and an amplifier control circuit for controlling each of the second amplifiers.
  • the current capability of the second transistor is smaller than the current capability of the first transistor
  • the current consumption of the second amplifier is set smaller than the current consumption of the first amplifier.
  • the amplifier control circuit sets the first output current flowing through the first transistor to a zero value, and outputs a second output current flowing through the second transistor.
  • the first and second amplifiers are each controlled to provide all of the current.
  • the second output current is set to zero or a fixed value smaller than the amplifier switching threshold. Further, the first amplifier and the second amplifier are controlled so that the first output current covers all of the output current or the difference obtained by subtracting the second output current from the output current.
  • a constant voltage generation circuit includes: a transistor connected between the power supply and the load to control the output current; a first amplifier circuit that drives the transistor based on the reference voltage from the power supply; a second amplifier circuit connected in parallel with the first amplifier circuit, operating at a higher speed than the first amplifier circuit, and driving the transistor based on the reference voltage from the power supply; a protection circuit that limits an output current flowing from the transistor to the load during a predetermined operation;
  • a constant voltage generation circuit comprising a control circuit for controlling the operation of the second amplifier circuit, The control circuit does not operate the second amplifier circuit until the output current increases from a light load state and reaches a predetermined second threshold current, and the output current exceeds the second threshold current.
  • the second amplifier circuit When the second amplifier circuit is operated, the output current decreases from the heavy load state, and the output current decreases until a predetermined first threshold current smaller than the second threshold current is reached. operating the second amplifier circuit, and controlling the second amplifier circuit not to operate when the current is equal to or lower than the first threshold current;
  • the second amplifier circuit further includes a first operating potential fixing circuit that fixes an operating potential of an internal node of the second amplifier circuit when not operating.
  • the constant voltage generation circuit of the present invention it is possible to suppress changes in the output voltage of the reference voltage source caused by superimposition of noise via the coupling capacitance. As a result, it is possible to set the offset voltage of the differential amplifier to a small value, suppressing deterioration in the accuracy of the output voltage that occurs as a difference in the output voltage in each mode, while preventing the power supply circuit from malfunctioning due to continuous transitions between multiple modes. can be done.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a constant voltage generation circuit 2 and its peripheral circuits according to an embodiment
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing a detailed configuration of differential amplifier circuits 21 and 22 of FIG. 1
  • FIG. 3 is a timing chart showing stop operations of the differential amplifier circuit 22 and the differential amplifier circuit 21 for the protection execution circuit 13 of the constant voltage generation circuit 2 of FIG. 1
  • 3 is a block diagram showing a configuration example of a differential amplifier circuit 21A according to Modification 1
  • FIG. 11 is a block diagram showing a configuration example of a differential amplifier circuit 21B according to Modification 2
  • FIG. 11 is a block diagram showing a configuration example of a differential amplifier circuit 21C according to Modification 3; 2 is a diagram for explaining setting values of threshold currents Ith1 and Ith2 used in the differential amplifier circuit 21 of FIG. 1; FIG. 2 is a diagram for explaining setting values of threshold currents Ith3 and Ith4 used in the differential amplifier circuit 22 of FIG. 1; FIG.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of a constant voltage generating circuit 2 and its peripheral circuits according to an embodiment.
  • an input voltage Vin is input from a DC voltage source 1 to a constant voltage generation circuit 2 .
  • the constant voltage generation circuit 2 is, for example, an LDO, generates a constant voltage Vout based on the input voltage Vin, and outputs it to the load 4 via the output capacitor 3 .
  • the constant voltage generating circuit 2 includes a reference voltage generating circuit 11, a monitored node 12, a protection execution circuit 13, a P-channel MOS transistor Q1, a current source 14, and three differential amplifier circuits 21, 22, 23. , and a control circuit 10 for controlling the operations of the differential amplifier circuits 21 and 22 .
  • the reference voltage generation circuit 11 converts the input voltage Vin into a predetermined reference voltage Vref and outputs it.
  • the differential amplifier circuits 21 and 22 are, for example, "differential amplifier circuits with voltage fluctuation suppression function" having the same circuit configuration, and based on the enable signals EN1 and EN2 from the control circuit 10, for example, 10 MHz to several hundred MHz It operates at the operating frequency and operates at higher speed and with higher power consumption than the differential amplifier circuit 23 .
  • differential amplifier circuits 21 and 22 operate in response to enable signals EN1 and EN2 of H level from control circuit 10, respectively, but do not operate in response to enable signal EN1 of L level.
  • the differential amplifier circuit 21 is the main differential amplifier of the constant voltage generator circuit 2 and generates a predetermined constant voltage to supply it to the load 4 .
  • a differential amplifier circuit 23 is a sub-differential amplifier of the constant voltage generator circuit 2 and generates a predetermined constant voltage to supply it to the load 4 .
  • differential amplifier circuit 21 constitutes a main differential amplifier circuit that is dominant in control under heavy load
  • differential amplifier circuit 22 constitutes a sub differential amplifier circuit that is not dominant in control under heavy load.
  • the two differential amplifier circuits 21 and 22 operate under heavy load, and the differential amplifier circuit 21, which consumes a large current at that time, is the main differential amplifier circuit.
  • a differential amplifier circuit 22 with a small current consumption constitutes a sub-differential amplifier circuit.
  • the differential amplifier circuit 22 senses the voltage at the monitored node 12, which, for example, changes in voltage proportional to Vout, and together with the protection enforcement circuit 13, which includes a differential amplifier, for example, known brick wall current limiting or folding.
  • a protection circuit is configured to perform protection processing such as limiting the output current Iout using a back current limiting method or the like.
  • the output terminals of the differential amplifier circuits 21 and 23 and the protection execution circuit 13 are connected to the gate of a MOS transistor Q1 that controls the output current Iout in accordance with the gate voltage.
  • Circuit 13 drives MOS transistor Q1 to control output current Iout flowing through MOS transistor Q1.
  • the positive terminal of the input voltage Vin is grounded via the source and drain of the MOS transistor Q1 and the current source 14.
  • FIG. 7A is a diagram for explaining setting values of threshold currents Ith1 and Ith2 used in the differential amplifier circuit 21 of FIG.
  • FIG. 7B is a diagram for explaining setting values of the threshold currents Ith3 and Ith4 used in the differential amplifier circuit 22 of FIG.
  • the control circuit 10 converts the gate voltage of the MOS transistor Q1 into an output current Iout, or based on a current signal indicating the output current Iout from a current sensor that detects the output current Iout flowing through the output voltage terminal, performs the following: works like
  • the control circuit 10 outputs an L-level enable signal EN1 to the differential amplifier circuit 21 until the output current Iout increases from a current of 0 or a light load, and the threshold current Ith2.
  • Iout ⁇ Ith2 it outputs an H-level enable signal EN1 to the differential amplifier circuit 21 .
  • the H level enable signal EN1 is output to the differential amplifier circuit 21, and when Iout ⁇ Ith1, It outputs an L level enable signal EN 1 to the differential amplifier circuit 21 . That is, the control circuit 10 controls the differential amplifier circuit 21 with a hysteresis operation as shown in FIG. 7A.
  • the control circuit 10 outputs an L-level enable signal EN2 to the differential amplifier circuit 22 until the output current Iout increases from a current of 0 or a light load, and the threshold current Ith4.
  • Iout ⁇ Ith4 it outputs an H-level enable signal EN2 to the differential amplifier circuit 22.
  • FIG. 7B when the output current Iout decreases from a heavy load and reaches the threshold current Ith3 ( ⁇ Ith4), the H level enable signal EN2 is output to the differential amplifier circuit 22, and when Iout ⁇ Ith3, It outputs an L level enable signal EN 2 to the differential amplifier circuit 22 . That is, the control circuit 10 controls the differential amplifier circuit 22 with hysteresis operation as shown in FIG. 7B.
  • the relationships among the threshold currents Ith1 to Ith4 are set as follows.
  • FIG. 2 is a circuit diagram showing the detailed configuration of the differential amplifier circuits 21 and 22 of FIG.
  • the differential amplifier circuits 21 and 22 have the following five terminals T1-T5. (1) inverting input terminal (INN) T1; (2) non-inverting input terminal (INP) T2; (3) output terminal T3; (4) enable signal terminal T4; and (5) reference voltage terminal T5.
  • the differential amplifier circuits 21 and 22 are configured with an inverter 33, a bias voltage generator circuit 31, switches SW11 and SW12, and a differential amplifier 32.
  • the MOS transistors Q12, Q22 and Q32 are of the depletion type.
  • the bias voltage generation circuit 31 includes a P-channel MOS transistor Q11, an N-channel MOS transistor Q12, and an N-channel MOS transistor Q13, and these MOS transistors are connected in series.
  • a power supply voltage Vin is applied to the source of the MOS transistor Q11, and the gate of the MOS transistor Q11 is connected to its drain.
  • the gates of MOS transistors Q12 and Q13 are connected together and connected to terminal T5.
  • a connection point P1 between the source of the MOS transistor Q12 and the drain of the MOS transistor Q13 is connected via a switch SW11 to a connection point P6 between the source of the MOS transistor Q22 and the drain of the MOS transistor Q23 in the differential amplifier 32.
  • the source of MOS transistor Q13 is grounded via current source 41 through connection point P2.
  • the connection point P2 is connected to the connection point P7 in the differential amplifier 32 via the switch SW12.
  • the bias voltage generating circuit 31 configured as described above converts the reference voltage Vref applied to the terminal T5 into a predetermined bias voltage and applies it to the connection point P6 in the differential amplifier 32 via the switch SW11. .
  • the differential amplifier 32 of FIG. 2 includes MOS transistors Q21, Q22, Q23, Q31, Q32, Q33, Q34, switches SW1, SW2, SW3, SW13, SW14, and current sources 42, 43. .
  • MOS transistor Q21, connection point P4, MOS transistor Q22, connection point P6 and MOS transistor Q23 are connected in series with each other. Grounded through source 42 .
  • the MOS transistor Q31, the connection point P5, and the MOS transistors Q32 and Q33 are connected in series with each other. grounded. Further, the connection point P3 where the gates of the MOS transistors Q21 and Q31 are connected to each other is connected to the power supply voltage Vin via the switch SW13 and to the connection point P4 via the switch SW1.
  • the gates of the MOS transistors Q32 and Q33 are connected to each other and then to the terminal T2.
  • the connection point P5 is connected to the gate of the MOS transistor Q34, and the gate of the MOS transistor Q34 is connected to the power supply voltage Vin and the source of the MOS transistor Q34 via the switch SW14.
  • the drain of the MOS transistor Q34 is grounded through the connection point connected to the terminal T3, the switch SW3, and the current source 43.
  • the enable signals EN1 and EN2 input to the terminal T4 are input to control terminals of the switches SW1 to SW3, and the inverted enable signals /EN1 and /EN2 output from the inverter 33 are input to the switch SW11. to each control terminal of SW14.
  • H-level enable signals EN1 and EN2 are input to the respective control terminals of the switches SW1-SW3, the switches SW1-SW3 are turned on. , the switches SW1 to SW3 are turned off.
  • the switches SW11 to SW14 are turned on, while the L level inverted enable signals /EN1 and /EN2 are input.
  • /EN2 is input, the switches SW11 to SW14 are turned off.
  • the H-level enable signal EN1 When EN2 is input, switches SW1-SW3 are turned on and switches SW11-SW14 are turned off. At this time, the differential amplifier 32 is in an operating state without applying a predetermined bias voltage from the bias voltage generating circuit 31 to the differential amplifier 32 . Therefore, the differential amplifier 32 subtracts the inverting input voltage INN input to the inverting input terminal T1 from the non-inverting input voltage INP input to the non-inverting input terminal T2, and amplifies the resulting voltage to produce an output voltage. Output from terminal T3.
  • Terminal T3 of differential amplifier circuit 21 is connected to the gate of MOS transistor Q1 in FIG. 1, and terminal T3 of differential amplifier circuit 22 is connected to the gate of MOS transistor Q1 via protection execution circuit 13 in FIG. be.
  • the L level enable signal EN1 When EN2 is input, switches SW1-SW3 are turned off and switches SW11-SW14 are turned on. At this time, a predetermined bias voltage from the bias voltage generating circuit 31 is applied to the differential amplifier 32, and the differential amplifier 32 is put into a non-operating state. Therefore, the differential amplifier 32 does not perform the differential amplification described above, and is in a stopped state with no output from the terminal T3. By doing so, fluctuations in the gate voltages of the MOS transistors Q22 and Q23 via the parasitic capacitances of the MOS transistors Q22 and Q23 are suppressed.
  • differential amplifier circuits 21 and 22 when they are in operation, they each perform a differential amplification operation, and when they are not in operation, they do not perform a differential amplification operation. Since the voltage is applied, fluctuations in the reference voltage can be suppressed.
  • the enable signals EN1 and EN2 are at the H level, so that the differential amplifier circuit 21 is in operation and the differential amplifier circuit 22 for the protection execution circuit 13 is in operation. circuit is working.
  • the output current Iout decreases due to the change from heavy load to light load, and output current Iout ⁇ Ith3.
  • the operation of the differential amplifier circuit 22 stops.
  • the enable signal EN1 is set to the L level, and the differential amplifier circuit 21 is in a state in which the bias voltage is applied to the differential amplifier 32, and the differential amplifier 32 is put into a non-operating state.
  • the differential amplifier circuit 21 is in a state in which it does not amplify the differential, but since a predetermined bias voltage is applied, fluctuations in the reference voltage via the parasitic capacitances of the MOS transistors Q22 and Q23 are suppressed. do.
  • the above effects are exhibited in the differential amplifier stage 22 as well.
  • the change in the output voltage of the reference voltage source is small, so the change in the output current Iout is also small, and the differential amplifier circuit 22 and the differential amplifier circuit 21 for the protection execution circuit 13 malfunction. Otherwise, the output voltage Vout will not oscillate.
  • the differential amplifier circuits 21 and 22 are configured as "differential amplifier circuits with voltage fluctuation suppressing function" as shown in FIG. Since a predetermined bias voltage is applied to each of the differential amplifiers 32 of the differential amplifier circuits 21 and 23, variations in the reference voltage via the parasitic capacitances of the MOS transistors Q22 and Q23 are suppressed. At this time, since the voltage fluctuation of the output voltage Vout is small due to the effect of the bias voltage, the fluctuation of the output current Iout is also small. Does not oscillate.
  • the offset voltage of the differential amplifier can be set small, and the power supply circuit can operate in a plurality of modes while suppressing deterioration in accuracy of the output voltage Vout across modes. It is possible to prevent malfunction that continues to transition.
  • the stop control circuit that stops the operation of the differential amplifier circuit 22 used for the protection execution circuit 13, or the A bias voltage generation circuit 31 is provided for fixing the bias voltage of the differential amplifier circuit 22 .
  • the present invention is not limited to this, and these functional circuits may be provided only in the differential amplifier circuit 21 and not provided in the differential amplifier circuit 22.
  • the enable signal EN2 from the control circuit 10 may provide There may be no function to stop the operation.
  • the differential amplifier circuit 23 is configured with a normal differential amplifier circuit without a voltage fluctuation suppression function.
  • the present invention is not limited to this, and like the differential amplifier circuits 21 and 22, the differential amplifier circuit 23 may be composed of a differential amplifier circuit with a voltage fluctuation suppressing function.
  • MOS transistors Q12 and Q13, MOS transistors Q22 and Q23, and MOS transistors Q32 and Q33 are cascode-connected.
  • the present invention is not limited to this, and may be configured with only one MOS transistor Q13, Q23, Q33 without cascode connection.
  • the differential amplifier circuits 21 and 22 used in the constant voltage generating circuit 2 have been described. Modifications 1, 2 and 3 of the differential amplifier circuits 21 and 22 will be described below. Although the differential amplifier circuits 21A, 21B, and 21C are described below, these configurations may be applied to the differential amplifier circuits 21 and 22 as well.
  • FIG. 4 is a block diagram showing a configuration example of a differential amplifier circuit 21A according to Modification 1. As shown in FIG. In FIG. 4, the same symbols are attached to the same components as in FIG.
  • the differential amplifier circuit 21A of FIG. 4 has the following differences compared with the differential amplifier circuits 21 and 22 of FIG. (1) Instead of the bias voltage generation circuit 31, a bias voltage generation circuit 31A is provided. (2) A differential amplifier 32A is provided instead of the differential amplifier 32; Differences will be described below.
  • the bias voltage generating circuit 31A comprises MOS transistors Q11, Q13, current sources 41, 44, and MOS transistors Q41, Q42.
  • the bias voltage generation circuit 31A has the following differences compared with the bias voltage generation circuit 31.
  • FIG. (1) The MOS transistor Q12 is eliminated.
  • (2) By forming a current mirror circuit CM1 with MOS transistors Q41 and Q42, a bias voltage corresponding to the source potential of the MOS transistor Q13 is generated by the current mirror circuit CM1 and applied to the connection point P7 via the switch SW15. output.
  • the enable signal EN1 input to the terminal T4 is input to each control terminal of the switches SW1 to SW3, and is also input to each control terminal of the switches SW13 to SW15 via the inverter 33.
  • the bias voltage corresponding to the source potential of the MOS transistor Q13 is generated by the current mirror circuit CM1 when not in operation, and is applied to the connection point P7 of the differential amplifier 32A. , it is possible to suppress the change in the output voltage of the reference voltage source.
  • FIG. 5 is a block diagram showing a configuration example of a differential amplifier circuit 21B according to Modification 2. As shown in FIG. In FIG. 5, the same symbols are attached to the same components as in FIGS.
  • the differential amplifier circuit 21B of FIG. 5 has the following differences compared to the differential amplifier circuit 21A of FIG. (1) A bias voltage generation circuit including an internal reference voltage generation circuit 50 and a voltage generation circuit 60 is provided in place of the bias voltage generation circuit 31A. (2) A differential amplifier 32AA is provided instead of the differential amplifier 32A. Unlike the differential amplifier 32A, the differential amplifier 32AA includes a switch SW11 that connects the connection point P22 of the voltage generating circuit 60 to the connection point P6 of the differential amplifier 32AA instead of the switch SW15. Therefore, the differential amplifier circuit 21B comprises an internal reference voltage generation circuit 50, a voltage generation circuit 60, and a differential amplifier 32AA. Differences will be described below.
  • the internal reference voltage generation circuit 50 comprises a differential amplifier 51, a P-channel MOS transistor Q51, and voltage dividing resistors R1 and R2, and is configured as a known reference voltage generation circuit. Therefore, the internal reference voltage generating circuit 50 generates a predetermined internal reference voltage based on the reference voltage Vref input to the terminal T5 and outputs it to the source of the MOS transistor Q61 of the voltage generating circuit 60 via the connection point P21. do.
  • the voltage at the connection point P21 may be output to the outside of the block and used as a reference voltage.
  • the voltage generating circuit 60 comprises P-channel MOS transistors Q60 to Q62 and N-channel MOS transistors Q63 and Q64.
  • MOS transistors Q51 and Q60 form a current mirror circuit CM2.
  • a current mirror circuit is formed by MOS transistors Q61 to Q64. Therefore, the voltage generating circuit 60 adjusts the output impedance of the constant voltage from the internal reference voltage generating circuit 50 by means of the current mirror circuit CM2 and outputs it to the differential amplifier 32AA.
  • the enable signal EN1 input to the terminal T4 is input to each control terminal of the switches SW1 to SW3, and is also input to each control terminal of the switches SW11, SW13, and SW14 via the inverter 33.
  • the bias voltage corresponding to the drain potential of the MOS transistor Q51 is generated by the current mirror circuit CM2 when not in operation, and is applied to the connection point P6 of the differential amplifier 32AA. , it is possible to suppress the change in the output voltage of the reference voltage source.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a configuration example of a differential amplifier circuit 21C according to Modification 3. As shown in FIG. The differential amplifier circuit 21C of FIG. 6 differs from the differential amplifier circuit 21 of FIG. 2 in the following points. (1) Instead of the bias voltage generating circuit 31, a current generating circuit including two parallel transistor circuits 70 and 80 and a current source circuit 90 is provided. (2) Instead of the differential amplifier 32, a differential amplifier 32B is provided. Differences will be described below.
  • the differential amplifier 32B comprises switches SW3, SW13, SW14 and SW20, MOS transistors Q21, Q31, Q32, Q33 and Q34, and a current source 43.
  • the MOS transistor Q34 and the current source 43 constitute an output amplifier circuit.
  • the two parallel transistor circuits 70 and 80 are connected in series with each other between the MOS transistor Q21 and the current source circuit 90.
  • the parallel transistor circuit 70 comprises two MOS transistors Q71, Q72 and a switch SW21.
  • the parallel transistor circuit 80 is configured with two MOS transistors Q81 and Q82 and a switch SW23.
  • the current source circuit 90 comprises two current sources 91 and 92 and a switch SW25. Therefore, when the switches SW21 to SW25 are turned off (when the differential amplifier 32B is not in operation), the current flowing is smaller than when the switches SW21 to SW25 are turned on (when the differential amplifier 32B is in operation).
  • the small current is passed from the current generating circuit to the internal nodes (connection points P4, P6, P7) of the differential amplifier 32B to fix the operating potential. , suppress the change in the output voltage of the reference voltage source.
  • the number of MOS transistors connected to the switches in the parallel transistor circuits 70 and 80 is not limited to one, and may be a plurality of MOS transistors.
  • the bias voltage generating circuits 31 and 31A and the voltage generating circuit 60 apply predetermined bias voltages to the differential amplifiers 32 and 32A, respectively. , and 32AA to fix the operating potentials of the differential amplifiers 32, 32A, and 32AA (constituting an operating potential fixing circuit), thereby suppressing the potential fluctuation of the reference voltage.
  • a predetermined small current is caused to flow through the internal nodes (connection points P4, P6, P7) of the differential amplifier 32B (current generation circuit), By fixing the operating potential (forming an operating potential fixing circuit), the potential fluctuation of the reference voltage is suppressed.
  • switches SW1 to SW25 are composed of semiconductor switching elements composed of MOS transistors, for example.
  • differential amplifiers 32, 32A, and 32B are used in the above embodiments and modifications, the present invention is not limited to this, and an amplifier that amplifies the input voltage may be used.
  • the constant voltage generation circuit of the present invention it is possible to suppress changes in the output voltage of the reference voltage source caused by superimposition of noise via the coupling capacitance. As a result, it is possible to set the offset voltage of the differential amplifier to a small value, suppressing deterioration in the accuracy of the output voltage that occurs as a difference in the output voltage in each mode, while preventing the power supply circuit from malfunctioning due to continuous transitions between multiple modes. can be done.

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Abstract

定電圧発生回路は、基準電圧に基づいて出力電流を制御するトランジスタを駆動する第1の増幅回路と、第1の増幅回路に比較して高速で動作し、基準電圧に基づいてトランジスタを駆動する第2の増幅回路と、トランジスタから負荷に流れる出力電流を制限する保護回路と、第2の増幅回路の動作を制御する制御回路とを備える。制御回路は、出力電流が増大し、第2のしきい値電流までは、第2の増幅回路を動作させず、第2のしきい値電流以上となったときに、第2の増幅回路を動作させる一方、出力電流が減少し、第2のしきい値電流よりも小さい第1のしきい値電流までは、第2の増幅回路を動作させ、第1のしきい値電流以下となったときに、第2の増幅回路を動作させないように制御する。第2の増幅回路はさらに、非動作時に、第2の増幅回路の内部ノードの動作電位を固定する第1の動作電位固定回路を含む。

Description

定電圧発生回路
 本発明は、例えば、比較的低い入出力間電位差でも動作する低ドロップアウトレギュレータ(以下、LDOという。)などの定電圧発生回路に関する。
 従来、出力電圧値、出力電流値又は端子印加電圧の極性に応じて複数のモードを切り替える電源回路の構成において、基準電圧源を共有する場合、各モードの切り替え時において基準電圧源に接続されたトランジスタのドレイン及びソースの片方又は両方の電位が変動する。上記切り替え時にトランジスタの寄生容量がカップリング容量として作用し、基準電圧源にノイズが重畳して切り替え前後で基準電圧が変化する。これにより、電源回路の出力電圧がそれに追従することで出力電圧変化、又は電源回路の出力電圧変化に伴う出力電流の変化が発生する。そして、出力電圧変化、又は電源回路の出力電圧変化に伴う出力電流の変化によって意図しないモード遷移を誘発し、最悪の場合、各モードを遷移し続ける誤動作に繋がるという問題点があった。
 上記の誤動作を回避する手段として、他方の回路動作に影響を与えないようにするために電位変動が発生する回路と他方の回路とで異なる基準電圧源を使用する方法が既に知られている。加えて、基準電圧源へ重畳されるノイズの絶対値を抑制するためにモード切り替えの際に、ドレイン及びソースの片方又は両方の電位が変動する基準電圧源に接続されたトランジスタのサイズを小さくして寄生容量を低減させる方法も既知の事実である。そして、基準電圧が切り替え前後で変化した際、基準電圧に電源回路の出力電圧が追従する制御が存在することによる電源回路の出力電圧変化、又はそれに伴う出力電流の変化によってモードの切り替えが発生しないように差動増幅器にオフセットを付ける方法も既知技術として存在する。
 例えば、特許文献1では、電源と負荷との間に接続された第1トランジスタを駆動する第1アンプと、第1トランジスタに並列接続された第2トランジスタを駆動する第2アンプと、第1アンプ及び第2アンプをそれぞれ制御するアンプ制御回路とを有するシリーズレギュレータが開示されている。当該シリーズレギュレータにおいて、第2トランジスタの電流能力は、第1トランジスタの電流能力よりも小さく、第2アンプの消費電流は、第1アンプの消費電流よりも小さく設定される。アンプ制御回路は、負荷に流れる出力電流が所定のアンプ切り替え閾値よりも小さい第1負荷領域では、第1トランジスタに流れる第1出力電流をゼロ値とし、第2トランジスタに流れる第2出力電流で出力電流の全てを賄うように、第1アンプ及び第2アンプをそれぞれ制御する。一方、出力電流がアンプ切り替え閾値よりも大きい第2負荷領域では、第2出力電流をゼロ値またはアンプ切り替え閾値よりも小さい固定値とする。また、第1出力電流で出力電流の全て又は出力電流から第2出力電流を差し引いた差分を賄うように、第1アンプ及び第2アンプをそれぞれ制御する。
特開2019-185095号公報
 しかし、今までの各モードを遷移し続ける誤動作を回避する手法として、異なる基準電圧源を使用する方法はチップ面積の増大、かつ基準電圧源の仕上りバラツキによって各モードの出力電圧の差が精度劣化に繋がる。また、トランジスタサイズを小さくするという方法はトランジスタ間のミスマッチが発生し、比較器又は差動増幅器の特性バラつきを増大させ、これも各モード間で発生する出力電圧の差が大きくなり出力電圧精度の劣化に繋がる。さらに、差動増幅器にオフセットを付ける方法は基準電圧源に重畳されるノイズ以上のオフセットを付ける必要があるため上記と同様で出力電圧の精度が劣化する等の問題点があった。
 本発明の目的は以上の問題点を解決し、従来技術と比較して、出力電圧の精度劣化を抑制しつつ、複数のモードを遷移し続ける誤動作を防止することができる定電圧発生回路を提供することにある。
 本発明の一態様に係る定電圧発生回路は、
 電源と負荷との間に接続され、出力電流を制御するトランジスタと、
 前記電源からの基準電圧に基づいて前記トランジスタを駆動する第1の増幅回路と、
 前記第1の増幅回路と並列に接続され、前記第1の増幅回路に比較して高速で動作し、前記電源からの基準電圧に基づいて前記トランジスタを駆動する第2の増幅回路と、
 所定の動作時に、前記トランジスタから前記負荷に流れる出力電流を制限する保護回路と、
 前記第2の増幅回路の動作を制御する制御回路とを備える定電圧発生回路であって、
 前記制御回路は、前記出力電流が軽負荷時から増大し、所定の第2のしきい値電流までは、前記第2の増幅回路を動作させず、前記第2のしきい値電流以上となったときに、前記第2の増幅回路を動作させる一方、前記出力電流が重負荷時から減少し、前記第2のしきい値電流よりも小さい所定の第1のしきい値電流までは、前記第2の増幅回路を動作させ、前記第1のしきい値電流以下となったときに、前記第2の増幅回路を動作させないように制御し、
 前記第2の増幅回路はさらに、非動作時に、前記第2の増幅回路の内部ノードの動作電位を固定する第1の動作電位固定回路を含む。
 従って、本発明に係る定電圧発生回路によれば、カップリング容量を介したノイズ重畳が原因で発生する基準電圧源の出力電圧の変化を抑制することが可能である。これにより、差動増幅器のオフセット電圧を小さく設定でき、各モードにおいて出力電圧の差として発生する出力電圧の精度の劣化を抑制しつつ、電源回路が複数のモードを遷移し続ける誤動作を防止することができる。
実施形態に係る定電圧発生回路2とその周辺回路の構成例を示すブロック図である。 図1の差動増幅回路21,22の詳細構成を示す回路図である。 図1の定電圧発生回路2の保護実行回路13のための差動増幅回路22及び差動増幅回路21の停止動作を示すタイミングチャートである。 変形例1に係る差動増幅回路21Aの構成例を示すブロック図である。 変形例2に係る差動増幅回路21Bの構成例を示すブロック図である。 変形例3に係る差動増幅回路21Cの構成例を示すブロック図である。 図1の差動増幅回路21で用いるしきい値電流Ith1,Ith2の設定値を説明する図である。 図1の差動増幅回路22で用いるしきい値電流Ith3,Ith4の設定値を説明する図である。
 以下、本発明に係る実施形態について図面を参照して説明する。なお、同一又は同様の構成要素については同一の符号を付している。
(発明者の知見)
 特許文献1に開示されたシリーズレギュレータにおいて、動作モードの切り替えが発生するときに、MOSトランジスタの寄生容量を介して差動増幅器のノイズが、高い出力抵抗を有する基準電圧源からの出力電圧に重畳されることにより、2個の動作モード間で互いに入れ替わる切り替え発振という回路の誤動作が発生することを発見した。以下の実施形態はこの誤動作を防止することを目的とするものである。
(実施形態)
 図1は実施形態に係る定電圧発生回路2とその周辺回路の構成例を示すブロック図である。
 図1において、直流電圧源1から入力電圧Vinが定電圧発生回路2に入力される。定電圧発生回路2は例えばLDOであって、入力電圧Vinに基づいて、一定の定電圧Voutを発生して、出力キャパシタ3を介して負荷4に出力する。
 定電圧発生回路2は、基準電圧発生回路11と、監視対象ノード12と、保護実行回路13と、PチャンネルMOSトランジスタQ1と、電流源14と、3個の差動増幅回路21,22,23と、前記差動増幅回路21,22の動作を制御する制御回路10とを備えて構成される。
 基準電圧発生回路11は、入力電圧Vinを所定の基準電圧Vrefに変換して出力する。差動増幅回路21,22は例えば同一の回路構成を有する「電圧変動抑制機能付き差動増幅回路」であって、制御回路10からのイネーブル信号EN1,EN2に基づいて、例えば10MHz~数100MHzの動作周波数で動作し、差動増幅回路23に比較して高速でかつ高い消費電力で動作する。ここで、差動増幅回路21,22はそれぞれ制御回路10からのHレベルのイネーブル信号EN1,EN2に応答して動作する一方、Lレベルのイネーブル信号EN1に応答して動作しない。ここで、差動増幅回路21は定電圧発生回路2の主差動増幅器であって、所定の定電圧を発生して負荷4に供給する。また、差動増幅回路23は定電圧発生回路2の副差動増幅器であって、所定の定電圧を発生して負荷4に供給する。
 ここで、差動増幅回路21は、重負荷時に制御に支配的である主差動増幅回路を構成し、差動増幅回路22は、重負荷時に制御に支配的ではない副差動増幅回路を構成する。すなわち、重負荷時には2つの差動増幅回路21,22が動作しており、その際に消費電流の大きい差動増幅回路21が主差動増幅回路であり、差動増幅回路21に比較して消費電流の小さい差動増幅回路22が副差動増幅回路を構成する。
 さらに、差動増幅回路22は、例えばVoutに比例した電圧変化をする監視対象ノード12の電圧を検出して、差動増幅器を含む保護実行回路13とともに、例えば公知のブリックウォール電流制限法又はフォールドバック電流制限法などを用いて、出力電流Ioutの制限などの保護処理を実行する保護回路を構成する。
 差動増幅回路21,23及び保護実行回路13の出力端子は、ゲート電圧に応じて出力電流Ioutを制御するMOSトランジスタQ1のゲートに接続されることで、差動増幅回路21,23及び保護実行回路13はMOSトランジスタQ1を駆動して、MOSトランジスタQ1に流れる出力電流Ioutを制御する。また、入力電圧Vinの正極は、MOSトランジスタQ1のソース及びドレイン、電流源14を介して接地される。
 図7Aは図1の差動増幅回路21で用いるしきい値電流Ith1,Ith2の設定値を説明する図である。また、図7Bは図1の差動増幅回路22で用いるしきい値電流Ith3,Ith4の設定値を説明する図である。制御回路10は、MOSトランジスタQ1のゲート電圧を出力電流Ioutに換算して、もしくは、出力電圧端子に流れる出力電流Ioutを検出する電流センサからの出力電流Ioutを示す電流信号に基づいて、以下のように動作する。
(1)制御回路10は、図7Aに示すように、電流0又は軽負荷時から出力電流Ioutが増大し、しきい値電流Ith2までは、Lレベルのイネーブル信号EN1を差動増幅回路21に出力し、Iout≧Ith2となったときに、Hレベルのイネーブル信号EN1を差動増幅回路21に出力する。一方、重負荷時から出力電流Ioutが減少し、しきい値電流Ith1(<Ith2)までは、Hレベルのイネーブル信号EN1を差動増幅回路21に出力し、Iout≦Ith1となったときに、Lレベルのイネーブル信号EN1を差動増幅回路21に出力する。すなわち、図7Aのようなヒステリシス動作で、制御回路10は差動増幅回路21を制御する。
(2)制御回路10は、図7Bに示すように、電流0又は軽負荷時から出力電流Ioutが増大し、しきい値電流Ith4までは、Lレベルのイネーブル信号EN2を差動増幅回路22に出力し、Iout≧Ith4となったときに、Hレベルのイネーブル信号EN2を差動増幅回路22に出力する。一方、重負荷時から出力電流Ioutが減少し、しきい値電流Ith3(<Ith4)までは、Hレベルのイネーブル信号EN2を差動増幅回路22に出力し、Iout≦Ith3となったときに、Lレベルのイネーブル信号EN2を差動増幅回路22に出力する。すなわち、図7Bのようなヒステリシス動作で、制御回路10は差動増幅回路22を制御する。
 なお、各しきい値電流Ith1~Ith4の関係は以下のように設定される。
Ith1≦Ith3<Ith2   (1)
Ith2≦Ith4   (2)
 ここで、「しきい値電流の簡単設定例」として、しきい値電流Ith1=Ith3、Ith2=Ith4と設定してもよい。
 図2は図1の差動増幅回路21,22の詳細構成を示す回路図である。図2において、差動増幅回路21,22は、以下の5個の端子T1~T5を有する。
(1)反転入力端子(INN)T1;
(2)非反転入力端子(INP)T2;
(3)出力端子T3;
(4)イネーブル信号端子T4;及び
(5)基準電圧端子T5。
 図2において、差動増幅回路21,22は、インバータ33と、バイアス電圧発生回路31と、スイッチSW11,SW12と、差動増幅器32とを備えて構成される。なお、図2において、複数のMOSトランジスタQ11~Q34のうち、MOSトランジスタQ12、Q22,Q32をディプレッション型で構成しているが、エンハンスメント型で構成してもよく、以下、同様である。
 バイアス電圧発生回路31は、PチャンネルMOSトランジスタQ11と、NチャンネルMOSトランジスタQ12と、NチャンネルMOSトランジスタQ13とを備え、これらのMOSトランジスタが直列に接続されて構成される。MOSトランジスタQ11のソースには電源電圧Vinが印加され、MOSトランジスタQ11のゲートはそのドレインに接続される。MOSトランジスタQ12,Q13の各ゲートは互いに接続されて端子T5に接続される。MOSトランジスタQ12のソースとMOSトランジスタQ13のドレインとの接続点P1は、スイッチSW11を介して、差動増幅器32内のMOSトランジスタQ22のソースとMOSトランジスタQ23のドレインとの接続点P6に接続される。さらに、MOSトランジスタQ13のソースは接続点P2を介して電流源41を介して接地される。接続点P2はスイッチSW12を介して差動増幅器32内の接続点P7に接続される。
 以上のように構成されたバイアス電圧発生回路31は、端子T5に印加される基準電圧Vrefを所定のバイアス電圧に変換して、スイッチSW11を介して差動増幅器32内の接続点P6に印加する。
 図2の差動増幅器32は、MOSトランジスタQ21,Q22,Q23,Q31,Q32,Q33,Q34と、スイッチSW1,SW2,SW3,SW13,SW14と、電流源42,43とを備えて構成される。MOSトランジスタQ21、接続点P4、MOSトランジスタQ22、接続点P6及びMOSトランジスタQ23とは互いに直列に接続され、MOSトランジスタQ21のソースは電源電圧Vinに接続され、MOSトランジスタQ23のソースはスイッチSW2及び電流源42を介して接地される。また、MOSトランジスタQ31、接続点P5及びMOSトランジスタQ32,33とは互いに直列に接続され、MOSトランジスタQ31のソースは電源電圧Vinに接続され、MOSトランジスタQ33のソースはスイッチSW2及び電流源42を介して接地される。さらに、MOSトランジスタQ21,Q31の各ゲートが互いに接続された接続点P3はスイッチSW13を介して電源電圧Vinに接続されるとともに、スイッチSW1を介して接続点P4に接続される。
 MOSトランジスタQ32,Q33の各ゲートは互いに接続された後、端子T2に接続される。接続点P5はMOSトランジスタQ34のゲートに接続され、MOSトランジスタQ34のゲートはスイッチSW14を介して電源電圧Vin及びMOSトランジスタQ34のソースに接続される。MOSトランジスタQ34のドレインは、端子T3に接続される接続点、スイッチSW3、及び電流源43を介して接地される。
 端子T4に入力されるイネーブル信号EN1,EN2はスイッチSW1~SW3の各制御端子に入力されるとともに、インバータ33に入力される、インバータ33から出力される反転イネーブル信号/EN1,/EN2はスイッチSW11~SW14の各制御端子に入力される。スイッチSW1~SW3の各制御端子に、Hレベルのイネーブル信号EN1,EN2が入力されるときに、各スイッチSW1~SW3がオンされる一方、Lレベルのイネーブル信号EN1,EN2が入力されるときに、各スイッチSW1~SW3がオフされる。また、スイッチSW11~SW14の各制御端子に、Hレベルの反転イネーブル信号/EN1,/EN2が入力されるときに、各スイッチSW11~SW14がオンされる一方、Lレベルの反転イネーブル信号/EN1,/EN2が入力されるときに、各スイッチSW11~SW14がオフされる。
 以上のように構成された差動増幅回路21,22において、Hレベルのイネーブル信号EN1.EN2が入力されるときに、スイッチSW1~SW3がオンされかつスイッチSW11~SW14がオフされる。このとき、バイアス電圧発生回路31からの所定のバイアス電圧は差動増幅器32に印加されない状態で、差動増幅器32が動作状態となる。従って、差動増幅器32は、非反転入力端子T2に入力される非反転入力電圧INPから、反転入力端子T1に入力される反転入力電圧INNを減算し、減算結果の電圧を増幅した出力電圧を端子T3から出力する。なお、差動増幅回路21の端子T3は図1のMOSトランジスタQ1のゲートに接続され、差動増幅回路22の端子T3は図1の保護実行回路13を介してMOSトランジスタQ1のゲートに接続される。
 また、Lレベルのイネーブル信号EN1.EN2が入力されるときに、スイッチSW1~SW3がオフされかつスイッチSW11~SW14がオンされる。このとき、バイアス電圧発生回路31からの所定のバイアス電圧は差動増幅器32に印加された状態で、差動増幅器32が非動作状態となる。従って、差動増幅器32は、前記の差動増幅をせず、端子T3からの出力のない停止状態となるが、所定のバイアス電圧が印加されているので、接点P6及びP7の電圧変動を抑制することで、MOSトランジスタQ22,Q23の持つ寄生容量を介したMOSトランジスタQ22,Q23のゲート電圧の変動を抑制する。
 すなわち、差動増幅回路21,22が動作時にはそれぞれ差動増幅動作を行い、非動作時には差動増幅動作を行わないが、このとき、所定のバイアス電圧が内部ノード(接続点P6、P7)に印加するので、基準電圧の変動を抑制することができる。
 図3は図1の定電圧発生回路2の保護実行回路13のための差動増幅回路22及び差動増幅回路21の停止動作を示すタイミングチャートである。なお、図3は、しきい値電流Ith1=Ith3、Ith2=Ith4と設定した場合のしきい値電流の簡易設定例の場合を示している。
 図3の時間期間T11では、イネーブル信号EN1,EN2がHレベルとされているので、差動増幅回路21が動作状態で、保護実行回路13のための差動増幅回路22が動作状態となり、保護回路が動作している。次いで、時刻t1で、重負荷から軽負荷に変化することで出力電流Ioutが小さくなり、出力電流Iout≦Ith3となり、制御回路10はイネーブル信号EN2がLレベルになるため保護実行回路13のための差動増幅回路22の動作が停止する。また、イネーブル信号EN1がLレベルとされて差動増幅回路21は、バイアス電圧が差動増幅器32に印加された状態で、差動増幅器32が非動作状態となる。従って、差動増幅回路21は、前記の差動増幅をしない状態となるが、所定のバイアス電圧が印加されているので、MOSトランジスタQ22,Q23の持つ寄生容量を介した基準電圧の変動を抑制する。前記の効果は差動増幅段22においても同様に発揮される。このとき、バイアス電圧の効果で、基準電圧源の出力電圧の変化が小さいために、出力電流Ioutの変動も小さく、保護実行回路13のための差動増幅回路22と差動増幅回路21が誤動作せずに、出力電圧Voutは発振しない。
 以上説明したように、差動増幅回路21,22を図2のように「電圧変動抑制機能付き差動増幅回路」で構成し、各差動増幅回路21,22が停止状態となったときに、差動増幅回路21,23の各差動増幅器32に所定のバイアス電圧が印加されているので、MOSトランジスタQ22,Q23の持つ寄生容量を介した基準電圧の変動を抑制する。このとき、バイアス電圧の効果で、出力電圧Voutの電圧変動は小さいために、出力電流Ioutの変動も小さく、差動増幅回路21,22及び保護実行回路13が誤動作せずに、出力電圧Voutは発振しない。すなわち、基準電圧源の出力電圧の変化を抑制することで、差動増幅器のオフセット電圧を小さく設定でき、モード間に渡って出力電圧Voutの精度の劣化を抑制しつつ、電源回路が複数のモードを遷移し続ける誤動作を防止することができる。
(実施形態の変形例)
 以上の実施形態において、保護実行回路13のための差動増幅回路22が停止状態となったときに、保護実行回路13に使用する差動増幅回路22の動作を停止する停止制御回路、もしくは当該差動増幅回路22のバイアス電圧を固定するバイアス電圧発生回路31を設けている。本発明はこれに限らず、これらの機能回路を、差動増幅回路21のみ設けて、差動増幅回路22に設けなくてもよいし、制御回路10からのイネーブル信号EN2で出力電流に応じて動作を停止させる機能がなくてもよい。
 以上の実施形態において、差動増幅回路23を、電圧変動抑制機能なしの通常の差動増幅回路で構成している。本発明はこれに限らず、差動増幅回路23を、差動増幅回路21,22と同様に、電圧変動抑制機能付きの差動増幅回路で構成してもよい。
 以上の実施形態において、MOSトランジスタQ12,Q13、MOSトランジスタQ22,Q23、MOSトランジスタQ32,Q33をそれぞれカスコード接続している。本発明はこれに限らず、カスコード接続せずに、それぞれ1個のMOSトランジスタQ13,Q23,Q33のみで構成してもよい。
(他の変形例)
 以上の実施形態では、定電圧発生回路2に用いる差動増幅回路21,22について説明したが、以下、差動増幅回路21,22の変形例1,2,3について説明する。なお、以下では、差動増幅回路21A,21B,21Cとしているが、これら構成を同様に、差動増幅回路21及び22に適用してもよい。
(変形例1)
 図4は変形例1に係る差動増幅回路21Aの構成例を示すブロック図である。図4において、図2と同様の構成要素について同一の符号を付している。図4の差動増幅回路21Aは、図2の差動増幅回路21,22に比較して以下の相違点を有する。
(1)バイアス電圧発生回路31に代えて、バイアス電圧発生回路31Aを備える。
(2)差動増幅器32に代えて、差動増幅器32Aを備える。
 以下、相違点について説明する。
 図4において、バイアス電圧発生回路31Aは、MOSトランジスタQ11,Q13と、電流源41,44と、MOSトランジスタQ41,Q42とを備えて構成される。バイアス電圧発生回路31Aは、バイアス電圧発生回路31に比較して以下の相違点を有する。
(1)MOSトランジスタQ12を削除した。
(2)MOSトランジスタQ41,Q42によりカレントミラー回路CM1を構成することで、MOSトランジスタQ13のソース電位に対応するバイアス電圧を、カレントミラー回路CM1により発生して、スイッチSW15を介して接続点P7に出力した。
 端子T4に入力されるイネーブル信号EN1は、スイッチSW1~SW3の各制御端子に入力されるとともに、インバータ33を介してスイッチSW13~SW15の各制御端子に入力される。
 以上のように構成された差動増幅回路21Aによれば、非動作時に、MOSトランジスタQ13のソース電位に対応するバイアス電圧を、カレントミラー回路CM1により発生して、差動増幅器32Aの接続点P7に出力することで、基準電圧源の出力電圧の変化を抑制することができる。
(変形例2)
 図5は変形例2に係る差動増幅回路21Bの構成例を示すブロック図である。図5において、図2及び図4と同様の構成要素について同一の符号を付している。図5の差動増幅回路21Bは、図4の差動増幅回路21Aに比較して以下の相違点を有する。
(1)バイアス電圧発生回路31Aに代えて、内部基準電圧発生回路50及び電圧発生回路60を含むバイアス電圧発生回路を備える。
(2)差動増幅器32Aに代えて、差動増幅器32AAを備える。なお、差動増幅器32AAは、差動増幅器32Aに比較して、スイッチSW15に代えて、電圧発生回路60の接続点P22を差動増幅器32AAの接続点P6に接続するスイッチSW11を備える。
 従って、差動増幅回路21Bは、内部基準電圧発生回路50及び電圧発生回路60と、差動増幅器32AAとを備えて構成される。以下、相違点について説明する。
 図5において、内部基準電圧発生回路50は、差動増幅器51と、PチャンネルMOSトランジスタQ51と、分圧抵抗R1,R2とを備えて、公知の基準電圧発生回路として構成される。従って、内部基準電圧発生回路50は、端子T5に入力される基準電圧Vrefに基づいて、所定の内部基準電圧を発生して接続点P21を介して電圧発生回路60のMOSトランジスタQ61のソースに出力する。ここで、接続点P21の電圧を当該ブロック外に出力することで、基準電圧として使用してもよい。
 電圧発生回路60は、PチャンネルMOSトランジスタQ60~Q62と、NチャンネルMOSトランジスタQ63,Q64とを備えて構成される。ここで、MOSトランジスタQ51とQ60とによりカレントミラー回路CM2を構成する。また、MOSトランジスタQ61~Q64によりカレントミラー回路を構成する。従って、電圧発生回路60は、内部基準電圧発生回路50からの定電圧について、カレントミラー回路CM2により出力インピーダンスを調整して差動増幅器32AAに出力する。
 端子T4に入力されるイネーブル信号EN1は、スイッチSW1~SW3の各制御端子に入力されるとともに、インバータ33を介してスイッチSW11,SW13,SW14の各制御端子に入力される。
 以上のように構成された差動増幅回路21Bによれば、非動作時に、MOSトランジスタQ51のドレイン電位に対応するバイアス電圧を、カレントミラー回路CM2により発生して、差動増幅器32AAの接続点P6に出力することで、基準電圧源の出力電圧の変化を抑制することができる。
(変形例3)
 図6は、変形例3に係る差動増幅回路21Cの構成例を示すブロック図である。図6の差動増幅回路21Cは、図2の差動増幅回路21に比較して以下の点が異なる。
(1)バイアス電圧発生回路31に代えて、2個の並列トランジスタ回路70,80及び電流源回路90を含む電流発生回路を備えた。
(2)差動増幅器32に代えて、差動増幅器32Bを備えた。
 以下、相違点について説明する。
 差動増幅器32Bは、スイッチSW3,SW13,SW14,SW20と、MOSトランジスタQ21,Q31,Q32,Q33,Q34と、電流源43とを備えて構成される。ここで、MOSトランジスタQ34と、電流源43とにより、出力増幅回路を構成する。
 2個の並列トランジスタ回路70,80は、MOSトランジスタQ21と電流源回路90との間に、互いに直列に接続される。ここで、並列トランジスタ回路70は、2個のMOSトランジスタQ71,Q72と、スイッチSW21を備えて構成される。また、並列トランジスタ回路80は、2個のMOSトランジスタQ81,Q82と、スイッチSW23を備えて構成される。さらに、電流源回路90は、2個の電流源91,92と、スイッチSW25を備えて構成される。従って、スイッチSW21~SW25をオフにしたとき(差動増幅器32Bの非動作時)は、スイッチSW21~SW25をオンにしたとき(差動増幅器32Bの動作時)に比較して流す電流が小さくなり、特に、差動増幅器32Bを動作させないときに、当該小さい電流を前記電流発生回路から差動増幅器32Bの内部ノード(接続点P4,P6,P7)に流して、その動作電位を固定することで、基準電圧源の出力電圧の変化を抑制する。
 なお、並列トランジスタ回路70,80におけるスイッチに接続されるMOSトランジスタはそれぞれ1個に限らず、複数個のMOSトランジスタであってもよい。
 上述の実施形態及び変形例1,2では、差動増幅器32,32A,32AAの非動作時に、バイアス電圧発生回路31,31A及び電圧発生回路60から所定のバイアス電圧をそれぞれ差動増幅器32,32A,32AAの内部のノードに印加することで、差動増幅器32,32A,32AAのその動作電位を固定する(動作電位固定回路を構成する)ことで、基準電圧の電位変動を抑制する。これに対して、変形例3では、差動増幅器32Bを動作させないときに、所定の小さい電流を差動増幅器32Bの内部ノード(接続点P4,P6,P7)に流して(電流発生回路)、その動作電位を固定する(動作電位固定回路を構成する)ことで、基準電圧の電位変動を抑制する。
(さらなる変形例)
 以上の実施形態及び変形例において、スイッチSW1~SW25を備えている。ここで、スイッチSW1~SW25は例えばMOSトランジスタで構成される半導体スイッチ素子で構成される。
 以上の実施形態及び変形例において、差動増幅器32,32A,32Bを用いているが、本発明はこれに限らず、入力電圧を増幅する増幅器を用いてもよい。
 以上詳述したように、本発明に係る定電圧発生回路によれば、カップリング容量を介したノイズ重畳が原因で発生する基準電圧源の出力電圧の変化を抑制することが可能である。これにより、差動増幅器のオフセット電圧を小さく設定でき、各モードにおいて出力電圧の差として発生する出力電圧の精度の劣化を抑制しつつ、電源回路が複数のモードを遷移し続ける誤動作を防止することができる。
1 直流電圧源
2 定電圧発生回路
3 出力キャパシタ
4 負荷
10 制御回路
11 基準電圧発生回路
12 監視対象ノード
13 保護実行回路
14 電流源
21~23,21A,21B,21C 差動増幅回路
31,31A バイアス電圧発生回路
32,32A,32AA,32B 差動増幅器
33 インバータ
41~45 電流源
50 内部基準電圧発生回路
51 差動増幅器
60 電圧発生回路
70,80 並列トランジスタ回路
90 電流源回路
91~92 電流源
P1~P22 接続点
CM1,CM2 カレントミラー回路
Q1~Q82 MOSトランジスタ
R1,R2 分圧抵抗
SW1~SW25 スイッチ
T1~T5 端子

Claims (10)

  1.  電源と負荷との間に接続され、出力電流を制御するトランジスタと、
     前記電源からの基準電圧に基づいて前記トランジスタを駆動する第1の増幅回路と、
     前記第1の増幅回路と並列に接続され、前記第1の増幅回路に比較して高速で動作し、前記電源からの基準電圧に基づいて前記トランジスタを駆動する第2の増幅回路と、
     所定の動作時に、前記トランジスタから前記負荷に流れる出力電流を制限する保護回路と、
     前記第2の増幅回路の動作を制御する制御回路とを備える定電圧発生回路であって、
     前記制御回路は、前記出力電流が軽負荷時から増大し、所定の第2のしきい値電流までは、前記第2の増幅回路を動作させず、前記第2のしきい値電流以上となったときに、前記第2の増幅回路を動作させる一方、前記出力電流が重負荷時から減少し、前記第2のしきい値電流よりも小さい所定の第1のしきい値電流までは、前記第2の増幅回路を動作させ、前記第1のしきい値電流以下となったときに、前記第2の増幅回路を動作させないように制御し、
     前記第2の増幅回路はさらに、非動作時に、前記第2の増幅回路の内部ノードの動作電位を固定する第1の動作電位固定回路を含む、
    定電圧発生回路。
  2.  前記保護回路はさらに第3の増幅回路を含み、
     前記制御回路は、前記出力電流が軽負荷時から増大し、所定の第4のしきい値電流までは、前記第3の増幅回路を動作させず、前記第4のしきい値電流以上となったときに、前記第3の増幅回路を動作させる一方、前記出力電流が重負荷時から減少し、前記第4のしきい値電流よりも小さい所定の第3のしきい値電流までは、前記第3の増幅回路を動作させ、前記第3のしきい値電流以下となったときに、前記第3の増幅回路を動作させないように制御する、
    請求項1に記載の定電圧発生回路。
  3.  前記第1のしきい値電流は前記第3のしきい値電流に等しく、前記第2のしきい値電流は前記第4のしきい値電流に等しくなるように設定される、
    請求項2に記載の定電圧発生回路。
  4.  前記第1の動作電位固定回路は、
    (1)前記第2の増幅回路の非動作時に、前記第2の増幅回路の内部ノードに所定のバイアス電圧を印加することで、動作電位を固定するバイアス電圧発生回路、もしくは
    (2)前記第2の増幅回路の非動作時に、前記第2の増幅回路の内部ノードに所定の電流を流すことで、動作電位を固定する電流発生回路である、
    請求項1~3のうちのいずれか1つに記載の定電圧発生回路。
  5.  前記保護回路はさらに、非動作時に、前記第3の増幅回路の内部ノードの動作電位を固定する第2の動作電位固定回路を含む、
    請求項2又は3に記載の定電圧発生回路。
  6.  前記第2の動作電位固定回路は、
    (1)前記保護回路の非動作時に、前記第3の増幅回路の内部ノードに所定のバイアス電圧を印加することで、動作電位を固定するバイアス電圧発生回路、もしくは
    (2)前記保護回路の非動作時に、前記第3の増幅回路の内部ノードに所定の電流を流すことで、動作電位を固定する電流発生回路である、
    請求項5に記載の定電圧発生回路。
  7.  前記バイアス電圧発生回路は、
     少なくとも2個のトランジスタを直列に接続した電圧発生回路であって、前記基準電圧に基づいて、所定のバイアス電圧を発生する電圧発生回路を含む、
    請求項4又は6に記載の定電圧発生回路。
  8.  前記バイアス電圧発生回路は、
     少なくとも2個のトランジスタを直列に接続した電圧発生回路であって、前記基準電圧に基づいて、所定のバイアス電圧を発生する電圧発生回路と、
     前記バイアス電圧を前記増幅回路の内部ノードに出力するカレントミラー回路とを含む、
    請求項4又は6に記載の定電圧発生回路。
  9.  前記バイアス電圧発生回路は、
     前記基準電圧に基づいて所定の内部基準電圧を発生する内部基準電圧発生回路と、
     前記内部基準電圧に基づいて所定のバイアス電圧を発生し、カレントミラー回路を用いて出力インピーダンスを調整して前記増幅回路の内部ノードに出力する電圧発生回路とを含む、
    請求項4又は6に記載の定電圧発生回路。
  10.  前記電流発生回路は、
     前記増幅回路の動作時に、所定の第1の電流を前記増幅回路の内部ノードに流し、
     前記増幅回路の非動作時に、前記第1の電流よりも小さい所定の第2の電流を前記増幅回路の内部ノードに流す、
    請求項4又は6に記載の定電圧発生回路。
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