WO2022209860A1 - 弾性波装置 - Google Patents

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WO2022209860A1
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wave device
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elastic wave
electrode
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誠二 甲斐
央 山崎
武志 中尾
卓哉 小柳
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株式会社村田製作所
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Definitions

  • the present invention relates to elastic wave devices.
  • an elastic wave device described in Patent Document 1 below has a piezoelectric substrate, a support member provided on the piezoelectric substrate, and a cover member provided on the support member.
  • This elastic wave device has a hollow space surrounded by a piezoelectric substrate, a support member, and a cover member.
  • An IDT (Interdigital Transducer) electrode is provided on the piezoelectric substrate so as to face the hollow space.
  • a recess is provided above the support member.
  • a piezoelectric thin film is provided on the support member so as to cover the recess. That is, a hollow space is provided on the support member side.
  • An IDT electrode is provided in a portion of the piezoelectric thin film that covers the recess.
  • a package structure as described in Patent Document 1 may be used in an elastic wave device as described in Patent Document 2.
  • the piezoelectric thin film may warp toward the hollow space provided on the supporting member side, and the piezoelectric thin film may stick to the supporting member, resulting in sticking.
  • An object of the present invention is to provide an elastic wave device capable of suppressing sticking of the piezoelectric layer to the supporting member.
  • An elastic wave device comprises: a support member including a support substrate; a piezoelectric substrate including a piezoelectric layer provided on the support member; a functional electrode provided on the piezoelectric layer; one support and a lid, wherein one of the at least one supports is provided on the piezoelectric substrate so as to surround the functional electrode, and a lid is provided on the support
  • the support member is provided with a first cavity, the first cavity overlaps at least a part of the functional electrode in a plan view, and the piezoelectric substrate and the , the support provided between the piezoelectric substrate and the lid, and a second cavity surrounded by the lid, wherein the piezoelectric substrate, the piezoelectric substrate, and the lid are provided.
  • the height of the first hollow portion is defined as the direction in which the support provided between the lid portions and the lid portion are laminated is the height direction, and the dimension along the height direction is the height. height is higher than the height of the second cavity.
  • FIG. 1 is a schematic front cross-sectional view of an elastic wave device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic plan view showing the configuration on the piezoelectric substrate of the elastic wave device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a portion corresponding to FIG. 1 of an elastic wave device according to a first modification of the first embodiment of the invention.
  • FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a portion corresponding to FIG. 1 of an elastic wave device according to a second modification of the first embodiment of the invention.
  • FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a configuration on a piezoelectric substrate of an elastic wave device according to a third modification of the first embodiment of the invention.
  • FIG. 1 is a schematic front cross-sectional view of an elastic wave device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic plan view showing the configuration on the piezoelectric substrate of the elastic wave device according
  • FIG. 6 is a schematic plan view showing a portion corresponding to FIG. 1 of an elastic wave device according to a fourth modification of the first embodiment of the invention.
  • FIG. 7 is a schematic front cross-sectional view of an elastic wave device according to a fifth modification of the first embodiment of the invention.
  • FIG. 8 is a schematic plan view showing a configuration on a piezoelectric substrate of an acoustic wave device according to a second embodiment of the invention.
  • FIG. 9 is a schematic plan view showing the configuration on the piezoelectric substrate of the acoustic wave device according to the first modification of the second embodiment of the invention.
  • FIG. 10 is a schematic plan view showing a configuration on a piezoelectric substrate of an elastic wave device according to a second modification of the second embodiment of the invention.
  • FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing the vicinity of the first support in the third embodiment of the invention.
  • FIG. 12 is a schematic cross-sectional view showing the vicinity of a first support in a modification of the third embodiment of the invention.
  • FIG. 13 is a schematic cross-sectional view showing the vicinity of the first support and the third support in the fourth embodiment of the invention.
  • FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing a portion corresponding to FIG. 1 of an elastic wave device according to a fifth embodiment of the invention.
  • FIG. 15 is a schematic cross-sectional view showing a portion corresponding to the portion shown in FIG. 1 of an elastic wave device according to a sixth embodiment of the invention.
  • FIG. 16(a) is a schematic perspective view showing the external appearance of an elastic wave device that utilizes a thickness shear mode bulk wave
  • FIG. 16(b) is a plan view showing an electrode structure on a piezoelectric layer
  • FIG. 17 is a cross-sectional view of a portion taken along line AA in FIG. 16(a).
  • FIG. 18(a) is a schematic front cross-sectional view for explaining a Lamb wave propagating through a piezoelectric film of an acoustic wave device
  • FIG. 18(b) is a thickness shear propagating
  • FIG. 2 is a schematic front cross-sectional view for explaining bulk waves in a mode;
  • FIG. 19 is a diagram showing amplitude directions of bulk waves in the thickness shear mode.
  • FIG. 19 is a diagram showing amplitude directions of bulk waves in the thickness shear mode.
  • FIG. 20 is a diagram showing resonance characteristics of an elastic wave device that utilizes bulk waves in a thickness-shear mode.
  • FIG. 21 is a diagram showing the relationship between d/p and the fractional bandwidth of the resonator, where p is the center-to-center distance between adjacent electrodes and d is the thickness of the piezoelectric layer.
  • FIG. 22 is a plan view of an acoustic wave device that utilizes thickness shear mode bulk waves.
  • FIG. 23 is a diagram showing the resonance characteristics of the elastic wave device of the reference example in which spurious appears.
  • FIG. 24 is a diagram showing the relationship between the fractional bandwidth and the amount of phase rotation of the spurious impedance normalized by 180 degrees as the magnitude of the spurious.
  • FIG. 25 is a diagram showing the relationship between d/2p and the metallization ratio MR.
  • FIG. 26 is a diagram showing a map of fractional bandwidth with respect to Euler angles (0°, ⁇ , ⁇ ) of LiNbO 3 when d/p is infinitely close to 0.
  • FIG. 27 is a partially cutaway perspective view for explaining an elastic wave device that utilizes Lamb waves.
  • FIG. 1 is a schematic front cross-sectional view of an elastic wave device according to a first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic plan view showing the configuration on the piezoelectric substrate of the elastic wave device according to the first embodiment.
  • an IDT electrode which will be described later, is shown by a schematic diagram in which two diagonal lines are added to a rectangle.
  • FIG. 2 a dielectric film, which will be described later, is omitted.
  • the same applies to schematic plan views other than FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a portion along line II in FIG.
  • the acoustic wave device 10 has a piezoelectric substrate 12 and an IDT electrode 11 as a functional electrode.
  • the piezoelectric substrate 12 has a support member 13 and a piezoelectric layer 14 .
  • support member 13 includes support substrate 16 and intermediate layer 15 .
  • An intermediate layer 15 is provided on the support substrate 16 .
  • a piezoelectric layer 14 is provided on the intermediate layer 15 .
  • the support member 13 may be composed of only the support substrate 16 .
  • the piezoelectric layer 14 has a first main surface 14a and a second main surface 14b.
  • the first main surface 14a and the second main surface 14b face each other.
  • the second principal surface 14b is located on the support member 13 side.
  • the material of the support substrate 16 for example, semiconductors such as silicon, ceramics such as aluminum oxide, and the like can be used.
  • the material of intermediate layer 15 may be any suitable dielectric such as silicon oxide or tantalum pentoxide.
  • materials for the piezoelectric layer 14 include lithium niobate, lithium tantalate, zinc oxide, aluminum nitride, crystal, and PZT (lead zirconate titanate). It should be noted that the piezoelectric layer 14 is preferably a lithium tantalate layer such as a LiTaO 3 layer or a lithium niobate layer such as a LiNbO 3 layer.
  • the support member 13 is provided with a first hollow portion 10a. More specifically, intermediate layer 15 is provided with a recess. A piezoelectric layer 14 is provided on the intermediate layer 15 so as to close the recess. This constitutes the first hollow portion 10a.
  • the first hollow portion 10a may be provided in the intermediate layer 15 and the support substrate 16, or may be provided in the support substrate 16 only.
  • the support member 13 may be provided with at least one first cavity 10a.
  • a plurality of IDT electrodes 11 are provided on the first main surface 14a of the piezoelectric layer 14. As shown in FIG. Thereby, a plurality of elastic wave resonators are configured.
  • the elastic wave device 10 in this embodiment is a filter device. In addition, the elastic wave device 10 only needs to have at least one IDT electrode 11 .
  • An elastic wave device according to the present invention may include at least one elastic wave resonator.
  • At least a portion of the IDT electrode 11 overlaps with the first cavity portion 10a in plan view. More specifically, as shown in FIG. 2, in this embodiment, a plurality of first cavities 10a are provided. In plan view, the IDT electrode 11 of each elastic wave resonator overlaps with the separate first cavity 10a. However, a plurality of IDT electrodes 11 may overlap the same first cavity 10a.
  • plan view means viewing from a direction corresponding to the upper side in FIG.
  • a plan view means viewing along the direction in which the later-described first support 18 and the lid portion 25 are stacked. In FIG. 1, for example, between the support substrate 16 and the piezoelectric layer 14, the piezoelectric layer 14 side is the upper side.
  • a first support 18 and a plurality of second supports 19 are provided on the first main surface 14 a of the piezoelectric layer 14 .
  • the first support 18 and the second support 19 are each a laminate of multiple metal layers.
  • the first support 18 has a frame-like shape.
  • the second support 19 has a columnar shape.
  • the first support 18 is provided so as to surround the multiple IDT electrodes 11 and the multiple second supports 19 . More specifically, the first support 18 has an opening 18c.
  • the plurality of IDT electrodes 11 and the plurality of second supports 19 are positioned within the opening 18c. At least one second support 19 may be provided.
  • a frame-shaped electrode layer 17A is provided between the piezoelectric layer 14 and the first support 18.
  • the electrode layer 17A surrounds the multiple IDT electrodes 11 and the multiple second supports 19 in plan view, similarly to the first support 18 .
  • the electrode layer 17A may not be provided.
  • Lids 25 are provided on the first support 18 and the plurality of second supports 19 so as to close the openings 18c.
  • a second cavity 10b surrounded by the piezoelectric substrate 12, the electrode layer 17A, the first support 18 and the lid 25 is provided.
  • a plurality of IDT electrodes 11 and a plurality of second supports 19 are arranged in the second cavity 10b.
  • a feature of this embodiment is that when the direction in which the piezoelectric substrate 12, the first support 18, and the lid portion 25 are stacked is the height direction, and the dimension along the height direction is the height, the first cavity The height of the portion 10a is higher than the height of the second hollow portion 10b. As a result, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be suppressed even when the piezoelectric layer 14 deforms convexly from the second cavity portion 10b side to the first cavity portion 10a side.
  • a dielectric film 24 is provided on the piezoelectric substrate 12 so as to cover the IDT electrodes 11 .
  • the IDT electrode 11 is less likely to be damaged.
  • Silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride, for example, can be used for the dielectric film 24 . If the dielectric film 24 is made of silicon oxide, the frequency temperature characteristics can be improved. On the other hand, if the dielectric film 24 is made of silicon nitride or the like, the dielectric film 24 can be used as a frequency adjustment film. Note that the dielectric film 24 may not be provided.
  • a through hole 20 is continuously provided in the piezoelectric layer 14 and the dielectric film 24 .
  • the through hole 20 is provided so as to reach the first hollow portion 10a.
  • the through-hole 20 is used for removing the sacrificial layer in the intermediate layer 15 when manufacturing the elastic wave device 10 .
  • the through hole 20 may not necessarily be provided.
  • the lid portion 25 has a lid portion main body 26, and an insulator layer 27A and an insulator layer 27B.
  • the lid body 26 has a first major surface 26a and a second major surface 26b.
  • the first main surface 26a and the second main surface 26b face each other.
  • the second main surface 26b is located on the piezoelectric substrate 12 side.
  • An insulator layer 27A is provided on the first main surface 26a.
  • An insulator layer 27B is provided on the second main surface 26b.
  • the main component of the lid body 26 is silicon.
  • the material of the lid main body 26 is not limited to the above, it is preferable that the main component is a semiconductor such as silicon.
  • the term "main component" refers to a component that accounts for more than 50% by weight.
  • the insulator layers 27A and 27B are, for example, silicon oxide layers.
  • a via electrode 21A is provided on the lid portion 25 as an under bump metal. More specifically, a through hole is provided in the lid portion 25 . The through hole is provided to reach the second support 19 .
  • a via electrode 21A is provided in the through hole. One end of the via electrode 21A is connected to the second support 19 .
  • An electrode pad 21B is provided so as to be connected to the other end of the via electrode 21A.
  • the via electrode 21A and the electrode pad 21B are integrally provided. However, the via electrodes 21A and the electrode pads 21B may be provided separately.
  • a bump 22 is joined to the electrode pad 21B.
  • an insulator layer 27A is provided so as to cover the vicinity of the outer periphery of the electrode pad 21B.
  • a bump 22 is joined to a portion of the electrode pad 21B that is not covered with the insulator layer 27A.
  • the outer peripheral edge is the outer peripheral edge in plan view.
  • the insulator layer 27A may extend between the electrode pad 21B and the lid body 26 .
  • the insulator layer 27A may extend between the via electrode 21A and the lid portion main body 26 .
  • the insulator layer 27A and the insulator layer 27B may be integrally provided through a through hole of the lid main body 26 .
  • a plurality of wiring electrodes 23 are provided on the piezoelectric substrate 12 . Some of the wiring electrodes 23 connect the IDT electrodes 11 to each other. Some of the plurality of wiring electrodes 23 electrically connect the IDT electrodes 11 and the second support 19 . More specifically, a conductive film 17B is provided on the piezoelectric substrate 12 as shown in FIG. A second support 19 is provided on the conductive film 17B. Therefore, the wiring electrode 23 is electrically connected to the second support 19 via the conductive film 17B.
  • the plurality of IDT electrodes 11 are electrically connected to the outside through wiring electrodes 23 , conductive films 17 B, second supports 19 , via electrodes 21 A, electrode pads 21 B and bumps 22 .
  • the plurality of second supports 19 may include second supports 19 that are not connected to via electrodes 21A.
  • the first support 18 has a first portion 18a and a second portion 18b.
  • the first portion 18a is located on the lid portion 25 side, and the second portion 18b is located on the piezoelectric substrate 12 side. That is, the second portion 18b is located closer to the piezoelectric layer 14 in the height direction than the first portion 18a.
  • the second portion 18b is a laminate. More specifically, the second portion 18b has a first layer 18d and a second layer 18e.
  • the first portion 18a is a single-layer metal layer.
  • the first portion 18a and the first layer 18d of the second portion 18b are made of the same metal.
  • the first portion 18a and the first layer 18d are bonded.
  • the first portion 18a and the first layer 18d constitute a first integrated portion.
  • the first layer 18d and the second layer 18e are made of different metals.
  • the second support 19 has a first portion 19a and a second portion 19b.
  • the first portion 19a is located on the lid portion 25 side
  • the second portion 19b is located on the piezoelectric substrate 12 side.
  • the second portion 19b is a laminate. More specifically, the second portion 19b has a first layer 19d and a second layer 19e.
  • the first portion 19a is a single-layer metal layer.
  • the first portion 19a and the first layer 19d of the second portion 19b are made of the same metal.
  • the first portion 19a and the first layer 19d are bonded.
  • the first portion 19a and the first layer 19d constitute a second integrated portion.
  • the first layer 19d and the second layer 19e are made of different metals.
  • the first integral part and the second integral part are each made of, for example, Au.
  • the second layer 18e of the second portion 18b and the second layer 19e of the second portion 19b of the first support 18 and the second support 19 are made of Al, for example.
  • the phrase "a certain member is made of a certain material" includes the case where a minute amount of impurity is included to such an extent that the electrical characteristics of the elastic wave device are not deteriorated.
  • first support 18 the first portion 18a and the first layer 18d of the second portion 18b do not have to be made of the same metal.
  • second support 19 the first portion 19a and the first layer 19d of the second portion 19b do not have to be made of the same metal.
  • the wiring electrode 23 is provided on the piezoelectric layer 14 over a portion that overlaps with the first cavity portion 10a in plan view and a portion that does not overlap with the first cavity portion 10a in plan view. preferably.
  • the piezoelectric layer 14 can be prevented from bending from the side of the second cavity 10b toward the side of the first cavity 10a. Therefore, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be effectively suppressed.
  • the first portion 18a and the second portion 18b of the first support 18 preferably contain different metals.
  • the first portion 19a and the second portion 19b of the second support 19 preferably comprise dissimilar metals. In these cases, it is difficult for stress to concentrate on the piezoelectric layer 14 . Therefore, it is possible to suppress bending of the piezoelectric layer 14 from the side of the second cavity 10b toward the side of the first cavity 10a. Therefore, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be further suppressed.
  • first portion 18a and the second portion 18b of the first support 18 do not have to contain metals different from each other.
  • the first portion 19a and the second portion 19b of the second support 19 do not have to contain different metals.
  • the present invention is particularly suitable because the piezoelectric layer 14 is more likely to bend from the second cavity 10b side to the first cavity 10a side.
  • the area of the second hollow portion 10b in plan view is preferably larger than the area of the first hollow portion 10a in plan view.
  • the area of the first hollow portion 10a in plan view specifically means the total area of the first hollow portion 10a in plan view.
  • the total area of the plurality of first cavities 10a in plan view is the area of the first cavity 10a in plan view.
  • the area of the second hollow portion 10b in plan view is the area of the portion surrounded by the first support 18 in plan view.
  • at least one second support 19 is provided in a portion surrounded by the first supports 18 .
  • the area of the second cavity 10b in plan view is the area obtained by subtracting the area of the second support 19 in plan view from the area of the portion surrounded by the first support 18 in plan view. is.
  • the area of the first cavity 10a and the second cavity 10b in plan view may be simply referred to as area.
  • the second support 19 is preferably arranged so as not to overlap the first hollow portion 10a in plan view. Thereby, the fragility of the portion where the second support 19 is provided can be reduced more reliably.
  • the conductive film 17B and the wiring electrode 23 are preferably made of the same material.
  • the conductive film 17B and the wiring electrode 23 are integrally provided. Thereby, productivity can be improved. Note that the conductive film 17B does not have to be connected to the wiring electrode 23 .
  • the first support 18 and the plurality of second supports 19 are provided on the piezoelectric layer 14 of the piezoelectric substrate 12 .
  • at least part of the first support 18 may be provided on a portion of the piezoelectric substrate 12 where the piezoelectric layer 14 is not provided.
  • at least part of the second support 19 may be provided on a portion of the piezoelectric substrate 12 where the piezoelectric layer 14 is not provided.
  • at least part of the first support 18 or the second support 19 may be provided on the intermediate layer 15 or on the support substrate 16 .
  • the first to fourth modifications of the first embodiment will be shown below.
  • the first to fourth modifications differ from the first embodiment only in the arrangement of the dielectric film, the arrangement of the IDT electrodes, the arrangement of the second support, or the arrangement of the wiring electrodes. Also in the first to fourth modifications, sticking of the piezoelectric layer to the support member can be suppressed. In addition, the fragility of the elastic wave device can be reduced without impeding the excitation of elastic waves.
  • the dielectric film 24 is provided on the second main surface 14b of the piezoelectric layer 14 and not provided on the first main surface 14a.
  • the dielectric film 24 is located inside the first cavity 10a.
  • the dielectric film 24 may be provided integrally with the intermediate layer 15 .
  • the dielectric film 24 and the intermediate layer 15 may be provided separately.
  • the dielectric film 24 is provided on both the first main surface 14a and the second main surface 14b of the piezoelectric layer 14.
  • At least a portion of the dielectric film 24 is provided in a portion of at least one of the first main surface 14a and the second main surface 14b of the piezoelectric layer 14, which overlaps the first hollow portion 10a in plan view. is preferred.
  • the piezoelectric layer 14 is easily bent from the second cavity portion 10b side to the first cavity portion 10a side, so the present invention is particularly suitable.
  • the IDT electrode 11 is provided on the second main surface 14b of the piezoelectric layer 14.
  • Dielectric film 24 is provided on second main surface 14 b so as to cover IDT electrode 11 .
  • At least one pair of second supports 19 are arranged to sandwich the IDT electrode 11 .
  • the piezoelectric layer 14 is easily bent from the second cavity portion 10b side to the first cavity portion 10a side, so the present invention is particularly suitable.
  • heat generated in the IDT electrode 11 can be released to the outside through at least one pair of second supports 19 . Therefore, heat dissipation can be improved.
  • At least one second support 19 is preferably provided between the first support 18 and the IDT electrode 11, as shown in FIG. In this case, the second support 19 is not sandwiched between the multiple IDT electrodes 11 . Therefore, heat generated in one IDT electrode 11 can be efficiently dissipated through the second support 19 . This configuration is suitable when the IDT electrode 11 is particularly required to withstand electric power.
  • the main component of the lid body 26 is a semiconductor.
  • the lid portion 25 and the first support 18 are configured separately.
  • the lid main body 26 may be made of resin.
  • the first support 18A and the lid body 26A are made of resin, and the first support 18A and the lid body 26A are configured as a single unit.
  • the first support 18A and the lid main body 26A are configured by providing the recesses in the resin layer.
  • the recess overlaps the IDT electrode 11 in plan view.
  • the recess is closed by the piezoelectric layer 14 .
  • a dashed line in FIG. 7 is a boundary line between the first support 18A and the lid main body 26A.
  • An insulator layer 27A is provided on the lid main body 26A, as in the first embodiment.
  • the insulator layer 27B is not provided.
  • no second support is provided.
  • at least one second support made of resin may be provided integrally with the first support 18A and the lid main body 26A.
  • at least one second support may be provided as in the first embodiment.
  • a via electrode 21A penetrates the lid body 26A and the first support 18A.
  • One end of the via electrode 21A is connected to the conductive film 17C.
  • the conductive film 17C is composed of two metal layers. However, the conductive film 17C may be composed of a single metal layer as in the first embodiment.
  • the height of the first hollow portion 10a is higher than the height of the second hollow portion.
  • the area of the second cavity is larger than the area of the first cavity 10a. Therefore, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be suppressed, as in the first embodiment.
  • the fragility of the elastic wave device can be reduced without impeding the excitation of elastic waves.
  • FIG. 8 is a schematic plan view showing the configuration on the piezoelectric substrate of the elastic wave device according to the second embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in the arrangement of the second support 19, the IDT electrode 11, and the first cavity 10a, and the routing of wiring.
  • This embodiment also differs from the first embodiment in that a second support 39 having a shape different from that of the second support 19 is provided. Except for the above points, the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 10 of the first embodiment.
  • the second support 39 has a wall-like shape. More specifically, the second support 39 has a rectangular shape in plan view.
  • the wall-shaped second support 39 may include a portion extending in any one direction in plan view.
  • the second support 39 may include curved portions in plan view.
  • the columnar second support 19 is specifically columnar.
  • the second support 19 may be prismatic or the like.
  • the second support in the present invention may have one of a wall-like shape and a columnar shape.
  • only the columnar second support 19 is provided as the second support.
  • both the wall-shaped second support 39 and the column-shaped second support 19 are provided as the second support.
  • only the wall-shaped second support 39 may be provided as the second support.
  • the lid can be supported more reliably. Therefore, for example, when the cover is made of resin, a configuration in which the second support 39 is provided is suitable.
  • the height of the first hollow portion 10a is higher than the height of the second hollow portion 10b.
  • the area of the second cavity 10b is larger than the area of the first cavity 10a. Therefore, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be suppressed, as in the first embodiment.
  • the fragility of the elastic wave device can be reduced without impeding the excitation of elastic waves.
  • the second support 39 is composed of a laminate of a plurality of metal layers.
  • the second support 39 may be made of resin.
  • An example of this is shown by the following first and second modifications of the second embodiment. In the first modification and the second modification, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be suppressed as in the second embodiment. In addition, the fragility of the elastic wave device can be reduced without impeding the excitation of elastic waves.
  • a second support 39A made of resin is provided over the two wiring electrodes 23.
  • the second support 39A is provided on the other wiring electrode 23 via the piezoelectric layer 14 from one wiring electrode 23 .
  • the two wiring electrodes 23 are connected to different potentials.
  • the second support 39A is made of resin, it hardly affects the electrical characteristics of the elastic wave device.
  • the portion above the wiring electrode 23 can be used as the portion where the second support 39A is provided, it is possible to easily reduce the size of the elastic wave device.
  • three second supports 39A are provided.
  • One second support 39A is provided as in the first variant.
  • the other two second supports 39A are provided over the same wiring electrode 23 and the piezoelectric layer 14, respectively.
  • a third hollow portion 30c is provided between two second supports 39A provided on the same wiring electrode 23 in plan view.
  • the third hollow portion 30c is provided in the support member 13, similarly to the first hollow portion 10a.
  • the third cavity 30c is not connected to the first cavity 10a.
  • the third hollow portion 30c is provided independently.
  • the third cavity 30c does not overlap the IDT electrode 11 in plan view.
  • the third hollow portion 30c overlaps the wiring electrode 23 in plan view. This makes it easy to reduce the parasitic capacitance of the wiring electrode 23 .
  • the third cavity 30c does not overlap the second support 39A.
  • fragility can be more reliably reduced even in the portion where the third cavity portion 30c is provided.
  • FIG. 11 is a schematic cross-sectional view showing the vicinity of the first support in the third embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in the configuration of the first support 48 . Except for the above points, this embodiment has the same configuration as the first embodiment. Therefore, in this embodiment, as in the first embodiment, the height of the first cavity is higher than the height of the second cavity. Therefore, sticking of the piezoelectric layer to the support member can be suppressed.
  • both the first portion 48a and the second portion 48b are laminates.
  • the first portion 48a has a first layer 48g, a second layer 48h and a third layer 48i.
  • the second portion 48b has a first layer 48d, a second layer 48e and a third layer 48f.
  • the number of layers of the first portion 48a and the second portion 48b may be two, or may be three or more.
  • first layer 48g In the first portion 48a, a first layer 48g, a second layer 48h and a third layer 48i are laminated in this order.
  • the first layer 48g is the portion of the first portion 48a closest to the second portion 48b.
  • a first layer 48d, a second layer 48e and a third layer 48f are laminated in this order.
  • the first layer 48d is the portion of the second portion 48b closest to the first portion 48a.
  • a first integrated portion is configured by the first layer 48g and the first layer 48d of the first portion 48a and the second portion 48b, respectively.
  • the first support 48 has a frame-like shape, as in the first embodiment.
  • the width of the first layer 48g of the first portion 48a and the width of the first layer 48d of the second portion 48b are different from each other. Accordingly, in plan view, the area of the first layer 48g of the first portion 48a and the area of the first layer 48d of the second portion 48b are different from each other.
  • the width of each portion of the first support 48 is as follows. That is, the width is perpendicular to both the direction in which the piezoelectric substrate 12 , the first support 48 and the lid portion 25 are laminated, and the direction in which the first support 48 extends on the piezoelectric substrate 12 . 2 is the dimension of each portion of the first support 48 along the direction of
  • the strength of the first support 48 can be increased more reliably. More specifically, for example, the first portion 48 a of the first support 48 is formed on the lid portion 25 when manufacturing the elastic wave device. On the other hand, a second portion 48b of the first support 48 is formed on the piezoelectric substrate 12. As shown in FIG. The first portion 48a and the second portion 48b are then joined together.
  • the area of the first portion 48a and the area of the second portion 48b are different from each other in plan view. Specifically, in plan view, the area of the first layer 48g of the first portion 48a and the area of the first layer 48d of the second portion 48b are different from each other. Thereby, it is easy to make the bonding area of the first portion 48a and the second portion 48b constant.
  • the bonding area can be kept constant. Therefore, the strength of the first support 48 can be increased more reliably.
  • the support including the first support and the second support in each embodiment described in this specification among the adjacent layers, the inner side of the outer peripheral edge of the layer having a large area in plan view , where the layer with the smaller area is located.
  • the area of each portion of the first support 48 in plan view is simply referred to as area.
  • the area of all layers other than the first layer 48d is larger than the area of the first layer 48d. Therefore, the area of the second layer 48e is larger than the area of the first layer 48d. Thereby, all portions of the first layer 48d can be easily formed on the second layer 48e. Thereby, the planar accuracy of the first layer 48d can be improved. Therefore, the bonding strength between the first portion 48a and the second portion 48b can be increased more reliably, and hermetic sealing can be performed more reliably. Moreover, hermetic sealing can be performed more reliably without providing a bonding agent made of Sn or the like between the first portion 48a and the second portion 48b. Therefore, productivity can be effectively improved.
  • the area of all layers other than the first layer 48g is larger than the area of the first layer 48g. Therefore, the bonding strength between the first portion 48a and the second portion 48b can be increased more reliably, and airtight sealing can be performed more reliably.
  • the layers farther from the layers forming the first integrated portion have a larger area. More specifically, the area of the third layer 48i of the first portion 48a is greater than the area of the second layer 48h, and the area of the second layer 48h is greater than the area of the first layer 48g. preferable.
  • the area of the third layer 48f of the second portion 48b is larger than the area of the second layer 48e, and the area of the second layer 48e is larger than the area of the first layer 48d.
  • the first integral part is preferably made of Au. In this case, electrical resistance can be reduced.
  • One of the first portion 48a and the second portion 48b may be a laminate.
  • the one having the smaller area of the portion constituting the first joint portion is preferably the laminate.
  • the area of at least one layer other than the first layer 48d may be larger than the area of the first layer 48d.
  • the area of each layer of the second portion 48x is larger in the order of the third layer 48f, the first layer 48j and the second layer 48e.
  • the first layer 48j is provided on the third layer 48f so as to cover the second layer 48e. Even in this case, the first layer 48j can be easily formed on the third layer 48f, and the planar accuracy of the portion of the first layer 48j located on the second layer 48e can be improved. can be enhanced.
  • sticking of the piezoelectric layer to the support member can be suppressed, as in the third embodiment.
  • At least one frame-like support such as the first support 48 should be provided.
  • the configuration of the first support 48 provided between the piezoelectric substrate 12 and the lid portion 25 is shown.
  • At least one frame-shaped support may include a support provided between the support substrate and the piezoelectric layer.
  • the frame-shaped support provided between the support substrate and the piezoelectric layer will be referred to as a third support.
  • An example in which the third support is configured similarly to the first support 48 is shown by the fourth embodiment.
  • FIG. 13 is a schematic cross-sectional view showing the vicinity of the first support and the third support in the fourth embodiment.
  • This embodiment differs from the third embodiment in that the support member 53 does not have an intermediate layer and has a third support 58 . Except for the above points, the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device of the third embodiment.
  • a third support 58 is provided on the support substrate 16 .
  • a piezoelectric layer 14 is provided on the third support 58 .
  • the third support 58 has a frame-like shape.
  • the first cavity 50 a is a cavity surrounded by the piezoelectric layer 14 , the third support 58 and the support substrate 16 .
  • the height of the third support 58 is greater than the height of the first support 48 . Therefore, also in this embodiment, the height of the first cavity portion 50a is higher than the height of the second cavity portion 10b. Therefore, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 53 can be suppressed.
  • the support member 53 may have at least one fourth support.
  • the fourth support is arranged, for example, so as to overlap the second support in plan view.
  • a fourth support is provided on the support substrate 16 .
  • a piezoelectric layer is provided on the fourth support.
  • the third support 58 is configured similarly to the first support 48 except for size. Specifically, the third support 58 has a first portion 58a and a second portion 58b. Of the first portion 58a and the second portion 58b, the first portion 58a is located on the support substrate 16 side, and the second portion 58b is located on the piezoelectric layer 14 side. That is, the second portion 58b is positioned closer to the piezoelectric layer 14 than the first portion 58a in the height direction.
  • both the first portion 58a and the second portion 58b are laminates.
  • the first portion 58a has a first layer 58g, a second layer 58h and a third layer 58i.
  • the second portion 58b has a first layer 58d, a second layer 58e and a third layer 58f.
  • the number of layers of the first portion 58a and the second portion 58b may be two, or may be three or more.
  • first layer 58g In the first portion 58a, a first layer 58g, a second layer 58h and a third layer 58i are laminated in this order.
  • the first layer 58g is the portion of the first portion 58a closest to the second portion 58b.
  • a first layer 58d, a second layer 58e and a third layer 58f are laminated in this order.
  • the first layer 58d is the portion of the second portion 58b closest to the first portion 58a.
  • the first layer 58g and the first layer 58d of the first portion 58a and the second portion 58b, respectively, are made of the same material.
  • a first integrated portion is configured by the first layer 58g and the first layer 58d of the first portion 58a and the second portion 58b, respectively.
  • the area of each portion of the third support 58 in plan view is simply referred to as area.
  • the area of all layers other than the first layer 58d is larger than the area of the first layer 58d.
  • the area of at least one layer other than the first layer 58d may be larger than the area of the first layer 58d. Therefore, the planar accuracy of the first layer 58d can be improved. Therefore, the bonding strength between the first portion 58a and the second portion 58b can be increased more reliably, and hermetic sealing can be performed more reliably.
  • the area of all layers other than the first layer 58g is larger than the area of the first layer 58g.
  • the area of at least one layer other than the first layer 58g may be larger than the area of the first layer 58g.
  • a layer farther from the layer forming the first integral part has a larger area. More specifically, it is preferable that the area of the third layer 58i of the first portion 58a is larger than the area of the second layer 58h, and the area of the second layer 58h is larger than the area of the first layer 58g. .
  • the area of the third layer 58f of the second portion 58b is larger than the area of the second layer 58e, and the area of the second layer 58e is larger than the area of the first layer 58d.
  • the planar accuracy of the first layer 58g and the first layer 58d of the first portion 58a and the second portion 58b can be more reliably improved. Therefore, it is possible to more reliably and effectively reduce variations in bonding area between the first portion 58a and the second portion 58b.
  • One of the first portion 58a and the second portion 58b may be a laminate.
  • the one having the smaller area of the portion forming the joint portion is preferably the laminate.
  • the area of the first cavity 50a may be made smaller than the area of the second cavity 10b.
  • the area of the first hollow portion 50a is calculated from the area of the portion surrounded by the third support 58 in a plan view. It is the area obtained by subtracting the area in plan view.
  • the area of the first hollow portion 50a may be reduced by forming the fourth support into a wall-like shape. Thereby, the fragility of the elastic wave device can be reduced without disturbing the excitation of the elastic wave.
  • the height of the third support 58 is higher than the height of the first support 48 .
  • the areas of the first cavity 50a and the second cavity 10b may be the same.
  • the thickness of at least one layer in the third support 58 is thicker than the thickness of at least one layer in the first support 48 so that the height of the third support 58 is greater than that of the first support 48 .
  • the number of layers of the third support 58 is greater than the number of layers of the first support 48, so that the height of the third support 58 is higher than the height of the first support 48.
  • support member 53 may include an intermediate layer.
  • FIG. 14 is a schematic cross-sectional view showing a portion corresponding to FIG. 1 of the elastic wave device according to the fifth embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in the configuration of the second support 69 .
  • This embodiment also differs from the first embodiment in that the second support 69 shown in FIG. 14 is not connected to the via electrode. Except for the above points, the elastic wave device of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 10 of the first embodiment.
  • the first integral portion is constituted by the first layer 18d of the first portion 18a and the second portion 18b.
  • the first part 19a and the first layer 19d of the second part 19b constitute a second integral part.
  • the width of the portion of the first layer 19d of the second integrated portion in one second support 69 is the width of the narrowest portion of the first integrated portion of the first support 18. Narrower than wide.
  • the width of at least a portion of the second integral portion in at least one second support 69 should be narrower than the width of the first integral portion.
  • the width of each part of the second support 69 means the width of the second support 69 along the direction orthogonal to the direction in which the piezoelectric substrate 12, the second support 69 and the lid portion 25 are laminated. are the dimensions of each part of
  • the width of the portion of the second integrated portion that is narrower than the width of the first integrated portion is 1 ⁇ m or more. Thereby, the electrical resistance of the second support 69 can be lowered, and the second support 69 can be used as wiring. It is preferable that the width of the portion of the second integrated portion that is narrower than the width of the first integrated portion is less than 16 ⁇ m. As a result, the acoustic wave device can be more reliably made compact.
  • the height of the first cavity 10a is higher than the height of the second cavity 10b. Therefore, sticking of the piezoelectric layer 14 to the support member 13 can be suppressed.
  • Each elastic wave resonator in the first to fifth embodiments or each modified example is configured to be able to use bulk waves in a thickness-shlip mode such as a thickness-shlip primary mode, for example.
  • Each elastic wave resonator may be configured to be able to use Lamb waves, or may be configured to be able to use bulk waves other than bulk waves in the thickness-shear mode.
  • An example in which the elastic wave resonator is a BAW (Bulk Acoustic Wave) element is shown below.
  • FIG. 15 is a schematic cross-sectional view showing a portion corresponding to the portion shown in FIG. 1 of the elastic wave device according to the sixth embodiment.
  • This embodiment differs from the first embodiment in that the functional electrode has an upper electrode 71A and a lower electrode 71B. This embodiment also differs from the first embodiment in that the dielectric film 24 is not provided. Except for the above points, the elastic wave device 70 of this embodiment has the same configuration as the elastic wave device 10 of the first embodiment.
  • the upper electrode 71A is provided on the first main surface 14a of the piezoelectric layer 14.
  • the lower electrode 71B is provided on the second main surface 14b of the piezoelectric layer 14. As shown in FIG.
  • the upper electrode 71A and the lower electrode 71B face each other with the piezoelectric layer 14 interposed therebetween.
  • the upper electrode 71A and the lower electrode 71B are connected to potentials different from each other.
  • a region where the upper electrode 71A and the lower electrode 71B face each other is an excitation region. By applying an AC electric field between the upper electrode 71A and the lower electrode 71B, elastic waves are excited in the excitation region.
  • the conductive film 17B, the wiring electrode 23 and the upper electrode 71A are integrally provided.
  • the conductive film 17B, the wiring electrode 23 and the upper electrode 71A may be provided separately.
  • the dielectric film 24 shown in FIG. 1 may be provided so as to cover the upper electrode 71A or the lower electrode 71B as the excitation electrode. In this case, the upper electrode 71A or the lower electrode 71B is less likely to break.
  • the height of the first cavity 10a is higher than the height of the second cavity 10b.
  • the IDT electrode 11 has the structure of an IDT electrode, which will be described later.
  • An "electrode” in the IDT electrode corresponds to an electrode finger in the present invention.
  • the supporting member in the following examples corresponds to the supporting substrate in the present invention.
  • FIG. 16(a) is a schematic perspective view showing the external appearance of an elastic wave device that utilizes a thickness shear mode bulk wave
  • FIG. 16(b) is a plan view showing an electrode structure on a piezoelectric layer
  • FIG. 17 is a cross-sectional view of a portion taken along line AA in FIG. 16(a).
  • the acoustic wave device 1 has a piezoelectric layer 2 made of LiNbO 3 .
  • the piezoelectric layer 2 may consist of LiTaO 3 .
  • the cut angle of LiNbO 3 and LiTaO 3 is Z-cut, but may be rotational Y-cut or X-cut.
  • the thickness of the piezoelectric layer 2 is not particularly limited, it is preferably 40 nm or more and 1000 nm or less, more preferably 50 nm or more and 1000 nm or less, in order to effectively excite the thickness-shear mode.
  • the piezoelectric layer 2 has first and second major surfaces 2a and 2b facing each other. Electrodes 3 and 4 are provided on the first main surface 2a.
  • the electrode 3 is an example of the "first electrode” and the electrode 4 is an example of the "second electrode”.
  • 16(a) and 16(b) a plurality of electrodes 3 are connected to the first bus bar 5.
  • a plurality of electrodes 4 are connected to a second bus bar 6 .
  • the plurality of electrodes 3 and the plurality of electrodes 4 are interleaved with each other.
  • Electrodes 3 and 4 have a rectangular shape and a length direction.
  • the electrode 3 and the adjacent electrode 4 face each other in a direction perpendicular to the length direction. Both the length direction of the electrodes 3 and 4 and the direction orthogonal to the length direction of the electrodes 3 and 4 are directions crossing the thickness direction of the piezoelectric layer 2 .
  • the electrode 3 and the adjacent electrode 4 face each other in the direction crossing the thickness direction of the piezoelectric layer 2 .
  • the length direction of the electrodes 3 and 4 may be interchanged with the direction perpendicular to the length direction of the electrodes 3 and 4 shown in FIGS. 16(a) and 16(b). That is, in FIGS. 16A and 16B, the electrodes 3 and 4 may extend in the direction in which the first busbar 5 and the second busbar 6 extend. In that case, the first busbar 5 and the second busbar 6 extend in the direction in which the electrodes 3 and 4 extend in FIGS. 16(a) and 16(b).
  • a plurality of pairs of structures in which an electrode 3 connected to one potential and an electrode 4 connected to the other potential are adjacent to each other are provided in a direction perpendicular to the length direction of the electrodes 3 and 4.
  • the electrodes 3 and 4 are adjacent to each other, it does not mean that the electrodes 3 and 4 are arranged so as to be in direct contact with each other, but that the electrodes 3 and 4 are arranged with a gap therebetween. point to When the electrodes 3 and 4 are adjacent to each other, no electrodes connected to the hot electrode or the ground electrode, including the other electrodes 3 and 4, are arranged between the electrodes 3 and 4.
  • the logarithms need not be integer pairs, but may be 1.5 pairs, 2.5 pairs, or the like.
  • the center-to-center distance or pitch between the electrodes 3 and 4 is preferably in the range of 1 ⁇ m or more and 10 ⁇ m or less.
  • the width of the electrodes 3 and 4, that is, the dimension in the facing direction of the electrodes 3 and 4 is preferably in the range of 50 nm or more and 1000 nm or less, more preferably in the range of 150 nm or more and 1000 nm or less.
  • the center-to-center distance between the electrodes 3 and 4 means the distance between the center of the dimension (width dimension) of the electrode 3 in the direction orthogonal to the length direction of the electrode 3 and the distance between the center of the electrode 4 in the direction orthogonal to the length direction of the electrode 4. It is the distance connecting the center of the dimension (width dimension) of
  • the direction perpendicular to the length direction of the electrodes 3 and 4 is the direction perpendicular to the polarization direction of the piezoelectric layer 2 .
  • “perpendicular” is not limited to being strictly perpendicular, but is substantially perpendicular (the angle formed by the direction perpendicular to the length direction of the electrodes 3 and 4 and the polarization direction is, for example, 90° ⁇ 10°). within the range).
  • a supporting member 8 is laminated on the second main surface 2b side of the piezoelectric layer 2 with an insulating layer 7 interposed therebetween.
  • the insulating layer 7 and the support member 8 have a frame shape and, as shown in FIG. 17, have through holes 7a and 8a.
  • a cavity 9 is thereby formed.
  • the cavity 9 is provided so as not to disturb the vibration of the excitation region C of the piezoelectric layer 2 . Therefore, the support member 8 is laminated on the second main surface 2b with the insulating layer 7 interposed therebetween at a position not overlapping the portion where at least one pair of electrodes 3 and 4 are provided. Note that the insulating layer 7 may not be provided. Therefore, the support member 8 can be directly or indirectly laminated to the second main surface 2b of the piezoelectric layer 2 .
  • the insulating layer 7 is made of silicon oxide. However, in addition to silicon oxide, suitable insulating materials such as silicon oxynitride and alumina can be used.
  • the support member 8 is made of Si. The plane orientation of the surface of Si on the piezoelectric layer 2 side may be (100), (110), or (111). It is desirable that the Si constituting the support member 8 has a high resistivity of 4 k ⁇ cm or more. However, the support member 8 can also be constructed using an appropriate insulating material or semiconductor material.
  • Materials for the support member 8 include, for example, aluminum oxide, lithium tantalate, lithium niobate, piezoelectric materials such as crystal, alumina, magnesia, sapphire, silicon nitride, aluminum nitride, silicon carbide, zirconia, cordierite, mullite, and steer.
  • Various ceramics such as tight and forsterite, dielectrics such as diamond and glass, and semiconductors such as gallium nitride can be used.
  • the plurality of electrodes 3, 4 and the first and second bus bars 5, 6 are made of appropriate metals or alloys such as Al, AlCu alloys.
  • the electrodes 3 and 4 and the first and second bus bars 5 and 6 have a structure in which an Al film is laminated on a Ti film. Note that an adhesion layer other than the Ti film may be used.
  • d/p is 0.0, where d is the thickness of the piezoelectric layer 2 and p is the center-to-center distance between any one of the pairs of electrodes 3 and 4 adjacent to each other. 5 or less. Therefore, the thickness-shear mode bulk wave is effectively excited, and good resonance characteristics can be obtained. More preferably, d/p is 0.24 or less, in which case even better resonance characteristics can be obtained.
  • the elastic wave device 1 Since the elastic wave device 1 has the above configuration, even if the logarithm of the electrodes 3 and 4 is reduced in an attempt to reduce the size, the Q value is unlikely to decrease. This is because the propagation loss is small even if the number of electrode fingers in the reflectors on both sides is reduced. Moreover, the fact that the number of electrode fingers can be reduced is due to the fact that bulk waves in the thickness-shear mode are used. The difference between the Lamb wave used in the elastic wave device and the bulk wave in the thickness shear mode will be described with reference to FIGS. 18(a) and 18(b).
  • FIG. 18(a) is a schematic front cross-sectional view for explaining a Lamb wave propagating through a piezoelectric film of an acoustic wave device as described in Japanese Unexamined Patent Publication No. 2012-257019.
  • waves propagate through the piezoelectric film 201 as indicated by arrows.
  • the first main surface 201a and the second main surface 201b face each other, and the thickness direction connecting the first main surface 201a and the second main surface 201b is the Z direction. is.
  • the X direction is the direction in which the electrode fingers of the IDT electrodes are arranged.
  • the Lamb wave propagates in the X direction as shown.
  • the wave is generated on the first main surface 2a and the second main surface of the piezoelectric layer 2. 2b, ie, the Z direction, and resonate. That is, the X-direction component of the wave is significantly smaller than the Z-direction component. Further, since resonance characteristics are obtained by propagating waves in the Z direction, propagation loss is unlikely to occur even if the number of electrode fingers of the reflector is reduced. Furthermore, even if the number of electrode pairs consisting of the electrodes 3 and 4 is reduced in an attempt to promote miniaturization, the Q value is unlikely to decrease.
  • FIG. 19 schematically shows bulk waves when a voltage is applied between the electrodes 3 and 4 so that the potential of the electrode 4 is higher than that of the electrode 3 .
  • the first region 451 is a region of the excitation region C between the first main surface 2a and a virtual plane VP1 that is perpendicular to the thickness direction of the piezoelectric layer 2 and bisects the piezoelectric layer 2 .
  • the second region 452 is a region of the excitation region C between the virtual plane VP1 and the second main surface 2b.
  • the acoustic wave device 1 at least one pair of electrodes consisting of the electrodes 3 and 4 is arranged.
  • the number of electrode pairs need not be plural. That is, it is sufficient that at least one pair of electrodes is provided.
  • the electrode 3 is an electrode connected to a hot potential
  • the electrode 4 is an electrode connected to a ground potential.
  • electrode 3 may also be connected to ground potential and electrode 4 to hot potential.
  • at least one pair of electrodes is an electrode connected to a hot potential or an electrode connected to a ground potential, as described above, and no floating electrodes are provided.
  • FIG. 20 is a diagram showing resonance characteristics of the elastic wave device shown in FIG.
  • the design parameters of the elastic wave device 1 with this resonance characteristic are as follows.
  • Insulating layer 7 Silicon oxide film with a thickness of 1 ⁇ m.
  • Support member 8 Si.
  • the length of the excitation region C is the dimension along the length direction of the electrodes 3 and 4 of the excitation region C.
  • the inter-electrode distances of the electrode pairs consisting of the electrodes 3 and 4 are all the same in a plurality of pairs. That is, the electrodes 3 and 4 were arranged at equal pitches.
  • d/p is more preferably 0.5 or less, as described above. is less than or equal to 0.24. This will be described with reference to FIG.
  • FIG. 21 is a diagram showing the relationship between this d/p and the fractional bandwidth of the acoustic wave device as a resonator.
  • the specific bandwidth when d/p>0.5, even if d/p is adjusted, the specific bandwidth is less than 5%.
  • the specific bandwidth when d/p ⁇ 0.5, the specific bandwidth can be increased to 5% or more by changing d/p within that range. can be configured. Further, when d/p is 0.24 or less, the specific bandwidth can be increased to 7% or more.
  • d/p when adjusting d/p within this range, a resonator with a wider specific band can be obtained, and a resonator with a higher coupling coefficient can be realized. Therefore, by setting d/p to 0.5 or less, it is possible to construct a resonator having a high coupling coefficient using the thickness-shear mode bulk wave.
  • FIG. 22 is a plan view of an elastic wave device that utilizes thickness-shear mode bulk waves.
  • elastic wave device 80 a pair of electrodes having electrode 3 and electrode 4 is provided on first main surface 2 a of piezoelectric layer 2 .
  • K in FIG. 22 is the crossing width.
  • the number of pairs of electrodes may be one. Even in this case, if d/p is 0.5 or less, bulk waves in the thickness-shear mode can be effectively excited.
  • the adjacent excitation region C is an overlapping region when viewed in the direction in which any adjacent electrodes 3 and 4 are facing each other. It is desirable that the metallization ratio MR of the mating electrodes 3, 4 satisfy MR ⁇ 1.75(d/p)+0.075. In that case, spurious can be effectively reduced. This will be described with reference to FIGS. 23 and 24.
  • the metallization ratio MR will be explained with reference to FIG. 16(b).
  • the excitation region C is the portion surrounded by the dashed-dotted line.
  • the excitation region C is a region where the electrode 3 and the electrode 4 overlap each other when the electrodes 3 and 4 are viewed in a direction perpendicular to the length direction of the electrodes 3 and 4, i.e., in a facing direction. 3 and an overlapping area between the electrodes 3 and 4 in the area between the electrodes 3 and 4 .
  • the area of the electrodes 3 and 4 in the excitation region C with respect to the area of the excitation region C is the metallization ratio MR. That is, the metallization ratio MR is the ratio of the area of the metallization portion to the area of the excitation region C.
  • MR may be the ratio of the metallization portion included in the entire excitation region to the total area of the excitation region.
  • FIG. 24 is a diagram showing the relationship between the fractional bandwidth and the amount of phase rotation of the spurious impedance normalized by 180 degrees as the magnitude of the spurious when a large number of acoustic wave resonators are configured according to this embodiment. be.
  • the ratio band was adjusted by changing the film thickness of the piezoelectric layer and the dimensions of the electrodes.
  • FIG. 24 shows the results obtained when a piezoelectric layer made of Z-cut LiNbO 3 is used, but the same tendency is obtained when piezoelectric layers with other cut angles are used.
  • the spurious is as large as 1.0.
  • the fractional band exceeds 0.17, that is, when it exceeds 17%, even if a large spurious with a spurious level of 1 or more changes the parameters constituting the fractional band, the passband appear within. That is, as in the resonance characteristics shown in FIG. 23, a large spurious component indicated by arrow B appears within the band. Therefore, the specific bandwidth is preferably 17% or less. In this case, by adjusting the film thickness of the piezoelectric layer 2 and the dimensions of the electrodes 3 and 4, the spurious response can be reduced.
  • FIG. 25 is a diagram showing the relationship between d/2p, metallization ratio MR, and fractional bandwidth.
  • various elastic wave devices having different d/2p and MR were constructed, and the fractional bandwidth was measured.
  • the hatched portion on the right side of the dashed line D in FIG. 25 is the area where the fractional bandwidth is 17% or less.
  • FIG. 26 is a diagram showing a map of fractional bandwidth with respect to Euler angles (0°, ⁇ , ⁇ ) of LiNbO 3 when d/p is infinitely close to 0.
  • FIG. The hatched portion in FIG. 26 is a region where a fractional bandwidth of at least 5% or more is obtained, and when the range of the region is approximated, the following formulas (1), (2) and (3) ).
  • Equation (1) (0° ⁇ 10°, 20° to 80°, 0° to 60° (1-( ⁇ -50) 2 /900) 1/2 ) or (0° ⁇ 10°, 20° to 80°, [180 °-60° (1-( ⁇ -50) 2 /900) 1/2 ] ⁇ 180°) Equation (2) (0° ⁇ 10°, [180°-30°(1-( ⁇ -90) 2 /8100) 1/2 ] ⁇ 180°, arbitrary ⁇ ) Equation (3)
  • the fractional band can be sufficiently widened, which is preferable.
  • the piezoelectric layer 2 is a lithium tantalate layer.
  • FIG. 27 is a partially cutaway perspective view for explaining an elastic wave device that utilizes Lamb waves.
  • the elastic wave device 81 has a support substrate 82 .
  • the support substrate 82 is provided with a concave portion that is open on the upper surface.
  • a piezoelectric layer 83 is laminated on the support substrate 82 .
  • a hollow portion 9 is thereby formed.
  • An IDT electrode 84 is provided on the piezoelectric layer 83 above the cavity 9 .
  • Reflectors 85 and 86 are provided on both sides of the IDT electrode 84 in the elastic wave propagation direction.
  • the outer periphery of the hollow portion 9 is indicated by broken lines.
  • the IDT electrode 84 has first and second bus bars 84a and 84b, a plurality of first electrode fingers 84c and a plurality of second electrode fingers 84d.
  • the plurality of first electrode fingers 84c are connected to the first busbar 84a.
  • the plurality of second electrode fingers 84d are connected to the second busbar 84b.
  • the plurality of first electrode fingers 84c and the plurality of second electrode fingers 84d are interposed.
  • a Lamb wave as a plate wave is excited by applying an AC electric field to the IDT electrodes 84 on the cavity 9. Since the reflectors 85 and 86 are provided on both sides, the resonance characteristics due to the Lamb wave can be obtained.
  • the elastic wave device of the present invention may use plate waves.
  • the IDT electrodes 84, the reflectors 85, and the reflectors 86 shown in FIG. 27 may be provided on the piezoelectric layer in the first to fifth embodiments or modifications.
  • d/p is 0.5 or less as described above. is preferred, and 0.24 or less is more preferred. Thereby, even better resonance characteristics can be obtained. Furthermore, in the elastic wave devices of the first to fifth embodiments or each of the modified examples having the elastic wave resonator that utilizes thickness-shear mode bulk waves, as described above, MR ⁇ 1.75 (d/p )+0.075. In this case, spurious can be suppressed more reliably.
  • the piezoelectric layer in the elastic wave devices of the first to fifth embodiments or each modified example having an elastic wave resonator that utilizes thickness-shear mode bulk waves is preferably a lithium niobate layer or a lithium tantalate layer.
  • the Euler angles ( ⁇ , ⁇ , ⁇ ) of lithium niobate or lithium tantalate constituting the piezoelectric layer are within the range of the above formula (1), formula (2), or formula (3). is preferred. In this case, the fractional bandwidth can be widened sufficiently.
  • Support member 58 Third support bodies 58a, 58b... First and second parts 58d to 58f, 58g to 58i... First to third layers 69... Second support body 70... Elastic wave device 71A... Upper electrode 71B Lower electrodes 80, 81 Elastic wave device 82 Support substrate 83 Piezoelectric layer 84 IDT electrodes 84a, 84b First and second bus bars 84c, 84d First and second electrode fingers 85, 86...Reflector 201...Piezoelectric films 201a, 201b...First and second principal surfaces 451, 452...First and second regions C...Excitation region VP1...Virtual plane

Landscapes

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Abstract

圧電層の支持部材に対するスティッキングを抑制することができる、弾性波装置を提供する。 本発明に係る弾性波装置10は、支持基板16を含む支持部材13と、支持部材13上に設けられている圧電層14とを含む圧電性基板12と、圧電層14上に設けられている機能電極と、少なくとも1つの支持体と、蓋部25とを備える。少なくとも1つの支持体のうち1つの支持体が、圧電性基板12上に機能電極を囲むように設けられており、該支持体上に蓋部25が設けられている。支持部材13に、第1空洞部10aが設けられている。第1空洞部10aが、平面視において、機能電極の少なくとも一部と重なっている。圧電性基板12と、圧電性基板12及び蓋部25の間に設けられた支持体と、蓋部25とにより囲まれた第2空洞部10bが設けられている。圧電性基板12と、圧電性基板12及び蓋部25の間に設けられた支持体と、蓋部25とが積層されている方向を高さ方向とし、高さ方向に沿う寸法を高さとしたときに、第1空洞部10aの高さが第2空洞部10bの高さよりも高い。

Description

弾性波装置
 本発明は、弾性波装置に関する。
 従来、弾性波装置は、携帯電話器のフィルタなどに広く用いられている。例えば、下記の特許文献1に記載の弾性波装置は、圧電基板と、圧電基板上に設けられた支持部材と、支持部材上に設けられたカバー部材とを有する。この弾性波装置においては、圧電基板、支持部材及びカバー部材により囲まれた中空空間が設けられている。該中空空間に臨むように、圧電基板上にIDT(Interdigital Transducer)電極が設けられている。
 下記の特許文献2では、支持部材の上方に凹部が設けられている。凹部を覆うように、支持部材上に圧電薄膜が設けられている。すなわち、支持部材側に中空空間が設けられている。圧電薄膜における、凹部を覆っている部分に、IDT電極が設けられている。
特開2010-278972号公報 特開2017-224890号公報
 特許文献2に記載のような弾性波装置において、特許文献1に記載のようなパッケージ構造が用いられることがある。しかしながら、このような弾性波装置においては、圧電薄膜が支持部材側に設けられた中空空間側に反り、圧電薄膜が支持部材に張り付く、スティッキングが生じるおそれがある。
 本発明の目的は、圧電層の支持部材に対するスティッキングを抑制することができる、弾性波装置を提供することにある。
 本発明に係る弾性波装置は、支持基板を含む支持部材と、前記支持部材上に設けられている圧電層とを含む圧電性基板と、前記圧電層上に設けられている機能電極と、少なくとも1つの支持体と、蓋部とを備え、前記少なくとも1つの支持体のうち1つの支持体が、前記圧電性基板上に前記機能電極を囲むように設けられており、該支持体上に蓋部が設けられており、前記支持部材に、第1空洞部が設けられており、前記第1空洞部が、平面視において、前記機能電極の少なくとも一部と重なっており、前記圧電性基板と、前記圧電性基板及び前記蓋部の間に設けられた前記支持体と、前記蓋部とにより囲まれた第2空洞部が設けられており、前記圧電性基板と、前記圧電性基板及び前記蓋部の間に設けられた前記支持体と、前記蓋部とが積層されている方向を高さ方向とし、前記高さ方向に沿う寸法を高さとしたときに、前記第1空洞部の高さが前記第2空洞部の高さよりも高い。
 本発明によれば、圧電層の支持部材に対するスティッキングを抑制することができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の略図的正面断面図である。 図2は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的平面図である。 図3は、本発明の第1の実施形態の第1の変形例に係る弾性波装置の、図1に相当する部分を示す略図的断面図である。 図4は、本発明の第1の実施形態の第2の変形例に係る弾性波装置の、図1に相当する部分を示す略図的断面図である。 図5は、本発明の第1の実施形態の第3の変形例に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的断面図である。 図6は、本発明の第1の実施形態の第4の変形例に係る弾性波装置の、図1に相当する部分を示す略図的平面図である。 図7は、本発明の第1の実施形態の第5の変形例に係る弾性波装置の略図的正面断面図である。 図8は、本発明の第2の実施形態に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的平面図である。 図9は、本発明の第2の実施形態の第1の変形例に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的平面図である。 図10は、本発明の第2の実施形態の第2の変形例に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的平面図である。 図11は、本発明の第3の実施形態における第1の支持体付近を示す模式的断面図である。 図12は、本発明の第3の実施形態の変形例における第1の支持体付近を示す模式的断面図である。 図13は、本発明の第4の実施形態における、第1の支持体及び第3の支持体付近を示す模式的断面図である。 図14は、本発明の第5の実施形態に係る弾性波装置の、図1に相当する部分を示す略図的断面図である。 図15は、本発明の第6の実施形態に係る弾性波装置の、図1に示す部分に相当する部分を示す略図的断面図である。 図16(a)は、厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波装置の外観を示す略図的斜視図であり、図16(b)は、圧電層上の電極構造を示す平面図である。 図17は、図16(a)中のA-A線に沿う部分の断面図である。 図18(a)は、弾性波装置の圧電膜を伝搬するラム波を説明するための模式的正面断面図であり、図18(b)は、弾性波装置における、圧電膜を伝搬する厚み滑りモードのバルク波を説明するための模式的正面断面図である。 図19は、厚み滑りモードのバルク波の振幅方向を示す図である。 図20は、厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波装置の共振特性を示す図である。 図21は、隣り合う電極の中心間距離をp、圧電層の厚みをdとした場合のd/pと共振子としての比帯域との関係を示す図である。 図22は、厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波装置の平面図である。 図23は、スプリアスが現れている参考例の弾性波装置の共振特性を示す図である。 図24は、比帯域と、スプリアスの大きさとしての180度で規格化されたスプリアスのインピーダンスの位相回転量との関係を示す図である。 図25は、d/2pと、メタライゼーション比MRとの関係を示す図である。 図26は、d/pを限りなく0に近づけた場合のLiNbOのオイラー角(0°,θ,ψ)に対する比帯域のマップを示す図である。 図27は、ラム波を利用する弾性波装置を説明するための部分切り欠き斜視図である。
 以下、図面を参照しつつ、本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
 なお、本明細書に記載の各実施形態は、例示的なものであり、異なる実施形態間において、構成の部分的な置換または組み合わせが可能であることを指摘しておく。
 図1は、本発明の第1の実施形態に係る弾性波装置の略図的正面断面図である。図2は、第1の実施形態に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的平面図である。図1においては、後述するIDT電極を、矩形に2本の対角線を加えた略図により示す。図1以外の略図的断面図においても同様である。図2においては、後述する誘電体膜を省略している。図2以外の模式的平面図においても同様である。なお、図1は、図2中のI-I線に沿う部分を略図的に示す断面図である。
 図1に示すように、弾性波装置10は、圧電性基板12と、機能電極としてのIDT電極11とを有する。圧電性基板12は、支持部材13と、圧電層14とを有する。本実施形態では、支持部材13は支持基板16と、中間層15とを含む。支持基板16上に中間層15が設けられている。中間層15上に圧電層14が設けられている。もっとも、支持部材13は支持基板16のみにより構成されていてもよい。
 圧電層14は第1の主面14a及び第2の主面14bを有する。第1の主面14a及び第2の主面14bは互いに対向している。第1の主面14a及び第2の主面14bのうち、第2の主面14bが支持部材13側に位置している。
 支持基板16の材料としては、例えば、シリコンなどの半導体や、酸化アルミニウムなどのセラミックスなどを用いることができる。中間層15の材料としては、酸化ケイ素または五酸化タンタルなどの、適宜の誘電体を用いることができる。圧電層14の材料としては、例えば、ニオブ酸リチウム、タンタル酸リチウム、酸化亜鉛、窒化アルミニウム、水晶、またはPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)などを用いることができる。なお、圧電層14は、LiTaO層などのタンタル酸リチウム層、またはLiNbO層などのニオブ酸リチウム層であることが好ましい。
 支持部材13には、第1空洞部10aが設けられている。より具体的には、中間層15に凹部が設けられている。中間層15上に、凹部を塞ぐように、圧電層14が設けられている。これにより、第1空洞部10aが構成されている。なお第1空洞部10aは、中間層15及び支持基板16に設けられていてもよく、あるいは、支持基板16のみに設けられていてもよい。支持部材13には、少なくとも1つの第1空洞部10aが設けられていればよい。
 図2に示すように、圧電層14の第1の主面14aには、複数のIDT電極11が設けられている。これにより、複数の弾性波共振子が構成されている。本実施形態における弾性波装置10はフィルタ装置である。なお、弾性波装置10は、少なくとも1つのIDT電極11を有していればよい。本発明に係る弾性波装置は、少なくとも1つの弾性波共振子を含んでいればよい。
 平面視において、IDT電極11の少なくとも一部が第1空洞部10aと重なっている。より具体的には、図2に示すように、本実施形態では、複数の第1空洞部10aが設けられている。平面視において、各弾性波共振子のIDT電極11が、別個の第1空洞部10aと重なっている。もっとも、複数のIDT電極11が同じ第1空洞部10aと重なっていてもよい。本明細書において平面視とは、図1における上方に相当する方向から見ることをいう。さらに、平面視とは、後述する第1の支持体18及び蓋部25が積層されている方向に沿って見ることをいう。なお、図1において、例えば、支持基板16及び圧電層14のうち、圧電層14側が上方である。
 圧電層14の第1の主面14aには、第1の支持体18及び複数の第2の支持体19が設けられている。本実施形態では、第1の支持体18及び第2の支持体19はそれぞれ、複数の金属層の積層体である。第1の支持体18は枠状の形状を有する。他方、第2の支持体19は柱状の形状を有する。第1の支持体18は、複数のIDT電極11及び複数の第2の支持体19を囲むように設けられている。より具体的には、第1の支持体18は開口部18cを有する。複数のIDT電極11及び複数の第2の支持体19は、開口部18c内に位置している。なお、少なくとも1つの第2の支持体19が設けられていればよい。
 図1に示すように、圧電層14及び第1の支持体18の間には、枠状の電極層17Aが設けられている。電極層17Aは、第1の支持体18と同様に、平面視において、複数のIDT電極11及び複数の第2の支持体19を囲んでいる。もっとも、電極層17Aは設けられていなくともよい。第1の支持体18上及び複数の第2の支持体19上に、開口部18cを塞ぐように、蓋部25が設けられている。それによって、圧電性基板12、電極層17A、第1の支持体18及び蓋部25により囲まれた第2空洞部10bが設けられている。複数のIDT電極11及び複数の第2の支持体19は、第2空洞部10b内に配置されている。
 本実施形態の特徴は、圧電性基板12、第1の支持体18及び蓋部25が積層されている方向を高さ方向とし、高さ方向に沿う寸法を高さとしたときに、第1空洞部10aの高さが第2空洞部10bの高さよりも高いことにある。それによって、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側に凸状に変形した際においても、支持部材13に圧電層14が張り付く、スティッキングを抑制することができる。
 以下において、本実施形態の構成のさらなる詳細を説明する。
 図1に示すように、圧電性基板12上には、IDT電極11を覆うように、誘電体膜24が設けられている。これにより、IDT電極11が破損し難い。誘電体膜24には、例えば、酸化ケイ素、窒化ケイ素または酸窒化ケイ素などを用いることができる。誘電体膜24が酸化ケイ素からなる場合には、周波数温度特性を改善することができる。他方、誘電体膜24が窒化ケイ素などからなる場合には、誘電体膜24を周波数調整膜として用いることができる。なお、誘電体膜24は設けられていなくともよい。
 圧電層14及び誘電体膜24には、連続して貫通孔20が設けられている。貫通孔20は、第1空洞部10aに至るように設けられている。貫通孔20は、弾性波装置10の製造に際し、中間層15内の犠牲層を除去するために用いられる。もっとも、貫通孔20は必ずしも設けられていなくともよい。
 蓋部25は、蓋部本体26と、絶縁体層27A及び絶縁体層27Bとを有する。蓋部本体26は第1の主面26a及び第2の主面26bを有する。第1の主面26a及び第2の主面26bは互いに対向している。第1の主面26a及び第2の主面26bのうち第2の主面26bが圧電性基板12側に位置している。第1の主面26aに絶縁体層27Aが設けられている。第2の主面26bに絶縁体層27Bが設けられている。本実施形態においては、蓋部本体26はシリコンを主成分とする。蓋部本体26の材料は上記に限定されないが、シリコンなどの半導体を主成分とすることが好ましい。本明細書において主成分とは、占める割合が50重量%を超える成分をいう。他方、絶縁体層27A及び絶縁体層27Bは、例えば、酸化ケイ素層である。
 蓋部25には、アンダーバンプメタルとしての、ビア電極21Aが設けられている。より具体的には、蓋部25に貫通孔が設けられている。該貫通孔は第2の支持体19に至るように設けられている。該貫通孔内に、ビア電極21Aが設けられている。ビア電極21Aの一端は第2の支持体19に接続されている。ビア電極21Aの他端に接続されるように、電極パッド21Bが設けられている。なお、本実施形態では、ビア電極21A及び電極パッド21Bは一体として設けられている。もっとも、ビア電極21A及び電極パッド21Bは別体として設けられていてもよい。電極パッド21Bにはバンプ22が接合されている。
 より詳細には、電極パッド21Bの外周縁付近を覆うように、絶縁体層27Aが設けられている。電極パッド21Bにおける、絶縁体層27Aに覆われていない部分に、バンプ22が接合されている。本明細書において外周縁とは、平面視における外周縁である。なお、絶縁体層27Aは、電極パッド21B及び蓋部本体26の間に至っていてもよい。さらに、絶縁体層27Aは、ビア電極21A及び蓋部本体26の間に至っていてもよい。絶縁体層27A及び絶縁体層27Bは、蓋部本体26の貫通孔を介して、一体として設けられていても構わない。
 図2に示すように、圧電性基板12上には、複数の配線電極23が設けられている。複数の配線電極23のうち一部は、IDT電極11同士を接続している。複数の配線電極23のうち他の一部は、IDT電極11及び第2の支持体19を電気的に接続している。より具体的には、図1に示すように圧電性基板12上に、導電膜17Bが設けられている。導電膜17B上に第2の支持体19が設けられている。よって、配線電極23は、導電膜17Bを介して、第2の支持体19に電気的に接続されている。そして、複数のIDT電極11は、配線電極23、導電膜17B、第2の支持体19、ビア電極21A、電極パッド21B及びバンプ22を介して、外部に電気的に接続される。なお、複数の第2の支持体19は、ビア電極21Aに接続されていない第2の支持体19を含んでいてもよい。
 第1の支持体18は、第1部分18aと、第2部分18bとを有する。第1部分18a及び第2部分18bのうち、第1部分18aが蓋部25側に位置し、第2部分18bが圧電性基板12側に位置している。すなわち、第2部分18bは、第1部分18aよりも、高さ方向において圧電層14側に位置している。本実施形態においては、第2部分18bは積層体である。より具体的には、第2部分18bは第1の層18d及び第2の層18eを有する。一方で、第1部分18aは単層の金属層である。
 第1の支持体18において、第1部分18aと、第2部分18bの第1の層18dとは同じ金属からなる。第1部分18a及び第1の層18dは接合されている。これにより、第1部分18a及び第1の層18dによって、第1の一体部が構成されている。他方、第1の層18dと第2の層18eとは、互いに異なる金属からなる。
 第1の支持体18と同様に、第2の支持体19は、第1部分19aと、第2部分19bとを有する。第1部分19a及び第2部分19bのうち、第1部分19aが蓋部25側に位置し、第2部分19bが圧電性基板12側に位置している。本実施形態においては、第2部分19bは積層体である。より具体的には、第2部分19bは第1の層19d及び第2の層19eを有する。一方で、第1部分19aは単層の金属層である。
 第2の支持体19において、第1部分19aと、第2部分19bの第1の層19dとは同じ金属からなる。第1部分19a及び第1の層19dは接合されている。これにより、第1部分19a及び第1の層19dによって、第2の一体部が構成されている。他方、第1の層19dと第2の層19eとは、互いに異なる金属からなる。
 なお、第1の一体部においては、明確な接合界面は設けられていないが、各断面図においては、接合界面を便宜上記載している。第2の一体部も同様である。
 第1の一体部及び第2の一体部はそれぞれ、例えばAuなどからなる。第1の支持体18及び第2の支持体19のそれぞれの第2部分18bの第2の層18e、及び第2部分19bの第2の層19eは、例えばAlなどからなる。本明細書において、ある部材がある材料からなるとは、弾性波装置の電気的特性が劣化しない程度の微量な不純物が含まれる場合を含む。
 なお、第1の支持体18において、第1部分18aと、第2部分18bの第1の層18dとは、同じ金属からなっていなくともよい。同様に、第2の支持体19において、第1部分19aと、第2部分19bの第1の層19dとは、同じ金属からなっていなくともよい。第1の支持体18及び第2の支持体19のそれぞれの第2部分18b及び第2部分19bは、積層体ではなくともよい。
 以下において、本実施形態における好ましい構成を示す。
 図1に示すように、配線電極23が、圧電層14上における、平面視において第1空洞部10aと重なっている部分、及び平面視において第1空洞部10aと重なっていない部分にわたり設けられていることが好ましい。それによって、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側にたわむことを抑制できる。従って、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングを効果的に抑制することができる。
 第1の支持体18の第1部分18a及び第2部分18bは、互いに別種の金属を含んでいることが好ましい。同様に、第2の支持体19の第1部分19a及び第2部分19bは、互いに別種の金属を含んでいることが好ましい。これらの場合には、圧電層14に応力が集中し難い。よって、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側にたわむことを抑制できる。従って、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングをより一層抑制することができる。
 もっとも、第1の支持体18の第1部分18a及び第2部分18bは、互いに別種の金属を含んでいなくても構わない。第2の支持体19の第1部分19a及び第2部分19bは、互いに別種の金属を含んでいなくても構わない。これらの場合には、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側にたわみ易くなるため、本発明が特に好適である。
 図2に示すように、平面視における第2空洞部10bの面積が、平面視における第1空洞部10aの面積よりも大きいことが好ましい。それによって、弾性波の励振を阻害せずして、弾性波装置10の脆弱性を低減させることができる。
 なお、平面視における第1空洞部10aの面積は、具体的には、平面視における第1空洞部10aの総面積をいう。複数の第1空洞部10aが設けられている場合には、平面視における複数の第1空洞部10aの面積の合計が、平面視における第1空洞部10aの面積である。
 他方、平面視における第2空洞部10bの面積とは、第1の支持体18に囲まれた部分の平面視における面積である。なお、本実施形態では、第1の支持体18に囲まれた部分に、少なくとも1つの第2の支持体19が設けられている。この場合には、平面視における第2空洞部10bの面積は、第1の支持体18に囲まれた部分の平面視における面積から、第2の支持体19の平面視における面積を引いた面積である。以下においては、第1空洞部10a及び第2空洞部10bの平面視における面積を、単に面積と記載することがある。
 第2の支持体19は、平面視において、第1空洞部10aと重ならないように配置されていることが好ましい。それによって、第2の支持体19が設けられている箇所の脆弱性をより確実に低減させることができる。
 上記導電膜17B及び配線電極23は、同じ材料からなることが好ましい。導電膜17Bに配線電極23が接続されている場合、導電膜17B及び配線電極23が一体として設けられていることが好ましい。これにより、生産性を高めることができる。なお、導電膜17Bは配線電極23に接続されていなくともよい。
 ところで、図1に示すように、第1の実施形態においては、第1の支持体18及び複数の第2の支持体19は、圧電性基板12における圧電層14上に設けられている。もっとも、第1の支持体18の少なくとも一部が、圧電性基板12における、圧電層14が設けられていない部分に設けられていてもよい。同様に、第2の支持体19の少なくとも一部が、圧電性基板12における、圧電層14が設けられていない部分に設けられていてもよい。例えば、第1の支持体18または第2の支持体19の少なくとも一部が、中間層15上または支持基板16上に設けられていてもよい。
 以下において、第1の実施形態の第1~第4変形例を示す。第1~第4の変形例は、誘電体膜の配置、IDT電極の配置、第2の支持体の配置または配線電極の配置のみにおいて、第1の実施形態と異なる。第1~第4の変形例においても、圧電層の支持部材に対するスティッキングを抑制することができる。加えて、弾性波の励振を阻害せずして、弾性波装置の脆弱性を低減させることができる。
 図3に示す第1の変形例においては、誘電体膜24は圧電層14の第2の主面14bに設けられており、かつ第1の主面14aには設けられていない。誘電体膜24は、第1空洞部10a内に位置している。誘電体膜24は、中間層15と一体として設けられていてもよい。あるいは、誘電体膜24及び中間層15は別体として設けられていてもよい。
 図4に示す第2の変形例においては、誘電体膜24は、圧電層14の第1の主面14a及び第2の主面14bの双方に設けられている。誘電体膜24は、圧電層14の第1の主面14a及び第2の主面14bのうち少なくとも一方における、平面視において第1空洞部10aと重なる部分に少なくとも一部が設けられていることが好ましい。この場合には、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側にたわみ易くなるため、本発明が特に好適である。
 図5に示す第3の変形例においては、IDT電極11は、圧電層14の第2の主面14bに設けられている。誘電体膜24は、IDT電極11を覆うように、第2の主面14bに設けられている。
 図6に示す第4の変形例においては、少なくとも1対の第2の支持体19がIDT電極11を挟むように配置されている。この場合、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側にたわみ易くなるため、本発明が特に好適である。加えて、IDT電極11において生じた熱を、少なくとも1対の第2の支持体19を介して外部に放出することができる。よって、放熱性を高めることができる。
 図6に示すように、少なくとも1つの第2の支持体19が、第1の支持体18とIDT電極11との間に設けられていることが好ましい。この場合、該第2の支持体19は、複数のIDT電極11に挟まれていない。よって、該第2の支持体19を介して、1つのIDT電極11において生じた熱を効率的に放熱することができる。この構成は、該IDT電極11が特に耐電力性を求められる場合などに好適である。
 第1の実施形態においては、蓋部本体26は半導体を主成分とする。そして、蓋部25及び第1の支持体18は別体として構成されている。なお、蓋部本体26は樹脂からなっていてもよい。例えば、図7に示す第1の実施形態の第5の変形例においては、第1の支持体18A及び蓋部本体26Aが樹脂からなり、かつ第1の支持体18Aと蓋部本体26Aとが一体として構成されている。
 言い換えれば、樹脂層に凹部が設けられることにより、第1の支持体18A及び蓋部本体26Aが構成されている。該凹部は、平面視において、IDT電極11と重なっている。該凹部は、圧電層14により塞がれている。これにより、第2空洞部が設けられている。図7中の一点鎖線は、第1の支持体18A及び蓋部本体26Aの境界線である。
 なお、蓋部本体26A上には、第1の実施形態と同様に、絶縁体層27Aが設けられている。他方、本変形例では、上記絶縁体層27Bは設けられていない。さらに、第2の支持体は設けられていない。もっとも、例えば、樹脂からなる少なくとも1つの第2の支持体が、第1の支持体18A及び蓋部本体26Aと一体として設けられていてもよい。あるいは、少なくとも1つの第2の支持体が、第1の実施形態と同様に設けられていてもよい。
 蓋部本体26A及び第1の支持体18Aを、ビア電極21Aが貫通している。そして、ビア電極21Aの一端が、導電膜17Cに接続されている。導電膜17Cは2層の金属層からなる。もっとも、導電膜17Cは、第1の実施形態と同様に、単層の金属層からなっていてもよい。
 本変形例においても、第1空洞部10aの高さは第2空洞部の高さよりも高い。加えて、第2空洞部の面積は、第1空洞部10aの面積よりも大きい。従って、第1の実施形態と同様に、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングを抑制することができる。加えて、弾性波の励振を阻害せずして、弾性波装置の脆弱性を低減させることができる。
 第1~第5の変形例の構成は、本発明の第1の実施形態以外の構成にも適用することができる。
 図8は、第2の実施形態に係る弾性波装置の、圧電性基板上の構成を示す模式的平面図である。
 本実施形態は、第2の支持体19、IDT電極11及び第1空洞部10aの配置、並びに配線の引き回しにおいて第1の実施形態と異なる。本実施形態は、第2の支持体19と形状が異なる第2の支持体39が設けられている点においても第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置10と同様の構成を有する。
 第2の支持体39は壁状の形状を有する。より具体的には、第2の支持体39は、平面視において、矩形状の形状を有する。なお、壁状の形状の第2の支持体39は、平面視において、任意の一方向に延びる形状の部分を含んでいればよい。第2の支持体39は、平面視において、曲線状の部分を含んでいてもよい。
 本実施形態では、柱状の形状の第2の支持体19は、具体的には、円柱状である。もっとも、第2の支持体19は角柱状などであってもよい。
 本発明における第2の支持体は、壁状の形状及び柱状の形状のうち一方の形状を有していてもよい。第1の実施形態では、第2の支持体として、柱状の形状の第2の支持体19のみが設けられていた。本実施形態では、第2の支持体として、壁状の形状の第2の支持体39及び柱状の形状の第2の支持体19の双方が設けられている。一方で、第2の支持体として、壁状の形状の第2の支持体39のみが設けられていてもよい。
 壁状の形状の第2の支持体39が設けられている場合には、蓋部をより確実に支持することができる。よって、例えば、蓋部が樹脂からなる場合に、第2の支持体39が設けられた構成が好適である。
 本実施形態においても、第1空洞部10aの高さは第2空洞部10bの高さよりも高い。加えて、第2空洞部10bの面積は、第1空洞部10aの面積よりも大きい。従って、第1の実施形態と同様に、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングを抑制することができる。加えて、弾性波の励振を阻害せずして、弾性波装置の脆弱性を低減させることができる。
 本実施形態では、第2の支持体39は、複数の金属層の積層体からなる。もっとも、第2の支持体39は樹脂からなっていてもよい。この例を、以下の第2の実施形態の第1の変形例及び第2の変形例により示す。第1の変形例及び第2の変形例においても、第2の実施形態と同様に、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングを抑制することができる。加えて、弾性波の励振を阻害せずして、弾性波装置の脆弱性を低減させることができる。
 図9に示す第1の変形例においては、樹脂からなる第2の支持体39Aが、2本の配線電極23上にわたり設けられている。より具体的には、一方の配線電極23上から圧電層14上を経て、他方の配線電極23上に、第2の支持体39Aが設けられている。2本の配線電極23は互いに異なる電位に接続される。この場合においても、第2の支持体39Aが樹脂からなるため、弾性波装置の電気的特性に影響を与え難い。加えて、第2の支持体39Aを設ける部分として、配線電極23上の部分を用いることができるため、弾性波装置の小型化を容易に進めることができる。
 図10に示す第2の変形例においては、3つの第2の支持体39Aが設けられている。1つの第2の支持体39Aは第1の変形例と同様に設けられている。他の2つの第2の支持体39Aはそれぞれ、同じ配線電極23上及び圧電層14上にわたり設けられている。
 本変形例では、平面視において、同じ配線電極23上に設けられた2つの第2の支持体39Aの間に、第3空洞部30cが設けられている。第3空洞部30cは、第1空洞部10aと同様に、支持部材13に設けられている。第3空洞部30cは第1空洞部10aとは接続されていない。第3空洞部30cは独立して設けられている。
 平面視において、第3空洞部30cは、IDT電極11と重なっていない。平面視において、第3空洞部30cは、配線電極23と重なっている。これにより、配線電極23の寄生容量を小さくし易い。
 他方、平面視において、第3空洞部30cは、第2の支持体39Aとは重なっていない。それによって、第3空洞部30cが設けられている部分においても、脆弱性をより確実に低減させることができる。
 図11は、第3の実施形態における第1の支持体付近を示す模式的断面図である。
 本実施形態は、第1の支持体48の構成が第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態は第1の実施形態と同様の構成を有する。よって、本実施形態においては、第1の実施形態と同様に、第1空洞部の高さが第2空洞部の高さよりも高い。従って、圧電層の支持部材に対するスティッキングを抑制することができる。
 第1の支持体48においては、第1部分48a及び第2部分48bの双方が積層体である。具体的には、第1部分48aは第1の層48g、第2の層48h及び第3の層48iを有する。第2部分48bは、第1の層48d、第2の層48e及び第3の層48fを有する。もっとも、第1部分48a及び第2部分48bの層数は2層であってもよく、3層以上であってもよい。
 第1部分48aにおいては、第1の層48g、第2の層48h及び第3の層48iの順序で積層されている。第1の層48gが、第1部分48aにおける第2部分48bに最も近い部分である。同様に、第2部分48bにおいては、第1の層48d、第2の層48e及び第3の層48fの順序で積層されている。第1の層48dが、第2部分48bにおける第1部分48aに最も近い部分である。第1部分48a及び第2部分48bのそれぞれの第1の層48g及び第1の層48dにより、第1の一体部が構成されている。
 なお、第1の実施形態と同様に、第1の支持体48は枠状の形状を有する。本実施形態では、第1部分48aの第1の層48g、及び第2部分48bの第1の層48dの幅が互いに異なる。これにより、平面視において、第1部分48aの第1の層48gの面積、及び第2部分48bの第1の層48dの面積が互いに異なる。なお、第1の支持体48の各部分の幅とは、以下の通りである。すなわち、該幅は、圧電性基板12、第1の支持体48及び蓋部25が積層されている方向、及び第1の支持体48が圧電性基板12上において延びている方向の双方と直交する方向に沿う、第1の支持体48の各部分の寸法である。
 第1の支持体48が上記構成を有することにより、第1の支持体48の強度をより確実に高めることができる。より詳細には、弾性波装置の製造に際し、例えば、第1の支持体48の第1部分48aが蓋部25上に形成される。他方、第1の支持体48の第2部分48bが圧電性基板12上に形成される。その後、第1部分48a及び第2部分48bが接合される。
 第1の支持体48の第1部分48a及び第2部分48bを接合する際には、実際には、位置ずれが生じることもある。これに対して、本実施形態では、平面視において、第1部分48aの面積及び第2部分48bの面積が互いに異なる。具体的には、平面視において、第1部分48aの第1の層48gの面積、及び第2部分48bの第1の層48dの面積が互いに異なる。それによって、第1部分48a及び第2部分48bの接合面積を一定にし易い。
 より具体的には、第1部分48aの第1の層48g、及び第2部分48bの第1の層48dのうち、幅が広い層における外周縁の内側に、他方の層が位置していれば、位置ずれが生じたとしても、接合面積を一定にすることができる。従って、第1の支持体48の強度をより確実に高めることができる。なお、本明細書に記載された各実施形態における第1の支持体及び第2の支持体を含む支持体においては、隣接する層のうち、平面視における面積が大きい層の外周縁の内側に、面積が小さい層が位置している。
 以下においては、第1の支持体48の各部分の平面視における面積を、単に面積と記載する。第2部分48bでは、第1の層48dの面積よりも、第1の層48d以外の全ての層の面積が大きい。そのため、第1の層48dの面積よりも第2の層48eの面積が大きい。それによって、第1の層48dの全ての部分を、第2の層48e上に容易に形成することができる。これにより、第1の層48dの平面精度を高めることができる。よって、第1部分48a及び第2部分48bの接合強度をより確実に高めることができ、かつ気密封止をより確実に行うことができる。しかも、第1部分48a及び第2部分48bの間に、Snなどからなる接合剤を設けずとも、気密封止をより確実に行うことができる。従って、生産性を効果的に高めることができる。
 同様に、第1部分48aにおいても、第1の層48gの面積よりも、第1の層48g以外の全ての層の面積が大きい。よって、第1部分48a及び第2部分48bの接合強度をより一層確実に高めることができ、かつ気密封止をより一層確実に行うことができる。
 図11に示すように、第1の一体部を構成している層から遠い層ほど、面積が大きいことが好ましい。より具体的には、第1部分48aの第3の層48iの面積が第2の層48hの面積よりも大きく、第2の層48hの面積が第1の層48gの面積よりも大きいことが好ましい。第2部分48bの第3の層48fの面積が第2の層48eの面積よりも大きく、第2の層48eの面積が第1の層48dの面積よりも大きいことが好ましい。これにより、第1部分48a及び第2部分48bのそれぞれの、第1の層48g及び第1の層48dの平面精度をより確実に高めることができる。よって、第1部分48a及び第2部分48bの接合面積のばらつきをより確実に、効果的に小さくすることができる。
 第1の一体部はAuからなることが好ましい。この場合には、電気抵抗を小さくすることができる。
 第1部分48a及び第2部分48bのうち一方が積層体であってもよい。この場合には、第1部分48a及び第2部分48bのうち、第1の接合部を構成している部分の面積が小さい方が積層体であることが好ましい。それによって、第1部分48a及び第2部分48bの接合面積を小さくすることができ、弾性波装置を容易に小型にすることができる。
 ところで、第2部分48bにおいて、第1の層48dの面積よりも、第1の層48d以外の少なくとも1層の面積が大きくてもよい。第1部分48aにおいても同様である。図12に示す第3の実施形態の変形例においては、第2部分48xの各層の面積は、第3の層48f、第1の層48j及び第2の層48eの順序において大きい。第1の層48jは、第2の層48eを覆うように、第3の層48f上に設けられている。この場合においても、第1の層48jを第3の層48f上に容易に形成することができ、かつ第1の層48jにおける第2の層48e上に位置している部分において、平面精度を高めることができる。加えて、本変形例においても、第3の実施形態と同様に、圧電層の支持部材に対するスティッキングを抑制することができる。
 本発明においては、第1の支持体48のような枠状の支持体は、少なくとも1つ設けられていればよい。第3の実施形態においては、圧電性基板12及び蓋部25の間に設けられた第1の支持体48の構成を示した。なお、少なくとも1つの枠状の支持体は、支持基板及び圧電層の間に設けられた支持体を含んでいてもよい。以下において、支持基板及び圧電層の間に設けられた枠状の支持体を第3の支持体とする。第3の支持体が第1の支持体48と同様に構成された例を、第4の実施形態により示す。
 図13は、第4の実施形態における、第1の支持体及び第3の支持体付近を示す模式的断面図である。
 本実施形態は、支持部材53が中間層を有さず、第3の支持体58を有する点において、第3の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第3の実施形態の弾性波装置と同様の構成を有する。
 第3の支持体58は、支持基板16上に設けられている。第3の支持体58上に圧電層14が設けられている。第3の支持体58は枠状の形状を有する。本実施形態では、第1空洞部50aは、圧電層14、第3の支持体58及び支持基板16により囲まれた空洞部である。第3の支持体58の高さは、第1の支持体48の高さよりも高い。よって、本実施形態においても、第1空洞部50aの高さは第2空洞部10bの高さよりも高い。従って、圧電層14の支持部材53に対するスティッキングを抑制することができる。
 なお、支持部材53は、少なくとも1つの第4の支持体を有していても構わない。この場合、第4の支持体は、例えば、平面視において上記第2の支持体と重なるように配置されている。第4の支持体は、支持基板16上に設けられている。第4の支持体上に圧電層が設けられている。
 第3の支持体58は、サイズ以外においては、第1の支持体48と同様に構成されている。具体的には、第3の支持体58は、第1部分58a及び第2部分58bを有する。第1部分58a及び第2部分58bのうち、第1部分58aが支持基板16側に位置し、第2部分58bが圧電層14側に位置している。すなわち、第2部分58bは、高さ方向において、第1部分58aよりも圧電層14側に位置している。
 第3の支持体58においては、第1部分58a及び第2部分58bの双方が積層体である。具体的には、第1部分58aは第1の層58g、第2の層58h及び第3の層58iを有する。第2部分58bは、第1の層58d、第2の層58e及び第3の層58fを有する。もっとも、第1部分58a及び第2部分58bの層数は2層であってもよく、3層以上であってもよい。
 第1部分58aにおいては、第1の層58g、第2の層58h及び第3の層58iの順序で積層されている。第1の層58gが、第1部分58aにおける第2部分58bに最も近い部分である。同様に、第2部分58bにおいては、第1の層58d、第2の層58e及び第3の層58fの順序で積層されている。第1の層58dが、第2部分58bにおける第1部分58aに最も近い部分である。第1部分58a及び第2部分58bのそれぞれの第1の層58g及び第1の層58dは、同じ材料からなる。第1部分58a及び第2部分58bのそれぞれの第1の層58g及び第1の層58dにより、第1の一体部が構成されている。
 以下においては、第3の支持体58の各部分の平面視における面積を、単に面積と記載する。第2部分58bでは、第1の層58dの面積よりも、第1の層58d以外の全ての層の面積が大きい。もっとも、第1の層58dの面積よりも、第1の層58d以外の少なくとも1層の面積が大きくてもよい。それによって、第1の層58dの平面精度を高めることができる。よって、第1部分58a及び第2部分58bの接合強度をより確実に高めることができ、かつ気密封止をより確実に行うことができる。
 同様に、第1部分58aにおいても、第1の層58gの面積よりも、第1の層58g以外の全ての層の面積が大きい。もっとも、第1の層58gの面積よりも、第1の層58g以外の少なくとも1層の面積が大きくてもよい。それによって、第1の層58gの平面精度を高めることができる。
 第1の一体部を構成している層から遠い層ほど、面積が大きいことが好ましい。より具体的には、第1部分58aの第3の層58i面積が第2の層58hの面積よりも大きく、第2の層58hの面積が第1の層58gの面積よりも大きいことが好ましい。第2部分58bの第3の層58fの面積が第2の層58eの面積よりも大きく、第2の層58eの面積が第1の層58dの面積よりも大きいことが好ましい。これにより、第1部分58a及び第2部分58bのそれぞれの、第1の層58g及び第1の層58dの平面精度をより確実に高めることができる。よって、第1部分58a及び第2部分58bの接合面積のばらつきをより確実に、効果的に小さくすることができる。
 第1部分58a及び第2部分58bのうち一方が積層体であってもよい。この場合には、第1部分58a及び第2部分58bのうち、接合部を構成している部分の面積が小さい方が積層体であることが好ましい。それによって、第1部分58a及び第2部分58bの接合面積を小さくすることができ、弾性波装置を容易に小型にすることができる。
 第3の支持体58のサイズ及び配置を調整することによって、第1空洞部50aの面積を第2空洞部10bの面積よりも小さくしてもよい。なお、第1空洞部50aの面積は、上記第4の支持体が設けられている場合には、第3の支持体58に囲まれた部分の平面視における面積から、第4の支持体の平面視における面積を引いた面積である。例えば、第4の支持体を壁状の形状とすることにより、第1空洞部50aの面積を小さくしてもよい。それによって、弾性波の励振を妨げずして、弾性波装置の脆弱性を低減させることができる。
 もっとも、第3の支持体58の高さが第1の支持体48の高さよりも高ければよい。第1の支持体48及び第3の支持体58の双方が設けられている構成において、第1空洞部50a及び第2空洞部10bの面積が同じであっても構わない。例えば、第3の支持体58における少なくとも1層の厚みが、第1の支持体48における少なくとも1層の厚みよりも厚いことにより、第3の支持体58の高さが第1の支持体48の高さよりも高くなっていてもよい。あるいは、第3の支持体58の層数が第1の支持体48の層数よりも多いことにより、第3の支持体58の高さが第1の支持体48の高さよりも高くなっていてもよい。
 なお、支持基板16及び第3の支持体58の間、または圧電層14及び第3の支持体58の間に、誘電体などからなる中間層が設けられていてもよい。このように、支持部材53は、中間層を含んでいてもよい。
 図14は、第5の実施形態に係る弾性波装置の、図1に相当する部分を示す略図的断面図である。
 本実施形態は、第2の支持体69の構成において第1の実施形態と異なる。本実施形態は、図14に示す第2の支持体69がビア電極に接続されていない点においても、第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置は第1の実施形態の弾性波装置10と同様の構成を有する。
 第1の実施形態と同様に、第1の支持体18において、第1部分18a、及び第2部分18bの第1の層18dによって第1の一体部が構成されている。第2の支持体69において、第1部分19a、及び第2部分19bの第1の層19dによって第2の一体部が構成されている。
 本実施形態では、1つの第2の支持体69における、第2の一体部の上記第1の層19dの部分の幅が、第1の支持体18の第1の一体部の最も狭い部分の幅よりも狭い。このように、少なくとも1つの第2の支持体69における第2の一体部の少なくとも一部の幅が、第1の一体部の幅よりも狭ければよい。それによって、弾性波装置を容易に小型にすることができる。なお、第2の支持体69の各部分の幅とは、圧電性基板12、第2の支持体69及び蓋部25が積層されている方向と直交する方向に沿う、第2の支持体69の各部分の寸法である。
 第2の一体部における、第1の一体部の幅よりも狭い部分の幅が、1μm以上であることが好ましい。それによって、第2の支持体69の電気抵抗を低くすることができ、第2の支持体69を配線として用いることができる。第2の一体部における、第1の一体部の幅よりも狭い部分の幅が、16μm未満であることが好ましい。それによって、弾性波装置をより確実に小型にすることができる。
 本実施形態においても、第1の実施形態と同様に、第1空洞部10aの高さが第2空洞部10bの高さよりも高い。従って、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングを抑制することができる。
 第1~第5の実施形態または各変形例における各弾性波共振子は、例えば、厚み滑り1次モードなどの厚み滑りモードのバルク波を利用可能に構成されている。なお、各弾性波共振子は、板波を利用可能に構成されていてもよく、あるいは、厚み滑りモードのバルク波以外のバルク波を利用可能に構成されていてもよい。以下において、弾性波共振子がBAW(Bulk Acoustic Wave)素子である場合の例を示す。
 図15は、第6の実施形態に係る弾性波装置の、図1に示す部分に相当する部分を示す略図的断面図である。
 本実施形態は、機能電極が上部電極71A及び下部電極71Bを有する点において第1の実施形態と異なる。本実施形態は、上記誘電体膜24が設けられていない点においても第1の実施形態と異なる。上記の点以外においては、本実施形態の弾性波装置70は第1の実施形態の弾性波装置10と同様の構成を有する。
 上部電極71Aは圧電層14の第1の主面14aに設けられている。下部電極71Bは圧電層14の第2の主面14bに設けられている。上部電極71A及び下部電極71Bは、圧電層14を挟み互いに対向している。上部電極71A及び下部電極71Bは互いに異なる電位に接続される。上部電極71A及び下部電極71Bが互いに対向している領域が、励振領域である。上部電極71A及び下部電極71B間に交流電界を印加することにより、励振領域において弾性波が励振される。
 本実施形態では、導電膜17B、配線電極23及び上部電極71Aは一体として設けられている。もっとも、導電膜17B、配線電極23及び上部電極71Aは、それぞれ別体として設けられていても構わない。
 励振電極としての上部電極71Aまたは下部電極71Bを覆うように、図1に示した誘電体膜24が設けられていてもよい。この場合には、上部電極71Aまたは下部電極71Bが破損し難い。
 本実施形態においても、第1の実施形態と同様に、第1空洞部10aの高さが第2空洞部10bの高さよりも高い。それによって、圧電層14が第2空洞部10b側から第1空洞部10a側に凸状に変形した際においても、圧電層14の支持部材13に対するスティッキングを抑制することができる。
 以下において、厚み滑りモード及び板波の詳細を説明する。なお、上記IDT電極11は、後述するIDT電極の構成を有する。IDT電極における「電極」は、本発明における電極指に相当する。以下の例における支持部材は、本発明における支持基板に相当する。
 図16(a)は、厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波装置の外観を示す略図的斜視図であり、図16(b)は、圧電層上の電極構造を示す平面図であり、図17は、図16(a)中のA-A線に沿う部分の断面図である。
 弾性波装置1は、LiNbOからなる圧電層2を有する。圧電層2は、LiTaOからなるものであってもよい。LiNbOやLiTaOのカット角は、Zカットであるが、回転YカットやXカットであってもよい。圧電層2の厚みは、特に限定されないが、厚み滑りモードを効果的に励振するには、40nm以上、1000nm以下であることが好ましく、50nm以上、1000nm以下であることがより好ましい。圧電層2は、対向し合う第1,第2の主面2a,2bを有する。第1の主面2a上に、電極3及び電極4が設けられている。ここで電極3が「第1電極」の一例であり、電極4が「第2電極」の一例である。図16(a)及び図16(b)では、複数の電極3が、第1のバスバー5に接続されている。複数の電極4は、第2のバスバー6に接続されている。複数の電極3及び複数の電極4は、互いに間挿し合っている。電極3及び電極4は、矩形形状を有し、長さ方向を有する。この長さ方向と直交する方向において、電極3と、隣りの電極4とが対向している。電極3,4の長さ方向、及び、電極3,4の長さ方向と直交する方向はいずれも、圧電層2の厚み方向に交叉する方向である。このため、電極3と、隣りの電極4とは、圧電層2の厚み方向に交叉する方向において対向しているともいえる。また、電極3,4の長さ方向が図16(a)及び図16(b)に示す電極3,4の長さ方向に直交する方向と入れ替わってもよい。すなわち、図16(a)及び図16(b)において、第1のバスバー5及び第2のバスバー6が延びている方向に電極3,4を延ばしてもよい。その場合、第1のバスバー5及び第2のバスバー6は、図16(a)及び図16(b)において電極3,4が延びている方向に延びることとなる。そして、一方電位に接続される電極3と、他方電位に接続される電極4とが隣り合う1対の構造が、上記電極3,4の長さ方向と直交する方向に、複数対設けられている。ここで電極3と電極4とが隣り合うとは、電極3と電極4とが直接接触するように配置されている場合ではなく、電極3と電極4とが間隔を介して配置されている場合を指す。また、電極3と電極4とが隣り合う場合、電極3と電極4との間には、他の電極3,4を含む、ホット電極やグラウンド電極に接続される電極は配置されない。この対数は、整数対である必要はなく、1.5対や2.5対などであってもよい。電極3,4間の中心間距離すなわちピッチは、1μm以上、10μm以下の範囲が好ましい。また、電極3,4の幅、すなわち電極3,4の対向方向の寸法は、50nm以上、1000nm以下の範囲であることが好ましく、150nm以上、1000nm以下の範囲であることがより好ましい。なお、電極3,4間の中心間距離とは、電極3の長さ方向と直交する方向における電極3の寸法(幅寸法)の中心と、電極4の長さ方向と直交する方向における電極4の寸法(幅寸法)の中心とを結んだ距離となる。
 また、弾性波装置1では、Zカットの圧電層を用いているため、電極3,4の長さ方向と直交する方向は、圧電層2の分極方向に直交する方向となる。圧電層2として他のカット角の圧電体を用いた場合には、この限りでない。ここにおいて、「直交」とは、厳密に直交する場合のみに限定されず、略直交(電極3,4の長さ方向と直交する方向と分極方向とのなす角度が例えば90°±10°の範囲内)でもよい。
 圧電層2の第2の主面2b側には、絶縁層7を介して支持部材8が積層されている。絶縁層7及び支持部材8は、枠状の形状を有し、図17に示すように、貫通孔7a,8aを有する。それによって、空洞部9が形成されている。空洞部9は、圧電層2の励振領域Cの振動を妨げないために設けられている。従って、上記支持部材8は、少なくとも1対の電極3,4が設けられている部分と重ならない位置において、第2の主面2bに絶縁層7を介して積層されている。なお、絶縁層7は設けられずともよい。従って、支持部材8は、圧電層2の第2の主面2bに直接または間接に積層され得る。
 絶縁層7は、酸化ケイ素からなる。もっとも、酸化ケイ素の他、酸窒化ケイ素、アルミナなどの適宜の絶縁性材料を用いることができる。支持部材8は、Siからなる。Siの圧電層2側の面における面方位は(100)や(110)であってもよく、(111)であってもよい。支持部材8を構成するSiは、抵抗率4kΩcm以上の高抵抗であることが望ましい。もっとも、支持部材8についても適宜の絶縁性材料や半導体材料を用いて構成することができる。
 支持部材8の材料としては、例えば、酸化アルミニウム、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶などの圧電体、アルミナ、マグネシア、サファイア、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、炭化ケイ素、ジルコニア、コージライト、ムライト、ステアタイト、フォルステライトなどの各種セラミック、ダイヤモンド、ガラスなどの誘電体、窒化ガリウムなどの半導体などを用いることができる。
 上記複数の電極3,4及び第1,第2のバスバー5,6は、Al、AlCu合金などの適宜の金属もしくは合金からなる。本実施形態では、電極3,4及び第1,第2のバスバー5,6は、Ti膜上にAl膜を積層した構造を有する。なお、Ti膜以外の密着層を用いてもよい。
 駆動に際しては、複数の電極3と、複数の電極4との間に交流電圧を印加する。より具体的には、第1のバスバー5と第2のバスバー6との間に交流電圧を印加する。それによって、圧電層2において励振される厚み滑りモードのバルク波を利用した、共振特性を得ることが可能とされている。また、弾性波装置1では、圧電層2の厚みをd、複数対の電極3,4のうちいずれかの隣り合う電極3,4の中心間距離をpとした場合、d/pは0.5以下とされている。そのため、上記厚み滑りモードのバルク波が効果的に励振され、良好な共振特性を得ることができる。より好ましくは、d/pは0.24以下であり、その場合には、より一層良好な共振特性を得ることができる。
 弾性波装置1では、上記構成を備えるため、小型化を図ろうとして、電極3,4の対数を小さくしたとしても、Q値の低下が生じ難い。これは、両側の反射器における電極指の本数を少なくしても、伝搬ロスが少ないためである。また、上記電極指の本数を少なくできるのは、厚み滑りモードのバルク波を利用していることによる。弾性波装置で利用したラム波と、上記厚み滑りモードのバルク波の相違を、図18(a)及び図18(b)を参照して説明する。
 図18(a)は、日本公開特許公報 特開2012-257019号公報に記載のような弾性波装置の圧電膜を伝搬するラム波を説明するための模式的正面断面図である。ここでは、圧電膜201中を矢印で示すように波が伝搬する。ここで、圧電膜201では、第1の主面201aと、第2の主面201bとが対向しており、第1の主面201aと第2の主面201bとを結ぶ厚み方向がZ方向である。X方向は、IDT電極の電極指が並んでいる方向である。図18(a)に示すように、ラム波では、波が図示のように、X方向に伝搬していく。板波であるため、圧電膜201が全体として振動するものの、波はX方向に伝搬するため、両側に反射器を配置して、共振特性を得ている。そのため、波の伝搬ロスが生じ、小型化を図った場合、すなわち電極指の対数を少なくした場合、Q値が低下する。
 これに対して、図18(b)に示すように、弾性波装置1では、振動変位は厚み滑り方向であるから、波は、圧電層2の第1の主面2aと第2の主面2bとを結ぶ方向、すなわちZ方向にほぼ伝搬し、共振する。すなわち、波のX方向成分がZ方向成分に比べて著しく小さい。そして、このZ方向の波の伝搬により共振特性が得られるため、反射器の電極指の本数を少なくしても、伝搬損失は生じ難い。さらに、小型化を進めようとして、電極3,4からなる電極対の対数を減らしたとしても、Q値の低下が生じ難い。
 なお、厚み滑りモードのバルク波の振幅方向は、図19に示すように、圧電層2の励振領域Cに含まれる第1領域451と、励振領域Cに含まれる第2領域452とで逆になる。図19では、電極3と電極4との間に、電極4が電極3よりも高電位となる電圧が印加された場合のバルク波を模式的に示してある。第1領域451は、励振領域Cのうち、圧電層2の厚み方向に直交し圧電層2を2分する仮想平面VP1と、第1の主面2aとの間の領域である。第2領域452は、励振領域Cのうち、仮想平面VP1と、第2の主面2bとの間の領域である。
 上記のように、弾性波装置1では、電極3と電極4とからなる少なくとも1対の電極が配置されているが、X方向に波を伝搬させるものではないため、この電極3,4からなる電極対の対数は複数対ある必要はない。すなわち、少なくとも1対の電極が設けられてさえおればよい。
 例えば、上記電極3がホット電位に接続される電極であり、電極4がグラウンド電位に接続される電極である。もっとも、電極3がグラウンド電位に、電極4がホット電位に接続されてもよい。本実施形態では、少なくとも1対の電極は、上記のように、ホット電位に接続される電極またはグラウンド電位に接続される電極であり、浮き電極は設けられていない。
 図20は、図17に示す弾性波装置の共振特性を示す図である。なお、この共振特性を得た弾性波装置1の設計パラメータは以下の通りである。
 圧電層2:オイラー角(0°,0°,90°)のLiNbO、厚み=400nm。
 電極3と電極4の長さ方向と直交する方向に見たときに、電極3と電極4とが重なっている領域、すなわち励振領域Cの長さ=40μm、電極3,4からなる電極の対数=21対、電極間中心距離=3μm、電極3,4の幅=500nm、d/p=0.133。
 絶縁層7:1μmの厚みの酸化ケイ素膜。
 支持部材8:Si。
 なお、励振領域Cの長さとは、励振領域Cの電極3,4の長さ方向に沿う寸法である。
 本実施形態では、電極3,4からなる電極対の電極間距離は、複数対において全て等しくした。すなわち、電極3と電極4とを等ピッチで配置した。
 図20から明らかなように、反射器を有しないにも関わらず、比帯域が12.5%である良好な共振特性が得られている。
 ところで、上記圧電層2の厚みをd、電極3と電極4との電極の中心間距離をpとした場合、前述したように、本実施形態では、d/pは0.5以下、より好ましくは0.24以下である。これを、図21を参照して説明する。
 図20に示した共振特性を得た弾性波装置と同様に、但しd/pを変化させ、複数の弾性波装置を得た。図21は、このd/pと、弾性波装置の共振子としての比帯域との関係を示す図である。
 図21から明らかなように、d/p>0.5では、d/pを調整しても、比帯域は5%未満である。これに対して、d/p≦0.5の場合には、その範囲内でd/pを変化させれば、比帯域を5%以上とすることができ、すなわち高い結合係数を有する共振子を構成することができる。また、d/pが0.24以下の場合には、比帯域を7%以上と高めることができる。加えて、d/pをこの範囲内で調整すれば、より一層比帯域の広い共振子を得ることができ、より一層高い結合係数を有する共振子を実現することができる。従って、d/pを0.5以下とすることにより、上記厚み滑りモードのバルク波を利用した、高い結合係数を有する共振子を構成し得ることがわかる。
 図22は、厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波装置の平面図である。弾性波装置80では、圧電層2の第1の主面2a上において、電極3と電極4とを有する1対の電極が設けられている。なお、図22中のKが交叉幅となる。前述したように、本発明の弾性波装置では、電極の対数は1対であってもよい。この場合においても、上記d/pが0.5以下であれば、厚み滑りモードのバルク波を効果的に励振することができる。
 弾性波装置1では、好ましくは、複数の電極3,4において、いずれかの隣り合う電極3,4が対向している方向に見たときに重なっている領域である励振領域Cに対する、上記隣り合う電極3,4のメタライゼーション比MRが、MR≦1.75(d/p)+0.075を満たすことが望ましい。その場合には、スプリアスを効果的に小さくすることができる。これを、図23及び図24を参照して説明する。図23は、上記弾性波装置1の共振特性の一例を示す参考図である。矢印Bで示すスプリアスが、共振周波数と反共振周波数との間に現れている。なお、d/p=0.08として、かつLiNbOのオイラー角(0°,0°,90°)とした。また、上記メタライゼーション比MR=0.35とした。
 メタライゼーション比MRを、図16(b)を参照して説明する。図16(b)の電極構造において、1対の電極3,4に着目した場合、この1対の電極3,4のみが設けられるとする。この場合、一点鎖線で囲まれた部分が励振領域Cとなる。この励振領域Cとは、電極3と電極4とを、電極3,4の長さ方向と直交する方向すなわち対向方向に見たときに電極3における電極4と重なり合っている領域、電極4における電極3と重なり合っている領域、及び、電極3と電極4との間の領域における電極3と電極4とが重なり合っている領域である。そして、この励振領域Cの面積に対する、励振領域C内の電極3,4の面積が、メタライゼーション比MRとなる。すなわち、メタライゼーション比MRは、メタライゼーション部分の面積の励振領域Cの面積に対する比である。
 なお、複数対の電極が設けられている場合、励振領域の面積の合計に対する全励振領域に含まれているメタライゼーション部分の割合をMRとすればよい。
 図24は本実施形態に従って、多数の弾性波共振子を構成した場合の比帯域と、スプリアスの大きさとしての180度で規格化されたスプリアスのインピーダンスの位相回転量との関係を示す図である。なお、比帯域については、圧電層の膜厚や電極の寸法を種々変更し、調整した。また、図24は、ZカットのLiNbOからなる圧電層を用いた場合の結果であるが、他のカット角の圧電層を用いた場合においても、同様の傾向となる。
 図24中の楕円Jで囲まれている領域では、スプリアスが1.0と大きくなっている。図24から明らかなように、比帯域が0.17を超えると、すなわち17%を超えると、スプリアスレベルが1以上の大きなスプリアスが、比帯域を構成するパラメータを変化させたとしても、通過帯域内に現れる。すなわち、図23に示す共振特性のように、矢印Bで示す大きなスプリアスが帯域内に現れる。よって、比帯域は17%以下であることが好ましい。この場合には、圧電層2の膜厚や電極3,4の寸法などを調整することにより、スプリアスを小さくすることができる。
 図25は、d/2pと、メタライゼーション比MRと、比帯域との関係を示す図である。上記弾性波装置において、d/2pと、MRが異なる様々な弾性波装置を構成し、比帯域を測定した。図25の破線Dの右側のハッチングを付して示した部分が、比帯域が17%以下の領域である。このハッチングを付した領域と、付していない領域との境界は、MR=3.5(d/2p)+0.075で表される。すなわち、MR=1.75(d/p)+0.075である。従って、好ましくは、MR≦1.75(d/p)+0.075である。その場合には、比帯域を17%以下としやすい。より好ましくは、図25中の一点鎖線D1で示すMR=3.5(d/2p)+0.05の右側の領域である。すなわち、MR≦1.75(d/p)+0.05であれば、比帯域を確実に17%以下にすることができる。
 図26は、d/pを限りなく0に近づけた場合のLiNbOのオイラー角(0°,θ,ψ)に対する比帯域のマップを示す図である。図26のハッチングを付して示した部分が、少なくとも5%以上の比帯域が得られる領域であり、当該領域の範囲を近似すると、下記の式(1)、式(2)及び式(3)で表される範囲となる。
 (0°±10°,0°~20°,任意のψ)  …式(1)
 (0°±10°,20°~80°,0°~60°(1-(θ-50)/900)1/2) または (0°±10°,20°~80°,[180°-60°(1-(θ-50)/900)1/2]~180°)  …式(2)
 (0°±10°,[180°-30°(1-(ψ-90)/8100)1/2]~180°,任意のψ)  …式(3)
 従って、上記式(1)、式(2)または式(3)のオイラー角範囲の場合、比帯域を十分に広くすることができ、好ましい。圧電層2がタンタル酸リチウム層である場合も同様である。
 図27は、ラム波を利用する弾性波装置を説明するための部分切り欠き斜視図である。
 弾性波装置81は、支持基板82を有する。支持基板82には、上面に開いた凹部が設けられている。支持基板82上に圧電層83が積層されている。それによって、空洞部9が構成されている。この空洞部9の上方において圧電層83上に、IDT電極84が設けられている。IDT電極84の弾性波伝搬方向両側に、反射器85,86が設けられている。図27において、空洞部9の外周縁を破線で示す。ここでは、IDT電極84は、第1,第2のバスバー84a,84bと、複数本の第1の電極指84c及び複数本の第2の電極指84dとを有する。複数本の第1の電極指84cは、第1のバスバー84aに接続されている。複数本の第2の電極指84dは、第2のバスバー84bに接続されている。複数本の第1の電極指84cと、複数本の第2の電極指84dとは間挿し合っている。
 弾性波装置81では、上記空洞部9上のIDT電極84に、交流電界を印加することにより、板波としてのラム波が励振される。そして、反射器85,86が両側に設けられているため、上記ラム波による共振特性を得ることができる。
 このように、本発明の弾性波装置は、板波を利用するものであってもよい。この場合、上記第1~第5の実施形態または各変形例における圧電層上に、図27に示すIDT電極84、反射器85及び反射器86が設けられていればよい。
 厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波共振子を有する第1~第5の実施形態または各変形例の弾性波装置においては、上記のように、d/pが0.5以下であることが好ましく、0.24以下であることがより好ましい。それによって、より一層良好な共振特性を得ることができる。さらに、厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波共振子を有する第1~第5の実施形態または各変形例の弾性波装置においては、上記のように、MR≦1.75(d/p)+0.075を満たすことが好ましい。この場合には、スプリアスをより確実に抑制することができる。
 厚み滑りモードのバルク波を利用する弾性波共振子を有する第1~第5の実施形態または各変形例の弾性波装置における圧電層は、ニオブ酸リチウム層またはタンタル酸リチウム層であることが好ましい。そして、該圧電層を構成しているニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムのオイラー角(φ,θ,ψ)が、上記の式(1)、式(2)または式(3)の範囲にあることが好ましい。この場合、比帯域を十分に広くすることができる。
1…弾性波装置
2…圧電層
2a,2b…第1,第2の主面
3,4…電極
5,6…第1,第2のバスバー
7…絶縁層
7a…貫通孔
8…支持部材
8a…貫通孔
9…空洞部
10…弾性波装置
10a,10b…第1,第2空洞部
11…IDT電極
12…圧電性基板
13…支持部材
14…圧電層
14a,14b…第1,第2の主面
15…中間層
16…支持基板
17A…電極層
17B,17C…導電膜
18,18A…第1の支持体
18a,18b…第1,第2部分
18c…開口部
18d,18e…第1,第2の層
19…第2の支持体
19a,19b…第1,第2部分
19d,19e…第1,第2の層
20…貫通孔
21A…ビア電極
21B…電極パッド
22…バンプ
23…配線電極
24…誘電体膜
25…蓋部
26,26A…蓋部本体
26a,26b…第1,第2の主面
27A,27B…絶縁体層
30c…第3空洞部
39,39A…第2の支持体
48…第1の支持体
48a,48b…第1,第2部分
48d~48f,48g~48i…第1~第3の層
48j…第1の層
48x…第2部分
50a…第1空洞部
53…支持部材
58…第3の支持体
58a,58b…第1,第2部分
58d~58f,58g~58i…第1~第3の層
69…第2の支持体
70…弾性波装置
71A…上部電極
71B…下部電極
80,81…弾性波装置
82…支持基板
83…圧電層
84…IDT電極
84a,84b…第1,第2のバスバー
84c,84d…第1,第2の電極指
85,86…反射器
201…圧電膜
201a,201b…第1,第2の主面
451,452…第1,第2領域
C…励振領域
VP1…仮想平面

Claims (42)

  1.  支持基板を含む支持部材と、前記支持部材上に設けられている圧電層と、を含む圧電性基板と、
     前記圧電層上に設けられている機能電極と、
     少なくとも1つの支持体と、
     蓋部と、
    を備え、
     前記少なくとも1つの支持体のうち1つの支持体が、前記圧電性基板上に前記機能電極を囲むように設けられており、該支持体上に蓋部が設けられており、
     前記支持部材に、第1空洞部が設けられており、前記第1空洞部が、平面視において、前記機能電極の少なくとも一部と重なっており、
     前記圧電性基板と、前記圧電性基板及び前記蓋部の間に設けられた前記支持体と、前記蓋部とにより囲まれた第2空洞部が設けられており、
     前記圧電性基板と、前記圧電性基板及び前記蓋部の間に設けられた前記支持体と、前記蓋部とが積層されている方向を高さ方向とし、前記高さ方向に沿う寸法を高さとしたときに、前記第1空洞部の高さが前記第2空洞部の高さよりも高い、弾性波装置。
  2.  前記圧電層上に設けられている配線電極をさらに備え、
     前記配線電極の少なくとも一部が、平面視において前記第1空洞部と重なっている、請求項1に記載の弾性波装置。
  3.  前記配線電極が、前記圧電層上における、平面視において前記第1空洞部と重なっている部分、及び平面視において前記第1空洞部と重なっていない部分にわたり設けられている、請求項2に記載の弾性波装置。
  4.  前記圧電層が対向し合う第1の主面及び第2の主面を有し、
     前記第1の主面及び前記第2の主面のうち少なくとも一方における、平面視において前記第1空洞部と重なる部分に少なくとも一部が設けられている、誘電体膜をさらに備える、請求項1~3のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  5.  前記圧電層の前記第1の主面及び前記第2の主面のうち、前記第2の主面が前記支持部材側に位置し、前記誘電体膜が前記第2の主面に設けられている、請求項4に記載の弾性波装置。
  6.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体と前記蓋部とが別体として構成されている、請求項1~5のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  7.  前記蓋部が半導体を主成分とする蓋部本体を含む、請求項1~6のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  8.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体及び前記蓋部が樹脂からなり、前記支持体と前記蓋部とが一体として構成されている、請求項1~5のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  9.  前記支持体が、第1部分と、前記第1部分よりも前記高さ方向において前記圧電層側に設けられている第2部分と、を有する、請求項1~7のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  10.  前記第1部分及び前記第2部分が別種の金属を含む、請求項9に記載の弾性波装置。
  11.  前記支持体において、前記第1部分における最も前記第2部分側に位置している部分と、前記第2部分における最も前記第1部分側に位置している部分とが同じ材料からなり、
     前記第1部分における最も前記第2部分側に位置している部分と、前記第2部分における最も前記第1部分側に位置している部分とが一体となっている、一体部が構成されており、
     平面視において、前記第1部分における最も前記第2部分側に位置している部分の面積と、前記第2部分における最も前記第1部分側に位置している部分の面積とが異なる、請求項9または10に記載の弾性波装置。
  12.  前記第1部分及び前記第2部分のうち少なくとも一方が積層体であり、
     平面視において、前記積層体における前記一体部を構成している層の面積よりも、前記積層体における該層以外の少なくとも1層の面積が大きい、請求項11に記載の弾性波装置。
  13.  前記積層体において、前記一体部を構成している層の面積よりも、前記積層体における該層以外の全ての層の面積が大きい、請求項12に記載の弾性波装置。
  14.  前記積層体において、前記一体部を構成している層から遠い層ほど、平面視における面積が大きい、請求項13に記載の弾性波装置。
  15.  前記第1の支持体の前記積層体の層数が少なくとも3層である、請求項12~14のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  16.  前記第1部分及び前記第2部分のうち、前記一体部を構成している部分の平面視における面積が小さい方が、前記積層体である、請求項12~15のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  17.  前記第1部分及び前記第2部分の双方が前記積層体である、請求項12~16のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  18.  前記一体部がAuからなる、請求項11~17のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  19.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体が第1の支持体であり、
     前記圧電性基板上に設けられており、かつ前記第2空洞部内に配置されている少なくとも1つの第2の支持体をさらに備え、
     前記第1の支持体及び前記第2の支持体がそれぞれ、前記蓋部側に設けられている第1部分と、前記圧電性基板側に設けられている第2部分と、を有し、
     前記第1の支持体の前記第1部分における最も前記第2部分側に位置している部分と、前記第2部分における最も前記第1部分側に位置している部分とが一体となっている、第1の一体部が構成されており、
     前記第2の支持体の前記第1部分における最も前記第2部分側に位置している部分と、前記第2部分における最も前記第1部分側に位置している部分とが一体となっている、第2の一体部が構成されており、
     前記圧電性基板、前記第1の支持体及び前記蓋部が積層されている方向、及び前記第1の支持体が前記圧電性基板上において延びている方向の双方と直交する方向に沿う、前記第1の支持体の各部分の寸法を前記第1の支持体の各部分の幅とし、前記圧電性基板、前記第2の支持体及び前記蓋部が積層されている方向と直交する方向に沿う、前記第2の支持体の各部分の寸法を前記第2の支持体の各部分の幅としたときに、少なくとも1つの前記第2の支持体における前記第2の一体部の少なくとも一部の幅が、前記第1の一体部の幅よりも狭い、請求項9~18のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  20.  前記第2の支持体が、前記機能電極と電気的に接続されている、請求項19に記載の弾性波装置。
  21.  前記第2の一体部の幅が、1μm以上、16μm未満である、請求項19または20に記載の弾性波装置。
  22.  平面視における前記第2空洞部の面積が、平面視における前記第1空洞部の面積よりも大きい、請求項1~21のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  23.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体が第1の支持体であり、
     前記圧電性基板上に設けられており、かつ前記第2空洞部内に配置されている少なくとも1つの第2の支持体をさらに備え、
     平面視において、前記第2の支持体が前記第1空洞部と重なっておらず、
     平面視における前記第2空洞部の面積が、前記第1の支持体に囲まれた部分の面積から、前記第2の支持体の面積を引いた面積である、請求項22に記載の弾性波装置。
  24.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体が第1の支持体であり、
     前記圧電性基板上に設けられており、かつ前記第2空洞部内に配置されている少なくとも1つの第2の支持体をさらに備え、
     少なくとも1つの前記第2の支持体が、前記第1の支持体と前記機能電極との間に設けられている、請求項1~23のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  25.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体が第1の支持体であり、
     前記圧電性基板上に設けられており、かつ前記第2空洞部内に配置されている複数の第2の支持体をさらに備え、
     前記複数の第2の支持体が、前記機能電極を挟むように設けられている少なくとも1対の第2の支持体を含む、請求項1~24のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  26.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体が第1の支持体であり、
     前記圧電性基板上に設けられており、かつ前記第2空洞部内に配置されている少なくとも1つの第2の支持体をさらに備え、
     前記第2の支持体が、前記蓋部側に設けられている第1部分と、前記圧電性基板側に設けられている第2部分と、を有し、前記第1部分及び前記第2部分が別種の金属を含む、請求項1~25のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  27.  前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体が第1の支持体であり、
     前記圧電性基板上に設けられており、かつ前記第2空洞部内に配置されている少なくとも1つの第2の支持体をさらに備え、
     前記第2の支持体が、壁状の形状及び柱状の形状のうち一方の形状を有する、請求項1~26のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  28.  前記圧電性基板上に設けられている配線電極をさらに備え、
     前記支持部材に、前記第1空洞部と接続されていない第3空洞部が設けられており、前記第3空洞部が、平面視において、前記配線電極と重なっており、かつ前記第2の支持体及び前記機能電極と重なっていない、請求項27に記載の弾性波装置。
  29.  前記少なくとも1つの支持体が、前記圧電性基板及び前記蓋部側の間に設けられた前記支持体のみである、請求項1~28に記載の弾性波装置。
  30.  前記少なくとも1つの支持体が、前記支持基板及び前記圧電層の間に設けられた支持体をさらに含む、請求項1~27に記載の弾性波装置。
  31.  前記支持部材が、前記支持基板及び前記圧電層の間に設けられている中間層を含む、請求項1~30のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  32.  前記支持部材が、前記支持基板及び前記圧電層の間に設けられている中間層を含み、
     前記第1空洞部の少なくとも一部が前記中間層に設けられている、請求項1~29のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  33.  前記圧電層が、タンタル酸リチウム層またはニオブ酸リチウム層である、請求項1~32のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  34.  前記機能電極が、対向する第1,第2のバスバーと、前記第1のバスバーに接続された第1の電極指と、前記第2のバスバーに接続された第2の電極指と、を有する、請求項1~33のいずれか1項に記載の弾性波装置。
  35.  前記機能電極は、前記第1の電極指と、前記第2の電極指とをそれぞれ複数本有するIDT電極である、請求項34に記載の弾性波装置。
  36.  板波を利用可能に構成されている、請求項35に記載の弾性波装置。
  37.  厚み滑りモードのバルク波を利用可能に構成されている、請求項34または35に記載の弾性波装置。
  38.  前記圧電層の厚みをd、隣り合う前記第1,第2の電極指同士の中心間距離をpとした場合、d/pが0.5以下である、請求項34または35に記載の弾性波装置。
  39.  d/pが0.24以下である、請求項38に記載の弾性波装置。
  40.  隣り合う前記第1,第2の電極指同士が対向する方向から見たときに、隣り合う前記第1,第2の電極指同士が重なり合う領域が励振領域であり、前記励振領域に対する、前記複数の電極指のメタライゼーション比をMRとしたときに、MR≦1.75(d/p)+0.075を満たす、請求項38または39に記載の弾性波装置。
  41.  前記圧電層が、タンタル酸リチウム層またはニオブ酸リチウム層であり、
     前記圧電層を構成しているニオブ酸リチウムまたはタンタル酸リチウムのオイラー角(φ,θ,ψ)が、以下の式(1)、式(2)または式(3)の範囲にある、請求項37~40のいずれか1項に記載の弾性波装置。
     (0°±10°,0°~20°,任意のψ)  …式(1)
     (0°±10°,20°~80°,0°~60°(1-(θ-50)/900)1/2) または (0°±10°,20°~80°,[180°-60°(1-(θ-50)/900)1/2]~180°)  …式(2)
     (0°±10°,[180°-30°(1-(ψ-90)/8100)1/2]~180°,任意のψ)  …式(3)
  42.  前記圧電層が、対向し合う第1の主面及び第2の主面を有し、
     前記機能電極が、前記圧電層の前記第1の主面に設けられている上部電極と、前記第2の主面に設けられている下部電極と、を有し、前記上部電極及び前記下部電極が、前記圧電層を挟み互いに対向している、請求項1~33のいずれか1項に記載の弾性波装置。
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