WO2022163820A1 - シールドガス噴出装置、及び加工装置 - Google Patents

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gas ejection
outer shield
axis
shielding gas
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由尚 小松
善仁 藤田
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日本電産マシンツール株式会社
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    • B23K9/32Accessories
    • B23K9/325Devices for supplying or evacuating shielding gas
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05BSPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
    • B05B7/00Spraying apparatus for discharge of liquids or other fluent materials from two or more sources, e.g. of liquid and air, of powder and gas
    • B05B7/02Spray pistols; Apparatus for discharge
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    • B23K26/1476Features inside the nozzle for feeding the fluid stream through the nozzle
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B33ADDITIVE MANUFACTURING TECHNOLOGY
    • B33YADDITIVE MANUFACTURING, i.e. MANUFACTURING OF THREE-DIMENSIONAL [3-D] OBJECTS BY ADDITIVE DEPOSITION, ADDITIVE AGGLOMERATION OR ADDITIVE LAYERING, e.g. BY 3-D PRINTING, STEREOLITHOGRAPHY OR SELECTIVE LASER SINTERING
    • B33Y30/00Apparatus for additive manufacturing; Details thereof or accessories therefor

Definitions

  • the present disclosure relates to a shield gas jetting device and a processing device.
  • This application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2021-013504 filed in Japan on January 29, 2021, the content of which is incorporated herein.
  • Patent Literature 1 discloses a device for ejecting a shielding gas from the periphery of a laser irradiation portion.
  • a configuration is also known in which a shielding gas is directly blown onto the surface of a base material from an annular nozzle opening to protect the base material.
  • the shielding gas when the shielding gas is blown onto the surface of the base material as described above, the shielding gas forms a layer that spreads outward on the surface of the base material.
  • a circulation vortex is generated by being dragged by the flow of the shielding gas.
  • Such circulating eddies cause fluctuations in the flow of the shielding gas.
  • the layer of shielding gas may be broken locally or intermittently, making it impossible to obtain a sufficient shielding effect.
  • the present disclosure has been made to solve the above problems, and aims to provide a shield gas ejection device and a processing device capable of more stably shielding.
  • the shield gas jetting device includes a nozzle body extending along an axis, and an inner shield gas jetting path formed at the tip of the nozzle body and having an annular opening about the axis.
  • FIG. 1 is a vertical cross-sectional view of a shield gas ejection device according to a first embodiment of the present disclosure
  • FIG. FIG. 4 is a vertical cross-sectional view of a shield gas ejection device according to a second embodiment of the present disclosure
  • FIG. 5 is a diagram showing a modification of the nozzle body according to the second embodiment of the present disclosure, and is a cross-sectional view of the nozzle body viewed from the axial direction.
  • FIG. 5 is an explanatory diagram showing the opening direction of the outer shield gas ejection passage according to the second embodiment of the present disclosure
  • the processing device 200 includes a processing section 90 and a shield gas ejection device 100 .
  • a device appropriately selected from multiple types of devices such as a laser irradiation device for performing layered manufacturing and a welding nozzle for performing overlay welding is applied.
  • the shield gas injection device 100 is used to inject a shield gas against the object (workpiece 80) to be processed by the above-described processing unit 90 to prevent oxidation and surface deterioration of the object.
  • the shield gas ejection device 100 includes a nozzle body 10 , an inner shield gas ejection passage 20 , an intermediate shield gas ejection passage 30 and an outer shield gas ejection passage 40 .
  • the nozzle body 10 has a main portion 11 , a reduced diameter portion 12 , a chamber forming portion 13 and a partition plate 15 .
  • the main portion 11 has a columnar shape extending along the axis O. As shown in FIG. The diameter dimension of the main portion 11 is constant over the entire area in the direction of the axis O. As shown in FIG.
  • the reduced-diameter portion 12 is integrally provided below the main portion 11 (that is, on the side where the workpiece 80 is positioned).
  • the reduced-diameter portion 12 has a tapered shape in which the diameter dimension gradually decreases from the top to the bottom.
  • a chamber forming portion 13 is provided on the outer peripheral side of the reduced diameter portion 12 .
  • the chamber forming portion 13 has an annular shape projecting radially outward from the outer peripheral surface of the reduced diameter portion 12 .
  • a space (chamber 14 ) is formed inside the chamber forming part 13 .
  • This chamber 14 is a space for guiding an outer shield gas, which will be described later.
  • a partition plate 15 is provided in the chamber 14 .
  • the partition plate 15 protrudes upward from an upward facing surface of the inner surface of the chamber 14 and has an annular shape with the axis O as the center.
  • a partition plate 15 divides the chamber 14 into an outer peripheral area and an inner peripheral area.
  • a gap extending in the direction of the axis O is formed between the upper end surface of the partition plate 15 and the inner wall of the chamber 14 .
  • the inner shield gas ejection path 20 extends in the direction of the axis O across the main portion 11 and the reduced diameter portion 12 described above.
  • the inner shield gas ejection path 20 opens onto the lower end surface 11 b of the reduced diameter portion 12 .
  • An opening shape of the inner shield gas ejection path 20 is circular as an example.
  • the cross-sectional area of the inner shield gas ejection path 20 gradually decreases from the top to the bottom.
  • Inner shield gas is supplied to the inner shield gas ejection passage 20 through an inner shield gas supply passage 20 a formed in the upper end surface of the main portion 11 .
  • the above-described processed portion 90 protrudes inside the inner shield gas ejection passage 20 . In other words, various kinds of processing by the processing section 90 are performed through the inner shield gas ejection passages 20 .
  • the intermediate shield gas ejection passage 30 extends over the main portion 11 and the reduced diameter portion 12 and surrounds the inner shield gas ejection passage 20 from the outer peripheral side.
  • the intermediate shielding gas ejection passage 30 is formed over the entire circumferential area around the axis O.
  • the outlet of the intermediate shield gas jetting path 30 is open on the lower end surface 11b. This opening has an annular shape centered on the axis O.
  • the portion of the intermediate shield gas ejection passage 30 that penetrates the main portion 11 extends in the direction of the axis O, while the portion that penetrates the diameter-reduced portion 12 approaches the axis O from the top to the bottom. extends to
  • the intermediate shielding gas ejection passage 30 is supplied with the intermediate shielding gas from an inlet opening on the upper end surface 11a.
  • the outer shield gas ejection path 40 extends downward from the chamber 14 described above.
  • the outer shield gas ejection passage 40 is provided on the outer peripheral side of the intermediate shield gas ejection passage 30 .
  • the outer shield gas jetting path 40 is formed over the entire circumference with the axis O as the center.
  • the outer shield gas ejection path 40 extends in a direction closer to the axis O from above to below.
  • the outlet of the outer shield gas ejection path 40 is located above the lower end surface 11b.
  • Outer shield gas guided from the chamber 14 flows through the outer shield gas ejection path 40 .
  • This outer shield gas is supplied to the chamber 14 through an outer shield gas supply path 40 a formed in the side surface 13 a of the chamber forming portion 13 .
  • the outer shield gas supply path 40a is provided only at one place in the circumferential direction. It is also possible to provide the outer shield gas supply passages 40a at a plurality of locations in the circumferential direction at intervals.
  • the outer shield gas supplied from the outer shield gas supply path 40 a collides with the partition plate 15 and diffuses over the entire circumferential direction. This makes it possible to jet the outer shield gas with a uniform flow rate distribution in the circumferential direction.
  • the flow rates and pressures are adjusted so that the flow velocity decreases in the order of the inner shield gas, the outer shield gas, and the intermediate shield gas.
  • the inner shield gas, the outer shield gas, and the intermediate shield gas may be supplied from the same supply source and then the flow rates may be varied as described above using various valves or the like, or the flow rates may be varied from different supply sources. Different gases may be supplied respectively.
  • the shield gas ejection apparatus 100 is driven to form a shield area on the surface of the workpiece 80 .
  • the work 80 is processed in various ways by driving the processing unit 90 .
  • the intermediate shield gas ejection passage 30 is provided between the inner shield gas ejection passage 20 and the outer shield gas ejection passage 40 .
  • the intermediate shielding gas By ejecting the intermediate shielding gas, the entrained flow that causes the circulation vortex described above flows out to the surroundings along with the flow of the intermediate shielding gas. As a result, circulation vortices are less likely to be formed. This can reduce the possibility that the flow of the shielding gas will fluctuate. As a result, breakage of the shield by the shield gas can be avoided. Therefore, it is possible to perform the processing work more stably.
  • the flow velocity of the intermediate shield gas is smaller than the flow velocity of the outer shield gas and the inner shield gas. Therefore, it is possible to reduce the possibility that the intermediate shield gas obstructs the original flow of the outer shield gas and the inner shield gas. As a result, it is possible to perform the processing work more stably.
  • the intermediate shield gas ejection passage 30 and the outer shield gas ejection passage 40 are arranged in a direction approaching the axis O from above (upstream side) to below (downstream side). It is configured to eject gas.
  • the intermediate shield gas and the outer shield gas can form a more strongly shielded space in the region on the workpiece 80 including the axis O. As shown in FIG.
  • the first embodiment of the present disclosure has been described above. It should be noted that various changes and modifications can be made to the above configuration without departing from the gist of the present disclosure.
  • the shield gas ejection device 100 when applying the shield gas ejection device 100 to the layered manufacturing apparatus enumerated as an example of the processing unit 90 in the first embodiment, between the inner shield gas ejection path 20 and the intermediate shield gas ejection path 30, It is possible to form a supply path for supplying powder as a material for layered manufacturing.
  • a perforated plate can also be used as the partition plate 15 described above. Also in this case, the outer shield gas supplied from the outer shield gas supply path 40a can be diffused in the circumferential direction, and the outer shield gas can be ejected with a uniform flow rate distribution.
  • a vane 18 is provided in the middle position of the outer shield gas ejection path 40 .
  • the vanes 18 extend from one side to the other side in the circumferential direction from top to bottom.
  • the vanes 18 are arranged in a plurality in the circumferential direction at intervals.
  • the shielding performance can be improved with a simple structure only by providing the plurality of vanes 18 in the outer shield gas ejection path 40 . As a result, it is possible to suppress an increase in costs related to manufacturing and maintenance of the apparatus.
  • the outer shield gas supply path 40a (supply path) may be configured to extend in a direction with a circumferential component with respect to the axis O.
  • the outer shield gas can be jetted so as to swirl about the axis O.
  • FIG. 3 shows a configuration in which the outer shield gas supply path 40a is provided only at one place in the circumferential direction.
  • the outer shield gas jetting path 40 so as to extend from one side to the other side in the circumferential direction as it goes from the upstream side to the downstream side. More specifically, it is possible to employ a configuration in which a plurality of guide plates 19 are provided at intervals in the circumferential direction at the outlet of the outer shield gas ejection path 40 . These guide plates 19 extend from one side to the other in the circumferential direction from the upstream side to the downstream side. With this configuration as well, it is possible to jet the outer shield gas so as to swirl around the axis O. As shown in FIG.
  • a shield gas ejection device 100 includes a nozzle body 10 extending along an axis O, and an inner shield gas ejection passage 20 formed inside the nozzle body 10 and opening on the axis O. an outer shield gas ejection passage 40 surrounding the inner shield gas ejection passage 20; and an intermediate shield gas ejection passage 30 provided between the inner shield gas ejection passage 20 and the outer shield gas ejection passage 40. , and the flow velocity of the intermediate shield gas ejected from the intermediate shield gas ejection passage 30 is the same as that of the inner shield gas ejected from the inner shield gas ejection passage 20 and the outer shield gas ejected from the outer shield gas ejection passage 40. lower than the current velocity.
  • the intermediate shield gas ejection passage 30 is provided between the inner shield gas ejection passage 20 and the outer shield gas ejection passage 40 .
  • the entrained flow that causes the circulation vortex described above rides on the flow of the intermediate shielding gas and diffuses to the surroundings. As a result, circulation vortices are less likely to be formed. This can reduce the possibility that the flow of the shielding gas will fluctuate.
  • the intermediate shield gas ejection passage 30 and the outer shield gas ejection passage 40 are arranged in a direction approaching the axis O from the upstream side toward the downstream side. It is configured to eject the intermediate shield gas and the outer shield gas.
  • the outer shield gas ejection path 40 ejects the outer shield gas so as to revolve about the axis O. As shown in FIG.
  • the outer shield gas revolves around the axis O, the flow direction is limited when the outer shield gas collides with the object, and the flow field is stabilized. Therefore, fluctuations in the flow of the outer shield gas from the space on the inner peripheral side to the outside are reduced. As a result, the flow back from the outside to the space on the inner peripheral side is reduced, and the shielding performance can be further improved.
  • the shield gas ejection device 100 further includes a plurality of vanes 18 arranged in the middle of the outer shield gas ejection passage 40 and arranged in the circumferential direction of the axis O, and the vanes 18 extends from one side to the other side in the circumferential direction from the upstream side to the downstream side, thereby ejecting the outer shield gas so as to swirl around the axis O. As shown in FIG.
  • the shield gas ejection device 100 includes a chamber 14 provided in the nozzle body 10, into which the outer shield gas is introduced, and a supply flow for supplying the outer shield gas to the chamber 14.
  • the supply flow path 40a extends in a direction with a circumferential component with respect to the axis O, thereby ejecting the outer shield gas so as to swirl around the axis O. As shown in FIG.
  • the shielding performance can be improved with a simple structure only by extending the supply channel 40a in the direction accompanied by the circumferential component.
  • the outer shielding gas ejection passage 40 extends from one circumferential side to the other side in the direction from the upstream side to the downstream side.
  • the gas is jetted so as to swirl around the axis O. As shown in FIG.
  • the shielding performance is improved with a simple structure only by making the extending direction of the outer shield gas ejection path 40 from one side to the other side in the circumferential direction from the upstream side to the downstream side.
  • a processing apparatus 200 includes a shield gas jetting device 100 and a processing section 90 that processes a work via the inner shield gas jetting path 20 .

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Abstract

シールドガス噴出装置は、軸線に沿って延びるノズル本体と、ノズル本体の内部に形成され、軸線上に開口するインナーシールドガス噴出路と、インナーシールドガス噴出路を周囲から囲うアウターシールドガス噴出路と、インナーシールドガス噴出路とアウターシールドガス噴出路との間に設けられた中間シールドガス噴出路と、を備え、中間シールドガス噴出路から噴出する中間シールドガスの流速は、インナーシールドガス噴出路から噴出するインナーシールドガス、及びアウターシールドガス噴出路から噴出するアウターシールドガスの流速よりも低い。

Description

シールドガス噴出装置、及び加工装置
 本開示は、シールドガス噴出装置、及び加工装置に関する。
 本願は、2021年1月29日に日本に出願された特願2021-013504に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。
 例えば積層造形装置や肉盛溶接装置を含む加工装置では、母材(ワーク)が空気に触れることで生じる酸化を防ぐ必要がある。このため、これら加工装置には、シールドガスを母材表面に供給する機構が設けられている。この種の機構として下記特許文献1には、レーザー照射部の周囲からシールドガスを噴出する装置が開示されている。また、環状のノズル開口からシールドガスを母材の表面に直接吹きかけて当該母材を保護する構成も知られている。
特開2015-142932号公報
 ここで、上記のように母材の表面にシールドガスを吹きかけると、当該シールドガスは母材表面で外側に広がるように流れる層を形成する。一方で、この層の内側ではシールドガスの流れに引きずられて循環渦が発生する。このような循環渦によってシールドガスの流れに変動が生じてしまう。その結果、シールドガスの層が局所的、又は間欠的に破れ、十分にシールド効果を得られなくなる虞がある。
 本開示は上記課題を解決するためになされたものであって、より安定的にシールドを行うことが可能なシールドガス噴出装置、及び加工装置を提供することを目的とする。
 上記課題を解決するために、本開示に係るシールドガス噴出装置は、軸線に沿って延びるノズル本体と、該ノズル本体の先端に形成され、前記軸線を中心として環状に開口するインナーシールドガス噴出路と、該インナーシールドガス噴出路を周囲から囲うアウターシールドガス噴出路と、前記インナーシールドガス噴出路と前記アウターシールドガス噴出路との間に設けられた中間シールドガス噴出路と、を備え、前記中間シールドガス噴出路から噴出する中間シールドガスの流速は、前記インナーシールドガス噴出路から噴出するインナーシールドガス、及び前記アウターシールドガス噴出路から噴出するアウターシールドガスの流速よりも低い。
 本開示によれば、より安定的にシールドを行うことが可能なシールドガス噴出装置、及び加工装置を提供することができる。
本開示の第一実施形態に係るシールドガス噴出装置の縦断面図である。 本開示の第二実施形態に係るシールドガス噴出装置の縦断面図である。 本開示の第二実施形態に係るノズル本体の変形例を示す図であって、ノズル本体を軸線方向から見た断面図である。 本開示の第二実施形態に係るアウターシールドガス噴出路の開口方向を示す説明図である。
<第一実施形態>
(加工装置の構成)
 以下、本開示の第一実施形態に係る加工装置200、及びシールドガス噴出装置100について、図1を参照して説明する。加工装置200は、加工部90と、シールドガス噴出装置100と、を備えている。
 加工部90としては、積層造形を行うためのレーザー照射装置や、肉盛溶接を行うための溶接ノズル等、複数種類の装置の中から適宜選択したものが適用される。
(シールドガス噴出装置の構成)
 シールドガス噴出装置100は、上述の加工部90による加工対象物(ワーク80)に対してシールドガスを噴射して当該対象物に酸化や表面劣化が生じることを防ぐために用いられる。シールドガス噴出装置100は、ノズル本体10と、インナーシールドガス噴出路20と、中間シールドガス噴出路30と、アウターシールドガス噴出路40と、を備えている。
 ノズル本体10は、主部11と、縮径部12と、チャンバー形成部13と、仕切板15と、を有している。主部11は、軸線Oに沿って延びる円柱状をなしている。主部11の径寸法は軸線O方向の全域にわたって一定である。縮径部12は、主部11の下方(つまり、ワーク80が位置する側)に一体に設けられている。縮径部12は、上方から下方に向かうに従って径寸法が次第に縮小するテーパ状をなしている。
 縮径部12の外周側には、チャンバー形成部13が設けられている。チャンバー形成部13は、縮径部12の外周面から径方向外側に張り出す円環状をなしている。チャンバー形成部13の内部には空間(チャンバー14)が形成されている。このチャンバー14は、後述するアウターシールドガスを導くための空間である。チャンバー14内には、仕切板15が設けられている。仕切板15は、チャンバー14の内面のうち、上方を向く面から上方に向かって突出するとともに、軸線Oを中心として環状をなしている。仕切板15によって、チャンバー14は外周側の領域と内周側の領域とに区画されている。また、仕切板15の上端面とチャンバー14の内壁との間には軸線O方向に広がる隙間が形成されている。
 インナーシールドガス噴出路20は、上記した主部11と縮径部12とにわたって軸線O方向に延びている。インナーシールドガス噴出路20は、縮径部12の下端面11b上に開口している。インナーシールドガス噴出路20の開口形状は一例として円形である。また、インナーシールドガス噴出路20は、上方から下方に向かうに従って流路断面積が次第に縮小している。このインナーシールドガス噴出路20には、主部11の上端面に形成されたインナーシールドガス供給路20aを通じてインナーシールドガスが供給される。また、上述した加工部90は、インナーシールドガス噴出路20の内部に突出している。つまり、加工部90による各種の加工はこのインナーシールドガス噴出路20を介して行われる。
 中間シールドガス噴出路30は、主部11と縮径部12とにわたって延びるとともに、インナーシールドガス噴出路20を外周側から囲っている。つまり、中間シールドガス噴出路30は、軸線Oを中心として周方向の全域に形成されている。中間シールドガス噴出路30の出口は下端面11b上に開口している。この開口は軸線Oを中心とする円環状である。また、中間シールドガス噴出路30のうち、主部11を貫通する部分は軸線O方向に延びている一方で、縮径部12を貫通する部分は上方から下方に向かうに従って軸線Oに近接する方向に延びている。中間シールドガス噴出路30には、上端面11a上に開口する入口から中間シールドガスが供給される。
 アウターシールドガス噴出路40は、上述したチャンバー14から下方に向かって延びている。つまり、アウターシールドガス噴出路40は、中間シールドガス噴出路30のさらに外周側に設けられている。アウターシールドガス噴出路40は、軸線Oを中心として周方向の全域に形成されている。アウターシールドガス噴出路40は、上方から下方に向かうに従って軸線Oに近接する方向に延びている。また、アウターシールドガス噴出路40の出口は、下端面11bよりも上方に位置している。アウターシールドガス噴出路40には、チャンバー14から導かれたアウターシールドガスが流通する。チャンバー14には、チャンバー形成部13の側面13aに形成されたアウターシールドガス供給路40aを通じてこのアウターシールドガスが供給される。アウターシールドガス供給路40aは一例として周方向における一か所のみに設けられている。なお、アウターシールドガス供給路40aを周方向の複数個所に間隔をあけて設けることも可能である。アウターシールドガス供給路40aから供給されたアウターシールドガスは、仕切板15に衝突することで周方向の全域に拡散する。これにより、周方向における均一な流量分布のもとで当該アウターシールドガスを噴出させることが可能とされている。
 以上のように構成されたシールドガス噴出装置100では、インナーシールドガス、アウターシールドガス、中間シールドガスの順で流速が小さくなるようにその流量や圧力が調整されている。なお、これらインナーシールドガス、アウターシールドガス、中間シールドガスを同一の供給源から供給した上で各種のバルブ等を用いて上記のように流速を違えてもよいし、互いに異なる供給源から流速の異なるガスをそれぞれ供給してもよい。
(作用効果)
 次に、上記の加工装置200、及びシールドガス噴出装置100の動作について説明する。加工装置200を動作させるに当たってはまずシールドガス噴出装置100を駆動してワーク80の表面にシールド領域を形成する。次いで、加工部90を駆動することでワーク80に各種の加工を施す。
 ここで、仮にワーク80の表面にインナーシールドガス、及びアウターシールドガスのみを吹きかけると、これらシールドガスはワーク80の表面で外側に広がるように流れる層を形成する(図1の実線矢印)。一方で、この層の内側ではシールドガスの流れに引きずられて循環渦が発生する(図1の破線矢印)。このような循環渦によってシールドガスの流れに変動が生じてしまう虞がある。流れに変動が生じると、局所的にシールドが破られ、外部の空気がシールドガスの層の内側に流入してしまう。その結果、ワーク80に酸化や表面劣化を生じる可能性がある。
 しかしながら、上記構成では、インナーシールドガス噴出路20とアウターシールドガス噴出路40との間に中間シールドガス噴出路30が設けられている。この中間シールドガスが噴出されることによって上記の循環渦の原因となる連行流が中間シールドガスの流れに乗って周囲に流出する。その結果、循環渦が形成されにくくなる。これにより、シールドガスの流れに変動が生じる可能性を低減することができる。その結果、シールドガスによるシールドが破れてしまうことを回避することができる。したがって、より安定的に加工作業を行うことが可能となる。
 また、中間シールドガスの流速は、アウターシールドガスやインナーシールドガスの流速よりも小さい。したがって、中間シールドガスによってこれらアウターシールドガスやインナーシールドガスの本来の流れが阻害されてしまう可能性を低減することもできる。これにより、さらに安定的に加工作業を行うことができる。
 さらに、上記構成では、中間シールドガス噴出路30、及びアウターシールドガス噴出路40は、上方(上流側)から下方(下流側)に向かうに従って軸線Oに近接する方向に中間シールドガス、及びアウターシールドガスを噴出するように構成されている。これにより、中間シールドガス、及びアウターシールドガスによって、軸線Oを含むワーク80上の領域に、より強固にシールドされた空間を形成することができる。
 以上、本開示の第一実施形態について説明した。なお、本開示の要旨を逸脱しない限りにおいて、上記の構成に種々の変更や改修を施すことが可能である。
 例えば、上記第一実施形態で加工部90の一例として列挙した積層造形装置にシールドガス噴出装置100を適用する場合には、インナーシールドガス噴出路20と中間シールドガス噴出路30との間に、積層造形の材料となる粉末を供給する供給路を形成することが可能である。
 また、上述した仕切板15として、多孔板を用いることも可能である。この場合も、アウターシールドガス供給路40aから供給されたアウターシールドガスを周方向に拡散させ、均一な流量分布のもとで当該アウターシールドガスを噴出させることが可能となる。
<第二実施形態>
 続いて、本開示の第二実施形態について、図2を参照して説明する。なお、上記第一実施形態と同様の構成については同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。同図に示すように、本実施形態では、アウターシールドガス噴出路40の中途位置にベーン18が設けられている。ベーン18は、上方から下方に向かうに従って周方向の一方側から他方側に向かうように延びている。また、ベーン18は、周方向に間隔をあけて複数配列されている。これらベーン18が設けられていることによって、アウターシールドガス噴出路40は、アウターシールドガスを軸線Oを中心として旋回するように噴出させることが可能とされている。
 上記構成によれば、アウターシールドガスが軸線Oを中心として旋回していることから、当該アウターシールドガスがワーク80に衝突した際の流れ方向が限定され、流れ場が安定化する。このため、アウターシールドガスの内周側の空間から外部に向かう流れの変動量が低減する。その結果、外部から上記内周側の空間に逆流する流れが低減され、ワーク80表面におけるシールド性能をさらに向上させることができる。その結果、加工作業をより安定的に行うことが可能となる。また、上記構成によれば、アウターシールドガス噴出路40に複数のベーン18を設けることのみによって、簡素な構造のもとシールド性能を向上させることができる。これにより、装置の製造やメンテナンスに係るコストの上昇を抑えることができる。
 以上、本開示の第二実施形態について説明した。なお、本開示の要旨を逸脱しない限りにおいて上記の構成に種々の変更や改修を施すことが可能である。例えば、図3に示すように、アウターシールドガス供給路40a(供給流路)を、軸線Oに対する周方向成分を伴う方向に延びるように構成することも可能である。この場合も、アウターシールドガスを軸線Oを中心として旋回するように噴出させることが可能である。なお、図3の例では周方向における一か所のみにアウターシールドガス供給路40aを設けた構成を示している。しかしながら、周方向における複数個所にアウターシールドガス供給路40aを設けることも可能である。
 また、図4に示すように、アウターシールドガス噴出路40が、上流側から下流側に向かうに従って周方向一方側から他方側に向かうように延びるように構成することも可能である。より具体的には、アウターシールドガス噴出路40の出口に周方向に間隔をあけて複数の案内板19が設けられている構成を採ることが可能である。これら案内板19は、上流側から下流側に向かうに従って周方向一方側から他方側に向かうように延びている。この構成によっても、アウターシールドガスを軸線Oを中心として旋回するように噴出させることが可能である。
<付記>
 各実施形態に記載のシールドガス噴出装置100は、例えば以下のように把握される。
(1)第1の態様に係るシールドガス噴出装置100は、軸線Oに沿って延びるノズル本体10と、該ノズル本体10の内部に形成され、前記軸線O上に開口するインナーシールドガス噴出路20と、該インナーシールドガス噴出路20を周囲から囲うアウターシールドガス噴出路40と、前記インナーシールドガス噴出路20と前記アウターシールドガス噴出路40との間に設けられた中間シールドガス噴出路30と、を備え、前記中間シールドガス噴出路30から噴出する中間シールドガスの流速は、前記インナーシールドガス噴出路20から噴出するインナーシールドガス、及び前記アウターシールドガス噴出路40から噴出するアウターシールドガスの流速よりも低い。
 ここで、対象物の表面にインナーシールドガス、及びアウターシールドガスのみを吹きかけると、これらシールドガスは対象物の表面で外側に広がるように流れる層を形成する。一方で、この層の内側ではシールドガスの流れに引きずられて循環渦が発生する。このような循環渦によってシールドガスの流れに変動が生じてしまう。しかしながら、上記構成では、インナーシールドガス噴出路20とアウターシールドガス噴出路40との間に中間シールドガス噴出路30が設けられている。この中間シールドガスが噴出されることによって上記の循環渦の原因となる連行流が中間シールドガスの流れに乗って周囲に拡散する。その結果、循環渦が形成されにくくなる。これにより、シールドガスの流れに変動が生じる可能性を低減することができる。
(2)第2の態様に係るシールドガス噴出装置100では、前記中間シールドガス噴出路30、及び前記アウターシールドガス噴出路40は、上流側から下流側に向かうに従って前記軸線Oに近接する方向に前記中間シールドガス、及び前記アウターシールドガスを噴出するように構成されている。
 上記構成によれば、中間シールドガス、及びアウターシールドガスによって、軸線Oを含む領域に、より強固にシールドされた空間を形成することができる。
(3)第3の態様に係るシールドガス噴出装置100では、前記アウターシールドガス噴出路40は、前記アウターシールドガスを前記軸線Oを中心として旋回するように噴出させる。
 上記構成によれば、アウターシールドガスが軸線Oを中心として旋回していることから、当該アウターシールドガスが対象物に衝突した際の流れ方向が限定され、流れ場が安定化する。このため、アウターシールドガスの内周側の空間から外部に向かう流れの変動が低減する。その結果、外部から上記内周側の空間に逆流する流れが低減され、シールド性能をさらに向上させることができる。
(4)第4の態様に係るシールドガス噴出装置100は、前記アウターシールドガス噴出路40の中途に設けられ、前記軸線Oの周方向に配列された複数のベーン18をさらに備え、該ベーン18は上流側から下流側に向かうに従って周方向の一方側から他方側に向かって延びることで前記アウターシールドガスを前記軸線Oを中心として旋回するように噴出させる。
 上記構成によれば、アウターシールドガス噴出路40に複数のベーン18を設けることのみによって、簡素な構造のもとシールド性能を向上させることができる。
(5)第5の態様に係るシールドガス噴出装置100は、前記ノズル本体10内に設けられ、前記アウターシールドガスが導入されるチャンバー14と、該チャンバー14に前記アウターシールドガスを供給する供給流路40aと、をさらに備え、前記供給流路40aは、前記軸線Oに対する周方向成分を伴う方向に延びることで前記アウターシールドガスを前記軸線Oを中心として旋回するように噴出させる。
 上記構成によれば、供給流路40aを周方向成分を伴う方向に延ばすことのみによって、簡素な構造のもとシールド性能を向上させることができる。
(6)第6の態様に係るシールドガス噴出装置100では、前記アウターシールドガス噴出路40は、上流側から下流側に向かうに従って周方向一方側から他方側に向かうように延びることで前記アウターシールドガスを前記軸線Oを中心として旋回するように噴出させる。
 上記構成によれば、アウターシールドガス噴出路40の延びる方向を上流側から下流側に向かうに従って周方向一方側から他方側に向かう方向とすることのみによって、簡素な構造のもとシールド性能を向上させることができる。
(7)第7の態様に係る加工装置200は、シールドガス噴出装置100と、前記インナーシールドガス噴出路20を介してワークに加工を行う加工部90と、を備える。
 上記構成によれば、より高いシールド性能のもと、安定してワークに加工を行うことができる。
100 シールドガス噴出装置
200 加工装置
10 ノズル本体
11 主部
11a 上端面
11b 下端面
12 縮径部
13 チャンバー形成部
13a 側面
14 チャンバー
15 仕切板
18 ベーン
19 案内板
20 インナーシールドガス噴出路
20a インナーシールドガス供給路
30 中間シールドガス噴出路
40 アウターシールドガス噴出路
40a アウターシールドガス供給路
80 ワーク
90 加工部
O 軸線

Claims (7)

  1.  軸線に沿って延びるノズル本体と、
     該ノズル本体の内部に形成され、前記軸線上に開口するインナーシールドガス噴出路と、
     該インナーシールドガス噴出路を周囲から囲うアウターシールドガス噴出路と、
     前記インナーシールドガス噴出路と前記アウターシールドガス噴出路との間に設けられた中間シールドガス噴出路と、
    を備え、
     前記中間シールドガス噴出路から噴出する中間シールドガスの流速は、前記インナーシールドガス噴出路から噴出するインナーシールドガス、及び前記アウターシールドガス噴出路から噴出するアウターシールドガスの流速よりも低いシールドガス噴出装置。
  2.  前記中間シールドガス噴出路、及び前記アウターシールドガス噴出路は、上流側から下流側に向かうに従って前記軸線に近接する方向に前記中間シールドガス、及び前記アウターシールドガスを噴出するように構成されている請求項1に記載のシールドガス噴出装置。
  3.  前記アウターシールドガス噴出路は、前記アウターシールドガスを前記軸線を中心として旋回するように噴出させる請求項1又は2に記載のシールドガス噴出装置。
  4.  前記アウターシールドガス噴出路の中途に設けられ、前記軸線の周方向に配列された複数のベーンをさらに備え、該ベーンは上流側から下流側に向かうに従って周方向の一方側から他方側に向かって延びることで前記アウターシールドガスを前記軸線を中心として旋回するように噴出させる請求項3に記載のシールドガス噴出装置。
  5.  前記ノズル本体内に設けられ、前記アウターシールドガスが導入されるチャンバーと、
     該チャンバーに前記アウターシールドガスを供給する供給流路と、
    をさらに備え、
     前記供給流路は、前記軸線に対する周方向成分を伴う方向に延びることで前記アウターシールドガスを前記軸線を中心として旋回するように噴出させる請求項3に記載のシールドガス噴出装置。
  6.  前記アウターシールドガス噴出路は、上流側から下流側に向かうに従って周方向一方側から他方側に向かうように延びることで前記アウターシールドガスを前記軸線を中心として旋回するように噴出させる請求項3に記載のシールドガス噴出装置。
  7.  請求項1から6のいずれか一項に記載のシールドガス噴出装置と、
     前記インナーシールドガス噴出路を介してワークに加工を行う加工部と、
    を備える加工装置。
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