WO2021217725A1 - 显示面板检查方法、装置及电子设备 - Google Patents

显示面板检查方法、装置及电子设备 Download PDF

Info

Publication number
WO2021217725A1
WO2021217725A1 PCT/CN2020/089995 CN2020089995W WO2021217725A1 WO 2021217725 A1 WO2021217725 A1 WO 2021217725A1 CN 2020089995 W CN2020089995 W CN 2020089995W WO 2021217725 A1 WO2021217725 A1 WO 2021217725A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
design
display panel
strategy
design strategy
tft substrate
Prior art date
Application number
PCT/CN2020/089995
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
吕波
王醉
Original Assignee
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 filed Critical 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
Priority to US16/969,566 priority Critical patent/US11907626B2/en
Publication of WO2021217725A1 publication Critical patent/WO2021217725A1/zh

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30—Circuit design
    • G06F30/31—Design entry, e.g. editors specifically adapted for circuit design

Definitions

  • This application relates to the field of display technology, in particular to a display panel inspection method, device and electronic equipment.
  • LCD Liquid Crystal Display
  • OLED Organic Light Emitting Display
  • the embodiments of the present application provide a display panel inspection method, device and electronic equipment, which automatically perform a standardized inspection of the display panel design parameters in the display panel design process according to the design strategy, check design errors and prompt, and realize the display panel design process Intelligent inspection avoids manual review and repeated review, reduces the workload of the display panel design phase, and improves the efficiency of designers.
  • the present application provides a display panel inspection method, the method includes:
  • the design strategy including the design strategy of each structure in the display panel and the corresponding relationship between the structures in the display panel;
  • collecting display panel design parameters corresponding to the user's current design operation in the display panel design program includes:
  • the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation include the design parameters of the target operation object, and the corresponding relationship between the target operation object and the currently existing design object.
  • the display panel is a thin film transistor liquid crystal display panel
  • the design strategy includes a TFT substrate design strategy, an upper polarizer design strategy, a CF substrate design strategy, and a lower polarizer design strategy;
  • the TFT substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the TFT substrate, and the corresponding relationship between each layer in the TFT substrate;
  • the CF substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the CF substrate and the corresponding relationship between each layer in the CF substrate.
  • the TFT substrate design strategy includes a test terminal design strategy
  • the test terminal design strategy includes a test terminal size specification
  • the distance between the test terminal and the driver chip is greater than a preset threshold
  • the distance between the test terminal and the TFT substrate The long side is greater than X
  • the short side is greater than Y
  • the distance between the test terminals is greater than Z, where X, Y, and Z are all positive numbers.
  • the TFT substrate design strategy further includes a material and thickness strategy, a line width definition restriction strategy, an alignment error restriction strategy, and a TFT process parameter strategy.
  • the material and thickness strategy includes material and thickness information of at least one of the gate electrode, the gate insulating layer, the semiconductor layer, the doped semiconductor layer, the source/drain metal, and the transparent electrode.
  • the line width definition restriction strategy includes line width definition restriction information of at least one of gate metal lines, semiconductor layer lines, source and drain metal lines, contact holes, and ITO transparent electrodes.
  • the alignment error limitation strategy includes semiconductor layer and gate metal, source and drain metal and gate metal, source and drain metal and semiconductor layer, contact hole and gate metal, contact hole and source Alignment error limitation information of at least one of the drain metal, the transparent electrode and the source and drain metal, the transparent electrode and the gate metal, the transparent electrode, and the contact hole.
  • the process parameter strategy of the TFT may include at least one process parameter among electron mobility, cut-off voltage, and leakage current parasitic capacitance.
  • the display panel is an organic light emitting diode display panel.
  • the method further includes:
  • the new design strategy includes a design strategy for at least one structure in the display panel, or a corresponding relationship between the structures in at least one display panel;
  • the design strategy of the display panel is updated.
  • the present application provides a display panel inspection device, the device includes:
  • the acquisition module is used to collect the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation in the display panel design program when the user performs the design operation in the display panel design program;
  • the obtaining module is used to obtain a preset design strategy of the display panel, the design strategy includes the design strategy of each structure in the display panel, and the corresponding relationship between the structures in the display panel;
  • the checking module is used to check whether the design parameters of the display panel are normal based on the design strategy of the display panel;
  • the prompt module is used for prompting in the display panel design program when the design parameters of the display panel are abnormal.
  • the collection module is specifically used for:
  • the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation include the design parameters of the target operation object, and the corresponding relationship between the target operation object and the currently existing design object.
  • the display panel is a thin film transistor liquid crystal display panel
  • the design strategy includes a TFT substrate design strategy, an upper polarizer design strategy, a CF substrate design strategy, and a lower polarizer design strategy;
  • the TFT substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the TFT substrate, and the corresponding relationship between each layer in the TFT substrate;
  • the CF substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the CF substrate and the corresponding relationship between each layer in the CF substrate.
  • the TFT substrate design strategy includes a test terminal design strategy
  • the test terminal design strategy includes a test terminal size specification
  • the distance between the test terminal and the driver chip is greater than a preset threshold
  • the distance between the test terminal and the TFT substrate The long side is greater than X
  • the short side is greater than Y
  • the distance between the test terminals is greater than Z, where X, Y, and Z are all positive numbers.
  • the TFT substrate design strategy further includes a material and thickness strategy, a line width definition restriction strategy, an alignment error restriction strategy, and a TFT process parameter strategy.
  • the material and thickness strategy includes material and thickness information of at least one of the gate electrode, the gate insulating layer, the semiconductor layer, the doped semiconductor layer, the source/drain metal, and the transparent electrode.
  • the line width definition restriction strategy includes line width definition restriction information of at least one of gate metal lines, semiconductor layer lines, source and drain metal lines, contact holes, and ITO transparent electrodes.
  • the alignment error limitation strategy includes semiconductor layer and gate metal, source and drain metal and gate metal, source and drain metal and semiconductor layer, contact hole and gate metal, contact hole and source Alignment error limitation information of at least one of the drain metal, the transparent electrode and the source and drain metal, the transparent electrode and the gate metal, the transparent electrode, and the contact hole.
  • the process parameter strategy of the TFT may include at least one process parameter among electron mobility, cut-off voltage, and leakage current parasitic capacitance.
  • the display panel is an organic light emitting diode display panel.
  • the device further includes an update module, and the update module is configured to:
  • the new design strategy includes a design strategy for at least one structure in the display panel, or a corresponding relationship between the structures in at least one display panel;
  • the design strategy of the display panel is updated.
  • the present application provides an electronic device, the electronic device includes: one or more processors;
  • One or more application programs wherein the one or more application programs are stored in the memory and configured to be executed by the processor to implement the display panel inspection method.
  • the embodiment of the application can automatically perform a standard check on the display panel design parameters in the display panel design process according to the design strategy in the display panel design stage, check design errors and prompt, realize the intelligent check in the display panel design process, and avoid manual labor. Review and repeated review reduce the workload of the display panel design phase and improve the efficiency of designers.
  • FIG. 1 is a schematic flowchart of an embodiment of a method for inspecting a display panel provided by an embodiment of the present application
  • FIG. 2 is a schematic flowchart of an embodiment of step 101 provided in an embodiment of the present application.
  • FIG. 3 is a schematic flowchart of an embodiment of a display panel inspection device provided by an embodiment of the present application.
  • FIG. 4 is a schematic flowchart of an embodiment of an electronic device provided by an embodiment of the present application.
  • first and second are only used for descriptive purposes, and cannot be understood as indicating or implying relative importance or implicitly indicating the number of indicated technical features. Therefore, the features defined with “first” and “second” may explicitly or implicitly include one or more of the features. In the description of this application, “plurality” means two or more than two, unless specifically defined otherwise.
  • the embodiments of the present application provide a display panel inspection method, device, and electronic equipment, which will be described in detail below.
  • the display panel inspection method in the embodiment of the present application is introduced, and the display panel inspection method is executed in an electronic device.
  • the electronic device may be a desktop terminal or a mobile terminal, and the electronic device may also be a mobile phone, a tablet computer, a notebook computer, and the like.
  • FIG. 1 it is a schematic diagram of an embodiment of a display panel inspection method in an embodiment of the application, and the method includes:
  • the design strategy includes the design strategy of each structure in the display panel and the corresponding relationship between the structures in the display panel.
  • the embodiment of the application can automatically perform a standard check on the display panel design parameters in the display panel design process according to the design strategy in the display panel design stage, check design errors and prompt, realize the intelligent check in the display panel design process, and avoid manual labor. Review and repeated review reduce the workload of the display panel design phase and improve the efficiency of designers.
  • the execution process of the display panel inspection method can be loaded into the display panel design program in the form of a plug-in, or it can be a display panel inspection program independent of the display panel design program, as long as it can be displayed in the display panel design program.
  • the design parameters of the display panel corresponding to the user's current design operation can be collected in the panel design program, and the details are not limited here.
  • the display panel design program may be an existing Electronic Design Automation (EDA) program for display panel design, such as Protel, Altium Designer, PSPICE, OrCAD, and so on.
  • EDA Electronic Design Automation
  • the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation in the display panel design program can be called by means of interface calling.
  • interface calling For example, in the plug-in or display panel inspection program corresponding to the display panel inspection method, A call interface is defined in advance, and the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation are collected in the display panel design program.
  • design operation in the embodiment of the application refers to the design operation in the display panel design program.
  • Each design operation corresponds to an operation object.
  • design operations such as adding data lines and adding terminals correspond to
  • the operation objects are data lines, terminals, etc.
  • the display panel specifications provided by different manufacturers will also be different, but for designers In other words, it is necessary to transform the requirements of customers and manufacturers into objective and quantitative data as the design goal, that is, to transform into designable specifications, that is, design specifications (professional specifications).
  • the preset design strategy of the display panel in the embodiment of the present application is the preset design specification or design specification of the display panel, so that the designer can automatically check design errors that do not conform to the design strategy when designing.
  • the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation in the display panel design program are collected, and you can It further includes:
  • the design parameters to be collected can be pre-designed, for example, the A operation object corresponding to the current design operation, and the preset design parameters B to be collected are collected at this time.
  • the preset design parameters of the pad can be collected in the user's current design operation of adding a pad.
  • the current design operation is the first operation of the display panel design process, there may be no existing design objects.
  • the data collected in step 202 may be empty, that is, no corresponding data can be collected. If the current design operation is not The first operation of the display panel design process.
  • the target operation object corresponding to the current design operation generally needs to meet the preset correspondence relationship with the existing design object. At this time, the corresponding relationship between the target operation object and the currently existing design object can be collected.
  • the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation include the design parameters of the target operation object, and the corresponding relationship between the target operation object and the currently existing design object.
  • the display panels in the embodiments of the present application may be various types of display panels, such as liquid crystal display (LCD) panels, organic light-emitting diode (Organic Light-Emitting Diode, OLED) display panels, etc., specifically , Such as Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display (TFT-LCD) and so on.
  • LCD liquid crystal display
  • OLED Organic Light-Emitting Diode
  • TFT-LCD Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display
  • the design strategy is Including the TFT substrate design strategy, the upper polarizer design strategy, the CF substrate design strategy and the lower polarizer design strategy; at this time, the TFT substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the TFT substrate, and the various layers of the TFT substrate.
  • the corresponding relationship between the CF substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the CF substrate, and the corresponding relationship between each layer in the CF substrate.
  • the TFT substrate design strategy may include a test terminal design strategy, and the test terminal design strategy includes test terminal size specifications, test terminals, and drivers.
  • the chip distance is greater than the preset threshold, the test terminal is greater than X from the long side of the TFT substrate, the short side is greater than Y, and the distance between the test terminals is greater than Z, where X, Y, and Z are all positive numbers.
  • TFT-LCD display panel For the TFT-LCD display panel, it contains a lot of professional knowledge, and naturally involves a lot of professional specifications. These professional specifications are not isolated from each other, and the display panel design is not a simple addition of all specifications. , But to coordinate with each other, clarify the design goals and positioning, in order to ensure the success of the final design of the product.
  • the TFT substrate design strategy may also include a material and thickness strategy, a line width definition restriction strategy, an alignment error restriction strategy, and a TFT process parameter strategy.
  • the material and thickness strategy may include the material and thickness information of at least one of the gate electrode, the gate insulating layer, the semiconductor layer, the doped semiconductor layer, the source/drain metal, and the transparent electrode.
  • the thickness strategy can specifically include the content in Table 1 below. It is understandable that the materials and thickness strategies in Table 1 are only examples. In actual applications, more or less material and thickness information may be included, which is not specifically limited here.
  • the line width definition restriction strategy includes line width definition restriction information of at least one of gate metal lines, semiconductor layer lines, source and drain metal lines, contact holes, and ITO transparent electrodes.
  • the line width definition restriction strategy may specifically include the content in Table 2 below. It is understandable that the line width definition restriction strategy in Table 2 is only an example, and more or less line width definition restriction information may be included in practical applications, which is not specifically limited here.
  • the alignment error limitation strategy includes semiconductor layer and gate metal, source and drain metal and gate metal, source and drain metal and semiconductor layer, contact hole and gate metal, contact hole and Alignment error limitation information of at least one of source and drain metals, transparent electrodes and source and drain metals, transparent electrodes and gate metals, transparent electrodes, and contact holes.
  • the alignment error restriction strategy may specifically include the content in Table 3 below. It is understandable that the alignment error restriction strategy in Table 3 is only an example, and more or less alignment error restriction information may be included in practical applications, which is not specifically limited here.
  • the process parameter strategy of the TFT may include at least one process parameter of electron mobility, cut-off voltage, and leakage current parasitic capacitance.
  • the process parameter strategy of the TFT may include the following table 4 Content, it is understandable that the process parameter strategy of TFT in Table 4 is only an example, and more or less process parameters of TFT may be included in actual application, and the specifics are not limited here.
  • the design concept adopted is "worst-case design", that is, it is designed to be able to be used under extreme conditions, and then other situations no problem.
  • the frame frequency of the picture is 60-75 Hz
  • 75 Hz is used to consider the charging time
  • 60 Hz is used to consider the charge retention time.
  • similar principles are also adopted in the embodiments of this application.
  • Tables 1 to 4 only a single value is listed, which means that the value in the single value is the worst-case design value, which is better than the design value.
  • the direction of TFT meets the design requirements.
  • the electron mobility of TFT in Table 4 the general value is the worst-case design value.
  • the higher the electron mobility of TFT it can indirectly help the display resolution. Therefore, the electron mobility is greater than the general value to meet the design specification.
  • the above-mentioned Tables 1 to 4 are only some examples of strategies in the TFT substrate design strategy. It is understandable that, in addition to the TFT substrate design strategies mentioned above, in the embodiments of the present application, the design of the display panel The strategy can also include any other more TFT substrate design strategies, such as the number of terminals, etc., according to actual needs. It can also include other upper polarizer design strategies, CF substrate design strategies, and lower polarizer design strategies.
  • the upper polarizer design strategy , CF substrate design strategy and lower polarizer design strategy are similar to TFT substrate design strategy, refer to the existing upper polarizer design specifications, CF substrate design rules and lower polarizer design rules and TFT substrate design strategy, and the actual requirements of the product can be
  • the upper polarizer design strategy, the CF substrate design strategy and the lower polarizer design strategy are obtained, which will not be described in detail in the embodiments of this application. Any design strategy based on design specifications can be adopted based on the inventive idea of this application, and the details are not limited here. .
  • design parameters such as the general value of the electron mobility of TFT in Table 4, are set to a larger value of electron mobility to indirectly increase the display resolution and meet the design requirements of higher resolution of the display.
  • the display panel design parameters may include multiple design parameters, when one of the display panel design parameters is abnormal, it means that the display panel design parameters are abnormal and can be prompted in the display panel design program , The way of prompting can be to report an error in the display panel design program for the abnormal design parameters of the specific display panel.
  • the display panel inspection method may further include: acquiring a new design strategy of the display panel, the new design strategy including the design strategy of at least one structure in the display panel, or the design strategy of at least one structure in the display panel. The corresponding relationship; based on the new design strategy, update the design strategy of the display panel. Later, based on the updated display panel design strategy, continue to collect and check the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation in the display panel design program.
  • the embodiment of the present application also provides a display panel inspection device.
  • the display panel inspection device 300 include:
  • the acquisition module 301 is used to collect the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation in the display panel design program when the user performs the design operation in the display panel design program;
  • the obtaining module 302 is configured to obtain a preset design strategy of the display panel, the design strategy includes the design strategy of each structure in the display panel and the corresponding relationship between the structures in the display panel;
  • the checking module 303 is configured to check whether the design parameters of the display panel are normal based on the design strategy of the display panel;
  • the prompt module 304 is used for prompting in the display panel design program when the design parameters of the display panel are abnormal.
  • the display panel inspection device 300 can automatically perform a specification inspection on the display panel design parameters in the display panel design process according to the design strategy in the display panel design stage, check design errors and prompt, and realize the display panel design process Intelligent inspection avoids manual inspection and repeated inspection, reduces the workload of the display panel design stage, and improves the efficiency of designers.
  • the collection module 301 is specifically configured to:
  • the display panel design parameters corresponding to the user's current design operation include the design parameters of the target operation object, and the corresponding relationship between the target operation object and the currently existing design object.
  • the display panel is a thin film transistor liquid crystal display panel
  • the design strategy includes a TFT substrate design strategy, an upper polarizer design strategy, a CF substrate design strategy, and a lower polarizer design strategy;
  • the TFT substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the TFT substrate, and the corresponding relationship between each layer in the TFT substrate;
  • the CF substrate design strategy includes the specification design parameters of each layer in the CF substrate and the corresponding relationship between each layer in the CF substrate.
  • the TFT substrate design strategy includes a test terminal design strategy
  • the test terminal design strategy includes a test terminal size specification
  • the distance between the test terminal and the driver chip is greater than a preset threshold
  • the distance between the test terminal and the TFT substrate The long side is greater than X
  • the short side is greater than Y
  • the distance between the test terminals is greater than Z, where X, Y, and Z are all positive numbers.
  • the TFT substrate design strategy further includes a material and thickness strategy, a line width definition restriction strategy, an alignment error restriction strategy, and a TFT process parameter strategy.
  • the device further includes an update module, and the update module is configured to:
  • the new design strategy includes a design strategy for at least one structure in the display panel, or a corresponding relationship between the structures in at least one display panel;
  • the design strategy of the display panel is updated.
  • An embodiment of the present invention also provides an electronic device that integrates any display panel inspection apparatus provided in the embodiment of the present invention, and the electronic device includes:
  • One or more processors are One or more processors;
  • One or more application programs wherein the one or more application programs are stored in the memory and configured to be executed by the processor to execute the display described in any one of the above display panel inspection method embodiments Steps in the panel inspection method.
  • the embodiment of the present invention also provides an electronic device, which integrates any display panel inspection apparatus provided by the embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 shows a schematic structural diagram of an electronic device involved in an embodiment of the present invention, specifically:
  • the electronic device may include one or more processing core processors 401, one or more computer-readable storage medium memory 402, power supply 403, input unit 404 and other components.
  • processing core processors 401 one or more computer-readable storage medium memory 402, power supply 403, input unit 404 and other components.
  • FIG. 4 does not constitute a limitation on the electronic device, and may include more or fewer components than shown in the figure, or a combination of certain components, or different component arrangements. in:
  • the processor 401 is the control center of the electronic device. It uses various interfaces and lines to connect the various parts of the entire electronic device, runs or executes the software programs and/or modules stored in the memory 402, and calls Data, perform various functions of electronic equipment and process data, so as to monitor the electronic equipment as a whole.
  • the processor 401 may include one or more processing cores; preferably, the processor 401 may integrate an application processor and a modem processor, where the application processor mainly processes the operating system, user interface, application programs, etc. , The modem processor mainly deals with wireless communication. It can be understood that the foregoing modem processor may not be integrated into the processor 401.
  • the memory 402 may be used to store software programs and modules.
  • the processor 401 executes various functional applications and data processing by running the software programs and modules stored in the memory 402.
  • the memory 402 may mainly include a program storage area and a data storage area.
  • the program storage area may store an operating system, an application program required by at least one function (such as a sound playback function, an image playback function, etc.), etc.; Data created by the use of electronic equipment, etc.
  • the memory 402 may include a high-speed random access memory, and may also include a non-volatile memory, such as at least one magnetic disk storage device, a flash memory device, or other volatile solid-state storage devices.
  • the memory 402 may also include a memory controller to provide the processor 401 with access to the memory 402.
  • the electronic device also includes a power supply 403 for supplying power to various components.
  • the power supply 403 may be logically connected to the processor 401 through a power management system, so that functions such as charging, discharging, and power consumption management can be managed through the power management system.
  • the power supply 403 may also include any components such as one or more DC or AC power supplies, a recharging system, a power failure detection circuit, a power converter or inverter, and a power status indicator.
  • the electronic device may further include an input unit 404, which can be used to receive input digital or character information and generate keyboard, mouse, joystick, optical or trackball signal input related to user settings and function control.
  • an input unit 404 which can be used to receive input digital or character information and generate keyboard, mouse, joystick, optical or trackball signal input related to user settings and function control.
  • the electronic device may also include a display unit, etc., which will not be repeated here.
  • the processor 401 in the electronic device loads the executable file corresponding to the process of one or more application programs into the memory 402 according to the following instructions, and the processor 401 runs the executable file stored in the memory 402.
  • the application programs in the memory 402 thus realize various functions, as follows:
  • the design strategy including the design strategy of each structure in the display panel and the corresponding relationship between the structures in the display panel;
  • an embodiment of the present invention provides a computer-readable storage medium, which may include: read only memory (ROM, Read Only Memory), random access memory (RAM, Random Access Memory), magnetic disks or optical disks, etc. .
  • a computer program is stored thereon, and the computer program is loaded by the processor to execute the steps in any display panel inspection method provided by the embodiments of the present invention.
  • the computer program can be loaded by the processor to perform the following steps:
  • the design strategy including the design strategy of each structure in the display panel and the corresponding relationship between the structures in the display panel;
  • each of the above units or structures can be implemented as independent entities, or can be combined arbitrarily, and implemented as the same or several entities.
  • specific implementation of each of the above units or structures please refer to the previous method embodiments. No longer.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

一种显示面板检查方法、装置及电子设备，该方法在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数（101）；获取预置的显示面板的设计策略，设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系（102）；基于显示面板的设计策略，检查显示面板设计参数是否正常（103）；在显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示（104）。

Description

显示面板检查方法、装置及电子设备 技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板检查方法、装置及电子设备。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)及有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Display，OLED)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。
技术问题
通常在显示面板的设计过程中，由于设计规范条款较多，现有技术主要靠人力目测检查设计图纸，需求人力较多，且需要重复多次检查，同时存在漏检风险，任何一个设计错误，都会造成掩膜板报废、良率下降等问题。
技术解决方案
本申请实施例提供一种显示面板检查方法、装置及电子设备，按照设计策略自动对显示面板设计过程中的显示面板设计参数进行规范检查，检查设计错误并提示，实现了显示面板设计过程中的智能检查，避免了人工审查和重复审查，降低了显示面板设计阶段工作量，提升了设计人员工作效率。
为解决上述问题，一方面，本申请提供一种显示面板检查方法，所述方法包括：
在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系；
基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
在本申请一些实施例中，所述在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数，包括：
在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标操作对象的设计参数；
采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系；
所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数，及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
在本申请一些实施例中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略；
所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层之间的对应关系；
所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间的对应关系。
在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端 子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均为正数。
在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。
在本申请一些实施例中，所述材料和厚度策略中包括栅极、栅极绝缘层、半导体层、掺杂半导体层、源漏极金属以及透明电极中至少一种的材料和厚度信息。
在本申请一些实施例中，所述线宽定义限制策略包括栅极金属线、半导体层线、源漏极金属线、接触孔、ITO透明电极中至少一种的线宽定义限制信息。
在本申请一些实施例中，对准误差限制策略中包括半导体层和栅极金属、源漏极金属和栅极金属、源漏极金属和半导体层、接触孔和栅极金属、接触孔和源漏极金属、透明电极和源漏极金属、透明电极和栅极金属、透明电极和接触孔中至少一种的对准误差限制信息。
在本申请一些实施例中，所述TFT的工艺参数策略中可以包括电子迁移率、截止电压、漏电流寄生电容中至少一种工艺参数。
在本申请一些实施例中，所述显示面板为有机发光二极管显示面板。
在本申请一些实施例中，所述方法还包括：
获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系；
基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。
另一方面，本申请提供一种显示面板检查装置，所述装置包括：
采集模块，用于在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
获取模块，用于获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应 关系；
检查模块，用于基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
提示模块，用于在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
在本申请一些实施例中，所述采集模块具体用于：
在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标操作对象的设计参数；
采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系；
所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数，及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
在本申请一些实施例中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略；
所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层之间的对应关系；
所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间的对应关系。
在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均为正数。
在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。
在本申请一些实施例中，所述材料和厚度策略中包括栅极、栅极 绝缘层、半导体层、掺杂半导体层、源漏极金属以及透明电极中至少一种的材料和厚度信息。
在本申请一些实施例中，所述线宽定义限制策略包括栅极金属线、半导体层线、源漏极金属线、接触孔、ITO透明电极中至少一种的线宽定义限制信息。
在本申请一些实施例中，对准误差限制策略中包括半导体层和栅极金属、源漏极金属和栅极金属、源漏极金属和半导体层、接触孔和栅极金属、接触孔和源漏极金属、透明电极和源漏极金属、透明电极和栅极金属、透明电极和接触孔中至少一种的对准误差限制信息。
在本申请一些实施例中，所述TFT的工艺参数策略中可以包括电子迁移率、截止电压、漏电流寄生电容中至少一种工艺参数。
在本申请一些实施例中，所述显示面板为有机发光二极管显示面板。
在本申请一些实施例中，所述装置还包括更新模块，所述更新模块用于：
获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系；
基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。
另一方面，本申请提供一种电子设备，所述电子设备包括：一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现所述的显示面板检查方法。
有益效果
本申请实施例可以在显示面板设计阶段，按照设计策略自动对显示面板设计过程中的显示面板设计参数进行规范检查，检查设计错误并提示，实现了显示面板设计过程中的智能检查，避免了人工审查和 重复审查，降低了显示面板设计阶段工作量，提升了设计人员工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供显示面板检查方法的一个实施例流程示意图；
图2是本申请实施例提供步骤101的一个实施例流程示意图；
图3是本申请实施例提供显示面板检查装置的一个实施例流程示意图；
图4是本申请实施例提供电子设备的一个实施例流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在 本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本申请，给出了以下描述。在以下描述中，为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是，本领域普通技术人员可以认识到，在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实例中，不会对公知的结构和过程进行详细阐述，以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此，本申请并非旨在限于所示的实施例，而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
本申请实施例提供一种显示面板检查方法、装置及电子设备，以下分别进行详细说明。
首先介绍本申请实施例中显示面板检查方法，该显示面板检查方法在电子设备中执行。电子设备可以是台式终端或移动终端，电子设备具体还可以是手机、平板电脑、笔记本电脑等中的一种。
如图1所示，为本申请实施例中显示面板检查方法的一个实施例示意图，该方法包括：
101、在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数。
102、获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系。
103、基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常。
104、在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
本申请实施例可以在显示面板设计阶段，按照设计策略自动对显示面板设计过程中的显示面板设计参数进行规范检查，检查设计错误并提示，实现了显示面板设计过程中的智能检查，避免了人工审查和 重复审查，降低了显示面板设计阶段工作量，提升了设计人员工作效率。
在本申请实施例中，该显示面板检查方法的执行流程可以是以插件的形式加载在显示面板设计程序中，也可以是独立于显示面板设计程序之外的显示面板检查程序，只要能在显示面板设计程序中采集用户当前设计操作对应的显示面板设计参数即可，具体此处不作限定。
其中，显示面板设计程序可以是现有的显示面板设计的电子设计自动化(Electronics Design Automation，EDA)程序，例如Protel、Altium Designer、PSPICE、OrCAD等。
在本申请一些实施方式中，可以通过接口调用的方式调用采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数，例如，可以在显示面板检查方法对应的插件或显示面板检查程序中，预先定义一个调用接口，在显示面板设计程序中采集用户当前设计操作对应的显示面板设计参数。
需要说明的是，本申请实施例的设计操作指的是在显示面板设计程序中进行设计的操作，每次设计操作都对应一个操作对象，例如，增加数据线，增加端子等设计操作，分别对应操作对象为数据线，端子等。
一般来说，显示面板的规格，很难有一个完全的定义，因为产品对于消费者而言更多的是主观的感觉，不同厂商提供的显示面板规格，也会有所差别，但是对设计者而言，需要把客户的要求、厂商的要求转化成客观量化的数据作为设计的目标，也就是要转化成可设计的规格，即设计规格(专业规格)。本申请实施例中预置的显示面板的设计策略，即为预先设置的显示面板的设计规范或设计规格，以便设计人员在设计时，自动检查不符合设计策略的设计错误。
在本申请一些实施例中，如图2所示，上述步骤101中所述在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数，可以进一步包括：
201、在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当 前设计操作对应的目标操作对象的设计参数。
本申请实施例中，对于不同的操作对象类型，可以预先设计好待采集的设计参数，例如，当前设计操作对应的A操作对象，此时采集预设的待采集设计参数B。
在具体实施时，假设某次设计操作为增加了一个端子(pad)，即可采集用户当前增加pad的设计操作中，该pad的预设设计参数，例如pad大小等。
202、采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
若当前设计操作为显示面板设计过程的第一次操作，可能没有已存在的设计对象，此时步骤202中可能采集的是空的，即采集不到任何对应关系的数据，若当前设计操作非显示面板设计过程的第一次操作，此时，当前设计操作对应的目标操作对象，一般与已存在的设计对象，是需要满足预先设定的对应关系的。此时，可以采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
同样以当前设计操作为增加了一个端子(pad)为例，可以采集当前增加的pad距离基板长边值，pad距离基板短边值，pad与其它已存在pad(若已存在其它pad)的间距等设计参数。
此时，所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数，及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
需要说明的是，本申请实施例中显示面板可以是各种类型的显示面板，例如液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)面板、有机发光二极管(OrganicLight-Emitting Diode，OLED)显示面板等，具体的，如薄膜晶体管液晶显示面板(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)等。
在一个具体实施例中，当显示面板为TFT-LCD显示面板时，由于TFT-LCD显示面板中包括TFT基板、上偏光片、CF基板和下偏光片等基本结构，因此，所述设计策略中包括TFT基板设计策略、上偏光片 设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略；此时，所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层之间的对应关系；所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间的对应关系。
在具体实施时，以TFT基板中的测试端子(test pad)为例，所述TFT基板设计策略中可以包括测试端子设计策略，所述测试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试端子距离TFT基板的长边大于X，距离短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均为正数。
下面以TFT-LCD显示面板为例，对显示面板的设计策略进行一下介绍。
对于TFT-LCD显示面板来说，包含很多的专业领域的知识，自然也就涉及很多的专业规格，这些专业规格彼此并不是孤立的，显示面板设计时也并不是所有规格的一个简单的加和，而是要互相协调，明确设计目标及定位，才能保证产品的最终设计成功。
对于TFT-LCD显示面板来说，所述TFT基板设计策略中还可以包括材料和厚度策略，线宽定义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。
在一个具体实施方式中，所述材料和厚度策略中可以包括栅极、栅极绝缘层、半导体层、掺杂半导体层、源漏极金属以及透明电极中至少一种的材料和厚度信息，材料和厚度策略具体可以包括如下表1中的内容。可以理解的是，表1中仅为材料和厚度策略中仅为举例，在实际应用中可以包括更多或更少的材料和厚度信息，具体此处不作限定。
表1
Figure PCTCN2020089995-appb-000001
Figure PCTCN2020089995-appb-000002
在一个具体实施方式中，所述线宽定义限制策略包括栅极金属线、半导体层线、源漏极金属线、接触孔、ITO透明电极中至少一种的线宽定义限制信息。具体的，线宽定义限制策略具体可以包括如下表2中的内容。可以理解的是，表2中仅为线宽定义限制策略中仅为举例，在实际应用中可以包括更多或更少的线宽定义限制信息，具体此处不作限定。
表2
Figure PCTCN2020089995-appb-000003
在一个具体实施方式中，所述对准误差限制策略中包括半导体层和栅极金属、源漏极金属和栅极金属、源漏极金属和半导体层、接触孔和栅极金属、接触孔和源漏极金属、透明电极和源漏极金属、透明电极和栅极金属、透明电极和接触孔中至少一种的对准误差限制信息。具体的，对准误差限制策略具体可以包括如下表3中的内容。可以理解的是，表3中仅为对准误差限制策略中仅为举例，在实际应用中可以包括更多或更少的对准误差限制信息，具体此处不作限定。
表3
Figure PCTCN2020089995-appb-000004
在一个具体实施方式中，所述TFT的工艺参数策略中可以包括电子迁移率、截止电压、漏电流寄生电容中至少一种工艺参数，具体的，TFT的工艺参数策略可以包括如下表4中的内容，可以理解的是，表4中仅为TFT的工艺参数策略中仅为举例，在实际应用中可以包括更多或更少的TFT的工艺参数，具体此处不作限定。
表4
Figure PCTCN2020089995-appb-000005
通常，为了使得设计出来的显示面板在各种情况下都能够满足驱动原理的要求，采用的设计观念是“最坏情况设计”，即在设计时考虑在极限情况下能够使用，那么其他情形就没有问题。比如画面的帧频在60～75Hz，则以75Hz考虑充电时间，而以60Hz考虑电荷保持时间， 这样在两个极限条件下如果能够满足，其它频率下肯定能够满足。因此，在本申请实施例中也采用类似的原则，上述表1～表4中，仅列出单一数值的，表示该单一数值中的值为最坏情况的设计值，相对该设计值为好的方向即满足设计要求，例如表4中的TFT的电子迁移率，该一般值为最坏情况的设计值，一般情况下，TFT的电子迁移率越高，可以间接地帮助了显示器分辨率的提高，因此，电子迁移率大于该一般值即满足设计规范。
需要说明的是，上述表1～表4中仅为TFT基板设计策略中的部分策略举例，可以理解的是，除了上述举例的TFT基板设计策略之外，本申请实施例中，显示面板的设计策略还可以根据实际需要包括任何其他更多的TFT基板设计策略，例如端子数量等，还可以包括其他上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略，其中，上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略与TFT基板设计策略类似，参照现有的上偏光片设计规格、CF基板设计规和下偏光片设计规与TFT基板设计策略，及产品的实际需求可以得到上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略，本申请实施例中不再详细赘述，任何基于设计规范的设计策略都可以基于本申请的发明思想采用，具体此处不作限定。
另外，在实际应用过程中可以针对不同的显示面板，设置不同的显示面板的设计策略，而为了达到显示面板的某一特性的最优，在相关显示面板设计策略上，可以采用设置更有的设计参数，例如表4中，TFT的电子迁移率中一般值，设置为更大的电子迁移率值，以间接提高显示器分辨率，满足显示器更高分辨率的设计要求。
本申请实施例中，在步骤103中基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常之后，若在所述显示面板设计参 数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示，由于所述显示面板设计参数可能包括多个设计参数，因此当所述显示面板设计参数其中一个参数不正常时，即代表所述显示面板设计参数不正常，可以在显示面板设计程序中进行提示，提示的方式，可以是在显示面板设计程序中针对具体显示面板设计参数不正常进行报错。
由于显示面板技术一直在进步，显示面板的设计规范也一直在更新，因此，后续由于制程精进和设计优化等原因，设计规范如果有更新，可以同步更新显示面板的设计策略，具体的，在本申请一些实施例中，所述显示面板检查方法还可以包括：获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系；基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。后面可以基于更新后的显示面板的设计策略，继续集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数，进行检查。
为了更好实施本申请实施例中显示面板检查方法，在显示面板检查方法基础之上，本申请实施例中还提供一种显示面板检查装置，如图3所示，所述显示面板检查装置300包括：
采集模块301，用于在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
获取模块302，用于获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系；
检查模块303，用于基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
提示模块304，用于在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
本申请实施例中显示面板检查装置300可以在显示面板设计阶段，按照设计策略自动对显示面板设计过程中的显示面板设计参数进行 规范检查，检查设计错误并提示，实现了显示面板设计过程中的智能检查，避免了人工审查和重复审查，降低了显示面板设计阶段工作量，提升了设计人员工作效率。
在本申请一些实施例中，所述采集模块301具体用于：
在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标操作对象的设计参数；
采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系；
所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数，及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
在本申请一些实施例中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略；
所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层之间的对应关系；
所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间的对应关系。
在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均为正数。
在本申请一些实施例中，所述TFT基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。
在本申请一些实施例中，所述装置还包括更新模块，所述更新模块用于：
获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中 至少一结构的设计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系；
基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。
本发明实施例还提供一种电子设备，其集成了本发明实施例所提供的任一种显示面板检查装置，所述电子设备包括：
一个或多个处理器；
存储器；以及
一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行上述显示面板检查方法实施例中任一实施例中所述的显示面板检查方法中的步骤。
本发明实施例还提供一种电子设备，其集成了本发明实施例所提供的任一种显示面板检查装置。如图4所示，其示出了本发明实施例所涉及的电子设备的结构示意图，具体来讲：
该电子设备可以包括一个或者一个以上处理核心的处理器401、一个或一个以上计算机可读存储介质的存储器402、电源403和输入单元404等部件。本领域技术人员可以理解，图4中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中：
处理器401是该电子设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或执行存储在存储器402内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器402内的数据，执行电子设备的各种功能和处理数据，从而对电子设备进行整体监控。可选的，处理器401可包括一个或多个处理核心；优选的，处理器401可集成应用处理器和调制解调处理器，其中，应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等，调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调处理器也可以不集成到处理器401中。
存储器402可用于存储软件程序以及模块，处理器401通过运行存储在存储器402的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。存储器402可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等；存储数据区可存储根据电子设备的 使用所创建的数据等。此外，存储器402可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。相应地，存储器402还可以包括存储器控制器，以提供处理器401对存储器402的访问。
电子设备还包括给各个部件供电的电源403，优选的，电源403可以通过电源管理系统与处理器401逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。电源403还可以包括一个或一个以上的直流或交流电源、再充电系统、电源故障检测电路、电源转换器或者逆变器、电源状态指示器等任意组件。
该电子设备还可包括输入单元404，该输入单元404可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与用户设置以及功能控制有关的键盘、鼠标、操作杆、光学或者轨迹球信号输入。
尽管未示出，电子设备还可以包括显示单元等，在此不再赘述。具体在本实施例中，电子设备中的处理器401会按照如下的指令，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的可执行文件加载到存储器402中，并由处理器401来运行存储在存储器402中的应用程序，从而实现各种功能，如下：
在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系；
基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
本领域普通技术人员可以理解，上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤可以通过指令来完成，或通过指令控制相关的硬件来完成，该指令可以存储于一计算机可读存储介质中，并由处理器进行加载和执行。
为此，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，该存储介质可以包括：只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行本发明实施例所提供的任一种显示面板检查方法中的步骤。例如，所述计算机程序被处理器进行加载可以执行如下步骤：
在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系；
基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见上文针对其他实施例的详细描述，此处不再赘述。
具体实施时，以上各个单元或结构可以作为独立的实体来实现，也可以进行任意组合，作为同一或若干个实体来实现，以上各个单元或结构的具体实施可参见前面的方法实施例，在此不再赘述。
以上各个操作的具体实施可参见前面的实施例，在此不再赘述。以上对本申请实施例所提供的一种显示面板检查方法、装置及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (20)

  1. 一种显示面板检查方法，其中，所述方法包括：
    在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
    获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系；
    基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
    在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
  2. 根据权利要求1所述的显示面板检查方法，其中，所述在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数，包括：
    在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标操作对象的设计参数；
    采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系；
    所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数，及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
  3. 根据权利要求1所述的显示面板检查方法，其中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略；
    所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层之间的对应关系；
    所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间的对应关系。
  4. 根据权利要求3所述的显示面板检查方法，其中，所述TFT基 板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均为正数。
  5. 根据权利要求4所述的显示面板检查方法，其中，所述TFT基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。
  6. 根据权利要求5所述的显示面板检查方法，其中，所述材料和厚度策略中包括栅极、栅极绝缘层、半导体层、掺杂半导体层、源漏极金属以及透明电极中至少一种的材料和厚度信息。
  7. 根据权利要求5所述的显示面板检查方法，其中，所述线宽定义限制策略包括栅极金属线、半导体层线、源漏极金属线、接触孔、ITO透明电极中至少一种的线宽定义限制信息。
  8. 根据权利要求5所述的显示面板检查方法，其中，所述对准误差限制策略中包括半导体层和栅极金属、源漏极金属和栅极金属、源漏极金属和半导体层、接触孔和栅极金属、接触孔和源漏极金属、透明电极和源漏极金属、透明电极和栅极金属、透明电极和接触孔中至少一种的对准误差限制信息。
  9. 根据权利要求1所述的显示面板检查方法，其中，所述TFT的工艺参数策略中可以包括电子迁移率、截止电压、漏电流寄生电容中至少一种工艺参数。
  10. 根据权利要求1所述的显示面板检查方法，其中，所述方法还包括：
    获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系；
    基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。
  11. 一种显示面板检查装置，其中，所述装置包括：
    采集模块，用于在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集显示面板设计程序中用户当前设计操作对应的显示面板设计参数；
    获取模块，用于获取预置的显示面板的设计策略，所述设计策略包括显示面板中各结构的设计策略，以及显示面板中结构之间的对应关系；
    检查模块，用于基于所述显示面板的设计策略，检查所述显示面板设计参数是否正常；
    提示模块，用于在所述显示面板设计参数不正常时，在显示面板设计程序中进行提示。
  12. 根据权利要求11所述的显示面板检查装置，其中，所述采集模块具体用于：
    在显示面板设计程序中用户进行设计操作时，采集用户当前设计操作对应的目标操作对象的设计参数；
    采集所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系；
    所述用户当前设计操作对应的显示面板设计参数包括目标操作对象的设计参数，及所述目标操作对象与当前已存在的设计对象之间的对应关系。
  13. 根据权利要求11所述的显示面板检查装置，其中，所述显示面板为薄膜晶体管液晶显示面板，所述设计策略中包括TFT基板设计策略、上偏光片设计策略、CF基板设计策略和下偏光片设计策略；
    所述TFT基板设计策略包括TFT基板中各层的规格设计参数，以及TFT基板中各层之间的对应关系；
    所述CF基板设计策略包括CF基板中各层的规格设计参数，以及CF基板中各层之间的对应关系。
  14. 根据权利要求13所述的显示面板检查装置，其中，所述TFT基板设计策略中包括测试端子设计策略，所述测试端子设计策略中包括测试端子尺寸规格、测试端子与驱动芯片距离大于预设阈值、测试端子距离TFT基板的长边大于X，短边大于Y，以及测试端子之间的间距大于Z，其中，X，Y，Z均为正数。
  15. 根据权利要求13所述的显示面板检查装置，其中，所述TFT 基板设计策略中还包括材料和厚度策略，线宽定义限制策略，对准误差限制策略和TFT的工艺参数策略。
  16. 根据权利要求15所述的显示面板检查装置，其中，所述材料和厚度策略中包括栅极、栅极绝缘层、半导体层、掺杂半导体层、源漏极金属以及透明电极中至少一种的材料和厚度信息。
  17. 根据权利要求15所述的显示面板检查装置，其中，所述线宽定义限制策略包括栅极金属线、半导体层线、源漏极金属线、接触孔、ITO透明电极中至少一种的线宽定义限制信息。
  18. 根据权利要求15所述的显示面板检查装置，其中，所述对准误差限制策略中包括半导体层和栅极金属、源漏极金属和栅极金属、源漏极金属和半导体层、接触孔和栅极金属、接触孔和源漏极金属、透明电极和源漏极金属、透明电极和栅极金属、透明电极和接触孔中至少一种的对准误差限制信息。
  19. 根据权利要求11所述的显示面板检查装置，其中，所述装置还包括更新模块，所述更新模块用于：
    获取显示面板新的设计策略，所述新的设计策略包括显示面板中至少一结构的设计策略，或者至少一显示面板中结构之间的对应关系；
    基于所述新的设计策略，更新所述显示面板的设计策略。
  20. 一种电子设备，其中，所述电子设备包括：一个或多个处理器；
    存储器；以及
    一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现权利要求1所述的显示面板检查方法。
PCT/CN2020/089995 2020-04-27 2020-05-13 显示面板检查方法、装置及电子设备 WO2021217725A1 (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US16/969,566 US11907626B2 (en) 2020-04-27 2020-05-13 Method, device, and electronic apparatus of inspecting display panel

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010343882.7 2020-04-27
CN202010343882.7A CN111583841A (zh) 2020-04-27 2020-04-27 显示面板检查方法、装置及电子设备

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021217725A1 true WO2021217725A1 (zh) 2021-11-04

Family

ID=72116836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2020/089995 WO2021217725A1 (zh) 2020-04-27 2020-05-13 显示面板检查方法、装置及电子设备

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11907626B2 (zh)
CN (1) CN111583841A (zh)
WO (1) WO2021217725A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112417805B (zh) * 2020-11-11 2024-02-02 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 像素版图处理方法、装置及存储介质

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101178750A (zh) * 2007-12-13 2008-05-14 来新泉 一种具有检错功能的pcb仿真系统及其实现方法
CN102567553A (zh) * 2010-12-23 2012-07-11 研华股份有限公司 用于电路板布局规则的设计引导系统及方法
CN109086476A (zh) * 2018-06-19 2018-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种用于图纸设计的数据处理方法、plm插件及计算设备
CN109299538A (zh) * 2018-09-21 2019-02-01 郑州云海信息技术有限公司 一种布图设计的检测方法及装置
US10380292B1 (en) * 2016-04-08 2019-08-13 Cadence Design Systems, Inc. Systems and methods for finite difference time domain simulation of an electronic design

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7176861B2 (en) * 2003-02-24 2007-02-13 Barco N.V. Pixel structure with optimized subpixel sizes for emissive displays
JP2008020797A (ja) * 2006-07-14 2008-01-31 Seiko Epson Corp フォトマスク、電気光学装置の製造方法、及び電気光学装置用基板
US20080284800A1 (en) * 2007-05-15 2008-11-20 Jared Ross Method and/or apparatus for displaying scaled design drawings permitting measurement directly from the display
CN103901684B (zh) * 2012-12-28 2018-02-09 上海中航光电子有限公司 一种ips模式的液晶显示器
CN107369430B (zh) * 2017-08-17 2020-03-17 武汉华显光电技术有限公司 模组组装流程设计方法、设备及可读存储介质
CN107862168A (zh) * 2017-12-15 2018-03-30 信利光电股份有限公司 一种电容式触摸屏的设计方法、装置、系统及存储介质

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101178750A (zh) * 2007-12-13 2008-05-14 来新泉 一种具有检错功能的pcb仿真系统及其实现方法
CN102567553A (zh) * 2010-12-23 2012-07-11 研华股份有限公司 用于电路板布局规则的设计引导系统及方法
US10380292B1 (en) * 2016-04-08 2019-08-13 Cadence Design Systems, Inc. Systems and methods for finite difference time domain simulation of an electronic design
CN109086476A (zh) * 2018-06-19 2018-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种用于图纸设计的数据处理方法、plm插件及计算设备
CN109299538A (zh) * 2018-09-21 2019-02-01 郑州云海信息技术有限公司 一种布图设计的检测方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN111583841A (zh) 2020-08-25
US11907626B2 (en) 2024-02-20
US20230126876A1 (en) 2023-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2021253548A1 (zh) 像素设计方法、像素设计装置及电子设备
CN111681580A (zh) 显示面板设计方法、装置及电子设备
CN103676354B (zh) 电极结构及制备方法、阵列基板及制备方法和显示装置
TW201321834A (zh) 於陣列上具有色彩濾光器之單元中或單元上觸控感測器
WO2017101524A1 (zh) 像素结构及其制作方法、阵列基板及显示装置
WO2021217725A1 (zh) 显示面板检查方法、装置及电子设备
US20150144950A1 (en) Thin film transistor structure having big channel-width and tft substrate circuit
WO2021217711A1 (zh) 显示面板信息提取方法、装置及电子设备
WO2022007105A1 (zh) 栅电极驱动设计方法、装置及电子设备
US20230096934A1 (en) Integrated circuit post-layout simulation method and device, electronic device and storage medium
TWI490762B (zh) 觸控感測裝置及觸控感測方法
GB2562002A (en) Array substrate and touchscreen
TWM573844U (zh) 可攜式電子裝置的顯示面板
US10700105B2 (en) Array substrate and method for manufacturing the same, display panel and display device
WO2021082266A1 (zh) 一种阵列基板、其制备方法及其显示面板
US8933453B2 (en) Routing for high resolution and large size displays
WO2020010756A1 (zh) 触控显示面板
WO2022236869A1 (zh) 显示面板的柱状间隔物阵列图生成方法及装置、电子设备
US20160124469A1 (en) Digital business card
TWI472965B (zh) 影像顯示系統
CN205176420U (zh) 一种液晶显示模组及液晶显示装置
TWM575169U (zh) 用於可擕式電子裝置的顯示面板的驅動晶片
CN111859641B (zh) 一种层级数据处理方法、装置及计算机设备
CN104078024A (zh) 一种多相位栅极驱动电路及其布局方法
WO2023108539A1 (zh) 显示基板和显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 20933840

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 20933840

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1