WO2021210346A1 - 二次電池検査方法および二次電池検査装置 - Google Patents

二次電池検査方法および二次電池検査装置 Download PDF

Info

Publication number
WO2021210346A1
WO2021210346A1 PCT/JP2021/011440 JP2021011440W WO2021210346A1 WO 2021210346 A1 WO2021210346 A1 WO 2021210346A1 JP 2021011440 W JP2021011440 W JP 2021011440W WO 2021210346 A1 WO2021210346 A1 WO 2021210346A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
secondary battery
model
voltage
model parameter
parameter setting
Prior art date
Application number
PCT/JP2021/011440
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
一郎 宗像
諭 丹野
秀樹 庄司
Original Assignee
東洋システム株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東洋システム株式会社 filed Critical 東洋システム株式会社
Priority to CA3141786A priority Critical patent/CA3141786C/en
Priority to EP21789494.8A priority patent/EP3951409A4/en
Priority to US17/609,854 priority patent/US20230034016A1/en
Priority to KR1020217036069A priority patent/KR20210149795A/ko
Priority to CN202180003289.0A priority patent/CN113826020B/zh
Publication of WO2021210346A1 publication Critical patent/WO2021210346A1/ja

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/374—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC] with means for correcting the measurement for temperature or ageing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/378—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC] specially adapted for the type of battery or accumulator
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/367—Software therefor, e.g. for battery testing using modelling or look-up tables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G01R31/3842—Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC combining voltage and current measurements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/385—Arrangements for measuring battery or accumulator variables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/385—Arrangements for measuring battery or accumulator variables
    • G01R31/3865—Arrangements for measuring battery or accumulator variables related to manufacture, e.g. testing after manufacture
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/389—Measuring internal impedance, internal conductance or related variables
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/392—Determining battery ageing or deterioration, e.g. state of health
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/4285—Testing apparatus
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Definitions

  • an AC impedance analysis method based on a frequency response analysis method (FRA: Frequency Response Analysis) is well known, and some time constants are applied by applying a model of an equivalent circuit. Methods have been established for decomposing into elements and interpreting the various internal reactions of a secondary battery.
  • an object of the present invention is to provide a secondary battery inspection device or the like that can improve the inspection accuracy while facilitating the inspection of the secondary battery.
  • FIG. 2A shows an example of an equivalent circuit of the internal resistance of the secondary battery 200.
  • the number m of the RC parallel circuits connected in series is “4”.
  • the number m of the RC parallel circuits connected in series may be smaller than 4 or larger than 4.
  • H W (s) R W tanh (sT W) p / (sT W) p .. (41).
  • FIG. 4 shows an example of a Nyquist plot showing the actual measurement result of the complex impedance Z of the secondary battery 200 together with the approximate curve of the plot.
  • the horizontal axis is the real part ReZ of the complex impedance Z
  • the vertical axis is the imaginary part ⁇ ImZ of the complex impedance Z.
  • the larger ReZ is in the region of ⁇ ImZ> 0, the lower the frequency of the complex impedance Z is represented.
  • the voltage V (t) of the secondary battery 200 is inferred according to the secondary battery model (see relational expression (1)).
  • the measured value of the voltage V at the time of discharging the secondary battery 200 is shown by a solid line
  • the approximate curve showing the measured value of the OCV of the secondary battery 200 for each second sampling period T 2 is shown by a broken line.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)
  • Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Hybrid Cells (AREA)

Abstract

二次電池の検査の容易を図りながらも検査精度の向上を図りうる二次電池検査装置等を提供する。サンプリング周期Ｔに基づき、二次電池モデルのモデルパラメータの値が同定される。二次電池モデルにより、ＩＩＲ伝達関数およびＦＩＲ伝達関数により二次電池２００の内部抵抗のインピーダンスが表現されている。モデルパラメータの値が同定された二次電池モデルである指定モデルに対してインパルス電流Ｉ（ｔ）が入力された際に当該指定モデルから出力される電圧の変化態様としてのモデル出力電圧が推定される。二次電池２００にインパルス電流Ｉ（ｔ）が流れた際の当該二次電池２００の電圧の計測結果と、指定モデル出力電圧と、に基づき、サンプリング周期Ｔに応じた二次電池２００の性能が評価される。

Description

二次電池検査方法および二次電池検査装置
　本発明は、リチウムイオンバッテリ等の二次電池を検査する技術に関する。
　二次電池の内部状態を検査する方法として、周波数応答解析法（ＦＲＡ：Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ　Ｒｅｓｐｏｎｓｅ　Ａｎａｌｙｓｉｓ）に基づくＡＣインピーダンス解析法がよく知られており、等価回路のモデルを適用して、いくつかの時定数要素に分解して二次電池の様々な内部反応を解釈する方法が確立されている。
特許第５９２４６１７号公報
　しかし、ＡＣインピーダンス解析のためには、１０ｋＨｚ程度の高周波数域から１０ｍＨｚ～１００ｍＨｚ程度の低周波数域までの多点計測が必要である。このため、二次電池の検査に長時間がかかる。また、専用の計測装置が必要であるため、量産ライン等の短いタクト時間が前提条件とされている場面での実用が困難であった。二次電池の量産出荷検査や製品受け入れ検査の際には短時間である程度の精度を有する検査機を必要とするが、電池はその動作状態（電圧（ＳＯＣ），動作電流、電池温度）等により特性が変化しているために、条件を一定に設定しての検査を行わなくてはならず、再現性の良い検査装置が望まれている。量産ライン等では統計的な母集団分布から良否判別基準を設定するが、検査条件を固定化した場合のみ可能であり、市場に出た二次電池の良否を簡単に判別できる方法はほとんど無かった。
　そこで、本発明は、二次電池の検査の容易を図りながらも検査精度の向上を図りうる二次電池検査装置等を提供することを目的とする。
　本発明に係る二次電池検査装置は、
　二次電池にインパルス電流が流れた際の前記二次電池の電圧の計測結果を認識する電圧認識要素と、
　サンプリング周期に基づき、ＩＩＲシステムおよびＦＩＲシステムのそれぞれを表わす伝達関数により前記二次電池の内部抵抗のインピーダンスが表現されている二次電池モデルのモデルパラメータの値を同定するモデルパラメータ設定要素と、
　前記モデルパラメータ設定要素により前記モデルパラメータの値が同定された前記二次電池モデルである指定モデルに対して前記インパルス電流が入力された際に前記指定モデルから出力される電圧の変化態様としてのモデル出力電圧を推定する電圧推定要素と、
　前記電圧認識要素により認識された前記二次電池の電圧の計測結果と、前記電圧推定要素により推定された前記指定モデル出力電圧と、に基づき、前記サンプリング周期に応じた前記二次電池の性能を評価する評価要素と、
を備えている。
　前記モデルパラメータ設定要素が、複数のサンプリング周期のそれぞれに基づき、前記モデルパラメータの値を個別に同定し、
　前記電圧推定要素が、前記モデルパラメータ設定要素により前記モデルパラメータの値が同定された個別の前記二次電池モデルである複数の前記指定モデルに対して前記インパルス電流が入力された際に前記複数の指定モデルのそれぞれから出力される電圧の変化態様としての複数のモデル出力電圧を推定し、
　前記評価要素が、前記電圧認識要素により認識された前記二次電池の電圧の計測結果と、前記電圧推定要素により推定された前記複数の指定モデル出力電圧のそれぞれと、に基づき、前記複数のサンプリング周期のそれぞれに応じた前記二次電池の複数の性能のそれぞれを評価することが好ましい。
　前記二次電池検査装置が、前記二次電池の温度の計測結果を認識する温度補償要素をさらに備え、
　前記モデルパラメータ設定要素が、前記温度補償要素により認識された前記二次電池の温度の計測結果に基づき、前記モデルパラメータの値を補正することが好ましい。
本発明の一実施形態としての二次電池検査装置の構成に関する説明図。 二次電池の内部抵抗の等価回路の第１の例示図。 二次電池の内部抵抗の等価回路の第２の例示図。 二次電池の内部抵抗の等価回路の第３の例示図。 二次電池の内部抵抗の等価回路の第４の例示図。 二次電池の接続抵抗成分Ｒ0の伝達関数を表わすダイヤグラム。 電荷移動抵抗ＲiおよびキャパシタＣiからなる第ｉのＲＣ並列回路のＩＩＲ伝達関数を表わすダイヤグラム。 インダクタンス成分ＬのＩＩＲ伝達関数を表わすダイヤグラム。 ワールブルグインピーダンスＷ0のＦＩＲ伝達関数を表わすダイヤグラム。 二次電池のナイキストプロットに関する説明図。 第１サンプリング周期に応じた第１評価指数に関する説明図。 第１サンプリング周期に応じた第２評価指数に関する説明図。 第２サンプリング周期に応じた第３評価指数に関する説明図。
　（二次電池検査装置の構成）
　図１に示されている本発明の一実施形態としての二次電池検査装置１００は、プロセッサ（演算処理装置）、メモリ（記憶装置）およびＩ／Ｏ回路等により構成されている。メモリまたはこれとは別個の記憶装置には、二次電池モデルを定義するためのパラメータなどの様々なデータのほか、プログラム（ソフトウェア）が記憶保持されている。例えば、二次電池またはこれが搭載されている対象機要素の種類（規格および諸元により特定される。）を識別するための複数の識別子のそれぞれと、複数の二次電池モデルのそれぞれとが対応付けられてメモリに記憶保持されている。プロセッサがメモリから必要なプログラムおよびデータを読み取り、当該データに基づき、当該プログラムにしたがった演算処理を実行することにより、後述する演算処理またはタスクが実行される。
　二次電池検査装置１００は、ＯＣＶ検出要素１０２と、減算要素１０４と、温度補償要素１１０と、第１サンプリング周期出力要素１１１と、第１モデルパラメータ設定要素１１２と、第１電圧推定要素１１４と、第１除算要素１１６と、第２サンプリング周期出力要素１２１と、第２モデルパラメータ設定要素１２２と、第２電圧推定要素１２４と、第２除算要素１２６と、第１評価要素１４２と、第２評価要素１４４と、第３評価要素１４６と、を備えている。
　（二次電池モデル）
　二次電池モデルは、電流Ｉ（ｔ）が二次電池２００に入力された際に当該二次電池２００から出力される電圧Ｖ（ｔ）を表わすモデルである。二次電池２００の開放電圧ＯＣＶおよび内部抵抗の伝達関数Ｈ（ｔ）を用いて関係式（０１）により定義される。
　Ｖ（ｔ）＝ＯＣＶ＋Ｈ（ｔ）・Ｉ（ｔ）　‥（０１）。
　二次電池の内部抵抗の等価回路モデルの伝達関数Ｈ（ｔ）は関係式（０２）により定義される。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
 　
　「Ｈ0（ｔ）」、「Ｈi（ｔ）」、「ＨW（ｔ）」および「ＨL（ｔ）」は、二次電池の内部抵抗の特性を表わすパラメータにより定義されている。
　図２Ａには、二次電池２００の内部抵抗の等価回路の一例が示されている。この例では、内部抵抗の等価回路は、接続抵抗成分Ｒ0、電荷移動抵抗ＲiおよびキャパシタＣiからなる第ｉのＲＣ並列回路（ｉ＝１，２，‥，ｍ）、ワールブルグインピーダンスＷ0、ならびに、コイルＬの直列回路により定義されている。図２Ａでは、直列接続されるＲＣ並列回路の数ｍが「４」である。図２Ｂに示されているように、直列接続されるＲＣ並列回路の数ｍは４より小さくてもよく、４より大きくてもよい。図２Ｃおよび図２Ｄのそれぞれに示されているように、抵抗Ｗ0は、少なくともいずれか１つのＲＣ並列回路（例えば、第１のＲＣ並列回路）において抵抗Ｒと直列接続されていてもよい。キャパシタＣがＣＰＥ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ　Ｐｈａｓｅ　Ｅｌｅｍｅｎｔ）に置換されていてもよい。コイルＬが省略されてもよい。
　抵抗Ｒ0の伝達関数Ｈ0（ｚ）は関係式（１０）により定義されている。図５Ａには、抵抗Ｒ0の伝達関数Ｈ0（ｚ）を表わすブロックダイヤグラムが示されている。
　Ｈ0（ｚ）＝Ｒ0　‥（１０）。
　Ｒ0の温度Θに対する依存性は、異なる温度Θのそれぞれにおける基準二次電池のナイキストプロットの実測結果（図４参照）に基づき、関係式（１０）にしたがってあらかじめ求められている。すなわち、抵抗Ｒ0の伝達関数Ｈ0（ｚ）を定義する係数Ｒ0は、温度Θを主変数とする従変数または関数として定義されている。
　第ｉのＲＣ並列回路の伝達関数Ｈi（ｚ）はＩＩＲ（Ｉｎｆｉｎｉｔｅ　Ｉｍｐｕｌｓｅ　Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）システム（無限インパルス応答システム）の伝達関数として関係式（２０）により定義されている。図５Ｂには、第ｉのＲＣ並列回路の伝達関数Ｈi（ｚ）を表わすブロックダイヤグラムが示されている。
　Ｈi（ｚ）＝（ｂ0＋ｂiｚ-1）／（１＋ａiｚ-1）　‥（２０）。
　ｓ領域において第ｉのＲＣ並列回路の伝達関数Ｈi（ｓ）は関係式（２１）により表わされる。
　Ｈi（ｓ）＝Ｒi／（１＋τiｓ）（ここで、τi＝１／ＲiＣi）‥（２１）。
　伝達関数Ｈi（ｓ）が双一次変換されると（ｓ→（２／Ｔ）（１－ｚ-1）／（１＋ｚ-1）（Ｔはサンプリング周期である。））、ｚ領域において第ｉのＲＣ並列回路の伝達関数Ｈi（ｚ）は関係式（２２）により表わされる。
　Ｈi（ｚ）＝｛Ｒi／（１＋２τi／Ｔ）＋Ｒi／（１＋２τi／Ｔ）ｚ-1｝
　　　　　　　／｛１＋（１－２τi／Ｔ）／（１＋２τi／Ｔ）ｚ-1｝　‥（２２）。
　関係式（２０）および（２２）を対比すると、ＩＩＲ伝達関数の係数ｂ0、ｂiおよびａiのそれぞれが、関係式（２２１）～（２２３）のそれぞれにより定義される。
　ｂ0＝Ｒi／（１＋２τi／Ｔ）　‥（２２１）。
　ｂi＝Ｒi／（１＋２τi／Ｔ）　‥（２２２）。
　ａi＝－｛１＋（１－２τi／Ｔ）／（１＋２τi／Ｔ）｝　‥（２２３）。
　ＲiおよびＣiの温度Θに対する依存性は、異なる温度Θのそれぞれにおける基準二次電池のナイキストプロットの実測結果（図４参照）に基づき、関係式（２１）にしたがってあらかじめ求められている。すなわち、第ｉのＲＣ並列回路の伝達関数Ｈi（ｚ）を定義する係数ｂ0、ｂiおよびａiのそれぞれは、温度Θおよびサンプリング周波数Ｔを主変数とする従変数または多変数関数として定義されている。
　コイルＬの伝達関数ＨL（ｚ）はＩＩＲシステムの伝達関数として関係式（３０）により定義されている。図５Ｃには、コイルＬの伝達関数ＨL（ｚ）を表わすブロックダイヤグラムが示されている。
　ＨL（ｚ）＝（２Ｌ0／Ｔ）（１－ｚ-1）／（１＋ｚ-1）　‥（３０）。
　ｓ領域においてコイルＬの伝達関数ＨL（ｓ）は関係式（３１）により表わされる。
　ＨL（ｓ）＝ｓＬ0　‥（３１）。
　伝達関数ＨL（ｓ）が双一次変換されると、ｚ領域において、コイルＬの伝達関数ＨL（ｚ）は関係式（３２）により表わされる。
　ＨL（ｚ）＝｛２Ｌ0／Ｔ－２Ｌ0／Ｔｚ-1｝／（１＋ｚ-1）　‥（３２）。
　関係式（３０）および（３２）を対比すると、ＩＩＲ伝達関数の係数ｂ0、ｂiおよびａiのそれぞれが、関係式（３２１）～（３２３）のそれぞれにより定義される。
　ｂ0＝２Ｌ0／Ｔ　‥（３２１）。
　ｂi＝－２Ｌ0／Ｔ　‥（３２２）。
　ａi＝－１　‥（３２３）。
　Ｌ0の温度Θに対する依存性は、異なる温度Θのそれぞれにおける基準二次電池のナイキストプロットの実測結果（図４参照）に基づき、関係式（３１）にしたがってあらかじめ求められている。すなわち、コイルＬの伝達関数Ｈi（ｚ）を定義する係数ｂ0およびｂiのそれぞれは、温度Θおよびサンプリング周波数Ｔを主変数とする従変数または多変数関数として定義されている。
　ワールブルグインピーダンスＷ0の伝達関数ＨW（ｚ）はＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ　Ｉｍｐｕｌｓｅ　Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）システム（有限インパルス応答システム）の伝達関数として関係式（４０）により定義されている。図５Ｄには、ワールブルグインピーダンスＷ0の伝達関数ＨW（ｚ）を表わすブロックダイヤグラムが示されている。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
 　
　ｓ領域においてワールブルグインピーダンスＷ0の伝達関数ＨW（ｓ）は関係式（４１）により表わされる。
　ＨW（ｓ）＝ＲWｔａｎｈ（ｓＴW）p／（ｓＴW）p　‥（４１）。
　伝達関数ＨL（ｓ）が双一次変換されると、ｚ領域においてワールブルグインピーダンスＷ0の伝達関数ＨW（ｚ）は関係式（４２）により表わされる。
　ＨW（ｚ）＝ＲWｔａｎｈ［（２ＴW／Ｔ）（１－ｚ-1）／（１＋ｚ-1）］p
　　　　　／｛（２ＴW／Ｔ）（１－ｚ-1）／（１＋ｚ-1）｝p　‥（４２）。
　しかるに、関係式（４０）および（４２）を対比することにより、ＩＩＲ伝達関数の係数ｂ0、ｂiおよびａiのそれぞれを求めることが困難である。そこで、ＲW、ＴWおよびｐの温度Θに対する依存性が、異なる温度Θのそれぞれにおける基準二次電池のナイキストプロットの実測結果（図４参照）に基づき、関係式（４１）にしたがって求められる。その上で、関係式（４２）を逆ＦＦＴ変換し、遅延要素ｚｋ（ｋ＝０～ｎ、ここでｎは、例えば数１０～１０００程度）の係数として抽出され、ワールブルグインピーダンスＷ0の伝達関数ＨW（ｚ）が関係式（０５）のようにＦＩＲ伝達関数として近似的に定義される。これは、ナイキストプロットにおいて、ワールブルグインピーダンスＷ0の影響が低周波数側に反映されることに由来している。すなわち、ワールブルグインピーダンスＷ0の伝達関数ＨW（ｚ）を定義する係数ｈkのそれぞれは、温度Θおよびサンプリング周波数Ｔを主変数とする従変数または多変数関数として定義されている。
　図４には、二次電池２００の複素インピーダンスＺの実測結果を表わすナイキストプロットの一例が、当該プロットの近似曲線とともに示されている。横軸は複素インピーダンスＺの実部ＲｅＺであり、縦軸は複素インピーダンスＺの虚部－ＩｍＺである。－ＩｍＺ＞０の領域においてＲｅＺが大きくなるほど低周波数の複素インピーダンスＺを表わしている。
　－ＩｍＺ＝０におけるＲｅＺの値（図４（第１評価区間））は二次電池２００の接続抵抗成分Ｒ0相当する（図５Ａ参照）。図４において一点鎖線で囲まれている－ＩｍＺ＜０の領域における部分（第１評価区間）は、二次電池２００の電極等の配線インダクタンスＬ0のインピーダンスに相当する（図５Ｂ参照）。図４において二点鎖線で囲まれている－ＩｍＺ＞０の領域における潰れた半円形状の部分（第２評価区間）は、二次電池２００の電極界面での反応抵抗と電気二重層（第１～第ｍのＲＣ並列回路のインピーダンス）に相当する（図５Ｃ参照）。当該半径は、二次電池２００の温度Ｔが高温になるほど小さくなる傾向がある。図４において破線で囲まれているＩｍＺ＞０の領域において低周波数領域において約４５°で立ち上がる略直線状の部分（第３評価区間）には、二次電池２００のワールブルグインピーダンスＷ0の影響が反映されている（図５Ｄ参照）。
　図４に実線で示されているナイキストプロットにより表わされる二次電池の複素インピーダンスＺの近似曲線を求める際、関係式（０２）にしたがって二次電池の内部抵抗の等価回路モデルの伝達関数Ｈ（ｔ）が定義されるという仮定下で求められる。これにより、各温度Θにおいて、パラメータＲ0（関係式（１０）参照）、ＲiおよびＣi（関係式（２１）参照）、Ｌ0（関係式（３１）参照）、ならびに、ＲW、ＴWおよびｐ（関係式（４１）参照）の値が求められる。開放電圧ＯＣＶの測定値により二次電池モデルにおける開放電圧ＯＣＶの値が同定される（関係式（０１）参照）。そして、当該パラメータの値により二次電池モデルが様々な種類の二次電池２００について確立される。
　（二次電池検査方法）
　前記構成の二次電池検査装置１００により実行される二次電池２００の検査方法について説明する。
　電流センサＳ１、電圧センサＳ２および温度センサＳ０のそれぞれにより、充放電装置３００により検査対象となる二次電池２００にインパルス電流Ｉ（ｔ）が流された際の、当該二次電池２００のインパルス電流Ｉ（ｔ）、電圧Ｖ（ｔ）および温度Θ（ｔ）が計測される。
　二次電池２００の温度Θ（ｔ）の計測結果が温度補償要素１１０に入力され、温度補償要素１１０により当該計測結果に応じた温度補正モデルパラメータが出力される。具体的にはパラメータＲ0（関係式（１０）参照）、ＲiおよびＣi（関係式（２１）参照）、Ｌ0（関係式（３１）参照）、ならびに、ＲWおよびＴW（関係式（４１）参照）の、温度Θに応じた値Ｒ0（Θ）、Ｒi（Θ）、Ｃi（Θ）、Ｌ0（Θ）、ＲW（Θ）、ＴW（Θ）およびｐ（Θ）が求められる。これらのモデルパラメータは二次電池の量産品の中から良品の母集団の平均値として求めておくことで良否判別の基準モデルとすることができる。
　温度補正モデルパラメータが温度補償要素１１０から第１モデルパラメータ設定要素１１２に入力され、第１モデルパラメータ設定要素１１２により、第１サンプリング周期Ｔ1に応じて、温度補正モデルパラメータＲi（Θ）およびＣi（Θ）に基づいてＩＩＲモデルパラメータｂ0（Θ，Ｔ1）、ｂi（Θ，Ｔ1）およびａi（Θ，Ｔ1）が求められる（関係式（２２１）～（２２３）参照）。第１モデルパラメータ設定要素１１２により、第１サンプリング周期Ｔ1に応じて、温度補正モデルパラメータＬ0（Θ）に基づいてＩＩＲモデルパラメータｂ0（Θ，Ｔ1）、ｂi（Θ，Ｔ1）およびａi（Θ，Ｔ1）が求められる（関係式（３２１）～（３２３）参照）。第１モデルパラメータ設定要素１１２により、第１サンプリング周期Ｔ1に応じて、温度補正モデルパラメータＲW（Θ，Ｔ1）、ＴW（Θ，Ｔ1）およびｐ（Θ，Ｔ1）に基づいてＦＩＲモデルパラメータｈk（Θ，Ｔ1）が求められる（関係式（４０）参照）。
　第１電圧推定要素１１４により、二次電池２００のインパルス電流Ｉ（ｔ）の計測結果に基づき、短周期（例えば１０ｍｓ程度）の第１サンプリング周期Ｔ1　に応じた伝達関数Ｈ（ｔ）により定義される二次電池モデルにしたがって、二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）が推察される（関係式（１）参照）。図５Ａおよび図５Ｂのそれぞれには、二次電池２００の放電時の電圧Ｖの計測値が実線で示され、二次電池２００のＯＣＶの第１サンプリング周期Ｔ1ごとの計測値を表わす近似曲線が破線で示され、かつ、第１電圧推定要素１１４による二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）の第１サンプリング周期Ｔ1ごとの推定結果を表わす近似曲線が一点鎖線で示されている。二次電池モデルでは開放電圧ＯＣＶが考慮されていないので、第１電圧推定要素１１４による二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）の第１サンプリング周期Ｔ1ごとの推定結果Ｄは、ＯＣＶを基準として推察される（図５Ａ、図５Ｂ／下向き矢印Ｄ参照）。
　温度補正モデルパラメータが温度補償要素１１０から第２モデルパラメータ設定要素１２２に入力され、第２モデルパラメータ設定要素１２２により、第２サンプリング周期Ｔ2に応じて、温度補正モデルパラメータＲi（Θ）およびＣi（Θ）に基づいてＩＩＲモデルパラメータｂ0（Θ，Ｔ2）、ｂi（Θ，Ｔ2）およびａi（Θ，Ｔ2）が求められる（関係式（２２１）～（２２３）参照）。第１モデルパラメータ設定要素１１２により、第２サンプリング周期Ｔ2に応じて、温度補正モデルパラメータＬ0（Θ）に基づいてＩＩＲモデルパラメータｂ0（Θ，Ｔ2）、ｂi（Θ，Ｔ2）およびａi（Θ，Ｔ2）が求められる（関係式（３２１）～（３２３）参照）。第１モデルパラメータ設定要素１１２により、第２サンプリング周期Ｔ2に応じて、温度補正モデルパラメータＲW（Θ，Ｔ2）、ＴW（Θ，Ｔ2）およびｐ（Θ，Ｔ2）に基づいてＦＩＲモデルパラメータｈk（Θ，Ｔ2）が求められる（関係式（４０）参照）。
　第２電圧推定要素１２４により、二次電池２００のインパルス電流Ｉ（ｔ）の計測結果に基づき、長周期（例えば１ｓ程度）の第２サンプリング周期Ｔ2に応じた伝達関数Ｈ（ｔ）により定義される二次電池モデルにしたがって、二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）が推察される（関係式（１）参照）。図５Ｃには、二次電池２００の放電時の電圧Ｖの計測値が実線で示され、二次電池２００のＯＣＶの第２サンプリング周期Ｔ2ごとの計測値を表わす近似曲線が破線で示され、かつ、第２電圧推定要素１２４による二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）の第１サンプリング周期Ｔ1ごとの推定結果を表わす近似曲線が一点鎖線で示されている。二次電池モデルでは開放電圧ＯＣＶが考慮されていないので、第２電圧推定要素１２４による二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）の推定結果Ｅは、ＯＣＶを基準として推察される（図５Ｃ／下向き矢印Ｅ参照）。
　二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）が二次電池検査装置１００に入力され、当該入力Ａに基づき、ＯＣＶ検出要素１０２により二次電池２００の開放電圧ＯＣＶ（ｔ）が検出される。減算要素１０４により、入力Ａ＝Ｖ（ｔ）とＯＣＶ検出要素１０２の出力Ｂ＝ＯＣＶ（ｔ）との差分Ｃ＝Ａ－Ｂが出力される。差分Ｃは、図５Ａ、図５Ｂおよび図５Ｃのそれぞれにおいて下向き矢印Ｃで示されている、二次電池２００の放電時の電圧Ｖの計測値（実線）およびＯＣＶの計測値（破線）の差分を表わしている。
　除算要素１１６に対して減算要素１０４から差分Ｃが入力され、かつ、第１電圧推定要素１１４から二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）の推定結果Ｄが入力され、両入力の比Ｃ／Ｄが算定される。
　除算要素１１６からインパルス電流Ｉ（ｔ）が流れ始めた直後の第１期間（図５Ａ／破線で囲まれた領域参照）における各時点のＣ／Ｄが第１評価要素１４２に入力され、第１評価要素１４２により当該入力の平均値、分散値、偏差値、または最大値および最小値の中間値などの統計的指標値に基づいて第１評価区間において電池２００の接続抵抗成分Ｒ0およびインダクタンス要素Ｌ0が評価される。ここでＬ0による寄与は虚軸上のインピーダンスのみであるため抵抗値としては寄与しないため評価される成分は結局Ｒ0　のみである。Ｃ／Ｄが１に近いほど、二次電池２００の接続抵抗成分Ｒ0が当初の状態または良品母集団と比較して変化が小さいと評価される。
　除算要素１１６からインパルス電流Ｉ（ｔ）が流れ始めてから第１期間が経過してから始まる当該第１期間よりも長い第２期間（図５Ｂ／破線で囲まれた領域参照）における各時点のＣ／Ｄが第２評価要素１４４に入力され、第２評価要素１４４により当該入力の統計的指標値に基づいて第２評価区間において二次電池２００の電極界面での反応抵抗と電気二重層（第１～第ｍのＲＣ並列回路のインピーダンス）が評価される。Ｃ／Ｄが１に近いほど、二次電池２００の電極界面での反応抵抗と電気二重層（第１～第ｍのＲＣ並列回路のインピーダンス）が当初の状態または良品母集団と比較して変化が小さいと評価される。Ｃ／Ｄの算定値に許容レベルを設定することで良否判定ができる。
　除算要素１２６に対して減算要素１０４から差分Ｃが入力され、かつ、第２電圧推定要素１２４から二次電池２００の電圧Ｖ（ｔ）の推定結果Ｅが入力され、両入力の比Ｃ／Ｅが算定される。
　除算要素１２６からインパルス電流Ｉ（ｔ）が流れ始めてから第１期間が経過してから始まる第２期間よりも長い第３期間（図５Ｃ／破線で囲まれた領域参照）における各時点のＣ／Ｅが第１評価要素１４２に入力され、第３評価要素１４３により当該入力の統計的指標値に基づいて第３評価区間において二次電池２００のワールブルグインピーダンスＷ0が評価される。Ｃ／Ｅが１に近いほど、二次電池２００のワールブルグインピーダンスＷ0が当初の状態または良品母集団と比較して変化が小さいと評価される。Ｃ／Ｅの算定値に許容レベルを設定することで良否判定ができる。
　第１評価要素１４２、第２評価要素１４４および第３評価要素１４６のそれぞれによる評価結果が、二次電池装置１００に有線または無線で連結されている出力インターフェースに出力される。
　第１評価要素１４２、第２評価要素１４４および第３評価要素は１回の計測で判定され、その判定結果の組み合わせ状態により二次電池の構成要素のいずれが不良の要因であるかの推定が可能となる。
（発明の効果）
　本発明に係る二次電池検査装置１００およびこれにより実行される二次電池検査方法によれば、例えば、表１に示されているように、第１評価区間に関して、Ｃ／Ｄの判定結果が第１判定基準値γ１に対して関係式（５１）で表わされる関係にある場合は「ＯＫ（セル構成材料抵抗値が基準範囲以内）」と評価され、Ｃ／Ｄの判定結果が関係式（５１）で表わされる関係にない場合は「ＮＧ（セル構成材料抵抗値が基準を超えている）」と評価される。
　１－γ１＜Ｃ／Ｄ＜１＋γ１ ‥（５１）。
　また、表１に示されているように、第２評価区間に関して、Ｃ／Ｄの判定結果が第２判定基準値γ２に対して関係式（５２）で表わされる関係にある場合は「ＯＫ（正極、負極等の反応性に異常がない）」と評価され、Ｃ／Ｄの判定結果が関係式（５２）で表わされる関係にない場合は「ＮＧ（正極、負極等の反応性に異常がある）」と評価される。
　１－γ２＜Ｃ／Ｄ＜１＋γ２ ‥（５２）。
　さらに、表１に示されているように、第３評価区間に関して、Ｃ／Ｅの判定結果が第３判定基準値γ３に対して関係式（５３）で表わされる関係にある場合は「ＯＫ（電解液の不足、変質等がない）」と評価され、Ｃ／Ｅの判定結果が関係式（５３）で表わされる関係にない場合は「ＮＧ（電解液の不足、変質等がある）」と評価される。
　１－γ３＜Ｃ／Ｄ＜１＋γ３ ‥（５３）。
　このように本発明によれば一度の測定によって二次電池としての良否を単純に判定するだけではなく、二次電池の構成要素のうち、何に原因があるのかというところまで推定可能になる。
　当該評価結果が、二次電池検査装置１００からスマートホン、タブレット端末またはパーソナルコンピュータなどのクライアントに対して送信され、当該クライアントを構成する出力インターフェース（ディスプレイ）に出力表示されてもよい。これにより、二次電池２００の検査の容易を図りながらも不良要因の推定も行えるため検査精度の向上ならびに生産工程に従事する当該クライアントのユーザに対してスムースなフィードバックが図られる。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000003
  
１００‥二次電池検査装置、１０２‥ＯＣＶ検出要素（電圧認識要素）、１０４‥減算器、１１０‥温度補償要素、１１２‥第１モデルパラメータ設定要素、１１４‥第１電圧推定要素、１２２‥第２モデルパラメータ設定要素、１２４‥第２電圧推定要素、２００‥二次電池、３００‥充放電装置。
 

Claims (4)

  1. 　二次電池にインパルス電流が流れた際の前記二次電池の電圧の計測結果を認識する電圧認識要素と、
    　サンプリング周期に基づき、ＩＩＲシステムおよびＦＩＲシステムのそれぞれを表わす伝達関数により前記二次電池の内部抵抗のインピーダンスが表現されている二次電池モデルのモデルパラメータの値を同定するモデルパラメータ設定要素と、
    　前記モデルパラメータ設定要素により前記モデルパラメータの値が同定された前記二次電池モデルである指定モデルに対して前記インパルス電流が入力された際に前記指定モデルから出力される電圧の変化態様としてのモデル出力電圧を推定する電圧推定要素と、
    　前記電圧認識要素により認識された前記二次電池の電圧の計測結果と、前記電圧推定要素により推定された前記指定モデル出力電圧と、に基づき、前記サンプリング周期に応じた前記二次電池の性能を評価する評価要素と、
    を備えている二次電池検査装置。
  2. 　請求項１記載の二次電池検査装置において、
    　前記モデルパラメータ設定要素が、複数のサンプリング周期のそれぞれに基づき、前記モデルパラメータの値を個別に同定し、
    　前記電圧推定要素が、前記モデルパラメータ設定要素により前記モデルパラメータの値が同定された個別の前記二次電池モデルである複数の前記指定モデルに対して前記インパルス電流が入力された際に前記複数の指定モデルのそれぞれから出力される電圧の変化態様としての複数のモデル出力電圧を推定し、
    　前記評価要素が、前記電圧認識要素により認識された前記二次電池の電圧の計測結果と、前記電圧推定要素により推定された前記複数の指定モデル出力電圧のそれぞれと、に基づき、前記複数のサンプリング周期のそれぞれに応じた前記二次電池の複数の性能のそれぞれを評価する
    二次電池検査装置。
  3. 　請求項１または２記載の二次電池検査装置において、
    　前記二次電池の温度の計測結果を認識する温度補償要素をさらに備え、
    　前記モデルパラメータ設定要素が、前記温度補償要素により認識された前記二次電池の温度の計測結果に基づき、前記モデルパラメータの値を補正する
    二次電池検査装置。
  4. 　二次電池にインパルス電流が流れた際の前記二次電池の電圧の計測結果を認識する電圧認識工程と、
    　サンプリング周期に基づき、ＩＩＲシステムおよびＦＩＲシステムのそれぞれを表わす伝達関数により前記二次電池の内部抵抗のインピーダンスが表現されている二次電池モデルのモデルパラメータの値を同定するモデルパラメータ設定工程と、
    　前記モデルパラメータ設定工程により前記モデルパラメータの値が同定された前記二次電池モデルである指定モデルに対して前記インパルス電流が入力された際に前記指定モデルから出力される電圧の変化態様としてのモデル出力電圧を推定する電圧推定工程と、
    　前記電圧認識工程により認識された前記二次電池の電圧の計測結果と、前記電圧推定工程により推定された前記指定モデル出力電圧と、に基づき、前記サンプリング周期に応じた前記二次電池の性能を評価する評価工程と、
    を含む二次電池検査方法。
     
PCT/JP2021/011440 2020-04-13 2021-03-19 二次電池検査方法および二次電池検査装置 WO2021210346A1 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CA3141786A CA3141786C (en) 2020-04-13 2021-03-19 Secondary battery inspection method and secondary battery inspection device
EP21789494.8A EP3951409A4 (en) 2020-04-13 2021-03-19 METHOD AND DEVICE FOR SECONDARY CELL INSPECTION
US17/609,854 US20230034016A1 (en) 2020-04-13 2021-03-19 Secondary cell inspection method and secondary cell inspection device
KR1020217036069A KR20210149795A (ko) 2020-04-13 2021-03-19 이차전지 검사 방법 및 이차전지 검사 장치
CN202180003289.0A CN113826020B (zh) 2020-04-13 2021-03-19 二次电池检查方法和二次电池检查装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020071765A JP6997473B2 (ja) 2020-04-13 2020-04-13 二次電池検査方法および二次電池検査装置
JP2020-071765 2020-04-13

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2021210346A1 true WO2021210346A1 (ja) 2021-10-21

Family

ID=78079692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2021/011440 WO2021210346A1 (ja) 2020-04-13 2021-03-19 二次電池検査方法および二次電池検査装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20230034016A1 (ja)
EP (1) EP3951409A4 (ja)
JP (1) JP6997473B2 (ja)
KR (1) KR20210149795A (ja)
CN (1) CN113826020B (ja)
CA (1) CA3141786C (ja)
TW (1) TWI774291B (ja)
WO (1) WO2021210346A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023013268A1 (ja) * 2021-08-06 2023-02-09 東洋システム株式会社 電池性能評価装置および電池性能評価方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5924617B2 (ja) 1980-04-25 1984-06-11 古河電気工業株式会社 水中ケ−ブルの布設方法
US20110060538A1 (en) * 2009-09-04 2011-03-10 Board Of Regents, The University Of Texas System Estimation of State-Of-Health in Batteries
US20140372054A1 (en) * 2013-06-14 2014-12-18 Hrl Laboratories, Llc Double-pulse technique for on-line diagnostics of electrochemical systems
WO2017002953A1 (ja) * 2015-07-02 2017-01-05 学校法人同志社 データ抽出装置、データ抽出方法およびデータ抽出プログラム
WO2019187264A1 (ja) * 2018-03-28 2019-10-03 東洋システム株式会社 劣化状態判定装置および劣化状態判定方法
JP6842212B1 (ja) * 2019-12-26 2021-03-17 東洋システム株式会社 電池性能評価方法および電池性能評価装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030206021A1 (en) * 1997-07-25 2003-11-06 Laletin William H. Method and apparatus for measuring and analyzing electrical or electrochemical systems
US9397370B2 (en) * 1999-06-25 2016-07-19 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Single and multiple cell battery with built-in controller
CN102129039B (zh) * 2005-09-16 2013-01-16 古河电气工业株式会社 二次电池劣化判定方法、二次电池劣化判定装置、及电源系统
JP5924617B2 (ja) 2012-06-05 2016-05-25 学校法人同志社 等価回路合成方法並びに装置、および回路診断方法
JP5810116B2 (ja) * 2013-03-14 2015-11-11 古河電気工業株式会社 二次電池状態検出装置および二次電池状態検出方法
US9880061B2 (en) * 2013-06-14 2018-01-30 Hrl Laboratories, Llc Methods and apparatus for sensing the internal temperature of an electrochemical device
US9132745B1 (en) * 2014-03-17 2015-09-15 Ford Global Technologies, Llc Frequency based battery model parameter estimation
JP2016090330A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 カルソニックカンセイ株式会社 バッテリのパラメータ推定装置
GB2532726A (en) * 2014-11-24 2016-06-01 Thunot Andre Cell internal impedance diagnostic system
JP6706762B2 (ja) * 2015-02-13 2020-06-10 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 二次電池の充電状態推定装置および充電状態推定方法
WO2020145402A1 (ja) * 2019-01-11 2020-07-16 マレリ株式会社 システム同定方法及びシステム同定装置
JP6842213B1 (ja) * 2019-12-27 2021-03-17 東洋システム株式会社 模擬電池構築方法および模擬電池構築装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5924617B2 (ja) 1980-04-25 1984-06-11 古河電気工業株式会社 水中ケ−ブルの布設方法
US20110060538A1 (en) * 2009-09-04 2011-03-10 Board Of Regents, The University Of Texas System Estimation of State-Of-Health in Batteries
US20140372054A1 (en) * 2013-06-14 2014-12-18 Hrl Laboratories, Llc Double-pulse technique for on-line diagnostics of electrochemical systems
WO2017002953A1 (ja) * 2015-07-02 2017-01-05 学校法人同志社 データ抽出装置、データ抽出方法およびデータ抽出プログラム
WO2019187264A1 (ja) * 2018-03-28 2019-10-03 東洋システム株式会社 劣化状態判定装置および劣化状態判定方法
JP6842212B1 (ja) * 2019-12-26 2021-03-17 東洋システム株式会社 電池性能評価方法および電池性能評価装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP3951409A4

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023013268A1 (ja) * 2021-08-06 2023-02-09 東洋システム株式会社 電池性能評価装置および電池性能評価方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2021167798A (ja) 2021-10-21
CN113826020B (zh) 2024-03-12
TWI774291B (zh) 2022-08-11
CN113826020A (zh) 2021-12-21
EP3951409A1 (en) 2022-02-09
JP6997473B2 (ja) 2022-02-04
EP3951409A4 (en) 2023-06-21
CA3141786A1 (en) 2021-10-21
TW202201019A (zh) 2022-01-01
US20230034016A1 (en) 2023-02-02
CA3141786C (en) 2023-06-20
KR20210149795A (ko) 2021-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6145824B2 (ja) 電池診断装置および電池診断方法
JP5842421B2 (ja) 電池状態推定装置
JP5313250B2 (ja) バッテリーの長期特性予測システム及び方法
CN108872861B (zh) 一种在线评估电池健康状态的方法
JP4910300B2 (ja) 二次電池の満充電容量推定装置
US20040100227A1 (en) Apparatus and method for estimating charge rate of secondary cell
JP7090949B1 (ja) 電池状態判定方法および電池状態判定装置
WO2021131957A1 (ja) 電池性能評価方法および電池性能評価装置
WO2021210346A1 (ja) 二次電池検査方法および二次電池検査装置
Sadabadi et al. Model-based state of health estimation of a lead-acid battery using step-response and emulated in-situ vehicle data
TWI802349B (zh) 電池狀態推定裝置、電力系統
CN112698215B (zh) 使用卷积神经网络装置从电阻抗测量结果中估计电池状态
US11280841B2 (en) Estimating a temperature of an electrochemical battery
JP2012083142A (ja) 二次電池の内部抵抗演算装置
CN116908727A (zh) 一种基于多特征组合的储能电站锂电池容量估计方法
RU2491566C1 (ru) Устройство оценки состояния батареи и способ оценки состояния батареи
JP7371966B2 (ja) 二次電池評価装置及び二次電池評価方法
JP7297339B2 (ja) 電池状態判定方法および電池状態判定装置
JP2005300500A (ja) 電気二重層キャパシタの特性評価方法および特性評価装置
CN117825624A (zh) 一种用于气体的在线识别与监测的方法与系统
CN116298899A (zh) 一种电池过充过放故障诊断方法及系统
CN117250539A (zh) 二次电池劣化判断装置以及二次电池劣化判断方法
CN115616407A (zh) 二次电池评价装置以及二次电池评价方法
CN116381585A (zh) 基于加速退化试验的电流传感器寿命预测方法、系统及介质
Kim et al. Enhanced Li-ion battery modeling using recursive parameters correction

Legal Events

Date Code Title Description
ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20217036069

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2021789494

Country of ref document: EP

Effective date: 20211103

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 3141786

Country of ref document: CA

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 21789494

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE