WO2020202260A1 - 表示装置およびその駆動方法 - Google Patents

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WO2020202260A1
WO2020202260A1 PCT/JP2019/014023 JP2019014023W WO2020202260A1 WO 2020202260 A1 WO2020202260 A1 WO 2020202260A1 JP 2019014023 W JP2019014023 W JP 2019014023W WO 2020202260 A1 WO2020202260 A1 WO 2020202260A1
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current
display
pixel circuit
circuit
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古川　浩之
上野　雅史
智恵 鳥殿
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シャープ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to a display device, and more particularly to a display device including a current-driven display element and a driving method thereof.
  • Organic electroluminescence (hereinafter referred to as EL) display device is used in various electronic devices as a thin, lightweight, high-quality display device.
  • Each display unit (organic EL panel) of the organic EL display device includes a plurality of pixel circuits including a drive transistor and an organic EL element.
  • the drive transistor and the organic EL element are connected in series, and substantially the same amount of drive current flows through the drive transistor and the organic EL element.
  • the amount of drive current changes according to the gate-source voltage of the drive transistor, and the organic EL element emits light with brightness corresponding to the amount of drive current.
  • the characteristics of the drive transistor gradually deteriorate during display.
  • attention will be paid to the threshold voltage among the characteristics of the drive transistor.
  • the threshold voltage of the drive transistor gradually changes (increases or decreases) in the direction in which the drive current decreases during display. Therefore, as the display time becomes longer, the drive current flowing through the organic EL element decreases, and the brightness of the display unit decreases.
  • organic EL display devices measure the current flowing through the drive transistor when a measurement voltage is applied to the gate terminal of the drive transistor outside the display unit, and the display unit is based on the measured current.
  • external compensation There is a process that corrects the video signal used to drive the transistor.
  • Organic EL display devices that perform external compensation are described in, for example, Patent Documents 1 to 3. By performing external compensation, it is possible to compensate for the deterioration of the characteristics of the drive transistor and prevent the decrease in brightness.
  • the characteristics of the drive transistor basically deteriorate with the passage of display time. However, the characteristics of the drive transistor are restored to some extent while the display is stopped. Therefore, when the display is restarted after the display is stopped, if the video signal is corrected based on the current measured before the display is stopped, the video signal is excessively corrected and an excessively compensated image is displayed.
  • a method of providing a current measurement period within one frame period and measuring the current flowing through the drive transistor in the pixel circuit for one to several lines in the current measurement period (hereinafter referred to as a real-time monitor). )It has been known.
  • real-time monitoring it takes, for example, one minute or more to measure the current flowing through the drive transistor for all the pixel circuits. Therefore, even in an organic EL display device that performs real-time monitoring, the video signal is excessively corrected for a while after the display is resumed, and an excessively compensated image is displayed.
  • a display unit including a plurality of pixel circuits including a drive transistor and a display element, each of which is connected in series, a drive circuit for driving the display unit, and a drive transistor outside the display unit. It is equipped with a current measurement circuit that measures the flowing current and a correction circuit that obtains the characteristics of the drive transistor based on the amount of current and corrects it based on the characteristics of the video signal used to drive the display unit.
  • the pixel circuit is a specific pixel circuit. When the display is resumed, the current measuring circuit measures the current as the first current for the specific pixel circuit together with the drive circuit, and the correction circuit has the characteristics based on the amount of the first current. It can be solved by a display device that includes a recovery rate calculation unit for obtaining the recovery rate and corrects a video signal using the recovery rate for a specific pixel circuit and a general pixel circuit.
  • the above-mentioned problem is a method of driving a display device having a display unit including a plurality of pixel circuits including a drive transistor and a display element, each of which is connected in series, and a drive step for driving the display unit and the display unit.
  • a measurement step for measuring the current flowing through the drive transistor and a correction step for obtaining the characteristics of the drive transistor based on the amount of the current and correcting the video signal used for driving the display unit based on the obtained characteristics are provided.
  • the pixel circuit is classified into a specific pixel circuit and a general pixel circuit. When the display is restarted, the measurement step measures the current for the specific pixel circuit as the first current together with the drive step, and the correction step is the first current.
  • a method of driving a display device that includes a recovery rate calculation step of obtaining a recovery rate of characteristics based on a quantity and corrects a video signal using the recovery rate for a specific pixel circuit and a general pixel circuit.
  • the recovery rate of the characteristics of the drive transistor is obtained based on the amount of the current flowing through the drive transistor in the specific pixel circuit, and the normal operation
  • the video signal is corrected using the recovery rate until Therefore, in consideration of the fact that the characteristics of the drive transistor are restored while the display is stopped, it is possible to display an image that is suitably compensated when the display is resumed. Further, by measuring the current flowing through the drive transistor in the specific pixel circuit when the display is restarted, the process for restarting the display can be performed in a short time.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an organic EL display device according to the first embodiment.
  • the organic EL display device 10 shown in FIG. 1 includes a display unit 11, a display control circuit 12, a scanning line drive circuit 13, a data line drive circuit 14, a control line drive circuit 15, a current measurement circuit 16, a memory 17, and a non-volatile memory 18.
  • a correction circuit 20 is provided.
  • m and n are integers of 2 or more
  • i is an integer of 1 or more and m or less
  • j is an integer of 1 or more and n or less.
  • the display unit 11 includes m scanning lines G1 to Gm, n data lines S1 to Sn, m control lines E1 to Em, and (m ⁇ n) pixel circuits 30.
  • the scanning lines G1 to Gm are arranged parallel to each other.
  • the data lines S1 to Sn are arranged parallel to each other and orthogonal to the scanning lines G1 to Gm.
  • the control lines E1 to Em are arranged in parallel with the scanning lines G1 to Gm.
  • the scanning lines G1 to Gm and the data lines S1 to Sn intersect at (m ⁇ n) points.
  • the (m ⁇ n) pixel circuits 30 are arranged corresponding to the intersections of the scanning lines G1 to Gm and the data lines S1 to Sn.
  • the display unit 11 is formed on an organic EL panel (not shown).
  • the scanning line driving circuit 13, the data line driving circuit 14, the control line driving circuit 15, and the current measuring circuit 16 may be formed in whole or in part on the organic EL panel together with
  • FIG. 2 is a circuit diagram of the pixel circuit 30.
  • FIG. 2 shows the pixel circuit 30 in the i-th row and the j-th column.
  • the pixel circuit 30 includes three TFTs (Thin Film Transistors) 31 to 33 and an organic EL element 34.
  • TFTs 31 to 33 are N-channel type transistors.
  • the TFT 31 functions as a drive transistor, and the organic EL element 34 functions as a current-driven display element.
  • a high level power supply voltage EL VDD is applied to the drain terminal of the TFT 31.
  • the source terminal of the TFT 31 is connected to the anode terminal of the organic EL element 34.
  • a low level power supply voltage ELVSS is applied to the cathode terminal of the organic EL element 34.
  • One of the conductive terminals of the TFTs 32 and 33 (the conductive terminal on the left side in FIG. 2) is connected to the data line Sj.
  • the other conductive terminal of the TFT 32 is connected to the gate terminal of the TFT 31.
  • the other conductive terminal of the TFT 33 is connected to the source terminal of the TFT 31 and the anode terminal of the organic EL element 34.
  • the gate terminal of the TFT 32 is connected to the scanning line Gi, and the gate terminal of the TFT 33 is connected to the control line Ei.
  • m horizontal periods and one current measurement period are set in one frame period.
  • a voltage corresponding to the video signal for one line is written to the pixel circuit 30 for one line.
  • the current measurement period the current flowing through the drive transistor is measured when a measurement voltage is applied to the gate terminal of the drive transistor (TFT31) for the pixel circuit 30 for one line.
  • the i-th horizontal period is referred to as Hi
  • the current measurement period of the pixel circuit 30 in the i-th row is referred to as Mi.
  • the display control circuit 12 outputs control signals C1 to C4 to the scanning line drive circuit 13, the data line drive circuit 14, the control line drive circuit 15, and the current measurement circuit 16, respectively.
  • the scanning line drive circuit 13 drives the scanning lines G1 to Gm based on the control signal C1.
  • the data line drive circuit 14 drives the data lines S1 to Sn based on the control signal C2 and the video signal D2 output from the correction circuit 20.
  • the control line drive circuit 15 drives the control lines E1 to Em based on the control signal C3.
  • the current measurement circuit 16 measures the current flowing through the data lines S1 to Sn based on the control signal C4, and outputs a measurement result signal X1 indicating the current measurement result.
  • the scanning line drive circuit 13, the data line drive circuit 14, and the control line drive circuit 15 function as drive circuits for the display unit 11.
  • the scanning line drive circuit 13 applies a high level voltage to the i-th scanning line Gi and a low level voltage to the other scanning lines in the horizontal period Hi.
  • the data line drive circuit 14 applies n voltages corresponding to the video signal D2 corresponding to the pixel circuit 30 on the i-th line to the data lines S1 to Sn, respectively.
  • the control line drive circuit 15 applies a low level voltage to the control lines E1 to Em during the horizontal period Hi.
  • the TFT 32 In the horizontal period Hi, in the pixel circuit 30 on the i-th row, the TFT 32 is turned on and the TFT 33 is turned off. Therefore, a voltage corresponding to the video signal D2 is applied to the gate terminal of the TFT 31.
  • the scan line drive circuit 13 applies a low level voltage to the scan line Gi.
  • the TFT 32 is turned off, so that the gate-source voltage of the TFT 31 does not change thereafter.
  • a drive current of an amount corresponding to the gate-source voltage of the TFT 31 flows through the TFT 31 and the organic EL element 34, and the organic EL element 34 emits light with a brightness corresponding to the amount of the drive current.
  • the pixel circuits 30 in the i-th row are collectively selected, and n voltages corresponding to the video signal D2 are applied to the gate terminals of the TFT 31 in the pixel circuits 30 in the i-th row. Will be done.
  • the organic EL element 34 in the pixel circuit 30 on the i-th row emits light with a brightness corresponding to the video signal D2.
  • the writing period and the measuring period are set in the current measurement period Mi.
  • the scanning line drive circuit 13 applies a high level voltage to the i-th scanning line Gi and a low level voltage to the other scanning lines during the writing period within the current measurement period Mi.
  • the data line drive circuit 14 applies the measurement voltage to the data lines S1 to Sn during the writing period within the current measurement period Mi.
  • the control line drive circuit 15 applies a low level voltage to the control lines E1 to Em during the writing period within the current measurement period Mi.
  • the TFT 32 is turned on and the TFT 33 is turned off in the pixel circuit 30 on the i-th row. Therefore, a measurement voltage is applied to the gate terminal of the TFT 31.
  • the pixel circuit 30 in the i-th row is collectively selected, and the measurement voltage is applied to the gate terminal of the TFT 31 in the pixel circuit 30 in the i-th row.
  • the scanning line drive circuit 13 applies a low level voltage to the scanning lines G1 to Gm during the measurement period within the current measurement period Mi.
  • the data line drive circuit 14 does not apply a voltage to the data lines S1 to Sn during the measurement period within the current measurement period Mi.
  • the control line drive circuit 15 applies a high level voltage to the i-th control line Ei and a low level voltage to the other control lines during the measurement period within the current measurement period Mi.
  • the TFT 32 is turned off and the TFT 33 is turned on in the pixel circuit 30 on the i-th row. Therefore, the current flowing through the drive transistor (TFT31) is output from the pixel circuit 30 on the i-th row to the data lines S1 to Sn.
  • the current measurement circuit 16 measures n currents output to the data lines S1 to Sn during the measurement period within the current measurement period Mi.
  • the video signal D1 output from the display control circuit 12 and the measurement result signal X1 output from the current measurement circuit 16 are input to the correction circuit 20.
  • the correction circuit 20 obtains the characteristics of the drive transistor based on the amount of current indicated by the measurement result signal X1, corrects the video signal D1 used for driving the display unit 11 based on the obtained characteristics, and obtains the corrected video signal D2 as data. Output to the line drive circuit 14. At this time, the correction circuit 20 uses the memory 17 as a working memory.
  • the organic EL display device 10 measures the current flowing through the drive transistor when a measurement voltage is applied to the gate terminal of the drive transistor (TFT31) outside the display unit 11, and the display unit 11 is based on the measured current. Processing (external compensation) for correcting the video signal D1 used for driving the
  • FIG. 3 is an IV characteristic diagram of the drive transistor.
  • FIG. 3 shows the initial characteristics, the characteristics after deterioration, and the characteristics after recovery for one drive transistor.
  • the threshold voltage of the drive transistor is Vth1
  • the drive transistor has the characteristics shown by the broken line.
  • the threshold voltage of the drive transistor rises from Vth1 to Vth2 due to deterioration.
  • the threshold voltage of the drive transistor is Vth2, and the drive transistor has the characteristics shown by the alternate long and short dash line. While the display is stopped, the threshold voltage of the drive transistor drops from Vth2 to Vth3 due to recovery. At the time when the display is resumed, the threshold voltage of the drive transistor is Vth3, and the drive transistor has the characteristics shown by the solid line.
  • the amount of change in threshold voltage (Vth2-Vth1) due to deterioration is called the amount of deterioration and is expressed as ⁇ Vtha.
  • the amount of change (Vth2-Vth3) of the threshold voltage in the opposite direction due to recovery is called the recovery amount and is expressed as ⁇ Vthb.
  • the ratio of the amount of recovery to the amount of deterioration ( ⁇ Vthb / ⁇ Vtha) is called the recovery rate and is expressed as ⁇ .
  • the recovery rate ⁇ takes a value of 0 or more and 1 or less.
  • the organic EL display device 10 among the (m ⁇ n) pixel circuits 30, a plurality of pixel circuits that measure the current in advance when the display is restarted are predetermined.
  • a pixel circuit is referred to as a specific pixel circuit
  • other pixel circuits are referred to as general pixel circuits.
  • the pixel circuit 30 is classified into a specific pixel circuit and a general pixel circuit.
  • the current flowing through the drive transistor is measured for the specific pixel circuit in the same manner as in the current measurement period.
  • the number of specific pixel circuits is sufficiently smaller than the number of general pixel circuits.
  • the entire pixel circuit 30 having one to several lines may be a specific pixel circuit, or a part of the pixel circuit 30 having one to several lines may be a specific pixel circuit.
  • all or a part of the pixel circuits 30 having one to several lines near the center in the display screen may be determined as the specific pixel circuits.
  • all or a part of the pixel circuits 30 in a plurality of rows separated from each other in the display screen may be determined as the specific pixel circuits.
  • FIG. 4 is a block diagram showing details of the correction circuit 20.
  • the correction circuit 20 includes a correction calculation unit 21, a recovery rate calculation unit 22, and a characteristic calculation unit 23.
  • 5 to 7 are diagrams showing the normal operation of the correction circuit 20, the operation when the power is off, and the operation when the power is on, respectively.
  • some elements of the organic EL display device 10 are omitted.
  • the memory 17 stores the threshold voltage Vth (current threshold voltage) of the drive transistor for each pixel circuit 30.
  • the correction calculation unit 21 reads the threshold voltage Vth of the drive transistor from the memory 17.
  • the correction calculation unit 21 obtains the corrected video signal D2 by correcting the video signal D1 output from the display control circuit 12 using the threshold voltage Vth read from the memory 17.
  • the data line drive circuit 14 drives the data lines S1 to Sn based on the corrected video signal D2 in each horizontal period.
  • the data line drive circuit 14 applies a measurement voltage to the data lines S1 to Sn during the writing period within the current measurement period.
  • the current flowing through the drive transistor is output from the pixel circuit 30 for one line to the data lines S1 to Sn.
  • the current measurement circuit 16 measures n currents output to the data lines S1 to Sn, and outputs a measurement result signal X1 indicating the current measurement result.
  • the characteristic calculation unit 23 obtains the threshold voltage Vth of the drive transistor for each pixel circuit 30 based on the measurement result signal X1 output from the current measurement circuit 16.
  • the threshold voltage Vth obtained by the characteristic calculation unit 23 is stored in the memory 17.
  • the current measuring circuit 16 may measure the current for the pixel circuits 30 in a plurality of rows during the current measurement period, or may measure the current for the pixel circuits 30 in all the rows at a required timing.
  • the current flowing through the drive transistor is measured for the specific pixel circuit in the same way as during the current measurement period.
  • the process of measuring the current flowing through the drive transistor is performed p times for the pixel circuits 30 for one row.
  • the current measurement circuit 16 measures n currents output to the data lines S1 to Sn in each process, and outputs a measurement result signal X1 indicating the current measurement result.
  • the characteristic calculation unit 23 obtains the threshold voltage Vth of the drive transistor in the specific pixel circuit based on the measurement result signal X1 output from the current measurement circuit 16.
  • the obtained threshold voltage Vth is stored in the memory 17.
  • the threshold voltage of the drive transistor in the specific pixel circuit stored in the memory 17 is updated to the latest value when the power is turned off. After that, all the threshold voltage Vth stored in the memory 17 is copied and transferred to the non-volatile memory 18.
  • the memory 17 When the power is turned on (FIG. 7), all the threshold voltage Vth stored in the non-volatile memory 18 is copied and transferred to the memory 17. Further, the current flowing through the drive transistor for the specific pixel circuit is measured prior to the general pixel circuit in the same manner as the current measurement period. When the current measurement for all the specific pixel circuits is completed, the memory 17 has the threshold voltage of the drive transistor of the general pixel circuit obtained by the normal operation before the power is turned off, and the drive in the specific pixel circuit obtained when the power is turned off. It stores the threshold voltage of the transistor and the threshold voltage of the drive transistor in the specific pixel circuit obtained when the power is turned on.
  • the recovery rate calculation unit 22 obtains the recovery rate ⁇ for each pixel circuit 30 by a method described later based on these threshold voltages. After the power is turned on, the correction calculation unit 21 corrects the video signal D1 for the specific pixel circuit and the general pixel circuit by using a calculation formula depending on the recovery rate ⁇ until the current measurement for all the general pixel circuits is completed. After that, the correction calculation unit 21 corrects the video signal D1 for the specific pixel circuit and the general pixel circuit by using a calculation formula that does not depend on the recovery rate ⁇ (normal operation).
  • the organic EL display device 10 stops the display when, for example, a display off instruction is received or when the user does not operate for a predetermined time. Even in these cases, the organic EL display device 10 performs the above-described operation when the power is turned off. The organic EL display device 10 resumes display when, for example, receives a display on instruction. At this time as well, the organic EL display device 10 performs the above-described operation when the power is turned on. However, when the power is not turned off, it is not necessary to copy and transfer the threshold voltage between the memory 17 and the non-volatile memory 18.
  • FIG. 8 is a block diagram showing details of the correction calculation unit 21.
  • the correction calculation unit 21 includes a CV / I conversion unit 24, an I / V conversion unit 25, and a V / CV conversion unit 26.
  • the correction calculation unit 21 obtains the code value CVout included in the video signal D2 based on the code value CVin included in the video signal D1 will be described.
  • the code values CVin and CVout are, for example, 8-bit data.
  • the CV / I conversion unit 24 converts the input code value CVin into the current value I.
  • the current value is proportional to about the square of the code value.
  • the CV / I conversion unit 24 includes, for example, a table that stores the correspondence between the code value and the current value. By using the table, the CV / I conversion unit 24 can be easily realized.
  • the I / V conversion unit 25 converts the current value I obtained by the CV / I conversion unit 24 into a voltage value V.
  • the threshold voltage Vth of the drive transistor read from the memory 17 and the recovery rate ⁇ obtained by the recovery rate calculation unit 22 are input to the I / V conversion unit 25.
  • the current value is proportional to about 1/2 of the voltage value.
  • the I / V conversion unit 25 includes, for example, a table that stores the correspondence between the current value and the voltage value.
  • the I / V conversion unit 25 obtains the corrected voltage value V by performing the calculation shown in the following equation (1).
  • the I / V conversion unit 25 obtains the corrected voltage value V by performing the calculation shown in the following equation (2) until the current measurement for all the general pixel circuits is completed when the display is resumed.
  • V V0 + (Vth3-Vth1) ...
  • V V0 + (1- ⁇ ) ⁇ (Vth2-Vth1)... (2)
  • V0 the voltage value corresponding to the current value I
  • Vth1 is the threshold voltage of the drive transistor in the initial state
  • Vth2 is the general pixel circuit obtained by normal operation before the power is turned off.
  • the threshold voltage of the drive transistor in (or the threshold voltage of the drive transistor in the specific pixel circuit obtained when the power is turned off) and Vth3 represent the threshold voltage of the drive transistor at the present time.
  • the V / CV conversion unit 26 converts the voltage value V obtained by the I / V conversion unit 25 into the code value CVout.
  • the code value is proportional to the voltage value.
  • the V / CV conversion unit 26 includes, for example, a table that stores the correspondence between the voltage value and the code value, or a multiplier.
  • the V / CV converter 26 can be easily realized by using a table or a multiplier.
  • the correction calculation unit 21 obtains the code value CVout based on the code value CVin by using the equation (1) that does not depend on the recovery rate ⁇ . As a result, it is possible to appropriately correct the video signal in consideration of the deterioration of the characteristics of the drive transistor and display the appropriately compensated image in the normal state. Further, until the current measurement is completed for all the general pixel circuits when the display is restarted, the correction calculation unit 21 uses the equation (2) depending on the recovery rate ⁇ to obtain the code value CVout based on the code value CVin. Ask. As a result, when the display is resumed, the video signal can be appropriately corrected in consideration of the specific deterioration and characteristic recovery of the drive transistor, and the appropriately compensated image can be displayed.
  • FIG. 9 is a diagram showing the relationship between the amount of deterioration and the recovery rate. As shown in FIG. 9, the recovery rate decreases as the amount of deterioration increases. In addition, the relationship between the amount of deterioration and the recovery rate changes depending on various conditions (for example, the length of the period during which the power is off, the operating temperature, etc.). The recovery rate is not uniquely determined according to the amount of deterioration, and the recovery rate differs even among the pixel circuits 30 included in the same display unit 11.
  • the recovery rate calculation unit 22 determines the relationship between the deterioration amount and the recovery rate based on the deterioration amount and the recovery rate (hereinafter, referred to as individual deterioration amount and individual recovery rate) individually obtained for a plurality of specific pixel circuits.
  • the recovery rate ⁇ is obtained for each pixel circuit based on the amount of deterioration based on the value of the current measured before the display is stopped and the obtained relationship.
  • the three pixel circuits Pa, Pb, and Pc are specific pixel circuits.
  • the pixel circuits Pa, Pb, and Pc may be arranged in the same row or may be arranged in different rows.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining the operation of the recovery rate calculation unit 22 according to the present embodiment.
  • the recovery rate calculation unit 22 first obtains the individual deterioration amount and the individual recovery rate for the pixel circuits Pa, Pb, and Pc (FIG. 10A).
  • the recovery rate calculation unit 22 performs interpolation processing and extrapolation processing based on the individual deterioration amount and the individual recovery rate of the pixel circuits Pa, Pb, and Pc, thereby showing the relationship between the deterioration amount and the recovery rate.
  • the curve is estimated (Fig. 10 (b)).
  • the recovery rate calculation unit 22 obtains the recovery rate ⁇ of the pixel circuit with reference to the recovery rate curve based on the deterioration amount Dx of the pixel circuit (FIG. 10 (c)).
  • the display device (organic EL display device 1) is a plurality of pixel circuits including a drive transistor (TFT31) and a display element (organic EL element 34), each of which is connected in series.
  • a drive transistor flows outside the display unit 11 including the display unit 11, the drive circuit (scan line drive circuit 13, data line drive circuit 14, and control line drive circuit 15) that drives the display unit 11, and the display unit 11.
  • a current measuring circuit 16 for measuring a current and a correction circuit 20 for obtaining a characteristic (threshold voltage) of a driving transistor based on the amount of current and correcting the video signal D1 used for driving the display unit 11 based on the obtained characteristic are provided. ing.
  • the pixel circuit 30 is classified into a specific pixel circuit and a general pixel circuit.
  • the current measurement circuit 16 measures the above current as the first current for the specific pixel circuit together with the drive circuit, and the correction circuit 20 ,
  • the recovery rate calculation unit 22 for obtaining the recovery rate ⁇ of the characteristic based on the amount of the first current is included, and the video signal D1 is corrected by using the recovery rate ⁇ for the specific pixel circuit and the general pixel circuit.
  • the recovery rate ⁇ of the characteristics of the drive transistor is obtained based on the amount of current flowing through the drive transistor in the specific pixel circuit, and the video signal is obtained until normal operation becomes possible. D1 is corrected using the recovery rate ⁇ . Therefore, according to the above display device, it is possible to display an image that is suitably compensated when the display is resumed, considering that the characteristics of the drive transistor are restored while the display is stopped. Further, by measuring the current flowing through the drive transistor in the specific pixel circuit when the display is restarted, the process for restarting the display can be performed in a short time.
  • the current measurement circuit 16 stops the display
  • the current is measured as the second current for the specific pixel circuit together with the drive circuit
  • the recovery rate calculation unit 22 has a characteristic based on the amount of the first current and a second current.
  • the recovery rate ⁇ is obtained based on the characteristics based on the amount of current. Therefore, when the display is stopped, the latest characteristics of the drive transistor in the specific pixel circuit can be obtained. Therefore, it is possible to obtain a suitable recovery rate and display a properly compensated image when the display is resumed.
  • the display unit 11 includes a plurality (three) specific pixel circuits
  • the recovery rate calculation unit 22 obtains the individual deterioration amount and the individual recovery rate of the characteristics of the specific pixel circuit, and determines the individual deterioration amount and the individual recovery rate.
  • the relationship between the amount of deterioration and the recovery rate was obtained based on Ask. Therefore, a suitable recovery rate ⁇ can be obtained by using a plurality of specific pixel circuits, and an image appropriately compensated can be displayed when the display is resumed.
  • the specific pixel circuit is a plurality of pixel circuits 30 included in a plurality of lines of the display unit 11. Therefore, even if there are variations in the changes in the characteristics of the display unit 11, a suitable recovery rate ⁇ can be obtained.
  • the characteristic of the drive transistor is the threshold voltage of the drive transistor. Therefore, in consideration of the fact that the threshold voltage of the drive transistor is restored while the display is stopped, it is possible to display an image that is suitably compensated when the display is resumed.
  • the organic EL display device according to the second embodiment has the same configuration as the organic EL display device according to the first embodiment and operates in the same manner (see FIGS. 1 and 5 to 7).
  • the recovery rate calculation unit 22 obtains the recovery rate ⁇ by a method different from that of the first embodiment.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining the operation of the recovery rate calculation unit 22 according to the present embodiment.
  • the recovery rate calculation unit 22 according to the present embodiment first obtains the individual deterioration amount and the individual recovery rate for the pixel circuits Pa, Pb, and Pc (FIG. 11A). Next, the recovery rate calculation unit 22 obtains the average value of the obtained individual recovery rates, and sets the obtained average value as the recovery rate ⁇ of all the pixel circuits 30.
  • the display unit 11 includes a plurality (three) of specific pixel circuits, and the recovery rate calculation unit 22 obtains the individual recovery rate of the characteristics of the drive transistor for the specific pixel circuit.
  • the average value of the obtained individual recovery rates is calculated as the recovery rate ⁇ . Therefore, the recovery rate of the characteristics of the drive transistor can be easily obtained.
  • the number of specific pixel circuits when the number of specific pixel circuits is small, the error of the recovery rate ⁇ becomes large. Therefore, in the organic EL display device according to the present embodiment, it is preferable that the number of specific pixel circuits is large to some extent.
  • the organic EL display device according to the third embodiment has the same configuration as the organic EL display device according to the first and second embodiments, and operates in the same manner (see FIGS. 1 and 5 to 7). ..
  • the recovery rate calculation unit 22 obtains the recovery rate ⁇ by a method different from that of the first and second embodiments.
  • the nine pixel circuits are specific pixel circuits, and three red pixel circuits, three green pixel circuits, and three blue pixel circuits are included in the specific pixel circuits.
  • FIG. 12 is a diagram for explaining the operation of the recovery rate calculation unit 22 according to the present embodiment.
  • the recovery rate calculation unit 22 according to the present embodiment first obtains the individual deterioration amount and the individual recovery rate for the nine specific pixel circuits. Next, the recovery rate calculation unit 22 classifies the nine specific pixel circuits into three according to the display color. Next, the recovery rate calculation unit 22 obtains the average value of the individual recovery rates for each display color, and uses the obtained average value as the recovery rate of the pixel circuit 30 of each color.
  • the recovery rate calculation unit 22 obtains the average value ⁇ R of the individual recovery rates of the three specific pixel circuits that are the red pixel circuits, and sets the average value ⁇ R as the recovery rate of the red pixel circuit (FIG. 12 (FIG. 12). a)).
  • the recovery rate calculation unit 22 is a blue pixel circuit, with the average value ⁇ G of the individual recovery rates of the three specific pixel circuits, which are the green pixel circuits, as the recovery rate of the green pixel circuit (FIG. 12B). Let the average value ⁇ B of the individual recovery rates of the three specific pixel circuits be the recovery rate of the blue pixel circuit (FIG. 12 (c)).
  • the organic EL display device when the display frequency of red is higher than the display frequency of green and blue, the characteristics of the drive transistors in the red pixel circuit deteriorate faster than the characteristics of the drive transistors in the pixel circuits of other colors. Even in such a case, according to the organic EL display device according to the present embodiment, it is possible to obtain the recovery rate of the characteristics of the drive transistor for each display color and display an image appropriately compensated when the display is restarted. it can.
  • the display unit 11 includes a plurality (9) of specific pixel circuits, and the recovery rate calculation unit 22 obtains the individual recovery rate of the characteristics of the specific pixel circuit, and the individual recovery rate.
  • the average values ⁇ R, ⁇ G, and ⁇ B for each display color of are obtained as the recovery rate ⁇ . Therefore, the recovery rate of the characteristics of the drive transistor can be easily obtained for each display color.
  • the specific pixel circuit may be a plurality of pixel circuits included in a plurality of lines of the display unit 11.
  • a suitable recovery rate ⁇ can be obtained by using a plurality of specific pixel circuits, and an image appropriately compensated can be displayed when the display is resumed.
  • the specific pixel circuit may be a plurality of pixel circuits included in one line of the display unit 11, or may be a single pixel circuit included in the display unit 11. In these cases, the operation of measuring the current flowing through the drive transistor can be performed only once, and the recovery rate can be easily obtained.
  • the correction circuit 20 may correct the video signal D1 without using the recovery rate ⁇ .
  • a predetermined value for example, 0.1
  • the pixel circuit 30 may have an arbitrary configuration as long as it has a function of outputting a current flowing through the drive transistor.
  • the display unit 11 may include a monitor line in addition to the data line, and the pixel circuit 30 may output the current flowing through the drive transistor to the monitor line.
  • the correction circuit 20 may obtain characteristics other than the threshold voltage as the characteristics of the drive transistor. Further, the correction circuit 20 does not include the characteristic calculation unit 23, and the measurement result signal X1 output from the current measurement circuit 16 may be written to the memory 17 as it is. In this case, the correction calculation unit 21 and the recovery rate calculation unit 22 may have the functions of the characteristic calculation unit 23.
  • Deterioration and recovery of drive transistors include not only organic EL display devices, but also inorganic EL display devices that include inorganic light emitting diodes as display elements, QLED (Quantum-dot Light Emitting Diode) display devices that include quantum dot light emitting diodes as display elements, etc. It also occurs in display devices that include other current-driven display elements. Therefore, the same method as in the first to third embodiments may be applied to various display devices including a current-driven display element.

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Abstract

外部補償を行う表示装置において、画素回路は特定画素回路と一般画素回路に分類される。電流測定回路は、表示を再開するときに、駆動回路と共に特定画素回路について駆動トランジスタを流れる電流を第１電流として測定する。補正回路は、第１電流の量に基づき駆動トランジスタの特性の回復率を求め、特定画素回路と一般画素回路について回復率を用いて映像信号を補正する。これにより、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示する。

Description

表示装置およびその駆動方法
　本発明は、表示装置に関し、特に、電流駆動型の表示素子を含む表示装置、および、その駆動方法に関する。
　有機エレクトロルミネッセンス（Electro Luminescence：以下、ＥＬという）表示装置は、薄型、軽量、高画質の表示装置として各種の電子機器に使用されている。有機ＥＬ表示装置の表示部（有機ＥＬパネル）は、それぞれが駆動トランジスタと有機ＥＬ素子とを含む複数の画素回路を含んでいる。各画素回路において、駆動トランジスタと有機ＥＬ素子は直列に接続され、駆動トランジスタと有機ＥＬ素子にはほぼ同じ量の駆動電流が流れる。駆動電流の量は駆動トランジスタのゲート－ソース間電圧に応じて変化し、有機ＥＬ素子は駆動電流の量に応じた輝度で発光する。
　駆動トランジスタの特性は、表示中に徐々に劣化する。以下、駆動トランジスタの特性のうち、閾値電圧に着目する。駆動トランジスタの閾値電圧は、表示中に駆動電流が減少する方向に徐々に変化する（高くなるか、低くなる）。このため、表示時間が長いほど、有機ＥＬ素子を流れる駆動電流は減少し、表示部の輝度は低下する。
　輝度低下に対する対策として、有機ＥＬ表示装置の中には、駆動トランジスタのゲート端子に測定用電圧を印加したときに駆動トランジスタを流れる電流を表示部の外部で測定し、測定した電流に基づき表示部の駆動に用いる映像信号を補正する処理（以下、外部補償という）を行うものがある。外部補償を行う有機ＥＬ表示装置は、例えば、特許文献１～３に記載されている。外部補償を行うことにより、駆動トランジスタの特性の劣化を補償し、輝度低下を防止することができる。
日本国特開２００６－９１７０９号公報 国際公開第２０１４／１４１９５８号 国際公開第２０１４／２０８４５９号
　駆動トランジスタの特性は、基本的に表示時間の経過と共に劣化する。ただし、駆動トランジスタの特性は、表示停止中にある程度回復する。このため、表示を停止した後に表示を再開するときに、表示停止前に測定した電流に基づき映像信号を補正した場合、映像信号は過剰に補正され、過剰に補償された画像が表示される。
　外部補償を行う具体的な方法として、１フレーム期間内に電流測定期間を設け、電流測定期間において１～数行分の画素回路内の駆動トランジスタを流れる電流を測定する方法（以下、リアルタイムモニタという）が知られている。しかし、リアルタイムモニタを行う場合、すべての画素回路について駆動トランジスタを流れる電流を測定するまでに、例えば１分以上かかる。このためリアルタイムモニタを行う有機ＥＬ表示装置でも、表示を再開した後しばらくの間、映像信号は過剰に補正され、過剰に補償された画像が表示される。
　それ故に、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示する表示装置を提供することが課題として挙げられる。
　上記の課題は、例えば、それぞれが直列に接続された駆動トランジスタと表示素子とを含む複数の画素回路を含む表示部と、表示部を駆動する駆動回路と、表示部の外部で、駆動トランジスタを流れる電流を測定する電流測定回路と、電流の量に基づき駆動トランジスタの特性を求め、表示部の駆動に用いる映像信号を求めた特性に基づき補正する補正回路とを備え、画素回路は特定画素回路と一般画素回路とに分類され、電流測定回路は、表示を再開するときに、駆動回路と共に特定画素回路について電流を第１電流として測定し、補正回路は、第１電流の量に基づき特性の回復率を求める回復率算出部を含み、特定画素回路と一般画素回路について回復率を用いて映像信号を補正する表示装置によって解決することができる。
　上記の課題は、それぞれが直列に接続された駆動トランジスタと表示素子とを含む複数の画素回路を含む表示部を有する表示装置の駆動方法であって、表示部を駆動する駆動ステップと、表示部の外部で、駆動トランジスタを流れる電流を測定する測定ステップと、電流の量に基づき駆動トランジスタの特性を求め、表示部の駆動に用いる映像信号を求めた特性に基づき補正する補正ステップとを備え、画素回路は特定画素回路と一般画素回路とに分類され、測定ステップは、表示を再開するときに、駆動ステップと共に特定画素回路について電流を第１電流として測定し、補正ステップは、第１電流の量に基づき特性の回復率を求める回復率算出ステップを含み、特定画素回路と一般画素回路について回復率を用いて映像信号を補正する表示装置の駆動方法によっても解決することができる。
　上記の表示装置または表示装置の駆動方法によれば、表示を再開するときに、特定画素回路内の駆動トランジスタを流れる電流の量に基づき駆動トランジスタの特性の回復率が求められ、通常時の動作が可能になるまで映像信号は回復率を用いて補正される。したがって、駆動トランジスタの特性が表示停止中に回復すること考慮して、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。また、表示を再開するときに、特定画素回路内の駆動トランジスタを流れる電流を測定することにより、表示を再開するときの処理を短時間で行うことができる。
第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の画素回路の回路図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の駆動トランジスタのＩ－Ｖ特性図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の補正回路の詳細を示すブロック図である。 図４に示す補正回路の通常時の動作を示す図である。 図４に示す補正回路の電源オフ時の動作を示す図である。 図４に示す補正回路の電源オン時の動作を示す図である。 図４に示す補正回路の補正演算部の詳細を示すブロック図である。 図１に示す有機ＥＬ表示装置の駆動トランジスタの劣化量と回復率の関係を示す図である。 第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の回復率算出部の動作を説明するための図である。 第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の回復率算出部の動作を説明するための図である。 第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の回復率算出部の動作を説明するための図である。
　（第１の実施形態）
　図１は、第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示すブロック図である。図１に示す有機ＥＬ表示装置１０は、表示部１１、表示制御回路１２、走査線駆動回路１３、データ線駆動回路１４、制御線駆動回路１５、電流測定回路１６、メモリ１７、不揮発性メモリ１８、および、補正回路２０を備えている。以下、ｍおよびｎは２以上の整数、ｉは１以上ｍ以下の整数、ｊは１以上ｎ以下の整数であるとする。
　表示部１１は、ｍ本の走査線Ｇ１～Ｇｍ、ｎ本のデータ線Ｓ１～Ｓｎ、ｍ本の制御線Ｅ１～Ｅｍ、および、（ｍ×ｎ）個の画素回路３０を含んでいる。走査線Ｇ１～Ｇｍは、互いに平行に配置される。データ線Ｓ１～Ｓｎは、互いに平行に走査線Ｇ１～Ｇｍと直交するように配置される。制御線Ｅ１～Ｅｍは、走査線Ｇ１～Ｇｍと平行に配置される。走査線Ｇ１～Ｇｍとデータ線Ｓ１～Ｓｎは、（ｍ×ｎ）箇所で交差する。（ｍ×ｎ）個の画素回路３０は、走査線Ｇ１～Ｇｍとデータ線Ｓ１～Ｓｎの交点に対応して配置される。表示部１１は、図示しない有機ＥＬパネル上に形成される。走査線駆動回路１３、データ線駆動回路１４、制御線駆動回路１５、および、電流測定回路１６の全部または一部を表示部１１と共に有機ＥＬパネル上に形成してもよい。
　図２は、画素回路３０の回路図である。図２には、ｉ行ｊ列目の画素回路３０が記載されている。画素回路３０は、３個のＴＦＴ（Thin Film Transistor：薄膜トランジスタ）３１～３３、および、有機ＥＬ素子３４を含んでいる。ＴＦＴ３１～３３は、Ｎチャネル型のトランジスタである。ＴＦＴ３１は駆動トランジスタとして機能し、有機ＥＬ素子３４は電流駆動型の表示素子として機能する。
　ＴＦＴ３１のドレイン端子には、ハイレベル電源電圧ＥＬＶＤＤが印加される。ＴＦＴ３１のソース端子は、有機ＥＬ素子３４のアノード端子に接続される。有機ＥＬ素子３４のカソード端子には、ローレベル電源電圧ＥＬＶＳＳが印加される。ＴＦＴ３２、３３の一方の導通端子（図２では左側の導通端子）は、データ線Ｓｊに接続される。ＴＦＴ３２の他方の導通端子は、ＴＦＴ３１のゲート端子に接続される。ＴＦＴ３３の他方の導通端子は、ＴＦＴ３１のソース端子と有機ＥＬ素子３４のアノード端子に接続される。ＴＦＴ３２のゲート端子は走査線Ｇｉに接続され、ＴＦＴ３３のゲート端子は制御線Ｅｉに接続される。
　有機ＥＬ表示装置１０では、１フレーム期間にｍ個の水平期間と１個の電流測定期間とが設定される。各水平期間では、１行分の画素回路３０に対して、１行分の映像信号に応じた電圧がそれぞれ書き込まれる。電流測定期間では、１行分の画素回路３０について、駆動トランジスタ（ＴＦＴ３１）のゲート端子に測定用電圧を印加したときに駆動トランジスタを流れる電流が測定される。以下、ｉ番目の水平期間をＨｉ、ｉ行目の画素回路３０の電流測定期間をＭｉという。
　表示制御回路１２は、走査線駆動回路１３、データ線駆動回路１４、制御線駆動回路１５、および、電流測定回路１６に対して、制御信号Ｃ１～Ｃ４をそれぞれ出力する。走査線駆動回路１３は、制御信号Ｃ１に基づき、走査線Ｇ１～Ｇｍを駆動する。データ線駆動回路１４は、制御信号Ｃ２と補正回路２０から出力された映像信号Ｄ２とに基づき、データ線Ｓ１～Ｓｎを駆動する。制御線駆動回路１５は、制御信号Ｃ３に基づき、制御線Ｅ１～Ｅｍを駆動する。電流測定回路１６は、制御信号Ｃ４に基づき、データ線Ｓ１～Ｓｎを流れる電流を測定し、電流測定結果を示す測定結果信号Ｘ１を出力する。走査線駆動回路１３、データ線駆動回路１４、および、制御線駆動回路１５は、表示部１１の駆動回路として機能する。
　走査線駆動回路１３は、水平期間Ｈｉにおいて、ｉ番目の走査線Ｇｉにハイレベル電圧を印加し、他の走査線にローレベル電圧を印加する。データ線駆動回路１４は、水平期間Ｈｉにおいて、ｉ行目の画素回路３０に対応する映像信号Ｄ２に応じたｎ個の電圧をデータ線Ｓ１～Ｓｎにそれぞれ印加する。制御線駆動回路１５は、水平期間Ｈｉにおいて、制御線Ｅ１～Ｅｍにローレベル電圧を印加する。
　水平期間Ｈｉにおいて、ｉ行目の画素回路３０では、ＴＦＴ３２はオンし、ＴＦＴ３３はオフする。このため、ＴＦＴ３１のゲート端子には映像信号Ｄ２に応じた電圧が印加される。水平期間Ｈｉの終了時に、走査線駆動回路１３は、走査線Ｇｉにローレベル電圧を印加する。このときＴＦＴ３２はオフするので、ＴＦＴ３１のゲート－ソース間電圧はこれ以降変化しない。水平期間Ｈｉの終了後、ＴＦＴ３１と有機ＥＬ素子３４にはＴＦＴ３１のゲート－ソース間電圧に応じた量の駆動電流が流れ、有機ＥＬ素子３４は駆動電流の量に応じた輝度で発光する。
　このように水平期間Ｈｉでは、ｉ行目の画素回路３０が一括して選択され、ｉ行目の画素回路３０内のＴＦＴ３１のゲート端子には映像信号Ｄ２に応じたｎ個の電圧がそれぞれ印加される。水平期間Ｈｉの終了後、ｉ行目の画素回路３０内の有機ＥＬ素子３４は、映像信号Ｄ２に応じた輝度で発光する。
　電流測定期間Ｍｉには、書き込み期間と測定期間が設定される。走査線駆動回路１３は、電流測定期間Ｍｉ内の書き込み期間において、ｉ番目の走査線Ｇｉにハイレベル電圧を印加し、他の走査線にローレベル電圧を印加する。データ線駆動回路１４は、電流測定期間Ｍｉ内の書き込み期間において、測定用電圧をデータ線Ｓ１～Ｓｎに印加する。制御線駆動回路１５は、電流測定期間Ｍｉ内の書き込み期間において、制御線Ｅ１～Ｅｍにローレベル電圧を印加する。
　電流測定期間Ｍｉ内の書き込み期間において、ｉ行目の画素回路３０では、ＴＦＴ３２はオンし、ＴＦＴ３３はオフする。このため、ＴＦＴ３１のゲート端子には測定用電圧が印加される。このように電流測定期間Ｍｉ内の書き込み期間では、ｉ行目の画素回路３０が一括して選択され、ｉ行目の画素回路３０内のＴＦＴ３１のゲート端子には測定用電圧が印加される。
　走査線駆動回路１３は、電流測定期間Ｍｉ内の測定期間において、走査線Ｇ１～Ｇｍにローレベル電圧を印加する。データ線駆動回路１４は、電流測定期間Ｍｉ内の測定期間において、データ線Ｓ１～Ｓｎに電圧を印加しない。制御線駆動回路１５は、電流測定期間Ｍｉ内の測定期間において、ｉ番目の制御線Ｅｉにハイレベル電圧を印加し、他の制御線にローレベル電圧を印加する。
　電流測定期間Ｍｉ内の測定期間において、ｉ行目の画素回路３０では、ＴＦＴ３２はオフし、ＴＦＴ３３はオンする。このため、ｉ行目の画素回路３０からデータ線Ｓ１～Ｓｎに、駆動トランジスタ（ＴＦＴ３１）を流れる電流が出力される。電流測定回路１６は、電流測定期間Ｍｉ内の測定期間において、データ線Ｓ１～Ｓｎに出力されたｎ個の電流を測定する。
　補正回路２０には、表示制御回路１２から出力された映像信号Ｄ１と、電流測定回路１６から出力された測定結果信号Ｘ１とが入力される。補正回路２０は、測定結果信号Ｘ１が示す電流の量に基づき駆動トランジスタの特性を求め、表示部１１の駆動に用いる映像信号Ｄ１を求めた特性に基づき補正し、補正後の映像信号Ｄ２をデータ線駆動回路１４に対して出力する。このとき、補正回路２０は、メモリ１７を作業用メモリとして用いる。
　このように有機ＥＬ表示装置１０は、駆動トランジスタ（ＴＦＴ３１）のゲート端子に測定用電圧を印加したときに駆動トランジスタを流れる電流を表示部１１の外部で測定し、測定した電流に基づき表示部１１の駆動に用いる映像信号Ｄ１を補正する処理（外部補償）を行う。
　以下、駆動トランジスタの特性の初期特性からの劣化と初期特性への回復、および、表示輝度特性を初期輝度特性に戻すための映像信号Ｄ１の補正について説明する。以下の説明では、駆動トランジスタの特性のうち閾値電圧に着目する。図３は、駆動トランジスタのＩ－Ｖ特性図である。図３には、１個の駆動トランジスタについて、初期特性、劣化後の特性、および、回復後の特性が記載されている。初期状態では、駆動トランジスタの閾値電圧はＶｔｈ１であり、駆動トランジスタは破線で示す特性を有する。表示中に、駆動トランジスタの閾値電圧は劣化によりＶｔｈ１からＶｔｈ２に上昇する。表示を停止する時点で、駆動トランジスタの閾値電圧はＶｔｈ２であり、駆動トランジスタは一点鎖線で示す特性を有する。表示停止中に、駆動トランジスタの閾値電圧は回復によりＶｔｈ２からＶｔｈ３に下降する。表示を再開する時点で、駆動トランジスタの閾値電圧はＶｔｈ３であり、駆動トランジスタは実線で示す特性を有する。
　劣化による閾値電圧の変化量（Ｖｔｈ２－Ｖｔｈ１）を劣化量といい、ΔＶｔｈａと表す。回復による閾値電圧の逆方向への変化量（Ｖｔｈ２－Ｖｔｈ３）を回復量といい、ΔＶｔｈｂと表す。劣化量に対する回復量の割合（ΔＶｔｈｂ／ΔＶｔｈａ）を回復率といい、αと表す。回復率αは、０以上１以下の値を取る。
　有機ＥＬ表示装置１０では、（ｍ×ｎ）個の画素回路３０のうち、表示を再開するときに先行して電流を測定する複数の画素回路が予め決定されている。以下、このような画素回路を特定画素回路といい、それ以外の画素回路を一般画素回路という。画素回路３０は、特定画素回路と一般画素回路に分類される。有機ＥＬ表示装置１０では、表示を停止するときと表示を再開するときに、電流測定期間と同様の方法で、特定画素回路について駆動トランジスタを流れる電流が測定される。
　特定画素回路の個数は、一般画素回路の個数よりも十分に少ないことが好ましい。例えば、１～数行の画素回路３０の全部を特定画素回路としてもよく、１～数行の画素回路３０の一部を特定画素回路としてもよい。特に、輝度が高く、劣化しやすいと予測される画素回路３０を特定画素回路として決定することが好ましい。例えば、表示画面内で中央付近にある１～数行の画素回路３０の全部または一部を特定画素回路として決定してもよい。あるいは、表示画面内で互いに離れた複数の行の画素回路３０の全部または一部を特定画素回路として決定してもよい。
　図４は、補正回路２０の詳細を示すブロック図である。図４に示すように、補正回路２０は、補正演算部２１、回復率算出部２２、および、特性演算部２３を含んでいる。図５～図７は、それぞれ、補正回路２０の通常時の動作、電源オフ時の動作、および、電源オン時の動作を示す図である。なお、図４～図７では有機ＥＬ表示装置１０の一部の要素を省略している。
　以下、図５～図７を参照して、有機ＥＬ表示装置１０の動作を説明する。初期状態における駆動トランジスタの閾値電圧は、すべての画素回路３０について同じであるとする。メモリ１７には、各画素回路３０について、駆動トランジスタの閾値電圧Ｖｔｈ（現時点における閾値電圧）が記憶されている。
　通常時（図５）には、補正演算部２１は、メモリ１７から駆動トランジスタの閾値電圧Ｖｔｈを読み出す。補正演算部２１は、表示制御回路１２から出力された映像信号Ｄ１をメモリ１７から読み出した閾値電圧Ｖｔｈを用いて補正することにより、補正後の映像信号Ｄ２を求める。データ線駆動回路１４は、各水平期間において、補正後の映像信号Ｄ２に基づきデータ線Ｓ１～Ｓｎを駆動する。
　データ線駆動回路１４は、電流測定期間内の書き込み期間において、データ線Ｓ１～Ｓｎに測定用電圧を印加する。電流測定期間内の測定期間において、１行分の画素回路３０からデータ線Ｓ１～Ｓｎに駆動トランジスタを流れる電流が出力される。電流測定回路１６は、データ線Ｓ１～Ｓｎに出力されたｎ個の電流を測定し、電流測定結果を示す測定結果信号Ｘ１を出力する。特性演算部２３は、電流測定回路１６から出力された測定結果信号Ｘ１に基づき、各画素回路３０について駆動トランジスタの閾値電圧Ｖｔｈを求める。特性演算部２３で求めた閾値電圧Ｖｔｈは、メモリ１７に記憶される。
　なお、電流測定回路１６は、電流測定期間において複数の行の画素回路３０について電流を測定してもよく、必要なタイミングですべての行の画素回路３０について電流を測定してもよい。
　電源オフ時（図６）には、電流測定期間と同様の方法で、特定画素回路について駆動トランジスタを流れる電流が測定される。特定画素回路がｐ個（ｐは１以上の整数）の行に配置されている場合、１行分の画素回路３０について駆動トランジスタを流れる電流を測定する処理がｐ回行われる。電流測定回路１６は、各回の処理において、データ線Ｓ１～Ｓｎに出力されたｎ個の電流を測定し、電流測定結果を示す測定結果信号Ｘ１を出力する。特性演算部２３は、電流測定回路１６から出力された測定結果信号Ｘ１に基づき、特定画素回路内の駆動トランジスタの閾値電圧Ｖｔｈを求める。求めた閾値電圧Ｖｔｈは、メモリ１７に記憶される。これにより、メモリ１７に記憶された特定画素回路内の駆動トランジスタの閾値電圧は、電源オフ時に最新の値に更新される。その後、メモリ１７に記憶されたすべての閾値電圧Ｖｔｈは、不揮発性メモリ１８に複写転送される。
　電源オン時（図７）には、不揮発性メモリ１８に記憶されたすべての閾値電圧Ｖｔｈはメモリ１７に複写転送される。また、電流測定期間と同様の方法で、特定画素回路について駆動トランジスタを流れる電流が一般画素回路に先行して測定される。すべての特定画素回路について電流測定が完了した時点で、メモリ１７は、電源オフ前に通常時の動作によって求めた一般画素回路の駆動トランジスタの閾値電圧、電源オフ時に求めた特定画素回路内の駆動トランジスタの閾値電圧、および、電源オン時に求めた特定画素回路内の駆動トランジスタの閾値電圧を記憶している。回復率算出部２２は、これらの閾値電圧に基づき、後述する方法で各画素回路３０について回復率αを求める。電源オン後、すべての一般画素回路について電流測定が完了するまで、補正演算部２１は回復率αに依存する計算式を用いて特定画素回路と一般画素回路について映像信号Ｄ１を補正する。その後、補正演算部２１は回復率αに依存しない計算式を用いて特定画素回路と一般画素回路について映像信号Ｄ１を補正する（通常時の動作）。
　有機ＥＬ表示装置１０は、例えば、表示オフ指示を受けたときや、ユーザが所定の時間操作しなかったときに表示を停止する。これらのときにも、有機ＥＬ表示装置１０は上述した電源オフ時の動作を行う。有機ＥＬ表示装置１０は、例えば、表示オン指示を受けたときに表示を再開する。このときにも、有機ＥＬ表示装置１０は、上述した電源オン時の動作を行う。ただし、電源をオフしないときには、メモリ１７と不揮発性メモリ１８の間で閾値電圧を複写転送する必要はない。
　図８は、補正演算部２１の詳細を示すブロック図である。図８に示すように、補正演算部２１は、ＣＶ／Ｉ変換部２４、Ｉ／Ｖ変換部２５、および、Ｖ／ＣＶ変換部２６を含んでいる。以下、補正演算部２１が、映像信号Ｄ１に含まれるコード値ＣＶｉｎに基づき、映像信号Ｄ２に含まれるコード値ＣＶｏｕｔを求める場合について説明する。コード値ＣＶｉｎ、ＣＶｏｕｔは、例えば、８ビットのデータである。
　ＣＶ／Ｉ変換部２４は、入力されたコード値ＣＶｉｎを電流値Ｉに変換する。典型的な有機ＥＬ表示装置では、電流値はコード値の約２乗に比例する。ＣＶ／Ｉ変換部２４は、例えば、コード値と電流値の対応関係を記憶したテーブルを含んでいる。テーブルを用いることにより、ＣＶ／Ｉ変換部２４を容易に実現することができる。
　Ｉ／Ｖ変換部２５は、ＣＶ／Ｉ変換部２４で求めた電流値Ｉを電圧値Ｖに変換する。Ｉ／Ｖ変換部２５には、電流値Ｉに加えて、メモリ１７から読み出した駆動トランジスタの閾値電圧Ｖｔｈと、回復率算出部２２で求めた回復率αとが入力される。典型的な有機ＥＬ表示装置では、電流値は電圧値の約１／２乗に比例する。Ｉ／Ｖ変換部２５は、例えば、電流値と電圧値の対応関係を記憶したテーブルを含んでいる。
　Ｉ／Ｖ変換部２５は、通常時には、次式（１）に示す演算を行うことにより、補正後の電圧値Ｖを求める。表示を再開するときにすべての一般画素回路について電流測定が完了するまで、Ｉ／Ｖ変換部２５は、次式（２）に示す演算を行うことにより、補正後の電圧値Ｖを求める。
　　Ｖ＝Ｖ０＋（Ｖｔｈ３－Ｖｔｈ１）　　　　　　　…（１）
　　Ｖ＝Ｖ０＋（１－α）×（Ｖｔｈ２－Ｖｔｈ１）　…（２）
　ただし、式（１）および（２）において、Ｖ０は電流値Ｉに対応した電圧値、Ｖｔｈ１は初期状態における駆動トランジスタの閾値電圧、Ｖｔｈ２は電源オフ前に通常時の動作によって求めた一般画素回路内の駆動トランジスタの閾値電圧（または、電源オフ時に求めた特定画素回路内の駆動トランジスタの閾値電圧）、Ｖｔｈ３は現時点における駆動トランジスタの閾値電圧を表す。
　Ｖ／ＣＶ変換部２６は、Ｉ／Ｖ変換部２５で求めた電圧値Ｖをコード値ＣＶｏｕｔに変換する。典型的な有機ＥＬ表示装置では、コード値は電圧値に比例する。Ｖ／ＣＶ変換部２６は、例えば、電圧値とコード値の対応関係を記憶したテーブル、または、乗算器を含んでいる。テーブルまたは乗算器を用いることにより、Ｖ／ＣＶ変換部２６を容易に実現することができる。
　このように通常時には、補正演算部２１は、回復率αに依存しない式（１）を用いて、コード値ＣＶｉｎに基づきコード値ＣＶｏｕｔを求める。これにより、通常時に、駆動トランジスタの特性劣化を考慮して映像信号を好適に補正し、好適に補償された画像を表示することができる。また、表示を再開するときにすべての一般画素回路について電流測定が完了するまで、補正演算部２１は、回復率αに依存した式（２）を用いて、コード値ＣＶｉｎに基づきコード値ＣＶｏｕｔを求める。これにより、表示を再開するときに、駆動トランジスタの特定劣化と特性回復を考慮して映像信号を好適に補正し、好適に補償された画像を表示することができる。
　以下、回復率算出部２２の詳細を説明する。図９は、劣化量と回復率の間の関係を示す図である。図９に示すように、回復率は劣化量が大きいほど低くなる。また、劣化量と回復率の間の関係は、各種の条件（例えば、電源がオフ状態である期間の長さや、動作温度など）によって変化する。回復率は劣化量に応じて一意に決まる訳ではなく、同じ表示部１１に含まれる画素回路３０の間でも回復率は異なる。
　本実施形態に係る回復率算出部２２は、複数の特定画素回路について個別に求めた劣化量と回復率（以下、個別劣化量および個別回復率という）に基づき、劣化量と回復率の関係を求め、表示を停止する前に測定された電流の値に基づく劣化量と求めた関係とに基づき、各画素回路について回復率αを求める。ここでは、説明を簡単にするために、３個の画素回路Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃが特定画素回路であるとする。画素回路Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃは、同じ行に配置されていてもよく、異なる行に配置されていてもよい。
　図１０は、本実施形態に係る回復率算出部２２の動作を説明するための図である。回復率算出部２２は、まず、画素回路Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃについて個別劣化量と個別回復率を求める（図１０（ａ））。次に、回復率算出部２２は、画素回路Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃの個別劣化量と個別回復率に基づき内挿処理と外挿処理を行うことにより、劣化量と回復率の関係を示す回復率曲線を推定する（図１０（ｂ））。次に、回復率算出部２２は、画素回路の劣化量Ｄｘに基づき、回復率曲線を参照して、画素回路の回復率αを求める（図１０（ｃ））。
　以上に示すように、本実施形態に係る表示装置（有機ＥＬ表示装置１）は、それぞれが直列に接続された駆動トランジスタ（ＴＦＴ３１）と表示素子（有機ＥＬ素子３４）とを含む複数の画素回路３０を含む表示部１１と、表示部１１を駆動する駆動回路（走査線駆動回路１３、データ線駆動回路１４、および、制御線駆動回路１５）と、表示部１１の外部で、駆動トランジスタを流れる電流を測定する電流測定回路１６と、電流の量に基づき駆動トランジスタの特性（閾値電圧）を求め、表示部１１の駆動に用いる映像信号Ｄ１を求めた特性に基づき補正する補正回路２０とを備えている。画素回路３０は特定画素回路と一般画素回路とに分類され、電流測定回路１６は、表示を再開するときに、駆動回路と共に特定画素回路について上記電流を第１電流として測定し、補正回路２０は、第１電流の量に基づき特性の回復率αを求める回復率算出部２２を含み、特定画素回路と一般画素回路について回復率αを用いて映像信号Ｄ１を補正する。
　上記の表示装置では、表示を再開するときに、特定画素回路内の駆動トランジスタを流れる電流の量に基づき駆動トランジスタの特性の回復率αが求められ、通常時の動作が可能になるまで映像信号Ｄ１は回復率αを用いて補正される。したがって、上記の表示装置によれば、駆動トランジスタの特性が表示停止中に回復すること考慮して、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。また、表示を再開するときに、特定画素回路内の駆動トランジスタを流れる電流を測定することにより、表示を再開するときの処理を短時間で行うことができる。
　また、電流測定回路１６は、表示を停止するときに、駆動回路と共に特定画素回路について上記電流を第２電流として測定し、回復率算出部２２は、第１電流の量に基づく特性と第２電流の量に基づく特性とに基づき回復率αを求める。このため、表示を停止するときに、特定画素回路内の駆動トランジスタについて最新の特性を求めることができる。したがって、好適な回復率を求めて、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。
　また、表示部１１は特定画素回路を複数個（３個）含み、回復率算出部２２は、特定画素回路について特性の個別劣化量と個別回復率とを求め、個別劣化量と個別回復率とに基づき劣化量と回復率との関係（図１０に曲線で示す関係）を求め、表示を停止する前に測定された上記電流の量に基づく劣化量と求めた関係とに基づき回復率αを求める。したがって、複数の特定画素回路を用いて好適な回復率αを求め、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。
　また、特定画素回路は、表示部１１の複数の行に含まれる複数の画素回路３０である。したがって、表示部１１において特性の変化にばらつきがある場合でも、好適な回復率αを求めることができる。また、駆動トランジスタの特性は、駆動トランジスタの閾値電圧である。したがって、駆動トランジスタの閾値電圧が表示停止中に回復すること考慮して、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。
　（第２の実施形態）
　第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、第１の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置と同じ構成を有し、同様に動作する（図１および図５～図７を参照）。本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、回復率算出部２２は、第１の実施形態とは異なる方法で回復率αを求める。
　図１１は、本実施形態に係る回復率算出部２２の動作を説明するための図である。本実施形態に係る回復率算出部２２は、まず、画素回路Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃについて個別劣化量と個別回復率を求める（図１１（ａ））。次に、回復率算出部２２は、求めた個別回復率の平均値を求め、求めた平均値をすべての画素回路３０の回復率αとする。
　本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、表示部１１は特定画素回路を複数個（３個）を含み、回復率算出部２２は、特定画素回路について駆動トランジスタの特性の個別回復率を求め、求めた個別回復率の平均値を回復率αとして求める。したがって、駆動トランジスタの特性の回復率を容易に求めることができる。
　なお、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、特定画素回路の個数が少ない場合には、回復率αの誤差が大きくなる。このため、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、特定画素回路の個数がある程度多いことが好ましい。
　（第３の実施形態）
　第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、第１および第２の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置と同じ構成を有し、同様に動作する（図１および図５～図７を参照）。本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、回復率算出部２２は、第１および第２の実施形態とは異なる方法で回復率αを求める。以下、９個の画素回路が特定画素回路であり、その中には赤画素回路、緑画素回路、および、青画素回路が３個ずつ含まれているとする。
　図１２は、本実施形態に係る回復率算出部２２の動作を説明するための図である。本実施形態に係る回復率算出部２２は、まず、９個の特定画素回路について個別劣化量と個別回復率を求める。次に、回復率算出部２２は、９個の特定画素回路を表示色によって３個ずつに分類する。次に、回復率算出部２２は、個別回復率の平均値を表示色ごとに求め、求めた平均値を各色の画素回路３０の回復率とする。
　具体的には、回復率算出部２２は、赤画素回路である３個の特定画素回路の個別回復率の平均値αＲを求め、平均値αＲを赤画素回路の回復率とする（図１２（ａ））。同様に、回復率算出部２２は、緑画素回路である３個の特定画素回路の個別回復率の平均値αＧを緑画素回路の回復率とし（図１２（ｂ））、青画素回路である３個の特定画素回路の個別回復率の平均値αＢを青画素回路の回復率とする（図１２（ｃ））。
　例えば、赤の表示頻度が緑および青の表示頻度よりも多い場合には、赤画素回路内の駆動トランジスタの特性は、他の色の画素回路内の駆動トランジスタの特性よりも早く劣化する。このような場合でも、本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置によれば、駆動トランジスタの特性の回復率を表示色ごと求めて、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。
　本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置では、表示部１１は特定画素回路を複数個（９個）を含み、回復率算出部２２は、特定画素回路について特性の個別回復率を求め、個別回復率の表示色ごとの平均値αＲ、αＧ、αＢを回復率αとして求める。したがって、駆動トランジスタの特性の回復率を表示色ごとに容易に求めることができる。
　以上に述べた第１～第３の実施形態に係る有機ＥＬ表示装置については、各種の変形例を構成することができる。例えば、特定画素回路は、表示部１１の複数の行に含まれる複数の画素回路でもよい。この場合、複数の特定画素回路を用いて好適な回復率αを求め、表示を再開するときに好適に補償された画像を表示することができる。あるいは、特定画素回路は、表示部１１の１行に含まれる複数の画素回路でもよく、表示部１１に含まれる１個の画素回路でもよい。これらの場合、駆動トランジスタを流れる電流を測定する動作を１回だけ行い、回復率を容易に求めることができる。また、回復率αが所定値（例えば、０．１）より小さいときには、補正回路２０は、回復率αを用いずに映像信号Ｄ１を補正してもよい。これにより、駆動トランジスタの特性があまり回復していない場合には、回復を考慮せずに映像信号Ｄ１を補正することができる。
　また、画素回路３０は、駆動トランジスタを流れる電流を出力する機能を有する限り、任意の構成を有していてもよい。また、表示部１１はデータ線とは別にモニタ線を含み、画素回路３０は駆動トランジスタを流れる電流をモニタ線に出力してもよい。また、補正回路２０は、駆動トランジスタの特性として、閾値電圧以外の特性を求めてもよい。また、補正回路２０は、特性演算部２３を含まず、電流測定回路１６から出力された測定結果信号Ｘ１をそのままメモリ１７に書き込んでもよい。この場合、補正演算部２１と回復率算出部２２が、特性演算部２３の機能を有していればよい。
　駆動トランジスタの劣化と回復は、有機ＥＬ表示装置だけでなく、無機発光ダイオードを表示素子として含む無機ＥＬ表示装置、量子ドット発光ダイオードを表示素子として含むＱＬＥＤ（Quantum-dot Light Emitting Diode）表示装置など、他の電流駆動型の表示素子を含む表示装置でも発生する。したがって、第１～第３の実施形態と同様の方法を、電流駆動型の表示素子を含む各種の表示装置に適用してもよい。
　１０…有機ＥＬ表示装置
　１１…表示部
　１２…表示制御回路
　１３…走査線駆動回路
　１４…データ線駆動回路
　１５…制御線駆動回路
　１６…電流測定回路
　１７…メモリ
　１８…不揮発性メモリ
　２０…補正回路
　２１…補正演算部
　２２…回復率算出部
　２３…特性演算部
　２４…ＣＶ／Ｉ変換部
　２５…Ｉ／Ｖ変換部
　２６…Ｖ／ＣＶ変換部
　３０…画素回路
　３１…ＴＦＴ（駆動トランジスタ）
　３２、３３…ＴＦＴ
　３４…有機ＥＬ素子（表示素子）

Claims (13)

  1. 　それぞれが直列に接続された駆動トランジスタと表示素子とを含む複数の画素回路を含む表示部と、
    　前記表示部を駆動する駆動回路と、
    　前記表示部の外部で、前記駆動トランジスタを流れる電流を測定する電流測定回路と、
    　前記電流の量に基づき前記駆動トランジスタの特性を求め、前記表示部の駆動に用いる映像信号を前記特性に基づき補正する補正回路とを備え、
    　前記画素回路は特定画素回路と一般画素回路とに分類され、
    　前記電流測定回路は、表示を再開するときに、前記駆動回路と共に前記特定画素回路について前記電流を第１電流として測定し、
    　前記補正回路は、前記第１電流の量に基づき前記特性の回復率を求める回復率算出部を含み、前記特定画素回路と前記一般画素回路について前記回復率を用いて前記映像信号を補正することを特徴とする、表示装置。
  2. 　前記電流測定回路は、表示を停止するときに、前記駆動回路と共に前記特定画素回路について前記電流を第２電流として測定し、
    　前記回復率算出部は、前記第１電流の量に基づく特性と前記第２電流の量に基づく特性とに基づき前記回復率を求めることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
  3. 　前記表示部は前記特定画素回路を複数個含み、
    　前記回復率算出部は、前記特定画素回路について前記特性の個別劣化量と個別回復率とを求め、前記個別劣化量と前記個別回復率とに基づき前記特性の劣化量と前記回復率との関係を求め、表示を停止する前に測定された前記電流の量に基づく前記劣化量と前記関係とに基づき前記回復率を求めることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
  4. 　前記表示部は前記特定画素回路を複数個含み、
    　前記回復率算出部は、前記特定画素回路について前記特性の個別回復率を求め、前記個別回復率の平均値を前記回復率として求めることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
  5. 　前記表示部は前記特定画素回路を複数個含み、
    　前記回復率算出部は、前記特定画素回路について前記特性の個別回復率を求め、前記個別回復率の表示色ごとの平均値を前記回復率として求めることを特徴とする、請求項２に記載の表示装置。
  6. 　前記特定画素回路は、前記表示部の複数の行に含まれる複数の画素回路であることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
  7. 　前記特定画素回路は、前記表示部の１行に含まれる複数の画素回路であることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
  8. 　前記特定画素回路は、前記表示部に含まれる１個の画素回路であることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
  9. 　前記回復率が所定値より小さいときに、前記補正回路は、前記回復率を用いずに前記映像信号を補正することを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
  10. 　前記所定値が０．１であることを特徴とする、請求項９に記載の表示装置。
  11. 　前記特性は、前記駆動トランジスタの閾値電圧であることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
  12. 　それぞれが直列に接続された駆動トランジスタと表示素子とを含む複数の画素回路を含む表示部を有する表示装置の駆動方法であって、
    　前記表示部を駆動する駆動ステップと、
    　前記表示部の外部で、前記駆動トランジスタを流れる電流を測定する測定ステップと、
    　前記電流の量に基づき前記駆動トランジスタの特性を求め、前記表示部の駆動に用いる映像信号を前記特性に基づき補正する補正ステップとを備え、
    　前記画素回路は特定画素回路と一般画素回路とに分類され、
    　前記測定ステップは、表示を再開するときに、前記駆動ステップと共に前記特定画素回路について前記電流を第１電流として測定し、
    　前記補正ステップは、前記第１電流の量に基づき前記特性の回復率を求める回復率算出ステップを含み、前記特定画素回路と前記一般画素回路について前記回復率を用いて前記映像信号を補正することを特徴とする、表示装置の駆動方法。
  13. 　前記測定ステップは、表示を停止するときに、前記駆動ステップと共に前記特定画素回路について前記電流を第２電流として測定し、
    　前記回復率算出ステップは、前記第１電流の量に基づく特性と前記第２電流の量に基づく特性とに基づき前記回復率を求めることを特徴とする、請求項１２に記載の表示装置の駆動方法。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015114483A (ja) * 2013-12-11 2015-06-22 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置及びその駆動方法
WO2016027435A1 (ja) * 2014-08-21 2016-02-25 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置および表示装置の駆動方法
KR20180021947A (ko) * 2016-08-22 2018-03-06 삼성디스플레이 주식회사 열화 보상 장치 및 유기 발광 표시 장치의 데이터 보상 방법

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006091709A (ja) 2004-09-27 2006-04-06 Sony Corp 画像表示装置及びその駆動方法
JP5012775B2 (ja) * 2008-11-28 2012-08-29 カシオ計算機株式会社 画素駆動装置、発光装置及び画素駆動装置におけるパラメータ取得方法
WO2014141958A1 (ja) 2013-03-14 2014-09-18 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
WO2014208459A1 (ja) 2013-06-27 2014-12-31 シャープ株式会社 表示装置およびその駆動方法
JP2015087725A (ja) * 2013-11-01 2015-05-07 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置および表示装置の駆動方法
WO2015162651A1 (ja) * 2014-04-21 2015-10-29 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置及び表示装置の駆動方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015114483A (ja) * 2013-12-11 2015-06-22 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置及びその駆動方法
WO2016027435A1 (ja) * 2014-08-21 2016-02-25 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置および表示装置の駆動方法
KR20180021947A (ko) * 2016-08-22 2018-03-06 삼성디스플레이 주식회사 열화 보상 장치 및 유기 발광 표시 장치의 데이터 보상 방법

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